JP6664088B2 - 樹脂組成物、プリプレグ、樹脂付き金属箔、金属張積層板、プリント配線板 - Google Patents
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Description
={(1分子中の炭素−炭素間の不飽和結合数/分子量)/1分子中の酸無水物基の数}×100
・・・(1)
={(1分子中の炭素−炭素間の不飽和結合数/分子量)/1分子中の酸無水物基の数}×100・・・(1)
特に第2酸無水物は、無水ピロメリット酸(PMDA)、水添シクロヘキサン−1,2,4,5−テトラカルボン酸二無水物(H−PMDA)、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ−3−フラニル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物(MCTC)から選ばれた少なくとも1種であることが好ましい。これにより、低誘電率化とガラス転移温度の向上とを容易に両立させることができる。
={1−(A2/B2)/(A1/B1)}×100
第1酸無水物の開環率が80%未満である場合、未反応の第1酸無水物が多く残存し、プリプレグの製造中に第1酸無水物が揮発して消失しやすい。揮発により、硬化剤が不足して樹脂組成物の硬化物の架橋密度が低下することが考えられ、硬化物のガラス転移温度が低下して耐熱性が悪化するおそれがある。第1酸無水物の開環率は、ワニスの調製時の加熱温度及び加熱時間により変化する。そのため、開環率が80%以上となるように適宜に加熱条件を調整する。実際に予備反応を行いながら反応物を経時的にサンプリングし、開環率を確認することより、この予備反応の条件を適切に設定することができる。
エポキシ樹脂として、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂を用いた。具体的には、DIC株式会社製の「HP−7200H」を用いた。エポキシ当量は、282g/eqであり、軟化点は100℃以上、105℃以下である。
第1酸無水物として、液状脂環式酸無水物を用いた。具体的には、新日本理化株式会社製の「リカシッド MH−700」を用いた。4−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸とヘキサヒドロ無水フタル酸の配合比が70/30であり、酸無水物当量が161/eq以上、166g/eq以下であり、中和価が670KOHmg/gであり、凝固点が20℃である。
硬化促進剤として、2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ)を用いた。
無機充填材として、破砕シリカを用いた。具体的には、株式会社アドマテックス製の「MC3000」を用いた。
実施例1〜5、比較例1、2、9では、上記のエポキシ樹脂、第1酸無水物及び硬化促進剤を表1に示す配合量(質量部)に基づき配合した。配合したものを溶媒(MEK)で固形分(非溶媒成分)濃度が60質量%以上、80質量%以下となるように希釈した。希釈したものをディスパーで攪拌しながら60℃以上、80℃以下で1時間以上、5時間以下加熱した。このプロセスによって、エポキシ樹脂と第1酸無水物の一部とが反応した予備反応生成物を含む1次ワニスを調製した。この1次ワニスの加熱前後の赤外線吸収スペクトルを測定して、酸無水物の開環率を算出した。その結果、開環率が80%以上であった。さらに上記の1次ワニスに第2酸無水物を表1に示す配合量(質量部)に基づき配合した。配合したものを攪拌・混合して均一化することにより、ベースワニスを調製した。
上記の樹脂組成物の樹脂ワニスを基材であるガラスクロスに含浸させた。これを非接触タイプの加熱ユニットを用いて110℃以上、140℃以下で加熱乾燥した。樹脂ワニス中の溶媒を除去して、樹脂組成物を半硬化させることによってプリプレグを製造した。ガラスクロスとして、旭化成株式会社製の「1037−AS890AW」を用いた。この重量は23.5g/m2である。プリプレグの樹脂量は、プリプレグ100質量部に対して樹脂組成物72質量部(72質量%)である。プリプレグを加熱および乾燥する際、プリプレグのゲルタイムが140秒以上、160秒以下となるように加熱および乾燥を行った。
金属張積層板は、銅張積層板として製造した。16枚のプリプレグ(340mm×510mm)を重ねて、プリプレグの積層体を構成した。次に、この積層体の厚さ方向の両面に、銅箔を重ねた。そして、銅箔を重ねた積層体を加熱および加圧することにより積層成形して金属張積層板を製造した。銅箔には、三井金属鉱業株式会社製の「3EC−III」を用いた。この厚みは、18μmである。加熱および加圧の条件は、180℃、2.9MPa、60分間である。
セイコーインスツル株式会社製粘弾性スペクトロメータ「DMS6100」を用いて、プリプレグのガラス転移温度を測定した。具体的には、曲げモジュールで周波数を10Hzとして測定を行い、昇温速度5℃/分の条件で室温から280℃まで昇温した際のtanαが極大を示す温度をガラス転移温度とした。
Hewlett-Packard社製「インピーダンス/マテリアルアナライザー4291A」を用いて、1GHzにおける銅張積層板の比誘電率をIPC−TM−650 2.5.5.9に準じて測定した。
2 樹脂組成物
3 基材
11 金属張積層板
12、32 絶縁層
13 金属層
14 配線
21 プリント配線板
31 樹脂付き金属箔
Claims (9)
- エポキシ樹脂と、硬化剤と、を含有する樹脂組成物であって、
前記硬化剤が、環状の酸無水物基を一つ有した第1酸無水物及び複数の酸無水物基を有した第2酸無水物を含み、
前記樹脂組成物は、前記第1酸無水物の一部又は全部と前記エポキシ樹脂とが反応した予備反応生成物を更に含有し、
前記第1酸無水物が、4−メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルビシクロ[2.2.1]ヘプタン−2,3−ジカルボン酸無水物、ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−2,3−ジカルボン酸無水物、及び1,2,3,6−テトラヒドロ無水フタル酸から選ばれた少なくとも1種を含み、
前記第2酸無水物の下記式(1)で表される炭素−炭素間における不飽和結合濃度が0.7%以下であり、
前記エポキシ樹脂のエポキシ当量数に対する前記第1酸無水物の酸無水物当量数の比が0.05以上、0.5以下であり、
前記エポキシ当量数に対する前記第1酸無水物及び前記第2酸無水物の酸無水物当量数の合計の比が0.5以上、1.1以下である、
樹脂組成物。
不飽和結合濃度={(1分子中の炭素−炭素間における不飽和結合数/分子量)/1分子中の酸無水物基の数}×100・・・(1) - 前記第2酸無水物が、無水ピロメリット酸(PMDA)、水添シクロヘキサン−1,2,4,5−テトラカルボン酸二無水物(H−PMDA)、及び5−(2,5−ジオキソテトラヒドロ−3−フラニル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物(MCTC)から選ばれた少なくとも1種を含む、
請求項1に記載の樹脂組成物。 - 前記予備反応生成物において、前記エポキシ樹脂と反応した前記第1酸無水物の開環率が80%以上である、
請求項1又は2に記載の樹脂組成物。 - 無機充填材を更に含有する、
請求項1乃至3のいずれか一項に記載の樹脂組成物。 - 前記樹脂組成物から前記無機充填材を除いた残り100質量部に対して、前記無機充填材の含有量が5質量部以上、50質量部以下である、
請求項4に記載の樹脂組成物。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の樹脂組成物と、前記樹脂組成物が含浸された基材と、を有する、
プリプレグ。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層と、前記絶縁層と接合した金属層と、を有する、
金属張積層板。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の樹脂組成物の硬化物を含む絶縁層と、前記絶縁層の表面に設けられた配線と、を有する、
プリント配線板。 - 請求項1乃至5のいずれか一項に記載の樹脂組成物の未硬化物を含む絶縁層と、前記絶縁層と当接した金属層と、を有する、
樹脂付き金属箔。
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