JP6647821B2 - 導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法に関する。

車両内に配索されて各種電子機器等の接続に用いられるワイヤハーネスは、コネクタハウジングに収容される端子金具が端末に設けられた複数の電線を有している。そして、このようなワイヤハーネスに対して、電線の断線や端子の接続不良等を検出するための導通検査が行われる。

導通検査は、例えば、電線の両端末に設けられた端子金具に対をなす検査プローブを接触させて、これら検査プローブ間の導通を確認することにより行うものであるところ、この検査プローブを接触させることにより端子金具の変形や損傷が生じるおそれがあった。そして、このような端子金具の変形や損傷を抑制できる検査プローブの一例が、特許文献１に開示されている。

特許文献１に開示されている検査プローブは、検査器本体に取り付けられる管体と、この管体に突没自在に支持された可動ピンと、管体内に配置されかつ可動ピンを管体から突出させる方向に向けて押圧するコイルバネと、を有している。この検査プローブによれば、端子金具が可動ピンに押し付けられると、当該押し付けられる力に応じて可動ピンが管体内に押し込まれるので、端子金具の変形や損傷を抑制することができる。

特開平９−４３２９８号公報

しかしながら、特許文献１に開示されているような可動ピンをコイルバネで押圧する構成の検査プローブは、繰り返し使用した場合においても可動ピンと端子金具とを確実に接触させるために、コイルバネによる可動ピンを押圧する力を、当該コイルバネの劣化（バネ力の低下等）などを考慮して、可動ピンと端子金具との間の導通を確保するために最低限必要な力より大きく設定することが求められ、そのため、端子金具の変形や損傷を抑制する点で改善の余地があった。

本発明は、かかる問題を解決することを目的としている。即ち、本発明は、端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法を提供することを目的としている。

請求項１に記載された発明は、上記目的を達成するために、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査治具であって、前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する検査治具本体と、前記端子金具に対して一端が対向配置されるとともに当該一端を前記端子金具に接離する上下方向に移動可能なように前記検査治具本体に支持された導通ピンと、前記検査治具本体に端部が上下方向に延在するように取り付けられて前記導通ピンが自重により降下して前記端部の開口を塞ぐとともに当該端部から空気を吹き出し可能な配管と、を有し、前記導通ピンが、前記空気の圧力により上方へと吹き上げられて前記端子金具に押し付けられて接触するように設けられていることを特徴とする導通検査治具である。

請求項２に記載された発明は、請求項１に記載された発明において、前記導通ピンが、カップ形状の空気受け部を有し、前記配管は、前記空気受け部が端部に被せられるとともに導電性を有するものであって、前記検査治具本体に取り付けられて、前記空気受け部の内周面を前記空気の吹き出し方向と交差する方向に押圧して前記配管の端部の外周面に押し付ける押圧部材と、を有していることを特徴とするものである。
請求項３に記載された発明は、請求項２に記載された発明において、前記配管は、前記導通検査に用いられる導通検査線が接続されるものであることを特徴とする。

請求項４に記載された発明は、請求項１に記載された発明において、前記導通検査は、前記端子金具が各々の端末に設けられた複数本の前記電線それぞれについて行なわれる検査であり、前記導通ピンが、複数の前記端子金具と一対一に対応するように複数設けられ、複数の前記導通ピンは、前記空気の圧力により、それぞれ対応する前記端子金具に一括して接触することを特徴とするものである。

請求項５に記載された発明は、請求項４に記載された発明において、全ての前記導通ピンについて前記一端側とは反対側と接するように延在した天井壁と、該天井壁の外周に一周に亘って前記導通ピンとは反対側に向かって立設された周壁と、を有するとともに、前記導通ピンの前記端子金具への接離方向と同方向に移動可能に前記検査治具本体に設けられたカップ形状の一括空気受け部を有し、前記配管は、前記一括空気受け部が前記端部に被せられるとともに複数の前記導通ピン及び前記一括空気受け部の自重により降下することで前記端部が塞がれ、当該端部から前記空気を吹き出すことで、複数の前記導通ピンを前記一括空気受け部を介して一括して上方へと吹き上げて複数の前記端子金具に接触させることを特徴とするものである。

請求項６に記載された発明は、上記目的を達成するために、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査装置であって、前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する検査治具本体と、前記端子金具に対して一端が対向配置されるとともに当該一端を前記端子金具に接離する上下方向に移動可能なように前記検査治具本体に支持された導通ピンと、前記検査治具本体に端部が上下方向に延在するように取り付けられて前記導通ピンが自重により降下して前記端部の開口を塞ぐとともに当該端部から空気を吹き出し可能な配管と、を有する導通検査治具と、前記導通ピンを前記空気の圧力により上方へと吹き上げて前記端子金具に押し付けて接触させる空気制御手段と、前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査手段と、を備えていることを特徴とする導通検査装置である。

請求項７に記載された発明は、上記目的を達成するために、端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法であって、前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持した導通検査治具の検査治具本体において前記端子金具に一端が対向配置されるとともに当該一端を前記端子金具に接離する上下方向に移動可能なように前記検査治具本体に支持された導通ピンを、前記検査治具本体に端部が上下方向に延在するように取り付けられて前記導通ピンが自重により降下して端部の開口を塞ぐ配管の当該端部から吹き出させた空気の圧力により上方へと吹き上げて前記端子金具に押し付けて接触させる空気制御工程と、前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法である。

本発明によれば、導通ピンを空気の圧力により端子金具に押し付けて接触させる。このようにしたことから、空気の圧力を用いることで、毎回の導通検査において導通ピンと端子金具との間の導通を確保するために最低限必要な力で当該導通ピンを端子金具に押し付けて接触させることができ、そのため、端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる。また、コイルバネのように劣化がないことから、常に一定の力で導通ピンを端子金具に接触させることができ、そのため、一定の品質を保つことができる。

また、導通ピンが、カップ形状の空気受け部を有し、導通ピンの空気受け部が端部に被せられるとともに当該端部から空気を吹き出す導電性の配管と、空気受け部を空気の吹き出し方向と交差する方向に押圧して配管の端部に押し付ける押圧部材と、が検査治具本体に取り付けられている構成としてもよい。このようにすることで、導通ピンの移動の際に生じる摩擦を小さくしつつも、導通ピンと当該導通ピンを支持する配管の端部との接触度合いを高めて確実に接触させることができるので、より精度の高い導通検査を行うことができる。

また、導通ピンが、複数の端子金具に一対一に対応するように複数設けられ、複数の導通ピンが、空気の圧力により、それぞれ対応する端子金具に一括して接触する構成としてもよい。これにより、複数の導通ピンが同時に動くこととなり、複数の導通ピンの相互間で動きのバラつきが抑制されることとなるので、複数の端子金具の電線について、より精度の高い導通検査を行うことができる。

また、カップ形状の一括空気受け部を配管の端部に被せ、当該端部から空気を吹き出すことで、複数の導通ピンを、一括空気受け部を介して一括して複数の端子金具に接触させる構成としてもよい。複数の導通ピンを一括空気受け部を介して一括して動かすようにしたことにより、複数の導通ピンの相互間で動きのバラつきが一層抑制されることとなるので、複数の端子金具の電線について、更に精度の高い導通検査を行うことができる。

本発明の第１実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。 図１の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。 図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図である（導通ピンが端子金具と接していない状態）。 図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図である（導通ピンが端子金具と接している状態）。 図１の導通検査装置が備える導通検査治具の変形例の構成を示す断面図である（導通ピンが端子金具と接触していない状態） 図１の導通検査装置が備える導通検査治具の変形例の構成を示す断面図である（導通ピンが端子金具と接触している状態） 導通ピンを配管の端部に押し付ける前の状態を説明する図である。 導通ピンを配管の端部に押し付けた後の状態を説明する図である。 本発明の第２実施形態の導通検査治具を、その内部構造が見えるように示した断面斜視図である。 導通検査治具について、図９中のＶ１矢視の断面において、導通ピンが端子金具と接した状態を示した図である。 図１０中の領域Ａ１の拡大図である。 導通検査治具について、図１０と同様の断面において、導通ピンが端子金具と接していない状態を示した図である。 図１２中の領域Ａ１の拡大図である。

以下、本発明の第１実施形態に係る導通検査装置について、図１〜図４を参照して説明する。

図１は、本発明の第１実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。図２は、図１の導通検査装置が備える導通検査治具の斜視図である。図３（ａ）及び図４（ａ）は、図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面図であって、導通ピンが端子金具と接していない状態及び導通ピンが端子金具と接している状態を示したものである。図３（ｂ）及び図４（ｂ）は、図３（ａ）及び図４（ａ）の一部を拡大した断面図である。

本実施形態の導通検査装置は、例えば、各図に示すように、水平に設置された検査台Ｋ上に配索された車両用のワイヤハーネス１０１の導通検査に用いられる。このワイヤハーネス１０１は、両端末に端子金具１０３が設けられた複数の電線１０２と、各電線１０２のそれぞれの端末の端子金具１０３を収容する複数のコネクタハウジング１０４と、を有している。ワイヤハーネス１０１は、幹部１０１ａとこの幹部１０１ａから分岐した分岐部１０１ｂとを有している。コネクタハウジング１０４に端子金具１０３が収容されることで、車両に搭載された電子機器等に接続されるコネクタ１０５を構成する。

図１に示すように、導通検査装置１は、導通検査治具１０と、空気制御手段としての空気制御部３０と、導通検査手段としての導通検査部４０と、を備えている。

図２〜図４に示すように、導通検査治具１０は、検査治具本体１１と、複数の導通ピン２０と、を備えている。

検査治具本体１１は、例えば、電気絶縁性を有する合成樹脂などを材料として用いて構成されており、矩形ブロック状に形成された本体部１２と、本体部１２の下面１２ａの四隅に一体に設けられた４つの脚部１３と、を有している。本体部１２には、上面１２ｂの中央に開口する平面視矩形状のコネクタ嵌合孔１４が設けられている。このコネクタ嵌合孔１４は、上述したコネクタ１０５（即ち、コネクタハウジング１０４）を挿入嵌合可能に形成されている。検査治具本体１１は、検査台Ｋ上に載置されると、脚部１３により本体部の下面１２ａと検査台Ｋとの間に隙間が設けられ、この隙間を利用して後述する配管３７が配索される。

また、本体部１２には、本体部１２の下面１２ａとコネクタ嵌合孔１４の底面１４ａとを鉛直方向に貫通する複数のシリンダ孔１５が設けられている。各シリンダ孔１５は、コネクタ嵌合孔１４に嵌合されるコネクタハウジング１０４に収容された各端子金具１０３に対応した位置に配置されている。また、本体部１２には、各シリンダ孔１５におけるコネクタ嵌合孔１４の底面１４ａ側の端部を塞ぐように設けられた円環状の規制壁部１６が一体に設けられている。規制壁部１６の内側には、後述する導通ピン２０の接触部２２が挿通される。

複数の導通ピン２０は、例えば、銅合金などの導電性の材料を用いて構成されており、それぞれが空気受け部２１と、接触部２２と、を一体に有している。空気受け部２１は、カップ形状に形成されており、円筒状の周壁部２１ａと周壁部２１ａの一端を塞ぐ底壁部２１ｂとを有している。周壁部２１ａの外径は上述したシリンダ孔１５の径よりわずかに小さくされている。接触部２２は、底壁部２１ｂから周壁部２１ａの軸線上に延在する円柱状に形成されている。接触部２２の径は、上述した規制壁部１６の内径よりわずかに小さくされている。

各導通ピン２０は、それぞれの対応するシリンダ孔１５に、接触部２２の一部が規制壁部１６の内側に位置づけられた状態で上下方向に移動自在に収容されている。つまり、各導通ピン２０は、端子金具１０３に対して接触部２２の先端が対向配置されるとともに接触部２２の先端を端子金具１０３に接離可能なように検査治具本体１１に支持されている。複数の導通ピン２０のそれぞれの周壁部２１ａの他端には、導通検査部４０と接続する導通検査線４５が接続されている。

空気制御部３０は、コンプレッサ３１と、レギュレータ３２と、弁ユニット３３と、を有している。

コンプレッサ３１は、空気を取り込んで圧縮する圧縮部３１ａと、圧縮部３１ａによって圧縮された空気を蓄えるタンク３１ｂと、を有している。レギュレータ３２は、配管３５を通じてタンク３１ｂと接続されており、タンク３１ｂからの空気の圧力を所定値に減圧する。弁ユニット３３は、配管３６を通じてレギュレータ３２と接続されており、レギュレータ３２からの空気を供給及び遮断する弁装置（図示なし）と、弁装置の下流に設けられ各導通検査治具１０に空気を分配する分配部（図示なし）と、を有している。弁ユニット３３の分配部と各導通検査治具１０とは、配管３７で接続されている。

配管３７における導通検査治具１０側の端部３７ａは、図３、図４に示すように、対応するシリンダ孔１５内に同軸に配置され、当該シリンダ孔１５に収容された各導通ピン２０の空気受け部２１に挿入されている。つまり、配管３７の端部３７ａには、導通ピン２０の空気受け部２１が被せられている。配管３７の端部３７ａからは、上方に向けて空気が吹き出される。また、配管３７の端部３７ａは、空気受け部２１の周壁部２１ａの内径より小さく形成されている。これにより、配管３７の端部３７ａからの空気の吹き出しがない状態においては、導通ピン２０は重力により下方に落ちて配管３７に底壁部２１ｂが突き当り、接触部２２の先端が規制壁部１６内に没入され（図３）、そして、配管３７の端部３７ａから空気が吹き出された状態（空気の圧力が加えられた状態）においては、導通ピン２０は上方に移動して接触部２２の先端が規制壁部１６から突出される（図４）。配管３７は、本体部１２に固定されて、検査治具本体１１に取り付けられている。

導通検査部４０は、例えば、パソコンなどで構成されており、上述したコンプレッサ３１、レギュレータ３２及び弁ユニット３３に対し制御信号を送信可能に接続されている。導通検査部４０は、導通検査に際して、コンプレッサ３１における空気の圧縮の開始及び終了を制御し、レギュレータ３２の減圧値を設定し、弁ユニット３３による空気の供給及び遮断を制御する。また、導通検査部４０は、上述した導通検査治具１０の各導通ピン２０とも導通検査線４５で接続されており、対をなす導通ピン２０間の導通の有無を検査する。

次に、上述した導通検査装置１の導通検査の動作の一例について以下に説明する。

まず、導通検査対象となるワイヤハーネス１０１を検査台Ｋに配索し、ワイヤハーネス１０１の端末に設けられたコネクタ１０５を、それぞれに対応する導通検査治具１０のコネクタ嵌合孔１４に挿入して嵌合させる（図１）。図１において、ワイヤハーネス１０１は、幹部１０１ａの端部及び分岐部１０１ｂの端部に設けられたコネクタ１０５が、導通検査治具１０に嵌合されているが、当該ワイヤハーネス１０１が図示しない他のコネクタ１０５についても同様に図示しない導通検査治具１０に嵌合されている。この状態において、導通検査治具１０の各導通ピン２０は、コネクタ１０５における対応する各端子金具１０３に接触していない（図３）。

次に、導通検査部４０は、制御信号を送信して、コンプレッサ３１による空気の圧縮を開始し、レギュレータ３２における減圧値を設定する。このとき、レギュレータ３２の減圧値としては、導通ピン２０が上方に移動してその接触部２２の先端が端子金具１０３に接し、導通ピン２０と端子金具１０３との間の導通を確保するために最低限必要な力で押し付けられて接触する値が設定される。

それから、導通検査部４０は、制御信号を送信して、弁ユニット３３の弁装置を開いて配管３７の端部３７ａから空気を吹き出させる（空気制御工程）。これにより、吹き出された空気の圧力により各導通ピン２０が上方に移動して規制壁部１６からそれぞれの接触部２２を突出させ、各接触部２２が対応する各端子金具１０３と導通を確保するために最低限必要な力で押し付けられて接触する（図４）。

そして、導通検査部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２のうちの一の電線１０２を選択し、この一の電線１０２の両端末の端子金具１０３に正常（即ち、誤配線等がない）であれば接触される一対の導通ピン２０間に通電し、当該一対の導通ピン２０間に電流が流れるか否かを判断することにより導通を検査する（導通検査工程）。また、これら一対の導通ピン２０とこれら以外の他の導通ピン２０との導通を検査して電線１０２間の短絡や誤配線の有無を検査してもよい。

導通検査部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２の全てについて上記と同様に導通を検査する。導通検査部４０は、全ての導通検査が終了すると、制御信号を送信して、弁ユニット３３の弁装置を閉じて配管３７の端部３７ａからの空気の吹き出しを停止する。これにより、各導通ピン２０は落下して、底壁部２１ｂが配管３７の端部３７ａに突き当り、当該配管３７によって保持される（図３）。また、導通検査部４０は、制御信号を送信して、コンプレッサ３１による空気の圧縮を停止して、導通検査を終了する。

以上より、本実施形態によれば、導通ピン２０を空気の圧力により端子金具１０３に押し付けて接触させる。このようにしたことから、空気の圧力を用いることで、毎回の導通検査において導通ピン２０と端子金具１０３との間の導通を確保するために最低限必要な力で当該導通ピン２０を端子金具１０３に押し付けて接触させることができ、そのため、端子金具１０３の変形や損傷をより効果的に抑制することができる。また、コイルバネのように劣化がないことから、常に一定の力で導通ピン２０を端子金具１０３に接触させることができ、そのため、一定の品質を保つことができる。

以上、本発明について、好ましい第１実施形態を挙げて説明したが、本発明の導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法は、第１実施形態の構成に限定されるものではない。

上述した第１実施形態では、導通検査治具１０において、導通ピン２０が有する空気受け部２１の周壁部２１ａの外径が、シリンダ孔１５の径よりわずかに小さくされており、当該周壁部２１ａの内径が、配管３７の端部３７ａの外径より大きく形成されている。これにより、導通ピン２０はシリンダ孔１５の内面により姿勢を維持することが可能となるが、一方で導通ピン２０は、上下方向の移動に際してシリンダ孔１５の内面と接触し、このときの摩擦が移動の抵抗となってしまうことがある。また、配管３７の端部３７ａとの摩擦も移動の抵抗となり得る。そこで、導通ピン２０の移動の際に生じる摩擦を小さくするために、図５〜図８に示すように、上記導通検査治具１０のシリンダ孔１５より拡径したシリンダ孔１５Ａを有する導通検査治具１０Ａが考えられる。

図５及び図６は、図１の導通検査装置が備える導通検査治具の変形例の構成を示す断面図であり、それぞれ導通ピンが端子金具と接触していない状態及び導通ピンが端子金具と接触している状態を示す。図７及び図８は、導通ピンを配管の端部に押し付ける前後の状態を説明する図であり、（ａ）は、上方から見た図、（ｂ）は、縦断面図である。

この導通検査治具１０Ａは、検査治具本体１１の本体部１２にシリンダ孔１５Ａの軸方向（上下方向）に直交する方向（左右方向）に延在するスリット１８が形成されており、このスリット１８に左右方向にスライド移動可能に設けられたプレート６０が挿入されている。プレート６０における各導通ピン２０に対応する位置には厚さ方向に貫通する円形の導通ピン挿通孔６１が形成されている。この導通ピン挿通孔６１の径は、導通ピン２０が有する空気受け部２１の周壁部２１ａの外径より大きく形成されている。プレート６０は、導通検査部４０により制御される図示しないソレノイドやモータなどの駆動手段によって図中左右方向に移動される。プレート６０は手動により移動されてもよい。

また、導通検査治具１０Ａの配管３７は導電性の金属材料で構成されており、当該配管３７に導通検査線４５が接続されている。つまり、導電ピン２０と配管３７とが接触することにより互いに電気的に接続されて、導通検査の際に、導電ピン２０、配管３７及び導通検査線４５に電流が流れる。もちろん、上述した実施形態のように、導通ピン２０に導通検査線４５が接続された構成であってもよい。

導通検査治具１０Ａは、図５に示すように、導通ピン２０をコネクタ１０５の端子金具１０３に接触させる前の状態においては、各導通ピン挿通孔６１が各シリンダ孔１５と同軸となる位置にプレート６０が駆動手段により位置づけられる。この状態において、各導通ピン２０は、各シリンダ孔１５Ａの内面及びプレート６０と接触していない。そして、配管３７の端部３７ａから上方に向けて空気を吹き出すことにより、各導通ピン２０が上方に移動して接触部２２が各端子金具１０３と接触される。

このとき、導通ピン２０は配管３７の端部３７ａにゆるく支持されているので、図７（ａ）、（ｂ）に模式的に示すように、軸心が鉛直方向に対して傾斜してその姿勢が崩れてしまい、そのため、この姿勢のままでは導通ピン２０と配管３７の端部３７ａとの接触が不確実であり、導通検査用の電流が正常に流れないおそれがある。そして、そのあとに、図８（ａ）、（ｂ）に示すように、図７の状態からプレート６０を図中右方向（即ち、空気の吹き出し方向と交差する方向）に移動させて、当該プレート６０により導通ピン２０を押圧して配管３７の端部３７ａに押し付けることで、導通ピン２０の軸心が鉛直方向に沿うようにその姿勢を修正する。プレート６０は押圧手段に相当する。

このように、導通ピン２０を押圧して配管３７の端部３７ａに押し付けることにより、導通ピン２０と当該導通ピンを支持する配管３７の端部３７ａとがより確実に接触して、より精度の高い導通検査をすることができる。なお、押圧手段としてプレート６０を例示したが、これに限定されるものではなく、導通ピン２０と配管３７の端部３７ａとが確実に接触するように導通ピン２０を押圧して配管３７の端部３７ａに押し付けることができるものであれば、その構成は任意である。

次に、本発明の第２実施形態について説明する。尚、第２実施形態は、導通検査治具が、上述した第１実施形態と異なっており、以下では、この第２実施形態の導通検査治具に注目した説明を行う。

図９は、本発明の第２実施形態の導通検査治具を、その内部構造が見えるように示した断面斜視図である。図１０は、導通検査治具について、図９中のＶ１矢視の断面において、導通ピンが端子金具と接した状態を示した図であり、図１１は、図１０中の領域Ａ１の拡大図である。図１２は、導通検査治具について、図１０と同様の断面において、導通ピンが端子金具と接していない状態を示した図であり、図１３は、図１２中の領域Ａ１の拡大図である。

尚、図９〜図１３では、図１〜図４に示されているコネクタ１０５等の構成要素と同等な構成要素に、図１〜図４の符号と同じ符号が付されており、それらの構成要素について以下では重複説明を省略する。また、以下では、図１に示されている導通検査装置１における、導通検査治具１０以外の構成要素について適宜に参照する。

導通検査治具７０は、検査治具本体７１、複数の導通ピン７２、複数のピンガイド７３、一括空気受け部７４、及び１本の配管７５、を備えている。

検査治具本体７１は、例えば、電気絶縁性を有する合成樹脂などを材料として用いて構成されている。検査治具本体７１は、矩形箱状の第１基台７１１と、矩形板状の第２基台７１２と、第２基台７１２の四角と第１基台７１１とを繋ぐ４本の脚部７１３と、コネクタハウジング１０４（即ち、コネクタ１０５）の保持部７１４と、を備えている。検査治具本体７１は、第２基台７１２が検査台Ｋ（図１参照）上に載置されるように設けられる。

保持部７１４は、第２基台７１２の略中央に箱状に突出して設けられており、上方に向かって開口している。この保持部７１４の開口からコネクタ１０５が挿入されて、コネクタ１０５が保持部７１４に保持される。

第２基台７１２においてコネクタ１０５の保持部７１４の底壁をなす部分には、鉛直方向に貫通する複数のピン挿通孔７１２ａが設けられている。各ピン挿通孔７１２ａは、保持部７１４に保持されるコネクタハウジング１０４に収容された複数の端子金具１０３に一対一に対応した位置に配置されている。また、第２基台７１２において保持部７１４の底壁をなす部分の第１基台７１１側には、各ピン挿通孔７１２ａに対応する位置に、円筒状のピンガイド７３が設けられている。各ピンガイド７３の内孔７３１は各ピン挿通孔７１２ａに連通しており、後述する導通ピン７２におけるピン状の接触部７２２が挿通される。

複数の導通ピン７２は、例えば、銅合金などの導電性の材料を用いて構成されており、それぞれが棒状部７２１と、接触部７２２と、を一体に有している。棒状部７２１は円柱棒状に形成された部分である。この棒状部７２１の外径は、上述したピンガイド７３の外径よりわずかに大きくなっている。接触部７２２は、棒状部７２１の先端から軸線上に延在する円柱ピン状に形成されている。接触部７２２の径は、棒状部７２１の外径よりも小さくなっており、具体的にはφ０．３ｍｍ程度まで細径化されている。また、この接触部７２２の径は、ピンガイド７３の内孔７３１及びピン挿通孔７１２ａの内径よりわずかに小さな径でもある。

各導通ピン７２は、それぞれの対応するピン挿通孔７１２ａ及びピンガイド７３に、円柱ピン状の接触部７２２が、ピンガイド７３によって上下方向に案内されつつ移動自在に収容されている。つまり、各導通ピン７２は、端子金具１０３に対して接触部７２２の先端７２２ａが対向配置されるとともに接触部７２２の先端７２２ａを端子金具１０３に接離可能なように検査治具本体７１に支持されている。また、棒状部７２１の外径がピンガイド７３の外径よりわずかに大きくなっていることから、各導通ピン７２の上方への移動は、それぞれの対応するピンガイド７３に棒状部７２１が当接したところで規制される。

また、本実施形態では、各導通ピン７２の棒状部７２１に、導通検査部４０へと至る導通検査線４５が１本ずつ電気的に接続されている。

複数のピンガイド７３は、それぞれの対応する導通ピン７２の棒状部７２１における接触部７２２側の端部と、検査治具本体７１における端子金具１０３の収容位置と、の間に配置される。各ピンガイド７３は、上記のように細径化された接触部７２２の剛性よりも高い剛性を有した円筒である。各ピンガイド７３の内孔７３１は、上述したようにピン挿通孔７１２ａに連通し、接触部７２２の先端７２２ａの端子金具１０３に対する接離方向に貫通して接触部７２２を内部に通す貫通孔となっている。このような構造により、各ピンガイド７３は、導通ピン７２の接触部７２２の、端子金具１０３に対する接離を案内する。

一括空気受け部７４は、検査治具本体７１と同様に、電気絶縁性を有する合成樹脂などを材料として用いて構成されており、天井壁７４１と、周壁７４２と、を有するカップ形状に形成されている。天井壁７４１は、矩形板形状に形成され、導通ピン７２の軸方向と直交し、全ての導通ピン７２の棒状部７２１について接触部７２２側（即ち、先端７２２ａ側）とは反対側と接するように延在している。そして、この天井壁７４１には、複数の端子金具１０３に対して一対一に各接触部７２２の先端７２２ａが対向配置されるように複数の導通ピン７２が立設されている。周壁７４２は、天井壁７４１の外周に一周に亘って導通ピン７２とは反対側に向かって立設された四つの壁からなる。金属製の導通ピン７２の、樹脂製の一括空気受け部７４の天井壁７４１への立設は、例えばインサート成形等による一体成形により行われる。

第１基台７１１の天井壁７１１ａにおける保持部７１４の直下の部分には、上記の一括空気受け部７４が導通ピン７２の軸方向（即ち、端子金具１０３への接離方向）に移動可能に通される矩形孔７１１ａ−１が設けられている。

そして、第１基台７１１には、第１基台７１１の内部の空間における保持部７１４の直下の部分に端部７５ａが位置するように１本の配管７５が取り付けられている。この配管７５の端部７５ａには、上記の矩形孔７１１ａ−１を通された一括空気受け部７４が被せられる。このようにして、一括空気受け部７４は、導通ピン７２の端子金具１０３への接離方向に移動可能に検査治具本体７１に設けられている。

配管７５の他端は、弁ユニット３３に接続されており、この弁ユニット３３に配管３６で接続されたレギュレータ３２によって圧力が調整された空気が、弁ユニット３３を介して送り込まれる。すると、配管７５の端部７５ａから空気Ａｒ１が吹き出して一括空気受け部７４で受けられる。この空気Ａｒ１の吹出しにより、一括空気受け部７４が押し上げられ、その結果、複数の導通ピン７２が一括空気受け部７４を介して一括して押し上げられて複数の端子金具１０３に接触する。

各導通ピン７２には導通検査部４０へと至る導通検査線４５が１本ずつ接続されている。導通検査部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２のうちの一の電線１０２を選択し、この一の電線１０２の両端末の端子金具１０３に正常（即ち、誤配線等がない）であれば接触される一対の導通ピン２０間に通電し、当該一対の導通ピン２０間に電流が流れるか否かを判断することにより導通を検査する。

導通検査部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２の全てについて上記と同様に導通を検査する。導通検査部４０は、全ての導通検査が終了すると、制御信号を送信して、弁ユニット３３の弁装置を閉じて配管７５の端部７５ａからの空気の吹き出しを停止する。これにより、一括空気受け部７４が落下する。この落下は、図１２に示されているように、一括空気受け部７４の周壁７４２の端縁が、第１基台７１１の底壁７１１ｂに当接して止まる。一括空気受け部７４の落下により、各導通ピン７２が端子金具１０３から離れてピン挿通孔７１２ａに没入する。この後、導通検査部４０は、制御信号を送信して、コンプレッサ３１による空気の圧縮を停止して、導通検査を終了する。

以上に説明した第２実施形態によっても、上述した第１実施形態と同様に、端子金具１０３の変形や損傷をより効果的に抑制することができ、また、導通検査について一定の品質を保つことができることはいうまでもない。

また、第２実施形態は、複数の導通ピン７２が、空気の圧力により、それぞれ対応する端子金具１０３に一括して接触する構成となっている。これにより、複数の導通ピン７２が同時に動くこととなり、複数の導通ピン７２の相互間で動きのバラつきが抑制されることとなるので、複数の端子金具１０３の電線１０２について、導通検査の精度の向上が図られている。

また、第２実施形態では、カップ形状の一括空気受け部７４を配管７５の端部７５ａに被せ、この端部７５ａから空気Ａｒ１を吹き出すことで、複数の導通ピン７２を、一括空気受け部７４を介して一括して複数の端子金具１０３に接触させる。複数の導通ピン７２を一括空気受け部７４を介して一括して動かすようにしたことにより、複数の導通ピン７２の相互間で動きのバラつきが一層抑制されることとなる。これにより、第２実施形態では、複数の端子金具１０３の電線１０２について、導通検査の更なる精度の向上が図られている。

尚、上述した第１及び第２実施形態では、重力により導通ピン２０，７２を落下させることにより導通ピン２０，７２を端子金具１０３から引き離す構成であったが、これに限定するものではなく、例えば、配管３７，７５の端部３７ａ，７５ａから空気を吸い込むことにより、導通ピン２０，７２を引きつけて端子金具１０３から引き離す構成としてもよい。

また、上述した第１及び第２実施形態では、検査治具本体１１，７１がコネクタ１０５（即ち、コネクタハウジング１０４）を保持することにより、間接的に端子金具１０３を保持する構成であったが、これに限定されるものではなく、例えば、端子金具１０３がコネクタハウジング１０４に収容されない構成としたワイヤハーネスにおいて、端子金具１０３を直接保持するように検査治具本体１１を構成してもよい。

また、上述した第１実施形態では、導通ピン２０が、カップ形状の空気受け部２１を有し、空気受け部２１内に空気を吹込む構成であり、上述した第２実施形態では、複数の導通ピン７２１がカップ形状の一括空気受け部７４に立設され、一括空気受け部７４に空気を吹込む構成であった。しかしながら、本発明は、これらに限定されるものではない。例えば、第１実施形態において空気受け部２１の形状を外径がシリンダ孔１５よりわずかに小さい円柱状又は円板状のピストン形状とし、シリンダ孔１５内に空気を吹込むことにより、導通ピン２０を移動させる構成など、空気の圧力により端子金具１０３に押し付けられて接触するものであれば、本発明の目的に反しない限り、導通ピン２０の形状は任意である。

また、上述した第１及び第２実施形態では、電線１０３の両端末に設けられた端子金具１０３のそれぞれに、上記導通検査治具１０の導通ピン２０，７２を接触させるものであったが、これに限定されるものではない。例えば、電線１０３の一方の端末に設けられた端子金具１０３に当該導通ピン２０，７２を接触させ、他方の端末に設けられた端子金具１０３には、他の構成の導通ピンを接触させる構成などとしてもよい。

なお、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、当業者は、従来公知の知見に従い、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。かかる変形によってもなお本発明の導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法の構成を具備する限り、勿論、本発明の範疇に含まれるものである。

１ 導通検査装置
１０，７０ 導通検査治具
１１，７１ 検査治具本体
１４ コネクタ嵌合孔
１５ シリンダ孔
１６ 規制壁部
２０，７２ 導通ピン
２１ 空気受け部
２２，７２２ 接触部
３０ 空気制御部（空気制御手段）
３１ コンプレッサ
３２ レギュレータ
３３ 弁ユニット
３７，７５ 配管
４０ 導通検査部（導通検査手段）
４５ 導通検査線
６０ プレート（押圧手段）
７４ 一括空気受け部
１０１ ワイヤハーネス
１０２ 電線
１０３ 端子金具
１０４ コネクタハウジング
１０５ コネクタ

Claims (7)

1. 端子金具が端末に設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査治具であって、
   前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する検査治具本体と、前記端子金具に対して一端が対向配置されるとともに当該一端を前記端子金具に接離する上下方向に移動可能なように前記検査治具本体に支持された導通ピンと、前記検査治具本体に端部が上下方向に延在するように取り付けられて前記導通ピンが自重により降下して前記端部の開口を塞ぐとともに当該端部から空気を吹き出し可能な配管と、を有し、
   前記導通ピンが、前記空気の圧力により上方へと吹き上げられて前記端子金具に押し付けられて接触するように設けられていることを特徴とする導通検査治具。
2. 前記導通ピンが、カップ形状の空気受け部を有し、
   前記配管は、前記空気受け部が端部に被せられるとともに導電性を有するものであって、
   前記検査治具本体に取り付けられて、前記空気受け部の内周面を前記空気の吹き出し方向と交差する方向に押圧して前記配管の端部の外周面に押し付ける押圧部材と、を有していることを特徴とする請求項１に記載の導通検査治具。
3. 前記配管は、前記導通検査に用いられる導通検査線が接続されるものであることを特徴とする請求項２に記載の導通検査治具。
4. 前記導通検査は、前記端子金具が各々の端末に設けられた複数本の前記電線それぞれについて行なわれる検査であり、
   前記導通ピンが、複数の前記端子金具と一対一に対応するように複数設けられ、
   複数の前記導通ピンは、前記空気の圧力により、それぞれ対応する前記端子金具に一括して接触することを特徴とする請求項１に記載の導通検査治具。
5. 全ての前記導通ピンについて前記一端側とは反対側と接するように延在した天井壁と、該天井壁の外周に一周に亘って前記導通ピンとは反対側に向かって立設された周壁と、を有するとともに、前記導通ピンの前記端子金具への接離方向と同方向に移動可能に前記検査治具本体に設けられたカップ形状の一括空気受け部を有し、
   前記配管は、前記一括空気受け部が前記端部に被せられるとともに複数の前記導通ピン及び前記一括空気受け部の自重により降下することで前記端部が塞がれ、当該端部から前記空気を吹き出すことで、複数の前記導通ピンを前記一括空気受け部を介して一括して上方へと吹き上げて複数の前記端子金具に接触させることを特徴とする請求項４に記載の導通検査治具。
6. 端子金具が端末に設けられた電線の導通検査に用いられる導通検査装置であって、
   前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持する検査治具本体と、前記端子金具に対して一端が対向配置されるとともに当該一端を前記端子金具に接離する上下方向に移動可能なように前記検査治具本体に支持された導通ピンと、前記検査治具本体に端部が上下方向に延在するように取り付けられて前記導通ピンが自重により降下して前記端部の開口を塞ぐとともに当該端部から空気を吹き出し可能な配管と、を有する導通検査治具と、
   前記導通ピンを前記空気の圧力により上方へと吹き上げて前記端子金具に押し付けて接触させる空気制御手段と、
   前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査手段と、を備えていることを特徴とする導通検査装置。
7. 端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法であって、
   前記端子金具又は当該端子金具を収容したコネクタハウジングを保持した導通検査治具の検査治具本体において前記端子金具に一端が対向配置されるとともに当該一端を前記端子金具に接離する上下方向に移動可能なように前記検査治具本体に支持された導通ピンを、前記検査治具本体に端部が上下方向に延在するように取り付けられて前記導通ピンが自重により降下して端部の開口を塞ぐ配管の当該端部から吹き出させた空気の圧力により上方へと吹き上げて前記端子金具に押し付けて接触させる空気制御工程と、
   前記導通ピンを通じて前記電線の導通を検査する導通検査工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。

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