JP6587904B2

JP6587904B2 - 導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法

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Publication number: JP6587904B2
Application number: JP2015216730A
Authority: JP
Inventors: 良介井伊; 橋本　秀紀; 秀紀橋本; 壮亮中村; 志門鯵坂
Original assignee: Chuo University; Yazaki Corp
Current assignee: Chuo University; Yazaki Corp
Priority date: 2015-11-04
Filing date: 2015-11-04
Publication date: 2019-10-09
Anticipated expiration: 2035-11-04
Also published as: JP2017090087A

Description

本発明は、導通検査対象の導通検査に用いられる導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法に関するものである。

車両内に配索されて各種電子機器等の接続に用いられるワイヤハーネス（導通検査対象）は、コネクタハウジングに収容される端子金具が端末に設けられた複数の電線を有している。そして、このようなワイヤハーネスに対して、電線の断線や端子の接続不良等を検出するための導通検査が行われる。

導通検査は、例えば、電線の両端末に設けられた端子金具に対をなす検査プローブを接触させて、これら検査プローブ間の導通を確認することにより行うものであるところ、この検査プローブを接触させることにより端子金具の変形や損傷が生じるおそれがあった。そして、このような端子金具の変形や損傷を抑制できる検査プローブの一例が、特許文献１に開示されている。

特許文献１に開示されている検査プローブは、検査器本体に取り付けられる管体と、この管体に突没自在に支持された可動ピンと、管体内に配置されかつ可動ピンを管体から突出させる方向に向けて押圧するコイルバネと、を有している。この検査プローブによれば、端子金具が可動ピンに押し付けられると、当該押し付けられる力に応じて可動ピンが管体内に押し込まれるので、端子金具の変形や損傷を抑制することができる。

特開平９−４３２９８号公報

しかしながら、特許文献１に開示されているような可動ピンをコイルバネで押圧する構成の検査プローブは、繰り返し使用した場合においても可動ピンと端子金具とを確実に接触させるために、コイルバネによる可動ピンを押圧する力を、当該コイルバネの劣化（バネ力の低下等）などを考慮して、可動ピンと端子金具との間の導通を確保するために最低限必要な力より大きく設定することが求められ、そのため、端子金具の変形や損傷を抑制する点で改善の余地があった。

そこで、本発明は、かかる問題を解決することを目的としている。即ち、本発明は、導通検査対象の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査治具、導通検査装置及び導通検査方法を提供することを課題とする。

請求項１に記載された発明は、導通検査対象の導通検査に用いられる導通検査治具であって、前記導通検査対象を保持する治具本体と、端部から空気を吹き出す配管と、前記配管からの空気を受ける空気受け部と、前記空気受け部により受けた空気の圧力により前記導通検査対象に近づいて接触するピン本体と、前記空気受け部から前記空気の吹き出し方向と逆方向に向かって立設する立壁と、を有する導通ピンと、前記立壁を押圧して前記配管に前記立壁を押し付ける押圧部材と、を備え、前記押圧部材には、前記立壁に接触する導電性の接触部と、配線に接続される接続部と、前記接触部及び前記接続部間を接続する導電パターンと、が形成されていることを特徴とする導通検査治具である。

請求項２に記載された発明は、前記押圧部材には、前記立壁及び前記配管を通す通し穴が複数設けられ、前記複数の通し穴の内側面が前記立壁に接触する接触部となることを特徴とする請求項１に記載の導通検査治具である。

請求項３に記載の発明は、複数の前記通し穴を１列に並べた通し穴列が、２列隣接して並べて設けられ、複数の前記接続部を１列に並べた接続部列が、前記通し穴列にそれぞれ対応して２列隣接して並べて設けられ、前記押圧部材には、前記接続部列から離れた側の通し穴列を構成する複数の通し穴から多くても隣接する２個の通し穴を除いた通し穴にそれぞれ対応してスルーホールが設けられ、前記導電パターンは、前記押圧部材の一面に形成され、前記接続部列に近い側の通し穴列と当該通し穴列に対応する前記接続部列との間を直接接続する第１の導電パターン部と、前記押圧部材の一面に形成され、前記スルーホールと当該スルーホールに対応する前記通し穴との間を接続する第２の導電パターン部と、前記押圧部材の他面に形成され、前記スルーホールと当該スルーホールに接続された前記通し穴に対応する前記接続部との間を接続する第３の導電パターン部と、を有していることを特徴とする請求項２に記載の導通検査治具である。

請求項４記載の発明は、導通検査対象の導通検査に用いられる導通検査装置であって、請求項１〜３何れか１項に記載の導通検査治具と、前記導通ピンを通じて前記導通検査対象の導通を判定する導通判定手段と、を備えたことを特徴とする導通検査装置である。

請求項５記載の発明は、導通検査対象の導通検査を行う導通検査方法であって、請求項１〜３のうち何れか１項に記載の導通検査治具を用い、当該導通検査治具の前記治具本体に、前記導通検査対象を保持させる保持工程と、前記配管に空気を送り込む空気制御工程と、前記押圧部材により前記導通ピンの立壁を押圧して、当該立壁を配管に押し付ける押圧工程と、前記導通ピンを通じて前記導通検査対象の導通を判定する導通判定工程と、を備えていることを特徴とする導通検査方法である。

以上説明したように請求項１、４、５記載の発明によれば、導通ピンを空気の圧力により導通検査対象に近づけて接触させる。このようにしたことから、空気の圧力を用いることで、毎回の導通検査において導通ピンと導通検査対象との間の導通を確保するために最低限必要な力で当該導通ピンを導通検査対象に接触させることができる。そのため、導通検査対象の変形や損傷を効果的に抑制することができる。また、コイルバネのように劣化がないことから、常に一定の力で導通ピンを導通検査対象に接触させることができ、そのため、一定の品質を保つことができる。

また、押圧部材により導通ピンの立壁が、配管に押し付けられている。このため、導通ピンの姿勢が配管の吹き出し方向に沿うように矯正されるため、導通ピンと導通検査対象との接触の安定性を図ることができる。

また、押圧部材には、立壁に接触する導電性の接触部と、配線に接続される接続部と、前記接触部及び前記接続部間を接続する導電パターンと、が形成されている。これにより、配線が、導通ピンを押圧する押圧部材を介して導通ピンと接続するため、より精度の高い導通検査を行うことができる。

請求項２記載の発明によれば、１つの押圧部材で、複数の導通ピンの立壁を押圧することができる。

請求項３記載の発明によれば、スルーホールを設けることにより、簡単に、２列の通し穴列及び２列の接続部列を接続する導電パターンを設けることができる。

本発明の一実施形態の導通検査装置の概略構成を示す図である。図１の導通検査装置が備える導通検査治具の断面斜視図である。図１の導通検査装置が備える導通検査治具の部分断面図である（導通ピンが端子金具と接していない状態）。図３のＸ部部分拡大図である。図１の導通検査装置が備える導通検査治具の部分断面図である（導通ピンが端子金具と接している状態）。図５のＹ部部分拡大図である。（Ａ）及び（Ｂ）は、図１の導通検査治具が備える基板の上面図及び下面図である。（Ａ）及び（Ｂ）は、図７に示す基板上に形成された通し穴及び接続部の拡大図である。導通ピンを配管の端部に押し付ける前の状態を説明する図である。導通ピンを配管の端部に押し付けた後の状態を説明する図である。

以下、本発明の一実施形態に係る導通検査装置について、図１〜図１０を参照して説明する。

本実施形態の導通検査装置１は、例えば、図１に示すように、水平に設置された検査台Ｋ上に配索された車両用のワイヤハーネス１０１（導通検査対象）の導通検査に用いられる。このワイヤハーネス１０１は、複数の電線１０２（図２）を束ねたワイヤハーネス本体１０６と、ワイヤハーネス本体１０６の端末に設けられたコネクタ１０５と、を有している。ワイヤハーネス本体１０６は、幹線１０１ａとこの幹線１０１ａから分岐した分岐線１０１ｂとを有している。

コネクタ１０５は、図２に示すように、ワイヤハーネス本体１０６を構成する複数の電線１０２それぞれの端末に設けられた複数の端子金具１０３と、これら複数の端子金具１０３を収容するコネクタハウジング１０４と、を有している。コネクタ１０５は、車両に搭載された電子機器等に接続される。

図１に示すように、導通検査装置１は、導通検査治具１０と、空気制御手段としての空気制御部３０と、導通判定手段としての導通判定部４０と、を備えている。

導通検査治具１０は、図２に示すように、治具本体としての検査治具本体１１と、複数の配管１２と、複数の導通ピン１３と、押圧部材としての基板１４と、基板１４を駆動するソレノイド１５と、を備えている。

検査治具本体１１は、上述したコネクタ１０５を保持するためのものであり、例えば、電気絶縁性を有する合成樹脂などを材料として用いて構成されている。検査治具本体１１は、矩形板状の第１基台１１１と、矩形箱状の第２基台１１２と、第１基台１１１の四角と第２基台１１２とを繋ぐ４本の脚部１１３と、を備えている。検査治具本体１１は、第１基台１１１が検査台Ｋ上に載置されるように設けられる。

第１基台１１１は、図２〜図６に示すように、矩形板状の板部１１１ａと、板部１１１ａから上方に立設するコネクタ嵌合部１１１ｂと、板部１１１ａから下方に立設するピンガイド１１１ｃと、を有している。コネクタ嵌合部１１１ｂは、上方が開口した四角筒状に設けられ、上述したコネクタ１０５（即ち、コネクタハウジング１０４）を挿入嵌合可能に形成されている。上方の開口からコネクタ１０５をコネクタ嵌合部１１１ｂ内に挿入すると、コネクタ１０５が板部１１１ａに突き当たって保持される。

板部１１１ａにおいてコネクタ嵌合部１１１ｂに囲まれた部分には、鉛直方向に貫通する複数のピン挿通孔１１１ｄが設けられている。各ピン挿通孔１１１ｄは、コネクタ嵌合部１１１ｂ内に挿入されたコネクタハウジング１０４に収容された各端子金具１０３に対応した位置に配置されている。このピン挿通孔１１１ｄから後述する導通ピン１３のピン本体１３ｂが、コネクタ嵌合部１１１ｂ内に突没自在に挿入される。

また、ピンガイド１１１ｃは、ピン挿通孔１１１ｄの周縁部から下方に向かって立設した円筒状に設けられている。各ピンガイド１１１ｃは、後述する導通ピン１３のピン本体１３ｂの剛性よりも高い剛性を有した円筒である。この円筒状のピンガイド１１１ｃを通ってピン挿通孔１１１ｄに導通ピン１３のピン本体１３ｂを挿入することにより、ピンガイド１１１ｃは、ピン本体１３ｂの傾きを防止できる。

図２に示すように、第１基台１１１と第２基台１１２との間の空間におけるコネクタ嵌合部１１１ｂの直下の部分には、第２基台１１２から第１基台１１１へと向けて、複数の配管１２が立設されている。箱状の第２基台１１２の天井壁１１２ａには、配管１２を通す配管貫通孔１１２ｂが設けられている。各配管１２は、その一端が空気の吹き出し口１２ａとなっており、上記の配管貫通孔１１２ｂを通って、第２基台１１２の内部から、吹き出し口１２ａが第１基台１１１へと向かうように立設されている。本実施形態では、配管１２は、空気の吹出し方向が上方になるように配置されている。また、各配管１２の他端側は、第２基台１１２の内部から不図示の延出孔を通って第２基台１１２の外部に延出して、後述の弁ユニット３３に接続されている。

複数の導通ピン１３は、例えば、銅合金などの導電性の材料を用いて構成されており、図３〜図６に示すように、それぞれが空気受け部１３ａと、ピン本体１３ｂと、立壁としての周壁１３ｃと、を一体に有している。空気受け部１３ａは、配管１２からの空気を受けるためにピン本体１３ｂよりも径が大きい円板状に設けられている。また、空気受け部１３ａの外径は、上述したピンガイド１１１ｃの外径よりわずかに大きくなっている。これにより、各導通ピン１３の上方への移動は、それぞれの対応するピンガイド１１１ｃに空気受け部１３ａが当接したところで規制される。

ピン本体１３ｂは、空気受け部１３ａの中央から上方に立設した円柱状に設けられ、その先端が空気受け部１３ａにより受けた空気の圧力により端子金具１０３に近づいて接触する。ピン本体１３ｂの径は、φ０．３ｍｍ程度まで細径化されている。また、このピン本体１３ｂの径は、ピンガイド１１１ｃの内径及びピン挿通孔１１１ｄの径よりわずかに小さな径である。

周壁１３ｃは、空気受け部１３ａの周縁から下方（空気の吹き出し方向と逆方向）に向かって立設している。周壁１３ｃは、下方に開口が設けられた円筒状に設けられ、この開口から配管１２の吹き出し口１２ａが周壁１３ｃ内に挿入される。

基板１４には、図３〜図８に示すように、導通ピン１３の周壁１３ｃ及び配管１２の一端を通す通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11、１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11（以下、通し穴１４ａと略記することもある）が複数設けられている。上記ソレノイド１５によって基板１４と平行方向（吹き出し方向と交差する方向）に基板１４を押圧すると図１０に示すように通し穴１４ａの内側面が周壁１３ｃを押圧して配管１２を周壁１３ｃに押し付ける。この基板１４には、図７及び図８に示すように、周壁１３ｃと接触する導電性の接触部Ｓ（図１０）と、配線Ｌ（図２）に各々接続される接続部１４ｂ_1,1〜１４ｂ_1,11、１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11（以下、接続部１４ｂと略記することもある）と、接触部Ｓ及び接続部１４ｂ間を接続する導通パターン１４ｃと、が形成されている。本実施形態では、図１０に示すように、通し穴１４ａの内側面が周壁１３ｃと接触する接触部Ｓとなり、通し穴１４ａの内側面にプリントなどにより導電性の接触部Ｓを設けている。配線Ｌは、後述する導通判定部４０に接続されている。

複数の通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11、１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11は、各導通ピン１３に対応して設けられている。即ち、複数の通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11、１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11は、コネクタ１０５の端子金具１０３と各々対向するように設けられている。本実施形態では、例えば１１個の通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11を１列に並べた通し穴列１４ａ₁と、１１個の通し穴１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11を１列に並べた通し穴列１４ａ₂と、の２列が隣接して並べて設けられている。

接続部１４ｂ_1,1〜１４ｂ_1,11、１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11は、基板１４上にプリントされて設けられ、それぞれに配線Ｌの端部が半田などにより接続されている。基板１４上には、１１個の接続部１４ｂ_1,1〜１４ｂ_1,11を１列に並べた接続部列１４ｂ₁と、１１個の接続部１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11を１列に並べた接続部列１４ｂ₂と、の２列が隣接して並べて設けられている。上述した２列の通し穴列１４ａ₁、１４ａ₂、２列の接続部列１４ｂ₁、１４ｂ₂は、行方向が基板１４の長手方向に沿うように、列方向が基板１４の短手方向に沿うようにそれぞれ形成されている。そして、長手方向一方側に通し穴列１４ａ₁、１４ａ₂が設けられ、長手方向他方側に接続部列１４ｂ₁、１４ｂ₂が設けられている。

そして、長手方向一方側同士の通し穴列１４ａ₁と、接続部列１４ｂ₁と、が対応して設けられ、長手方向他方側同士の通し穴列１４ａ₂と接続部列１４ｂ₂と、が対応して設けられている。通し穴列１４ａ₁、１４ａ₂と接続部列１４ｂ₁、１４ｂ₂とは長手方向に互いに離間して配置され、互いに平行に設けられている。

導電パターン１４ｃは、同じ行、同じ列の通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11、１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11の内側面に設けた接触部Ｓと接続部１４ｂ_1,1〜１４ｂ_1,11、１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11とが接続するように、基板１４上にプリントなどにより設けられている。このため、基板１４には、スルーホール１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5、１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11（以下、スルーホール１４ｄと略記することもある）が設けられている。スルーホール１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5、１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11は、接続部列１４ｂ₁、１４ｂ₂から離れた側の通し穴列１４ａ₁を構成する複数の通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11から隣接する２個の通し穴１４ａ_1,6、１４ａ_1,7（本実施形態では略中央の２つだが隣接していればどこでもよい。）を除いた通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11にそれぞれ対応して設けられている。

なお、本実施形態では、通し穴列１４ａ₁を構成する複数の通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11のうち隣接する２個の通し穴１４ａ_1,6、１４ａ_1,7に対応するスルーホールは設けていないが、これに限ったものではない。通し穴列１４ａ₁を構成する複数の通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11のうち１つに対応するスルーホールを設けなくてもよいし、全ての通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11に対応するスルーホールを設けてもよい。

各スルーホール１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5、１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11は、対応する通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11よりも接続部列１４ｂ₁、１４ｂ₂から離れた側に設けられている。スルーホール１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5、１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11は、対応する通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11との距離が通し穴列１４ａ₁の中央に近づくに従って近くなるように設けられている。

導電パターン１４ｃは、第１〜第４の導電パターン部１４ｃ₁〜１４ｃ₄を有している。第１の導電パターン部１４ｃ₁は、図７（Ｂ）に示すように、基板１４の下面（一面）に形成され接続部列１４ｂ₁、１４ｂ₂に近い側の通し穴１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11の内側面に形成された接触部Ｓと、当該通し穴１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11に対応する接続部１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11と、の間をそれぞれ直接接続するようにライン状に設けられている。第２の導電パターン部１４ｃ₂は、基板１４の下面に形成され、通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11の内側面に形成された接触部Ｓと、当該通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11に対応するスルーホール１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5、１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11との間を接続するようにライン状に設けられている。

第３の導電パターン部１４ｃ₃は、図７（Ａ）に示すように、基板１４の上面（他面）に形成され、スルーホール１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5、１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11と当該スルーホール１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5、１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11に接続された通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11に対応する接続部１４ｂ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11との間を接続するようにライン状に設けられている。

第４の導電パターン部１４ｃ₄は、基板１４の上面（他面）に形成され、通し穴１４ａ_1,6、１４ａ_1,7の内側面に形成された接触部Ｓと、当該通し穴１４ａ_1,6、１４ａ_1,7に対応する接続部１４ｂ_1,6、１４ａ_1,7と、を接続する。通し穴１４ａ_1,6と接続部１４ｂ_1,6とを接続する第４の導電パターン１４ｃ₄は、通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,6の外側を通って接続部１４ｂ_1,6に接続される。通し穴１４ａ_1,7と接続部１４ｂ_1,7とを接続する第４の導電パターン１４ｃ₄は、通し穴１４ａ_1,7〜１４ａ_1,11の外側を通って接続部１４ｂ_1,7に接続される。第３の導電パターン部１４ｃ₃は、第４の導電パターン部１４ｃ₄よりも外側に形成されている。第３の導電パターン部１４ｃ₃は、通し穴列１４ａ₁のうち両端に近い通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,5、１４ａ_1,8〜１４ａ_1,11に対応するものほど外側に形成される。

上述した基板１４は、導通判定部４０により制御される駆動手段としてのソレノイド１５によって図中長手方向に移動される。基板１４は手動により移動されてもよい。

空気制御部３０は、図１に示すように、コンプレッサ３１と、レギュレータ３２と、弁ユニット３３と、を有している。

コンプレッサ３１は、空気を取り込んで圧縮する圧縮部３１ａと、圧縮部３１ａによって圧縮された空気を蓄えるタンク３１ｂと、を有している。レギュレータ３２は、配管３５を通じてタンク３１ｂと接続されており、タンク３１ｂからの空気の圧力を所定値に減圧する。弁ユニット３３は、配管３６を通じてレギュレータ３２と接続されており、レギュレータ３２からの空気を供給及び遮断する弁装置（図示なし）と、弁装置の下流に設けられ各導通ピンに空気を分配する分配部（図示なし）と、を有している。弁ユニット３３の分配部と各導通検査治具１０とは、配管１２で接続されている。

配管１２の端部は、図３〜図６に示すように、ピン挿通孔１１１ｄの貫通方向に沿って配置され、当該ピン挿通孔１１１ｄに通された各導通ピン１３の周壁１３ｃ内に挿入されている。これにより、配管１２の吹き出し口１２ａからは、上方に向けて空気が吹き出される。また、配管１２は、その外径が、導通ピン１３の周壁１３ｃの内径より小さく形成されている。これにより、配管１２の吹き出し口１２ａからの空気の吹き出しがない状態においては、導通ピン１３は重力により下方に落ちて配管１２に空気受け部１３ａが突き当り、ピン本体１３ｂの先端がピン挿通孔１１１ｄ内に没入する（図３、図４）。そして、配管１２の吹き出し口１２ａから空気が吹き出された状態（空気の圧力が加えられた状態）においては、導通ピン１３は上方に、空気受け部１３ａがピンガイド１１１ｃに当接するまで移動してピン本体１３ｂの先端がピン挿通孔１１１ｄから突出する（図５、図６）。ピン挿通孔１１１ｄから突出したピン本体１３ｂの先端が、コネクタハウジング１０４内に進入して端子金具１０３に近づいて接触する。配管１２は、第２基台１１２の天井壁１１２ａの配管貫通孔１１２ｂを貫通した状態で、この天井壁１１２ａに固定されている。このように、配管１２は、導通ピン１３における空気受け部１３ａに空気を吹き出して導通ピン１３を移動させることで、端子金具１０３（即ち、導通検査対象としてのワイヤハーネス１０１）と導通ピン１３とを非接触状態から接触状態に切り換える。

導通判定部４０は、例えば、パーソナルコンピュータなどで構成されており、上述したコンプレッサ３１、レギュレータ３２、弁ユニット３３及びソレノイド１５に対し制御信号を送信可能に接続されている。導通判定部４０は、導通検査に際して、コンプレッサ３１における空気の圧縮の開始及び終了を制御し、レギュレータ３２の減圧値を設定し、弁ユニット３３による空気の供給及び遮断を制御する。また、導通判定部４０は、導通検査に際して、ソレノイド１５を制御して、基板１４を動かして導通ピン１３の周壁１３ｃを配管１２に押し付ける。

上述したように各基板１４の設けた接続部１４ｂ_1,1〜１４ｂ_1,11、１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11には、導通判定部４０へと至る配線Ｌの一端が接続されている。このため、導通ピン１３におけるピン本体１３ｂの先端が端子金具１０３に接触すると、導通判定部４０は、配線Ｌ、接続部１４ｂ_1,1〜１４ｂ_1,11、１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11、導通パターン１４ｃ、通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11〜１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11の内側面に設けた接触部Ｓ及び導通ピン１３を通じて、端子金具１０３が取り付けられた電線１０２の導通を判定する。

次に、上述した導通検査装置１で行われる導通検査方法について以下に説明する。

まず、図１に示されているように、導通検査対象となるワイヤハーネス１０１を検査台Ｋに配索し、ワイヤハーネス１０１の端末に設けられたコネクタ１０５のコネクタハウジング１０４を、対応する導通検査治具１０の検査治具本体１１に保持させる（保持工程）。これにより、端子金具１０３付きの電線１０２が導通検査対象として検査治具本体１１に保持される。図１において、ワイヤハーネス１０１は、幹線１０１ａの端部及び分岐線１０１ｂの端部に設けられたコネクタ１０５が、導通検査治具１０に保持されている。また、当該ワイヤハーネス１０１における図示しない他のコネクタ１０５についても同様に図示しない導通検査治具１０に嵌合されている。この状態において、導通検査治具１０の各導通ピン１３は、コネクタ１０５における対応する各端子金具１０３に接触していない（図３及び図４）。

またこのとき、各導通ピン１３の周壁１３ｃは、通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11、１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11と同軸となる位置に基板１４が位置付けられている。この状態において、各導通ピン１３は、通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11、１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11の内側面に形成された接触部Ｓに接触していない。

次に、導通判定部４０は、制御信号を送信して、コンプレッサ３１による空気の圧縮を開始し、レギュレータ３２における減圧値を設定する。このとき、レギュレータ３２の減圧値としては、導通ピン１３が上方に移動してその先端が端子金具１０３に接し、導通ピン１３と端子金具１０３との間の導通を確保するために最低限必要な力で押し付けられて接触する値が設定される。

それから、導通判定部４０は、制御信号を送信して、弁ユニット３３の弁装置を開いて配管１２の吹き出し口１２ａから空気を吹き出させる（空気制御工程）。これにより、吹き出された空気の圧力により各導通ピン１３が上方に移動してピン挿通孔１１１ｄからそれぞれのピン本体１３ｂの先端を突出させ、各ピン本体１３ｂが対応する各端子金具１０３と導通を確保するために最低限必要な力で押し付けられて接触する（図５及び図６）。

このとき、導通ピン１３は、配管１２の吹き出し口１２ａや基板１４にゆるく支持されているので、図９（ａ）、（ｂ）に模式的に示すように、軸心が吹き出し方向に対して傾斜してその姿勢が崩れてしまい、そのため、この姿勢のままでは導通ピン１３と端子金具１０３や基板１４との接触が不確実であり、導通検査用の電流が正常に流れない恐れがある。

そこで、次に、導通判定部４０は、制御信号を送信して、ソレノイド１５により基板１４の駆動を開始させ、基板１４により導通ピン１３の周壁１３ｃを押圧して配管１２に導通ピン１３の周壁１３ｃを押し付ける（押圧工程）。これにより、図１０（ａ）、（ｂ）に示すように、導通ピン１３の軸心が吹き出し方向に沿うようにその姿勢が修正される。

これにより、導通ピン１３が端子金具１０３に確実に接触する。また、導通ピン１３が基板１４に設けた通し穴１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11、１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11の内側面に形成された接触部Ｓに確実に接触する。そして、端子金具１０３が、導通ピン１３、基板１４上に形成された接触部Ｓ、導通パターン１４ｃ、接続部１４ｂ、配線Ｌを通じて導通判定部４０に電気的に接続される。

次に、導通判定部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２のうちの一の電線１０２を選択し、この一の電線１０２の両端末の端子金具１０３に正常（即ち、誤配線等がない）であれば接触される一対の導通ピン１３間に通電する。そして、導通判定部４０は、それら一対の導通ピン１３間に電流が流れるか否かを判断することにより導通を判定する（導通判定工程）。また、これら一対の導通ピン１３とこれら以外の他の導通ピン１３との導通を検査して電線１０２間の短絡や誤配線の有無を判定してもよい。

導通判定部４０は、ワイヤハーネス１０１の複数の電線１０２の全てについて上記と同様に導通を検査する。導通判定部４０は、全ての導通検査が終了すると、制御信号を送信して、ソレノイド１５を駆動して基板１４を導通ピン１３の周壁１３ｃから離す。その後、導通判定部４０は、弁ユニット３３の弁装置を閉じて配管１２の吹き出し口１２ａからの空気の吹き出しを停止する。これにより、各導通ピン１３は落下して、空気受け部１３ａが配管１２の吹き出し口１２ａに突き当り、当該配管１２によって保持される（図３及び図４）。また、導通判定部４０は、制御信号を送信して、コンプレッサ３１による空気の圧縮を停止して、導通検査を終了する。

上述した実施形態によれば、導通ピン１３を空気の圧力により端子金具１０３に近づいて接触させる。このようにしたことから、空気の圧力を用いることで、毎回の導通検査において導通ピン１３と端子金具１０３との間の導通を確保するために最低限必要な力で当該導通ピン１３を端子金具１０３に近づいて接触させることができる。そのため、端子金具１０３の変形や損傷を効果的に抑制することができる。また、コイルバネのように劣化がないことから、常に一定の力で導通ピン１３を端子金具１０３に接触させることができ、そのため、一定の品質を保つことができる。

また、上述した実施形態によれば、基板１４により導通ピン１３の周壁１３ｃが、配管１２の端部に押し付けられている。このため、導通ピン１３の姿勢が配管１２の吹き出し方向に沿うように矯正されるため、導通ピン１３と端子金具１０３との接触の安定性を図ることができる。

また、上述した実施形態によれば、基板１４には、周壁１３ｃに接触する接触部Ｓと、配線Ｌに接続される接続部１４ｂと、の間に導電パターン１４ｃが形成されている。これにより、導通ピン１３を押圧する基板１４を介して導通ピン１３と接続することができるため、より精度の高い導通検査を行うことができる。

また、上述した実施形態によれば、基板１４には、周壁１３ｃ及び配管１２の端部を通す通し穴１４ａが複数設けられ、複数の通し穴１４ａの内側面が周壁１３ｃに接触する接触部Ｓとなる。これにより、１つの基板１４で、複数の導通ピン１３の周壁１３ｃを押圧することができる。

また、上述した実施形態によれば、スルーホール１４ｄを設けることにより、簡単に、２列の通し穴列１４ａ₁、１４ａ₂を、２列の接続部列１４ｂ₁、１４ｂ₂に接続する導電パターン１４ｃを設けることができる。

なお、上述した実施形態によれば、押圧部材として周壁１３ｃ及び配管１２の端部を通す通し穴１４ａが複数設けられた基板１４であり、複数の通し穴１４ａの内側面が立壁に接触する接触部Ｓとしていたが、これに限定されるものではなく、導通ピン１３と配管１２の端部とが確実に接触するように導通ピン１３を押圧して配管１２の端部に押し付けることができるものであれば、その構成は任意である。

また、上述した実施形態によれば、基板１４には、スルーホール１４ｄを設けていたが、これに限ったものではない。通し穴１４ａ同士の間隔が広かったり、通し穴１４ａの数が少ない場合には、スルーホール１４ｄを設けなくても、通し穴１４ａとそれに対応する接続部１４ｂとを導電パターン１４ｃで直接接続するようにしてもよい。

また、上述した実施形態によれば、重力により導通ピン１３を落下させることにより導通ピン１３を端子金具１０３から引き離す構成であったが、これに限定するものではなく、例えば、配管１２の端部から空気を吸い込むことにより、導通ピン１３を引き付けて端子金具１０３から引き離す構成としてもよい。

また、上述した実施形態では、検査治具本体１１がコネクタ１０５（即ち、コネクタハウジング１０４）を保持することにより、間接的に端子金具１０３を保持する構成であったが、これに限定されるものではなく、例えば、端子金具１０３がコネクタハウジング１０４に収容されない構成としたワイヤハーネスにおいて、端子金具１０３を直接保持するように検査治具本体１１を構成してもよい。

また、上述した実施形態では、導通ピン１３の立壁として円筒状の周壁１３ｃに設けていたが、これに限ったものではない。立壁としては、導通ピン１３の空気受け部１３ａから下方に立設していればよく、例えば空気受け部１３ａから下方に立設した一対の立壁片から構成されていてもよい。

また、上述した実施形態では、電線１０２の両端末に設けられた端子金具１０３のそれぞれに、上記導通検査治具１０の導通ピン１３を接触させるものであったが、これに限定されるものではない。例えば、電線１０２の一方の端末に設けられた端子金具１０３に当該導通ピン１３を接触させて、他方の端末に設けられた端子金具１０３には、他の構成の導通ピン１３を接触させる構成などとしてもよい。

また、上述した実施形態では、端子金具１０３とピン本体１３ｂとが上下方向に対向して接触していたが、これに限ったものではない。本実施形態のように、相手コネクタの端子金具と接続する筒状の端子接続部を有する端子金具１０３であれば、ピン本体１３ｂを筒状の端子接続部内に挿入して、端子接続部の内面に接触（即ち端子金具１０３とピン本体１３ｂが水平方向に対向して接触）するようにしてもよい。

また、上述した実施形態では、ピン本体１３ｂは、空気受け部１３ａから突出するように設けていたが、これに限ったものではないピン本体１３ｂは、一端が空気受け部１３ａよりも上方に立設するように他端が周壁１３ｃに固定されるようにしてもよい。

また、前述した実施形態は本発明の代表的な形態を示したに過ぎず、本発明は、実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。

１導通検査装置
１０導通検査治具
１１検査治具本体（治具本体）
１２配管
１３導通ピン
１３ａ空気受け部
１３ｂピン本体
１３ｃ周壁（立壁）
１４基板（押圧部材）
１４ａ_1,1〜１４ａ_1,11 通し穴
１４ａ_2,1〜１４ａ_2,11 通し穴
１４ａ₁ 通し穴列
１４ａ₂ 通し穴列
１４ｂ_1,1〜１４ｂ_1,11 接続部
１４ｂ_2,1〜１４ｂ_2,11 接続部
１４ｂ₁ 接続部列
１４ｂ₂ 接続部列
１４ｃ導電パターン
１４ｃ₁ 第１の導電パターン部
１４ｃ₂ 第２の導電パターン部
１４ｃ₃ 第３の導電パターン部
１４ｄ_1,1〜１４ｄ_1,5 スルーホール
１４ｄ_1,8〜１４ｄ_1,11 スルーホール
４０導通判定部（導通判定手段）
１０１ワイヤハーネス（導通検査対象）
Ｓ接触部
Ｌ配線

Claims

導通検査対象の導通検査に用いられる導通検査治具であって、
前記導通検査対象を保持する治具本体と、
端部から空気を吹き出す配管と、
前記配管からの空気を受ける空気受け部と、前記空気受け部により受けた空気の圧力により前記導通検査対象に近づいて接触するピン本体と、前記空気受け部から前記空気の吹き出し方向と逆方向に向かって立設する立壁と、を有する導通ピンと、
前記立壁を押圧して前記配管に前記立壁を押し付ける押圧部材と、を備え、
前記押圧部材には、前記立壁に接触する導電性の接触部と、配線に接続される接続部と、前記接触部及び前記接続部間を接続する導電パターンと、が形成されていることを特徴とする導通検査治具。
前記押圧部材には、前記立壁及び前記配管を通す通し穴が複数設けられ、
前記複数の通し穴の内側面が前記立壁に接触する接触部となることを特徴とする請求項１に記載の導通検査治具。
複数の前記通し穴を１列に並べた通し穴列が、２列隣接して並べて設けられ、
複数の前記接続部を１列に並べた接続部列が、前記通し穴列にそれぞれ対応して２列隣接して並べて設けられ、
前記押圧部材には、前記接続部列から離れた側の通し穴列を構成する複数の通し穴から多くても隣接する２個の通し穴を除いた通し穴にそれぞれ対応してスルーホールが設けられ、
前記導電パターンは、前記押圧部材の一面に形成され、前記接続部列に近い側の通し穴列と当該通し穴列に対応する前記接続部列との間を直接接続する第１の導電パターン部と、前記押圧部材の一面に形成され、前記スルーホールと当該スルーホールに対応する前記通し穴との間を接続する第２の導電パターン部と、前記押圧部材の他面に形成され、前記スルーホールと当該スルーホールに接続された前記通し穴に対応する前記接続部との間を接続する第３の導電パターン部と、を有している
ことを特徴とする請求項２に記載の導通検査治具。
導通検査対象の導通検査に用いられる導通検査装置であって、
請求項１〜３何れか１項に記載の導通検査治具と、
前記導通ピンを通じて前記導通検査対象の導通を判定する導通判定手段と、を備えたことを特徴とする導通検査装置。
導通検査対象の導通検査を行う導通検査方法であって、
請求項１〜３のうち何れか１項に記載の導通検査治具を用い、当該導通検査治具の前記治具本体に、前記導通検査対象を保持させる保持工程と、
前記配管に空気を送り込む空気制御工程と、
前記押圧部材により前記導通ピンの立壁を押圧して、当該立壁を配管に押し付ける押圧工程と、
前記導通ピンを通じて前記導通検査対象の導通を判定する導通判定工程と、を備えていることを特徴とする導通検査方法。