JP6642223B2 - 透明板表面検査装置、透明板表面検査方法、およびガラス板の製造方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 118
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 42
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 15
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 3
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/254—Projection of a pattern, viewing through a pattern, e.g. moiré
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Description
透明板の主表面を検査する透明板表面検査装置であって、
ストライプパターンを含む光源と、前記光源からの光が前記主表面で反射した先に設置され、前記ストライプパターンを撮像するラインセンサカメラと、撮像された前記ストライプパターンの画像を画像処理する画像処理装置とを備え、
前記ラインセンサカメラは、所定方向に並ぶ複数の画素を含む撮像素子と、前記ストライプパターンを前記撮像素子に結像するレンズとを有し、
前記光源および前記撮像素子は、両方とも前記主表面の片側に配され、且つ、それぞれ前記主表面に斜めに向かい合い、
前記所定方向の一端に配される前記画素の前記主表面における撮像スポットの面積(S1)と、前記所定方向の他端に配される前記画素の前記主表面における撮像スポットの面積(S2(S2>S1))との比(S1/S2)が0.20以上である、透明板表面検査装置が提供される。
S1=α×Sf×β12・・・(1)
β1=A1b/A1・・・(2)
A1=A1a+A1b・・・(3)
ここで、αはレンズ32の光軸直交面OPに対する検査面61の傾斜の影響を表す係数を、Sfはレンズ32の絞り面積を、A1aはレンズ32の光学中心32aから検査面61における撮像スポットの中心P1までの距離を、A1bはP1から光源20の一点22P1までの距離を表す。レンズ32の光軸直交面OPとは、レンズ32の光軸32bと直交する平面である。レンズ32の絞り面積Sfは、レンズ32の焦点距離fと絞り値の関数であって、一定である。
S2=α×Sf×β22・・・(4)
β2=A2b/A2・・・(5)
A2=A2a+A2b・・・(6)
ここで、αはレンズ32の光軸直交面OPに対する検査面61の傾斜の影響を表す係数を、Sfはレンズ32の絞り面積を、A2aはレンズ32の光学中心32aから検査面61における撮像スポットの中心P2までの距離を、A2bはP2から光源20の一点22P2までの距離を表す。尚、A1とA2とは等しい。
S3=α×Sf×β32・・・(7)
β3=A3b/A3・・・(8)
A3=A3a+A3b・・・(9)
ここで、αはレンズ32の光軸直交面OPに対する検査面61の傾斜の影響を表す係数を、Sfはレンズ32の絞り面積を、A3aはレンズ32の光学中心32aから検査面61における撮像スポットの中心P3までの距離を、A3bはP3から光源20の一点22P3までの距離を表す。P3は、検査面61におけるレンズ32の光軸との交点である。
1/f=1/A3+1/B3・・・(4)
上記式(4)中、A3は、A3aとA3bとの和である。一方、B3は、レンズ32の光学中心32aから、撮像素子31の中点の画素31P3までの距離を表す。
試験例1では、ガラス板の表側の主表面(以下、単に「検査面」とも呼ぶ)を、図1などに示す透明板表面検査装置を用いて検査した。ガラス板の検査面は、予め研磨によって理想平面に限りなく近づけた。また、検査面上の撮像範囲の左端P1(図1参照)と右端P2(図1参照)との距離L(図1参照)は250mmとした。ラインセンサカメラの画素数は7450とした。
試験例2では、「S3」が略同一であって且つ「S1/S2」が異なるように、「f」、絞り、「A3」、「A3b」などを変更した以外、試験例1と同様にして、ガラス板の表側の主表面を検査し、評価値を求めた。
試験条件および試験結果を表1に示す。表1において、「FC1L」は左側の検査部分の中央部分における第1の周波数成分の標準偏差を、「FC2L」は左側の検査部分の中央部分における第2の周波数成分の標準偏差を、「FC1R」は右側の検査部分の中央部分における第1の周波数成分の標準偏差を、「FC2R」は右側の検査部分の中央部分における第2の周波数成分の標準偏差を表す。
20 光源
21 光源本体
22 ストライプパターン
30 ラインセンサカメラ
31 撮像素子
32 レンズ
32a 光学中心
32b 光軸
50 画像処理装置
60 透明板
61 表側の主表面(検査面)
62 裏側の主表面(検査面)
Claims (8)
- 透明板の主表面を検査する透明板表面検査装置であって、
ストライプパターンを含む光源と、前記光源からの光が前記主表面で反射した先に設置され、前記ストライプパターンを撮像するラインセンサカメラと、撮像された前記ストライプパターンの画像を画像処理する画像処理装置とを備え、
前記ラインセンサカメラは、所定方向に並ぶ複数の画素を含む撮像素子と、前記ストライプパターンを前記撮像素子に結像するレンズとを有し、
前記光源および前記撮像素子は、両方とも前記主表面の片側に配され、且つ、それぞれ前記主表面に斜めに向かい合い、
前記所定方向の一端に配される前記画素の前記主表面における撮像スポットの面積(S1)と、前記所定方向の他端に配される前記画素の前記主表面における撮像スポットの面積(S2(S2>S1))との比(S1/S2)が0.20以上である、透明板表面検査装置。 - 前記レンズの焦点距離が110mm以上である、請求項1に記載の透明板表面検査装置。
- 前記レンズの光学中心から前記主表面における前記レンズの光軸との交点までの距離と、前記交点から前記光源の前記ストライプパターンまでの距離との和が800mm以上である、請求項2に記載の透明板表面検査装置。
- 透明板の主表面を検査する透明板表面検査方法であって、
光源に含まれるストライプパターンを、前記光源からの光が前記主表面で反射した先に設置されたラインセンサカメラで撮像し、撮像された前記ストライプパターンの画像を画像処理し、
前記ラインセンサカメラは、所定方向に並ぶ複数の画素を含む撮像素子と、前記ストライプパターンを前記撮像素子に結像するレンズとを有し、
前記光源および前記撮像素子は、両方とも前記主表面の片側に配され、且つ、それぞれ前記主表面に斜めに向かい合い、
前記所定方向の一端に配される前記画素の前記主表面における撮像スポットの面積(S1)と、前記所定方向の他端に配される前記画素の前記主表面における撮像スポットの面積(S2(S2>S1))との比(S1/S2)が0.20以上である、透明板表面検査方法。 - 前記レンズの焦点距離が110mm以上である、請求項4に記載の透明板表面検査方法。
- 前記レンズの光学中心から前記主表面における前記レンズの光軸との交点までの距離と、前記交点から前記光源の前記ストライプパターンまでの距離との和が800mm以上である、請求項5に記載の透明板表面検査方法。
- 前記透明板がガラス板である、請求項4から6の何れか一項に記載の透明板表面検査方法。
- 溶融ガラスから板状のガラスに成形する工程と、前記板状のガラスを切断してガラス板を切り出す工程と、請求項7に記載の透明板表面検査方法による検査工程とを含む、ガラス板の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016080332A JP6642223B2 (ja) | 2016-04-13 | 2016-04-13 | 透明板表面検査装置、透明板表面検査方法、およびガラス板の製造方法 |
TW106107004A TWI726060B (zh) | 2016-04-13 | 2017-03-03 | 透明板表面檢查裝置、透明板表面檢查方法、及玻璃板之製造方法 |
KR1020170028868A KR102238388B1 (ko) | 2016-04-13 | 2017-03-07 | 투명판 표면 검사 장치, 투명판 표면 검사 방법, 및 유리판의 제조 방법 |
CN201710232726.1A CN107289878B (zh) | 2016-04-13 | 2017-04-11 | 透明板表面检查装置、透明板表面检查方法以及玻璃板的制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016080332A JP6642223B2 (ja) | 2016-04-13 | 2016-04-13 | 透明板表面検査装置、透明板表面検査方法、およびガラス板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017191003A JP2017191003A (ja) | 2017-10-19 |
JP6642223B2 true JP6642223B2 (ja) | 2020-02-05 |
Family
ID=60085966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016080332A Active JP6642223B2 (ja) | 2016-04-13 | 2016-04-13 | 透明板表面検査装置、透明板表面検査方法、およびガラス板の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6642223B2 (ja) |
KR (1) | KR102238388B1 (ja) |
CN (1) | CN107289878B (ja) |
TW (1) | TWI726060B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020016991A1 (ja) * | 2018-07-19 | 2020-01-23 | 株式会社Fuji | 検査設定装置および検査設定方法 |
CN110849912B (zh) * | 2019-11-25 | 2021-03-02 | 厦门大学 | 玻璃缺陷显影装置和玻璃缺陷检测设备 |
CN113466246A (zh) * | 2020-11-17 | 2021-10-01 | 北京领邦智能装备股份公司 | 高精度的成像系统、方法、图像采集装置及检测设备 |
CN112759230B (zh) * | 2020-12-31 | 2021-11-12 | 广州广钢气体能源股份有限公司 | 一种玻璃窑炉及具有其的玻璃制品生产装置 |
CN112880737B (zh) * | 2021-01-14 | 2023-05-30 | 四川雅吉芯电子科技有限公司 | 一种单晶硅外延片检测用集成系统 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3348133B2 (ja) * | 1995-01-26 | 2002-11-20 | 株式会社リコー | ディスク外観検査方法及びその装置 |
AU2001288641A1 (en) * | 2000-09-01 | 2002-03-13 | Mark M. Abbott | Optical system for imaging distortions in moving reflective sheets |
JP4633245B2 (ja) * | 2000-11-06 | 2011-02-16 | 住友化学株式会社 | 表面検査装置及び表面検査方法 |
AU2002219847A1 (en) * | 2000-11-15 | 2002-05-27 | Real Time Metrology, Inc. | Optical method and apparatus for inspecting large area planar objects |
JP2004109106A (ja) * | 2002-07-22 | 2004-04-08 | Fujitsu Ltd | 表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置 |
JP4645068B2 (ja) | 2004-06-04 | 2011-03-09 | 旭硝子株式会社 | 表面形状の検査方法および検査装置 |
KR20070099398A (ko) * | 2006-04-03 | 2007-10-09 | 삼성전자주식회사 | 기판검사장치와 이를 이용한 기판검사방법 |
CN101558292B (zh) * | 2006-12-14 | 2013-08-28 | 日本电气硝子株式会社 | 玻璃板的缺陷检测装置和制造方法、玻璃板制品、玻璃板的好坏判定装置和检查方法 |
JP5034891B2 (ja) * | 2007-11-21 | 2012-09-26 | 旭硝子株式会社 | 透明板状体の形状測定装置及び板ガラスの製造方法 |
JP2010048745A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Asahi Glass Co Ltd | 欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 |
CN201611253U (zh) * | 2010-01-18 | 2010-10-20 | 聊城大学 | 一种残币面积检测系统 |
JP2012021781A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Asahi Glass Co Ltd | 表面形状の評価方法および評価装置 |
CN102445168A (zh) * | 2010-09-30 | 2012-05-09 | 旭硝子株式会社 | 表面形状的检查方法及检查装置 |
JP2012127675A (ja) * | 2010-12-13 | 2012-07-05 | Asahi Glass Co Ltd | 表面形状の評価方法および評価装置 |
JP2016085034A (ja) * | 2013-02-19 | 2016-05-19 | 旭硝子株式会社 | 透明板状体表面検査用撮像システム |
KR102263507B1 (ko) * | 2013-12-27 | 2021-06-11 | 에이지씨 가부시키가이샤 | 형상 측정 장치, 형상 측정 방법 및 유리판의 제조 방법 |
CN103913468B (zh) * | 2014-03-31 | 2016-05-04 | 湖南大学 | 生产线上大尺寸lcd玻璃基板的多视觉缺陷检测设备及方法 |
-
2016
- 2016-04-13 JP JP2016080332A patent/JP6642223B2/ja active Active
-
2017
- 2017-03-03 TW TW106107004A patent/TWI726060B/zh active
- 2017-03-07 KR KR1020170028868A patent/KR102238388B1/ko active IP Right Grant
- 2017-04-11 CN CN201710232726.1A patent/CN107289878B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102238388B1 (ko) | 2021-04-09 |
JP2017191003A (ja) | 2017-10-19 |
CN107289878B (zh) | 2021-06-11 |
TW201738551A (zh) | 2017-11-01 |
KR20170117313A (ko) | 2017-10-23 |
CN107289878A (zh) | 2017-10-24 |
TWI726060B (zh) | 2021-05-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170207 |
|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191113 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191216 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |