JP6637766B2 - 表示装置及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、複数の画素を含む表示装置に関する。特に、有機発光層を含む発光素子を各画素に備えた表示装置に関する。
従来、LCD(Liquid Crystal Display)やOLED(Organic Light Emitting Diode)ディスプレイの製造において、大判のガラス基板に複数のディスプレイを一体形成した後、ガラス基板を切断して個々のディスプレイに分離する方式が採用されている。このとき、ガラス基板の切断には、スクライブカッターを用いた切断方法やレーザー光照射による切断方法が一般的に用いられている。
LCDやOLEDディスプレイは、通常2枚のガラス基板を貼り合わせた構造となっており、上述のガラス基板の切断プロセスにおいては、2枚のガラス基板を一括して切断する。しかし、その状態では表示回路等が形成されたアレイ基板上の端子部がガラス基板で覆われた状態となるため、通常は、端子部が形成されていない側のガラス基板のみを切断し、端子部を露出させるプロセスを追加している。
貼り合わされた2枚のガラス基板のうち、片側のガラス基板のみを選択的に切断するための技術として、例えば特許文献1及び特許文献2に記載された技術が公知となっている。特許文献1及び特許文献2は、個々に分離した後の液晶ディスプレイに対し、レーザー光照射により対向基板の一部のみ切断し、アレイ基板側の端子部を露出させる技術が開示されている。また、いずれの文献においても、対向基板を切断する位置の下方に金属膜を設け、レーザー光がアレイ基板を構成するガラス基板に当たらないようにする技術が開示されている。
特開2004−126054号公報 特開2009−98425号公報
上述した特許文献1及び特許文献2に開示された技術によれば、端子部を露出させるプロセスは、個々の液晶ディスプレイに分離した後に行わなければならない。つまり、大判のガラス基板から切り出した個々の液晶ディスプレイそれぞれに対し、レーザー光照射のプロセスを実施しなければならず、大量生産する上でスループットを低下させる要因となっていた。
本発明の課題は、簡易な製造プロセスによりスループットの高い表示装置の製造方法を提供することにある。
本発明の一実施形態における表示装置の製造方法は、第1基板の上に、第1樹脂層を形成し、前記第1樹脂層の上に、表示部、端子部及び前記表示部と前記端子部との間に配置された遮光層を含む領域を複数形成し、第2基板の上に、第2樹脂層を形成し、前記第1樹脂層と前記第2樹脂層とが互いに向かい合うように、前記第1基板と前記第2基板とを貼り合わせ、前記領域を囲む第1ライン及び第2ラインに沿って、前記第2基板を透過させて前記第1樹脂層及び第2樹脂層に第1レーザー光を照射し、前記遮光層に平行な第3ラインに沿って、前記第2基板を透過させて前記遮光層及び前記第2樹脂層に対して第2レーザー光を照射すること、を含む。
また、本発明の一実施形態における表示装置は、陽極、発光層及び陰極を含む発光素子が配置された表示部、前記表示部に電気的に接続された端子部、並びに前記表示部と前記端子部との間に配置され、前記陽極と同一の層に設けられた遮光層を含む第1樹脂層と、前記第1樹脂層に向かい合うように、前記第1樹脂層に貼り合わせられた第2樹脂層と、を含む。
第1実施形態による有機EL表示装置の概略の構成を示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の側面から見た構成を示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の平面から見た構成を示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを側方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを側方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを側方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを上方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを側方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを上方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを側方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを上方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを側方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを上方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを側方から示す図である。 第1実施形態による有機EL表示装置の製造プロセスを上方から示す図である。 第2実施形態による有機EL表示装置の側面から見た構成を示す図である。
以下、本発明の各実施の形態について、図面等を参照しつつ説明する。但し、本発明は、その要旨を逸脱しない範囲において様々な態様で実施することができ、以下に例示する実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
また、図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して説明したものと同様の機能を備えた要素には、同一の符号を付して、重複する説明を省略することがある。
(第1実施形態)
<表示装置の構成>
図1は、第1実施形態の有機EL表示装置における概略の構成を示す図である。有機EL表示装置10は、第1樹脂層101、第1樹脂層101上に形成された表示部(表示領域)102、表示部102に対して外部からの信号を供給する端子部103、表示部102と端子部103との間に配置された遮光層104、及び第1樹脂層101に対して対向して配置された第2樹脂層105を有する。遮光層104の役割については後述する。
なお、図1では図示していないが、第1樹脂層101上には、表示部102だけでなく、ゲートドライバ回路、ソースドライバ回路、ロジック回路といった各種回路を設けてもよい。このとき、各種回路は、表示部102と同時に薄膜トランジスタで形成してもよいし、外付けの集積回路として設けてもよい。
図2は、第1実施形態による有機EL表示装置の断面の構成を示す図である。第1樹脂層101の上には、前述のとおり、表示部102及び端子部103が設けられている。表示部102と端子部103とは、配線106によって相互に接続される。配線106は、表示部102に設けられる複数の画素に信号を伝達する役割を果たし、通常は金属材料で構成される。
ここでは図示しないが、表示部102は、複数の画素で構成される。各画素には、複数の薄膜トランジスタが設けられ、画素回路を構成している。これら各画素の配置や構成については、公知の技術を用いることができる。上述した配線106は、例えば薄膜トランジスタに電気的に接続される電極または配線と同時に形成することが可能である。
図2において、表示部102には、平坦化層として機能する絶縁層107が設けられている。絶縁層107は、ポリイミドやアクリルなどの樹脂層またはシロキサン系の無機絶縁層で構成することができる。本実施形態による有機EL表示装置10では、絶縁層107は、表示部102だけでなく、表示部102と端子部103との間にも設けられている。その理由については後述する。ただし、最終的には端子部103を露出させるため、端子部103の上には絶縁層107を設けない構成とすることが好ましい。
表示部102において、絶縁層107の上には、陽極108、発光層を含む有機EL層109及び陰極110で構成される、発光素子としての有機EL素子111が設けられる。このとき、絶縁材料で構成されるバンク112で囲まれた範囲が画素として機能する。陽極108は、各画素に配置される画素電極として機能する。陰極110は、各画素に共通の電極であり、表示部102の全域にわたって設けられる。
基本的に、陽極108、有機EL層109及び陰極110の構成については、公知の技術を用いることができるが、陽極108には、その一部に金属材料を含む電極を用いることが望ましい。本実施形態の有機EL表示装置10では、陽極108として、ITO(Indium−Tin−Oxide)等の透明導電層と銀等の金属層とを積層した積層膜を用いる。より具体的には、陽極108として、二層の透明導電層で金属層を挟んだ構造の電極を用いている。
本実施形態の有機EL表示装置10は、陽極108の形成と同時に、遮光層104を形成する。したがって、遮光層104は、陽極108と同一の層構造とすることが可能である。本実施形態の場合、例えば遮光層104を二層の透明導電層で金属層を挟んだ構造とすることができる。勿論、完全に同一の構造とする必要はなく、陽極108の一部の構造を用いて遮光層104とすることも可能である。ただし、遮光層104の一部に遮光性を有する金属層を含む必要はある。本実施形態の場合、陽極108を構成する銀等の金属層が、遮光性を有する金属層として機能する。
また、遮光層104を設ける位置には、前述のように、遮光層104の下に絶縁層107を設けておく必要がある。ここで、図3は、本実施形態による有機EL表示装置10を平面から見た構成を示す図である。ただし、図3では、第2樹脂層105の図示を省略している。
前述のように、表示部102と端子部103とは、複数の配線106で相互に接続されているため、遮光層104は、複数の配線106を横切る形となる。したがって、遮光層104と複数の配線106とが確実に絶縁されていないと、各配線106が互いに短絡してしまい、表示不良を招く恐れがある。そこで、本実施形態の有機EL表示装置10では、図2に示すように、遮光層104の下に絶縁層107を残し、遮光層104と配線106との間を絶縁している。
このように、本実施形態の有機EL表示装置10では、遮光層104として有機EL素子111を構成する陽極108の一部の金属層を用い、配線106として絶縁層107より下に配置される導電層を用いることにより、遮光層104と配線106とを特にプロセスを増加させることなく絶縁することができる。また、絶縁層107として誘電率の低い材料(例えば、樹脂材料)を用いた場合、遮光層104と配線106との間に形成される容量を小さくすることができる。
図2に戻って、有機EL素子111は、保護層113で覆われている。保護層113としては、例えば窒化シリコン層を用いることができるが、これに限定されるものではない。保護層113は、第1樹脂層101の全面を覆うように設けられた後、後述するように、その一部がエッチングにより除去される。具体的には、第1樹脂層101と第2樹脂層105とが平面視で重畳しない領域(端子部103が含まれる領域)の保護層113が選択的に除去される。後述するように、この除去プロセスは、第2樹脂層105をマスクとしたエッチング処理により実行される。
第2樹脂層105の上には、カラーフィルタ114及びブラックマスク115が設けられている。ただし、これらは必須の構成ではなく、適宜カラーフィルタ114またはブラックマスク115を省略することも可能である。例えば、本実施形態の有機EL表示装置10では、有機EL層109として白色発光の有機EL層を用いるため、カラーフィルタ114を設けているが、画素ごとに発光色の異なる有機EL層を設ける場合には、カラーフィルタ114を省略してもよい。なお、カラーフィルタ114及びブラックマスク115としては、公知の材料を用いることができる。
第1樹脂層101と第2樹脂層105とは、シール材116を介して貼り合わせてある。本実施形態の有機EL表示装置10では、シール材116として樹脂材料を用いるが、他の公知の材料を用いてもよい。また、ここではシール材116を用いて第1樹脂層101と第2樹脂層105とを貼り合わせた例を示すが、シール材116を省略することも可能である。例えば、保護層113として、樹脂層を用い、その樹脂層を接着剤として用いて第1樹脂層101と第2樹脂層105とを貼り合わせることも可能である。
<表示装置の製造プロセス>
次に、以上説明した第1実施形態による有機EL表示装置10の製造プロセスについて図4〜15を用いて説明する。
まず、図4を用いて、有機EL表示装置10のうち表示部を有するアレイ基板(画素アレイが形成される基板)の製造プロセスについて説明する。図4(A)に示すように、第1基板31の上に第1樹脂層32を形成する。第1基板31は、どのような材料を用いても構わないが、本実施形態では、ガラス基板を用いる。また、本実施形態では、第1樹脂層32として、膜厚が10〜30μm(典型的には20μm)のポリイミド樹脂を用いる。なお、第1樹脂層32としては、ポリイミドに限らずアクリル等の他の樹脂を用いても良い。
次に、第1樹脂層32の上に、表示部33及び端子部34を形成する。具体的には、表示部33には、公知の方法で薄膜トランジスタ(図示せず)を形成し、複数の画素回路を形成する。このとき、本実施形態では、表示部33を形成する過程で、アルミニウム等の金属材料で構成される配線35を形成する。図3を用いて説明したように、配線35の終端部が集合して端子部34を構成する。さらに、図示しない薄膜トランジスタを形成した後、それらを覆うように絶縁層36を形成する。本実施形態では、図2及び図3を用いて説明したように、後に遮光層38を形成する領域にも絶縁層36を設けておく。
次に、図4(B)に示すように、絶縁層36の上に有機EL素子37を形成する。図4(B)では、有機EL素子37を1つの層として図示しているが、実際には、各画素に有機EL素子が形成される。また、有機EL素子37の構造は、図2を用いて説明したように、陽極、有機EL層及び陰極で構成される。
ここで、本実施形態では、有機EL素子37の陽極を形成する際、同時に陽極と同一の材料を用いて遮光層38を形成する。具体的には、ITOで構成される二層の透明導電層の間に銀で構成される金属層を挟んだ構造の陽極及び遮光層38を形成する。勿論、遮光層38の構造は、ここで説明した構造に限定されるものではなく、少なくとも遮光性を有する金属層を含む構造を有していればよい。遮光層38の具体的な役割については後述する。
次に、有機EL素子37を形成したら、第1基板31の全面を覆うように保護層39を形成する。本実施形態では、保護層39として窒化シリコン層を形成する。この時点で有機EL表示装置10のうち表示部を有するアレイ基板が完成する。なお、図4においては、単一のアレイ基板が図示されているが、実際には、大判の第1基板11にアレイ基板となる複数の領域が形成される。つまり、第1基板11の上には、表示部33、端子部34及び表示部33と端子部34との間に配置された遮光層38を含む領域が複数形成される。
次に、図5を用いて、有機EL表示装置10のうちアレイ基板に対向して配置される対向基板の製造プロセスについて説明する。
図5(A)に示すように、第2基板41の上に第2樹脂層42を形成する。第2基板41は、ガラス基板や石英基板といった透明基板を用いることができる。本実施形態では、第1基板31と同様にガラス基板を用いる。また、本実施形態では、第2樹脂層42として、膜厚が10〜30μm(典型的には20μm)のポリイミド樹脂を用いる。なお、第2樹脂層42としては、ポリイミドに限らずアクリル等の他の樹脂を用いても良い。
次に、図5(B)に示すように、第2樹脂層42の上にカラーフィルタ43及びブラックマスク44を形成する。なお、本実施形態では、カラーフィルタ43及びブラックマスク44を設ける例を示しているが、いずれか一方または両方を省略することも可能である。
また、図5(B)において、カラーフィルタ43は、1つの領域として図示しているが、具体的には、各画素の発光色に対応した波長の光を透過する複数種類のカラーフィルタが形成される。ブラックマスク44は、クロム等の金属層を用いて形成してもよいし、黒色顔料を分散させた樹脂層を用いて形成してもよい。カラーフィルタ43及びブラックマスク44の具体的な構成については、公知の技術を用いることができる。
この時点で有機EL表示装置10のうちアレイ基板に対向して配置される対向基板が完成する。なお、図5においては、単一の対向基板が図示されているが、実際には、大判の第2基板41に対向基板となる複数の領域が形成される。つまり、第2基板41の上には、カラーフィルタ43及びブラックマスク44を含む領域が複数形成される。
次に、図6に示すように、図4に示した製造プロセスを用いて作製されたアレイ基板51と図5に示した製造プロセスを用いて作製された対向基板52とを、シール材45を用いて貼り合わせる。これにより、複数の有機EL表示装置10の原形が完成する。
アレイ基板51と対向基板52とを貼り合わせたら、図7及び図8に示すように、第1レーザー光61を用いて個々の有機EL表示装置の個片化処理(個々に分離する処理)を行う。なお、図7は、レーザー光照射の様子を断面方向から見た図であり、図8は、レーザー光照射の様子を平面方向から見た図である。
図7に示すように、本実施形態では、ガラス基板で構成される第2基板41の側から第1レーザー光61を照射し、第2基板41を透過した第1レーザー光61によって第1樹脂層32、第2樹脂層42、配線35、及び保護層39を選択的に切断する。なお、ここでは第1レーザー光61を第2基板41の側から照射する例を示したが、第1基板31が透明基板であれば、第1基板31の側から照射しても構わない。
第1レーザー光61としては、例えばエキシマレーザー光を用いることができるが、これに限定されるものではない。第1レーザー光61の波長やパワーは、第1基板31や第2基板41の材料、切断する対象の材料、第1樹脂層32や第2樹脂層42の耐熱温度といった各種パラメータを考慮して適宜選択すればよい。
また、図8に示すように、第1レーザー光61は、表示部33、端子部34及び遮光層38を含む領域71(点線で囲まれた領域)を囲む第1ライン62及び第2ライン63に沿って照射される。つまり、互いに交差する第1ライン62及び第2ライン63に沿って第1レーザー光61を照射することにより、領域71が個々に分離される(ただし、図8に示す状態においては、第1基板31及び第2基板41によって物理的には繋がっている)。
次に、図9及び図10に示すように、第2レーザー光64を用いて第2樹脂層42を選択的に切断する。なお、図9は、レーザー光照射の様子を断面方向から見た図であり、図10は、レーザー光照射の様子を平面方向から見た図である。
図9に示すように、本実施形態では、ガラス基板で構成される第2基板41の側から第2レーザー光64を照射する。このとき、本実施形態では、遮光層38によって第2レーザー光64が遮断されるため、遮光層38より下に存在する絶縁層36、配線35及び第1樹脂層32には影響を及ぼさない。したがって、第2基板41を透過した第2レーザー光64によって第2樹脂層42を選択的に切断することが可能となる。そのために、第2レーザー光64のスポット径(照射エリアの径)は、遮光層38の線幅以下とすることが望ましい。例えば、スポット径が10μmであれば、遮光層の線幅は、15〜30μm(好ましくは、20〜25μm)とすればよい。
第2レーザー光64としては、例えばエキシマレーザー光を用いることができるが、これに限定されるものではない。第2レーザー光64の波長やパワーは、第2基板41の材料、第2樹脂層42の材料及び耐熱温度といった各種パラメータを考慮して適宜選択すればよい。
また、図10に示すように、第2レーザー光64は、遮光層38に平行な第3ライン65に沿って照射される。このように、第2樹脂層42は、表示部33と端子部34との間を横切るラインで切断される。
以上のようにして、第1レーザー光61を用いた第1樹脂層32及び第2樹脂層42の切断プロセスと第2レーザー光64を用いた第2樹脂層42の切断プロセスとが完了する。なお、本実施形態では、第1レーザー光61による切断プロセスと第2レーザー光64による切断プロセスの順序は逆であってもよい。
次に、図11に示すように、遮光マスク73を用いて第2基板41の側から第3レーザー光66を照射する。このプロセスにおいては、第3レーザー光66のパワーを第1レーザー光61や第2レーザー光64のパワーよりも抑え、第2基板41と第2樹脂層42との間の界面に選択的にエネルギーを与えることにより、その界面の密着性を低下させる。
その後、図12に示すように、第2基板41を除去する。その際、第3レーザー光66が照射された部分では、第2基板41から第2樹脂層42が剥離するため、第2樹脂層42は、そのまま第1基板31の上に残る。他方、第3レーザー光66が照射されていない部分では、第2基板41と共に第2樹脂層42も除去される。これにより、第2基板41を除去するだけで、端子部34の上方にあった第2樹脂層42を除去することができる。
次に、第2樹脂層42をマスクとして、自己整合的に保護層39に対するエッチングを行い、図13に示すように、配線35の一部を露出させる。これにより、端子部34が露出し、有機EL表示装置10の端子出しが完了する。保護層39に対するエッチングは、ドライエッチングで行うことが望ましい。有機EL素子37を形成した後であるため、極力水分に曝すことは避けることが望ましいからである。本実施形態では、保護層39として窒化シリコン層を用いているため、例えばCF4(フッ化炭素)ガスなどを用いた公知のドライエッチングを行えばよい。
なお、本実施形態では、図9を用いて説明したように、遮光層38の上方において第2樹脂層42を切断するため、第2樹脂層42をマスクとしてドライエッチングを行うと、遮光層38の少なくとも一部が露出する。しかし、本実施形態では、遮光層38が有機EL素子37を構成する陽極と同一構造となっているため、遮光層38の最上層がITO等の透明導電膜となっている。したがって、遮光層38の一部に銀やアルミニウムなどの遮光性を有する金属層を用いても、それら金属層が露出することはなく、腐食等の問題を最小限に抑えることが可能であるという利点がある。
次に、図14に示すように、第1基板31の側から全面に第4レーザー光67を照射する。このプロセスは、図11を用いて説明したプロセスと同様に、第4レーザー光67のパワーを第1レーザー光61や第2レーザー光64のパワーよりも抑え、第1基板31と第1樹脂層32との間の界面に選択的にエネルギーを与えることにより、その界面の密着性を低下させる。そして、第1樹脂層32から第1基板31を剥離させ、第1基板31を除去することにより、図15に示す有機EL表示装置10が完成する。
このように、本実施形態によれば、有機EL素子37を構成する陽極の一部を遮光層38として活用することにより、特に製造プロセスを増加させることなく、選択的に端子部34の上の第2樹脂層42を切断することができる。しかも、第1基板31及び第2基板41を切断する前に、必要な第1樹脂層32及び第2樹脂層42の切断プロセスを完了できるため、第2基板41を除去するだけで、各有機EL表示装置の個片化と端子部34の上の第2樹脂層42の除去を一括して行うことができる。これにより、各有機EL表示装置について端子部34の露出プロセス(端子出しプロセス)を一括して行うことができる。したがって、簡易な製造プロセスによりスループットの高い表示装置の製造方法を提供することができる。
(第2の実施形態)
図16は、第2実施形態による有機EL表示装置20の断面の構成を示す図である。第1実施形態との違いは、第2実施形態の有機EL表示装置20では、シール材の下方の絶縁層をエッチングせずに残した点、及び遮光層をシール材の下にも位置するようにした点である。
図16に示すように、絶縁層81は、後に端子部103となる領域のみ選択的にエッチングを行い、表示部102からシール材116の配置される領域まではそのまま残している。このような構造とすると、シール材116を構成する材料の使用量を減らすことができ、製造コストを低減することができる。
また、本実施形態では、遮光層82がシール材116の下にも存在するように位置している。このような構造とした場合、遮光層82がストッパーとして機能し、保護層113をエッチングするエッチングガスやレーザー光の表示部102への回り込みを抑制することができる。
本実施形態の有機EL表示装置20は、第1実施形態と同様の製造プロセスで作製することが可能であり、製造プロセスに関して前述した第1実施形態による有機EL表示装置10と同様の効果を奏することができる。
本発明の実施形態として上述した各実施形態は、相互に矛盾しない限りにおいて、適宜組み合わせて実施することができる。また、各実施形態の表示装置を基にして、当業者が適宜構成要素の追加、削除もしくは設計変更を行ったもの、又は、工程の追加、省略もしくは条件変更を行ったものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含まれる。
また、上述した各実施形態の態様によりもたらされる作用効果とは異なる他の作用効果であっても、本明細書の記載から明らかなもの、又は、当業者において容易に予測し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
10、20…有機EL表示装置
101…第1樹脂層
102…表示部
103…端子部
104…遮光層
105…第2樹脂層
106…配線
107…絶縁層
108…陽極
109…有機EL層
110…陰極
111…有機EL素子
112…バンク
113…保護層
114…カラーフィルタ
115…ブラックマスク
116…シール材
61…第1レーザー光
64…第2レーザー光
66…第3レーザー光
67…第4レーザー光

Claims (11)

  1. 第1基板の上に、第1樹脂層を形成し、
    前記第1樹脂層の上に、陽極、発光層及び陰極を含む発光素子を有する表示部、端子部及び前記表示部と前記端子部との間に配置された遮光層を含む領域を複数形成し、
    前記発光素子を覆う保護層を形成し、
    第2基板の上に、第2樹脂層を形成し、
    前記第1樹脂層と前記第2樹脂層とが互いに向かい合うように、前記第1基板と前記第2基板とを貼り合わせ、
    前記領域を囲む第1ライン及び第2ラインに沿って、前記第2基板を透過させて前記第1樹脂層及び前記第2樹脂層に第1レーザー光を照射し、
    前記遮光層に平行な第3ラインに沿って、前記第2基板を透過させて前記遮光層及び前記第2樹脂層に対して第2レーザー光を照射し、
    前記第2基板から前記第2樹脂層の一部を選択的に剥離した後、前記端子部を覆う前記保護層を除去すること、
    を含む表示装置の製造方法。
  2. 記陽極と前記遮光層とを同時に形成すること、
    を含む請求項1に記載の表示装置の製造方法。
  3. 前記陽極及び前記遮光層として、金属層と透明導電層との積層膜を用いること、
    を含む請求項2に記載の表示装置の製造方法。
  4. さらに、少なくとも前記端子部をマスクした状態で、前記第2基板を透過させて前記第2樹脂層に第3レーザー光を照射し、
    前記第2基板から前記第2樹脂層の一部を選択的に剥離すること、
    を含む請求項1に記載の表示装置の製造方法。
  5. さらに、前記第1基板を透過させて前記第1樹脂層に第4レーザー光を照射し、
    前記第1基板から前記第1樹脂層の一部を剥離すること、
    を含む請求項1に記載の表示装置の製造方法。
  6. 前記第2レーザー光のスポット径を、前記遮光層の線幅以下とすること、
    を含む請求項1に記載の表示装置の製造方法。
  7. 陽極、発光層及び陰極を含む発光素子が配置された表示部、前記表示部に電気的に接続された端子部、並びに前記表示部と前記端子部との間に配置された遮光層が設けられた第1樹脂層と、
    前記第1樹脂層に向かい合うように、前記第1樹脂層に貼り合わせられた第2樹脂層と、
    を含み、
    前記発光素子は、保護層で覆われており、
    前記保護層は、前記発光素子の上から前記遮光層の上まで延在し、前記遮光層の一部を覆うと共に前記遮光層の一部を露出するように設けられる、表示装置。
  8. 前記陽極と前記遮光層とは、同一の層構造を有する、
    請求項に記載の表示装置。
  9. 前記陽極及び前記遮光層は、金属層と透明導電層との積層膜で構成される、
    請求項に記載の表示装置。
  10. 前記陽極及び前記遮光層は、絶縁層の上に設けられ、前記端子部の上には、当該絶縁層が設けられていない、
    請求項に記載の表示装置。
  11. 前記遮光層の上に位置する前記保護層の端部は、平面視で前記第2樹脂層の端部と重畳する、請求項に記載の表示装置。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108336107A (zh) * 2017-01-19 2018-07-27 京东方科技集团股份有限公司 有机发光二极管(oled)阵列基板及其制备方法、显示装置
US10862075B2 (en) * 2017-03-30 2020-12-08 Sharp Kabushiki Kaisha Manufacturing method for EL device
US10693070B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Sharp Kabushiki Kaisha Manufacturing method for electroluminescence device
WO2019049235A1 (ja) * 2017-09-06 2019-03-14 シャープ株式会社 表示デバイスの製造方法及び表示デバイスの製造装置
WO2019064367A1 (ja) * 2017-09-27 2019-04-04 シャープ株式会社 表示デバイスの製造方法、表示デバイスの製造装置
WO2019064532A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 シャープ株式会社 表示素子の製造方法
US11515513B2 (en) 2018-03-02 2022-11-29 Sharp Kabushiki Kaisha Method for manufacturing display device including bonding first mother substrate and second mother substrate with buffer sheet
JP6920242B2 (ja) * 2018-03-30 2021-08-18 京セラ株式会社 基板および基板の製造方法
CN110931521B (zh) * 2018-08-29 2022-07-12 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其制造方法、显示装置
CN109599427B (zh) * 2018-12-14 2021-05-14 京东方科技集团股份有限公司 显示基板的制备方法、显示面板及显示装置
JP7287084B2 (ja) * 2019-04-17 2023-06-06 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の製造方法、および有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
US11374073B2 (en) * 2020-08-11 2022-06-28 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Display panel with auxiliary electrode and manufacturing method thereof
WO2024011646A1 (zh) * 2022-07-15 2024-01-18 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、显示装置、拼接显示装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3840443B2 (ja) 2002-09-30 2006-11-01 株式会社東芝 表示素子およびその製造方法
JP2009098425A (ja) 2007-10-17 2009-05-07 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置及びその製造方法
JP5439837B2 (ja) * 2009-02-10 2014-03-12 ソニー株式会社 表示装置
JP2011053582A (ja) * 2009-09-04 2011-03-17 Seiko Epson Corp 表示パネルの製造方法
JP2011128224A (ja) * 2009-12-15 2011-06-30 Kuraray Co Ltd 表示装置の製造方法及び表示装置
TWI433625B (zh) * 2011-07-04 2014-04-01 Ind Tech Res Inst 軟性電子元件的製法
US9472776B2 (en) * 2011-10-14 2016-10-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing sealed structure including welded glass frits
JP2015064468A (ja) * 2013-09-25 2015-04-09 東レ株式会社 表示装置の製造方法
US9929368B2 (en) * 2014-02-06 2018-03-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element, lighting device, and electronic appliance
CN112965640A (zh) * 2014-02-28 2021-06-15 株式会社半导体能源研究所 电子设备
KR102368997B1 (ko) * 2014-06-27 2022-02-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 장치, 모듈, 전자 기기, 발광 장치의 제작 방법
US9553156B2 (en) * 2014-07-16 2017-01-24 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting display device and method of manufacturing the same
CN104681592B (zh) * 2014-12-23 2018-01-19 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种显示面板及其制作方法和显示装置

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