JP6627689B2 - 金属帯の表面検査方法 - Google Patents
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Description
前記金属帯の幅方向に平行な光線を照射し、前記金属帯の幅方向全体をリニアアレイカメラにより長手方向に所定のピッチで撮像し検査画像とするステップと、
前記所定のピッチで撮像した検査画像を自動的に収集し、前記検査画像をグレイ画像として当該画像ごとのグレイ値を求めるステップと、
前記金属帯ごとに、前記グレイ値の平均値、標準偏差を算出し記憶するステップと、
複数の金属帯についてグレイ値を求めて、前記グレイ値の標準偏差について、所定範囲の区分にまとめて、当該標準偏差の所定範囲の区分ごとに検査画像のグレイ値の波形振幅しきい値(検査しきい値)を設定するステップと、
通板する金属帯ごとに、前記設定した検査しきい値に基づいて、前記リニアアレイカメラにより金属帯の表面を検査し、自動で欠陥を検出するステップと
を備えることを特徴とする金属帯の表面検査方法。
前記設定した検査画像のグレイ値の波形振幅しきい値(検査しきい値)を前記金属帯の品種およびサイズに対応させるステップと、
通板する金属帯について、品種およびサイズごとに前記設定した検査しきい値に基づいて、前記リニアアレイカメラにより金属帯の表面を検査し、自動で欠陥を検出するステップと
を備えることを特徴とする前記[1]に記載の金属帯の表面検査方法。
を備えることを特徴とする前記[1]に記載の金属帯の表面検査方法。
本発明の実施形態1においては、以下の(S1)〜(S6)のステップで金属帯の表面検査を行う。本実施形態1は、金属帯通板ラインにて表面欠陥を検出し、その場で検出した金属帯の欠陥部に自動マーキングまたはオペレータがマーキングしたり、欠陥部を除去する場合に好都合な例である。
・軽欠陥まで検出対象とする検査条件の場合
上限しきい値=平均値+α1、下限しきい値=平均値−α2
・重欠陥のみを検出対象とする検査条件の場合
上限しきい値=平均値+β1、下限しきい値=平均値−β2
本発明の実施形態2においては、以下の(S1)〜(S4)、(S7)の手順で金属帯の表面検査を行う。本実施形態2は、該当する金属帯通板ラインにて表面欠陥を検出し、後工程において、金属帯の欠陥部の位置を精度よく同定して、欠陥を除去する場合に好都合な例である。
2 表面欠陥
5 サポートロール
6 サポートロール
7 ロール
11 照明装置
12 リニアアレイカメラ
Claims (2)
- 金属帯の表面検査装置を用いて金属帯の表面検査を行う表面検査方法であって、
前記金属帯の幅方向に平行な光線を照射し、前記金属帯表面の幅方向全体をリニアアレイカメラにより長手方向に所定のピッチで撮像し検査画像とするステップと、
前記金属帯表面を前記所定のピッチで撮像した検査画像を自動的に収集し、
前記所定のピッチで撮像した各々の検査画像をグレイ画像として、当該所定のピッチで撮像した各々のグレイ画像ごとにグレイ値を求めるステップと、
予め、複数の金属帯を品種およびサイズごとに分類し、前記分類した複数の金属帯を検査し、分類した金属帯ごとにグレイ値の平均値、標準偏差を算出して、これらの値を金属帯の品種およびサイズの分類に合わせて記憶するステップと、
予め、金属帯の品種及びサイズの分類ごとに、複数の金属帯を検査し、金属帯の品種及びサイズの分類の中で、金属帯ごとに算出したグレイ値の標準偏差を所定範囲ごとに区分し、当該所定範囲の区分ごとに検査画像のグレイ値の波形振幅しきい値(検査しきい値)を設定するステップと、
検査対象となる金属帯を通板して、品種およびサイズとさらに標準偏差を区分した所定範囲に基づく前記設定した検査しきい値に基づいて、前記リニアアレイカメラにより当該検査対象となる金属帯の表面を検査し、自動で欠陥を検出するステップと
を備えることを特徴とする金属帯の表面検査方法。 - 金属帯が鍍金鋼帯であることを特徴とする請求項1に記載の金属帯の表面検査方法。
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