JP6620234B2 - 基板を保持するためのキャリア、処理システムでのキャリアの使用、キャリアを用いる処理システム、及び基板の温度を制御するための方法 - Google Patents

基板を保持するためのキャリア、処理システムでのキャリアの使用、キャリアを用いる処理システム、及び基板の温度を制御するための方法 Download PDF

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Description

本開示の実施形態は、基板を保持するためのキャリア、材料を基板の上に堆積させるための堆積システム、及び基板の温度を制御するための方法に関する。本開示の実施形態は、特に、真空処理チャンバ内で基板を保持するためのキャリア、真空処理チャンバを含む真空処理システム、及び真空処理チャンバでの基板処理中に基板の温度を制御するための方法に関する。
基板上での層堆積の技法は、例えば、熱蒸発、化学気相堆積(CVD)、及びスパッタリング堆積などの物理的気相堆積(PVD)を含む。スパッタ堆積プロセスは、絶縁材料の層又は金属層などの材料層を基板の上に堆積させるために使用することができる。スパッタ堆積プロセス中に、基板の上に堆積させるターゲット材料を有するターゲットに、ターゲットの表面からターゲット材料の原子を遊離させるためにプラズマ領域内で生成されたイオンを衝突させる。遊離した原子は、基板の上に材料層を形成することができる。反応性スパッタ堆積プロセスにおいて、遊離した原子は、プラズマ領域で、例えば、窒素又は酸素などのガスと反応することができ、基板の上でターゲット材料の酸化物、窒化物又酸窒化物を形成する。
コーティングされた材料は、幾つかの用途と幾つかの技術分野で使用することができる。例えば、コーティングされた材料は、例えば、半導体デバイスを製造するために、マイクロエレクトロニクスなどの分野で使用されうる。また、ディスプレイのための基板は、PVDプロセスを使用してコーティングすることができる。更なる用途は、絶縁パネル、有機発光ダイオード(OLED)パネル、薄膜トランジスタ(TFT)を有する基板、カラーフィルタなどを含む。
より大きくまたより薄い基板への傾向は、例えば堆積プロセス中に、基板に作用する応力により、基板の隆起を生じさせる可能性がある。堆積プロセス中に基板を保持する支持システムは、例えば、基板エッジを基板の中心に向かって押す力に起因して、基板上に隆起をもたらす。次に、隆起は、破損の可能性が高まるため、問題を引き起こす可能性がある。したがって、隆起を減少させ、損傷又は破損なく、より大きくより薄い基板を支持する必要がある。更に、幾つかの用途について、基板上で堆積させた層の特性を最適化するために、基板処理中の、例えば材料堆積中の、基板の熱制御が望ましい。
上記に鑑み、基板処理中に基板を保持するためのキャリア、処理システム、及び当該技術分野の問題の少なくとも幾つかを克服する、層堆積中に基板の温度などの処理パラメータを制御するための方法を提供する必要がある。
上記に鑑み、基板を保持するためのキャリア、処理システム、及び基板の温度を制御するための方法が提供される。本開示の更なる態様、利点、及び特徴は、特許請求の範囲、明細書、及び添付図面から明らかになる。
本開示の態様によれば、基板を保持するためのキャリアが提供される。キャリアは、第1の表面を有するキャリア本体と、第1の表面の上に設けられた接着体とを含み、キャリア本体は、ガスを接着体内に供給するように構成された一又は複数の導管を含む。
本開示の別の態様によれば、処理システム、特に、材料を基板の上に堆積させるための真空堆積システムにおける、本明細書に記載の任意の実施形態によるキャリアの使用が提供される。
本開示の更に別の態様にしたがって、処理システムが提供される。処理システムは、処理チャンバ、処理デバイス、及び本明細書に記載の任意の実施形態によるキャリアを含む。
本開示の更なる態様によれば、基板の温度を制御するための方法が提供される。方法は、本明細書に記載の任意の実施形態によるキャリアを提供することと、一又は複数の導管を通して接着体内にガスを供給することと、接着体に取り付けられた基板の裏側にガスを供給することとを含む。
実施形態は、開示された方法を実行するための装置も対象としており、記載された各方法の態様を実行するための装置部品を含む。これらの方法の態様は、ハードウェア構成要素を用いて、適切なソフトウェアによってプログラミングされたコンピュータを用いて、これらの2つの任意の組合せによって、又はそれ以外の任意の態様で、実行されうる。さらに、本開示による実施形態は、記載される装置を操作するための方法も対象とする。記載される装置を操作するための方法は、装置のあらゆる機能を実行するための方法の態様を含む。
本開示の上記の特徴を詳細に理解することができるように、実施形態を参照することによって、上で簡単に概説した本開示のより具体的な説明を得ることができる。添付の図面は、本開示の実施形態に関連し、以下で説明される。
本明細書に記載の実施形態による基板を保持するためのキャリアの概略断面図を示す。 本明細書に記載の実施形態による基板を保持するためのキャリアの概略斜視図を示す。 図2に示すような本明細書に記載の実施形態によるキャリアのセクションの概略詳細図を示す。 図2に示すようなキャリアの線A−Aに沿った概略断面図を示す。 本明細書に記載の更なる実施形態による基板を保持するためのキャリアの概略断面図を示す。 本明細書に記載の更なる実施形態による2以上の基板を保持するためのキャリアの概略図を示す。 基板を含まない図5Aに示したキャリアの概略図を示す。 本明細書に記載の実施形態による処理システムの概略図を示す。 本明細書に記載の実施形態による基板の温度を制御するための方法を図示するフローチャートを示す。
次に、各図に一又は複数の例が示されている、様々な実施形態を細部にわたり参照する。各例は、説明として提示されており、限定を意味するものではない。例えば、1つの実施形態の一部として図示又は説明される特徴は、他の任意の実施形態で使用され、又は任意の実施形態と併せて使用され、更なる実施形態をもたらすことができる。本開示は、このような修正及び変形を含むことが意図されている。
図面についての以下の説明の中で、同じ参照番号は同じ又は類似の構成要素を指す。一般的に、個々の実施形態に関して相違点のみが説明される。別段の指定がない限り、1つの実施形態における一部又は態様の説明は、別の実施形態における対応する部分又は態様にも同様に当てはまる。
本開示の様々な実施形態を更に詳細に説明する前に、本明細書で使用する幾つかの用語に対する幾つかの態様を説明する。
本開示において、「基板を保持するためのキャリア」は、本明細書に記載の基板、特に本明細書に記載の大面積基板を保持するように構成されているキャリアと理解すべきである。典型的には、本明細書に記載のキャリアによって保持又は支持される基板は、前面及び裏面を含み、前面は、処理されている基板、例えば材料層を堆積させるべき基板の表面である。典型的には、キャリアは、基板の裏面をキャリアに、特に本明細書に記載のキャリアの接着体に取り付けることができるように構成される。
本明細書で使用される「基板」という用語は、特に、非フレキシブル基板、例えば、ガラスプレート及び金属プレートを含むものとする。しかしながら、本開示は、これらに限定されず、「基板」という用語は、ウェブ又はホイル等のフレキシブル基板も含むことができる。幾つかの実施形態によれば、基板は、材料堆積に適した任意の材料から作ることができる。例えば、基板は、ガラス(例えば、ソーダ石灰ガラス、ホウケイ酸ガラスなど)、金属、ポリマー、セラミック、複合材料、炭素繊維材料、雲母、又は堆積プロセスによってコーティングできる任意の他の材料及び材料の組合せからなる群から選択された材料から作ることができる。例えば、基板は、0.7mm、0.5mm又は0.3mmなど、0.1mmから1.8mmの厚さを有することができる。幾つかの実施態様では、基板の厚さは、50μm以上及び/又は700μm以下でありうる。厚さわずか数ミクロン、例えば、8μm以上及び50μm以下の薄い基板を取り扱うことは、困難でもある。
幾つかの実施形態によれば、基板は、「大面積基板」とすることができ、ディスプレイ製造に使用されうる。例えば、基板は、ガラス又はプラスチック基板であってもよい。例えば、本明細書に記載の基板は、典型的にはLCD(液晶ディスプレイ)、PDP(プラズマディスプレイパネル)などに使用される基板を包含するであろう。例えば、「大面積基板」は、0.5m2以上、特には1m2以上の面積を有する主要面を有することができる。幾つかの実施形態では、大面積基板は、約0.67m2の基板(0.73m×0.92m)に相当するGEN4.5、約1.4m2の基板(1.1m×1.3m)に相当するGEN5、約4.29m2の基板(1.95m×2.2m)に相当するGEN7.5、約5.7m2の基板(2.2m×2.5m)に相当するGEN8.5、又は更に約8.7m2の基板(2.85m×3.05m)に相当するGEN10とすることができる。GEN11及びGEN12のような更に大きな世代、並びにそれに相当する基板面積を同様に実装してもよい。
本開示において、「キャリア本体」は、基板を保持するように構成されているキャリアの本体と理解すべきである。例えば、キャリア本体は、本明細書に記載の基板を保持するように構成されているフレーム又はプレートなどの剛体とすることができる。とりわけ、本明細書に記載のキャリア本体は、基板の裏面など、基板の表面を支持するように構成することができる。
本開示では、「接着体」は、本明細書に記載の基板を取り付けるための接着力を提供するように構成されている構成体と理解すべきである。とりわけ、接着体は、キャリア本体上に設ける又はキャリア本体に取り付けることができ、本明細書に記載の基板は、接着体を介してキャリア本体によって保持することができる。より具体的には、本明細書に記載の接着体は、ファンデルワールス力によって接着力を提供するように構成することができる、本明細書に記載の乾燥接着材料を含みうる。
本開示では、「ガスを接着体内に供給するように構成された一又は複数の導管」という表現は、ガス流を本明細書に記載の接着体内に供給するために、キャリア本体の中に設けられる少なくとも1つの導管と理解すべきである。とりわけ、一又は複数の導管が、キャリア本体の第2の側面(例えば、キャリア本体の裏側)から、キャリア本体の第1の側面(例えば、キャリア本体の前側)に通路を提供するように、一又は複数の導管をキャリア本体内部に配置することができる。典型的には、接着体は、キャリア本体の前側に提供される。したがって、ガスは、一又は複数の導管を介して、接着体内に供給することができる。例えば、一又は複数の導管を通って接着体内に供給されるガスは、処理システムでの基板の処理中に使用されるプロセスガスとすることができる。典型的には、接着体内に供給されるガスの温度Tは、およそ室温、例えば、T≦30℃、特にT≦25℃、より具体的にはT≦20℃である。
図1は、本明細書に記載の実施形態による基板101を保持するためのキャリア100の概略側面図を示す。基板101を保持するためのキャリア100は、第1の面111を有するキャリア本体110と、第1の面111に設けられた接着体120とを含む。更に、キャリア本体110は、ガスを接着体120内に供給するように構成された一又は複数の導管115を含む。
したがって、本明細書に記載の実施形態によるキャリアは、有利なことに、キャリアによって保持される基板の温度を制御することができるキャリアを提供する。とりわけ、キャリアの接着体によって保持される基板の裏側にガスを供給できるように構成されているキャリアを提供することによって、基板処理中に基板の温度を制御するために使用できる、キャリアの単純かつコンパクトな設計を実現することができる。
例えば、図1に例示的に示されるように、本明細書に記載のキャリア100の実施形態は、基板の温度を制御することができるように、即ち、基板の温度を特定の予め選択された値に限定することができるように、基板101の裏側面101Aにガス流を供給する可能性を提供する。言い換えれば、有利なことに、本明細書に記載のキャリアの実施形態は、特に、キャリアの接着体によって保持される基板の裏側にガスの対流を提供することによって、基板の熱制御を提供するように構成される。これは、基板を冷却することができるので、本明細書に記載のキャリアによって保持される基板、特に大面積基板の上に堆積した層の特性を最適化するのに有利でありうる。換言すれば、キャリアによって保持される基板の裏側面における適切な対流ガス流を真空条件下で、例えば、本明細書に記載の処理システムの真空処理チャンバの中で、供給することができるように、本明細書に記載のキャリアの実施形態は、有利なことに、方向付けられたガス流(canalized gas flow)を供給する。
図1を例示的に参照すると、本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、接着体120は、キャリア本体110の第1の面111に直接配置する又は取り付けることができる。典型的には、接着体120は、基板101を保持するための接着力を提供するように構成される。とりわけ、典型的には、接着体によって提供される接着力は、基板101の裏側面101Aに作用する。典型的には、基板101の裏側面101Aは、処理されない基板表面である。したがって、本明細書に記載の基板を保持するためのキャリアのコンパクトな設計を有利に提供することができ、その一方で同時に、キャリアは、基板の温度を制御することができるように構成される。
図1の接着体120の中の矢印によって例示的に示されるように、本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、接着体120は、ガスに対して透過性があるように構成される。したがって、有利なことに、基板101の裏側面101Aにガス流を供給することができ、基板の温度を対流によって制御することができ、基板から基板の裏側面を流れるガスまでの熱伝達が実現される。例えば、基板の裏側面を流れる接着体内に供給されるガスは、ほぼ室温を有することができる。より具体的には、接着体内に供給されるガスの温度Tは、T≦30℃、特にT≦25℃、より具体的にはT≦20℃とすることができる。
図2では、本明細書に記載の実施形態による基板を保持するためのキャリアの概略斜視図が示される。図2を例示的に参照すると、本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、一又は複数の導管115は、キャリア100のキャリア本体110に配置されている複数の導管を含みうる。とりわけ、複数の導管は、特に規則的に、キャリア本体に分散することができる。図2では、一又は複数の導管115は、点線の円として示されている。例えば、複数の導管は、キャリア本体110全体にわたって分散されうる。とりわけ、図2に例示的に示されるように、複数の導管は、キャリア本体全体にわたって規則的に分散させることができる。より具体的には、複数の導管は、図2の点線の直線によって例示的に示されるように、キャリア本体全体にわたってマトリックス状に分散させることができる。図2に示した例示的実施形態には9つの導管が示されているが、キャリア本体の中の任意の数の導管、例えば2つ以上、特に4つ以上、より具体的には10以上の導管を設けることができると理解すべきである。更に、代替的には、複数の導管は、キャリア本体全体にわたってランダムに分散させてもよい。
とりわけ、本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、複数の導管の数は、基板の裏側面に十分なガス流が供給できるように選択されうる。より具体的には、複数の導管は、キャリア本体に分散させることができ、よって、接着体により保持される基板の実質的に均質な熱制御、とりわけ実質的に均質な冷却を実現することができる。したがって、複数の導管の数を、本明細書に記載のキャリアによって保持されることになる基板のサイズに適合させることができると理解すべきである。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、複数の導管のうちの隣接する導管の間の横方向の距離は、2.5cm以上、特に5.0cm以上、より具体的には7.5cm以上、例えば10cm以上でありうる。記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、一又は複数の導管の直径Dは、下限D=5mm、特に下限D=10mm、より具体的には下限D=15mmから、上限D=20mm、特に上限D=25mm、より具体的には上限D=30mmまでの範囲から選択されうる。
説明のために、図2に示されるキャリアの線A−Aに沿った概略断面図が図4に示される。とりわけ、図4は、接着体に取り付けられた基板の熱制御を提供するために、ガスがそれを通って接着体120内に供給される隣接する導管を図解する。図4に示す接着体120内に位置する矢印によって示されるように、導管は、接着体120に取り付けられた基板101の裏側面101Aに沿ってガス対流を供給するように構成される。
図3では、本明細書に記載のキャリアの図2に示したセクションの概略詳細図が示されている。とりわけ、図2は、キャリアの接着体120における上面図のセクションを示している。図3に示すセクションは、本明細書に記載の導管115を含む。導管115から接着体120内に延びる矢印によって示されるように、接着体120は、ガスに対して透過性があるように構成される。とりわけ、本開示において、「ガスに対して透過性がある」という用語は、ガスの自由経路が接着体内に設けられる点で理解することができる。より具体的には、接着体内のガスの自由経路は、接着体に取り付けられた基板の裏側面に沿った対流を提供できるように、提供することができる。例えば、接着体は、本明細書に記載の接着特性を有する多孔性材料を含むことができる。より具体的には、接着体120は、接着体の透過性又は多孔性構成が提供されるように配置される複数のフィラメント121を含むことができる。換言すれば、接着体の構造は、ガスが基板に到達し、熱伝達のために基板表面に沿って流れることができるように、多孔性又はスポンジ性に構成することができる。とりわけ、有利なことに、接着体は、接着体内に供給されるガスが実質的に基板の裏側面全体に到達することができるように構成される。
したがって、図1及び図3に例示的に示されるように、本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、接着体120は、複数のフィラメントがキャリア本体110の第1の面111から離れて延びるように、キャリア本体110に取り付けることができる複数のフィラメント121(説明のために、幾つかのフィラメントだけに参照符号が付されている)を含むことができる。そのような構成は、本明細書に記載の接着体のガス透過性を提供するためにとりわけ有利である。
図1に例示的に示すように、複数のフィラメント121の各フィラメントは、キャリア100の第1の面111に一端を取り付けることができる。とりわけ、複数のフィラメント121の各フィラメントは、例えば、キャリア100の第1の面111に垂直な、キャリア100の第1の面から離れるように延びることができる。したがって、複数のフィラメント121の各フィラメントは、例えば、本明細書に記載の基板の取り付けについて、自由である第2の端を有することができる。とりわけ、複数のフィラメント121の各フィラメントの第2の端は、基板101に取り付け可能に構成することができる。特に、各フィラメントの第2の端は、本明細書で概説するファンデルワールス力によって、基板101に付着するように構成することができる。
例えば、フィラメントは、ナノチューブ又はカーボンナノチューブを含むことができる、又はナノチューブ又はカーボンナノチューブでありうる。複数のフィラメントの各々は、実質的に縦方向の部材とすることができる。特に、複数のフィラメントの各々は、残りの2つの寸法よりも大きい1つの寸法を有することができる。とりわけ、フィラメントの最も長い寸法をフィラメントの長さとすることができる。要するに、フィラメントは、長さ方向に沿って引き延ばすことができる。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、接着体120は、基板101をキャリア本体110に取り付けるように構成された乾燥接着材料を含むことができる。例えば、乾燥接着材料は、合成繊毛材料とすることができる。乾燥接着材料、特に合成繊毛材料の接着能力は、ヤモリ足部の接着特性に関連しうる。ヤモリ足部の自然な接着能力により、動物は、ほとんどの条件下で多種の表面に付着可能となる。ヤモリ足部の接着能力は、ヤモリの足部における繊毛と呼ばれる多くの毛型延長部によって提供される。「合成繊毛材料」という用語は、ヤモリ足部の自然な接着能力を模倣し、ヤモリ足部に類似した接着能力を含む合成材料と理解することができることに留意されたい。更に、「合成繊毛材料」という用語は、「合成ヤモリ繊毛材料」という用語又は「ヤモリテープ材料」という用語と同意語として使用することができる。例えば、ヤモリ接着材料を有するキャリアはまた、Gチャック(G−chuck)とも称されうる。しかしながら、本開示はそれに限定されず、基板を保持するのに適した他の乾燥接着材料を使用することができる。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、乾燥接着材料、例えば、合成繊毛材料は、無機でありうる。本明細書に記載の幾つかの実施形態によれば、乾燥接着材料は、実質的に100%無機でありうる。更に、乾燥接着材料の微細構造は、ナノチューブを含むことができる。本明細書に記載の幾つかの実施形態によれば、乾燥接着材料の微細構造は、カーボンナノチューブを含む。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、乾燥接着材料は、ヤモリ接着剤とすることができる。例えば、ヤモリ接着剤は、ヤモリテープ又はヤモリ要素であってもよい。
本開示の文脈では、「ヤモリ接着剤」は、例えば、ヤモリの足部の例えば垂直面などの表面への付着能力を模倣する接着剤と理解することができる。とりわけ、本明細書に記載の接着体120の乾燥接着材料は、乾燥接着材料と基板101の表面との間のファンデルワールス力に起因して、基板101に付着するように構成することができる。しかしながら、本開示はそれに限定されず、基板を保持するのに適した他の接着剤を使用することができる。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、乾燥接着材料によって提供される接着力は、本明細書に記載の基板を保持するのに十分でありうる。とりわけ、乾燥接着材料は、約2N/cm以上、特に3N/cm以上、より具体的には4N/cm以上、例えば少なくとも5N/cmの接着力を提供するように構成することができる。
図1及び図4を例示的に参照すると、本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、一又は複数の導管115は、キャリア本体110の第2の面112からキャリア本体110の第1の面111まで延びるように構成され、第2の面112は、第1の面111とは反対を向いている。例えば、キャリア本体110の第1の面111はキャリアの前側、キャリア本体110の第2の面112はキャリアの裏側とすることができる。換言すれば、本明細書に記載の導管は、キャリアの裏側からキャリアの前側までの通路又は貫通孔と理解することができる。したがって、一又は複数の導管115は、キャリア本体110を貫通するように構成することができる。特に、一又は複数の導管115は、キャリアの裏側からキャリアの前側まで、特に接着体120内に流体連通を提供するように構成することができる。
図4Bを例示的に参照すると、本明細書に記載の他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、一又は複数の導管115をガス供給導管116に連結することができ、ガス供給導管116は、キャリア本体110を通って一又は複数の導管115にガスを案内するように構成されている。例えば、ガス供給導管116は、キャリア本体110内に配置されうる。例えば、ガス供給導管116は、図4Bに例示的に示される、キャリア本体110の第1の面111に実質的に平行に延びることができる。典型的には、ガス供給導管116は、キャリア本体の少なくとも一方からガス供給導管116内にガスを導入することができるように構成される。例えば、図4Bに示した例示的実施態様によれば、ガス供給導管116は、キャリア本体の上側表面からガス供給導管116内にガスを導入することができるように、配置及び構成することができる。追加的に又は代替的には、ガス供給導管116は、キャリア本体の底側面(はっきりとは図示されず)からガス供給導管116内にガスを導入することができるように、配置及び構成することができる。したがって、追加的に又は代替的には、ガス供給導管116はまた、キャリア本体の左側面及び/又は右側(はっきりとは図示されず)からガス供給導管116内にガスを導入することができるように、配置及び構成することができる。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、接着体120は、基板101の裏側面101Aの少なくとも75%に相当する取付面積を有するように構成することができる。とりわけ、接着体120は、基板101の裏側面101Aの少なくとも80%、より具体的には、基板101の裏側面101Aの少なくとも90%に相当する取付面積を有するように構成することができる。本開示では、「取付面積」は、本明細書に記載の接着材料の連続エリアに供給される接着体の面積と理解することができる。
図5A及び図5Bを例示的に参照すると、本明細書に記載の他の実施形態と組み合わせることができる幾つかの実施形態によれば、接着体120は、2以上の取付ゾーン122を有するように構成することができる。したがって、一又は複数の導管115は、図5A及び図5Bに例示的に示すように、2以上の取付ゾーン122の各々にガスを供給できるように構成することができる。とりわけ、一又は複数の導管115は、2以上の取付ゾーン122に取り付けられた基板の裏側へのガス流対流を提供することができるように、キャリア本体110内に配置することができる。図5Aでは、基板101が取り付けられる6つの取付ゾーンを有するキャリアの例示的実施形態が示される。更に、図5Aでは、例えば、処理後に、特に基板のコーティング後に、基板から切断される6つのデバイス(例えば、ディスプレイ)を表す6つのエリアが示される(102Aから102F)。したがって、基板から切断された後の個々のデバイスのサイズに実質的に対応するサイズを有する2以上の取付ゾーン122をキャリアに設けることによって、図1及び図2に例示的に示されるように、基板裏面の実質的に全体に接着体の接着剤材料が提供される構成と比較して、必要な接着剤材料は少ない。説明のため、図5Bでは、図5Aのキャリアの概略図が基板を含まずに示されている。
幾つかの実施態様では、図5Aに例示的に示すように、表面積が数cm2以下、例えば2cm×4cmなどであり、及び/又は様々な個々の形状を有する、より小さいサイズの基板のアレイが、本明細書に記載のキャリア100、特に2以上の取付ゾーン122を有するキャリア上に位置付けられてもよい。したがって、幾つかの実施態様によれば、キャリアは、2以上の基板を支持するように構成することができる。典型的には、2以上の取付ゾーン122の各々は、本明細書に記載の透過性又は多孔性構成が得られるように配置されている、本明細書に記載の複数のフィラメントを含みうる。したがって、2以上の取付ゾーン122の各々は、本明細書に記載の乾燥接着材料を含みうる。
上記に鑑み、本明細書に記載のキャリアの実施形態は、処理システム、例えば本明細書に記載のキャリアによって保持される基板上に材料を堆積するための真空堆積システムでの使用に適していると理解すべきである。したがって、本開示の態様によれば、処理システム、特に基板上に材料を堆積させるための真空堆積システムでの本明細書に記載の任意の実施形態によるキャリアの使用が提供される。
図6を例示的に参照し、本開示の実施形態による処理システム200が説明される。処理システムは、処理チャンバ210と、処理デバイス220と、本明細書に記載の任意の実施形態によるキャリア100とを含む。とりわけ、処理チャンバ210は、真空堆積プロセスに適合した堆積チャンバなどの真空処理チャンバでありうる。例えば、堆積プロセスは、PVD又はCVDプロセスとすることができる。典型的には、基板101がその上に位置付けられたキャリア100は、基板処理のために処理チャンバ210の中に提供される。とりわけ、キャリア100は、本明細書に記載の任意の実施形態にしたがって構成することができる。更に、図6に例示的に示されるように、処理システム200は、本明細書に記載の実施形態によるキャリア100を搬送するように構成された搬送デバイス240を含みうる。更に、処理システム200は、本明細書に記載のキャリア100の一又は複数の導管115内にガスを供給するように構成されたガス供給ユニットを含むことができ、キャリアによって保持される基板の温度を制御することができる。とりわけ、処理システム200のガス供給ユニットは、本明細書に記載の基板処理中に基板を冷却する可能性を提供するために有益である。
本明細書に記載の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、処理デバイス220は、例えばコーティングなどの処理が行われる基板101の側面に面した処理チャンバ210内に設けることができる材料堆積源でありうる。図6に例示的に示すように、材料堆積源は、基板101に堆積させる堆積材料235を供給することができる。例えば、堆積材料源は、堆積材料を上部に含むターゲット、又は基板上での堆積のために材料を放出可能にする任意の他の構成体とすることができる。幾つかの実施態様では、材料堆積源は、回転ターゲットとすることができる。本明細書に記載の幾つかの実施形態によれば、材料堆積源は、材料堆積源を位置付ける及び/又は取り替えるために移動可能とすることができる。本明細書に記載の他の実施形態によれば、堆積材料源は、平面のターゲットとすることができる。
本明細書に記載の他の実施形態と組み合わせることができる本明細書に記載の幾つかの実施形態によれば、堆積材料235は、堆積プロセス及びコーティングされた基板の後の適用に従って選択することができる。例えば、材料堆積源の堆積材料235は、アルミニウム、モリブデン、チタン、銅などの金属、ケイ素、酸化インジウムスズ、及び他の透明な導電性酸化物から成る群から選択された材料とすることができる。材料堆積源から材料を提供することによって、又は反応性堆積によって、そのような材料を含むことができる酸化物層、窒化物層又は炭化物層を堆積させることができ、即ち、材料堆積源からの材料は、処理ガスからの酸素、窒素又は炭素のような要素と反応することができる。
図7は、本明細書に記載の実施形態による基板の温度を制御するための方法300を示すフローチャートを示す。本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、方法300は、本明細書に記載の任意の実施形態によるキャリアを提供すること310と、一又は複数の導管を通して接着体内にガスを供給すること320と、接着体に取り付けられた基板の裏側にガスを供給すること330とを含む。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、一又は複数の導管を通して接着体内にガスを供給すること320は、特に実質的に均一に、接着体の中にガスを分配することを含む。したがって、有利なことに、本明細書に記載のキャリアの接着体によって保持される基板の実質的に均一又は均質な熱制御を提供することができる。
本明細書に記載の任意の他の実施形態と組み合わせることができる実施形態によれば、接着体に取り付けられた基板の裏側にガスを供給すること330は、基板の裏側に沿ってガス流を供給すること、即ち、基板からガスに熱伝達を供給するためのガス対流を含む。したがって、有利なことに、本明細書に記載のキャリアの接着体によって保持される基板の実質的に均一又は均質な熱制御を提供することができる。
以上の説明は本開示の実施形態を対象としているが、本開示の基本的な範囲を逸脱することなく本開示の他の実施形態及び更なる実施形態が考案されてもよく、本開示の範囲は、以下の特許請求の範囲によって決定される。
とりわけ、本明細書では実施例を用いて、ベストモードを含めて本開示を開示し、また当業者が記載される主題を実施することを、任意のデバイス又はシステムを作製および使用すること、及び組み込まれる任意の方法を実施することを含めて可能にしている。前述において様々な特定の実施形態を開示してきたが、上述した実施形態の相互に非排他的な特徴は、互いに組み合わせることが可能である。特許性のある範囲は特許請求の範囲によって規定され、その他の実施例は、それが特許請求の範囲の文字通りの言葉と相違しない構造要素を有する場合、または特許請求の範囲の文字通りの言葉とは実質的な違いがない等価の構造要素を含む場合には、特許請求の範囲内にあるものとする。

Claims (14)

  1. 基板(101)を保持するためのキャリア(100)であって、
    第1の面(111)を有するキャリア本体(110)と、
    前記第1の面(111)に設けられた接着体(120)と
    を含み、前記キャリア本体(110)が、ガスを前記接着体(120)内に供給するように構成された一又は複数の導管(115)を含み、
    前記接着体(120)が、複数のフィラメント(121)を含む、キャリア(100)。
  2. 前記接着体(120)が、ガスに対して透過性があるように構成されている、請求項1に記載のキャリア(100)。
  3. 前記接着体(120)が、前記基板(101)を前記キャリア本体(110)に取り付けるように構成された乾燥接着材料を含む、請求項1又は2に記載のキャリア(100)。
  4. 前記乾燥接着材料が、合成繊毛材料、特にヤモリ接着剤である、請求項に記載のキャリア(100)。
  5. 前記一又は複数の導管(115)が、前記キャリア本体(110)の第2の面(112)から前記キャリア本体(110)の前記第1の面(111)まで延びるように構成され、前記第2の面(112)が、前記第1の面(111)とは反対を向いており、又は前記一又は複数の導管(115)が、前記キャリア本体(110)を通って前記一又は複数の導管(115)まで前記ガスを案内するように構成されたガス供給導管(116)に連結されている、請求項1からの何れか一項に記載のキャリア(100)。
  6. 前記接着体(120)が、前記基板(101)の裏側面(101A)の少なくとも75%に相当する取付面積を有するように構成されている、請求項1からの何れか一項に記載のキャリア(100)。
  7. 前記一又は複数の導管(115)が、特に規則的に、前記キャリア本体に分散された複数の導管を含む、請求項1からの何れか一項に記載のキャリア(100)。
  8. 前記接着体(120)が、2以上の取付ゾーン(122)を有するように構成されている、請求項1からの何れか一項に記載のキャリア(100)。
  9. 前記一又は複数の導管(115)は、前記2以上の取付ゾーン(122)の各々にガスを供給することができるように構成されている、請求項に記載のキャリア(100)。
  10. 処理システム、特に材料を基板の上に堆積させるための真空堆積システムにおける、請求項1からの何れか一項に記載のキャリア(100)の使用。
  11. 処理チャンバ(210)と、
    処理デバイス(220)と、
    請求項1からの何れか一項に記載のキャリア(100)と
    を含む処理システム(200)。
  12. 基板の温度を制御するための方法(300)であって、
    請求項1からの何れか一項に記載のキャリアを提供すること(310)と、
    前記一又は複数の導管を通して前記接着体内にガスを供給すること(320)と、
    前記接着体に取り付けられた前記基板の裏側に前記ガスを供給すること(330)と
    を含む方法(300)。
  13. 前記一又は複数の導管を通して前記接着体内にガスを供給すること(320)が、特に実質的に均一に、前記接着体の中に前記ガスを分配することを含む、請求項12に記載の方法(300)。
  14. 前記接着体に取り付けられた前記基板の裏側に前記ガスを供給すること(330)が、前記基板から前記ガスに熱伝達させるために、前記基板の前記裏側に沿ってガス流を供給することを含む、請求項12又は13に記載の方法(300)。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018111105A1 (de) * 2018-05-09 2019-11-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung zum Beschichten eines bandförmigen Substrates

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6280584B1 (en) * 1998-07-29 2001-08-28 Applied Materials, Inc. Compliant bond structure for joining ceramic to metal
KR100769188B1 (ko) * 2002-03-20 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 합착기의 스테이지
EP1458019A3 (de) * 2003-03-13 2005-12-28 VenTec Gesellschaft für Venturekapital und Unternehmensberatung Mobiler transportabler elektrostatischer Substrathalter
US20050036267A1 (en) * 2003-05-20 2005-02-17 Savas Stephen Edward Clamp for holding and efficiently removing heat from workpieces
JP4350695B2 (ja) * 2004-12-01 2009-10-21 株式会社フューチャービジョン 処理装置
GB2435719A (en) * 2006-03-03 2007-09-05 Darrell Lee Mann Gripping device with a multitude of small fibres using van der Waals forces
US20070221335A1 (en) * 2006-03-23 2007-09-27 Recif Technologies Device for contact by adhesion to a glass or semiconductor plate (wafer) surface or the like and system for gripping such a plate comprising such a device
US7607647B2 (en) * 2007-03-20 2009-10-27 Kla-Tencor Technologies Corporation Stabilizing a substrate using a vacuum preload air bearing chuck
JP5032269B2 (ja) * 2007-11-02 2012-09-26 東京エレクトロン株式会社 被処理基板の温度調節装置及び温度調節方法、並びにこれを備えたプラズマ処理装置
JP2012043928A (ja) * 2010-08-18 2012-03-01 Samco Inc プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
US8192901B2 (en) * 2010-10-21 2012-06-05 Asahi Glass Company, Limited Glass substrate-holding tool
JP6067210B2 (ja) * 2011-03-31 2017-01-25 芝浦メカトロニクス株式会社 プラズマ処理装置
JP5993568B2 (ja) * 2011-11-09 2016-09-14 東京エレクトロン株式会社 基板載置システム、基板処理装置、静電チャック及び基板冷却方法
JP6007039B2 (ja) * 2012-09-18 2016-10-12 株式会社アルバック 搬送トレー及び基板保持方法
WO2015042309A1 (en) * 2013-09-20 2015-03-26 Applied Materials, Inc. Substrate carrier with integrated electrostatic chuck
US9698035B2 (en) * 2013-12-23 2017-07-04 Lam Research Corporation Microstructures for improved wafer handling
JP6377975B2 (ja) * 2014-06-23 2018-08-22 新光電気工業株式会社 基板固定装置
DE202016100186U1 (de) * 2015-01-15 2016-02-01 Fhr Anlagenbau Gmbh Substrathalterung

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