JP6610491B2 - 熱伝導性シリコーン組成物及び半導体装置 - Google Patents
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Description
従って、この熱を放熱する多くの方法が提案されている。特に発熱量の多い電子部品では、電子部品とヒートシンク等の部材の間に熱伝導性グリースや熱伝導性シートの熱伝導性材料を介在させて熱を逃がす方法が提案されている。
窒化アルミニウムの熱伝導率は70〜270W/mKであり、これより熱伝導性の高い材料として熱伝導率900〜2,000W/mKのダイヤモンドがある。特開2002−30217号公報(特許文献5)には、シリコーン樹脂に、ダイヤモンド、酸化亜鉛、分散剤を用いた熱伝導性シリコーン組成物が開示されている。
更には熱伝導率の高い銀粉末を充填剤として用いている特許3130193号公報(特許文献8)、特許3677671号公報(特許文献9)等も開示されている。
しかし、いずれの熱伝導性材料や熱伝導性グリースも、最近のCPU等の集積回路素子の発熱量に対する放熱効果は不十分なものとなってきている。
すなわち、本発明は、次の熱伝導性シリコーン組成物等を提供するものである。
下記、成分(A)、(B)、(C)及び(D)を含有する熱伝導性シリコーン組成物。
(A)下記平均組成式(1)
R1 aSiO(4−a)/2 (1)
〔式中、R1は、水素原子及び炭素数1〜18の飽和又は不飽和の一価炭化水素基の群の中から選択される1種又は2種以上の基を示し、aは1.8≦a≦2.2である。〕
で表される、25℃における動粘度が10〜100,000mm2/sのオルガノポリシロキサン
(B)タップ密度が3.0g/cm3以上であり、比表面積が2.0m2/g以下であり、かつアスペクト比が、2.0〜50である銀粉末
成分(A)100質量部に対して、300〜11,000質量部
(C)平均粒径が0.7〜50μmのシリコーン微粉末
成分(A)100質量部に対して、5〜100質量部
(D)白金系触媒及び有機過酸化物からなる群より選択される1種又は2種以上の触媒
触媒量
成分(A)の全部又は一部が、
成分(E):一分子中に少なくとも2個のケイ素原子に結合したアルケニル基を有するオルガノポリシロキサン
及び/又は、
成分(F):一分子中に少なくとも2個のケイ素原子に結合した水素原子を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサンである<1>記載の熱伝導性シリコーン組成物。
更に、成分(G)として、下記一般式(2)
R2 bSi(OR3)4−b (2)
〔式中、R2は、置換基を有していてもよい飽和又は不飽和の一価炭化水素基、エポキシ基、アクリル基及びメタクリル基の中から選択される1種又は2種以上の基を示し、R3は一価炭化水素基を示し、bは1≦b≦3である。〕
で表されるオルガノシランを、成分(A)100質量部に対して0.1〜20質量部含む<1>又は<2>記載の熱伝導性シリコーン組成物。
発熱性電子部品と、放熱体とを備えている半導体装置であって、前記発熱性電子部品と放熱体との間に、<1>〜<3>の何れか1項記載の熱伝導性シリコーン組成物が介在していることを特徴とする半導体装置。
<1>〜<3>の何れか1項記載の熱伝導性シリコーン組成物を、発熱性電子部品と放熱体との間で、0.01MPa以上の圧力を掛けられた状態で80℃以上に加熱する工程を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
成分(A):
成分(A)のオルガノポリシロキサンは、下記平均組成式(1)
R1 aSiO(4−a)/2 (1)
〔式中、R1は、水素原子及び炭素数1〜18の飽和又は不飽和の一価炭化水素基の群の中から選択される1種又は2種以上の基を示し、aは1.8≦a≦2.2である。〕
で表される、25℃における動粘度が10〜100,000mm2/sのオルガノポリシロキサンである。
また、本発明で使用するオルガノポリシロキサンの25℃における動粘度は、10mm2/sより低いと組成物にした時にオイルブリードが出やすくなるし、100,000mm2/sより大きくなると組成物にしたときの粘度が高くなることから取り扱いが乏しくなるため、25℃で10〜100,000mm2/sであることが必要であり、特に100〜50,000mm2/sであることが好ましい。なお、オルガノポリシロキサンの動粘度はオストワルド粘度計で測定した25℃の値である。
成分(A)の全部又は一部は、成分(E)一分子中に少なくとも2個のケイ素原子に結合したアルケニル基を含有するオルガノポリシロキサン及び/又は、成分(F)一分子中に少なくとも2個のケイ素原子に結合した水素原子を含有するオルガノハイドロジェンポリシロキサンであることが好ましい。
このような成分(E)の分子構造としては、例えば、直鎖状、一部分岐を有する直鎖状、環状、分岐鎖状、三次元網状等が挙げられるが、基本的に主鎖がジオルガノシロキサン単位(D単位)の繰り返しからなり、分子鎖両末端がトリオルガノシロキシ基で封鎖された直鎖状のジオルガノポリシロキサン、又は該直鎖状のジオルガノポリシロキサンと分岐鎖状若しくは三次元網状のオルガノポリシロキサンの混合物が好ましい。
上記式(3)で示されるオルガノポリシロキサンは、シリコーン組成物中に粉末(例えば、成分(B)の銀粉末、成分(C)のシリコーン微粉末等)を高充填することを補助する。また、該オルガノポリシロキサンによって粉末の表面を疎水化処理することもできる。
成分(B)は、タップ密度が3.0g/cm3以上であり、比表面積が2.0m2/g以下の銀粉末である。
成分(B)の銀粉末のタップ密度は、3.0g/cm3より小さいと成分(B)の組成物への充填率が上げられなくなり、組成物の粘度が上がってしまい、作業性が悪くなるため、3.0g/cm3〜8.0g/cm3の範囲が好ましく、4.5g/cm3〜8.0g/cm3の範囲がより好ましく、5.5g/cm3〜8.0g/cm3の範囲がさらに好ましい。
成分(B)の銀粉末の比表面積は、2.0m2/gより大きいと成分(B)の組成物への充填率が上げられなくなり、組成物の粘度が上がってしまい、作業性が悪くなるため0.08m2/g〜2.0m2/gの範囲が好ましく、0.08m2/g〜1.5m2/gの範囲がより好ましく、0.08m2/g〜1.0m2/gの範囲がさらに好ましい。
尚、本明細書記載のタップ密度は、銀粉末100gをはかり、該銀粉末をロートで100mlメスシリンダーに静かに落とした後、シリンダーをタップ密度測定器にのせて落差距離20mm、60回/分の速さで600回落下させ、圧縮した銀粉末の容積から算出した値である。
また、比表面積は、銀粉末約2gをサンプルにとり、60±5℃で10分間脱ガスした後、比表面積自動測定装置(BET法)にて総表面積を測定した。その後、サンプル量をはかり、下記式(4)で計算し、算出したものである。
比表面積(m2/g)=総表面積(m2)/サンプル量(g) (4)
銀粉末は、上記方法で製造されたものをそのまま用いてもよく、上記数値範囲を満たす範囲で粉砕して用いてもよい。銀粉末を粉砕する場合、装置は特に限定されず、例えば、スタンプミル、ボールミル、振動ミル、ハンマーミル、圧延ローラ、乳鉢等の公知の装置を用いることができる。なかでも、スタンプミル、ボールミル、振動ミル、ハンマーミルが好ましい。
無機化合物粉末は、熱伝導率の高いものが好ましく、例えば、アルミニウム粉末、酸化亜鉛粉末、酸化チタン粉末、酸化マグネシウム粉末、アルミナ粉末、水酸化アルミニウム粉末、窒化ホウ素粉末、窒化アルミニウム粉末、ダイヤモンド粉末、金粉末、銅粉末、カーボン粉末、ニッケル粉末、インジウム粉末、ガリウム粉末、金属ケイ素粉末、二酸化ケイ素粉末の中から選択される1種又は2種以上を用いることができる。
有機化合物材料も、熱伝導率の高いものが好ましく、例えば、炭素繊維、グラフェン、グラファイト、カーボンナノチューブ、カーボン材料の中から選択される1種又は2種以上を用いることができる。
成分(C)は、平均粒径が0.7〜50μmのシリコーン微粉末である。成分(C)のシリコーン微粉末は、成分(B)の銀粉末を組成物中で選択的に分散させ、熱伝導経路を効率的に形成させるために使用されるものである。
成分(C)のシリコーン微粉末としては、例えば、主に直鎖状のオルガノポリシロキサンを架橋した構造であるシリコーンゴムパウダー、シロキサン結合が三次元網目状に架橋した構造を持つポリオルガノシルセスキオキサン硬化微粉末であるシリコーンレジンパウダー、シリコーンゴムパウダーの表面をシリコーンレジンで被覆した構造のシリコーン複合パウダー等がある。本発明の成分(C)のシリコーン微粉末としては、1種単独で使用してもよいし、2種類以上のシリコーン微粉末をブレンドして使用してもよい。実際に市場では、シリコーン複合パウダーとして、KMP-600(信越化学工業製)、KMP-601(信越化学工業製)、KMP-602(信越化学工業製)、KMP-605(信越化学工業製)等が販売されており、シリコーンゴムパウダーとして、KMP-597(信越化学工業製)、KMP-598(信越化学工業製)等が販売されており、シリコーンレジンパウダーとして、KMP-701(信越化学工業製)、X-52-854(信越化学工業製)等が販売されている。また、これらシリコーン微粉末の表面は、必要に応じてオルガノシラン、オルガノシラザン、オルガノポリシロキサン、有機フッ素化合物等で処理を施されていてもよい。
成分(D)は、白金系触媒及び有機過酸化物からなる群より選択される1種又は2種以上の触媒であり、本発明の組成物は、該触媒を配合することにより、硬化性の組成物とすることができる。
本発明組成物において、白金系触媒の含有量は、本発明組成物の硬化に必要な量、所謂触媒量であり、具体的には、(E)成分に対して本成分中の白金金属が質量単位で0.1〜2,000ppmの範囲内となる量であることが好ましく、特に、0.1〜1,500ppmの範囲内となる量であることが好ましい。
更に、本発明組成物には、成分(G)として、下記一般式(2)
R2 bSi(OR3)4−b (2)
〔式中、R2は、置換基を有していてもよい飽和又は不飽和の一価炭化水素基、エポキシ基、アクリル基及びメタクリル基の中から選択される1種又は2種以上の基を示し、R3は一価炭化水素基を示し、bは1≦b≦3である。〕
で表されるオルガノシランを配合してもよい。
C10H21Si(OCH3)3
C12H25Si(OCH3)3
C12H25Si(OC2H5)3
C10H21Si(CH3)(OCH3)2
C10H21Si(C6H6)(OCH3)2
C10H21Si(CH3)(OC2H5)2
C10H21Si(CH=CH2)(OCH3)2
C10H21Si(CH2CH2CF3)(OCH3)2
CH2=C(CH3)COOC8H16Si(OCH3)3
本発明の半導体装置は、発熱性電子部品の表面と放熱体との間に、本発明の熱伝導性シリコーン組成物が介在することを特徴とする。本発明の熱伝導性シリコーン組成物は、10〜200μmの厚さで介在させることが好ましい。
代表的な構造を図1に示すが本発明はこれに限定されるものではない。本発明の熱伝導性シリコーン組成物は、図1の3に示すものである。
組成物の絶対粘度は、マルコム粘度計(タイプPC−1TL)を用いて25℃で測定した。
実施例1〜13及び比較例1〜10の各組成物を6mm厚の型に流し込み、0.35MPaの圧力を掛けられた状態で150℃に加熱した後、京都電子工業(株)社製のTPS−2500Sにより、いずれも25℃において熱伝導率を測定した。
A−1:両末端がジメチルビニルシリル基で封鎖され、25℃における動粘度が600mm2/sのジメチルポリシロキサン
A−2:下記式で表されるオルガノハイドロジェンポリシロキサン
B−1:タップ密度が6.6g/cm3、比表面積が0.28m2/g、アスペクト比が8の銀粉末
B−2:タップ密度が6.2g/cm3、比表面積が0.48m2/g、アスペクト比が13の銀粉末
B−3:タップ密度が7.5g/cm3、比表面積が0.16m2/g、アスペクト比が30の銀粉末
B−4:タップ密度が3.0g/cm3、比表面積が2.0m2/g、アスペクト比が50の銀粉末
B−5(比較例):タップ密度が2.3g/cm3、比表面積が2.3m2/g、アスペクト比が1の銀粉末
B−6(比較例):タップ密度が3.3g/cm3、比表面積が2.11m2/g、アスペクト比が1の銀粉末
B−7(比較例):タップ密度が2.8g/cm3、比表面積が1.8m2/g、アスペクト比が2の銀粉末
C−1:KMP-600(信越化学工業製;シリコーン複合パウダー、平均粒径5μm)
C−2:X-52-854(信越化学工業製;シリコーンレジンパウダー、平均粒径0.7μm)
C−3:KMP-602(信越化学工業製;シリコーン複合パウダー、平均粒径30μm)
C−4(比較例):平均粒径が0.5μmのシリコーンエラストマー微粉末
C−5(比較例):平均粒径が58μmのシリコーンエラストマー微粉末
D−1(白金触媒):白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体のA−1溶液、白金原子として1wt%含有
D−2(有機過酸化物):パーオキサイド(日本油脂(株)製の商品名パーヘキサC)
G−1:下記式で表されるオルガノシラン
H−1:下記式で表されるオルガノポリシロキサン
I−1:1−エチニル−1−シクロヘキサノール
下記表1〜4に示す組成で、次のように混合して実施例1〜13及び比較例1〜10の組成物を得た。
即ち、5リットルプラネタリーミキサー(井上製作所(株)社製)に成分(A)、(G)及び(H)を取り、成分(B)及び(C)を加え25℃で1.5時間混合した。次に、成分(D)及び(I)を加えて均一になるように混合した。
比較例4:粒径の大きいシリコーン微粉末を含有した場合、実施例6及び実施例7と比較して、熱伝導率が低下する。
比較例5:シリコーン微粉末の配合量が少ない場合、実施例1と比較して、熱伝導率が低下する。
2.発熱性電子部品(CPU)
3.熱伝導性シリコーン組成物層
4.放熱体(リッド)
Claims (5)
- 下記、成分(A)、(B)、(C)及び(D)を含有する熱伝導性シリコーン組成物。
(A)下記平均組成式(1)
R1 aSiO(4−a)/2 (1)
〔式中、R1は、水素原子及び炭素数1〜18の飽和又は不飽和の一価炭化水素基の群の中から選択される1種又は2種以上の基を示し、aは1.8≦a≦2.2である。〕
で表される、25℃における動粘度が10〜100,000mm2/sのオルガノポリシロキサン
(B)タップ密度が3.0g/cm3以上であり、比表面積が2.0m2/g以下であり、かつアスペクト比が、2.0〜50である銀粉末
成分(A)100質量部に対して、300〜11,000質量部
(C)平均粒径が0.7〜50μmのシリコーン微粉末
成分(A)100質量部に対して、5〜100質量部
(D)白金系触媒及び有機過酸化物からなる群より選択される1種又は2種以上の触媒
触媒量 - 成分(A)の全部又は一部が、
成分(E):一分子中に少なくとも2個のケイ素原子に結合したアルケニル基を有するオルガノポリシロキサン
及び/又は、
成分(F):一分子中に少なくとも2個のケイ素原子に結合した水素原子を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン
である請求項1記載の熱伝導性シリコーン組成物。 - 更に、成分(G)として、下記一般式(2)
R2 bSi(OR3)4−b (2)
〔式中、R2は、置換基を有していてもよい飽和又は不飽和の一価炭化水素基、エポキシ基、アクリル基及びメタクリル基の中から選択される1種又は2種以上の基を示し、R3は一価炭化水素基を示し、bは1≦b≦3である。〕
で表されるオルガノシランを、成分(A)100質量部に対して0.1〜20質量部含む請求項1又は2記載の熱伝導性シリコーン組成物。 - 発熱性電子部品と、放熱体とを備えている半導体装置であって、前記発熱性電子部品と放熱体との間に、請求項1〜3の何れか1項記載の熱伝導性シリコーン組成物が介在していることを特徴とする半導体装置。
- 請求項1〜3の何れか1項記載の熱伝導性シリコーン組成物を、発熱性電子部品と放熱体との間で、0.01MPa以上の圧力を掛けられた状態で80℃以上に加熱する工程を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
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