JP6570523B2 - 試料を照明するための装置および方法 - Google Patents

試料を照明するための装置および方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6570523B2
JP6570523B2 JP2016532630A JP2016532630A JP6570523B2 JP 6570523 B2 JP6570523 B2 JP 6570523B2 JP 2016532630 A JP2016532630 A JP 2016532630A JP 2016532630 A JP2016532630 A JP 2016532630A JP 6570523 B2 JP6570523 B2 JP 6570523B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
pulse
laser pulse
chirp
chirp unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016532630A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017505423A (ja
Inventor
ヴァルダン クリシュナマチャリ ヴィシュヌ
ヴァルダン クリシュナマチャリ ヴィシュヌ
ザイフリート フォルカー
ザイフリート フォルカー
シー. ヘイ ウィリアム
シー. ヘイ ウィリアム
クレーマー マヌエル
クレーマー マヌエル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems CMS GmbH
Publication of JP2017505423A publication Critical patent/JP2017505423A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6570523B2 publication Critical patent/JP6570523B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65Raman scattering
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/65Raman scattering
    • G01N2021/653Coherent methods [CARS]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources
    • G01N2201/06113Coherent sources; lasers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

本発明は、試料を照明する装置に関する。この装置は少なくとも1つのパルスレーザー光源を有している。このパルスレーザー光源は、第1の光路に沿って第1のレーザーパルスを繰り返し送出し、第1の光路とは空間的に分けられている第2の光路に沿って第2のレーザーパルスを繰り返し送出する。この装置はさらに、これら2つのレーザーパルスを共通の光路に共線重畳させる重畳部材と、この共通の光路に沿って試料へと送出される2つのレーザーパルスが時間的な重畳を有するように2つのレーザーパルスのうちの一方のレーザーパルスを他方のレーザーパルスに対して遅らせる、第1の光路または第2の光路に配置されている遅延段と、第1のレーザーパルスにも第2のレーザーパルスにも、周波数が変わるように影響を与える、共通の光路に配置された共通のチャープユニットと、第1のレーザーパルスにのみ、周波数が変わるように影響を与える、第1の光路に配置されている、少なくとも1つの別個のチャープユニットと、を有している。ここで共通のチャープユニットと別個のチャープユニットは、目標状態を実現するために相互に調整されている。ここでは、別個のチャープユニットによっても、共通のチャープユニットによっても影響された第1のレーザーパルスの瞬時周波数と、共通のチャープユニットのみによって影響された第2のレーザーパルスの瞬時周波数とは、相互に所定の関係を有している。さらに、本発明は、試料を照明するための、相応する方法に関する。
コヒーレントラマン散乱顕微鏡(略してCRSM)は、近年、イメージング化学試料分析において、例えば、生物学、薬学または栄養学において重大な価値を獲得した。ここでは、種々のCRSM方法が使用されている。これは例えば、コヒーレント反ストークラマン散乱(CARS)、コヒーレントストークスラマン散乱(CSRS)、ラマン誘起カー効果散乱(RIKES)および誘導ラマン散乱(SRS)である。従来技術に関しては、以下に挙げる文献リストを参照されたい。
Nandakumar, P.; Kovalev, A. & Volkmer, A.著「Vibrational imaging based on stimulated Raman scattering microscopy( New Journal of Physics, 2009, 11, 033026)」 Freudiger, C. W.; Roeffaers, M. B. J.; Zhang, X.; Saar, B. G.; Min, W. & Xie, X. S.著「Optical heterodyne−detected Raman−induced Kerr effect (OHD−RIKE) microscopy( Journal of Physical Chemistry B, 2011, 115, 5574−5581)」 Saar, B. G.; Freudiger, C. W.; Reichman, J.; Stanley, C. M.; Holtom, G. R. & Vie, X. S.著「Videorate molecular imaging in vivo with stimulated Raman scattering( Science, 2010, 330, 1368−1370)」 Mikhail N. Slipchenko, Robert A. Oglesbee, Delong Zhang, WeiWuおよび Ji−Xin Cheng著「Heterodyne detected nonlinear optical imaging in a lock−in free manner( J. Biophotonics, 2012,5,1−7)」 A. Zumbusch, G. R. HoltomおよびX. S. Xie著「Three−dimensional vibrational imaging by coherent anti−Stokes Raman scattering( Phys. Rev. Lett., 1999, 82, 4142−4145)」 J. X. ChengおよびX. S. Xie著「Coherent anti−Stokes Raman scattering microscopy: Instrumentation, theory, and applications( J. Phys. Chem. B, 2004, 108, 827− 840)」 C. L. EvansおよびX. S. Xie著「Coherent anti−stokes Raman scattering microscopy: chemical imaging for biology and medicine( Annu. Rev. Anal. Chem, 2008, 1, 883−909)」 N. Dudovich, D. OronおよびY. Silberberg著「Single−pulse coherently controlled nonlinear Raman spectroscopy and microscopy( Nature, 2002, 418, 512−514)」 Hellerer, T.; Enejder, A. M. K.; Zumbusch, A著「Spectral focusing: High spectral resolution spectroscopy with broad−bandwith laser pulses( Applied Physics Letters, 2004, 85, 25−27)」 Israel Rocha−Mendoza, Wolfgang LangbeinおよびPaola Borri著「Coherent anti− Stokes Raman microspectroscopy using spectral focusing with glass dispersion( Applied Physics Letters, 2008, 93, 201103:1−201103:3)」 Adrian F. Pegoraro, Andrew Ridsdale, Douglas J. Moffatt, Yiwei Jia, John Paul PezackiおよびAlbert Stolow著「Optimally chirped multimodal CARS microscopy based on a single Ti:sapphire oscillator( Optics Express, 2009, 17, 2984−2996)」
CRSM技術では、異なる波長の100fsから20psの範囲のパルス幅を有する2つのパルス状の光照射野が共焦点顕微鏡を通じて導かれ、試料に焦点合わせされる。ここでは、典型的に1から100MHzの範囲にある周波数を有するパルス状の光照射野が、短パルスレーザー光源から送出される。相応するビームガイドおよび適切な焦点合わせ光学系を介して、これらの光照射野が試料上で、空間的かつ時間的に相互に重畳する。時間的な重畳とは、ここで、これらのパルス状光照射野を形成するレーザーパルスが対になって一致することである。例えば、SRS方法またはイメージング重畳RIKES方法では、2つの光照射野のうちの1つが、強度、周波数または偏光に関して、典型的にkHzからMHzの領域にある特定の周波数によって変調され、その後、これは、試料内で、他の光照射野と相関する。SRSイメージングおよびRIKESイメージングに対しては、この場合には、最初に変調されていない光照射野が検出され、ロックイン復調技術または包絡線復調技術を用いて、強度変調が抽出され、画像の形態で示される。ロックイン技術の実現に関しては、非特許文献1、非特許文献2および非特許文献3を参照されたい。包絡線復調技術は、非特許文献4に記載されている。試料との相関作用の結果、CARSおよびCSRSの場合には、第3の光照射野が検出され、画像として表示される。これは非特許文献5、非特許文献6および非特許文献7に記載されている。
上述した全てのCRSM技術では、測定信号は、入射するこれらの光照射野の周波数間の差が、試料内の振動共振周波数と一致する場合にのみ強い。そのような時に、スペクトル選択性、信号強度およびSR比に関して最良の画像が、5から7psのパルス幅を有するピコ秒レーザー光源および光パラメトリック共振器、略してOPOを用いて得られる。
これに対して、今日では、フェムト秒レーザーも幅広く使用されており、例えば、マルチフォトン蛍光顕微鏡および周波数2倍化(第二高調波発生SHG)または周波数3倍化(第三高調波発生THG)の原理に基づく顕微鏡技術において、使用されている。従って、フェムト秒レーザーをCRSMイメージングにおいても用いるためには、相当のコストがかかる。例えば、これに関しては非特許文献8、非特許文献9、非特許文献10および非特許文献11も参照されたい。
しかしCRSMに対してフェムト秒レーザーまたは光パラメトリック発振器を使用する場合には、スペクトル選択性が悪くなる、という重大な欠点が生じる。これを以降で、図1および図2に基づいて説明する。ここでは例えば、ピコ秒レーザーによる励起によって得られた(図1)CARS放射と、フェムト秒レーザーによる励起によって得られたCARS放射とが対比されている。
図1は、概略的に、試料のグロトリアン図を示している。このグロトリアン図は、振動基底状態|g>と、第1の励起された振動状態a、b、cのセットを有している状態系|v1>とを有している。これらの第1の励起された振動状態は、3つの異なる分子結合、例えばN−H、O−HおよびC−Hに由来するエネルギーレベルを有する。CARS方法では、2つのレーザービームが試料に送出される。これらのレーザービームのうちの一方はポンプビームと称され、他方はストークスビームと称される。これらのビームのエネルギー差は、これらの振動状態のうちの1つのエネルギーと一致する。さらに、振動コヒーレントを探測するゾンデビームが使用される。
CARS放射がピコ秒レーザーによって励起される、図1に示された場合には、ポンプビームとストークスビームとは、比較的狭いスペクトル帯域を有している。これは、レーザーパルスの時間的な延在が延びるほど、レーザーパルス内に含まれる周波数のスペクトル分布の幅が狭くなるという、フーリエ分析から公知の事情によるものである。これに相当して、ピコ秒レーザーを用いて、振動状態a、b、cを選択的に励起させることが可能である。
図2は、これに対して、ピコ秒レーザーの代わりにフェムト秒レーザーを使用した際の相応する関係を示している。ポンプビームとストークスビームの時間的なパルス幅はこの場合に小さいので、レーザーパルスのスペクトル幅は相応に増す。従って、個々の振動状態a、b、cを選択的に励起させることはもはや可能ではない。従って、スペクトル選択性が、フェムト秒レーザーのスペクトル広帯域の励起によって損なわれてしまう。
このような問題を解決するために、文献において、キーワード「スペクトルフォーカシング」として公知の種々の方法が提案されている。これに関しては非特許文献10を参照されたい。この文献では、特定の長さを有する2つのガラスブロックが用いられる。これらのガラスブロックのうちの一方はストークスビームの光路内に配置されており、他方は、ストークスビームとポンプビームとがまとめられている共通の光路内に位置している。これら2つのガラスブロックの各々は、散乱の結果、自身を通過するレーザーパルスのスペクトル拡張を生じさせる。従って、これらのガラスブロックは、いわゆるチャープユニットを形成する。用語「チャープ」とは、ここで、レーザー光の周波数を変化させる影響のことである。しかしこれは、例えば、各レーザーパルスの時間的な延長、また、レーザーパルスの時間的な圧縮も生じさせる。
非特許文献10から公知の装置では、2つのガラスブロックの散乱作用は、ポンプビームの波長およびストークスビームの波長に依存して、次のように選択されている。すなわち、属する、試料上で相互に重畳するレーザーパルスが、所望のスペクトルフォーカシングを実現するために、所望のように、時間的にかつスペクトル的に相互に調整されているように選択されている。このために、チャープユニットとして使用されるガラスブロックは正確に、ポンプビームおよびストークスビームの波長に合うように設計されなければならない。他の波長が使用されるべき場合には、これらのガラスブロックは、相応に調節されたユニットによって置き換えられなければならない。これには費用がかかってしまい、ユーザーにとって、甚大なコストが付随して発生してしまう。
本発明の課題は、柔軟に操作可能であり、かつ、ユーザーフレンドリーな試料照明を可能にする、試料を照明する装置および方法を提供することである。
上述の課題は、独立請求項に記載されている構成要件によって解決される。本発明の有利な発展形態は、従属請求項に記載されている。
本発明ではまずは、少なくとも、第1の光路に沿って送出される第1の光パルスの波長を所定の波長領域に設定することが可能である。ここで設定された波長に依存しないで所望のスペクトルフォーカシングを可能にするために、さらに、第1の光路において、第1の光パルスに作用する別個のチャープユニットが、ここで設定された波長に依存して駆動制御可能なユニットとして構成されている。これに相応して、別個のチャープユニットと結合されている制御部が設けられている。この制御部は、チャープユニットを、第1のレーザーパルスの波長に依存する制御パラメーターによって駆動制御し、これによって所望の目標状態、特にスペクトルフォーカシングを設定する。従って、本発明の照明装置は柔軟に幅広い波長領域で使用可能である。しかも、スペクトルフォーカシングを実現するために定められたチャープユニットの修正または交換を行う必要はない。これは、装置の操作性を著しく容易にする。
本発明は特に、パルスレーザー光源としてフェムト秒レーザーを使用する場合のために設計されている。しかし、本発明はこれに制限されない。従って、ピコ秒レーザーをパルスレーザー光源として使用することも可能である。
有利には、目標状態において、別個のチャープユニットによっても、共通のチャープユニットによっても影響が与えられる第1のレーザーパルスの瞬時周波数と、共通のチャープユニットのみによって影響が与えられる第2のレーザーパルスの瞬時周波数との間の差は、2つのレーザーパルスが時間的に重畳されている間は一定である。試料での2つのレーザーパルスの瞬時周波数の上述した差の時間的な一定性が得られるように別個のチャープユニットが駆動制御されることによって、例えば、CRSM用途において、2つのレーザーパルスが相互に時間的に重畳している時間は、同一の周波数差が設定され、これによって本発明の装置はスペクトルフォーカスされた状態に保たれる。さらに2つのレーザーパルスのうちの一方のレーザーパルスを、他方のレーザーパルスに対して遅延させるだけで、試料での2つのレーザーパルスの瞬時周波数の間の差を可変に設定することができる。これによって、例えば、CRSM方法において、選択的に、種々の振動状態を励起させることができる。
共通のチャープユニットは、例えば、第2の光路に沿って伝播している第1のレーザーパルスと、第2のレーザーパルスとを伸ばす。さらに、共通のチャープユニットは、2つのレーザーパルスに次のように作用する。すなわち、より短い波長を有しているレーザーパルス成分が、より長い波長を有しているレーザー光成分に対して遅延されるように作用する。この種の周波数変化影響は、正のチャープとも称される。負のチャープは、これとは反対に、より長い波長を有しているレーザーパルス成分が、より短い波長を有しているレーザーパルス成分に対して遅延される場合に生じる。
例えば、本発明がCRSM方法に使用され、ここで可変の波長を有するポンプビームと、固定の波長を有するストークスビームとによって作動され、ここでこの固定の波長が、ポンプビームの可変の波長よりも長い場合には、ポンプビームに作用する別個のチャープユニットを次のように駆動制御することができる。すなわち、試料での、2つのレーザーパルスの瞬時周波数の差を一定に保つために、ポンプビームに負のチャープを与えるように駆動制御することができる。
第1のレーザーパルスにも、第2のレーザーパルスにも作用する共通のチャープユニットは例えば、ガラスブロックとして形成されている。これに対して、本発明に相応して駆動制御可能な、別個のチャープユニットは、例えば、光学部材、例えばミラーおよび/または格子から形成されている。この光学部材は、第1のレーザーパルスの所望の周波数変化影響を実現するために、波長に依存した制御パラメーターに依存して相互に動かされる。
第1のレーザーパルスにも、第2のレーザーパルスにも作用する共通のチャープユニットが、いずれにせよ本発明の装置において、例えば、強度変調または波長フィルタリングのために必要とされる光変調器または光フィルターから形成されていてもよい。これは、この部材によって生じるチャープが、付加的な(共通の)チャープ部材を省くことができる程度に十分に大きい場合に、行われる。
さらに、第2のレーザーパルスにだけ周波数変更影響を与えるために、第2の光路内に配置されている付加的な別個のチャープユニットを設けることもできる。この場合には、第1のチャープユニットも、第2のチャープユニットも、本発明に相応して駆動制御され、これによって、その内部で、1つまたは2つの光パルスの波長が変化する共通の波長領域において、試料での2つの光パルスの選択性のフォーカシングを保証することができる。
有利な実施形態では、少なくとも1つの、駆動制御可能なチャープユニットはパルスレーザー光源に含まれる。この実施形態は、従来のパルスレーザー光源がしばしば、いわゆるプレチャープユニットを有している、ということを利用している。ここでこのプレチャープユニットは、本発明では、1つまたは2つのレーザーパルスの波長が変化する全波長領域にわたったスペクトルフォーカシングを保証するために利用される。従って、本発明では、パルスレーザー光源内に構築されたこのようなプレチャープユニットは、従来の駆動制御とは著しく異なる方式で駆動制御される。プレチャープユニットは従来技術では通常、短パルスレーザー光源から送出される光パルスの、試料でのパルス持続時間ができるだけ短くなるように設定される。このような従来の駆動制御に反して、短パルスレーザー光源内に組み込まれたプレチャープユニットの本発明の駆動制御は、必ずしもできるだけ短いパルス幅が付随するのではないスペクトルフォーカシングを目指している。
組み込まれたプレチャープユニットの代わりに、外部の、駆動制御可能なチャープユニット、すなわち、パルスレーザー光源外に配置されているチャープユニットも使用可能である。
第1のレーザーパルスと第2のレーザーパルスは、それぞれ、ガウス形パルスによって近似される。このパルスの正規化された電界E(z,T)は、以下の式によって表される。
Figure 0006570523
ここでこの制御パラメーターは、値
Figure 0006570523
が、第1のレーザーパルスに対して、および、第2のレーザーパルスに対して同じであるように定められている。例えば、CRSM方法において、可変の波長を有する第1のレーザーパルスがポンプビームによって得られ、固定の波長を有する第2のレーザーパルスがストークスビームによって得られるということを仮定すると、可能な範囲で最良のスペクトルフォーカシングは、この値
Figure 0006570523
が両方のビームに対して同じである場合に得られる。短パルスレーザー光源と、ポンプビームに作用する別個のチャープユニットとが一度特徴付けされると、2つのビームの間の遅延、チャープパラメーターCおよび各パルス幅Tは、可変に設定可能な波長の関数並びに、別個のチャープユニットの駆動制御に用いられる制御パラメーターの可能な値の関数として既知である。このような情報に基づいて、較正データが例えば多次元の較正テーブルの形態で準備され、可能な範囲で最良のスペクトルフォーカシングを可能にする制御パラメーター並びに2つのレーザーパルス間の正しい遅延を突き止めるために、この較正テーブルに制御部がアクセスする。
可能な範囲で最良のスペクトルフォーカシングを得るための上述したコンセプトは、2つの光路のうちの1つの光路にのみ、駆動制御可能なチャープユニットが設けられている実施形態に関する。しかし、このコンセプトは、2つの光路のうちの各々に、駆動制御可能なチャープユニットがそれぞれ1つ存在する実施形態にも使用可能である。この場合にも、2つの駆動制御可能なチャープユニットの各々に対して、制御パラメーターが本発明に即して、所望のスペクトルフォーカシングが得られるように定められる。
有利には、較正データを求めるために較正が行われ、これに基づいて、制御部によって、制御パラメーターが決定される。この較正時には有利には、第1のレーザーパルスに対しても、第2のレーザーパルスに対しても、チャープパラメーターが、共通のチャープユニットによる各レーザーパルスのチャープ印加に対する尺度として求められる。
この較正では例えば、少なくとも、第1のレーザーパルスに関するチャープパラメーターが特定される。これは、第1のレーザーパルスのパルス持続時間が制御パラメーターの所定の値に対して、かつ、第1のレーザーパルスの波長の所定の値に対して、別個のチャープユニット通過後に第1の光路において測定され、さらに、共通のチャープユニット通過後に共通の光路においても測定され、ここからパルス持続時間の差が求められ、このパルス持続時間の差に基づいて、チャープパラメーターが計算されることによって行われる。第2のレーザーパルスも制御可能なチャープユニットによって周波数が変化するように影響される場合には、第2のレーザーパルスに関するチャープパラメーターを特定するために、相応する較正が行われる。
例えば、CRSM方法においてこの周波数差を励起されるべき振動状態に合わせるために、2つのレーザーパルスの時間的な重畳の間一定である、第1のレーザーパルスの瞬時周波数と第2のレーザーパルスの瞬時周波数との差が変更されるべき場合には、2つのレーザーパルスのうちの一方を、他方のレーザーパルスに対して遅延させる遅延段が、波長に依存する遅延パラメーターによって駆動制御される。波長に依存するこの遅延パラメーターを用いて、本発明の方法の、優れたスペクトル選択性が得られる。
遅延パラメーターは有利には、別の較正データに基づいて求められる。この、別の較正データは、2つのレーザーパルスのうちの一方のレーザーパルスの、他方のレーザーパルスに対する遅延を、制御パラメーターの所定の値に対して、かつ、第1のレーザーパルスの波長の予定の値に対して求めることによって決められる。この、別の較正データは、例えば、較正テーブルの形態で格納可能であり、必要なときに制御部はこの較正テーブルにアクセスする。
本発明を以下で、図面に基づいて詳細に説明する。
ピコ秒レーザーによる励起時のCARS放射を示すグロトリアン図 フェムト秒レーザーによる励起時のCARS放射を示すグロトリアン図 本発明のスペクトルフォーカシングを説明するための概略図 本発明の装置の例示的な実施形態 本発明の装置の変更された実施形態 本発明の装置の、別の、変更された実施形態 本発明の装置の、別の、変更された実施形態 本発明の装置の、別の、変更された実施形態 本発明の装置の、別の、変更された実施形態 レーザーパルスへの負のチャープの印加を示す概略図 制御パラメーターを特定するための第1の較正テーブル、並びに、遅延パラメーターを特定するための第2の較正テーブル
図3に基づいて、まず、本発明のスペクトルフォーカシングのコンセプトを説明する。
図3は、部分図(a)、(b)および(c)において、ストークスレーザーパルスに対して、および、ポンプレーザーパルスに対して、それぞれ、瞬時周波数を時間に依存して示している。ここで部分図(a)では、ストークスレーザーパルスとポンプレーザーパルスとがピコ秒レーザーから送出される場合が示されている。部分図(b)は、ストークスレーザーパルスとポンプレーザーパルスとがフェムト秒レーザーから送出されるケースを示している。ここでは、2つのレーザーパルスのチャープ印加は行われない。最後に、部分図(c)において、ストークスレーザーパルスとポンプレーザーパルスとが同様に、フェムト秒レーザーから送出されるケースが示されている。しかしここでは、さらに正のチャープが加えられる。
図3の部分図(a)が示しているように、ピコ秒レーザーによって出力されたレーザーパルスは比較的大きい、時間的なパルス幅を有している。これに相応して、瞬時周波数を変化させる各レーザーパルスのスペクトル幅は、比較的狭い。これによって、ポンプレーザーパルスの瞬時周波数とストークスレーザーパルスの瞬時周波数との間の差は、2つのレーザーパルスが相互に重なっている時間にわたってほぼ一定である。これに相応して、良好なスペクトルフォーカシングが存在する。
図3の部分図(b)が示しているように、フェムト秒レーザーから送出されたレーザーパルスは、より狭い時間的なパルス幅と、これに相応して、より大きいスペクトル幅とを有している。従って、2つのレーザーパルスが時間的に重なっている間、ポンプレーザーパルスの可能な瞬時周波数と、ストークスレーザーパルスの可能な瞬時周波数との間の多数の組み合わせが生じる。この多数の可能な周波数組み合わせによって、スペクトルフォーカシングは格段に悪化する。
フェムト秒レーザーの使用によって生じる、スペクトルフォーカシングのこの悪化は、図3の部分図(c)において示されたケースでは、2つのレーザーパルスに正のチャープを与えることによって除去される。従って、正のチャープは時間的なパルス幅の時間的な延びに対して寄与し、これによって、ポンプレーザーパルスの瞬時周波数とストークスレーザーパルスの瞬時周波数との差は、2つのレーザーパルスが時間的に重なっている間、再び、ほぼ一定になる。
図4は、概略図で、本発明の実施形態として、装置10を示している。
装置10は、フェムト秒レーザー12の形態のパルスレーザー光源を含んでいる。このフェムト秒レーザー12は、2つの出力側を有している。これらの出力側を介して、フェムト秒レーザーは、第1のレーザーパルス信号を第1の光路14に沿って送出し、第2のレーザーパルス信号を第2の光路16に沿って送出する。この実施形態では、フェムト秒レーザー12は次のように構成されている。すなわち、第1のレーザーパルスのシーケンスから形成された第1のレーザーパルス信号の波長が、所定の波長領域内に設定されるように構成されている。これに対して、第2のレーザーパルスのシーケンスから形成された第2のレーザーパルス信号はフェムト秒レーザー12から、所定の波長で送出される。
フェムト秒レーザー12には、チャープユニット18が組み込まれている。これは例えば、相互に可動な複数の光学部材、例えば、ミラーまたは格子から形成されている。組み込まれたチャープユニット18は、制御部20、例えば、フェムト秒レーザー12と結合されたコンピュータを介して駆動制御される。この駆動制御は、制御パラメーターを介して行われ、これに相当して、チャープユニット18を形成する光学部材が相対的に動かされ、これによって、各第1のレーザーパルスに、所望のように、周波数が変わるように影響を与える、すなわち、所望のチャープを与えることができる。
フェムト秒レーザー12によって送出された第1のレーザーパルスは第1の光路14において、制御部20と結合された光学部材22を通過する。この光学部材は、光強度を変調する若しくは調整する。光学部材22は、例えば、電気光学変調器または音響光学変調器(略してEOM若しくはAOM)、または、半波長板と偏光ビーム分配器との組み合わせである。これに相当して、第2のレーザーパルスは、第2の光路16に沿って、相応に形成された第2の光学部材24を通過する。
第1の光路14に、光学的な遅延段26が配置されている。この遅延段26は、相対的に動く2つのミラー28と30とから形成されている。遅延段26も、制御部20に接続されている。制御部20を介して、2つのミラー28と30との間隔が、遅延パラメーターに依存して設定され、これによって、第1のレーザーパルスは第2のレーザーパルスに対して、両レーザーパルスの間に時間的な重畳が成り立つように遅延される。
遅延段26から伝播する第1のレーザーパルスと第2のレーザーパルスは、ダイクロックビーム分配器32または偏光ビーム分配器32に入射する。ここでこのビーム分配器は、第1の光路14と第2の光路16とを1つの共通の光路34に共線結合させる。相互に重なっている2つのレーザーパルスは次に、共通の光路34に沿って、ガラスブロック36を通って案内される。このガラスブロックは、2つのレーザーパルスを、時間的に延ばす。次に、2つのレーザーパルスは、例えば共焦点顕微鏡を含んでいる光学系38を通って、試料40に達する。
第1のレーザーパルスおよび第2のレーザーパルスと、試料40との相互作用によって形成された測定信号は、エピ検出器42によって、かつ/または、前方検出器44によって、検出される。これら2つの検出器42および44は、駆動制御および評価の目的で、制御部20と結合されている。
ガラスブロック36は、第1のレーザーパルスにも第2のレーザーパルスにも影響を与え、これら2つのレーザーパルスには、時間的なパルス延長のために、正のチャープが与えられる。フェムト秒レーザー12内に含まれている、制御部20によって駆動制御可能なチャープユニット18はここで、次のような機能を有する。すなわち、2つのレーザーパルスが、試料40で、図3の部分図(c)に示されたようにスペクトルフォーカシングされるように、これらレーザーパルスに、周波数が変わるように影響を与える、という機能である。例えば、フェムト秒レーザー12から送出された第1のレーザーパルスの可変波長が、第2のレーザーパルスの固定波長よりも小さいと想定される場合には、フェムト秒レーザー12内に組み込まれたチャープユニット18は、第1のレーザーパルスに、負のチャープを与える。
フェムト秒レーザー12内に組み込まれている、第1のレーザーパルスに、周波数が変わるように影響を与えるチャープユニット18を制御部20が駆動制御する制御パラメーターは、後に説明されるように、第1のレーザーパルスの波長に依存して特定される。
次に、図5から図9を参照して、図4に示された実施形態から変更されている実施形態を説明する。これらの変更された実施形態では、図4の実施形態のコンポーネントに相応するコンポーネントには、図4で使用された参照符号が付けられている。
図5に示された、変更された実施形態は、図4に示された装置と次の点において相違している。すなわち、別個の光路14若しくは16内に配置されている光学部材22、24の代わりに、共通の光路34内に部材44が設けられている、という点である。第1のレーザーパルスにも第2のレーザーパルスにも作用するこの光学部材44は、例えばAOMまたはEOMである。これは光フィルターとして構成されていてもよく、例えば、音響光学式に調整可能なフィルター、略してAOTFとして構成されていてもよい。
図6に示された実施形態は、図5に示された実施形態と次の点において相違している。すなわち、2つのレーザーパルスに、共通の光路において、正のチャープを与えるガラスブロック36が省かれている、とう点において相違している。このような実施形態では、光学部材44のみ、すなわち、AOM、EOMまたはAOTFのみが、共通の、2つのレーザーパルスに作用するチャープ部材として作用する。従って、光学部材44によって生じたチャープ、すなわち、2つのレーザーパルスの周波数変更影響は、ガラスブロックの形態の更なるチャープユニットが不必要である程度に大きい。
図7に示された実施形態では、1つのフェムト秒レーザー12の代わりに、2つの、別個のフェムト秒レーザー46および48が設けられている。これらにはそれぞれ、チャープユニット50若しくは52が組み込まれている。2つのフェムト秒レーザー46、48が第1若しくは第2のレーザーパルスを送出するパルス繰り返し率は、レーザー同期ユニット54を介して制御される。
図7に示された実施形態では、2つの、組み込まれたチャープユニット50、52が、制御部20を介して、同様に、図3の部分図(c)に示されている、可能な範囲で最良のスペクトルフォーカシングが得られるように駆動制御される。
図8に示された実施形態は、図4に示されている実施形態と次の点において相違している。すなわち、第1の光路14に割り当てられたチャープユニット18が、プレチャープユニットとして、フェムト秒レーザー12内に含まれているのではなく、外部のユニットとして、フェムト秒レーザー12外に配置されている、という点において相違している。制御部20による外部のチャープユニット18の駆動制御は、ここで、図4に示された実施形態と同様に行われる。
図9の実施形態では、図7に示された実施形態のように、駆動制御可能な2つのチャープユニット50、52が設けられている。ここでチャープユニット50は第1の光路14に割り当てられており、チャープユニット52は第2の光路16に割り当てられている。しかし、図7に示された実施形態と違って、図9では、チャープユニット50、52は、外部のユニットとして構成されている。さらに、レーザー同期ユニットによって相互に同期されている2つの別個のフェムト秒レーザーが設けられているのではなく、フェムト秒レーザー54が1つだけ設けられている。これは、第1のレーザーパルスを出力する唯一のレーザー出力側を有している。第2のレーザーパルスは、この実施形態では、次のことによって形成される。すなわち、第1の光路14内に、ビーム分配器56が配置されていることによって形成される。これは、フェムト秒レーザー54によって送出されたレーザー光によってポンピングされる光パラメトリック発振器(OPO)または増幅器(OPA)58に続く。光パラメトリック発振器若しくは増幅器58は、その後、第2のレーザーパルスを、第2の光路16に沿って出力する。
図4〜図9に示された実施形態は単に例示的なものである、ということは自明である。特に、これらの実施形態において行われた変更が、技術的に合理的に、相互に組み合わせ可能である。
上述した実施形態に対して、それぞれ次のことが想定される。すなわち、第1の光路14、および場合によっては第2の光路16にも割り当てられているチャープユニットを本発明と相応に駆動制御することによって、図3の部分図(c)に示されたような選択的なフォーカシングが生じる、ということが想定される。このスペクトルフォーカシングは、全体として、正のチャープが生じるように選択されている。しかし本発明は、全体として正のチャープに制限されない。これは、図10で明らかにされている。
図10では、少なくとも1つの、駆動制御可能なチャープユニットが、1つ若しくは複数のレーザーパルスに、負のチャープを与えることが想定される。この負のチャープは、例えば、ガラスブロック36および場合によっては、更なる光学系38によって導入された正のチャープが過補償されて、試料40で、スペクトルフォーカシングされたレーザーパルスが全体で負のチャープを有するような、大きさを有している。
本発明の装置10の特にユーザーフレンドリーな動作を可能にするために、制御部20が第1の光路14または第2の光路16に割り当てられているチャープユニットを駆動制御する制御パラメーター、および、制御部20が遅延段26を駆動制御する遅延パラメーターは、自動的に、第1および第2のレーザーパルスの波長に依存して決定される。このために、事前に、幾つかの較正ステップが実行され、これによって、相応する較正データが準備され、制御部20は、制御パラメーターおよび遅延パラメーターを決定するために、これにアクセスする。
図11は、単に例示的に、較正テーブルの形態でのこのような較正データの提供を示している。
図11の左側のテーブルは、レーザーパルスの波長の所定の値λ〜λ、および、制御パラメーターの所定の値P〜Pに対して、それぞれ、測定された時間的にパルス幅が記入されるべきマトリクスを表している。このパルス幅は例えば、自動相関ユニットによって測定される。
各パルス幅はここで、2回、測定される。すなわち、一度、第1若しくは第2の光路14、16において、この光路に割り当てられた駆動制御可能なチャープユニットの通過直後に測定され、再度、共通の光路34において、光学系38の通過後に、または、光学系38によって生じたチャープが無視できる場合には、ガラスブロック36(若しくは、ガラスブロック36の箇所に設けられた光学部材44)の通過後に測定される。これら2つの測定に基づいて、試料40に挿入されるチャープが容易に、波長λおよび制御パラメーターPの関数として、計算される。
上述した測定の結果に基づいて、制御パラメーターPは、可変波長λの所定の値に対して、所望のスペクトルフォーカシングが得られるように特定される。
図11の右側のテーブルは、可変波長λの所定の値λ〜λ、および、制御パラメーターPの所定の値P〜Pに対して、試料40での2つのレーザーパルスの相対的な遅延に対する、較正測定によって得られた値が記入されるべきマトリクスの形態の較正テーブルを示している。この較正テーブルに基づいて、制御部20は、可変波長λの所定の値に対して、容易に、正しい遅延パラメーターを特定することができる。
上述した方法で求められた較正データは、例えば、制御部20内に設けられている較正ファイル内に格納され、必要なときに呼び出される。これによって、選択された波長に依存して、正しい制御パラメーターを、各チャープユニットを駆動制御するために求めること、並びに、正しい遅延パラメーターを、遅延段26を駆動制御するために求めることができる。

Claims (16)

  1. 試料(40)を照明するための装置(10)であって、
    少なくとも1つのパルスレーザー光源(12)と、重畳部材(32)と、遅延段(26)と、共通のチャープユニット(36)と、少なくとも1つの別個のチャープユニット(18)と、を有しており、
    前記少なくとも1つのパルスレーザー光源(12)は、第1のレーザーパルスを第1の光路(14)に沿って繰り返し送出し、かつ、第2のレーザーパルスを、前記第1の光路と空間的に別個にされている第2の光路(16)に沿って繰り返し送出し、
    前記重畳部材(32)は、前記2つのレーザーパルスを共通の光路(34)に共線重畳し、
    前記遅延段(26)は、前記第1の光路(14)または前記第2の光路(16)に配置されており、前記2つのレーザーパルスのうちの一方のレーザーパルスを他方のレーザーパルスに対して相対的に遅延させ、これによって、前記共通の光路(34)に沿って、前記試料(40)に送出される前記2つのレーザーパルスが時間的な重畳を有し、
    前記共通のチャープユニット(36)は、前記共通の光路(34)に配置されており、前記第1のレーザーパルスにも、前記第2のレーザーパルスにも、周波数が変わるように影響を与え、
    前記別個のチャープユニット(18)は、前記第1の光路(14)に配置されており、前記第1のレーザーパルスにのみ、周波数が変わるように影響を与え、
    前記共通のチャープユニット(36)および前記別個のチャープユニット(18)は、目標状態を実現するために、相互に調整されており、ここで、前記別個のチャープユニット(18)によっても、前記共通のチャープユニット(36)によっても影響される前記第1のレーザーパルスの瞬時周波数と、前記共通のチャープユニット(36)のみによって影響される前記第2のレーザーパルスの瞬時周波数と、は、相互に所定の関係を有している装置において、
    少なくとも、前記第1のレーザーパルスの波長を、前記パルスレーザー光源(12)を用いて、所定の波長範囲において変えることができ、
    前記別個のチャープユニット(18)は、制御部(20)に結合されており、前記制御部(20)によって、前記別個のチャープユニット(18)は、前記第1のレーザーパルスの波長に依存する制御パラメーターによって、前記目標状態を設定するために、駆動制御され
    前記共通のチャープユニット(36)は、光変調器から形成されている、
    ことを特徴とする装置(10)。
  2. 前記目標状態において、前記別個のチャープユニット(18)によっても、前記共通のチャープユニット(36)によっても影響される前記第1のレーザーパルスの瞬時周波数と、前記共通のチャープユニット(36)によってのみ影響される前記第2のレーザーパルスの瞬時周波数と、の間の差は、前記2つのレーザーパルスの前記時間的な重畳の間、一定である、
    請求項1記載の装置(10)。
  3. 前記第2の光路(16)において、前記第2のレーザーパルスだけに、周波数が変わるように影響を与えるように駆動制御可能な、付加的な別個のチャープユニット(52)が設けられている、
    請求項1または2記載の装置(10)。
  4. 前記少なくとも1つの別の駆動制御可能なチャープユニット(18,50,52)は、前記パルスレーザー光源(12)内に含まれている、
    請求項1から3までのいずれか1項記載の装置(10)。
  5. 前記少なくとも1つの別個の駆動制御可能なチャープユニット(18,50,52)は、前記パルスレーザー光源(12)外に配置されている、
    請求項1から3までのいずれか1項記載の装置(10)。
  6. 2つのパルスレーザー光源(46,48,54,58)が設けられており、前記2つのパルスレーザー光源のうちの第1のパルスレーザー光源(46、54)は、前記第1の光路(14)に割り当てられており、前記2つのパルスレーザー光源のうちの第2のパルスレーザー光源(48,58)は、前記第2の光路(16)に割り当てられている、
    請求項1から5までのいずれか1項記載の装置(10)。
  7. 前記2つのパルスレーザー光源のうちの1つは、光パラメトリック発振器または増幅器(58)から形成されており、前記光パラメトリック発振器または増幅器(58)は、ビーム分配器(56)を介して、別のパルスレーザー光源(54)のレーザー出力側と結合されている、
    請求項6記載の装置(10)。
  8. 前記別個のチャープユニット(18)は、前記目標状態を設定するために、前記第1のレーザーパルスのパルス幅が前記試料で、前記別個のチャープユニット(18)によって可能な範囲で最小に設定可能なパルス幅よりも大きくなるように、駆動制御される、
    請求項1から7までのいずれか1項記載の装置(10)。
  9. 試料(40)を照明するための方法であって、
    少なくとも1つのパルスレーザー光源(12)によって、繰り返し、第1のレーザーパルスを第1の光路(14)に沿って送出し、第2のレーザーパルスを、前記第1の光路(14)とは空間的に別個にされている第2の光路(16)に沿って送出し、
    前記2つのレーザーパルスを共通の光路(34)に共線重畳し、
    前記2つのレーザーパルスのうちの一方のレーザーパルスを他方のレーザーパルスに対して相対的に遅延させ、これによって、前記共通の光路(34)に沿って、前記試料(40)に送出される前記2つのレーザーパルスが時間的な重畳を有し、
    前記共通の光路(34)に配置されている共通のチャープユニット(36)によって、前記第1のレーザーパルスにも、前記第2のレーザーパルスにも、周波数が変わるように影響を与え、
    前記第1の光路(14)に配置されている、少なくとも1つの別個のチャープユニット(18)によって、前記第1のレーザーパルスにのみ、周波数が変わるように影響を与え、
    前記共通のチャープユニット(36)および前記別個のチャープユニット(18)は、目標状態を実現するために、相互に調整されており、ここで、前記別個のチャープユニット(18)によっても、前記共通のチャープユニット(36)によっても影響される前記第1のレーザーパルスの瞬時周波数と、前記共通のチャープユニット(36)のみによって影響される前記第2のレーザーパルスの瞬時周波数と、が、相互に所定の関係を有している方法において、
    少なくとも、前記第1のレーザーパルスの波長を、前記パルスレーザー光源(12)を用いて、所定の波長範囲において変え、
    前記別個のチャープユニット(18)を、制御部(20)によって、前記第1のレーザーパルスの波長に依存する制御パラメーターによって、前記目標状態を設定するように、駆動制御し、
    前記共通のチャープユニット(36)は、光変調器から形成されている、
    ことを特徴とする方法。
  10. 前記第1のレーザーパルスと前記第2のレーザーパルスとをそれぞれ、ガウス形パルスによって近似させ、前記ガウス形パルスの正規化された電界E(z,T)は式
    Figure 0006570523
    によって表され、
    ここで、zは、前記各レーザーパルスの伝播方向における空間座標を表しており、
    Tは時間を表しており、
    Cはチャープパラメーターを表しており、
    は前記電界の最大値のe−1倍に関するパルス持続時間を表しており、
    kは波数を表しており、
    ωは周波数を表しており、
    前記制御パラメーターは、値
    Figure 0006570523
    が、前記第1のレーザーパルスおよび前記第2のレーザーパルスに対して等しくなるように定められている、
    請求項9記載の方法。
  11. 較正データを求めるために較正を実施し、
    前記較正に基づいて、前記制御部(20)を用いて、前記制御パラメーターを特定する、
    請求項9または10記載の方法。
  12. 前記較正時に、前記第1のレーザーパルスに対しても、前記第2のレーザーパルスに対しても、チャープパラメーターを、前記共通のチャープユニット(36)によって前記各レーザーパルスにチャープを与えるための尺度として求める、
    請求項11記載の方法。
  13. 少なくとも、前記第1のレーザーパルスに関するチャープパラメーターを特定し、
    前記第1のレーザーパルスのパルス持続時間を、前記制御パラメーターの所定の値に対して、かつ、前記第1のレーザーパルスの波長の所定の値に対して、前記第1の光路(14)において、前記別個のチャープユニット(18)の通過後に、および、前記共通の光路(34)において、前記共通のチャープユニット(36)の通過後に測定し、ここから、パルス持続時間差を求め、前記パルス持続時間差に基づいて前記チャープパラメーターを計算することで、前記特定を行う、
    請求項12記載の方法。
  14. 遅延段(26)を、前記制御部(20)を用いて、前記第1のレーザーパルスの波長に依存した遅延パラメーターによって駆動制御する、
    請求項9から13までのいずれか1項記載の方法。
  15. 前記遅延パラメーターを、別の較正データに基づいて求め、
    前記別の較正データは、前記2つのレーザーパルスのうちの1つのレーザーパルスの、他方のレーザーパルスに対して相対的な遅延を、前記制御パラメーターの所定の値に対して、かつ、前記第1のレーザーパルスの波長の所定の値に対して求めることによって特定される、
    請求項14記載の方法。
  16. 前記別個のチャープユニット(18)を、前記目標状態を設定するために、前記第1のレーザーパルスのパルス幅が前記試料で、前記別個のチャープユニット(18)によって可能な範囲で最小に設定可能なパルス幅よりも大きくなるように、駆動制御する、
    請求項9から15までのいずれか1項記載の方法。
JP2016532630A 2013-11-19 2014-11-19 試料を照明するための装置および方法 Active JP6570523B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102013112750.9 2013-11-19
DE102013112750.9A DE102013112750B4 (de) 2013-11-19 2013-11-19 Einrichtung und Verfahren zum Beleuchten einer Probe
PCT/EP2014/075055 WO2015075089A1 (de) 2013-11-19 2014-11-19 Einrichtung und verfahren zum beleuchten einer probe

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017505423A JP2017505423A (ja) 2017-02-16
JP6570523B2 true JP6570523B2 (ja) 2019-09-04

Family

ID=51945873

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016532630A Active JP6570523B2 (ja) 2013-11-19 2014-11-19 試料を照明するための装置および方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10132754B2 (ja)
EP (1) EP3071952B1 (ja)
JP (1) JP6570523B2 (ja)
DE (1) DE102013112750B4 (ja)
WO (1) WO2015075089A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9788406B2 (en) * 2014-11-18 2017-10-10 The Boeing Company Laser cooling via stimulated photon emissions
US10048199B1 (en) 2017-03-20 2018-08-14 Asml Netherlands B.V. Metrology system for an extreme ultraviolet light source
US10855046B2 (en) * 2017-10-16 2020-12-01 Massachusetts Institute Of Technology Nonlinear optical imaging

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7586618B2 (en) * 2005-02-28 2009-09-08 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Distinguishing non-resonant four-wave-mixing noise in coherent stokes and anti-stokes Raman scattering
JP2007110089A (ja) * 2005-09-15 2007-04-26 Aisin Seiki Co Ltd 高パワー短光パルス発生方法及び高パワー短光パルス発生装置
US7847933B2 (en) * 2007-05-22 2010-12-07 Stevens Institute Of Technology Cars microscopy and spectroscopy using ultrafast chirped pulses
JP5160352B2 (ja) * 2008-09-12 2013-03-13 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡装置
GB0904739D0 (en) * 2009-03-19 2009-05-06 Univ Cardiff Coherent anti-stokes raman spectroscopy
WO2011062842A1 (en) * 2009-11-18 2011-05-26 The Regents Of The University Of California Apparatus and method for multiple-pulse impulsive stimulated raman spectroscopy
JP5489804B2 (ja) * 2010-03-23 2014-05-14 オリンパス株式会社 Cars光用ユニットおよび顕微鏡システム
US8610996B2 (en) * 2010-05-06 2013-12-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Tunable multiple laser pulse scanning microscope and method of operating the same
WO2011163353A2 (en) * 2010-06-22 2011-12-29 President And Fellows Of Harvard College On-demand dual frequency laser sources for non-linear optical microscopy and micro-spectroscopy imaging systems
GB201013321D0 (en) * 2010-08-06 2010-09-22 King S College London Method and apparatus for non-resonant background reduction in Coherent anti-strokes Raman Scattering (CARS) spectroscopy

Also Published As

Publication number Publication date
EP3071952A1 (de) 2016-09-28
DE102013112750B4 (de) 2016-03-31
DE102013112750A1 (de) 2015-05-21
JP2017505423A (ja) 2017-02-16
US10132754B2 (en) 2018-11-20
US20160290928A1 (en) 2016-10-06
WO2015075089A1 (de) 2015-05-28
EP3071952B1 (de) 2020-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5649828B2 (ja) レーザ顕微鏡装置
US8675699B2 (en) Laser pulse synthesis system
JP5100461B2 (ja) 非線形分光計測システム用の光源装置、非線形分光計測システム及び方法
US9638638B2 (en) System and method for stimulated raman spectroscopy
US8792156B1 (en) Laser illumination systems and methods for dual-excitation wavelength non-linear optical microscopy and micro-spectroscopy systems
US9494522B2 (en) Device and method for stimulated Raman detection
JPWO2006104237A1 (ja) 空間情報検出装置
JP6613552B2 (ja) 超解像観察装置及び超解像観察方法
US11041760B2 (en) Optical measurement device and optical measurement method
US8816302B2 (en) Optical arrangement and method for examining or processing an object
JP6570523B2 (ja) 試料を照明するための装置および方法
Alqattan et al. Attosecond light field synthesis
JP5646095B1 (ja) 計測装置
JP2018045229A (ja) 光源装置、およびそれを用いた情報取得装置
JP6501451B2 (ja) 光源装置およびそれを用いた情報取得装置
JP6453487B2 (ja) 光計測装置及び光計測方法
JP2017003311A (ja) ファイバレーザ、光学装置、および計測装置
JP2015175846A (ja) ラマン散乱計測装置
JP6255257B2 (ja) 計測装置及び計測方法
JP2024508203A (ja) デュアルコムレーザを用いた高エネルギー効率のコヒーレントラマン分光システム及び方法
JP2009229310A (ja) 離散スペクトルのスペクトル位相計測装置、及び、離散スペクトルのスペクトル位相計測方法
JP5917664B2 (ja) 誘導ラマン散乱計測装置および誘導ラマン散乱計測方法
JP7477933B2 (ja) Carsスペクトルの取得方法およびシステム
WO2023022037A1 (en) Method and system for acquiring cars spectrum
JP2017020968A (ja) 計測装置、計測方法、プログラム、補正装置および信号処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160613

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171117

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180919

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181015

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20190111

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190312

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190722

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190806

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6570523

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250