JP6558258B2 - 記憶装置及び記憶装置の制御方法 - Google Patents

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Description

本発明は、記憶装置及び記憶装置の制御方法に関する。
HDD(Hard Disk Drive)やHDDを備える装置(以下、総称して「HDD等」とする場合がある)は、外部からの衝撃や振動、外部の温度や湿度等の影響を受ける可能性がある。上述したHDD等は、故障した際に原因の特定が容易になるように監視機能を備える場合がある。
特許文献1には、磁気ディスク装置に関する技術が記載されている。特許文献1に記載の磁気ディスク装置は、外部から電源の供給を受けることなく、磁気ディスク装置ごとに環境の変化を測定、記録することができる。
特開2010−123216号公報
HDD等は、運搬される際には、特定の場所に設置して使用される場合等と比較して、外部からの衝撃等の影響を強く受ける可能性がある。しかしながら、上述した監視機構は、HDD等が運搬される場合等、外部電源からの電力の供給がない場合に動作することが必ずしも考慮されていない。すなわち、特許文献1等の技術では、HDD等が運搬される場合等、電力が未供給である場合に生じた故障の原因を特定することが困難な場合がある。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、電力が未供給である場合に生じた故障の原因を特定することができる記憶装置等を提供することを主たる目的とする。
本発明の一態様における記憶装置は、状態を検知するセンサ及び駆動手段を制御可能な制御手段を備え、制御手段は、バッテリによって電力供給されている場合、センサを動作させ、外部電源によって電力供給されている場合、センサ及び駆動手段を動作させる。
本発明によると、電力が未供給である場合に生じた故障の原因を特定することができる記憶装置等を提供することができる。
本発明の第1の実施形態における記憶装置の構成を示す図である。 本発明の第1の実施形態における記憶装置の動作を示すフローチャートである。 本発明の第1の実施形態における記憶装置のデータの制御に関する動作を示すフローチャートである。 本発明の第1の実施形態における記憶装置のセンサが検知した加速度の一例を示す図である。
本発明の各実施形態について、添付の図面を参照して説明する。まず、本発明の第1の実施形態について説明する。図1は、本発明の第1の実施形態における記憶装置を示す図である。図2は、本発明の第1の実施形態における記憶装置の動作を示すフローチャートである。図3は、本発明の第1の実施形態における記憶装置のデータの制御に関する動作を示すフローチャートである。なお、本実施形態における記憶装置100は、HDD等であることを想定する。すなわち、記憶装置100は、例えば単体のHDDである。また、記憶装置100は、一つ又は複数のHDDを備える装置であってもよい。
図1に示すとおり、本発明の第1の実施形態における記憶装置100は、少なくとも制御部110を備える。また、記憶装置100は、一つの構成例として、バッテリ120と、センサ130と、解析部140と、一時記憶部150と、HDDの駆動部160とを備える。制御部110は、バッテリ120によって電力供給されている場合、状態を検知するセンサ130を動作させ、外部電源によって電力供給されている場合、センサ130及び駆動部160を動作させる。
また、バッテリ120は、センサ130を動作させる。センサ130は、記憶装置100や記憶装置100の周囲の状態を検知する。解析部140は、センサ130が検知した結果を解析する。一時記憶部150は、センサ130が検知したデータや当該データが解析部140によって解析された結果等、センサ130が検知したデータに関する情報を記憶する。駆動部160は、記憶装置の各要素(非図示)を駆動する。
本実施形態における記憶装置100に対しては、例えば電源インターフェイス170を介して外部電源から電力が供給される。外部電源は、記憶装置100が通常の動作を行う際に必要となる電力を供給する電源である。例えば、商用電源の電圧を変換した電力が外部電源として供給される。記憶装置100は、外部電源から電力の供給を受けて動作する。図1に示す例では、外部電源として、電圧が12V(ボルト)である電力と、電圧が5Vの電力とが電源インターフェイス170を介して供給される。電源インターフェイス170は、一般的なコネクタ等で実現される。
なお、記憶装置100は、この他に、データを記憶するための機構(不図示)やデータの入出力を行うためのインターフェイス(不図示)等を備える。記憶装置100がHDDである場合には、データを記憶するための機構には、例えばデータを記録するプラッタ等が含まれる。
図1に示す記憶装置100の各構成要素は、例えば、PCBA(Printed Circuit Board Assembly)等に設けられるような形態にて実現される。また、図1において、記憶装置100の各構成要素を接続する線は、電力又はデータの流れを示す。
続いて、本発明の第1の実施形態における記憶装置100の各構成要素について詳細を説明する。
制御部110は、外部電源が未接続である場合や、記憶装置100の電源が未投入である場合等の外部電源からの電力の供給が行われない場合等においても、センサ130による状態の検知が行われるように制御する。すなわち、制御部110は、バッテリ120から電力が供給されている場合には、少なくともセンサ130が動作するように制御する。この場合には、制御部110は、少なくともセンサ130に電力を供給するように回路等(不図示)を制御する。制御部110は、バッテリ120から電力が供給されている場合には、バッテリ120から駆動部160への電力の供給を停止する等、駆動部160が動作しないような制御を行う。なお、外部電源からの電力の供給が行われない場合は、記憶装置100がオフラインであるとも呼ばれる。記憶装置100がオフラインである場合には、外部電源が未接続である場合や、外部電源は接続されているものの、記憶装置100の電源が未投入であり、外部電源からの電力が供給されない場合が含まれる。また、本実施形態においては、外部電源は、記憶装置100の駆動部160を動作可能な電池等であってもよい。
そして、制御部110は、外部電源から電力が供給されている場合には、少なくともセンサ130及び駆動部160が動作するように制御する。この場合には、制御部110は、少なくともセンサ130及び駆動部160に電力を供給するように回路等を制御する。
一般的なHDD等の多くは、衝撃、振動、温湿度等のHDDの故障の要因を検知する機構を備える。しかしながら、これらのHDDやその周囲の状態を検知する機構は、一般に、外部電源から電力が供給され、HDDの電源が投入されている場合に限って動作する。
すなわち、電源が未投入である場合を含め、外部電源から電力が供給されない場合には、HDD等やその周囲の状態を検知する機構は停止している。そのため、HDD等が運搬されている場合等に、衝撃、振動、温湿度の上昇等のHDDの故障の要因となり得る事象がHDD等に対して生じた場合においても、当該事象が生じたことの検知が行われない。したがって、外部電源からの電力の供給が行われない間に記憶装置100が故障した際に、原因の特定が困難となる場合がある。
本実施形態における記憶装置100では、外部電源から電力の供給が行われない場合や電源が未投入である場合等においても、制御部110が、バッテリ120から供給される電力によってセンサ130を動作させるように制御を行う。制御部110が上述の制御を行うことで、記憶装置100が運搬される場合等、外部電源からの電力の供給が行われない場合等においても、センサ130が記憶装置100の故障や障害の原因に関連するような事象を検知することが可能となる。
したがって、制御部110が上述した制御を行うことで、外部電源からの電力の供給が行われない間に記憶装置100が故障した場合に、故障や障害の要因となり得る事象の有無等を確認することが可能となる。すなわち、制御部110が上述した制御を行うことで、記憶装置100が故障した場合に、原因の特定が容易になる。
また、制御部110は、センサ130が検知した状態の解析や保存等に関する制御を行う。例えば、制御部110は、バッテリ120から電力が供給されている場合には、後述のようにセンサ130が検知した状態の解析や保存等を行うため、解析部140や一時記憶部150が動作するように制御してもよい。
すなわち、制御部110は、バッテリ120から電力が供給されている場合には、解析部140や一時記憶部150に対してバッテリ120から電力が供給されるように制御してもよい。また、制御部110は、外部電源から電力が供給されている場合には、記憶装置100が一般的なHDDと同様に動作するように、センサ130や駆動部160を含めた記憶装置100の各構成要素を必要に応じて動作するように制御する。
制御部110は、例えば、専用又は汎用のプロセッサ等の回路にて実現される。すなわち、制御部110は、上述した制御を行う制御回路又は制御プロセッサ等として実現される。例えば、制御部110は、SoC(System On a Chip)や、いくつかの回路を組み合わせた制御回路として実現される。また、制御部110は、プロセッサと、制御部110としての動作に関するプログラムとの組み合わせによって実現されてもよい。制御部110には、外部電源の接続の状態や駆動部160の動作の状況等に応じて、外部電源とバッテリ120との切り替え等を行う回路等、電力の供給を制御する機構が必要に応じて併せて設けられる。
なお、制御部110は、記憶装置100が複数のHDDを有する場合には、制御部110は、複数のHDDを制御の対象としてもよい。
バッテリ120は、外部電源が未接続である場合や記憶装置100の電源が未投入である場合等、外部電源からの電力の供給が停止している場合に、センサ130等へ電力を供給する。バッテリ120は、外部電源と未接続である等、外部電源から電力が供給されない場合においても、センサ130による状態の検知やセンサ130によって検知されたデータの解析を可能とする。また、センサ130によって検知されたデータの解析が行われるよう、バッテリ120は、解析部140や一時記憶部150等へ電力を供給してもよい。
バッテリ120は、外部電源からの電力の供給が停止している間にセンサ130等を動作可能な程度の電力が供給可能であればよく、種類は特に限定されない。すなわち、本実施形態においては、バッテリ120が供給可能な電力は、外部電源から供給される電力や、駆動部160を駆動可能な電池から供給される電力と比較して小さくてもよい。また、バッテリ120の放電容量は、外部電源からの電力の供給が停止している間にセンサ130等を継続して動作させることが可能な容量であればよい。センサ130等を動作可能な程度の電力が供給可能であれば、バッテリ120として、任意の一次電池又は二次電池が用いられる。また、バッテリ120の大きさは、記憶装置100の筐体(不図示)に収容可能な程度であることが好ましい。
なお、記憶装置100が複数のHDDを有する場合には、複数のHDDの各々に個別にバッテリ120が備えられてもよいし、複数のHDDの各々に対して電力を供給する一つのバッテリ120が備えられてもよい。また、バッテリ120は、継続して外部電源から電力が供給される場合には、取り外すことが可能な構成であってもよい。
センサ130は、記憶装置100やその周囲の状態等に関する状態を検知する。すなわち、センサ130は、記憶装置100の故障や障害の原因となり得る事象を検知する。センサ130が検知する状態には、記憶装置100に加えられる衝撃や振動、記憶装置100の周辺の温度や湿度等が含まれる。
センサ130が記憶装置100に加えられる衝撃や振動を検知する場合には、センサ130は、衝撃センサ、加速度センサ、振動センサ等で実現される。センサ130が記憶装置100の周辺の温度や湿度を検知する場合には、センサ130は、温湿度センサや、温度センサ、湿度センサ等で実現される。すなわち、センサ130として、一般的なHDDが備えるセンサ等と同様のセンサが用いられる。また、複数の種類のセンサ130が用いられてもよい。
センサ130は、バッテリ120から電力が供給される場合を含めて常に状態を検知することが好ましい。センサ130が、バッテリ120から電力が供給される場合を含めて常に状態を検知することで、記憶装置100が故障した際に、原因の特定が容易になる。しかしながら、例えばバッテリ120から電力が供給される場合には、センサ130は、予め定められた期間に限って状態を検知してもよいし、間欠的に状態を検知してもよい。このようにすることで、センサ130の消費電力や、後述する一時記憶部150にて必要とされる記憶容量を削減することが可能となる。
センサ130が検知した状態に関するデータは、例えばバッテリ120から電力が供給される場合には、後述する解析部140へ送られる。
また、センサ130が検知した状態に関するデータは、外部電源から電力が供給される場合には、解析部140の他に、又は解析部140を介して、制御部110や駆動部160等へ送られてもよい。この場合には、センサ130が検知した結果に応じて、一般的なHDDと同様の制御が行われる。例えば、センサ130がHDDに故障が生じる程度の衝撃を検知した場合には、検知の結果に基づいて、駆動部160のヘッドを安全な領域に退避させるような制御が行われる。また、この他の制御が行われてもよい。
解析部140は、バッテリから電力が供給される場合等に、センサ130が検知した結果を必要に応じて解析する。
解析部140が行う解析の種類は、特に限定されない。解析部140は、例えばセンサ130が検知したデータのデータ形式の変換や、記憶装置100に障害の原因となるような衝撃や温度等が加えられたか否か等の解析を行う。
記憶装置100に対しては、一般に、記憶装置100が動作しない場合(非動作時)における温度、湿度、加速度などの周囲の環境に関して、許容される条件が定められている。解析部140は、障害の原因となるような衝撃や温度等の例として、センサ130が検知したデータが、非動作時に許容される条件を逸脱しているか否かの解析を行う。
一例として、センサ130が加速度を検知する場合には、解析部140は、加速度が非動作時に許容される加速度の上限として予め定められた閾値を超えた場合に、障害の原因となるような衝撃が加えられたと解析する。
図4は、センサ130が加速度を検知する場合において検知した加速度の一例を示すグラフである。図4においては、横軸は時間を示し、縦軸は加速度の大きさを示す。また、図4に示す点線は、記憶装置100の非動作時に許容される加速度の上限を示す。すなわち、図4の点線は、解析部140が障害の原因となりうる衝撃が加えられたと判断する閾値となる。
図4に示す例では、センサ130が検知した加速度の大きさは、丸印で囲んだ時点において、点線で示される閾値を超えている。したがって、この例においては、解析部140は障害の原因となるような衝撃が加えられたと解析する。
なお、解析部140は、外部電源から電力が供給される場合においても、上述のようにセンサ130が検知した結果を解析してもよい。この場合には、解析部140が解析した結果に応じて、駆動部160等に対して一般的なHDDと同様の制御が行われてもよい。
解析部140は、例えば、専用又は汎用のSoC等にて実現される。ただし、解析部140は、その他の形態にて実現されてもよい。
一時記憶部150は、バッテリ120から電力が供給されている場合に、センサ130が検知したデータや、センサ130が検知したデータを解析部140が解析した結果等のセンサ130が検知したデータに関する情報を格納する。一時記憶部150へのデータの格納は、例えば制御部110や解析部140によって行われる。
一時記憶部150には、センサ130が検知したデータに関する情報が様々な態様で格納される。例えば、一時記憶部150には、センサ130が検知したデータの全てが格納されてもよい。この場合には、センサ130によって検知されたデータの総量が一時記憶部150の容量を超えた場合には、例えば古いデータから順に上書きされてもよい。
また、一次記憶部150には、センサ130が検知したデータに関する情報のうち、所定の条件を満たす情報等が格納されてもよい。
一例として、一時記憶部150には、センサ130が検知したデータの変化が所定の閾値等を超えて大きくなる場合に、当該データに関する情報が格納されてもよい。例えば、一時記憶部150には、センサ130が検知したデータが一定時間内に5度以上の温度の変化があったことを示す場合に、その温度の変化を示す一連のデータが格納されてもよい。
一時記憶部150には、センサ130が検知したデータが記憶装置100の非動作時に許容される環境の条件から逸脱したことを示す場合等、障害の原因となるような衝撃や温度等が加えられた場合に、当該データが格納されてもよい。例えば、記憶装置100の非動作時に許容される温度の上限が摂氏70度である場合において、センサ130が、摂氏70度を超える温度を検知したときには、一時記憶部150に当該温度に関する情報が格納される。
なお、このような場合は、記憶装置100に対して障害の原因となる可能性がある事象が発生した場合であるとみなすことができる。したがって、一時記憶部150は、当該データを異常ログとして区別して格納してもよい。
また、一時記憶部150においては、上述したデータの格納方法が組み合わせて用いられてもよい。
例えば、一時記憶部150は、上述した異常ログを格納する領域と、センサ130が検知した他のデータ等を格納する領域とに区分されてもよい。この場合には、例えば、異常ログは、一時記憶部150に上書きされないように格納される。また、センサ130が検知したその他のデータ等に関しては、所定の条件を満たす場合に限って一時記憶部150に格納されてもよい。そして、これらのデータ等は、必要に応じて上書きされてもよい。
図4に示す例では、センサ130が計測した加速度の大きさが、時系列的に全て一時記憶部150に格納されてもよい。また、この例では、センサ130が計測した加速度の結果のうち、記憶装置100の非動作時に許容される加速度の上限を超えた時点における加速度の大きさや時刻等に関する情報のみが、一時記憶部150に格納されてもよい。
なお、センサ130が検知したデータが上述した条件を満たすか否かは、解析部140にて解析される。また、一時記憶部150に格納されるデータの形式は特に限定されない。また、一時記憶部150に格納されるデータは、センサ130の種類や解析部140による解析の内容、一時記憶部150の記憶容量等に応じて適宜定められる。
一時記憶部150は、一例としてフラッシュメモリ等の不揮発性メモリで実現される。一次記憶部150に格納されたデータは、外部電源から電力が供給されている場合等に、必要に応じて読み出される。
駆動部160は、HDDの各構成要素を駆動する。例えば、駆動部160は、HDDのヘッドや、HDDのプラッタを回転させるモータ等である。駆動部160が動作することで、記憶装置100においてデータの書込みや読出しが行われる。
本実施形態では、駆動部160は、外部電源から電力が供給されている場合に、制御部110の制御に応じて動作する。駆動部160の動作は、一般的なHDDが備えるヘッドやモータ等の動作と同様である。
続いて、図2に示すフローチャートを用いて、本発明の第1の実施形態における記憶装置100の制御に関する動作を説明する。なお、以下に説明する記憶装置100の動作に際しては、バッテリ120から電力の供給が可能である状態を想定する。
最初に、制御部110は、外部電源から電力が供給されているかを検知する(ステップS101)。
ステップS101において、外部電源から電源が供給されていると検知した場合(ステップS101:Yes)には、制御部110は、記憶装置100を通常通りに動作させるように制御する。すなわち、制御部110は、必要に応じてバッテリ120からの電力の供給を停止する(ステップS103)。そして、制御部110は、センサ130及び駆動部160を動作させるように制御する(ステップS104)。この場合には、制御部110は、外部電源からセンサ130及び駆動部160へ電力が供給されるように制御する。また、制御部110は、その他の構成要素についても応じて動作させるよう、必要に応じて他の構成要素に対する電力の供給等の制御を行う。
ステップS101において、バッテリ120から電源が供給されていると判断された場合(ステップS101:No)には、制御部110は、センサ130による状態の検知が行われるように制御する。すなわち、制御部110は、バッテリ120から供給される電力を用いてセンサ130を動作させるように制御する(ステップS102)。この場合には、制御部110は、バッテリ120からセンサ130へ電力が供給されるように制御する。また、制御部110は、併せて、解析部140や一時記憶部150等、センサ130が検知した状態の解析に必要となる構成要素を動作させるように制御してもよい。この場合には、制御部110は、これらの構成要素に対してバッテリ120から電力が供給されるように制御する。
なお、制御部110は、上述した制御を必要に応じて繰り返して実行してもよい。制御部110は、例えば電源インターフェイス170の外部電源との接続の状態が変化したことを検知した場合に、上述した制御を行ってもよい。
続いて、本発明の第1の実施形態における記憶装置100のセンサ130が状態を検知する場合の検知されたデータの解析に関する動作を説明する。
センサ130は、記憶装置100やその周囲の状態を検出する(ステップS111)。続いて、解析部140は、ステップS111においてセンサ130によって検出された状態に関するデータを解析する(ステップS112)。
続いて、解析部140は、バッテリから電力が供給されているかを判定する(ステップS113)。
バッテリから電力が供給されていると判定された場合には(ステップS113:Yes)、解析部140は、ステップS112にて解析した結果を一時記憶部150に保存する。(ステップS114)。
一方、バッテリから電力が供給されていない、すなわち、外部電源から電力が供給されていると判定された場合には(ステップS113:No)、HDDの通常の動作が行われる(ステップS115)。この場合には、センサ130が検知したデータは、ステップS112と同様に、解析部140にて解析されてもよいし、制御部110や解析部160等の他の構成要素へ送られてもよい。また、解析部140にて解析された結果が制御部110や駆動部160等へ送られてもよい。制御部110や解析部160は、センサ130から送られたデータ等に基づいて、必要な制御や動作等を行う。
なお、上述したデータの解析に関する動作は、繰り返して実行されてもよい。例えば、データの解析に関する動作は、例えば一定の間隔等で実行されてもよい。この場合には、センサ130の種類等に応じて当該間隔が適宜定められる。
また、上述した動作は、予め定められた閾値を超える加速度をセンサ130が検知した場合等、記憶装置100に障害の原因となる可能性がある事象が発生した場合に実行されてもよい。
以上のとおり、本発明の第1の実施形態における記憶装置100は、バッテリ120から電力が供給されている場合に、制御部100がセンサ130を動作させるように制御する。本実施形態における記憶装置100は、外部電源が未接続で外部電源からの電力が供給されない場合であっても、バッテリ120からの電力の供給によって、制御部110によってセンサ130が動作するように制御される。このようにすることで、記憶装置100が運搬される場合等、外部電源からの電力が供給されない場合にも、センサ130は、記憶装置100に加えられた衝撃や振動、記憶装置100の周囲の温度等の状態を検知することが可能となる。
また、バッテリ120から電力が供給されている場合にセンサ130が検知した結果は、例えば一次記憶部150に格納される。一時記憶部150に格納された結果は、外部電源から電力が供給される場合等に読み出される。すなわち、外部電源が未接続である等、外部電源からの電力が供給されない場合に障害の原因となる事象が生じたか否かの確認が可能となる。
したがって、本実施形態における記憶装置100は、電力が未供給である場合に生じた故障の原因を特定することを容易にする。
以上、実施形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。また、各実施形態における構成は、本発明のスコープを逸脱しない限りにおいて、互いに組み合わせることが可能である。
本発明の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載され得るが、これに限られない。
(付記1)
状態を検知するセンサ及び駆動手段を制御可能な制御手段を備え、
前記制御手段は、バッテリによって電力供給されている場合、前記センサを動作させ、外部電源によって電力供給されている場合、前記センサ及び前記駆動手段を動作させる、
記憶装置。
(付記2)
前記センサを動作させるバッテリを備える、付記1に記載の記憶装置。
(付記3)
状態を検知するセンサを備える、付記1又は2に記載の記憶装置。
(付記4)
前記センサは温度センサである、付記3に記載の記憶装置。
(付記5)
前記センサは湿度センサである、付記3に記載の記憶装置。
(付記6)
前記センサは加速度センサである、付記3に記載の記憶装置。
(付記7)
前記センサは振動センサである、付記3に記載の記憶装置。
(付記8)
前記センサが検知した情報を解析する解析手段と、
前記センサが検知した情報を格納する一時記憶手段とを備える付記3から7のいずれか一項に記載の記憶装置。
(付記9)
前記解析手段は、前記バッテリによって電力供給される場合に、前記センサが検知した結果を示すデータを前記一時記憶手段に格納するように制御する、付記8に記載の記憶装置。
(付記10)
前記解析手段は、前記センサが検知したデータのうち、所定の条件を満たすデータに関する前記情報を前記一時記憶手段に格納するように制御する、付記9に記載の記憶装置。
(付記11)
前記制御手段は、前記外部電源によって電力供給されている場合に、前記バッテリによる電力供給を停止する、付記2から10のいずれか一項に記載の記憶装置。
(付記12)
外部電源から電力が供給されている場合には、状態を検知するセンサ及び記憶装置の駆動手段を動作させ、バッテリから電力が供給されている場合には、前記センサを動作させるように前記記憶装置を制御する制御回路を備える、
制御装置。
(付記13)
バッテリによって電力供給されている場合、センサを動作させ、外部電源によって電力供給されている場合、前記センサ及び駆動手段を動作させる、
記憶装置の制御方法。
100 記憶装置
110 制御部
120 バッテリ
130 センサ
140 解析部
150 一時記憶部
160 駆動部
170 電源インターフェイス

Claims (10)

  1. 温度を含む状態を検知するセンサ及び駆動手段を制御可能な制御手段と、
    前記センサが検知したデータを解析する解析手段と、
    前記センサが検知したデータに関する情報が格納される一時記憶手段と、を備え、
    前記制御手段は、
    バッテリによって電力供給されている場合、前記センサを動作させ、さらに前記バッテリによって前記一時記憶手段と前記解析手段を動作させ、
    外部電源によって電力供給されている場合、さらに前記駆動手段を動作させ
    前記解析手段は、
    前記センサが検知したデータのうち温度データが所定の条件を満たす場合に、前記センサが検知したデータに関する情報を前記一時記憶手段に格納する、
    記憶装置。
  2. 前記バッテリを備える、請求項1に記載の記憶装置。
  3. 温度を含む状態を検知する前記センサを備える、請求項1又は2に記載の記憶装置。
  4. 前記センサは温度センサである、請求項3に記載の記憶装置。
  5. 前記センサは加速度センサである、請求項3に記載の記憶装置。
  6. 前記解析手段は、
    前記センサが検知したデータに含まれる値が予め定められた閾値を超えた場合に異常があると解析し、前記閾値を超えた値を含む前記センサが検知したデータを異常ログとして前記一時記憶手段に格納する請求項1から5のいずれか一項に記載の記憶装置。
  7. 前記解析手段は、前記バッテリによって電力供給される場合に、前記センサが検知したデータに関する情報を前記一時記憶手段に格納するように制御する、請求項6に記載の記憶装置。
  8. 前記解析手段は、前記センサが検知した結果を示すデータのうち、所定の条件を満たすデータに関する前記情報を前記一時記憶手段に格納するように制御する、請求項7に記載の記憶装置。
  9. 前記制御手段は、前記外部電源によって電力供給されている場合に、前記バッテリによる電力供給を停止する、請求項2から8のいずれか一項に記載の記憶装置。
  10. バッテリによって電力供給される制御手段が、
    前記バッテリによって電力供給されている場合、
    温度を含む状態を検知するセンサを動作させ、さらに前記バッテリによって一時記憶手段と解析手段を動作させ、
    外部電源によって電力供給されている場合、さらに駆動手段を動作させ
    前記解析手段が、
    前記センサが検知したデータのうち温度データが所定の条件を満たす場合に、前記センサが検知したデータに関する情報を前記一時記憶手段に格納する、
    記憶装置の制御方法。
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JP2007172725A (ja) * 2005-12-21 2007-07-05 Victor Co Of Japan Ltd 撮像信号記録再生装置
JP2010123216A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Nec Corp 磁気ディスク装置
JP2014067465A (ja) * 2012-09-25 2014-04-17 Mitsubishi Electric Corp 宅内装置
JP2014106984A (ja) * 2012-11-26 2014-06-09 Hitachi Ltd 監視用記録再生装置

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