JP4500063B2 - 電子装置、予測方法および予測プログラム - Google Patents
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Description
過去に前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生した第1の閾値と、今回前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生する第2の閾値との差の絶対値が、該第2の閾値と前記境界値との差の絶対値よりも大きい場合に、故障の発生を予測することを特徴とする。
前記経年劣化する部品に通常の使用状態より高い環境負荷を与える環境負荷付与手段と、
前記環境負荷付与手段により通常の使用状態より高い環境負荷が与えられた部品の異常を検出する異常検出手段と、
前記異常検出手段により検出された異常に基づいて前記部品の故障予測を行う故障予測手段と
を備えたことを特徴とする電子装置。
前記温度設定手段を用いて部品の温度を制御する温度制御手段とを備えたことを特徴とする付記7に記載の電子装置。
前記冷却手段を用いて部品の温度を制御する温度制御手段とを備えたことを特徴とする付記7に記載の電子装置。
前記環境負荷付与手段は、前記通信処理部品が処理する通信データに他のデータを加えて該通信処理部品に温度負荷を与えることを特徴とする付記7に記載の電子装置。
前記異常検出手段は、前記ファンの回転数を監視して異常を検出することを特徴とする付記11に記載の電子装置。
前記環境負荷付与手段は、前記ハードディスクのアクセス頻度を高くすることによって該ハードディスクに高い環境負荷を与えることを特徴とする付記1に記載の電子装置。
電子装置を構成する経年劣化部品に通常の使用状態より高い環境負荷を与える環境負荷付与工程と、
前記環境負荷付与工程により通常の使用状態より高い環境負荷が与えられた経年劣化部品の異常を検出する異常検出工程と、
前記異常検出工程により検出された異常に基づいて前記経年劣化部品の故障予測を行う故障予測工程と
を含んだことを特徴とする故障予測方法。
電子装置を構成する経年劣化部品に通常の使用状態より高い環境負荷を与える環境負荷付与手順と、
前記環境負荷付与手順により通常の使用状態より高い環境負荷が与えられた経年劣化部品の異常に基づいて該部品の故障予測を行う予測手順と
を電子装置に内蔵されたコンピュータに実行させることを特徴とする故障予測プログラム。
電子装置を構成する経年劣化部品に通常の使用状態より高い環境負荷を与える環境負荷付与手順と、
前記環境負荷付与手順により通常の使用状態より高い環境負荷が与えられた経年劣化部品の異常に基づいて該部品の故障予測を行う予測手順と
を電子装置に内蔵されたコンピュータに実行させる故障予測プログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
11 装置部品
12 環境負荷付与部
13,130,230,330,430 エラー検出部
14,140,240,340,440,540 制御部
100,400 ブレードサーバ
110 ハードディスク
120 温度設定部
141,241,341 温度制御部
142,242,342,442,542 動作保証値記憶部
143,243,343,443,543 エラーデータ収集部
144,244,344,444,544 動作保証値試験部
145,245,345,445,545 動作保証外試験部
146,246,346,446,546 閾値履歴記憶部
147,247,347 温度負荷試験制御部
210 電子部品
220 冷却部
310 通信処理部品
320 試験データ付与部
350 試験データ分離部
410 メモリモジュール
420,520 可変電源部
441,541 電圧制御部
447,547 電圧負荷試験制御部
510 FAN
530 回転数監視部
600 コンピュータ
610 CPU
620 RAM
630 ROM
640 I/Oインタフェース
650 不揮発性メモリ
Claims (3)
- 経年劣化する部品を備えた電子装置であって、
前記電子装置の動作を保証する環境と動作を保証しない環境との境界値を超えた環境負荷を、前記電子装置の前記部品に与える環境負荷付与手段と、
前記環境負荷が与えられた前記部品の異常を検出する異常検出手段と、
過去に前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生した第1の閾値と、今回前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生する第2の閾値との差の絶対値が、該第2の閾値と前記境界値との差の絶対値よりも大きい場合に、故障の発生を予測する故障予測手段と
を備えたことを特徴とする電子装置。 - 経年劣化する部品を備えた電子装置が実行する予測方法であって、
前記電子装置の動作を保証する環境と動作を保証しない環境との境界値を超えた環境負荷を、前記電子装置の前記部品に与え、
前記環境負荷が与えられた前記部品の異常を検出し、
過去に前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生した第1の閾値と、今回前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生する第2の閾値との差の絶対値が、該第2の閾値と前記境界値との差の絶対値よりも大きい場合に、故障の発生を予測する、
予測方法。 - 経年劣化する部品を備えた電子装置が実行する予測プログラムであって、
前記電子装置の動作を保証する環境と動作を保証しない環境との境界値を超えた環境負荷を、前記電子装置の前記部品に与え、
前記環境負荷が与えられた前記部品の異常を検出し、
過去に前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生した第1の閾値と、今回前記環境負荷を前記部品に与えて異常が発生する第2の閾値との差の絶対値が、該第2の閾値と前記境界値との差の絶対値よりも大きい場合に、故障の発生を予測する処理を、
コンピュータに実行させる予測プログラム。
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