JP6530926B2 - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6530926B2
JP6530926B2 JP2015032301A JP2015032301A JP6530926B2 JP 6530926 B2 JP6530926 B2 JP 6530926B2 JP 2015032301 A JP2015032301 A JP 2015032301A JP 2015032301 A JP2015032301 A JP 2015032301A JP 6530926 B2 JP6530926 B2 JP 6530926B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
information
inspection
abnormality
storage area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015032301A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016153770A (ja
JP2016153770A5 (ja
Inventor
厚司 岩井
厚司 岩井
ひかり 原田
ひかり 原田
太 万木
太 万木
株本 隆司
隆司 株本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ishida Co Ltd
Original Assignee
Ishida Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2015032301A priority Critical patent/JP6530926B2/ja
Application filed by Ishida Co Ltd filed Critical Ishida Co Ltd
Priority to CN201680010347.1A priority patent/CN107250776A/zh
Priority to PCT/JP2016/053239 priority patent/WO2016132907A1/ja
Priority to US15/551,382 priority patent/US10859514B2/en
Priority to KR1020177022886A priority patent/KR101953581B1/ko
Priority to EP16752294.5A priority patent/EP3260848A4/en
Publication of JP2016153770A publication Critical patent/JP2016153770A/ja
Publication of JP2016153770A5 publication Critical patent/JP2016153770A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6530926B2 publication Critical patent/JP6530926B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/18Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/263Arrangements for using multiple switchable power supplies, e.g. battery and AC
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/26Power supply means, e.g. regulation thereof
    • G06F1/30Means for acting in the event of power-supply failure or interruption, e.g. power-supply fluctuations
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02JCIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J9/00Circuit arrangements for emergency or stand-by power supply, e.g. for emergency lighting
    • H02J9/04Circuit arrangements for emergency or stand-by power supply, e.g. for emergency lighting in which the distribution system is disconnected from the normal source and connected to a standby source
    • H02J9/06Circuit arrangements for emergency or stand-by power supply, e.g. for emergency lighting in which the distribution system is disconnected from the normal source and connected to a standby source with automatic change-over, e.g. UPS systems
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/10Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B2560/00Constructional details of operational features of apparatus; Accessories for medical measuring apparatus
    • A61B2560/02Operational features
    • A61B2560/0204Operational features of power management
    • A61B2560/0214Operational features of power management of power generation or supply
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/304Accessories, mechanical or electrical features electric circuits, signal processing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/32Accessories, mechanical or electrical features adjustments of elements during operation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/643Specific applications or type of materials object on conveyor
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02JCIRCUIT ARRANGEMENTS OR SYSTEMS FOR SUPPLYING OR DISTRIBUTING ELECTRIC POWER; SYSTEMS FOR STORING ELECTRIC ENERGY
    • H02J2310/00The network for supplying or distributing electric power characterised by its spatial reach or by the load
    • H02J2310/10The network having a local or delimited stationary reach
    • H02J2310/20The network being internal to a load
    • H02J2310/23The load being a medical device, a medical implant, or a life supporting device

Description

本発明は、X線検査装置に関する。
X線検査装置として、物品にX線を照射するX線源と、物品を透過したX線を検出するX線検出部と、を備えるものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許第4686080号公報
上述のようなX線検査装置では、通常、電源として外部電源が利用されるため、例えば外部電源が不安定な状況における一時的な停電等によって、X線検査装置の動作が影響を受けるおそれがある。そのため、無停電電源装置をX線検査装置に接続することがある。しかしながら、X線検査装置によって要される電力が大きい場合、無停電電源装置が停電時に供給する電力が大きくなるため、無停電電源装置が大型化するという問題がある。
そこで、本発明は、無停電電源装置の大型化を抑制可能なX線検査装置を提供することを目的とする。
本発明に係るX線検査装置は、物品にX線を照射するX線源と、物品を透過したX線を検出するX線検出部と、停電時に電力を供給する無停電電源装置と、を備え、無停電電源装置は、X線源に電気的に接続されていない。
このX線検査装置では、無停電電源装置は、X線源に電気的に接続されていない。これにより、X線源には、停電時においても無停電電源装置から電力が供給されることがない。したがって、停電時に無停電電源装置が供給する電力を抑制できるため、無停電電源装置の大型化を抑制することが可能となる。
本発明に係るX線検査装置では、X線検出部から出力された電気信号に基づいて物品の検査を行い、その検査に関する検査情報を記録する処理部を更に備え、無停電電源装置は、処理部に電気的に接続されていてもよい。この場合、物品の検査に関する検査情報を記録する処理部には、停電時に無停電電源装置から電力が供給される。したがって、停電時が発生したとしても、検査情報が消失することを防止することができる。
本発明に係るX線検査装置では、処理部は、検査情報のうち検査に付随する第1情報を、一時的な記憶領域である第1記憶領域に記録し、検査情報のうち検査の結果に関する第2情報を、恒久的な記憶領域である第2記憶領域に記録してもよい。この場合、検査に付随する第1情報を第1記憶領域に記録(例えばRAMに展開)することで、例えば第1記憶領域に既に記憶されている第1情報に新たな第1情報を追加することが容易となる。また、検査の結果に関する第2情報を第2記憶領域(例えばHDD)に記録することで、第2情報の記録を確実化することができる。
本発明に係るX線検査装置では、処理部は、X線源又はX線検出部に異常が発生した場合、無停電電源装置に異常が発生した場合、及び外部電源の異常として停電が発生した場合に、異常の種類と、異常の発生時におけるX線源又はX線検出部の動作状況とを関連付けて記録してもよい。この場合、異常が発生した場合に、異常の種類と、異常の発生時におけるX線源又はX線検出部の動作状況とが関連付けて記録されるため、発生した異常の種類に応じて適切に対処することができる。また、無停電電源装置が処理部に電気的に接続されているため、外部電源の停電時にも、処理部における記録の確実化を図ることができる。
本発明によれば、無停電電源装置の大型化を抑制可能なX線検査装置を提供することができる。
本発明の一実施形態のX線検査装置の斜視図である。 図1のX線検査装置の内部構成の側面図である。 図1のX線検査装置のブロック図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明において同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
[X線検査装置]
図1及び図2に示されるように、X線検査装置1は、物品への異物の混入の有無等を検査するために、物品を搬送しつつ当該物品にX線を照射して当該X線を検出する。X線検査装置1は、装置本体2と、X線遮蔽幕3と、搬送コンベア4と、を備えている。X線検査装置1では、物品Aが搬送方向aに搬送されつつ、当該物品Aへの異物の混入の有無等が検査される。
装置本体2は、箱状に形成された検査室2aを備えている。搬送方向aにおける上流側の側壁2bには、物品Aが通過する搬入口2cが設けられている。搬送方向aにおける下流側の側壁2dに、物品Aが通過する搬出口2eが設けられている。搬入口2c及び搬出口2eのそれぞれには、X線遮蔽幕3が設けられている。X線遮蔽幕3は、検査室2a外への散乱X線の漏洩を防止する。
搬送コンベア4には、一般的な平ベルトコンベアが使用されている。搬送コンベア4の両端部は、検査室2aの搬入口2c及び搬出口2eのそれぞれから突出している。搬送コンベア4は、搬送方向aの上流側の搬入コンベア(不図示)から検査前の物品Aを受け取り、搬入口2cから検査室2a内に物品Aを搬入する。そして、搬送コンベア4は、搬出口2eから検査室2a外に物品Aを搬出し、搬送方向aの下流側の搬出コンベア(不図示)に検査後の物品Aを受け渡す。なお、搬出コンベアにおいて物品Aの振分機能が備えられていてもよい。
図3に示されるように、X線検査装置1は、検査部10と、処理部20と、UPS(無停電電源装置)30と、主電源スイッチSと、を備えている。なお、以下の説明では、図3の実線矢印で示される電力の供給に係る構成要素間の電気的接続関係を「電気的に接続」と称し、図3の破線で示される電力の供給以外に係る構成要素間の電気的接続関係を「電気信号的に接続」と称する。
検査部10は、X線源11と、通信部12と、X線検出部13と、を有している。図2及び図3に示されるように、X線源11は、装置本体2内における検査室2aの上方に配置されている。X線源11は、スリット機構(図示せず)等を介してX線照射領域を形成しつつ、検査室2a内に搬入された物品AにX線を照射する。X線源11は、通信部12に電気信号的に接続されている。X線源11は、X線源11の異常が発生した場合、当該異常が発生した旨の情報を通信部12に送信する。X線源11は、X線源11の動作状況に関する情報を通信部12に送信する。
通信部12は、検査部10と処理部20との間の情報の入出力に係る通信を集約的に行うI/O基板である。通信部12は、後述の制御部22に電気信号的に接続されている。通信部12は、制御部22との間で一定周期ごと(例えば100msごと)に通信を行う。通信部12は、X線源11の異常又はX線検出部13の異常が発生した場合、当該異常が発生した旨の情報を制御部22に送信する。通信部12は、X線源11及びX線検出部13から送信されたそれぞれの動作状況に関する情報を、制御部22に送信する。
X線検出部13は、X線源11と対向するように、装置本体2内における検査室2aの下方に配置されている。X線検出部13は、搬送方向aの幅方向(搬送方向a及び鉛直方向に垂直な方向)に一列に配列された複数の画素からなるラインセンサ14を有しており、物品Aを透過したX線を検出する。X線検出部13は、処理部20(制御部22)に電気信号的に接続されている。X線検出部13は、物品AがX線照射領域を通過するときに、所定のタイミングで検出信号を取得し、当該検出信号に係る電気信号を制御部22に出力する。すなわち、検査部10は、物品Aの検査を行うための電気信号を制御部22に出力する。
X線検出部13は、通信部12に電気信号的に接続されている。X線検出部13は、X線検出部13の異常が発生した場合、当該異常が発生した旨の情報を通信部12に送信する。X線検出部13は、X線検出部13の動作状況に関する情報を通信部12に送信する。
UPS15は、バッテリー16を有しており、停電時に当該バッテリー16の電力を供給する装置である。UPS15は、後述の制御部22と電気信号的に接続されている。UPS15は、制御部22との間で一定周期ごと(例えば10sごと)に通信を行う。UPS15は、一定周期ごとに、又は制御部22からの問い合わせに応じて、UPS15の状態に関する情報を制御部22に送信する。UPS15の状態は、外部電源Eの電圧と、外部電源Eにおける停電の有無と、バッテリー16の残量と、を含む。
処理部20は、X線検出部13から受信した電気信号に基づいて物品Aの検査を行い、その検査に関する検査情報を記録する。処理部20は、モニタ21と、制御部22と、RAM[Random Access Memory](第1記憶領域)23と、HDD[Hard Disk Drive](第2記憶領域)24と、を有する。
モニタ21は、装置本体2の前面部上方に設けられている(図1参照)。モニタ21は、X線検査装置1の動作状況、物品AのX線画像、及び検査結果等が示される表示部である。モニタ21は、タッチパネル機能を有しており、入力操作のための表示を行う。入力操作は、予約設定の入力操作、検査部10の起動停止操作、及びその他の検査管理操作(パスワード設定等)を含む。予約設定は、検査開始前に又は検査中に設定される検査部10の動作状況に関する設定である。モニタ21は、制御部22に電気信号的に接続されており、上記入力操作に係る操作情報を制御部22に送信する。
検査部10の動作状況は、X線源11及びX線検出部13の動作状況を含む。X線源11の動作状況は、例えば出力するX線源11の強度(X線源11における電圧及び電流)である。X線検出部13の動作状況は、例えば検出するX線の検出強度(ラインセンサ14の出力)である。また、検査部10の動作状況は、検査部10の運転状況を含む。検査部10の運転状況は、例えば、物品Aの種類や性状(搬送方向aに沿う長さ等)、搬送コンベア4の搬送速度、X線源11における電圧及び電流の設定値、ラインセンサ14の感度、検査の基準等を含む。
制御部22は、処理部20における検査に係る処理を統合的に制御する。制御部22は、X線検出部13から出力された物品AのX線画像に係る電気信号を画像処理して、物品Aへの異物の混入等を検査する。制御部22は、RAM23を搭載すると共に、CPU[Central Processing Unit]及びROM[Read Only Memory]を搭載している。
制御部22は、物品Aの検査に関する検査情報を記録する。制御部22は、検査情報のうち検査に付随する第1情報を、一時的な記憶領域であるRAM23に記録(展開)する。制御部22は、RAM23に記録した第1情報を適宜編集することができる。制御部22は、例えば第1記憶領域に既に記憶されている第1情報に新たな第1情報を追加する編集をすることができる。
第1情報は、検査部10の動作状況を含む。また、第1情報は、操作履歴情報(操作記録)と、NG履歴情報と、集計データと、X線検査装置1の使用者と、使用日時等の情報とを含む。操作履歴情報は、モニタ21から受信した操作情報に基づいて制御部22によって作成される。操作履歴情報は、例えば検査開始、検査停止、設定の変更といった操作がされるごとに、その操作内容を追加する編集がなされて作成された時系列のリストである。NG履歴情報は、異物があったものや欠品等、検査結果に問題がある物品Aごとにその内容を追加する編集がなされて作成された時系列のリストである。集計データは、異物の有無や欠品等で分類して物品Aの個数を集計し、その内容を追加する編集がなされて作成された一定時間ごとのリストである。
制御部22は、検査情報のうち検査の結果に関する第2情報を、恒久的な記憶領域であるHDD24に記録する。制御部22は、各物品Aの検査ごとに(リアルタイムに)第2情報をHDD24に記録する。第2情報は、物品Aの検査の結果であるX線画像データ及び検査結果データを含む。検査結果データは、各物品AのX線画像データに対応する検査結果の詳細内容である。検査結果データは、例えば、検査の判定結果(異物の有無、欠品等)、検査日時等を含む。
制御部22は、X線検査装置1の運転を停止する場合、RAM23に記録していた第1情報をHDD24に記録する。また、制御部22は、異常の発生によってX線検査装置1の運転が停止するおそれがある場合、RAM23に記録していた第1情報をHDD24に記録する。制御部22は、X線検査装置1の運転を停止した後に運転を起動(再開)する場合、HDD24に記録した第1情報をRAM23に記録(展開)する。
制御部22は、X線源11又はX線検出部13に異常が発生した旨の情報を、通信部12との間の一定周期ごとの通信において通信部12から受信する。制御部22は、UPS15に異常が発生した旨の情報と、外部電源Eの異常として停電が発生した旨の情報を、UPS15との間の一定周期ごとの通信又は制御部22からの問い合わせに応じての通信において、UPS15から受信する。
[異常の種類と検査部の動作状況とを関連付けての記録]
ここで、制御部22は、X線源11又はX線検出部13に異常が発生した場合、UPS15に異常が発生した場合、及び外部電源Eの異常として停電が発生した場合に、異常の種類と、異常の発生時における検査部10(X線源11及びX線検出部13)の動作状況とを関連付けて記録する。具体的には、制御部22は、例えば、当該異常が発生した時刻をファイル名に付した単一のファイルを生成し、このファイルに異常の種類と、異常の発生時における検査部10の動作状況に係る情報とを併記することにより、これらを関連付ける。制御部22は、このファイルをHDD24に記録する。なお、制御部22は、異常の発生前においては、検査部10の動作状況に係る情報をRAM23に展開している。よって、制御部22は、異常が発生した時点でRAM23に展開していた検査部10の動作状況に係る情報を利用して、異常の発生時における検査部10の動作状況に係る情報として異常の種類と関連付けることができる。この情報は、当該異常が発生した原因を特定するために有用な情報である。
異常の種類としては、検査部10の異常、UPS15の異常、及び外部電源Eの異常としての停電等が挙げられる。検査部10の異常は、X線源11の異常と、通信部12の異常と、X線検出部13の異常、とを含む。X線源11の異常は、例えば出力するX線の強度低下である。通信部12の異常は、例えば検査部10と制御部22との間の情報の入出力に係る通信不能である。X線検出部13の異常は、例えば検出するX線の検出強度低下である。UPS15の異常は、例えば、バッテリー16の劣化やバッテリー16の充電不能である。外部電源Eの異常としての停電は、継続的に電力の供給が途絶える停電と、瞬間的に電力の供給が途絶える瞬停とを含む。
また、異常の発生時における検査部10の動作状況としては、異常の発生時において、出力するX線源11の強度(X線源11における電圧及び電流)はどの程度の強さであったか、検出するX線の検出強度はどの程度の強さであったか、どのような物品Aを対象物としていたか、搬送コンベア4の搬送速度はどの程度の速度だったか、又は、検査の基準はどのようなであったか、等が挙げられる。
[電力の供給経路]
次に、図3を参照して、X線検査装置1における電力の供給経路について説明する。主電源スイッチSは、X線検査装置1における主たる電源スイッチである。主電源スイッチSは、外部電源Eと電気的に接続されている。主電源スイッチSが閉じられている場合、主電源スイッチSは、外部電源Eから電流を流す。主電源スイッチSが開かれている場合、主電源スイッチSは、外部電源Eからの電流を遮断する。以下の説明では、主電源スイッチSは閉じられているものとする。
検査部10は、UPS15に電気的に接続されておらず、主電源スイッチSを介して外部電源Eに電気的に接続されている。つまり、UPS15は、検査部10に電力を供給するようには接続されていない。外部電源Eの停電が発生した場合、外部電源Eからの電力もUPS15からの電力も、検査部10に供給されない。したがって、X線源11には、外部電源Eの停電時においてUPS15から電力が供給されることがない。
一方、処理部20は、UPS15を介して外部電源Eと電気的に接続されている。つまり、UPS15は、処理部20に電力を供給するように接続されている。外部電源Eの停電が発生した場合、UPS15のバッテリー16からの電力が処理部20に供給される。したがって、物品Aの検査に関する検査情報を記録する処理部20には、停電時にUPS15から電力が供給される。
[作用及び効果]
X線検査装置1は、物品AにX線を照射するX線源11と、物品Aを透過したX線を検出するX線検出部13と、停電時に電力を供給するUPS15と、を備える。X線検査装置1では、UPS15がX線源11に電気的に接続されておらず、X線源11とUPS15との間には、電力を供給可能な電気的な接続が存在しない。このため、X線源11には、停電時においてもUPS15から電力が供給されることがない。したがって、停電時にUPS15が供給する電力を抑制できるため、UPS15の大型化を抑制することが可能となる。特に、X線源11によって要される電力が大きい場合には、停電時にUPS15が供給する電力を大きく抑制できるため、UPS15の大型化を有効に抑制できる。なお、停電時には、例えばX線検査装置1の設置場所の照明が消えることから、検査部10において作業をする作業者の安全性が低下するおそれがある。この点、X線検査装置1では、検査部10がUPS15に電気的に接続されていないため、作業者の安全を担保することができる。
X線検査装置1では、X線検出部13から出力された電気信号に基づいて物品Aの検査を行い、その検査に関する検査情報を記録する処理部20を更に備えている。そして、UPS15は、処理部20に電気的に接続されている。つまり、処理部20とUPS15との間には、電力を供給可能な電気的な接続が存在する。このため、物品Aの検査に関する検査情報を記録する処理部20には、停電時にUPS15から電力が供給される。したがって、停電時が発生したとしても、検査情報が消失することを防止することができる。
X線検査装置1では、処理部20は、検査情報のうち検査に付随する第1情報を、一時的な記憶領域であるRAM23に記録し、検査情報のうち検査の結果に関する第2情報を、恒久的な記憶領域であるHDD24に記録する。このように、検査に付随する第1情報をRAM23に展開(記録)することで、例えばRAM23に既に記憶されている第1情報に新たな第1情報を追加することが容易となる。また、検査の結果に関する第2情報をHDD24に記録することで、第2情報の記録を確実化することができる。なお、X線検査装置1の運転中にRAM23に記憶させた第1情報は、X線検査装置1の運転終了時にHDD24に保存されるため、検査情報のうち検査に付随する第1情報(動作記録)と検査の結果に関する第2情報との両方が恒久的に記録され、保護されることになる。
X線検査装置1では、処理部20は、X線源11又はX線検出部13に異常が発生した場合、UPS15に異常が発生した場合、及び外部電源Eの異常として停電が発生した場合に、異常の種類と、異常の発生時におけるX線源11又はX線検出部13の動作状況とを関連付けて記録する。この場合、異常が発生した場合に、異常の種類と、異常の発生時におけるX線源11又はX線検出部13の動作状況とが関連付けて記録されるため、発生した異常の種類に応じて適切に対処することができる。また、UPS15が処理部20に電気的に接続されているため、外部電源Eの停電時にも、処理部20における記録の確実化を図ることができる。
[変形例]
上記実施形態では、X線検査装置1を例に説明したが、例えば、金属検出器、近赤外線検査装置、ウェイトチェッカー(重量検査装置)、及びシールチェッカー等の他の検査装置においても、UPS15が検査部10に電気的に接続されていない構成とすることができ、UPS15が処理部20に電気的に接続されている構成とすることができる。
1…X線検査装置、2…装置本体、10…検査部、11…X線源、13…X線検出部、15…UPS(無停電電源装置)、20…処理部、A…物品、E…外部電源。

Claims (2)

  1. 物品を搬入口から検査室内に搬入し、搬出口から前記検査室外に前記物品を搬出する搬送コンベアと、
    前記検査室内に搬入された前記物品にX線を照射するX線源と、
    前記物品を透過した前記X線を検出するX線検出部と、
    前記X線検出部から出力された電気信号に基づいて前記物品の検査を行い、その検査に関する検査情報を記録する処理部と、
    外部電源の停電時に電力を供給する無停電電源装置と、を備え
    前記無停電電源装置は、前記X線源に電気的に接続されておらず、かつ前記処理部に電気的に接続されており、
    前記処理部は、
    前記検査情報のうち前記検査に付随する第1情報を、一時的な記憶領域である第1記憶領域に記録し、
    前記検査情報のうち前記検査の結果に関する第2情報を、恒久的な記憶領域である第2記憶領域に記録し、
    運転を停止する場合、前記第1記憶領域に記録していた前記第1情報を前記第2記憶領域に記録し、
    異常の発生によって運転が停止するおそれがある場合、前記第1記憶領域に記録していた前記第1情報を前記第2記憶領域に記録し、
    運転を停止した後に運転を再開する場合、前記第2記憶領域に記録した前記第1情報を前記第1記憶領域に記録する、X線検査装置。
  2. 前記処理部は、前記X線源又は前記X線検出部に異常が発生した場合、前記無停電電源装置に異常が発生した場合、及び前記外部電源の異常として停電が発生した場合に、前記異常の種類と、前記異常の発生時における前記X線源及び前記X線検出部の動作状況とを関連付けて記録する、請求項1記載のX線検査装置。
JP2015032301A 2015-02-20 2015-02-20 X線検査装置 Active JP6530926B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015032301A JP6530926B2 (ja) 2015-02-20 2015-02-20 X線検査装置
PCT/JP2016/053239 WO2016132907A1 (ja) 2015-02-20 2016-02-03 X線検査装置
US15/551,382 US10859514B2 (en) 2015-02-20 2016-02-03 X-ray inspection device
KR1020177022886A KR101953581B1 (ko) 2015-02-20 2016-02-03 X선 검사 장치
CN201680010347.1A CN107250776A (zh) 2015-02-20 2016-02-03 X射线检查装置
EP16752294.5A EP3260848A4 (en) 2015-02-20 2016-02-03 X-ray inspection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015032301A JP6530926B2 (ja) 2015-02-20 2015-02-20 X線検査装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2016153770A JP2016153770A (ja) 2016-08-25
JP2016153770A5 JP2016153770A5 (ja) 2018-03-29
JP6530926B2 true JP6530926B2 (ja) 2019-06-12

Family

ID=56692029

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015032301A Active JP6530926B2 (ja) 2015-02-20 2015-02-20 X線検査装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10859514B2 (ja)
EP (1) EP3260848A4 (ja)
JP (1) JP6530926B2 (ja)
KR (1) KR101953581B1 (ja)
CN (1) CN107250776A (ja)
WO (1) WO2016132907A1 (ja)

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4797907A (en) * 1987-08-07 1989-01-10 Diasonics Inc. Battery enhanced power generation for mobile X-ray machine
CN2167366Y (zh) 1993-05-26 1994-06-01 能源部电力建设研究所 裂缝检测仪
JP3349555B2 (ja) 1993-06-24 2002-11-25 フマキラー株式会社 発熱発泡型消臭剤組成物
JP3449555B2 (ja) 2000-11-01 2003-09-22 理学電機工業株式会社 分析装置
JP2002372505A (ja) * 2001-06-13 2002-12-26 Rigaku Industrial Co 瞬間停電保護機能付き試料分析装置
JP4686080B2 (ja) 2001-09-11 2011-05-18 株式会社イシダ X線検査装置
JP2004020297A (ja) * 2002-06-14 2004-01-22 Chubu Medical:Kk X線異物検査装置
US7482940B2 (en) * 2002-06-24 2009-01-27 Angeleye Inc. Alarm for detecting radiation and pollutants
US7514703B2 (en) * 2003-06-10 2009-04-07 Fujifilm Corporation Image information detecting cassette
JP4773049B2 (ja) 2003-10-17 2011-09-14 株式会社島津製作所 放射線撮像装置
US7916834B2 (en) 2007-02-12 2011-03-29 Thermo Niton Analyzers Llc Small spot X-ray fluorescence (XRF) analyzer
JP2009005451A (ja) * 2007-06-20 2009-01-08 Tdk Lambda Corp バックアップ給電システム
EP2169430A4 (en) 2007-07-17 2014-03-19 Shimadzu Corp POWER SOURCE DEVICE FOR DETECTOR, LIGHT OR RADIATION DETECTION SYSTEM HAVING THE DEVICE
WO2009101772A1 (ja) * 2008-02-12 2009-08-20 Ishida Co., Ltd. X線検査装置
US7852985B2 (en) * 2009-03-13 2010-12-14 General Electric Company Digital image detector with removable battery
US20130099756A1 (en) 2010-10-26 2013-04-25 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Backup power supply systems and methods
CN103220977B (zh) * 2010-11-18 2015-06-17 株式会社日立医疗器械 移动型x射线装置
WO2013140512A1 (ja) * 2012-03-19 2013-09-26 富士通株式会社 情報処理装置、誤接続検出方法、及び誤接続検出プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016153770A (ja) 2016-08-25
US10859514B2 (en) 2020-12-08
KR20170102559A (ko) 2017-09-11
US20180027640A1 (en) 2018-01-25
EP3260848A1 (en) 2017-12-27
CN107250776A (zh) 2017-10-13
KR101953581B1 (ko) 2019-03-04
WO2016132907A1 (ja) 2016-08-25
EP3260848A4 (en) 2018-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6419042B2 (ja) X線発生装置及びx線検査装置
JP6530926B2 (ja) X線検査装置
JP7011261B2 (ja) 異物検査装置
JP6510264B2 (ja) 物品検査装置
JP2004226253A (ja) X線異物検査装置
TWI572869B (zh) Electronic parts conveyor and electronic parts inspection device
WO2009101772A1 (ja) X線検査装置
JP2008304188A (ja) ランドリモニタシステム
JP6157775B1 (ja) 異物検査装置及び異物検査システム
WO2017217499A1 (ja) 異物検査装置
JP2009202237A (ja) 金属帯のトリミング異常検出方法および装置
JP3943002B2 (ja) X線検査装置および検査方法
JP3116336U (ja) X線異物検査装置
JP2009192266A (ja) X線検査装置
JP2009192267A (ja) X線検査装置
JP5887073B2 (ja) X線検査装置
JP2004138488A (ja) X線異物検出装置
JP7042166B2 (ja) 物品検査装置、物品検査システム及びプログラム
JP2010162764A (ja) 搬送装置及び画像形成装置
JP2007139802A (ja) X線検査装置
JP2004157034A (ja) 帯状被検体の検査システム及び検査プログラム
JP2009192268A (ja) X線検査装置
WO2016204269A1 (ja) 検査装置および検査システム
JP2007139803A (ja) X線検査装置
TW202346180A (zh) 隨身行李檢查裝置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180214

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180214

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181113

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190514

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190520

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6530926

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250