JP6521859B2 - レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 - Google Patents
レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6521859B2 JP6521859B2 JP2015500278A JP2015500278A JP6521859B2 JP 6521859 B2 JP6521859 B2 JP 6521859B2 JP 2015500278 A JP2015500278 A JP 2015500278A JP 2015500278 A JP2015500278 A JP 2015500278A JP 6521859 B2 JP6521859 B2 JP 6521859B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser beam
- bonding
- laser
- optical
- laser light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 223
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 16
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 79
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 114
- 239000010408 film Substances 0.000 description 46
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 37
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 18
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 17
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 16
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 14
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 14
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 8
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 5
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 4
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 4
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- XJUNRGGMKUAPAP-UHFFFAOYSA-N dioxido(dioxo)molybdenum;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Mo]([O-])(=O)=O XJUNRGGMKUAPAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000005549 size reduction Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N tellurium dioxide Chemical compound O=[Te]=O LAJZODKXOMJMPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/0988—Diaphragms, spatial filters, masks for removing or filtering a part of the beam
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/064—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
- B23K26/066—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms by using masks
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/0665—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by beam condensation on the workpiece, e.g. for focusing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/082—Scanning systems, i.e. devices involving movement of the laser beam relative to the laser head
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/083—Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction
- B23K26/0838—Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction by using an endless conveyor belt
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/083—Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction
- B23K26/0853—Devices involving movement of the workpiece in at least in two axial directions, e.g. in a plane
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29D—PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE
- B29D11/00—Producing optical elements, e.g. lenses or prisms
- B29D11/0073—Optical laminates
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0927—Systems for changing the beam intensity distribution, e.g. Gaussian to top-hat
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/133528—Polarisers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Ophthalmology & Optometry (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Description
本願は、2013年2月13日に出願された日本国特許出願2013−26096号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
(1)本発明の第一の態様に係るレーザー光照射装置は、レーザー光を放射するレーザー発振器と、前記レーザー発振器から放射された前記レーザー光を集光する集光レンズと、前記集光レンズによって集光された前記レーザー光を絞る絞り部材と、前記絞り部材によって絞られた前記レーザー光を平行化するコリメートレンズと、前記レーザー発振器と前記集光レンズとの間における前記レーザー光の光路上に配置された音響光学素子と、前記レーザー発振器から放射される前記レーザー光の立ち上がり部分および立ち下がり部分が除去されるよう、前記レーザー光が前記音響光学素子を通過するタイミングを制御する制御装置と、を含み、前記制御装置は、対象物において所定の軌跡を描くように、前記コリメートレンズによって平行化された前記レーザー光を前記対象物を保持する保持面と平行な平面内で2軸走査するスキャナーと、前記保持面を有するテーブルと前記スキャナーとを相対移動させる移動装置と、を制御し、前記軌跡における直線区間を前記レーザー光が走査するよう前記移動装置を制御し、前記軌跡において前記直線区間よりも狭い屈曲区間を前記レーザー光が走査するよう前記スキャナーを制御する。
図1は、対象物の切断装置として用いられるレーザー光照射装置100の一例を示す斜視図である。
図2に示すように、EBS130は、レーザー発振器102から放射されるレーザー光の光路上に配置された音響光学素子103と、音響光学素子103と電気的に接続された駆動ドライバ131と、レーザー光が音響光学素子103を通過するタイミングを制御する制御装置107(後述するレーザー制御部171に相当)と、を有する。
EBS130は、レーザー光の出力が安定するまでレーザー光を遮蔽する。
特に、レーザー発振器102から放射されるレーザー光の立ち下がり部分の幅(時間)がレーザー光の立ち上がり部分の幅(時間)よりも十分に短い場合には、レーザー光の立ち下がり部分を除去する実益が小さい。そのため、このような場合には、レーザー発振器102から放射されるレーザー光の立ち上がり部分のみを選択的に除去してもよい。
図3に示すように、IOR104は、EBS130から射出されたレーザー光を集光する第1集光レンズ141と、第1集光レンズ141を保持する第1保持枠142と、第1集光レンズ141によって集光されたレーザー光を絞る絞り部材143と、絞り部材143を保持する保持部材144と、絞り部材143によって絞られたレーザー光を平行化するコリメートレンズ145と、コリメートレンズ145を保持する第2保持枠146と、第1保持枠142、保持部材144及び第2保持枠146を相対移動させる移動機構147と、を有する。
スキャナー制御部172は、第1照射位置調整装置151のアクチュエータ153、第2照射位置調整装置154のアクチュエータ156の各々の駆動の制御を行う。
スライダ制御部173は、第1スライダ機構161及び第2スライダ機構162の各々が内蔵するリニアモータの作動の制御を行う。
図5に示すように、制御装置107には入力信号を入力可能な入力装置109が接続されている。入力装置109は、キーボード、マウス等の入力機器、あるいは外部の装置からのデータを入力可能な通信装置等を有する。制御装置107は、レーザー光照射装置100の各部の動作状況を示す液晶表示ディスプレイ等の表示装置を含んでいてもよいし、表示装置と接続されていてもよい。
図6(a)は、レーザー発振器102から放射されるレーザー光の制御信号を示している。
図6(b)は、レーザー発振器102から放射されたレーザー光そのものの出力特性、即ちレーザー発振器102から放射されたレーザー光が音響光学素子103を通過する前のレーザー光の出力特性を示している。
図6(c)は、音響光学素子103の制御信号を示している。
図6(d)は、レーザー発振器102から放射されたレーザー光が音響光学素子103を通過した後のレーザー光の出力特性を示している。
図6(b)、(d)の各々において、横軸は時間、縦軸はレーザー光の強度である。
図7(a)〜(d)は、図6(a)〜(d)において、レーザー光の1つのパルスに着目した図である。
尚、以下の説明では、「レーザー発振器102から放射されるレーザー光の制御信号」を「レーザー光の制御信号」と称する。「レーザー発振器102から放射されたレーザー光が音響光学素子103を通過する前のレーザー光の出力特性」を「音響光学素子103通過前のレーザー光の出力特性」と称する。「レーザー発振器102から放射されたレーザー光が音響光学素子103を通過した後のレーザー光の出力特性」を「音響光学素子103通過後のレーザー光の出力特性」と称する。
また、複数のパルスが周期的に形成されることに限らず、1つのパルスが長い幅で形成される構成であってもよい。即ち、レーザー発振器へのON信号からOFF信号まで一定の強度のレーザー光が所定の時間だけ放射される構成であってもよい。
例えば、立ち上がり部分G1の幅は45マイクロ秒であり、立ち下がり部分G2の幅は25マイクロ秒である。
例えば、パルスPs3の前側の谷の部分V1の幅をパルスPs2の立ち上がり部分G1の幅と概ね等しくしたり、パルスPs3の後側の谷の部分V2の幅をパルスPs2の立ち下がり部分の幅よりも大きくしたりする等、必要に応じて適宜調整することができる。
図8の左段の図はピンホール143hを通過する前のレーザー光の強度分布を示す図である。図8の左段上段の図は平面図である。図8の左段中段の図は斜視図である。図8の左段下段の図は横軸を位置、縦軸を強度として示す図である。
図8の右段の図はピンホール143hを通過した後のレーザー光の強度分布を示す図である。図8の右段上段の図は平面図である。図8の右段中段の図は斜視図である。図8の右段下段の図は横軸を位置、縦軸を強度として示す図である。
図9は、比較例に係るレーザー光照射装置を用いて、対象物である偏光板を切断したときの切断面の拡大図である。
ここで、比較例に係るレーザー光照射装置は、ピンホール143hを通過する前のレーザー光をそのまま用いたレーザー光照射装置、即ちIOR104を備えていないレーザー光照射装置である。
図10は、本実施形態に係るレーザー光照射装置100を用いて、対象物である偏光板を切断したときの切断面の拡大図である。
これに対し、本実施形態に係るレーザー光照射装置100によれば、第1集光レンズ141によって入射したレーザー光を集光し、ピンホール143hによって集光したレーザー光のうちビーム径の外周部を除去し、ビーム径の外周部を除去されたレーザー光をコリメートレンズ145によって平行化できる。従って、レーザー光の光路が長くなっても、カット品質を維持することができる。
以下、本発明の一実施形態に係る光学部材貼合体の製造装置であるフィルム貼合システム1について図面を参照して説明する。本実施形態に係るフィルム貼合システム1は、切断装置が上述したレーザー光照射装置100によって構成されている。
フィルム貼合システム1は、例えば液晶パネルや有機ELパネルといったパネル状の光学表示部品に、偏光フィルムや反射防止フィルム、光拡散フィルムといったフィルム状の光学部材を貼合するものである。
図11に示すように、本実施形態のフィルム貼合システム1は、図中右側の液晶パネルPの搬送方向上流側(+X方向側)から図中左側の液晶パネルPの搬送方向下流側(−X方向側)に至り、液晶パネルPを水平状態で搬送する駆動式のローラコンベア5を備えている。
パネル保持部11aによりレールR上を搬送された液晶パネルPは吸着パッド26に吸着された状態でシート片FXmと共に先端部を挟圧ロール23に挟持される。
複数のガイドローラ22bは、原反ロールR1から巻き出した光学シートFXを所定の搬送経路に沿って案内するように光学シートFXを巻きかける。
切断装置22cは、搬送経路上の光学シートFXにハーフカットを施す。
ナイフエッジ22dは、ハーフカットを施した光学シートFXを鋭角に巻きかけてセパレータF3aから貼合シートF5を分離させつつ貼合シートF5を貼合位置に供給する。
巻き取り部22eは、ナイフエッジ22dを経て単独となったセパレータF3aを巻き取るセパレータロールR2を保持する。
図15に示すように、切断装置22cは、光学シートFXが所定長さ繰り出された際、光学シートFXの長手方向と直交する幅方向の全幅にわたって、光学シートFXの厚さ方向の一部を切断するハーフカットを行う。本実施形態の切断装置22cは、光学シートFXに対してセパレータF3aとは反対側から光学シートFXに向かって進退可能に設けられている。
第1検出装置41は、例えば図16に示すように、上流側コンベア6の搬送経路上に設置された4箇所の検査領域CAにおいて第1貼合面SA1の端縁EDを検出する。各検査領域CAは、矩形形状を有する第1貼合面SA1の4つの角部に対応する位置に配置されている。端縁EDは、ライン上を搬送される液晶パネルPごとに検出される。第1検出装置41によって検出された端縁EDのデータは、図示しない記憶部に記憶される。
図17においては、便宜上、第1光学部材貼合体PA1の第1シート片F1mが貼合された側を上側とし、第1検出装置41の構成を上下反転して示している。
本実施形態の制御部40は、コンピュータシステムの外部の装置との通信を実行可能なインターフェースを含む。制御部40には、入力信号を入力可能な入力装置が接続されていてもよい。上記の入力装置は、キーボード、マウス等の入力機器、あるいはコンピュータシステムの外部の装置からのデータを入力可能な通信装置等を含む。制御部40は、フィルム貼合システム1の各部の動作状況を示す液晶表示ディスプレイ等の表示装置を含んでいてもよいし、表示装置と接続されていてもよい。
本実施形態では、貼合面の外周縁に沿って第1切断装置31,第2切断装置32の各々によるレーザーカットが行われる。
Claims (5)
- レーザー光を放射するレーザー発振器と、
前記レーザー発振器から放射された前記レーザー光を集光する集光レンズと、
前記集光レンズによって集光された前記レーザー光を絞る絞り部材と、
前記絞り部材によって絞られた前記レーザー光を平行化するコリメートレンズと、
前記レーザー発振器と前記集光レンズとの間における前記レーザー光の光路上に配置された音響光学素子と、
前記レーザー発振器から放射される前記レーザー光の立ち上がり部分および立ち下がり部分が除去されるよう、前記レーザー光が前記音響光学素子を通過するタイミングを制御する制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
対象物において所定の軌跡を描くように、前記コリメートレンズによって平行化された前記レーザー光を前記対象物を保持する保持面と平行な平面内で2軸走査するスキャナーと、前記保持面を有するテーブルと前記スキャナーとを相対移動させる移動装置と、を制御し、
前記軌跡における直線区間を前記レーザー光が走査するよう前記移動装置を制御し、
前記軌跡において前記直線区間よりも狭い屈曲区間を前記レーザー光が走査するよう前記スキャナーを制御する
レーザー光照射装置。 - 前記絞り部材は、前記集光レンズの後側焦点の近傍に配置されている請求項1に記載のレーザー光照射装置。
- 対象物を保持する保持面を有するテーブルと、
レーザー光を放射するレーザー発振器と、
前記レーザー発振器から放射された前記レーザー光を集光する第1集光レンズと、
前記第1集光レンズによって集光された前記レーザー光を絞る絞り部材と、
前記絞り部材によって絞られた前記レーザー光を平行化するコリメートレンズと、
前記コリメートレンズによって平行化された前記レーザー光を前記保持面と平行な平面内で2軸走査するスキャナーと、
前記テーブルと前記スキャナーとを相対移動させる移動装置と、
前記レーザー発振器と前記第1集光レンズとの間における前記レーザー光の光路上に配置された音響光学素子と、
前記レーザー発振器から放射される前記レーザー光の立ち上がり部分および立ち下がり部分が除去されるよう、前記レーザー光が前記音響光学素子を通過するタイミングを制御する制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
前記対象物において所定の軌跡を描くように前記移動装置と前記スキャナーとを制御し、
前記軌跡における直線区間を前記レーザー光が走査するよう前記移動装置を制御し、
前記軌跡において前記直線区間よりも狭い屈曲区間を前記レーザー光が走査するよう前記スキャナーを制御する
レーザー光照射装置。 - 前記コリメートレンズによって平行化された前記レーザー光を前記保持面に向けて集光する第2集光レンズを含む請求項3に記載のレーザー光照射装置。
- 光学表示部品に光学部材を貼合して構成される光学部材貼合体の製造装置であって、
前記光学表示部品に前記光学表示部品の外側にはみ出るサイズのシート片を貼合することによりシート片貼合体を形成する貼合装置と、
前記シート片貼合体の前記光学表示部品と前記シート片との貼合面の端縁に沿って、前記シート片貼合体から前記貼合面の外側にはみ出た部分の前記シート片を切り離し、前記貼合面に対応する大きさの前記光学部材を形成する切断装置と、を含み、
前記切断装置は、請求項1から4までのいずれか一項に記載のレーザー光照射装置によって構成され、前記レーザー光照射装置から照射されたレーザー光によって対象物である前記シート片が切断される光学部材貼合体の製造装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013026096 | 2013-02-13 | ||
JP2013026096 | 2013-02-13 | ||
PCT/JP2014/053294 WO2014126137A1 (ja) | 2013-02-13 | 2014-02-13 | レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2014126137A1 JPWO2014126137A1 (ja) | 2017-02-02 |
JP6521859B2 true JP6521859B2 (ja) | 2019-05-29 |
Family
ID=51354136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015500278A Active JP6521859B2 (ja) | 2013-02-13 | 2014-02-13 | レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6521859B2 (ja) |
KR (1) | KR102180386B1 (ja) |
CN (1) | CN105102171B (ja) |
TW (1) | TWI629132B (ja) |
WO (1) | WO2014126137A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101796198B1 (ko) * | 2015-08-31 | 2017-11-09 | 주식회사 이오테크닉스 | 레이저 가공장치 및 이를 이용한 레이저 가공방법 |
DE102015014297A1 (de) * | 2015-11-06 | 2017-05-11 | Saurer Germany Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Schneiden eines laufenden Fadens |
CN106799548B (zh) * | 2017-02-06 | 2019-04-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 保护膜、激光切割的方法 |
KR102197795B1 (ko) * | 2020-08-31 | 2021-01-04 | 주식회사 세명하이트 | 단일셀 망체필터 망체 테두리 절단장치 |
KR102197797B1 (ko) * | 2020-08-31 | 2021-01-04 | 주식회사 세명하이트 | 엇배열 복층셀 망체필터의 망체 테두리 절단장치 및 이를 이용하는 망체 테두리 절단방법 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3303309B2 (ja) * | 1991-09-27 | 2002-07-22 | 松下電器産業株式会社 | レーザ発振器 |
JPH07185862A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-07-25 | Nikon Corp | レーザ加工装置 |
US5841099A (en) * | 1994-07-18 | 1998-11-24 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method employing UV laser pulses of varied energy density to form depthwise self-limiting blind vias in multilayered targets |
JP3616866B2 (ja) * | 1997-09-19 | 2005-02-02 | 住友化学株式会社 | 光学フィルム貼合基板の製造方法 |
TW482705B (en) * | 1999-05-28 | 2002-04-11 | Electro Scient Ind Inc | Beam shaping and projection imaging with solid state UV Gaussian beam to form blind vias |
US6791060B2 (en) * | 1999-05-28 | 2004-09-14 | Electro Scientific Industries, Inc. | Beam shaping and projection imaging with solid state UV gaussian beam to form vias |
US6534743B2 (en) * | 2001-02-01 | 2003-03-18 | Electro Scientific Industries, Inc. | Resistor trimming with small uniform spot from solid-state UV laser |
GB2389555A (en) * | 2001-02-01 | 2003-12-17 | Electro Scient Ind Inc | Resistor trimming with small uniform spot from solid-state UV laser |
JP2003107452A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-04-09 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 液晶表示パネルの製造方法、液晶表示装置の製造方法、および、液晶表示装置の製造装置 |
JP2003255132A (ja) | 2002-03-05 | 2003-09-10 | Sumitomo Chem Co Ltd | 光学フィルムチップの製造方法 |
JP4467390B2 (ja) * | 2004-09-17 | 2010-05-26 | 住友重機械工業株式会社 | レーザ加工方法及びレーザ照射装置 |
JP2006259127A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 光学装置 |
ITPI20060067A1 (it) * | 2006-06-06 | 2007-12-07 | Examina Spa | Sistema per il controllo della bisellatura di un oggetto piano |
JP2008112001A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Optrex Corp | 液晶表示装置 |
JP2009072789A (ja) * | 2007-09-18 | 2009-04-09 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工装置 |
KR100848854B1 (ko) * | 2008-04-21 | 2008-07-30 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 취성기판의 스크라이빙 장치 및 그 방법 |
KR101186245B1 (ko) * | 2010-05-26 | 2012-09-27 | 한국기계연구원 | 레이저 가공 시스템 및 이를 이용한 레이저 가공 방법 |
JP2012135808A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Omron Corp | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 |
-
2014
- 2014-02-13 CN CN201480019569.0A patent/CN105102171B/zh active Active
- 2014-02-13 JP JP2015500278A patent/JP6521859B2/ja active Active
- 2014-02-13 TW TW103104690A patent/TWI629132B/zh active
- 2014-02-13 WO PCT/JP2014/053294 patent/WO2014126137A1/ja active Application Filing
- 2014-02-13 KR KR1020157024663A patent/KR102180386B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2014126137A1 (ja) | 2017-02-02 |
WO2014126137A1 (ja) | 2014-08-21 |
CN105102171A (zh) | 2015-11-25 |
KR102180386B1 (ko) | 2020-11-19 |
KR20150144313A (ko) | 2015-12-24 |
CN105102171B (zh) | 2018-01-30 |
TW201436911A (zh) | 2014-10-01 |
TWI629132B (zh) | 2018-07-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6037564B2 (ja) | 光学表示デバイスの生産システム | |
WO2014126140A1 (ja) | レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 | |
JP6521859B2 (ja) | レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 | |
JP5821155B2 (ja) | 光学表示デバイスの生産方法及び光学表示デバイスの生産システム | |
JP5840322B2 (ja) | レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 | |
TWI582491B (zh) | 光學顯示設備之生產系統及生產方法 | |
TW201927450A (zh) | 長條膜之雷射加工方法 | |
KR102207122B1 (ko) | 광학 부재 접합체의 제조 장치 및 제조 방법 | |
WO2014125993A1 (ja) | 切断装置、切断方法、および光学部材貼合体の製造装置 | |
WO2014192334A1 (ja) | 欠陥検査装置及び光学表示デバイスの生産システム | |
JP6199585B2 (ja) | レーザー光照射装置及び光学部材貼合体の製造装置 | |
JP5793821B2 (ja) | 検出装置、光学部材貼合体の製造装置及び光学部材貼合体の製造方法 | |
WO2015022850A1 (ja) | 光学部材貼合体の製造装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171010 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180410 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180706 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181127 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181221 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190409 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190423 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6521859 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |