JP6515843B2 - 表面付着物の検査装置及び検査方法 - Google Patents
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
11…測定対象面
2…検査装置
21…被覆部材
211…開口部
212…ヘッド
22…表面電位計(電位測定手段)
23…除電器(除電手段)
24…給気ポンプ(撹拌手段)
241…除塵フィルタ
242…給気配管(撹拌手段)
243…エア吹出孔(撹拌手段)
25…吸引ポンプ(吸引手段)
251…パーティクル捕集器
252…吸引配管(吸引手段)
253…エア吸引孔(吸引手段)
26…パーティクルカウンタ(検査手段)
27…X線測定器,紫外線測定器
28…コントローラ
Claims (6)
- 開口部の端縁が測定対象面に接し、前記測定対象面を被覆するカップ状の被覆部材と、
前記測定対象面の電位を測定する電位測定手段と、
前記電位測定手段により測定された電位をゼロにする又はゼロに近づけるために軟X線を前記測定対象面に照射する軟X線照射装置と、
前記被覆部材の内部の空気を撹拌する撹拌手段と、
前記被覆部材の内部の空気を吸引する吸引手段と、
前記吸引手段により吸引した空気中のパーティクルを検査する検査手段と、
前記被覆部材の開口部と前記測定対象面との接触部の近傍の外部に、前記接触部から漏洩する軟X線量を検出するX線量検出手段とを備え、
前記軟X線照射装置は、
前記被覆部材を前記測定対象面にセットした直後に、予め定められた一定の時間で軟X線を前記測定対象面に照射し、
その後、前記電位測定手段により測定された電位に応じた時間で軟X線を前記測定対象面に照射する、表面付着物の検査装置。 - 前記軟X線照射装置は、前記電位測定手段により測定された電位の絶対値が1kV以下になるまで軟X線を前記測定対象面に照射する、請求項1に記載の表面付着物の検査装置。
- 開口部の端縁が測定対象面に接し、前記測定対象面を被覆するカップ状の被覆部材と、
前記測定対象面の電位を測定する電位測定手段と、
前記電位測定手段により測定された電位をゼロにする又はゼロに近づけるために紫外線を前記測定対象面に照射する紫外線照射装置と、
前記被覆部材の内部の空気を撹拌する撹拌手段と、
前記被覆部材の内部の空気を吸引する吸引手段と、
前記吸引手段により吸引した空気中のパーティクルを検査する検査手段と、
前記被覆部材の開口部と前記測定対象面との接触部の近傍の外部に、前記接触部から漏洩する紫外線量を検出する紫外線量検出手段とを備え、
前記紫外線照射装置は、
前記被覆部材を前記測定対象面にセットした直後に、予め定められた一定の時間で紫外線を前記測定対象面に照射し、
その後、前記電位測定手段により測定された電位に応じた時間で紫外線を前記測定対象面に照射する、表面付着物の検査装置。 - 前記紫外線照射装置は、前記電位測定手段により測定された電位の絶対値が1kV以下になるまで紫外線を前記測定対象面に照射する、請求項3に記載の表面付着物の検査装置。
- カップ状の被覆部材の開口部の端縁を測定対象面に接触させ、前記測定対象面を被覆し、
前記測定対象面の電位を測定し、
前記被覆部材を前記測定対象面にセットした直後に、予め定められた一定の時間で軟X線を前記測定対象面に照射し、
その後、測定された電位に応じた時間で軟X線を前記測定対象面に照射し、前記測定対象面の電位をゼロにするか又はゼロに近づけ、
前記被覆部材の開口部と前記測定対象面との接触部から漏洩する軟X線量を検出し、
前記被覆部材の内部の空気を撹拌し、
前記被覆部材の内部の空気を吸引し、
吸引した空気中のパーティクルを検査する表面付着物の検査方法。 - カップ状の被覆部材の開口部の端縁を測定対象面に接触させ、前記測定対象面を被覆し、
前記測定対象面の電位を測定し、
前記被覆部材を前記測定対象面にセットした直後に、予め定められた一定の時間で紫外線を前記測定対象面に照射し、
その後、測定された電位に応じた時間で紫外線を前記測定対象面に照射し、前記測定対象面の電位をゼロにするか又はゼロに近づけ、
前記被覆部材の開口部と前記測定対象面との接触部から漏洩する紫外線量を検出し、
前記被覆部材の内部の空気を撹拌し、
前記被覆部材の内部の空気を吸引し、
吸引した空気中のパーティクルを検査する表面付着物の検査方法。
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