JP6511142B2 - 電圧刺激の変化を用いたナノポアベースの配列決定 - Google Patents

電圧刺激の変化を用いたナノポアベースの配列決定 Download PDF

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Description

[0001]近年の半導体産業における超小型化の進歩によって、生物工学者は、従来の大きな検知ツールをますます小さいフォームファクタに、いわゆるバイオチップ上にパッケージングすることを始められるようになった。バイオチップをより頑丈に、効率的にかつ費用効果的にするバイオチップの技術を開発することが、望ましいであろう。
[0002]本発明の各種実施形態は、以下の詳細な説明および添付の図面において開示される。
[0003]ナノポアベースの配列決定チップ内のセル100の一実施形態を示す図である。 [0004]ナノ−SBS技術を用いてヌクレオチド配列決定を実行するセル200の一実施形態を示す図である。 [0005]予め装填されたタグを用いたヌクレオチド配列決定を実行しようとしているセルの一実施形態を示す図である。 [0006]予め装填されたタグを用いた核酸配列決定のためのプロセス400の一実施形態を示す図である。 [0007]ナノポアベースの配列決定チップのセル内の回路500の一実施形態を示す図である。 [0008]ナノポアベースの配列決定チップのセル内の回路600の一実施形態を示す図であり、ナノポア全体に印加される電圧は、ナノポアが特定の検出可能な状態にある期間にわたり変化するように構成可能である。 [0009]ナノポアベースの配列決定チップのセル内の回路700の追加の実施形態を示す図であり、ナノポア全体に印加される電圧は、ナノポアが特定の検出可能な状態にある期間にわたり変化するように構成可能である。 [0010]ナノポアベースの配列決定チップのセル内の回路701の追加の実施形態を示す図であり、ナノポア全体に印加される電圧は、ナノポアが特定の検出可能な状態にある期間にわたり変化するように構成可能である。 [0011]膜内に挿入されているナノポア内の分子を分析するプロセス800の一実施形態を示す図である。 [0012]プロセス800が実行され、3回繰り返される時間に対する、ナノポア全体に印加される電圧のプロットの一実施形態を示す図である。 [0013]ナノポアが異なる状態にある時間に対する、ナノポア全体に印加される電圧のプロットの一実施形態を示す図である。
[0014]本発明は、多数の方法で実装可能であり、多数の方法は、プロセス、装置、システム、組成物、コンピュータ可読記憶媒体上で具現化されるコンピュータプログラム製品、および/または、プロセッサ、例えばプロセッサに結合されたメモリに記憶されるおよび/またはメモリによって提供される命令を実行するように構成されたプロセッサを含む。この明細書では、これらの実施態様または本発明がとり得る他の任意の形は、技術と称されることがある。一般に、開示されたプロセスのステップの順序は、本発明の範囲内で変更されてもよい。別途記載されていない限り、タスクを実行するように構成されたものとして記載されるプロセッサまたはメモリのような構成要素は、そのタスクを所定の時間に実行するように一時的に構成される一般的な構成要素またはそのタスクを実行するために製造された特定の構成要素として実装されてもよい。本明細書において、「プロセッサ」という用語は、データ、例えばコンピュータプログラム命令を処理するように構成された1つまたは複数の装置、回路および/または処理コアを意味する。
[0015]以下、本発明の1つまたは複数の実施形態の詳細な説明が、本発明の原理を示す添付の図面とともに提供される。本発明は、この種の実施形態に関連して記載されているが、本発明は、任意の実施形態に限定されるものではない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によってのみ限定され、本発明は、多数の代替物、変更物および均等物を包含する。多数の具体的な詳細は、以下の説明に記載され、本発明の完全な理解を提供する。これらの詳細は、例のために提供され、本発明は、これらの具体的な詳細の一部または全部を用いずに特許請求の範囲に従って実施され得る。明確性のために、本発明に関連する技術分野において公知である技術的な材料は、本発明が不必要に不明瞭にならないように詳述されていない。
[0016]内径が1ナノメートル程度のポアサイズを有するナノポア膜装置は、迅速なヌクレオチド配列決定において見込みを示してきた。電位が導電性流体に浸漬されたナノポア全体に印加されたとき、ナノポア全体のイオンの伝導に起因するわずかなイオン電流が観察可能である。電流の量は、ポアサイズに影響される。
[0017]ナノポアベースの配列決定チップは、DNA配列決定のために用いられてもよい。ナノポアベースの配列決定チップは、アレイとして構成される多数のセンサセルを組み込む。例えば、100万個のセルのアレイは、1000行×1000列のセルを含み得る。
[0018]図1は、ナノポアベースの配列決定チップ内のセル100の一実施形態を示す。膜102は、セルの表面にわたって形成される。いくつかの実施形態では、膜102は、脂質二重層である。可溶性タンパク質ナノポア膜貫通分子複合体(PNTMC)および対象の分析物を含むバルク電解質114は、セルの表面上に直接配置される。単一のPNTMC104は、電気穿孔法によって膜102内に挿入される。アレイ内の個々の膜は、化学的にも電気的にも互いに接続されていない。それゆえ、アレイ内の各セルは、独立した配列決定機械であり、PNTMCと結合した単一のポリマー分子に固有のデータを生成する。PNTMC104は、分析物上で作用し、そうでなければ不透過性の二重層を介してイオン電流を調節する。
[0019]図1を続けて参照すると、アナログ測定回路112は、電解質の薄膜108によって覆われた金属電極110に接続されている。電解質の薄膜108は、イオン不浸透性膜102によって、バルク電解質114から分離される。PNTMC104は、膜102を横切り、イオン電流がバルク液体から作用電極110へと流れるための唯一の経路を提供する。セルは、電気化学的電位センサである対電極(CE)116も含む。セルは、参照電極117も含む。
[0020]いくつかの実施形態では、ナノポアアレイは、合成による単分子ナノポアベースの配列決定(ナノ−SBS)技術を用いる並行配列決定を可能にする。図2は、ナノ−SBS技術を用いてヌクレオチド配列決定を実行するセル200の一実施形態を示す。ナノ−SBS技術では、配列決定されるべき鋳型202およびプライマーは、セル200に導入される。この鋳型−プライマー複合体に対して、異なってタグ付けされた4つのヌクレオチド208は、バルク水相に添加される。正しくタグ付けされたヌクレオチドがポリメラーゼ204と複合体を形成すると、タグの尾部は、ナノポア206の筒内に位置決めされる。ナノポア206の筒内に保たれるタグは、固有のイオン遮断信号210を生成し、それにより、付加された塩基を、タグの異なる化学構造により電子的に同定する。
[0021]図3は、予め装填されたタグを用いたヌクレオチド配列決定を実行しようとしているセルの一実施形態を示す。ナノポア301は、膜302内に形成される。酵素303(例えば、DNAポリメラーゼのようなポリメラーゼ)は、ナノポアと結合している。いくつかの場合では、ポリメラーゼ303は、ナノポア301に共有結合している。ポリメラーゼ303は、配列決定されるべき核酸分子304と結合している。いくつかの実施形態では、核酸分子304は環状である。いくつかの場合では、核酸分子304は線状である。いくつかの実施形態では、核酸プライマー305は、核酸分子304の一部にハイブリダイズしている。ポリメラーゼ303は、ヌクレオチド306のプライマー305上への、一本鎖核酸分子304を鋳型として用いる取り込みを触媒する。ヌクレオチド306は、タグ種(「タグ」)307を備える。
[0022]図4は、予め装填されたタグを用いた核酸配列決定のためのプロセス400の一実施形態を示す。段階Aは、図3において説明したような構成要素を示す。段階Cは、ナノポア内に装填されるタグを示す。「装填された」タグは、認識可能な長さの時間、例えば、0.1ミリ秒(ms)から10000msの間、ナノポア内に位置決めされる、および/または、ナノポア内または近くに留まるタグでもよい。いくつかの場合では、予め装填されるタグは、ヌクレオチドから放出される前に、ナノポア内に装填される。いくつかの例では、タグが、ヌクレオチド組み込み事象の際に放出された後にナノポアを通過する(および/またはナノポアにより検出される)確率が適度に高い、例えば90%から99%である場合、タグは予め装填される。
[0023]段階Aにおいて、タグ付けされたヌクレオチド(4つの異なるタイプ:A、T、GまたはCのうちの1つ)は、ポリメラーゼと結合していない。段階Bにおいて、タグ付けされたヌクレオチドは、ポリメラーゼと結合している。段階Cにおいて、ポリメラーゼは、ナノポアにドッキングする。タグは、ドッキングの間、電気的な力、例えば、膜および/またはナノポア全体に印加される電圧により生成される電場の存在下で生成される力によってナノポア内に引き込まれる。
[0024]結合したタグ付けされたヌクレオチドのいくつかは、核酸分子と塩基対合しない。これらの塩基対合しなかったヌクレオチドは、典型的には、正しく対合したヌクレオチドがポリメラーゼと結合したままである時間スケールより短い時間スケール内で、ポリメラーゼによって拒絶される。対合しなかったヌクレオチドは、一時的にのみポリメラーゼと結合するので、図4に示すプロセス400は、典型的には、段階Dを越えて進行しない。例えば、対合しなかったヌクレオチドは、段階Bにおいて、または、プロセスが段階Cに入った少し後に、ポリメラーゼによって拒絶される。
[0025]ポリメラーゼがナノポアにドッキングする前、ナノポアのコンダクタンスは、約300ピコジーメンス(300pS)である。段階Cにおいて、ナノポアのコンダクタンスは、約60pS、80pS、100pSまたは120pSであり、タグ付けされたヌクレオチドの4つのタイプのうちの1つに対応する。ポリメラーゼは、異性化およびリン酸基転移反応を経て、ヌクレオチドを成長している核酸分子内に組み込み、タグ分子を放出する。特に、タグがナノポア内に保たれるとき、固有のコンダクタンス信号(例えば、図2の信号210を参照)は、タグの異なる化学構造により生成され、それにより、付加された塩基を電子的に同定する。サイクル(すなわち、段階AからEまたは段階AからF)を繰り返すことにより、核酸分子の配列決定が可能になる。段階Dにおいて、放出されたタグは、ナノポアを通過する。
[0026]いくつかの場合では、図4の段階Fに見られるように、成長している核酸分子内に組み込まれていないタグ付けされたヌクレオチドも、ナノポアを通過することになる。組み込まれていないヌクレオチドは、いくつかの例では、ナノポアによって検出され得るが、その方法は、組み込まれたヌクレオチドと組み込まれなかったヌクレオチドとを、ヌクレオチドがナノポア内で検出される時間に少なくとも部分的に基づいて区別するための手段を提供する。組み込まれなかったヌクレオチドに結合したタグは、ナノポアを迅速に通過し、短期間(例えば、10ms未満)の間検出され、一方、組み込まれたヌクレオチドに結合したタグは、ナノポア内に装填され、長期間(例えば、少なくとも10ms)の間検出される。
[0027]図5は、ナノポアベースの配列決定チップのセル内の回路500の一実施形態を示す。上述したように、タグがナノポア502内に保たれるとき、固有のコンダクタンス信号(例えば、図2の信号210参照)は、タグの異なる化学構造により生成され、それにより、付加された塩基を電子的に同定する。図5の回路は、電流が測定されるとき、ナノポア502全体の定電圧を維持する。特に、回路は、演算増幅器504およびパスデバイス506を含み、これらによって、ナノポア502全体にわたり、定電圧をVまたはVに維持する。ナノポア502を通じて流れる電流は、コンデンサncap508に蓄積され、アナログデジタル変換器(ADC)510により測定される。
[0028]しかしながら、回路500には、多くの欠点が存在する。欠点の1つは、回路500が一方向電流のみを測定するということである。他の欠点は、回路500の演算増幅器504が多くの性能問題を導入し得るということである。例えば、演算増幅器504のオフセット電圧および温度ドリフトによって、ナノポア502全体に印加される実際の電圧が、異なるセル全体にわたり変化する場合がある。ナノポア502全体に印加される実際の電圧は、目標値の上下に数十ミリボルトもドリフトし得るので、それにより、測定が著しく不正確になる。さらに、演算増幅器のノイズによって、さらなる検出エラーが生じる場合がある。他の欠点は、電流測定の間、ナノポア全体の定電圧を維持するための回路の部分が、領域集中的(area−intensive)であるということである。例えば、演算増幅器504は、他の構成要素より著しく多くのセル内の空間を占有する。ナノポアベースの配列決定チップが、ますます多くのセルを含むために拡大されるので、演算増幅器によって占有される領域は、到達不能なサイズに増加する場合がある。残念なことに、大型のアレイを有するナノポアベースの配列決定チップ内の演算増幅器のサイズを縮小することは、他の性能問題を引き起こす可能性がある。例えば、セル内のオフセットおよびノイズの問題をさらに悪化させ得る。
[0029]図6は、ナノポアベースの配列決定チップのセル内の回路600の一実施形態を示し、ナノポア全体に印加される電圧は、ナノポアが特定の検出可能な状態にある期間を通じて変化するように構成可能である。ナノポアの可能な状態の1つは、タグが取り付けられたポリホスフェートがナノポアの筒に存在しない場合、開放チャネル状態である。ナノポアの別の4つの可能な状態は、タグが取り付けられたポリホスフェートの4つの異なるタイプ(A、T、GまたはC)がナノポアの筒内に保たれるときの状態に対応する。ナノポアのさらに別の可能な状態は、膜が断裂するときである。図7Aおよび7Bは、ナノポアベースの配列決定チップのセル内の回路(700および701)の追加の実施形態を示し、ナノポア全体に印加される電圧は、ナノポアが特定の検出可能な状態にある期間を通じて変化するように構成可能である。上述した回路では、演算増幅器は、もはや必要ではない。
[0030]図6は、膜612内に挿入されるナノポア602を示し、ナノポア602および膜612は、セル作用電極614と対電極616との間にあり、その結果、電圧は、ナノポア602全体に印加される。ナノポア602は、バルク液体/電解質618とも接触する。ナノポア602および膜612が、図1のナノポアおよび膜と比較して、上下反対に描かれていることに留意されたい。以下、セルは、少なくとも膜、ナノポア、作用セル電極および関連回路を含むことを意味する。いくつかの実施形態では、対電極は、複数のセル間で共有され、それゆえ、共通電極とも称される。共通電極は、共通の電位を、測定セル内のナノポアと接触するバルク液体に印加するように構成可能である。共通の電位および共通電極は、測定セルのすべてに共通である。共通電極とは対照的に、作用セル電極は、各測定セル内に存在し、作用セル電極614は、他の測定セル内の作用セル電極から独立して、異なる電位を印加するように構成可能である。
[0031]図7Aおよび7Bでは、膜内に挿入されるナノポアおよびナノポアを囲む液体を示す代わりに、ナノポアおよび膜の電気特性を表す電気モデル702が示される。電気モデル702は、異なる状態(例えば、開放チャネル状態またはナノポア内で異なるタイプのタグ/分子を有することに対応する状態)において、膜に関連付けられたキャパシタンスをモデル化するコンデンサ706と、ナノポアに関連付けられた抵抗をモデル化する抵抗器704と、を含む。図7Aおよび7Bでは、それぞれの回路は、オンチップで作製の余分のコンデンサ(例えば、図5のncap508)を必要とせず、それにより、ナノポアベースの配列決定チップのサイズの減少を容易にする点に留意されたい。
[0032]図8は、膜内に挿入されているナノポア内の分子を分析するプロセス800の一実施形態を示す。プロセス800は、図6、7Aまたは7Bに示される回路を用いて実行されてもよい。図9は、プロセス800が実行され、3回繰り返される時間に対する、ナノポア全体に印加される電圧のプロットの一実施形態を示す。以下で詳述するように、ナノポア全体に印加される電圧は、一定に保たれない。対照的に、ナノポア全体に印加される電圧は、時間とともに変化する。電圧減衰率(すなわち、時間に対するナノポア全体の印加電圧のプロットの傾きの程度)は、セル抵抗(例えば、図7Aの抵抗器704の抵抗)に依存する。より詳しくは、異なる状態(例えば、開放チャネル状態、ナノポア内の異なるタイプのタグ/分子を有することに対応する状態、および、膜が断裂するときの状態)のナノポアに関連付けられた抵抗が、分子「/タグ」の異なる化学構造により異なるので、異なる対応する電圧減衰率が観察され得るようになり、それゆえ、ナノポアの異なる状態を同定するために用いられてもよい。
[0033]図8および図7Aを参照し、プロセス800の802において、ナノポアを電圧源に結合することによって、電圧はナノポア全体に印加される。例えば、図7Aに示すように、スイッチS1 708が閉じられると、電圧Vpre710は、セル作用電極に印加される。図9に示すように、ナノポア全体に印加される初期電圧は、Vpre−Vliquidであり、Vliquidは、ナノポアと接触するバルク液体の電圧である。電圧源が作用電極に接続されると、膜に関連付けられたコンデンサは充電され、エネルギーは膜全体の電場に保存される。
[0034]プロセス800の804において、ナノポアおよび膜を電圧源から切り離すことによって、膜に関連付けられたコンデンサ(コンデンサ706)は放電し、これにより、膜全体の電場に保存されたエネルギーは消散する。例えば、図7Aに示すように、スイッチS1 708が開放されると、電圧源は切断される。スイッチS1 708が開放された後、図9に示すように、ナノポア全体の電圧は、指数関数的な減衰を開始する。指数関数的減衰は、RC時定数τ=RCを有し、Rは、ナノポアに関連付けられた抵抗(抵抗器704)であり、Cは、Rに並列の膜に関連付けられたキャパシタンス(コンデンサ706)である。
[0035]プロセス800の806において、ナノポア全体に印加される電圧の減衰率が決定される。図9に示すように、電圧減衰率は、時間に対するナノポア全体の印加電圧の曲線の傾きの程度である。電圧減衰率は、異なる方法で決定されてもよい。
[0036]いくつかの実施形態では、電圧減衰率は、一定の時間間隔の間に発生する電圧減衰を測定することによって決定される。例えば、図9に示すように、作用電極で印加される電圧は、最初に時間tでADC712により測定され、次に、電圧は、時間tでADC712により再び測定される。時間に対するナノポア全体の電圧曲線の傾きがより急であるとき、電圧差ΔVappliedはより大きく、電圧曲線の傾きがより緩やかなとき、電圧差ΔVappliedはより小さい。それゆえ、ΔVappliedは、ナノポア全体に印加される電圧の減衰率を決定するための測定基準として用いられてもよい。いくつかの実施形態では、電圧減衰率の測定の精度を向上させるために、電圧は、追加の回数、一定の間隔で測定されてもよい。例えば、電圧は、t、t等で測定されてもよく、複数の時間間隔の間のΔVappliedの複数の測定値は、ナノポア全体に印加される電圧の減衰率を決定するための測定基準として一緒に用いられてもよい。いくつかの実施形態では、電圧減衰率の測定の精度を向上させるために、相関二重サンプリング(CDS)を用いてもよい。
[0037]いくつかの実施形態では、電圧減衰率は、選択された電圧減衰量のために必要な持続時間を測定することによって決定される。いくつかの実施形態では、電圧が一定電圧Vから第2の一定電圧Vに降下するのに必要な時間が測定されてもよい。電圧曲線の傾きがより急であるとき、必要な時間はより少なく、電圧曲線の傾きがより緩やかなとき、必要な時間はより大きい。このように、必要な測定時間は、ナノポア全体に印加される電圧の減衰率を決定するための測定基準として用いられてもよい。
[0038]プロセス800の808において、ナノポアの状態は、決定された電圧減衰率に基づいて決定される。ナノポアの可能な状態の1つは、タグが取り付けられたポリホスフェートがナノポアの筒には存在しない開放チャネル状態である。ナノポアの他の可能な状態は、異なるタイプの分子がナノポアの筒内に保たれるときの状態に対応する。例えば、ナノポアの別の4つの可能な状態は、4つの異なるタイプのタグが取り付けられたポリホスフェート(A、T、GまたはC)がナノポアの筒内に保たれるときの状態に対応する。ナノポアのさらに別の可能な状態は、膜が断裂するときである。ナノポアの状態は、決定された電圧減衰率に基づいて決定可能である。なぜなら、電圧減衰率は、セル抵抗、すなわち、図7Aの抵抗器704の抵抗に依存するからである。より詳しくは、異なる状態のナノポアに関連付けられた抵抗が、分子/タグの異なる化学構造に起因して異なるので、異なる対応する電圧減衰率は、観察され得るようになり、それゆえ、ナノポアの異なる状態を同定するために用いられてもよい。
[0039]図10は、ナノポアが異なる状態にある時間に対する、ナノポア全体に印加される電圧のプロットの一実施形態を示す。カーブ1002は、開放チャネル状態の間の電圧減衰率を示す。いくつかの実施形態では、開放チャネル状態のナノポアに関連付けられた抵抗は、100Mohmから20Gohmまでの範囲内にある。4つの異なるタイプのタグが取り付けられたポリホスフェート(A、T、GまたはC)がナノポアの筒内に保たれるとき、カーブ1004、1006、1008および1010は、4つの捕獲状態に対応する異なる電圧減衰率を示す。いくつかの実施形態では、捕獲状態のナノポアに関連付けられた抵抗は、200Mohmから40Gohmまでの範囲内にある。プロットの各々の傾きが互いに区別可能であることに留意されたい。
[0040]プロセス800の810において、プロセス800が繰り返されるか否かが決定される。例えば、プロセスは、複数回繰り返され、ナノポアの各状態を検出するようにしてもよい。プロセスが繰り返されない場合、プロセス800は終了し、さもなければ、プロセスは、再び802において再開する。802において、電圧は、電圧源に接続することによって、ナノポア全体に再びアサートされる。例えば、図7Aに示すように、スイッチS1 708が閉じられると、電圧Vpre710は、ナノポア全体に印加される。図9に示すように、印加電圧は、Vpreのレベルまで迅速に戻る。プロセス800が複数回繰り返されるので、鋸歯状の電圧波形は、時間とともにナノポア全体に印加される。図9は、また、電圧Vpre710が再びアサートされない場合の時間に伴うRC電圧減衰を示す外挿曲線904を説明する。
[0041]上述したように、ナノポア全体に印加される電圧を、ナノポアが特定の検出可能な状態にある期間にわたって変化するように構成することは、多くの利点を有する。利点の1つは、そうでなければセル回路内にオンチップ作製される演算増幅器、パスデバイスおよび、コンデンサ(例えば、図5のncap508)をなくすことにより、ナノポアベースの配列決定チップ内の単一のセルのフットプリントを著しく減少させることであり、それにより、(例えば、ナノポアベースの配列決定チップ内の数百万ものセルを有する)ますます多くのセルを含むためにナノポアベースの配列決定チップの拡大を容易にする。ナノポアに並列させたキャパシタンスは、2つの部分、すなわち、膜に関連付けられたキャパシタンスおよび集積チップ(IC)に関連付けられたキャパシタンスを含む。膜の薄い形状のため、膜に関連付けられたキャパシタンスのみで、追加のオンチップのキャパシタンスを必要とすることなく必要なRC時定数を生み出すのに十分とすることができ、それにより、セルサイズおよびチップサイズの著しい減少を可能にする。
[0042]他の利点は、Vpreが任意の介在回路なく、作用電極に直接印加されるので、セルの回路がオフセットされた不正確性を被らないということである。他の利点は、スイッチが測定間隔の間に開閉されていないので、電荷注入量が最小化されるということである。
[0043]さらに、上述した技術は、正電圧または負電圧を用いて同じように良好に動作する。二方向測定は、分子複合体を特徴付けるのに有効なことを示した。さらに、ナノポアを通じて流されるイオン流のタイプが非ファラデー性伝導を介するとき、二方向測定が必要とされる。2つのタイプ、すなわち、ファラデー性伝導および非ファラデー性伝導のイオン流は、ナノポアを通じて流すことができる。ファラデー性伝導において、化学反応は、金属電極の表面で発生する。ファラデー電流は、電極でのいくつかの化学物質の還元または酸化によって生成される電流である。非ファラデー性伝導の利点は、化学反応が金属電極の表面で発生しないということである。
[0044]上述した実施形態は、理解の明確性のために多少詳細に記載されてきたが、本発明は、提供された詳細に限定されるものではない。本発明を実施する多くの代替の方法が存在する。開示された実施形態は、例示的であり限定的ではない。

Claims (23)

  1. ナノポアと相互作用する分子を分析する方法であって、前記ナノポアが膜内に挿入されるものであり、
    ナノポアを電圧源に結合することによって、膜内に挿入されるナノポア全体に電圧を印加するステップ、
    前記ナノポアを前記電圧源から切り離すステップ
    前記切り離すステップの後、前記ナノポア全体の前記電圧の減衰率を決定するステップ、および、
    前記ナノポア全体の前記電圧の前記決定された減衰率に基づいて、前記ナノポア内の分子を他の可能性のある分子から区別するステップ、を含む、
    前記方法。
  2. 前記切り離すステップの後の前記ナノポア全体の前記電圧の前記減衰率が、前記膜に関連付けられたキャパシタンスおよび前記ナノポアに関連付けられた抵抗に対応するRC時定数によって特徴付けられる、請求項1に記載の方法。
  3. 前記ナノポアに関連付けられた前記抵抗が、前記ナノポア内の分子の化学構造に基づいて変化する、請求項に記載の方法。
  4. 前記電圧の前記減衰率が、前記膜に関連付けられたキャパシタンスの放電に対応する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
  5. 前記ナノポア全体の前記電圧の減衰率を決定するステップが、所定の時間間隔内で前記ナノポア全体の電圧減衰を決定するステップを含む、請求項1〜4のいずれか1項に記載の方法。
  6. 時間間隔内で前記ナノポア全体の電圧減衰を決定するステップが、
    第1の電圧を測定するステップ、
    前記ナノポア全体の前記電圧が減衰し終える選択された時間を待つステップ、および、
    第2の電圧を測定するステップ、を含む、
    請求項に記載の方法。
  7. 前記ナノポア全体の前記電圧の減衰率を決定するステップが、前記ナノポア全体の前記電圧が所定の値だけ減衰する期間を決定するステップを含む、請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
  8. 前記ナノポア全体の前記電圧の前記決定された減衰率に基づいて区別可能な前記分子が、Aタグが取り付けられたポリホスフェート、TまたはUタグが取り付けられたポリホスフェート、Gタグが取り付けられたポリホスフェート、およびCタグが取り付けられたポリホスフェートを備える、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。
  9. 前記ナノポア全体の前記電圧の前記決定された減衰率に基づいて、前記ナノポアの開放チャネル状態を検出するステップをさらに含む、請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。
  10. 前記ナノポア全体の前記電圧の前記決定された減衰率に基づいて、断裂された膜を検出するステップをさらに含む、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
  11. 前記電圧源が正電圧および負電圧を時間とともに提供する、請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法。
  12. 前記分子の一部が前記ナノポア内に位置する、請求項1〜11のいずれか1項に記載の方法。
  13. 前記分子が前記ナノポアと相互作用する他の分子に結合される、請求項1〜12のいずれか1項に記載の方法。
  14. ナノポアと相互作用する分子を分析する方法であって、前記ナノポアが膜内に挿入されるものであり、
    エネルギーを膜全体の電場に保存するステップであって、ナノポアが前記膜内に挿入される前記ステップ、
    前記膜全体の前記電場に保存された前記エネルギーを消散するステップ
    前記膜全体の前記エネルギーの消散率を決定するステップ、および、
    前記膜全体の前記エネルギーの前記決定された消散率に基づいて、前記ナノポア内の分子を他の可能性のある分子から区別するステップを含む、
    前記方法。
  15. 前記膜全体の前記エネルギーの前記消散率が、前記膜に関連付けられたキャパシタンスおよび前記ナノポアに関連付けられた抵抗に対応するRC時定数によって特徴付けられる、請求項14に記載の方法。
  16. 前記ナノポアに関連付けられた前記抵抗が、前記ナノポア内の分子の化学構造に基づいて変化する、請求項15に記載の方法。
  17. 前記膜全体の前記エネルギーの前記消散率が、前記膜に関連付けられたキャパシタンスの放電に対応する、請求項14〜16のいずれか1項に記載の方法。
  18. 前記膜全体の前記エネルギーの前記消散率を決定するステップが、前記ナノポア全体の電圧の電圧減衰率を決定するステップを含む、請求項14〜17のいずれか1項に記載の方法。
  19. ナノポアと相互作用する分子を分析するための装置であって、前記ナノポアが膜内に挿入されるものであり、
    電流が流れることができるナノポアを有する二重層であって、二重層キャパシタンスを有する前記二重層、
    前記二重層に接続し、および前記二重層から切断され得る切替型の電圧源、ならびに、
    前記電圧源が切断された後、前記ナノポア全体の電圧の減衰率を測定する電圧測定回路、を備える、
    前記装置。
  20. 前記ナノポア全体の前記電圧の前記決定された減衰率に基づいて、前記ナノポア内の分子を他の可能性のある分子から区別するプロセッサをさらに備える、請求項19に記載の装置。
  21. 前記ナノポア全体の前記電圧の前記減衰率が、前記二重層キャパシタンスおよび前記ナノポアに関連付けられた抵抗に対応するRC時定数によって特徴付けられる、請求項19または20に記載の装置。
  22. 前記ナノポアに関連付けられた前記抵抗が、前記ナノポア内の分子の化学構造に基づいて変化する、請求項21に記載の装置。
  23. 前記電圧の前記減衰率が、前記二重層キャパシタンスの放電に対応する、請求項19〜22のいずれか1項に記載の装置。
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