JP6509397B2 - スライド垂直型テストソケット - Google Patents

Description

本発明は、テストソケットに関し、より詳しくは、組み立てが完了した電子部品を検査機と接続するにあたって使用されるようになされるテストソケットに関する。

半導体、ＬＣＤモジュール、イメージセンサ、カメラモジュールなどは、各部品の組み立て完了後、実装される電子部品と同一の作動信号及び電源を供給して正常動作するか否かなどを確認する品質検査を受ける。

テストソケットは、検査機の信号がＬＣＤモジュールやカメラモジュールなどに伝達可能なようにＬＣＤモジュールやカメラモジュールなどを検査機と連結する装置である。

これに関連して、韓国登録特許公報第１００６２４３号には電子モジュール検査用ソケットが開示されている。韓国登録特許公報第１００６２４３号は、検査対象物である電子モジュールが装着される装着部を形成した胴部と、胴部の一側にヒンジ連結されて回動されることで胴部の上面に接して電子モジュールを選択的に押すと共に、電子モジュールの離脱を防止するように胴部の上部をカバーする蓋部と、胴部と蓋部の一側または両側面に備えられ蓋部の閉鎖時に半自動で作動されるようにする作動部と、作動部によって蓋部の閉鎖状態を維持するようにするクリップ部と、胴部に備えられ蓋部の閉鎖時に電子モジュールに接続されるピン組立体と、ピン組立体と接続され検査装置と電気的に連結される印刷回路基板とを含むことを特徴とする。

韓国登録特許公報第１００６２４３号は、作業者が蓋部を回転させると、蓋部に設けられた部材（接続ピンブロックまたはプッシュブロック）が装着部に載せられた電子モジュールを押すことにより、テストソケットの接続ピン（以下‘接続ピン’）を電子モジュールのコネクタ（以下‘コネクタ’）に接続させる作動構造を形成する。

しかし、韓国登録特許公報第１００６２４３号は、次のような短所がある。

（１） 蓋部が電子モジュールを覆った状態で接続ピンとコネクタが接続されるため、電子モジュールと検査装置は‘電子モジュールに対する作業者の視野が遮られた状態’で電気的に連結される構造を形成する。よって、作業者は接続ピンとコネクタが正常に接続されたか否かを視覚的に確認することができない。

作業者は、電子モジュールの検査の結果、良好と判定された場合、接続ピンとコネクタが正常に接続されたものと見なすことができるが、電子モジュールの検査の結果、不良と判定された場合、不良判定が非正常接続に因るものか、または電子モジュールの欠陥に因るものかを正確に判断できず、追加確認しなければならないという困難がある。

（２） 作業者の手により蓋部が回転しながら接続ピンがコネクタに接続される作動構造を形成し、蓋部は胴部の一側を中心として略９０度の回転半径を形成する。よって、テストソケットの設置空間は、胴部の平面積と蓋部の高さに作業者の操作空間を加えた空間を占めることになる。

電子モジュールの検査工程が行われる検査室は、限定された空間内に多様な機資材が設けられる。多様な機資材は、検査作業の利便性及び効率性のために作業者の至近距離内に配置される。よって、検査室内でテストソケットの占める空間が大きいほど検査作業の利便性及び効率性が減少することになる。

（３） 蓋部が回転して接続ピンをコネクタに接続させるため、蓋部は力の方向が毎瞬間変わる曲線運動をしながら接続ピンとコネクタを接続させる外力を形成する。よって、蓋部の回転力は、（接続ピンとコネクタが完全に接続される前まで）接続ピンとコネクタの接続方向に対して傾斜した方向に接続ピンとコネクタに伝達され、接続ピンとコネクタとの接触部位には理想的な接続方向と一致しない外力による摩擦力が生じる。

結果的に、接続ピンとコネクタには摩擦力による損傷が発生することになる。特に、多数のコネクタと接続される接続ピンは摩擦力による損傷が累積するため、寿命の減少が早くなる。

これに関連して、韓国登録特許公報第７５９０８１号にはカメラモジュール検査用ソケットが開示されている。韓国登録特許公報第７５９０８１号は、検査対象物であるカメラモジュールが装着される胴部；胴部に昇降可能に結合されている作動部；作動部の垂直方向昇降を案内する昇降ガイド；作動部が下降した状態を維持するように固定するクリップ部；作動部の一側に位置しカメラモジュールのコネクタピンに接続されるピン組立体；ピン組立体と接続される印刷回路基板；印刷回路基板と検査装置を連結する連結配線；及び、作動部に備えられているレンズ圧着部；を含んでなることを特徴とする。

（４） 韓国登録特許公報第７５９０８１号は、作動部が縦方向に上昇および下降する作動構造を形成するため、上述の問題点（１）乃至（３）を部分的に解決することはできるが、レンズ圧着部が装着板の上側に位置するため、装着板に移動されるカメラモジュールがレンズ圧着部にぶつかって破損する事故が発生し、レンズ圧着部が装着板に対する作業者の視線を干渉する構造的限界を持つ。

韓国登録特許公報第１００６２４３号 (登録日：２０１０.１２.２９) 韓国登録特許公報第７５９０８１号 (登録日：２００７.０９.１０)

本発明の目的は、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされるテストソケットを提供することにある。

また、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされるテストソケットを提供することにある。

上記目的は、本発明により、電子部品が装着され、上部に下り坂の傾斜面が形成されたベース；上記ベース上で上下方向に移動可能に形成されたトップカバー；及び、上記トップカバーに摺動可能に結合され、上記トップカバーの下降時に上記電子部品を下側に加圧する加圧モジュール；を含み、上記加圧モジュールは、上記トップカバーが下降する過程で上記傾斜面によって押されて上記電子部品の上側に摺動することを特徴とするテストソケットによって達成される。

上記ベースまたは上記加圧モジュールには上記電子部品のコネクタと上下方向に接続する接続ピンが設けられるようになされることができる。

上記ベース及び上記トップカバーのうちの一方には縦シャフトが形成され、上記ベース及び上記トップカバーのうちの他方には上記縦シャフトが上下方向に移動可能に挿入されるシャフト溝が形成されるようになされることができる。

上記トップカバーと上記加圧モジュールは第１弾性部材によって連結され、上記加圧モジュールは、上記トップカバーが上昇及び下降する過程で上記第１弾性部材の回復力によって上記傾斜面に密着されるようになされることができる。

上記ベースと上記トップカバーとの間には第２弾性部材が介在し、上記トップカバーを下降させた外力を除くと、上記トップカバーは上記第２弾性部材の回復力によって上昇し、上記加圧モジュールは上記第１弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動するようになされることができる。

上記トップカバーはアクチュエータによって上下方向に移動し、上記アクチュエータが上記トップカバーを上昇させると、上記加圧モジュールは上記第１弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動するようになされることができる。

上記トップカバーにはレールが形成され、上記加圧モジュールは、上記レールに沿って摺動するスライダ；上記スライダに結合され、上記電子部品を下側に加圧するプッシュブロック；及び、上記傾斜面を転がるように上記スライダに回転可能に結合される転動部材；を含んでなることができる。

上記トップカバーと上記加圧モジュールは第１弾性部材によって連結され、上記ベースには、上記プッシュブロックが上記電子部品を下側に加圧するように上記転動部材が上記第１弾性部材の回復力によって密着された状態で転がる垂直面が上記傾斜面の下に形成されるようになされることができる。

本発明によれば、トップカバーが下降する過程で加圧モジュールが傾斜面によって押されて電子部品の上側に摺動することにより、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされるテストソケットを提供することができる。

また、アクチュエータがトップカバーを上昇させると、加圧モジュールは第１弾性部材の回復力によって電子部品から遠ざかる方向に摺動することにより、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされるテストソケットを提供することができる。

本発明の一実施例によるテストソケットの斜視図である。 図１のテストソケットの使用状態を示した斜視図である。 図１のテストソケットの分離斜視図である。 図１のテストソケットの断面図である。 図２のテストソケットの断面図である。 本発明の他の実施例によるテストソケットの斜視図である。 図６のテストソケットの断面図である。 図６のテストソケットの使用状態を示した断面図である。

以下、添付図面を参照して本発明の望ましい実施例を詳しく説明すれば次の通りである。但し、本発明の説明において、既に公知の機能或いは構成に関する説明は、本発明の要旨を明瞭にするために省略することにする。

本発明のテストソケットは、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされる。

また、本発明のテストソケットは、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされる。

図１は本発明の一実施例によるテストソケットの斜視図であり、図２は図１のテストソケットの使用状態を示した斜視図であり、図３は図１のテストソケットの分離斜視図であり、図４は図１のテストソケットの断面図であり、図５は図２のテストソケットの断面図であり、図６は本発明の他の実施例によるテストソケットの斜視図であり、図７は図６のテストソケットの断面図であり、図８は図６のテストソケットの使用状態を示した断面図である。

図１乃至図５に示されているように、本発明の一実施例によるテストソケット１０は、組み立てが完了した電子部品Ｌを検査機と接続するにあたって使用されるようになされ、ベース１００、トップカバー２００及び加圧モジュール３００を含んで構成される。

上記電子部品Ｌは、テストソケット１０に装着され検査機を通して品質検査を受けることになる半導体、ＬＣＤモジュール、イメージセンサ、カメラモジュールなどを意味する。図面には、電子部品ＬとしてＬＣＤモジュールの端部を示した。下では本発明の容易な理解のために、図面に示した状態で上下を区分して説明することにする。

図１乃至図３に示されているように、ベース１００は、電子部品Ｌが装着される構成であり、略直方体のブロック形態に形成される。ベース１００の上面には電子部品Ｌが装着される装着部１１０が形成される。

テストソケット１０は電子部品Ｌを検査機と連結するための装置であり、電子部品ＬのコネクタＣはテストソケット１０の接続ピンＰに接続される。コネクタＣは電子部品Ｌの種類及び機種別に電子部品Ｌの上側または下側に形成される。

接続ピンＰは、ベース１００または加圧モジュール３００に設けられ、電子部品ＬのコネクタＣと上下方向に接続される。下側にコネクタＣが形成された電子部品Ｌを検査するテストソケット１０は接続ピンＰがベース１００の装着部１１０に形成され、上側にコネクタが形成された電子部品を検査するテストソケットは接続ピンがプッシュブロックに形成される。

図１乃至図８には、下側にコネクタＣが形成されたＬＣＤモジュールを検査するテストソケット１０、すなわち、接続ピンＰが装着部１１０に形成されたタイプのテストソケット１０が示されている。以下では、本発明の容易な理解のために、図面に示されているタイプ（接続ピンＰが装着部１１０に形成されたタイプ）のテストソケット１０を基準に説明することにする。ベース１００の底面には回路基板ＰＣＢが結合される。接続ピンＰは回路基板ＰＣＢに連結される。

図３乃至図５に示されているように、ベース１００の上部には下り坂の傾斜面１２１が形成される。より詳しくは、ベース１００の上側には傾斜面１２１及び垂直面１２２が形成されたガイド１２０が設けられる。傾斜面１２１は装着部１１０に向かって下り坂を形成する。垂直面１２２は傾斜面１２１の下に形成される。

図１乃至図３に示されているように、ベース１００には第１レバーＬ１及び第２レバーＬ２が回転可能に形成され、トップカバー２００には第１レバーＬ１に係る係部２２０が形成される。

第１レバーＬ１はベース１００の両側面にそれぞれ回転可能に結合される。第１レバーＬ１はトーションばね（図示せず）によって係部２２０の方に回転力を有することになる。図２に示されているように、係部２２０は、トップカバー２００が下降して接続ピンＰがコネクタＣに接続されるとき、第１レバーＬ１の上端部に係ることになる。係部２２０が第１レバーＬ１に係ると、トップカバー２００の上昇が遮られて接続ピンＰとコネクタＣとの接続状態が維持される。第１レバーＬ１の下端部はベース１００の下に延びる。

図４及び図５に示されているように、第２レバーＬ２はベース１００の端部に回転可能に結合される。第２レバーＬ２の一端部は外部に突出し、第２レバーＬ２の他端部は第１レバーＬ１の他端部の下側に位置する。作業者が図５の状態で第２レバーＬ２の一端部を押すと、第２レバーＬ２の他端部が第１レバーＬ１の下端部を持ち上げて第１レバーＬ１が回転され、係部２２０が第１レバーＬ１に係った状態が解除される。第１レバーＬ１及び第２レバーＬ２は本発明の主要構成ではないため、詳しい説明は省略することにする。

図１乃至図５に示されているように、トップカバー２００は加圧モジュール３００を上下方向に移動させるための構成であり、ベース１００上で上下方向に移動可能に形成される。

ベース１００には縦シャフト１３０が形成される。詳しく図示されてはいないが、ベース１００には溝が形成され、縦シャフト１３０は溝に挿入結合される。トップカバー２００には縦シャフト１３０が上下方向に移動可能に挿入されるシャフト溝ＳＨが形成される。よって、縦シャフト１３０がシャフト溝ＳＨに挿入された状態で、トップカバー２００はベース１００上で上下方向に移動可能な状態になる。

ベース１００とトップカバー２００との間には複数の第２弾性部材Ｅ２が介在する。第２弾性部材Ｅ２は圧縮スプリングである。ベース１００及びトップカバー２００には第２弾性部材Ｅ２の上端部及び下端部が挿入される複数の装着溝ＩＨが形成される。第２弾性部材Ｅ２は装着溝ＩＨに挿入されて流動が拘束される。

図１及び図４は、第２弾性部材Ｅ２の回復力によってトップカバー２００が最大に上昇した状態を示している。ベース１００には、図１及び図４の状態でトップカバー２００の下端部が係るブロッカー１３１が結合される。トップカバー２００はブロッカー１３１の干渉によってさらに上昇できず、図１及び図４の状態を維持する。

図２及び図５は、作業者がトップカバー２００を押して（第２弾性部材Ｅ２が圧縮されながら）トップカバー２００が下降した状態を示している。図２及び図５に示されている状態からトップカバー２００を下降させた外力（作業者が押す力）を除くと、トップカバー２００は第２弾性部材Ｅ２の回復力によって図１及び図４の状態に上昇する。

図３に示されているように、トップカバー２００には（スライダ３１０が摺動する）一対のレール２１０が形成される。レール２１０は平面上で傾斜面１２１の下り坂と同一の方向に長く形成される。

図３乃至図５に示されているように、加圧モジュール３００は、トップカバー２００の下降時に電子部品Ｌを下側に加圧する構成であり、スライダ３１０、プッシュブロック３２０及び転動部材３３０を含んで構成される。

スライダ３１０はレール２１０に沿って摺動する構成であり、一対のマウント部３１１を通してレール２１０に装着される。マウント部３１１がレール２１０にそれぞれ装着されると、スライダ３１０はレール２１０の長手方向に沿った直線移動だけ可能な状態になる。

プッシュブロック３２０は、トップカバー２００の下降時に電子部品Ｌと直接接触して加圧する構成であり、スライダ３１０に結合される。より具体的には、プッシュブロック３２０は装着部１１０に向かう側のスライダ３１０の端部に結合される。プッシュブロック３２０は弾性を有するゴムやシリコーン材質からなる。

転動部材３３０は、傾斜面１２１及び垂直面１２２を転がる構成であり、円筒形に形成され、ボルトまたはピンによりスライダ３１０に回転可能に結合される。

図３乃至図５に示されているように、トップカバー２００と加圧モジュール３００は第１弾性部材Ｅ１によって連結される。第１弾性部材Ｅ１は転動部材３３０を傾斜面１２１及び垂直面１２２に密着させる構成で、圧縮スプリングであり、装着部１１０の反対側でスライダ３１０とトップカバー２００とを連結する。スライダ３１０及びトップカバー２００には第１弾性部材Ｅ１の両端部が係る孔が形成される。

図４及び図５に示されているように、第１弾性部材Ｅ１は、（回復力によってスライダ３１０を電子部品Ｌから遠ざかる方向に引っ張って）転動部材３３０を傾斜面１２１または垂直面１２２に密着させる。よって、転動部材３３０は、トップカバー２００の上昇及び下降時、傾斜面１２１または垂直面１２２に密着された状態で転がることになる。

図１及び図４の状態、すなわち、第２弾性部材Ｅ２の回復力によってトップカバー２００が最大に上昇した状態で、転動部材３３０は第１弾性部材Ｅ１の回復力によって傾斜面１２１の上端部に密着される。このとき、プッシュブロック３２０はトップカバー２００の下側に位置し、作業者は電子部品Ｌを装着部１１０に容易に装着させることができる。

以後、作業者がトップカバー２００を押すと、加圧モジュール３００はトップカバー２００が下降する過程で傾斜面１２１によって押されて電子部品Ｌの上側に摺動した後、電子部品Ｌに向かって縦方向に下降することになる。

図４で、Ｒ１は転動部材３３０が傾斜面１２１を転がるときの転動部材３３０の移動経路を示しており、Ｗ１は転動部材３３０が傾斜面１２１を転がるときのプッシュブロック３２０の移動経路を示している。転動部材３３０が傾斜面１２１を転がるとき、スライダ３１０はレール２１０に沿って移動し、転動部材３３０及びプッシュブロック３２０の移動経路は傾斜面１２１の下り坂と同一の角度を形成する。

図４で、Ｒ２は転動部材３３０が垂直面１２２を転がるときの転動部材３３０の移動経路を示しており、Ｗ２は転動部材３３０が垂直面１２２を転がるときのプッシュブロック３２０の移動経路を示している。転動部材３３０が垂直面１２２を転がるとき、スライダ３１０はレール２１０に沿って移動せず、転動部材３３０とプッシュブロック３２０は縦方向の移動経路を形成する。

プッシュブロック３２０は、移動経路Ｗ１では電子部品Ｌと離れており、移動経路Ｗ２で電子部品Ｌを下側（コネクタＣと接続ピンＰの接続方向）に加圧することになる。図５に示されている状態で、コネクタＣと接続ピンＰはプッシュブロック３２０の加圧力によって安定的な接続状態を維持することになる。

検査機によるテスト完了後、作業者が第２レバーＬ２を押すと、トップカバー２００は第２弾性部材Ｅ２の回復力によって上昇し、加圧モジュール３００は第１弾性部材Ｅ１の回復力によって電子部品Ｌから遠ざかる方向に摺動することになる。すなわち、トップカバー２００の上昇時、転動部材３３０は第１弾性部材Ｅ１の回復力によって垂直面１２２及び傾斜面１２１に密着された状態で上昇し、プッシュブロック３２０はＷ２と逆方向の移動経路に沿って上昇した後、Ｗ１と逆方向の移動経路に沿って移動し再びトップカバー２００の下側に位置することになる。（図１及び図４参照）

韓国登録特許公報第１００６２４３号は、作業者が蓋部を回転させると、蓋部に設けられた部材（接続ピンブロックまたはプッシュブロック）が装着部に載せられた電子モジュールを押すことにより、テストソケットの接続ピン（以下‘接続ピン’）を電子モジュールのコネクタ（以下‘コネクタ’）に接続させる作動構造を形成する。

しかし、韓国登録特許公報第１００６２４３号は、次のような短所がある。

（１） 蓋部が電子モジュールを覆った状態で接続ピンとコネクタが接続されるため、電子モジュールと検査装置は‘電子モジュールに対する作業者の視野が遮られた状態’で電気的に連結される構造を形成する。よって、作業者は接続ピンとコネクタが正常に接続されたか否かを視覚的に確認することができない。

作業者は、電子モジュールの検査の結果、良好と判定された場合、接続ピンとコネクタが正常に接続されたものと見なすことができるが、電子モジュールの検査の結果、不良と判定された場合、不良判定が非正常接続に因るものか、または電子モジュールの欠陥に因るものかを正確に判断できず、追加確認しなければならないという困難がある。

（２） 作業者の手により蓋部が回転しながら接続ピンがコネクタに接続される作動構造を形成し、蓋部は胴部の一側を中心として略９０度の回転半径を形成する。よって、テストソケットの設置空間は、胴部の平面積と蓋部の高さに作業者の操作空間を加えた空間を占めることになる。

電子モジュールの検査工程が行われる検査室は、限定された空間内に多様な機資材が設けられる。多様な機資材は、検査作業の利便性及び効率性のために作業者の至近距離内に配置される。よって、検査室内でテストソケットの占める空間が大きいほど検査作業の利便性及び効率性が減少することになる。

（３） 蓋部が回転して接続ピンをコネクタに接続させるため、蓋部は力の方向が毎瞬間変わる曲線運動をしながら接続ピンとコネクタを接続させる外力を形成する。よって、蓋部の回転力は、（接続ピンとコネクタが完全に接続される前まで）接続ピンとコネクタの接続方向に対して傾斜した方向に接続ピンとコネクタに伝達され、接続ピンとコネクタとの接触部位には理想的な接続方向と一致しない外力による摩擦力が生じる。

結果的に、接続ピンとコネクタには摩擦力による損傷が発生することになる。特に、多数のコネクタと接続される接続ピンは摩擦力による損傷が累積するため、寿命の減少が早くなる。

これに関連して、韓国登録特許公報第７５９０８１号にはカメラモジュール検査用ソケットが開示されている。韓国登録特許公報第７５９０８１号は、検査対象物であるカメラモジュールが装着される胴部；胴部に昇降可能に結合されている作動部；作動部の垂直方向昇降を案内する昇降ガイド；作動部が下降した状態を維持するように固定するクリップ部；作動部の一側に位置しカメラモジュールのコネクタピンに接続されるピン組立体；ピン組立体と接続される印刷回路基板；印刷回路基板と検査装置を連結する連結配線；及び、作動部に備えられているレンズ圧着部；を含んでなることを特徴とする。

（４） 韓国登録特許公報第７５９０８１号は、作動部が縦方向に上昇および下降する作動構造を形成するため、上述の問題点（１）乃至（３）を部分的に解決することはできるが、レンズ圧着部が装着板の上側に位置するため、装着板に移動されるカメラモジュールがレンズ圧着部にぶつかって破損する事故が発生し、レンズ圧着部が装着板に対する作業者の視線を干渉する構造的限界を持つ。

本発明のテストソケット１０は、トップカバー２００の下降時、加圧モジュール３００が電子部品Ｌの上側に移動した後、接続ピンＰとコネクタＣの接続方向に加圧することにより、上述のような従来技術の問題点（１）乃至（４）を解決できる。

図２に示されているように、トップカバー２００が下降した状態でもプッシュブロック３２０の下にあるコネクタＣの位置及び角度を確認することができるため、作業者は接続ピンＰとコネクタＣが正常接続しているか否かを視覚的に確認できることから、従来技術の問題点（１）を解決できる。

図４に示されているように、トップカバー２００は回転せず上下方向に移動する作動構造を形成する。トップカバー２００は垂直面１２２及び傾斜面１２１の高さ分だけ上昇することになり、垂直面１２２及び傾斜面１２１の高さはコネクタＣと接続ピンＰとの接続深さの数十倍以上に形成する必要がないため、検査室内でテストソケット１０が占める高さを低くできることから、従来技術の問題点（２）を解決できる。

そして、プッシュブロック３２０は、移動経路Ｗ１では電子部品Ｌと離れており、移動経路Ｗ２で電子部品Ｌを下側（コネクタＣと接続ピンＰの接続方向）に加圧することになるため、従来技術の問題点（３）を解決できる。

また、プッシュブロック３２０は、トップカバー２００の上昇時、装着部１１０の上側から離れたトップカバー２００の下に移動するため、従来技術の問題点（４）を解決できる。

図６乃至図８に示されているように、本発明の他の実施例によるテストソケット２０は、トップカバー２００をアクチュエータＡによって上下方向に移動させるようになされ、ベース１００、トップカバー２００及び加圧モジュール３００を含んで構成される。

図６に示されているように、ベース１００は、電子部品Ｌが装着される構成であり、略直方体のブロック形態に形成される。ベース１００の上面には電子部品Ｌが装着される装着部１１０が形成される。

図６乃至図８に示されているように、ベース１００の上側には下り坂の傾斜面１２１が形成されたガイド１２０が設けられる。傾斜面１２１は装着部１１０に向かって下り坂を形成する。ガイド１２０には傾斜面１２１の下に垂直面１２２が形成される。

トップカバー２００は、アクチュエータＡによってベース１００上で上下方向に移動可能に形成される。図７及び図８に示されているように、アクチュエータＡは空圧シリンダが使用される。アクチュエータＡは電気や油圧を用いるタイプが使用されてもよい。

アクチュエータＡの本体Ａ１はベースの下端部に結合され、アクチュエータＡのロッドＡ２はベース１００に形成された孔を通過してトップカバー２００の方に延びる。ロッドＡ２はボルトによってトップカバー２００に結合される。未説明のＢＨはボルトが挿入されるホールを意味する。

トップカバー２００には縦シャフト２３０が形成される。詳しく図示されてはいないが、トップカバー２００には溝が形成され、縦シャフト２３０は溝に挿入結合される。ベース１００には縦シャフト２３０が上下方向に移動可能に挿入されるホールが形成される。よって、縦シャフト２３０がホールに挿入された状態で、トップカバー２００はベース１００上で上下方向に移動可能な状態になる。

図６及び図７はアクチュエータＡによってトップカバー２００が上昇した状態を示しており、図８はアクチュエータＡによってトップカバー２００が下降して接続ピンＰとコネクタＣが接続された状態を示している。

図７及び図８を参照すると、トップカバー２００には（スライダ３１０が摺動する）一対のレール２１０が形成される。一対のレール２１０は平面上で傾斜面１２１の下り坂と同一の方向に長く形成される。

図６乃至図８に示されているように、加圧モジュール３００は、トップカバー２００の下降時、電子部品Ｌを下側に加圧する構成であり、スライダ３１０、プッシュブロック３２０及び転動部材３３０を含んで構成される。

スライダ３１０は、レール２１０に沿って摺動する構成であり、一対のマウント部３１１を通してレール２１０に装着される。マウント部３１１がレール２１０にそれぞれ装着されると、スライダ３１０はレール２１０の長手方向に沿った直線移動だけ可能な状態になる。

プッシュブロック３２０は、トップカバー２００の下降時、電子部品Ｌと直接接触して加圧する構成であり、スライダ３１０に結合される。より具体的には、プッシュブロック３２０は、装着部１１０に向かう側のスライダ３１０の端部に結合される。プッシュブロック３２０は弾性を有するゴムやシリコーン材質からなる。

転動部材３３０は、傾斜面１２１及び垂直面１２２を転がる構成であり、円筒形に形成され、ボルトまたはピンによってスライダ３１０に回転可能に結合される。

図７及び図８に示されているように、トップカバー２００と加圧モジュール３００は第１弾性部材Ｅ１によって連結される。第１弾性部材Ｅ１は、転動部材３３０を傾斜面１２１及び垂直面１２２に密着させる回復力を形成する構成で、圧縮スプリングであり、装着部１１０の反対側においてスライダ３１０とトップカバー２００とを連結する。スライダ３１０及びトップカバー２００には第１弾性部材Ｅ１の両端部が係る孔が形成される。

図４及び図５に示されているように、第１弾性部材Ｅ１は、（スライダ３１０を回復力によって電子部品Ｌから遠ざかる方向に引っ張って）転動部材３３０を傾斜面１２１または垂直面１２２に密着させる。トップカバー２００の上昇及び下降時、転動部材３３０は傾斜面１２１または垂直面１２２に密着された状態で転がることになる。

図６及び図７の状態、すなわち、アクチュエータＡによってトップカバー２００が最大に上昇した状態で、転動部材３３０は第１弾性部材Ｅ１の回復力によって傾斜面１２１の上端部に密着される。このとき、プッシュブロック３２０はトップカバー２００の下側に位置し、作業者は電子部品Ｌを装着部１１０に容易に装着させることができる。

図８に示されているように、トップカバー２００がアクチュエータＡによって下降すると、加圧モジュール３００はトップカバー２００が下降する過程で傾斜面１２１によって押されて電子部品Ｌの上側に摺動し縦方向に下降することになる。

プッシュブロック３２０は、転動部材３３０が傾斜面１２１を転がるとき、電子部品Ｌと離れており、転動部材３３０が垂直面１２２を転がるとき、電子部品Ｌを下側（コネクタＣと接続ピンＰの接続方向）に加圧することになる。図８に示されている状態でコネクタＣと接続ピンＰはプッシュブロック３２０の加圧力によって安定的な接続状態を維持することになる。

検査機によるテスト完了後、トップカバー２００はアクチュエータＡによって自動で上昇する。加圧モジュール３００は、トップカバー２００の上昇時、第１弾性部材Ｅ１の回復力によって電子部品Ｌから遠ざかる方向に摺動することになる。

トップカバー２００をアクチュエータＡによって上昇または下降させると、トップカバー２００の速度を一定に制御できることからコネクタＣと接続ピンＰをより安定的に接続させることができ、作業者が手でトップカバー２００などを押す必要がないため検査室内でテストソケット２０の占める高さを最小限に低めることができるという利点がある。

本発明によれば、トップカバーが下降する過程で加圧モジュールが傾斜面によって押されて電子部品の上側に摺動することにより、検査途中に電子モジュールに対する作業者の視野が確保され、ソケットの設置空間の高さが縮小され、接続ピンとコネクタが理想的な接続方向で接続されるようになされるテストソケットを提供することができる。

また、アクチュエータがトップカバーを上昇させると、加圧モジュールは第１弾性部材の回復力によって電子部品から遠ざかる方向に摺動することにより、接続ピンとコネクタとの接続を作業者の手作業ではなく機械力による自動接続構造で具現するようになされるテストソケットを提供することができる。

先に本発明の特定の実施例が説明及び図示されているが、本発明は記載の実施例に限定されるものではなく、本発明の思想及び範囲を逸脱しない範囲で多様な修正及び変形が可能であることは、本技術の分野における通常の知識を有する者にとって自明なことである。従って、かかる修正例または変形例は本発明の技術的思想や観点から個別的に理解されてはならず、変形された実施例は本発明の特許請求の範囲に属するものとされなければならない。

１０、２０：テストソケット
１００：ベース
１１０：装着部
Ｐ：接続ピン
１２０：ガイド
１２１：傾斜面
１２２：垂直面
１３０：縦シャフト
１３１：ブロッカー
ＩＨ：装着溝
Ｅ２：第２弾性部材
Ｌ１：第１レバー
Ｌ２：第２レバー
Ａ：アクチュエータ
２００：トップカバー
２１０：レール
２２０：係部
２３０：縦シャフト
ＳＨ：シャフト溝
Ｅ１：第１弾性部材
ＢＨ：ボルトホール
３００：加圧モジュール
３１０：スライダ
３１１：マウント部
３２０：プッシュブロック
３３０：転動部材

Claims (8)

1. 電子部品が装着され、上部に下り坂の傾斜面が形成されたベース；
   上記ベース上で上下方向に移動可能に形成されたトップカバー；及び、
   上記トップカバーに摺動可能に結合され、上記トップカバーの下降時に上記電子部品を下側に加圧する加圧モジュール；を含み、
   上記加圧モジュールは、上記トップカバーが下降する過程で上記傾斜面によって押されて上記電子部品の上側に摺動することを特徴とするテストソケット。
2. 上記ベースまたは上記加圧モジュールには上記電子部品のコネクタと上下方向に接続する接続ピンが設けられたことを特徴とする請求項１に記載のテストソケット。
3. 上記ベース及び上記トップカバーのうちの一方には縦シャフトが形成され、
   上記ベース及び上記トップカバーのうちの他方には上記縦シャフトが上下方向に移動可能に挿入されるシャフト溝が形成されたことを特徴とする請求項１に記載のテストソケット。
4. 上記トップカバーと上記加圧モジュールは第１弾性部材によって連結され、
   上記加圧モジュールは、上記トップカバーが上昇及び下降する過程で上記第１弾性部材の回復力によって上記傾斜面に密着されることを特徴とする請求項３に記載のテストソケット。
5. 上記ベースと上記トップカバーとの間には第２弾性部材が介在し、
   上記トップカバーを下降させた外力を除くと、上記トップカバーは上記第２弾性部材の回復力によって上昇し、上記加圧モジュールは上記第１弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動することを特徴とする請求項４に記載のテストソケット。
6. 上記トップカバーはアクチュエータによって上下方向に移動し、
   上記アクチュエータが上記トップカバーを上昇させると、上記加圧モジュールは上記第１弾性部材の回復力によって上記電子部品から遠ざかる方向に摺動することを特徴とする請求項４に記載のテストソケット。
7. 上記トップカバーにはレールが形成され、
   上記加圧モジュールは、
   上記レールに沿って摺動するスライダ；
   上記スライダに結合され、上記電子部品を下側に加圧するプッシュブロック；及び、
   上記傾斜面を転がるように上記スライダに回転可能に結合される転動部材；を含むことを特徴とする請求項１に記載のテストソケット。
8. 上記トップカバーと上記加圧モジュールは第１弾性部材によって連結され、
   上記ベースには、上記プッシュブロックが上記電子部品を下側に加圧するように上記転動部材が上記第１弾性部材の回復力によって密着された状態で転がる垂直面が上記傾斜面の下に形成されることを特徴とする請求項７に記載のテストソケット。

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