JP6495030B2 - ウエハ状の物品を処理する方法および装置 - Google Patents

ウエハ状の物品を処理する方法および装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6495030B2
JP6495030B2 JP2015021801A JP2015021801A JP6495030B2 JP 6495030 B2 JP6495030 B2 JP 6495030B2 JP 2015021801 A JP2015021801 A JP 2015021801A JP 2015021801 A JP2015021801 A JP 2015021801A JP 6495030 B2 JP6495030 B2 JP 6495030B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exhaust gas
recovery body
gas conduit
conduit
recovery
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015021801A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015179823A5 (ja
JP2015179823A (ja
Inventor
ラインホルト・シュヴァルツェンバッハー
クリスチャン・プッツィ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lam Research AG
Original Assignee
Lam Research AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lam Research AG filed Critical Lam Research AG
Publication of JP2015179823A publication Critical patent/JP2015179823A/ja
Publication of JP2015179823A5 publication Critical patent/JP2015179823A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6495030B2 publication Critical patent/JP6495030B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/6719Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the processing chambers, e.g. modular processing chambers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Weting (AREA)

Description

本発明は、半導体ウエハ、平面パネルディスプレイ、若しくは光ディスクなどのウエハ状の物品を処理する装置および方法に関する。
半導体ウエハは、エッチング、洗浄、研磨、材料堆積などの様々な表面処理工程の対象となる。このような工程に対応するため、例えば米国特許第4,903,717号および第5,513,668号に記載されるように、単一のウエハは、回転可能なキャリアと結合されたチャックによって1つ以上の処理流体ノズルに対して支持されてよい。
米国特許第4,903,717号には、液体回収体の内部からガスを回収する複数の液体回収レベルおよび共通排気管を有する周囲液体回収体に対して、スピンチャックが上下してよいことが開示されている。
米国特許第7,837,803号には、改良された液体および気体回収体において、各レベルで設けられた弁によって、各レベルの排気が個別に制御されてよいことが開示されている。しかし、ウエハ状の物品上で実施される特定の工程によっては、その特許の弁は化学侵食性煙と接触するであろう。そのような状況下で、そのような弁を正常動作できる状態に維持することは難しいかもしれない。
従って、蒸気交差汚染を防ぐために、様々な媒体(例えば、酸、塩基、有機物)からの煙が、共通処理チャンバに混ざり合うことをより良く防ぐことができる回収体構造が必要である。そのような交差汚染は、精巧な処理装置の上に結晶性固体が堆積することになるだけでなく、様々な安全上の問題も引き起こしうる。
そのため、一態様における本発明は、ウエハ状の物品を保持し、回転軸を中心に回転させるスピンチャックと、ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に流体を供給する少なくとも1つのディスペンサとを備える、ウエハ状の物品を処理する装置に関連する。回収体は、処理流体を回収するスピンチャックを囲み、異なる回収体レベルで流体を個別に回収するための少なくとも2つの回収体レベルを有する。各少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備える。少なくとも1つの排出ガス導管は、排出ガス導管を回収体の外の周囲環境に開きながら、またその逆も同様にして、その結合された排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限する弁機構を備える。本明細書で用いられる「流体」は液体を含意するものであるが、そのような液体は気泡(例えば、泡の性質上2相混合物として)を含んでよく、2つ以上の混和性または非混和性の液体混合物、浮遊固体を含む液体、またはそれらの任意の混合物であってよい。
本発明による装置の好ましい実施形態では、排気導管の1つは、排出ガスを排気導管から別の排気導管に送るよう動作可能なバイパス弁を備える。
本発明による装置の好ましい実施形態では、弁機構は、排気導管が外側環境に対して密封されながら、その結合された排気導管からの排出ガスが通過できるチャンバ位置と、排気導管が弁機構の上流の排出ガスを閉じ込めるように密封されながら、回収体の外の周囲大気が通過できる周囲位置との間で移動可能なフラップ弁を備える。
本発明による装置の好ましい実施形態では、回収体は少なくとも3つの回収体レベルを備え、少なくとも2つの回収体レベルの排気導管はそれぞれ、対応する弁機構を備える。
本発明による装置の好ましい実施形態では、排気導管の1つは、排出ガスを排気導管の1つから2つ目の排気導管に送るよう動作可能な第1のバイパス弁と、排出ガスを排気導管の1つから3つ目の排気導管に送るよう動作可能な第2のバイパス弁とを備える。
本発明による装置の好ましい実施形態では、制御装置は弁機構を動作させるために備えられ、弁機構は、回収体に対して1つの回収体レベルから別の回収体レベルに移動するスピンチャックに応じて動作する。
本発明による装置の好ましい実施形態では、回収体レベルはスピンチャックの回転軸に沿って垂直に重ねられる。
本発明による装置の好ましい実施形態では、回収体は3つの回収体レベルを備え、3つの回収体レベルのうち最も上のレベルの排気導管は、排出ガスを排気導管から3つの回収体レベルのうち最も下のレベルの排気導管に迂回させるよう動作可能な第1のバイパス弁と、排出ガスを排気導管から3つの回収体レベルのうち真ん中のレベルの排気導管に迂回させるよう動作可能な第2のバイパス弁と、第1および第2のバイパス弁の下流にある最も上の回収体レベルの排気導管に配置される弁機構とを備える。
本発明による装置の好ましい実施形態では、回収体は3つの回収体レベルを備え、各対応する排気導管はそれぞれの弁機構を備える。
本発明による装置の好ましい実施形態では、弁機構は、その結合された排気導管における弁機構の動作が、少なくとも2つの回収体レベルの他のものにおいて20Pa未満の気圧変動を引き起こすように動作可能である。
本発明による装置の好ましい実施形態では、回収体は3つの回収体レベルを備え、各対応する排気導管はそれぞれの弁機構を備える。
本発明による装置の好ましい実施形態では、排出ガス導管の少なくとも1つはさらに、弁機構の上流に配置されたバイパス弁を備え、バイパス弁は、排出ガスをその排気導管から別の排気導管に送るよう動作可能である。
本発明による装置の好ましい実施形態では、バイパス弁の下流の位置で少なくとも1つのガス導管を外側環境に開きながら、チャンバ排気路に対して少なくとも1つの排気導管を密封するために弁機構を動作させると同時に、バイパス弁が排出ガスを少なくとも1つの導管から別の導管に迂回させるよう動作するように、弁機構およびバイパス弁は制御装置によって操作される。
別の態様では、本発明は、ウエハ状の物品を保持してスピンチャック上で回転軸を中心に回転させる工程と、ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に第1の流体を供給する工程とを含む、ウエハ状の物品を処理する方法に関する。処理流体は、スピンチャックを囲む回収体の少なくとも2つの処理レベルで個別に回収される。各少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備える。少なくとも1つの排出ガス導管と結合した弁機構は、その排出ガス導管を回収体の外の周囲環境に開きながら、またその逆も同様にして、その結合した排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限するように動作する。
本発明による方法の好ましい実施形態では、排気導管の1つに取り付けられたバイパス弁は、排出ガスをその排気導管から別の排気導管に送るために動作する。
本発明による方法の好ましい実施形態では、弁機構は、排気導管が外側環境に対して密封されながら、その結合された排気導管からの排出ガスが通過できるチャンバ位置と、排気導管が弁機構の上流の排出ガスを閉じ込めるよう密封されながら、回収体の外の周囲大気が通過できる周囲位置との間で、フラップ弁を移動できるよう動作する。
本発明による方法の好ましい実施形態では、弁機構は、その結合された排気導管における弁機構の動作が、少なくとも2つの回収体レベルの他のものにおいて20Pa未満の気圧変動を引き起こすように動作する。
本発明による方法の好ましい実施形態では、それぞれ異なる成分を有するプロセスガス類は、それぞれの排気導管を通じてそれぞれ排気される。
本発明による方法の好ましい実施形態では、第1の流体と異なる化学成分の第2の流体がウエハ上に施され、第1の処理流体によって生成されたガスが回収される排気導管とは異なる排気導管を通じて第2の処理流体から生成されたガスを回収する。
本発明による方法の好ましい実施形態では、排出ガスは、共通排気ユニットによって少なくとも2つの別体の回収体から同時に回収される。
本発明の他の目的、特徴および利点は、添付図面を参照して以下の好ましい実施形態の詳細を読むことでより明らかになるだろう。
本発明の第1の実施形態による装置の概略側面図。
図1に示すフラップ弁52の1つの好ましい構造形態。
第1のウエハプロセスの弁状態の組み合わせ。
第2のウエハプロセスの弁状態の組み合わせ。
第3のウエハプロセスの弁状態の組み合わせ。
第4のウエハプロセスの弁状態の組み合わせ。
第5のウエハプロセスの弁状態の組み合わせ。
第6のウエハプロセスの弁状態の組み合わせ。
図3、4および8の弁状態の詳細。
図5の弁状態の詳細。
図6の弁状態の詳細。
図7の弁状態の詳細。
図6および11の弁状態の変化。
図7および12の弁状態の変化。
本発明による複数の装置を備え、前記複数の装置の所定排気レベルにそれぞれ共通する複数の排気ユニットを有するプロセスモジュールの概略平面図。
以下に述べる実施形態では、排出ガス流は、特定の処理レベルに対応する特定の排気管がオンまたはオフされたときの影響が最小限となるように制御される。処理レベルの排気管が閉じられた場合、これによりその特定の排気管における圧力の減少が引き起こされるだろう。これ(圧力低下)を避けるため、排気管は処理レベルに対して閉じられ、同時に周囲空気に対して開かれる。その結果、同量の空気が排出されるため、任意の急激な減圧は起こらないだろう。従って、この技術はまた、仮に圧力が急激に上昇してもチャンバ内の交差汚染を防ぐ。
図1は、ウエハWを保持し回転させるスピンチャック2を備える装置1を示す。スピンチャック2は、軸Aを中心に回転するギヤモータユニット5に接続される。基板Wの上面に流体を供給するために分注装置3が用いられる。ウエハWは、例えば300mm若しくは450mmのシリコンウエハで、関連する洗浄およびドライ工程を含む様々な工程のフロントエンド工程(FEOL)、中間工程(MOL)、若しくはバックエンド工程(BEOL)のいずれかを経てよい。
カップ状の流体回収体4は、円周方向にスピンチャック2を囲む。流体回収体は、フレーム(図示せず)に取り付けられることが好ましい。リフト装置H(油圧ジャッキ、空気圧シリンダなど)は、この場合、流体回収体4を持ち上げることによって、流体回収体に対してスピンチャックの位置を変更するように設けられる。これによりスピンチャック2は、3つの回収体レベルL1、L2、およびL3のそれぞれに位置決めされうる。
各回収体レベルL1、L2、L3は、分離処理流体を回収する環状ダクト41、42、43を備える。追加のスプラッシュガード(図示せず)を各回収体レベルに用いて、分離流体が鋭角でそこにぶつかり、その後環状ダクトに向かうようにすることができる。各環状ダクト41、42、43は、回収された流体が排水されるそれぞれの管(図示せず)に接続される。排水された流体は、基板に施すために再利用されるか、廃液として回収されうる。
図1の破線は、流体を異なる回収体レベルに振り落とすために基板が設置される相対位置を示す。
各回収体レベルL1、L2、L3の上には、内側に開いた環状排気ダクト21、22、23が配置される。各ダクト21、22、23は、それぞれの環状ガス回収チャンバ11、12、13に通じる。
各ガス回収チャンバ11、12、13は、それぞれの排出管31、32、33によって排気ユニット60に接続される。排気ユニット60は、排出ガスを回収体から抜いて矢印Eに示すように放出するためのファン等を備える。排出ユニット60のみが示されており、本実施形態における各排出管31、32、33は、それぞれの弁51、52、53を備え、弁51、52、53を回収体の外の周囲大気に開放しながら、その結合された回収体レベルからの排出ガスを通過させるように、またはその結合された回収体レベルからの排出を遮断するように制御されうる。
また、本実施形態では、回収体のレベルL3からの排気が、必要ならば、バイパス導管56を通じて排気管33から排気管31に、またはその逆に通路変更されるように、バイパス弁54は排出管31および33と連通するように配置される。同様に、本実施形態では、回収体のレベルL3からの排気が、必要ならば、バイパス導管57を通じて排気管33から排気管32に、またはその逆に通路変更されるように、バイパス弁55は排気管32および33と連通するように配置される。
図1では、チャック2はレベルL1に配置され、そこで所定の工程(例えば、水酸化アンモニウムおよび過酸化水素の水性混合物を用いるSC−1洗浄工程)がウエハW上で実施される。そのような工程の間に生成される性質的に塩基性のガスは、バイパス弁54がレベル1の位置にあり、弁51がチャンバ位置にあるため、排気管31を通じてチャンバ11から回収される。
一方、排出管32を通じて引き込まれたガスが、チャンバ12からではなく図1の矢印Aに示すように周囲空気となるように、弁52は周囲位置にある。周囲空気が排気管32を通って排気ユニット60に入るように、バイパス弁55はレベル2の位置にある。レベル3の排気について、弁53はチャンバ位置にあり、管31、32、33の間で排気の移動がないように、バイパス弁54および55は共に閉じているため、レベル3の排気は排気管33を通って排気ユニット60に入る。
図2に示すように、本実施形態の弁52は、周囲空気が穴58を通って排気管32に入る実線位置(「周囲位置」)と、穴58が閉鎖されて回収体4のL2レベルからの排出ガスE2が排気管32に自由に入ることができる破線位置(「チャンバ位置」)との間を移動するフラップとして構成される。意義深いことに、上述の弁52はまた、大気とチャンバガスの制御された混合物が排出管に送られるように、任意の所望の中間位置にも配置されうる。
弁52は図2に示されるが、弁51および53も同様に構成され、同じ原理で動作することが理解されよう。
以下の表では、弁51−55の対応する位置に関する一連の処理動作が示されている。これらは図3−14と関連付けて説明されるだろう。
Figure 0006495030
図3では、チャック2は回収体4に対して最も上の位置にあり、それはウエハWがチャック2にロードまたはアンロードされてよいロード/アンロード位置である。この位置では、弁51−55の状態は図1と同じである。図9は、排気管31、32、33および弁51−54の可能な構成をさらに詳しく示す対応図である。図9からは、図1に概略的に示されるバイパス管のような追加のバイパス管56および57が必要ないように、排気管31、32、33がレイアウトされ、バイパス弁54および55が配置されうることが理解されよう。
図4では、ウエハWが処理レベルL1に位置するように、チャック2は回収体4に対して下降している。弁51−55の状態は図3から変更されないため、同様に図1および9に示されるように維持される。
図5では、ウエハWが処理レベルL2に位置するように、チャック2は回収体4に対して上昇している。本実施形態におけるレベル2の処理は、フッ化水素酸(DHF)の希釈液でウエハをエッチングすることを含む。弁51−55の状態に関して、図4のレベル1の処理から図5のレベル2の処理に移る際に、弁51はそのチャンバ位置からその周囲位置に切り替えられているのに対して、弁52はその周囲位置からそのチャンバ位置に切り替えられていることが理解されよう。図10は、追加のバイパス管なしの弁および排気管をより詳細に示す対応図である。
特に、本装置の全体的な動作を制御するマイクロプロセッサに制御される電気機械式アクチュエータは、弁51および52に、それらの位置を同時にそして実質的に同じ速度で変えさせる。その結果、回収体4内部の任意の圧力変動は大幅に抑制される。レベル2の処理によって生成された、本質的に酸性の傾向があるガスは、管32を通じて排気される。
図6では、ウエハWが処理レベルL3に位置するように、チャック2は再び回収体4に対して上昇している。本実施形態の図6におけるレベル3の処理は、大気分子汚染(AMC)の低減を含み、そこではアルカリ特性の排出ガスを処理するよう指定された排気管31に排気を方向付けることが望ましい。
弁51−55の状態に関して、図5のレベル2の処理から図6のレベル3の処理に移る際に、弁51は周囲位置からチャンバ位置に切り替えられ、弁53はチャンバ位置から周囲位置に切り替えられることが理解されよう。また、回収体4のチャンバ13から引き抜かれた排出ガスが排気管33から排気管31に迂回するように、バイパス弁54はそのレベル1の位置に切り替えられている。図11は、追加のバイパス管なしの弁および排気管をより詳細に示す対応図である。
図5および10のレベル2の処理から図6および11のレベル3の処理に移る際に、回収体4内部の任意の圧力変動を最小限にするため、弁51、53、55は再び同時にそして同期して動作する。また、図6および11では、弁51はそのチャンバ位置に示されているが、図13に示すように、所定の割合の周囲大気および排出ガスがチャンバ11から弁51の下流の管31に入る中間位置に弁51を配置し、回収体4内部の圧力を均一にするのに役立ってよい。
図7では、ウエハWが処理レベルL3に留まるように、チャック2は回収体4に対して同じ位置に留まる。しかし、図7では異なる処理が実施され、それは本実施形態では、脱イオン水中溶存二酸化炭素(DI/CO2)の使用を含む。そのような処理のためには、酸特性の排出ガスを処理するよう指定された排気管32に排気を方向付けることが望ましい。
弁51−55の状態に関して、図6のレベル3の処理から図7のレベル3の処理に移る際に、回収体4のチャンバ13から引き抜かれた排出ガスが次は管33から管32に移動するように、バイパス弁54および55の位置は反転されていることが理解されよう。図12は、追加のバイパス管なしの弁および排気管をより詳細に示す対応図である。
図6および11のレベル3の処理から図7および12のレベル3の処理に移る際に、回収体4内部の任意の圧力変動を最小限にするため、弁54および55は再び同時にそして同期して動作する。また、図7および12では、弁52はそのチャンバ位置に示されているが、図14に示すように、所定の割合の周囲大気および排出ガスがチャンバ12から弁52の下流の管32に入る中間位置に弁52を配置し、回収体4内部の圧力を均一にするのに役立ってよい。
図8では、ウエハWが処理レベルL3に留まるように、チャック2は依然として回収体4に対して同じ位置に留まる。しかし、図8ではさらに別の異なる処理が実施され、それは本実施形態では、ウエハWをリンスおよび乾燥するためのイソプロピルアルコール(IPA)の使用を含む。そのような処理のためには、有機特性の排出ガスを処理するよう指定された排気管33に排気を方向付けることが望ましい。
弁51−55の状態に関して、図7のレベル3の処理から図8のレベル3の処理に移る際に、弁51−55は、図3、4、および9に示す状態に戻ることが理解されよう。
上述の排気システムは、圧力変動をできるだけ小さく(+/−20Pa)保ちながら、チャンバレベル間の切り替えを可能にする。さらに、チャンバ内で2つのレベルを排気に作動させる可能性があるため、高温濃の化学的性質(例:60℃ 1:5 NHOH)を用いるときでも、25ppm未満で交差汚染を保つことができる。
上述の記載では、説明のしやすさのために単一の排気ユニット60を示した。しかし、実際には、排気される化学物質の種類ごとに個別の排気管があることがより好ましい。そのような異なる種類のガスは、例えば、有機物(IPAのような有機溶剤など)、酸化性物質(オゾン、過酸化水素など)、酸性物質(HFまたはHCLなど)、およびアルカリ性物質(NHなど)であってよい。
しかし、本発明による装置および方法は、排気体積流量の大幅な変更をもたらすことなく、特定の処理レベルの排気の選択的なオン/オフを可能にする。その結果、8つまでの複数若しくはそれ以上のチャンバが、意図しない圧力低下による任意の負の相互作用なしで同時に排気されることが可能になる。
そのため、図15を参照して、2−1から2−8の複数のチャック(それぞれ回収体4−1から4−8に対応)は、半導体ウエハの枚様式ウェット処理用の同じ処理モジュール内に配置されてよい。各回収体は、上述したように、その結合された排気導管31−1、32−1、33−1、から31−8、32−8、33−8に結合されたフラップ弁およびバイパス弁を有する排気システムを備える。
導管31−1から31−8を通じて排出されたガスは全て、同じ排気ユニット60−1で処理されてよいが、導管32−1から32−8を通じて排出されたガスは全て、同じ排気ユニット60−2で、導管33−1から33−8を通じて排出されたガスは全て、同じ排気ユニット60−3で処理されてよい。このより効率的な設計は、上述したように、弁の新規な配置および動作によって可能となる。
本発明は、前述したいくつかの好ましい実施形態と関連して説明されてきたが、ここで開示され、添付の特許請求の範囲に定義される本発明の真の範囲および精神から逸脱することなく様々な修正が可能なことは、当業者には理解されよう。本発明は以下の適用例としても実現できる。
[適用例1]
ウエハ状の物品を処理する装置であって、
ウエハ状の物品を保持し、回転軸を中心に回転させるスピンチャックと、
ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に流体を供給する少なくとも1つのディスペンサと、
前記スピンチャックを囲み、処理流体を回収する回収体であって、異なる回収体レベルで流体を個別に回収するための少なくとも2つの回収体レベルを有する回収体と、
を備え、
各前記少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備え、
前記排出ガス導管の少なくとも1つは、前記排出ガス導管を前記回収体の外の周囲環境に開きながら、また逆も同様にして、その結合された排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限する弁機構を備える、装置。
[適用例2]
適用例1に記載の装置であって、
前記排気導管の1つは、前記排気導管の前記1つから別の前記排気導管に排出ガスを送るよう動作可能なバイパス弁を備える、装置。
[適用例3]
適用例1に記載の装置であって、
前記弁機構は、前記排気導管が外側環境に対して密封されながら、その結合された排気導管からの排出ガスが通過できるチャンバ位置と、前記排気導管が前記弁機構の上流の排出ガスを閉じ込めるように密封されながら、回収体の外の周囲大気が通過できる周囲位置との間で、移動可能なフラップ弁を備える、装置。
[適用例4]
適用例1に記載の装置であって、
前記回収体は、少なくとも3つの前記回収体レベルを備え、少なくとも2つの前記回収体レベルの排気導管はそれぞれ、対応する前記弁機構を備える、装置。
[適用例5]
適用例4に記載の装置であって、
前記排気導管の1つは、排出ガスを前記排気導管の前記1つから2つ目の前記排気導管に送るよう動作可能な第1のバイパス弁と、排出ガスを前記排気導管の前記1つから3つ目の前記排気導管に送るよう動作可能な第2のバイパス弁とを備える、装置。
[適用例6]
適用例1に記載の装置であって、
前記弁機構を動作させる制御装置をさらに備え、前記弁機構は、前記回収体に対して1つの回収体レベルから別の回収体レベルに移動する前記スピンチャックに応じて動作する、装置。
[適用例7]
適用例1に記載の装置であって、
前記回収体レベルは、前記スピンチャックの回転軸に沿って垂直に重ねられる、装置。
[適用例8]
適用例7に記載の装置であって、
前記回収体は3つの回収体レベルを備え、前記3つの回収体レベルのうち最も上のレベルの排気導管は、排出ガスを前記排気導管から前記3つの回収体レベルのうち最も下のレベルの排気導管に迂回させるよう動作可能な第1のバイパス弁と、排出ガスを前記排気導管から前記3つの回収体レベルのうち真ん中のレベルの排気導管に迂回させるよう動作可能な第2のバイパス弁と、前記第1および前記第2のバイパス弁の下流にある前記最も上の回収体レベルの前記排気導管に配置される前記弁機構と、を備える、装置。
[適用例9]
適用例1に記載の装置であって、
前記回収体は3つの回収体レベルを備え、各対応する排気導管はそれぞれの弁機構を備える、装置。
[適用例10]
適用例1に記載の装置であって、
前記弁機構は、その結合された排気導管における前記弁機構の動作が、前記少なくとも2つの回収体レベルの他のものにおいて、20Pa未満の気圧変動を引き起こすように動作可能である、装置。
[適用例11]
適用例1に記載の装置であって、
前記回収体は3つの回収体レベルを備え、各対応する排気導管はそれぞれの弁機構を備える、装置。
[適用例12]
適用例1に記載の装置であって、
前記排出ガス導管の前記少なくとも1つはさらに、前記弁機構の上流に配置されたバイパス弁を備え、前記バイパス弁は、排出ガスを前記排気導管の前記少なくとも1つから別の前記排気導管に送るよう動作可能である、装置。
[適用例13]
適用例12に記載の装置であって、
前記バイパス弁の下流の位置で前記少なくとも1つのガス導管を外側環境に開きながら、チャンバ排気路に対して前記少なくとも1つの排気導管を密封するために前記弁機構を動作させると同時に、前記バイパス弁が排出ガスを前記少なくとも1つの導管から前記別の導管に迂回させるよう動作するように、前記弁機構および前記バイパス弁は制御装置によって操作される、装置。
[適用例14]
ウエハ状の物品を処理する方法であって、
ウエハ状の物品を保持して、スピンチャック上で回転軸を中心に回転させることと、
前記ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に第1の流体を供給することと、
前記スピンチャックを囲む回収体の少なくとも2つの処理レベルで処理流体を個別に回収することと、
各前記少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備え、
少なくとも1つの前記排出ガス導管と結合した弁機構を操作し、その排出ガス導管を前記回収体の外の周囲環境に開きながら、またその逆も同様にして、その結合した排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限することと、
を含む方法。
[適用例15]
適用例14に記載の方法であって、
さらに、前記排気導管の1つに取り付けられたバイパス弁を操作し、排出ガスをその排気導管から別の排気導管に送ることを含む、方法。
[適用例16]
適用例14に記載の方法であって、
前記弁機構は、前記排気導管が外側環境に対して密封されながら、その結合された排気導管からの排出ガスが通過できるチャンバ位置と、前記排気導管が前記弁機構の上流の排出ガスを閉じ込めるよう密封されながら、前記回収体の外の周囲大気が通過できる周囲位置との間で、フラップ弁を移動できるように動作する、方法。
[適用例17]
適用例14に記載の方法であって、
前記弁機構は、その結合された排気導管における前記弁機構の動作が、前記少なくとも2つの回収体レベルの他のものにおいて20Pa未満の気圧変動を引き起こすように動作する、方法。
[適用例18]
適用例14に記載の方法であって、
それぞれ異なる成分を有するプロセスガス類は、それぞれの排気導管を通じてそれぞれ排気される、方法。
[適用例19]
適用例14に記載の方法であって、
さらに、前記第1の流体と異なる化学成分の第2の流体をウエハ上に供給することと、
前記第1の処理流体によって生成されたガスが回収される排気導管とは異なる排気導管を通じて、第2の処理流体から生成されたガスを回収することと、を含む方法。
[適用例20]
適用例20に記載の方法であって、
排出ガスは、共通排気ユニットによって少なくとも2つの別体の回収体から同時に回収される、方法。

Claims (17)

  1. ウエハ状の物品を処理する装置であって、
    ウエハ状の物品を保持し、回転軸を中心に回転させるスピンチャックと、
    ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に流体を供給する少なくとも1つのディスペンサと、
    前記スピンチャックを囲み、処理流体を回収する回収体であって、異なる回収体レベルで流体を個別に回収するための少なくとも2つの回収体レベルを有する回収体と、
    を備え、
    各前記少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備え、
    前記排出ガス導管の少なくとも1つは、前記排出ガス導管を前記回収体の外の周囲環境に開きながら、また逆も同様にして、その結合された排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限する弁機構を備え、
    前記排出ガス導管の1つは、前記排出ガス導管の前記1つから別の前記排出ガス導管に排出ガスを送るよう動作可能なバイパス弁を備える、装置。
  2. 請求項1に記載の装置であって、
    前記弁機構は、前記排出ガス導管が外側環境に対して密封されながら、その結合された排出ガス導管からの排出ガスが通過できるチャンバ位置と、前記排出ガス導管が前記弁機構の上流の排出ガスを閉じ込めるように密封されながら、回収体の外の周囲大気が通過できる周囲位置との間で、移動可能なフラップ弁を備える、装置。
  3. 請求項1に記載の装置であって、
    前記回収体は、少なくとも3つの前記回収体レベルを備え、少なくとも2つの前記回収体レベルの排出ガス導管はそれぞれ、対応する前記弁機構を備える、装置。
  4. ウエハ状の物品を処理する装置であって、
    ウエハ状の物品を保持し、回転軸を中心に回転させるスピンチャックと、
    ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に流体を供給する少なくとも1つのディスペンサと、
    前記スピンチャックを囲み、処理流体を回収する回収体であって、異なる回収体レベルで流体を個別に回収するための少なくとも2つの回収体レベルを有する回収体と、
    を備え、
    各前記少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備え、
    前記排出ガス導管の少なくとも1つは、前記排出ガス導管を前記回収体の外の周囲環境に開きながら、また逆も同様にして、その結合された排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限する弁機構を備え、
    前記回収体は、少なくとも3つの前記回収体レベルを備え、少なくとも2つの前記回収体レベルの排出ガス導管はそれぞれ、対応する前記弁機構を備え、
    前記排出ガス導管の1つは、排出ガスを前記排出ガス導管の前記1つから2つ目の前記排出ガス導管に送るよう動作可能な第1のバイパス弁と、排出ガスを前記排出ガス導管の前記1つから3つ目の前記排出ガス導管に送るよう動作可能な第2のバイパス弁とを備える、装置。
  5. 請求項1に記載の装置であって、
    前記弁機構を動作させる制御装置をさらに備え、前記弁機構は、前記回収体に対して1つの回収体レベルから別の回収体レベルに移動する前記スピンチャックに応じて動作する、装置。
  6. 請求項1に記載の装置であって、
    前記回収体レベルは、前記スピンチャックの回転軸に沿って垂直に重ねられる、装置。
  7. ウエハ状の物品を処理する装置であって、
    ウエハ状の物品を保持し、回転軸を中心に回転させるスピンチャックと、
    ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に流体を供給する少なくとも1つのディスペンサと、
    前記スピンチャックを囲み、処理流体を回収する回収体であって、異なる回収体レベルで流体を個別に回収するための少なくとも2つの回収体レベルを有する回収体と、
    を備え、
    各前記少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備え、
    前記排出ガス導管の少なくとも1つは、前記排出ガス導管を前記回収体の外の周囲環境に開きながら、また逆も同様にして、その結合された排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限する弁機構を備え、
    前記回収体レベルは、前記スピンチャックの回転軸に沿って垂直に重ねられ、
    前記回収体は3つの回収体レベルを備え、前記3つの回収体レベルのうち最も上のレベルの排出ガス導管は、排出ガスを前記排出ガス導管から前記3つの回収体レベルのうち最も下のレベルの排出ガス導管に迂回させるよう動作可能な第1のバイパス弁と、排出ガスを前記排出ガス導管から前記3つの回収体レベルのうち真ん中のレベルの排出ガス導管に迂回させるよう動作可能な第2のバイパス弁と、前記第1および前記第2のバイパス弁の下流にある前記最も上の回収体レベルの前記排出ガス導管に配置される前記弁機構と、を備える、装置。
  8. 請求項1に記載の装置であって、
    前記回収体は3つの回収体レベルを備え、各対応する排出ガス導管はそれぞれの弁機構を備える、装置。
  9. 請求項1に記載の装置であって、
    前記弁機構は、その結合された排出ガス導管における前記弁機構の動作が、前記少なくとも2つの回収体レベルの他のものにおいて、20Pa未満の気圧変動を引き起こすように動作可能である、装置。
  10. ウエハ状の物品を処理する装置であって、
    ウエハ状の物品を保持し、回転軸を中心に回転させるスピンチャックと、
    ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に流体を供給する少なくとも1つのディスペンサと、
    前記スピンチャックを囲み、処理流体を回収する回収体であって、異なる回収体レベルで流体を個別に回収するための少なくとも2つの回収体レベルを有する回収体と、
    を備え、
    各前記少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備え、
    前記排出ガス導管の少なくとも1つは、前記排出ガス導管を前記回収体の外の周囲環境に開きながら、また逆も同様にして、その結合された排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限する弁機構を備え、
    前記排出ガス導管の前記少なくとも1つはさらに、前記弁機構の上流に配置されたバイパス弁を備え、前記バイパス弁は、排出ガスを前記排出ガス導管の前記少なくとも1つから別の前記排出ガス導管に送るよう動作可能である、装置。
  11. 請求項10に記載の装置であって、
    前記バイパス弁の下流の位置で前記少なくとも1つの排出ガス導管を外側環境に開きながら、チャンバ排気路に対して前記少なくとも1つの排出ガス導管を密封するために前記弁機構を動作させると同時に、前記バイパス弁が排出ガスを前記少なくとも1つの排出ガス導管から前記別の排出ガス導管に迂回させるよう動作するように、前記弁機構および前記バイパス弁は制御装置によって操作される、装置。
  12. ウエハ状の物品を処理する方法であって、
    ウエハ状の物品を保持して、スピンチャック上で回転軸を中心に回転させることと、
    前記ウエハ状の物品の少なくとも1つの面の上に第1の流体を供給することと、
    前記スピンチャックを囲む回収体の少なくとも2つの処理レベルで処理流体を個別に回収することと、
    各前記少なくとも2つの回収体レベルは、それぞれの排出ガス導管に通じる排出ガス回収チャンバを備え、
    少なくとも1つの前記排出ガス導管と結合した弁機構を操作し、その排出ガス導管を前記回収体の外の周囲環境に開きながら、またその逆も同様にして、その結合した排出ガス導管からの排出ガス流を相互に制限することと、
    さらに、前記排出ガス導管の1つに取り付けられたバイパス弁を操作し、排出ガスをその排出ガス導管から別の排出ガス導管に送ることとを含む、方法。
  13. 請求項12に記載の方法であって、
    前記弁機構は、前記排出ガス導管が外側環境に対して密封されながら、その結合された排出ガス導管からの排出ガスが通過できるチャンバ位置と、前記排出ガス導管が前記弁機構の上流の排出ガスを閉じ込めるよう密封されながら、前記回収体の外の周囲大気が通過できる周囲位置との間で、フラップ弁を移動できるように動作する、方法。
  14. 請求項12に記載の方法であって、
    前記弁機構は、その結合された排出ガス導管における前記弁機構の動作が、前記少なくとも2つの回収体レベルの他のものにおいて20Pa未満の気圧変動を引き起こすように動作する、方法。
  15. 請求項12に記載の方法であって、
    それぞれ異なる成分を有するプロセスガス類は、それぞれの排出ガス導管を通じてそれぞれ排気される、方法。
  16. 請求項12に記載の方法であって、
    さらに、前記第1の流体と異なる化学成分の第2の流体をウエハ上に供給することと、
    第1の処理流体によって生成されたガスが回収される排出ガス導管とは異なる排出ガス導管を通じて、第2の処理流体から生成されたガスを回収することと、を含む方法。
  17. 請求項12に記載の方法であって、
    排出ガスは、共通排気ユニットによって少なくとも2つの別体の回収体から同時に回収される、方法。
JP2015021801A 2014-02-19 2015-02-06 ウエハ状の物品を処理する方法および装置 Active JP6495030B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/184,304 2014-02-19
US14/184,304 US9698029B2 (en) 2014-02-19 2014-02-19 Method and apparatus for processing wafer-shaped articles

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015179823A JP2015179823A (ja) 2015-10-08
JP2015179823A5 JP2015179823A5 (ja) 2018-03-15
JP6495030B2 true JP6495030B2 (ja) 2019-04-03

Family

ID=53798722

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015021801A Active JP6495030B2 (ja) 2014-02-19 2015-02-06 ウエハ状の物品を処理する方法および装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9698029B2 (ja)
JP (1) JP6495030B2 (ja)
KR (1) KR102360260B1 (ja)
CN (1) CN104851780B (ja)
SG (1) SG10201501153XA (ja)
TW (1) TWI657519B (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6715019B2 (ja) * 2016-02-09 2020-07-01 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置および基板処理方法
JP7029251B2 (ja) * 2017-08-28 2022-03-03 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
CN107968061A (zh) * 2017-11-21 2018-04-27 长江存储科技有限责任公司 晶圆清洗液回收装置
KR102139605B1 (ko) * 2018-11-06 2020-08-12 세메스 주식회사 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
CN112768377B (zh) * 2020-12-31 2022-08-12 上海至纯洁净系统科技股份有限公司 一种有效解决晶圆干燥颗粒数干燥后二次污染的结构

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4176003A (en) * 1978-02-22 1979-11-27 Ncr Corporation Method for enhancing the adhesion of photoresist to polysilicon
JPH043624Y2 (ja) * 1986-04-23 1992-02-04
AT389959B (de) 1987-11-09 1990-02-26 Sez Semiconduct Equip Zubehoer Vorrichtung zum aetzen von scheibenfoermigen gegenstaenden, insbesondere von siliziumscheiben
DE59407361D1 (de) 1993-02-08 1999-01-14 Sez Semiconduct Equip Zubehoer Träger für scheibenförmige Gegenstände
JP2004265910A (ja) 2003-02-03 2004-09-24 Personal Creation Ltd 基板の処理液の分別回収装置及び該装置を備えた基板の処理装置、並びに基板の処理液の分別回収方法
JP4441530B2 (ja) * 2003-03-20 2010-03-31 ラム・リサーチ・アクチエンゲゼルシヤフト ディスク形状の物体を湿式処理するための装置及び方法
JP2010171286A (ja) * 2009-01-26 2010-08-05 Hitachi High-Technologies Corp プラズマ処理装置
JP5721952B2 (ja) * 2010-01-07 2015-05-20 株式会社日立国際電気 半導体装置、半導体装置の製造方法および基板処理装置
JP5240245B2 (ja) * 2010-06-22 2013-07-17 東京エレクトロン株式会社 流路切替え装置、処理装置、流路切替え方法及び処理方法並びに記憶媒体
JP6026241B2 (ja) 2012-11-20 2016-11-16 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体
JP6219848B2 (ja) * 2012-12-28 2017-10-25 株式会社Screenホールディングス 処理装置とその排気切換装置並びに排気切換ユニットと切換弁ボックス

Also Published As

Publication number Publication date
KR20150098211A (ko) 2015-08-27
TW201543596A (zh) 2015-11-16
CN104851780A (zh) 2015-08-19
SG10201501153XA (en) 2015-09-29
CN104851780B (zh) 2018-03-13
US20150235876A1 (en) 2015-08-20
JP2015179823A (ja) 2015-10-08
KR102360260B1 (ko) 2022-02-07
TWI657519B (zh) 2019-04-21
US9698029B2 (en) 2017-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6495030B2 (ja) ウエハ状の物品を処理する方法および装置
TWI826650B (zh) 用於高深寬比半導體元件結構具有污染物去除之無黏附乾燥處理
US8043469B2 (en) Substrate processing method, substrate processing apparatus, and storage medium
KR101033408B1 (ko) 수용 대상물 이송 시스템
US10056269B2 (en) Substrate liquid processing apparatus
KR102297377B1 (ko) 기판 처리 장치
JP2014197592A (ja) 基板処理装置
CN110692122A (zh) 基板处理方法以及基板处理装置
CN107533998B (zh) 基板处理装置以及清洗腔室的方法
JP2019076842A (ja) 気体浄化装置、気体浄化方法および基板処理装置
JP2008311266A (ja) 半導体装置の製造方法及び基板洗浄装置
JP7421593B2 (ja) 基板処理装置
JP2002043272A (ja) 基板洗浄装置及び基板処理装置
KR102262111B1 (ko) 처리 유체 공급 유닛
US20210050210A1 (en) Method and apparatus for treating substrate
TWI820798B (zh) 基板處理裝置
KR102310464B1 (ko) 유체 공급유닛과 이를 이용한 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR20230133231A (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 시스템
JP2023133102A (ja) 基板処理方法および基板処理装置
JP2021174861A (ja) 二重配管の内部洗浄方法及び処理液供給装置
JP2023026368A (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
KR20160012367A (ko) 건식 및 습식 처리를 위한 단일 플랫폼의 기판처리설비
JP2023034828A (ja) 基板処理方法、および、基板処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180201

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181115

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190205

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190219

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190306

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6495030

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250