JP6484838B2 - 検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
部品が配置された基板を検査する検査装置であって、
画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像された第1解像度の画像と、前記第1解像度の複数の画像から生成され前記第1解像度よりも高解像度である第2解像度の画像とのいずれかを用いて、前記部品を配置した基板の検査処理を行う検査部と、
を備えたものである。
部品が配置された基板を検査する検査方法であって、
画像を撮像する撮像部により撮像された第1解像度の画像と、前記第1解像度の複数の画像から生成され前記第1解像度よりも高解像度である第2解像度の画像とのいずれかを用いて、部品を実装した基板の検査処理を行うステップ、
を含むものである。
Claims (4)
- 部品が配置された基板を検査する検査装置であって、
画像を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像された第1解像度の画像と、前記第1解像度の複数の画像から生成され前記第1解像度よりも高解像度である第2解像度の画像とのいずれかを用いて、前記部品を配置した基板の検査処理を行う検査部と、を備え、
前記検査部は、前記第1解像度の画像を用いた事前検査結果で虚報があった部品に対して前記第2解像度の画像を用いて前記検査処理を行う、検査装置。 - 前記検査部は、前記第1解像度で検査を行う第1部品と、前記第2解像度で検査を行う第2部品とが前記基板に実装されている際に、前記第1部品の検査処理と並行して生成された前記第2解像度の画像を用いて前記検査処理を行う、請求項1に記載の検査装置。
- 前記検査部は、前記第1解像度で検査を行う第1部品と、前記第2解像度で検査を行う第2部品とが前記基板に実装されている際に、前記第1部品と前記第2部品とを含む画像のうち前記第2部品の検査に要する領域の画像を用いて生成された前記第2解像度の画像を用いて前記検査処理を行う、請求項1又は2に記載の検査装置。
- 部品が配置された基板を検査する検査方法であって、
画像を撮像する撮像部により撮像された第1解像度の画像と、前記第1解像度の複数の画像から生成され前記第1解像度よりも高解像度である第2解像度の画像とのいずれかを用いて、前記部品を配置した基板の検査処理を行うステップ、を含み、
前記ステップでは、前記第1解像度の画像を用いた事前検査結果で虚報があった部品に対して前記第2解像度の画像を用いて前記検査処理を行う、
検査方法。
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