JP2019080068A - 実装検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
基板上に実装された部品の欠品検査を行う欠品検査手段と、
前記欠品検査手段による前記欠品検査の結果に基づき、前記欠品が検出された基板に対して、該基板上の異物を検査する異物検査を行う異物検査手段と、
を備えたものである。
また、配置位置の情報は、例えば部品Pの中心のXY座標を表す情報である。搬送経路の情報は、例えば実装ヘッド33が部品Pを配置位置まで移動させるときの、基板S上における部品Pの搬送経路上の複数の点のXY座標を表す情報である。検査条件情報には、図示は省略するが、例えば、検査処理ユニット52の撮像条件や撮影領域(欠品検査領域)、基板カメラ53を移動させる移動条件などの検査条件が基板Sの基板IDに対応付けられている。また、HDD85には、基板Sの実装前の状態を撮影した画像を含む実装前基準画像データや、検査対象の基板Sの実装後の正しい状態を撮影した画像を含む実装後基準画像データが、基板Sの基板IDに対応付けて記憶されている。実装前基準画像データや実装後基準画像データは、例えば基板カメラ53で予め基板Sを撮影して得られた画像のデータである。
Claims (3)
- 基板上に実装された部品の欠品検査を行う欠品検査手段と、
前記欠品検査手段による前記欠品検査の結果に基づき、前記欠品が検出された基板に対して、該基板の前記欠品が検出された面上において、前記欠品に係る部品を異物として検出する異物検査を行う異物検査手段と、
を備えた実装検査装置。 - 基板上に実装された部品の欠品検査を行う欠品検査手段と、
前記欠品検査手段による前記欠品検査の結果に基づき、前記欠品が検出された基板に対して、該基板上において、前記欠品に係る部品を異物として検出する異物検査を行う異物検査手段と、
を備え、
前記異物検査手段は、前記基板のうち前記欠品が検出された位置に関する情報である欠品位置情報を取得し、前記基板のうち前記欠品位置情報で特定される前記位置の周辺に対して優先的に前記異物検査を行う、
実装検査装置。 - 基板上に実装された部品の欠品検査を行う欠品検査手段と、
前記欠品検査手段による前記欠品検査の結果に基づき、前記欠品が検出された基板に対して、該基板上において、前記欠品に係る部品を異物として検出する異物検査を行う異物検査手段と、
を備え、
前記異物検査手段は、画像処理に基づいて前記異物検査を行うものであり、前記検出された欠品に係る部品の大きさに関する情報である欠品サイズ情報を取得し、該取得した欠品サイズ情報に基づいて、前記画像処理に基づいて検出された異物のうち前記欠品に係る部品よりも小さい異物を無視して前記異物検査を行う、
実装検査装置。
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