JP6435006B2 - 測定装置及び測定方法 - Google Patents

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Description

本発明は、入力データ信号からクロックを再生する機能を有するクロック出力回路を備えた測定装置及び測定方法に関する。
従来、この種のクロック出力回路を備えた測定装置としては、図6に示したBER(ビットエラーレート)測定装置が知られている。
測定装置1は、振幅制限増幅回路2、閾値調整回路3、波形整形回路4、BER測定部5a、波形測定部5b、表示部6、クロック出力回路7を備えている。クロック出力回路7は、クロック再生回路8、ディレイ調整回路9を備えている。
測定装置1において、アイダイアグラム(アイパターン)を表示部6に表示させて被測定データ信号を評価する場合には、アイダイアグラムの振幅軸方向の調整は、閾値調整回路3による閾値電圧Vthの調整により、位相軸方向の調整は、ディレイ調整回路9による位相の調整により行われる。
ここで、測定装置1では、閾値電圧Vthを変化させると振幅制限増幅回路2から出力されるデータ信号のクロスポイントも変化してしまうという課題があった。
具体的には、図示のように、振幅制限増幅回路2において閾値電圧Vthを、例えばVth(a)、Vth(b)、Vth(c)と変化させた場合には、クロック再生回路8に入力されるデータ信号のクロスポイントが、それぞれ、閾値電圧Vthに応じて変化してしまい、クロック再生回路8の出力データ信号の位相がずれてしまう。なお、クロック再生回路8の出力データ信号において、Vth(a)及びVth(c)での波形がVth(b)よりも早く立ち上がっているのは、図示のように、ハイレベルとローレベルとの中間レベルにおける時間的位置が異なっているからである。
その結果、測定装置1では、閾値電圧Vthを可変する場合には、クロック再生回路8からの出力データ信号の位相が変化し、波形整形回路4に入力されるクロックの位相が変化してしまうので、正確なアイダイアグラムが表示できないという課題があった。
この課題を解決するためには、クロック再生回路8の前段でクロスポイントを補正することが考えられる。
従来のクロスポイントの推定装置としては、特許文献1に記載された位相調整装置が知られている。
特許文献1に記載のものは、識別器、直流平均値検出器、第1メモリ、正規化部、第2メモリ、クロス点位置推定部を備えている。
識別器は、入力されるクロックデータ信号の立ち上がりのタイミングで符号判定する。直流平均値検出器は、識別器の出力データ信号の直流平均値を検出する。第1メモリは、直流平均値を時間軸と対応付けて順次記憶する。正規化部は、第1メモリに記憶された各電圧値のうち所定電圧以上の電圧値を一定の電圧値に正規化する。第2メモリは、正規化された各電圧値のデータを時間軸と対応付けて記憶する。クロス点位置推定部は、第2メモリに記憶された各電圧値に基づいてデータデータ信号のアイダイアグラムのクロスポイントの時間的位置を推定する。
この構成により、従来のものは、アイダイアグラムのクロスポイントの時間的位置を推定することができる。
特開2016−187147号公報
しかしながら、特許文献1に記載の従来のものでは、クロスポイントを推定する構成が複雑であるので、測定装置のクロスポイントの補正処理に適用しようとすると、例えばFPGA又はソフトウェア処理が必要なことにより回路規模が大型化するという課題が発生してしまう。そのため、ハードウェアのみで簡単な構成でクロスポイントを補正することができるクロック出力回路が望まれていた。
本発明は、前述のような事情に鑑みてなされたものであり、ハードウェアのみで簡単な構成でクロスポイントを補正することができるクロック出力回路を備えることで、再生クロックを利用してアイダイアグラムの振幅方向の測定を行う場合でも、クロック再生回路から出力されるクロックの位相に影響を与えることなく、正確なアイダイアグラムを表示可能な測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に係る測定装置は、所定の閾値電圧(Vth)に応じてデジタル信号である被測定データ信号を増幅する増幅手段(20)と、前記増幅手段の一方の出力データ信号である第2のデータ信号からクロックを再生し、再生クロックとして出力するクロック出力回路(30)と、前記増幅手段の他方の出力データ信号である第1のデータ信号を前記再生クロックに基づいて波形整形する波形整形手段(12)と、前記波形整形手段の出力データ信号に基づいて所定の測定を行う測定手段(13)と、を備え、前記増幅手段は、前記被測定データ信号を入力する被測定データ信号入力端子(21)と、前記閾値電圧を入力する閾値電圧入力端子(22)と、正相である前記第1のデータ信号を前記波形整形手段に出力する第1のデータ信号出力端子(23)と、前記第1のデータ信号とは逆相の関係にある前記第2のデータ信号を入力データ信号として前記クロック出力回路に出力する第2のデータ信号出力端子(24)と、を有し、前記クロック出力回路は、前記閾値電圧を変化させると前記増幅手段から出力される前記第2のデータ信号のクロスポイントも変化してしまうことを回避するために、該第2のデータ信号であり、かつ、ハイレベル及びローレベルを有するデジタル信号である前記入力データ信号の波形におけるクロスポイントが、前記ハイレベルと、前記ローレベルとの中間レベルに位置するよう補正するクロスポイント補正手段(40)と、前記クロスポイント補正手段から出力される出力データ信号からクロックを再生して再生クロックを生成するクロック再生手段(31)と、前記クロック再生手段が再生した前記再生クロックの位相を調整する位相調整手段(32)と、を備え、前記クロスポイント補正手段は、第1の出力端子(53)及び第2の出力端子(54)を有し、前記入力データ信号を差動増幅する差動増幅手段(50)と、前記第1の出力端子及び前記第2の出力端子の各直流出力電圧レベルを互いに等しくする電圧制御手段(60)と、を備え、前記波形整形手段は、前記第1のデータ信号出力端子から入力した前記第1のデータ信号を、前記位相調整手段により前記位相が調整された後の前記再生クロックに基づいて波形整形するものである構成を有している。
この構成により、本発明の請求項1に係る測定装置は、クロスポイント補正手段が、第1の出力端子及び第2の出力端子を有し入力データ信号を差動増幅する差動増幅手段と、差動増幅手段の、第1の出力端子及び第2の出力端子の各直流出力電圧レベルを互いに等しくする電圧制御手段と、を備えるので、ハードウェアのみで簡単な構成でクロスポイントを補正することができる。したがって、本発明の請求項1に係る測定装置は、閾値電圧を変化させた場合でも増幅手段から出力されるクロック出力回路に対する入力データのクロスポイントが変化しないようにすることができ、再生クロックを利用してアイダイアグラムの振幅方向の測定を行う場合でも、クロック再生回路から出力されるクロックの位相に影響を与えることなく、正確なアイダイアグラムを表示部に表示することができる。
本発明の請求項2に係る測定装置は、クロック出力回路において、前記差動増幅手段は、第1の入力端子(51)及び第2の入力端子(52)を備え、前記電圧制御手段は、第1のコイル(61)を介し前記第1の出力端子に接続された第3の入力端子(71)と、第2のコイル(62)を介し前記第2の出力端子に接続された第4の入力端子(72)と、前記第2の入力端子に接続された出力端子(73)と、を有し負帰還接続された演算増幅器(70)を備えた、構成を有している。
この構成により、本発明の請求項2に係る測定装置は、クロック出力回路において、演算増幅器は、差動増幅手段の第1の出力端子及び第2の出力端子の各直流出力電圧レベルが仮想短絡により互いに等しくなるようフィードバック制御するので、差動増幅手段の第1の出力端子及び第2の出力端子の各直流出力電圧レベルを互いに等しくすることができる。
本発明の請求項3に係る測定装置は、前記差動増幅手段の前記第1の入力端子の前段に、前記第1のデータ信号の直流成分を除去するための直流成分除去用コンデンサ(41)が接続され、前記差動増幅手段の前記第1のコイル及び前記第2のコイルに対して分岐した後の前記クロック再生手段(31)への出力経路中に、前記第1の出力端子及び前記第2の出力端子からのそれぞれの出力データ信号の直流成分を除去する第1の出力側直流成分除去用コンデンサ(43)及び第2の出力側直流成分除去用コンデンサが接続される構成を有している。
この構成により、本発明の請求項3に係る測定装置は、第1のデータ信号を直流成分を除去して差動増幅手段に入力し、該増幅手段の第1の出力端子及び第2の出力端子からのそれぞれの出力データ信号を直流成分を除去して出力できるので、簡単な構成で正確な測定を行うことができる。
本発明の請求項4に係る測定装置は、前記クロック再生手段は、差動入力機能を有せず、前記動増幅手段の前記第1の出力端子から出力される正相出力、又は前記第2の出力端子から出力される逆相出力のいずれか一方を前記クロスポイント補正手段から出力される出力データ信号として入力する構成を有している。
この構成により、本発明の請求項4に係る測定装置は、クロック再生手段が差動入力機能を有しない時の構成を簡略化することができる。
本発明の請求項5に係る測定方法は、請求項1に記載の測定装置を用いた測定方法であって、所定の閾値電圧(Vth)に応じてデジタル信号である被測定データ信号を増幅する増幅ステップ(S11)と、前記増幅ステップの一方の出力データ信号である第2のデータ信号からクロックを再生し、再生クロックとして出力するクロック出力ステップと、前記増幅ステップの他方の出力データ信号である第1のデータ信号を前記再生クロックに基づいて波形整形する波形整形ステップ(S16)と、前記波形整形ステップの出力データ信号に基づいて所定の測定を行う測定ステップ(S17)と、を含み、前記増幅ステップは、被測定データ信号入力端子(21)から前記被測定データ信号を入力する被測定データ信号入力ステップと、閾値電圧入力端子(22)から前記閾値電圧を入力する閾値電圧入力ステップと、正相である前記第1のデータ信号を、第1のデータ信号出力端子(23)により、前記波形整形ステップに出力する第1のデータ信号出力ステップと、前記第1のデータ信号とは逆相の関係にある前記第2のデータ信号を、第2のデータ信号出力端子(24)により、前記入力データ信号として前記クロック出力ステップに出力する第2のデータ信号出力ステップと、を含み、前記クロック出力ステップは、前記閾値電圧を変化させると前記増幅ステップから出力される前記第2のデータ信号のクロスポイントも変化してしまうことを回避するために、該第2のデータ信号であり、かつ、ハイレベル及びローレベルを有するデジタル信号である前記入力データ信号の波形におけるクロスポイントが、前記ハイレベルと、前記ローレベルとの中間レベルに位置するよう補正するクロスポイント補正ステップ(S12、S13)と、前記クロスポイント補正ステップで出力される出力データ信号からクロックを再生して再生クロックを生成するクロック再生ステップ(S14)と、前記クロック再生ステップにおいて再生した前記再生クロックの位相を調整する位相調整ステップ(S15)と、を含み、前記クロスポイント補正ステップは、第1の出力端子(53)及び第2の出力端子(54)を有する差動増幅手段(50)によって前記入力データ信号を差動増幅する差動増幅ステップ(S12)と、前記第1の出力端子及び前記第2の出力端子の各直流出力電圧レベルを互いに等しくする電圧制御ステップ(S13)と、を含み、前記波形整形ステップは、前記第1のデータ信号出力ステップから入力した前記第1のデータ信号を、前記位相調整ステップにより前記位相が調整された後の前記再生クロックに基づいて波形整形する構成を有している。
この構成により、本発明の請求項5に係る測定方法は、閾値電圧を変化させた場合でも増幅手段から出力されるクロック出力回路に対する入力データのクロスポイントが変化しないようにすることができ、再生クロックを利用してアイダイアグラムの振幅方向の測定を行う場合でも、クロック再生回路から出力されるクロックの位相に影響を与えることなく、正確なアイダイアグラムを表示部に表示することができる。
本発明は、ハードウェアのみで簡単な構成でクロスポイントを補正することができるクロック出力回路を備えることで、再生クロックを利用してアイダイアグラムの振幅方向の測定を行う場合でも、クロック再生回路から出力されるクロックの位相に影響を与えることなく、正確なアイダイアグラムを表示可能な測定装置及び測定方法を提供することができるものである。
本発明の一実施形態における測定装置のブロック構成図である。 本発明の一実施形態におけるクロスポイント補正回路の構成図である。 本発明の一実施形態におけるクロスポイント補正回路の動作説明図である。 本発明の一実施形態におけるクロスポイント補正回路のアイダイアグラムの説明図である。 本発明の一実施形態における測定装置のフローチャートである。 従来の測定装置のブロック構成図である。
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。
まず、本発明に係る測定装置の一実施形態における構成について説明する。なお、本発明に係るクロック出力回路を測定装置に適用した例を挙げて説明する。
図1に示すように、本実施形態における測定装置10は、振幅制限増幅回路20、閾値調整回路11、クロック出力回路30、波形整形回路12、BER測定部13a、波形測定部13b、表示部14を備えている。クロック出力回路30は、クロスポイント補正回路40、クロック再生回路31、ディレイ調整回路32を備えている。なお、測定装置10は、測定装置の一例である。
振幅制限増幅回路20は、第1の入力端子21、第2の入力端子22、第1の出力端子23、第2の出力端子24を備えている。この振幅制限増幅回路20は、増幅手段の一例である。
第1の入力端子21は、被測定データ信号入力端子の一例であり、ハイレベル及びローレベルを有する被測定データ信号を入力するようになっている。第2の入力端子22は、閾値電圧入力端子の一例であり、閾値電圧Vthを入力するようになっている。第1の出力端子23は、第1のデータ信号出力端子の一例であり、正相の出力データ信号(第1のデータ信号)を波形整形回路12に出力するようになっている。第2の出力端子24は、第2のデータ信号出力端子の一例であり、逆相の出力データ信号(第2のデータ信号)をクロック出力回路30に出力するようになっている。
この構成により、振幅制限増幅回路20は、閾値電圧Vthに応じて被測定データ信号を増幅し、増幅した一方の出力データ信号(正相)を波形整形回路12に、増幅した他方の出力データ信号(逆相)をクロック出力回路30に出力するようになっている。
閾値調整回路11は、振幅制限増幅回路20の第2の入力端子22に入力する閾値電圧Vthを調整するようになっている。閾値調整回路11が閾値Vthを調整することにより、閾値電圧Vthに応じて増幅された被測定データ信号が波形整形回路12に出力され、アイダイアグラムの振幅(縦軸方向)を変更することができる。
クロック出力回路30のクロスポイント補正回路40は、被測定データ信号の波形におけるクロスポイントがハイレベルとローレベルとの中間レベルに位置するよう補正するようになっている。このクロスポイント補正回路40は、クロスポイント補正手段の一例である。
なお、クロスポイントとは、デジタルデータのアイパターンにおける交差ポイントの位置、すなわち、デジタルデータのハイレベル「1」を100%、ローレベル「0」を0%としたときの相対的な位置を表す値である。以下、ハイレベルとローレベルとの中間レベルに位置するクロスポイントをクロスポイントが50%であると表現する。
クロック出力回路30のクロック再生回路31は、クロスポイント補正回路40の出力データ信号からクロックを再生するようになっている。このクロック再生回路31は、クロック再生手段の一例である。以下、クロック再生回路31によって再生されたクロックを再生クロック(Recovered Clock)と呼ぶ。
クロック出力回路30のディレイ調整回路32は、再生クロックの位相を調整するようになっている。このディレイ調整回路32は、位相調整手段の一例である。ディレイ調整回路32が位相を調整することにより、アイダイアグラムの位相(横軸方向)を変更することができる。
波形整形回路12は、振幅制限増幅回路20の第1の出力端子23から出力されたデータ信号(第1のデータ信号)をクロック出力回路30の出力データ信号、すなわち再生クロックに基づいて波形整形するようになっている。この波形整形回路12は、例えば、Dタイプのフリップフロップ、デマルチプレクサ(DEMUX)等で構成される。なお、波形整形回路12は、波形整形手段の一例である。
BER測定部13aは、波形整形回路12の出力データ信号に基づいてBERの測定を行うようになっている。このBER測定部13aは、測定手段の一例であって、本発明に係る測定手段はBER測定に限定されない。
波形測定部13bは、被測定データ信号に対して、例えば公知のサンプリングオシロスコープの回路によって波形測定を行うようになっている。
表示部14は、BER測定部13aによって測定されたBERの測定結果や、波形測定部13bによって測定された被測定データ信号のアイダイアグラム等を表示するようになっている。
次に、クロスポイント補正回路40の詳細な構成について図2を用いて説明する。
図2に示すように、クロスポイント補正回路40は、コンデンサ41〜44、抵抗45、差動増幅器50、電圧制御回路60を備えている。電圧制御回路60は、コイル61及び62、演算増幅器(オペアンプ)70を備えている。なお、電圧制御回路60は、電圧制御手段の一例である。また、コイル61及び62は、それぞれ、第1及び第2のコイルの一例である。
差動増幅器50は、正相入力端子51、逆相入力端子52、正相出力端子53、逆相出力端子54を備え、正相入力端子51及び逆相入力端子52の2つの入力電圧の差をとって増幅するようになっている。この差動増幅器50は、差動増幅手段の一例である。また、正相入力端子51及び逆相入力端子52は、それぞれ、第1の入力端子及び第2の入力端子の一例である。
正相入力端子51は、コンデンサ41を介して振幅制限増幅回路20の第2の出力端子24(図1参照)から出力される逆相出力データ信号を入力するようになっている。逆相入力端子52は、コンデンサ42及び抵抗45を介して接地されている。正相出力端子53及び逆相出力端子54は、それぞれ、コンデンサ43及び44を介してクロック再生回路31に接続されている。
演算増幅器70は、正相入力端子71、逆相入力端子72、出力端子73を備え、出力端子73から逆相入力端子72へのフィードバックによって負帰還回路を構成している。正相入力端子71は、第3の入力端子の一例であり、コイル61を介して差動増幅器50の正相出力端子53に接続されている。逆相入力端子72は、第4の入力端子の一例であり、コイル62を介して差動増幅器50の逆相出力端子54に接続されている。出力端子73は、逆相入力端子72に接続されるとともに、差動増幅器50の逆相入力端子52に接続されている。
なお、図2において、差動増幅器50の正相出力及び逆相出力の2つをクロック再生回路31に入力する構成としているのは、クロック再生回路31が差動入力機能を有すると仮定しているからである。クロック再生回路31が差動入力機能を有しない場合は、差動増幅器50の正相出力又は逆相出力のいずれか一方をクロック再生回路31が入力する構成とすることができる。
前述の構成により、電圧制御回路60は、差動増幅器50の正相出力端子53及び逆相出力端子54の各直流出力電圧レベルを互いに等しくするよう制御することができる。以下、図3を用いて具体的に説明する。
図3(a)は、電圧制御回路60を備えていない場合の差動増幅器50に、入力データ信号81が入力されたときの出力波形を示している。この入力データ信号81は、クロスポイントが50%ではないデータ信号である。
図3(a)に示すように、入力データ信号81がコンデンサ41に入力されると、入力データ信号81の直流成分が除去されて正相入力端子51に入力される。差動増幅器50の正相出力端子53からは、コンデンサ43を介して入力データ信号81と同相(正相)の出力データ信号82が出力される。また、差動増幅器50の逆相出力端子54からは、コンデンサ44を介して入力データ信号81と逆相の出力データ信号83が出力される。
一方、図3(b)は、電圧制御回路60を備えた場合の差動増幅器50に、入力データ信号81が入力されたときの出力波形を示している。
図3(b)に示すように、入力データ信号81がコンデンサ41に入力されると、入力データ信号81の直流成分が除去されて正相入力端子51に入力される。
ここで、差動増幅器50の正相出力端子53及び逆相出力端子54は、それぞれ、コイル61及び62を介して負帰還回路を構成する演算増幅器70の正相入力端子71及び逆相入力端子72に接続されている。したがって、演算増幅器70の正相入力端子71及び逆相入力端子72には、差動増幅器50の正相出力端子53及び逆相出力端子54の各直流出力電圧が印加される。
この構成により、演算増幅器70は、差動増幅器50の正相出力端子53及び逆相出力端子54の各直流出力電圧レベルが仮想短絡により互いに等しくなるようフィードバック制御する。その結果、電圧制御回路60により、差動増幅器50の出力データ信号のクロスポイントが50%の位置になるよう制御されることとなり、差動増幅器50の正相出力端子53及び逆相出力端子54からは、それぞれ、コンデンサ43及び44を介して、クロスポイントが50%の出力データ信号84及び85が出力される。
以上のように、本実施形態における測定装置10は、クロスポイント補正回路40を備えているので、閾値調整回路11において閾値電圧Vthがどのような値に設定されても、常にクロスポイントが50%のデータ信号がクロック信号として得られる。その結果、クロック出力回路30から出力されるクロック信号は常に位相が一定となる。
したがって、本実施形態における測定装置10は、再生クロックを利用してアイダイアグラムの振幅方向の測定を行う場合でも、クロック再生回路31から出力されるクロックの位相に影響を与えることなく、正確なアイダイアグラムを表示部14に表示することができる。
次に、本実施形態におけるクロック出力回路30の効果について図4を用いて説明する。なお、図4(a)〜(c)に示した波形は、BER=10−3でのアイダイアグラムの一例である。
図4(a)は、本実施形態におけるクロック出力回路30による再生クロックを使用しないで、波形整形回路12に外部からのクロックを入力した場合のアイダイアグラムを示している。
図4(b)は、本実施形態におけるクロック出力回路30による再生クロックを使用した場合のアイダイアグラムを示している。
図4(c)は、従来のクロック出力回路7(図6参照)による再生クロックを使用した場合のアイダイアグラムを示している。
図4(c)に示したように、従来のクロック出力回路7では、アイダイアグラムの左側に歪みが生じており、正確な評価ができないアイダイアグラムが得られている。
これに対し、本実施形態におけるクロック出力回路30を使用した場合には、図4(b)に示したように、アイダイアグラムに歪みは発生せず、しかも、再生クロックを使用しないで外部からのクロックを使用した、図4(a)に示したアイダイアグラムと同等の特性が得られている。
次に、本実施形態における測定装置10の動作について図5を用いて説明する。
振幅制限増幅回路20は、閾値電圧Vthに応じて被測定データ信号を増幅し、正相の出力データ信号を波形整形回路12に出力し、逆相の出力データ信号をクロック出力回路30に出力する(ステップS11)。
クロック出力回路30において、クロスポイント補正回路40は、被測定データ信号の波形におけるクロスポイントがハイレベルとローレベルとの中間レベルに位置するようクロスポイント補正ステップを実行する(ステップS12、S13)。
具体的には、クロスポイント補正回路40の差動増幅器50は、正相入力端子51及び逆相入力端子52の2つの入力電圧の差をとって増幅する差動増幅ステップを実行する(ステップS12)。次いで、クロスポイント補正回路40の演算増幅器70は、差動増幅器50の正相出力端子53及び逆相出力端子54の各直流出力電圧レベルが仮想短絡により互いに等しくなるようフィードバック制御を行って電圧制御ステップを実行する(ステップS13)。
クロック再生回路31は、クロスポイント補正回路40の出力データ信号からクロックを再生して再生クロックを得るクロック再生ステップを実行する(ステップS14)。
ディレイ調整回路32は、再生クロックの位相を所定値に調整する位相調整ステップを実行する(ステップS15)。
波形整形回路12は、振幅制限増幅回路20の第1の出力端子23から出力されたデータ信号を再生クロックに基づいて波形整形する(ステップS16)。
BER測定部13aは、波形整形回路12の出力データ信号に基づいてBERを測定する(ステップS17)。
また、ステップS17と並行して、表示部14は、BER測定部13aによって測定されたBERの測定結果や、波形測定部13bによって測定された被測定データ信号のアイダイアグラム等を表示する(ステップS18)。なお、本実施形態では、ステップS17及びS18の動作を並列で行うものとしているが、本発明はこれに限定されず、ステップS17及びS18の少なくともいずれか一方の動作を行う構成としてもよい。
以上のように、本実施形態におけるクロック出力回路30は、クロスポイント補正回路40を備え、クロスポイント補正回路40は、正相出力端子53及び逆相出力端子54を有し入力データ信号を差動増幅する差動増幅器50と、差動増幅器50の正相出力端子53及び逆相出力端子54の各直流出力電圧レベルを互いに等しくする電圧制御回路60と、を備えるので、ハードウェアのみで簡単な構成でクロスポイントを補正することができる。
したがって、本実施形態におけるクロック出力回路30を用いることにより、正確なアイダイアグラムを表示装置に表示することが可能となる。
また、本実施形態における測定装置10は、クロック出力回路30と、再生クロックに基づいて被測定データ信号を波形整形する波形整形回路12と、波形整形回路12の出力データ信号に基づいて所定の測定を行うBER測定部13aと、被測定データ信号の波形を表示するための波形測定部13bと、を備え、ハードウェアのみで簡単な構成でクロスポイントを補正することができるので、簡単な構成で正確な測定を行うことができる。
以上のように、本発明に係る測定装置及び測定方法は、ハードウェアのみで簡単な構成でクロスポイントを補正することができることにより、再生クロックを利用してアイダイアグラムの振幅方向の測定を行う場合でも、クロック再生回路から出力されるクロックの位相に影響を与えることなく、正確なアイダイアグラムを表示可能になるという効果を有し、入力データ信号からクロックを再生する機能を有するクロック出力回路を備えた測定装置及び測定方法として有用である。
10 測定装置(測定装置)
11 閾値調整回路
12 波形整形回路(波形整形手段)
13a BER測定部(測定手段)
13b 波形測定部
14 表示部
20 振幅制限増幅回路(増幅手段)
21 第1の入力端子(被測定データ信号入力端子)
22 第2の入力端子(閾値電圧入力端子)
23 第1の出力端子(第1のデータ信号出力端子)
24 第2の出力端子(第2のデータ信号出力端子)
30 クロック出力回路
31 クロック再生回路(クロック再生手段)
32 ディレイ調整回路(位相調整手段)
40 クロスポイント補正回路(クロスポイント補正手段)
50 差動増幅器(差動増幅手段)
51 正相入力端子(第1の入力端子)
52 逆相入力端子(第2の入力端子)
53 正相出力端子
54 逆相出力端子
60 電圧制御回路(電圧制御手段)
61 コイル(第1のコイル)
62 コイル(第2のコイル)
70 演算増幅器
71 正相入力端子(第3の入力端子)
72 逆相入力端子(第4の入力端子)
73 出力端子

Claims (5)

  1. 所定の閾値電圧(Vth)に応じてデジタル信号である被測定データ信号を増幅する増幅手段(20)と、
    前記増幅手段の一方の出力データ信号である第2のデータ信号からクロックを再生し、再生クロックとして出力するクロック出力回路(30)と、
    前記増幅手段の他方の出力データ信号である第1のデータ信号を前記再生クロックに基づいて波形整形する波形整形手段(12)と、
    前記波形整形手段の出力データ信号に基づいて所定の測定を行う測定手段(13)と、
    を備え、
    前記増幅手段は、
    前記被測定データ信号を入力する被測定データ信号入力端子(21)と、
    前記閾値電圧を入力する閾値電圧入力端子(22)と、
    正相である前記第1のデータ信号を前記波形整形手段に出力する第1のデータ信号出力端子(23)と、
    前記第1のデータ信号とは逆相の関係にある前記第2のデータ信号を入力データ信号として前記クロック出力回路に出力する第2のデータ信号出力端子(24)と、
    を有し、
    前記クロック出力回路は、
    前記閾値電圧を変化させると前記増幅手段から出力される前記第2のデータ信号のクロスポイントも変化してしまうことを回避するために、該第2のデータ信号であり、かつ、ハイレベル及びローレベルを有するデジタル信号である前記入力データ信号の波形におけるクロスポイントが、前記ハイレベルと、前記ローレベルとの中間レベルに位置するよう補正するクロスポイント補正手段(40)と、
    前記クロスポイント補正手段から出力される出力データ信号からクロックを再生して再生クロックを生成するクロック再生手段(31)と、
    前記クロック再生手段が再生した前記再生クロックの位相を調整する位相調整手段(32)と、
    を備え、
    前記クロスポイント補正手段は、
    第1の出力端子(53)及び第2の出力端子(54)を有し、前記入力データ信号を差動増幅する差動増幅手段(50)と、
    前記第1の出力端子及び前記第2の出力端子の各直流出力電圧レベルを互いに等しくする電圧制御手段(60)と、
    を備え
    前記波形整形手段は、前記第1のデータ信号出力端子から入力した前記第1のデータ信号を、前記位相調整手段により前記位相が調整された後の前記再生クロックに基づいて波形整形するものである、
    ことを特徴とする測定装置。
  2. 前記クロック出力回路において、
    前記差動増幅手段は、第1の入力端子(51)及び第2の入力端子(52)を備え、
    前記電圧制御手段は、
    第1のコイル(61)を介し前記第1の出力端子に接続された第3の入力端子(71)と、
    第2のコイル(62)を介し前記第2の出力端子に接続された第4の入力端子(72)と、
    前記第2の入力端子に接続された出力端子(73)と、
    を有し負帰還接続された演算増幅器(70)を備えた、
    ことを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
  3. 前記差動増幅手段の前記第1の入力端子の前段に、前記第1のデータ信号の直流成分を除去するための直流成分除去用コンデンサ(41)が接続され、
    前記差動増幅手段の前記第1のコイル及び前記第2のコイルに対して分岐した後の前記クロック再生手段(31)への出力経路中に、前記第1の出力端子及び前記第2の出力端子からのそれぞれの出力データ信号の直流成分を除去する第1の出力側直流成分除去用コンデンサ(43)及び第2の出力側直流成分除去用コンデンサが接続されることを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  4. 前記クロック再生手段は、差動入力機能を有せず、前記動増幅手段の前記第1の出力端子から出力される正相出力、又は前記第2の出力端子から出力される逆相出力のいずれか一方を前記クロスポイント補正手段から出力される出力データ信号として入力することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の測定装置。
  5. 請求項1に記載の測定装置を用いた測定方法であって、
    所定の閾値電圧(Vth)に応じてデジタル信号である被測定データ信号を増幅する増幅ステップ(S11)と、
    前記増幅ステップの一方の出力データ信号である第2のデータ信号からクロックを再生し、再生クロックとして出力するクロック出力ステップと、
    前記増幅ステップの他方の出力データ信号である第1のデータ信号を前記再生クロックに基づいて波形整形する波形整形ステップ(S16)と、
    前記波形整形ステップの出力データ信号に基づいて所定の測定を行う測定ステップ(S17)と、
    を含み、
    前記増幅ステップは、
    被測定データ信号入力端子(21)から前記被測定データ信号を入力する被測定データ信号入力ステップと、
    閾値電圧入力端子(22)から前記閾値電圧を入力する閾値電圧入力ステップと、
    正相である前記第1のデータ信号を、第1のデータ信号出力端子(23)により、前記波形整形ステップに出力する第1のデータ信号出力ステップと、
    前記第1のデータ信号とは逆相の関係にある前記第2のデータ信号を、第2のデータ信号出力端子(24)により、前記入力データ信号として前記クロック出力ステップに出力する第2のデータ信号出力ステップと、
    を含み、
    前記クロック出力ステップは、
    前記閾値電圧を変化させると前記増幅ステップから出力される前記第2のデータ信号のクロスポイントも変化してしまうことを回避するために、該第2のデータ信号であり、かつ、ハイレベル及びローレベルを有するデジタル信号である前記入力データ信号の波形におけるクロスポイントが、前記ハイレベルと、前記ローレベルとの中間レベルに位置するよう補正するクロスポイント補正ステップ(S12、S13)と、
    前記クロスポイント補正ステップで出力される出力データ信号からクロックを再生して再生クロックを生成するクロック再生ステップ(S14)と、
    前記クロック再生ステップにおいて再生した前記再生クロックの位相を調整する位相調整ステップ(S15)と、
    を含み、
    前記クロスポイント補正ステップは、
    第1の出力端子(53)及び第2の出力端子(54)を有する差動増幅手段(50)によって前記入力データ信号を差動増幅する差動増幅ステップ(S12)と、
    前記第1の出力端子及び前記第2の出力端子の各直流出力電圧レベルを互いに等しくする電圧制御ステップ(S13)と、
    を含み、
    前記波形整形ステップは、前記第1のデータ信号出力ステップから入力した前記第1のデータ信号を、前記位相調整ステップにより前記位相が調整された後の前記再生クロックに基づいて波形整形することを特徴とする測定方法。
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