JP6418421B2 - Mask case, storage device, transport device, exposure device, and device manufacturing method - Google Patents
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Description
本発明は、マスクが収納されるマスクケース、マスクを保管する保管技術、マスクケースに収納されるマスクを搬送する搬送技術、保管技術又は搬送技術を用いる露光技術、及び露光技術を用いるデバイス製造方法に関する。 The present invention relates to a mask case for storing a mask, a storage technique for storing a mask, a transfer technique for transferring a mask stored in a mask case, an exposure technique using a storage technique or a transfer technique, and a device manufacturing method using the exposure technique. About.
例えば液晶表示素子等の電子デバイス(マイクロデバイス)を製造するために使用される露光装置は、複数のマスクをそれぞれマスクケースに収納された状態で保管可能なマスクライブラリと、マスク搬送装置とを備えている。マスク搬送装置は、使用済みのマスクが収納されたマスクケースをマスクライブラリから搬出し、次の露光工程で使用されるマスクが収納されたマスクケースをマスクライブラリに搬入する。そして、露光時には、次に使用するマスクが収納されたマスクケースをマスクライブラリからマスク搬送装置によって取り出し、このマスクケースからマスクローダ系(マスクキャリア)にマスクを受け渡し、マスクローダ系がそのマスクを露光装置のマスクステージにロードしていた(例えば、特許文献1参照)。 For example, an exposure apparatus used for manufacturing an electronic device (microdevice) such as a liquid crystal display element includes a mask library capable of storing a plurality of masks in a state where each mask is stored in a mask case, and a mask transport apparatus. ing. The mask transfer device carries out a mask case containing a used mask from the mask library, and carries a mask case containing a mask used in the next exposure process into the mask library. At the time of exposure, the mask case containing the mask to be used next is taken out from the mask library by the mask transport device, and the mask is transferred from the mask case to the mask loader system (mask carrier), and the mask loader system exposes the mask. It was loaded on the mask stage of the apparatus (see, for example, Patent Document 1).
露光装置における上述のようなマスク搬送装置、マスクローダ系およびマスクライブラリを含むマスク搬送システムでは、マスクステージに対してマスクを確実に搬送するためにマスクの搬送不良を防止することが求められている。ここで、マスクの搬送不良とは、例えば、マスクの誤搬送、搬送システムの停滞・停止、マスク・マスクケース・マスク搬送システム等の破損などが含まれる。 In the mask transport system including the mask transport apparatus, the mask loader system, and the mask library as described above in the exposure apparatus, it is required to prevent a defective transport of the mask in order to transport the mask reliably to the mask stage. . Here, the defective conveyance of the mask includes, for example, erroneous conveyance of the mask, stagnation / stop of the conveyance system, breakage of the mask / mask case / mask conveyance system, and the like.
第1の態様によれば、マスクを支持する支持部が設けられる底面を有する第1ケース部と、第1ケース部に対して着脱可能に設けられ、その底面に対向配置される上面を有する第2ケース部と、を備え、保管装置に保管可能なマスクケースであって、その第2ケース部は、その第1ケース部から取り外されてその保管装置に保持されるときに用いられる保持部を有し、その保持部は、その第1ケース部に装着されたその第2ケース部がその保管装置に保管される第1位置にあるときに、光が通過する第1の光通過部と、その第1ケース部から取り外されたその第2ケース部のその保持部がその保管装置に保持される第2位置にあるときに、その光が通過する、その第1の光通過部とは異なる第2の光通過部と、を備えるマスクケースが提供される。 According to the first aspect, the first case portion having a bottom surface on which the support portion for supporting the mask is provided, and the first case portion having a top surface provided so as to be detachable from the first case portion and opposed to the bottom surface. A mask case that can be stored in a storage device, and the second case portion is a holding portion that is used when the second case portion is removed from the first case portion and held in the storage device. The holding part has a first light passage part through which light passes when the second case part attached to the first case part is in a first position stored in the storage device; When the holding part of the second case part removed from the first case part is in the second position held by the storage device, the light passes therethrough and is different from the first light passing part. A mask case comprising: a second light passage portion; That.
第2の態様によれば、マスクを支持する支持部が設けられる底面を有する第1ケース部と、第1ケース部に対して着脱可能に設けられ、その底面に対向配置される上面を有する第2ケース部と、を備え、保管装置に保管可能なマスクケースであって、その第2ケース部は、その第1ケース部から取り外されて保持されるときに用いられる保持部を備え、その保持部は、その第1ケース部から取り外されたその第2ケース部がその保管装置で支持されるときに、その保管装置に設けられたピン部に嵌合するための開口部を有するマスクケースが提供される。 According to the second aspect, the first case portion having a bottom surface on which the support portion for supporting the mask is provided, and the first case portion having a top surface provided so as to be detachable from the first case portion and opposed to the bottom surface. A mask case that can be stored in a storage device, and the second case portion includes a holding portion that is used when being removed and held from the first case portion. A mask case having an opening for fitting into a pin portion provided in the storage device when the second case portion removed from the first case portion is supported by the storage device; Provided.
第3の態様によれば、マスクを支持する支持部が設けられる底面を有する第1ケース部と、第1ケース部に対して着脱可能に設けられ、その底面に対向配置される上面を有する第2ケース部と、で構成されるマスクケースであって、その第1ケース部は、その底面においてその支持部に対向する位置に、外部からの光を通過させる光通過部を有し、その第2ケース部は、その第1ケース部のその光通過部に対向する位置に、その光通過部から入射する光をその光通過部に向けて反射する反射部を有するマスクケースが提供される。
別の態様によれば、マスクを支持する支持部が設けられる底面を有する第1ケース部と、第1ケース部に対して着脱可能に設けられ、その底面に対向配置される上面を有する第2ケース部と、で構成されるマスクケースであって、その第1ケース部は、その底面においてその支持部に対向する位置に設けられ、外部からの光を通過させる光通過部と、その光通過部と重ならない位置に設けられ、外部からの光を反射する反射部材と、を有するマスクケースが提供される。
第4の態様によれば、パターンが形成されたマスクが収納されるマスクケースであって、そのマスクを支持する下ケース部と、その下ケース部に支持されたそのマスクを覆うように、その下ケース部に載置される上ケース部と、を備え、その上ケース部は、マスクケース用の支持部でその上ケース部を支持するための鍔部を有し、その鍔部に、その上ケース部の位置を検出するための光ビームが通過可能な開口が設けられたマスクケースが提供される。
According to the third aspect, the first case portion having a bottom surface on which the support portion for supporting the mask is provided, and the first case portion detachably provided on the first case portion and having an upper surface disposed opposite to the bottom surface. The first case part has a light passage part for allowing light from the outside to pass through at a position facing the support part on the bottom surface thereof, and the first case part has a first case part . The two case portions are provided with a mask case having a reflection portion that reflects light incident from the light passage portion toward the light passage portion at a position facing the light passage portion of the first case portion .
According to another aspect, the 1st case part which has a bottom face in which the support part which supports a mask is provided, and the 2nd which has the upper surface which is provided so that attachment or detachment to the 1st case part and is arranged opposite to the bottom face. A mask case configured by a case portion, the first case portion being provided at a position facing the support portion on the bottom surface thereof, a light passage portion for allowing light from the outside to pass through, and the light passage thereof There is provided a mask case having a reflecting member that is provided at a position that does not overlap the portion and reflects light from the outside.
According to the fourth aspect, there is provided a mask case for storing a mask on which a pattern is formed, the lower case part supporting the mask, and the mask supported by the lower case part so as to cover the mask. An upper case portion placed on the lower case portion, and the upper case portion has a collar portion for supporting the upper case portion with a support portion for a mask case, A mask case provided with an opening through which a light beam for detecting the position of the upper case portion can be provided.
第5の態様によれば、パターンが形成されたマスクが収納されるマスクケースであって、そのマスクを支持する下ケース部と、その下ケース部に支持されたそのマスクを覆うように、その下ケース部に載置される上ケース部と、を備え、その下ケース部の底面に、外部からの光を反射する第1反射部、及び外部からの光を通過させる窓部が設けられたマスクケースが提供される。
第6の態様によれば、パターンが形成されたマスクが収納されるマスクケースであって、そのマスクを支持する下ケース部と、その下ケース部に支持されたそのマスクを覆うように、その下ケース部に載置される上ケース部と、を備え、その下ケース部のそのマスクケースの搬送部に対向する底面に、回転対称な第1の凹部、V字型の溝状の第2の凹部、及び少なくとも1箇所の平坦部が設けられたマスクケースが提供される。According to the fifth aspect, there is provided a mask case for storing a mask on which a pattern is formed, the lower case part supporting the mask, and the mask supported by the lower case part so as to cover the mask. An upper case portion placed on the lower case portion, and a bottom surface of the lower case portion provided with a first reflecting portion for reflecting light from the outside and a window portion for allowing light from the outside to pass through A mask case is provided.
According to the sixth aspect, there is provided a mask case for storing a mask on which a pattern is formed, the lower case part supporting the mask, and the mask supported by the lower case part so as to cover the mask. An upper case portion placed on the lower case portion, and a bottom surface of the lower case portion facing the transfer portion of the mask case has a first rotationally symmetric recess and a V-shaped groove-like second portion. And a mask case provided with at least one flat portion.
第7の態様によれば、パターンが形成されたマスクを収納し、そのマスクを搬送するための搬送装置に収容されるマスクケースであって、そのマスクを支持する支持部を含む第1ケース部と、その第1ケース部上に載置され、そのマスクを収納するための空間をその第1ケース部と共に形成する第2ケース部と、を備え、その第2ケース部は、その支持部に支持されたそのマスクの上面に対向する天板部およびその天板部に対して外側に突き出した鍔部を含み、その鍔部は、その搬送装置の収容部に対するその第2ケース部の収容状態を検知するためにその鍔部を貫通した貫通部が設けられたマスクケースが提供される。 According to the seventh aspect, the mask case is stored in the transport device for storing the mask on which the pattern is formed and transports the mask, and includes the support portion that supports the mask. And a second case part that is placed on the first case part and forms a space for accommodating the mask together with the first case part, and the second case part is provided on the support part. A top plate portion that opposes the upper surface of the supported mask, and a collar portion protruding outward from the top plate portion, the collar portion being in the accommodation state of the second case portion with respect to the accommodation portion of the transport device In order to detect this, a mask case provided with a penetrating portion penetrating the collar portion is provided.
第8の態様によれば、マスクケースを保管する保管装置において、第1の態様のマスクケースのその保持部を介してそのマスクケースを支持可能な支持部と、その支持部に向けて光ビームを照射する照射部と、その支持部に向けて照射されたその光ビームを検出する検出部と、を備える保管装置が提供される。
第9の態様によれば、マスクケースを搬送する搬送装置であって、第8の態様の保管装置にそのマスクケースを搬送する搬送アームを備え、その搬送アームは、そのマスクケースを保持してからそのマスクケースがその保管装置のその支持部に支持されるまでの間にその検出部で検出されたその光ビームの検出結果に基づいて、そのマスクケースがその支持部で支持される位置を制御する搬送装置が提供される。According to the eighth aspect, in the storage device for storing the mask case, the support part capable of supporting the mask case via the holding part of the mask case of the first aspect, and the light beam toward the support part A storage device is provided that includes an irradiation unit that irradiates and a detection unit that detects the light beam irradiated toward the support unit.
According to the ninth aspect, there is provided a transfer device for transferring the mask case, the transfer device including the transfer arm for transferring the mask case to the storage device of the eighth aspect, wherein the transfer arm holds the mask case. The position at which the mask case is supported by the support unit is determined based on the detection result of the light beam detected by the detection unit until the mask case is supported by the support unit of the storage device. A transport device for control is provided.
第10の態様によれば、マスクケースを保管する保管装置であって、第2の態様のマスクケースの保持部を支持可能なケース支持部を備え、そのケース支持部に、その保持部に設けられたその開口部と係合可能なピン部を有する保管装置が提供される。
第11の態様によれば、マスクケースを搬送する搬送装置において、第3の態様のマスクケースを支持するケース支持部と、そのマスクケースに向けて光ビームを照射する照射部と、そのマスクケースに向けて照射されたその光ビームを検出する検出部と、を備える搬送装置が提供される。According to a tenth aspect, there is provided a storage device for storing a mask case, comprising: a case support part capable of supporting the mask case holding part of the second aspect; provided in the case support part at the holding part A storage device is provided having a pin portion engageable with the formed opening.
According to the eleventh aspect, in the transport apparatus that transports the mask case, the case support part that supports the mask case of the third aspect, the irradiation part that irradiates the mask case with the light beam, and the mask case And a detection unit that detects the light beam irradiated toward the surface.
第12の態様によれば、マスクケースを保管する保管装置、又はマスクケースを搬送する搬送装置において、上述の態様のマスクケースを支持するケース支持部を備える保管装置、又は搬送装置が提供される。
第13の態様によれば、マスクケースを搬送する搬送装置であって、上述の態様のマスクケースから第2ケース部を取り出して、そのマスクが載置されたその第1ケース部を搬送する搬送アームを備える搬送装置が提供される。According to the twelfth aspect, in the storage apparatus that stores the mask case or the transfer apparatus that transfers the mask case, the storage apparatus or the transfer apparatus that includes the case support portion that supports the mask case of the above-described aspect is provided. .
According to the thirteenth aspect, there is a transport apparatus for transporting the mask case, wherein the second case part is taken out from the mask case of the above-described aspect, and transports the first case part on which the mask is placed. A transport device comprising an arm is provided.
第14の態様によれば、基板を露光する露光装置において、上述の態様のマスクケースに収納されたマスクを用いて、その基板を露光する露光装置が提供される。
第15の態様によれば、基板を露光する露光装置において、上述の態様の保管装置、又は上述の態様の搬送装置を備え、その保管装置に保管可能なマスクケース、又はその搬送装置によって搬送されたマスクケースの内部に収納されたマスクを用いて、その基板を露光する露光装置が提供される。According to the fourteenth aspect, there is provided an exposure apparatus that exposes a substrate using the mask accommodated in the mask case according to the aspect described above.
According to the fifteenth aspect, an exposure apparatus that exposes a substrate includes the storage apparatus according to the aspect described above or the transport apparatus according to the aspect described above, and is transported by the mask case that can be stored in the storage apparatus, or the transport apparatus. There is provided an exposure apparatus that exposes a substrate using a mask housed in the mask case.
第16の態様によれば、上述の態様の露光装置を用いて感光性基板を露光することと、その露光された感光性基板を処理することと、を含むデバイス製造方法が提供される。
第17の態様によれば、マスクケースを保管する保管方法において、上述の態様のマスクケースのその保持部を介してそのマスクケースを支持することと、その支持部に向けて光ビームを照射することと、その支持部に向けて照射されたその光ビームを検出することと、を含む保管方法が提供される。According to a sixteenth aspect, there is provided a device manufacturing method including exposing a photosensitive substrate using the exposure apparatus of the above-described aspect and processing the exposed photosensitive substrate.
According to the seventeenth aspect, in the storage method for storing the mask case, the mask case is supported via the holding part of the mask case of the above-described aspect, and the light beam is irradiated toward the support part. And a method of storage including detecting the light beam directed toward the support.
第18の態様によれば、マスクケースを搬送する搬送方法において、マスクが収納された上述の態様のマスクケースを支持することと、そのマスクケースの第1ケース部に光を照射し、その第1ケース部に照射されたその光を検出することと、その第1ケース部に設けられる光通過部を介してその第1ケース部に載置されたそのマスクにその光を照射し、そのマスクからの反射光をその光通過部を介して検出することと、を含む搬送方法が提供される。 According to the eighteenth aspect, in the transport method for transporting the mask case, the mask case of the above-described aspect in which the mask is stored is supported, the first case portion of the mask case is irradiated with light, and the first Detecting the light applied to one case part, irradiating the mask placed on the first case part via the light passing part provided in the first case part, and the mask Detecting the reflected light from the light through its light passage.
本発明の実施形態の一例につき図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る露光装置EXの概略構成を示す。一例として、露光装置EX(投影露光装置)は、走査露光型であり、液晶表示素子又は有機EL(Electro-Luminescence)方式の表示素子等を製造するためのレジスト(感光剤)が塗布された平板状のプレートP(感光基板)に、マスクMのパターンの像を露光する。なお、以下の説明において、水平面内で、後述のマスクライブラリLBからマスクMが収納された後述のマスクケース30を搬入又は搬出する方向に沿ってY軸を取り、その水平面内でY軸に直交する方向に沿ってX軸を取り、X軸及びY軸に垂直な方向(すなわち鉛直方向)に沿ってZ軸を取っている。
An exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a schematic configuration of an exposure apparatus EX according to the present embodiment. As an example, the exposure apparatus EX (projection exposure apparatus) is a scanning exposure type, and is a flat plate coated with a resist (photosensitive agent) for manufacturing a liquid crystal display element or an organic EL (Electro-Luminescence) type display element. An image of the pattern of the mask M is exposed on a plate-shaped plate P (photosensitive substrate). In the following description, in the horizontal plane, the Y axis is taken along the direction in which a later-described
露光装置EXは、矩形の平板状のマスクMのパターンをプレートPに露光する露光部Sを備えている。なお、一例として、マスクMのパターン面(下面)には、矩形の枠状のフレーム(不図示)を介して防塵用の薄膜(いわゆるペリクル)が張設されていてもよい。露光部Sは、マスクMを保持して移動するマスクステージMSTと、露光光でマスクMを照明する照明系ILと、マスクMのパターンの像をプレートPの表面に投影する投影光学系PLと、プレートPを保持して移動するプレートステージPSTとを有する。さらに、露光装置EXは、それぞれマスクMが収納された複数のマスクケース30を保管可能な保管部としてのマスクライブラリLBと、マスクライブラリLBに対するマスクケース30の搬入及び搬出等を行う搬送装置H1と、マスクケース30から取り出したマスクMを露光部SのマスクステージMSTに搬送するマスクローダ系H2と、装置全体の動作を制御する制御装置CONTとを備えている。なお、露光部S、マスクライブラリLB、搬送装置H1、及びマスクローダ系H2は、所定環境に設定された露光チャンバCH内部に収容されている。
The exposure apparatus EX includes an exposure unit S that exposes a pattern of a rectangular flat mask M onto the plate P. As an example, a dust-proof thin film (so-called pellicle) may be stretched on the pattern surface (lower surface) of the mask M via a rectangular frame-shaped frame (not shown). The exposure unit S includes a mask stage MST that holds and moves the mask M, an illumination system IL that illuminates the mask M with exposure light, and a projection optical system PL that projects an image of the pattern of the mask M onto the surface of the plate P. And a plate stage PST that holds and moves the plate P. Further, the exposure apparatus EX includes a mask library LB as a storage unit capable of storing a plurality of
マスクライブラリLBは、露光チャンバCHの+Y方向の側面に設けられたマスクケース30の搬出入口(不図示)の近傍に設けられ、マスクケース30を収容する複数の収容部65及びマスクケース30を一時的に収容する一時収容部66を有する。複数の収容部65はZ方向に配列され、収容部65に収容される各マスクケース30にはそれぞれ1枚のマスクMが個別に収納される。複数のマスクケース30内のマスクMには、通常は互いに異なるマスクパターンが形成されている。
The mask library LB is provided in the vicinity of the carry-in / out port (not shown) of the
一例として、マスクライブラリLB内にあるマスクMとは別の多くのマスクMが、それぞれマスクケース30に収納された状態で、露光チャンバCHの外部のマスクストッカ(不図示)に保管されている。そして、露光装置EXで必要になったマスクMが収納されたマスクケース30が、そのマスクストッカから搬送車Vによって露光チャンバCHの搬出入口(不図示)を通してマスクライブラリLBの一時収容部66に搬入される。一時収容部66に搬入されたマスクケース30は、搬送装置H1によって収容部65に移される。さらに、使用済みのマスクMが収納されたマスクケース30が、搬送装置H1によって収容部65から一時収容部66に移される。そのマスクケース30は、搬送車Vによって一時収容部66から露光チャンバCHの搬出入口(不図示)を通してマスクストッカ(不図示)に戻される。
As an example, many masks M different from the masks M in the mask library LB are stored in a mask stocker (not shown) outside the exposure chamber CH while being stored in the
図2(A)は図1中のマスクケース30を上面側から見た斜視図、図2(B)はマスクケースを底面側から見た斜視図、図3(A)はマスクケース30を示す平面図(上面図)、図3(B)はマスクケース30を示す底面図である。なお、図2(A)〜図3(B)における座標系(X,Y,Z)は、マスクケース30が図1のマスクライブラリLBの収容部65に収容されている状態での座標系を示している。
2A is a perspective view of the
マスクケース30は、図2(A)及び(B)に示すように、マスクMが載置される下ケース部(第1ケース部)31Aと、その下ケース部31Aに載置されたマスクMを覆うように下ケース部31Aの上に載置(装着)される上ケース部(第2ケース部)31Bとを備えている。すなわち、マスクケース30は、下ケース部31Aと上ケース部31Bとを互いに組み合わせてマスクMを収納するための空間を形成している。下ケース部31Aと上ケース部31Bとは、マスクMを収納するための空間を覆う(囲む)ように組み合わされ、この空間に収納されたマスクMを保護する。下ケース部31Aは、図2(B)及び図3(B)に示すように、マスクMよりも大きい矩形の平板状のベース部材32、及びベース部材32の−Y方向の上端部にボルト(不図示)を介して固定された平板状の側壁部材33を有する。上ケース部31Bは、図2(A)及び図3(A)に示すように、ベース部材32とほぼ同じ大きさの矩形の平板部(天板部)39aの−X方向、+X方向及び+Y方向の端部の下側にそれぞれ平板状の側壁部39b,39c,39dを設けた形状のカバー部材39、並びにカバー部材39の−X方向及び+X方向の側面の中央部に、それぞれ外側に突き出るように固定されたY方向に細長い鍔部41A,41Bを有する。一例として、マスクケース30(ケース部31A,31B)の上面の外形は、Y方向の長さがX方向の幅よりも長いほぼ長方形状である。
As shown in FIGS. 2A and 2B, the
下ケース部31A及び上ケース部31Bを構成する部材は、一例としてそれぞれアルミニウム又はステンレス等の金属から形成することができるが、金属に限定されず、プラスチックや炭素繊維を用いた複合材料等で形成してもよい。また、下ケース部31A及び上ケース部31Bの一部に形成される開口(詳細後述)に合成樹脂又は石英ガラス等から形成される窓部を装着する(埋め込む)ようにしてもよい。
The members constituting the
ベース部材32は、矩形の平板部32aのX方向の両側面に、それぞれ平板部32aよりもわずかに−Y方向に突き出るとともに、底面にY方向に沿って溝部32b1が形成された2つの細長い平板部32bを固定したものである。平板部32bの溝部32b1の2箇所にそれぞれボルトB4を介して短いロッド状の脚部35が固定され、平板部32aの底面の中央の2箇所にもそれぞれボルトB4を介して脚部35が固定されている。なお、平板部32aに固定された脚部35は省略することが可能である。平板部32aの−Y方向の側面(側壁部材33の底面)の2箇所に、断面形状がL字型の連結部38A,38Bがボルト(不図示)によって固定され、連結部38A,38Bの−Y方向に突き出した部分にそれぞれ円形の開口38Aa,38Ba(詳細後述)が形成されている。
The
鍔部41A,41Bはそれぞれ断面形状がL字型で、Y方向の長さがカバー部材39の長さの1/2程度であり、鍔部41A,41Bのうち側壁部39b,39cに対向する部分がそれぞれ複数箇所でボルトB5によってカバー部材39の側壁部39b,39cに固定されている。鍔部41A,41Bの−X方向及び+X方向に突き出た部分(以下、これらの部分を単に鍔部41A,41Bという)の−Y方向の端部に近い部分に、それぞれY方向に所定の幅の切り欠き部41Aa,41Baが設けられ、鍔部41A,41Bの+Y方向の端部に近い位置にそれぞれ所定の大きさの円形の開口(貫通孔)41Ab,41Bbが設けられている。さらに、一方(+X方向側)の鍔部41Bの切り欠き部41Baに近い位置に、Y方向に沿って所定間隔で2つの互いに同じ大きさの円形の開口(貫通孔)41Bc,41Bdが設けられている。具体的には、一例として、開口41Bc,41Bdは、Y方向に互いに60mm隔てた位置が開口(貫通)するように設けられている。また、一例として、41Bdの中心と、開口41Bbの中心とのY方向の間隔は570mmである。なお、鍔部41A,41Bは、上述した切り欠き部および各開口の配置をY方向に関して反転した構成にしてもよい。また、開口41Bc,41Bdは、互いに同じ大きさに限定されず異なる大きさであってもよく、円形状に限定されず他の形状であってもよい。例えば、開口41Bc,41Bdは、円形状に閉じた開口(孔)形状ではなく、鍔部41Bの側面に繋がった切り欠き形状であってもよい。
Each of the
本実施形態のマスクケース30において、上ケース部31Bの鍔部41A,41Bを支持した状態で、下ケース部31Aを降下させることによって、上ケース部31Bを下ケース部31Aから容易に分離することができる。逆に、その上ケース部31Bが分離された状態から下ケース部31Aを上昇させることによって、下ケース部31A上に載置されたマスクMを覆うように、下ケース部31Aに上ケース部31Bを容易に装着することができる。
In the
図4は、下ケース部31Aから上ケース部31Bを分離し、下ケース部31AからマスクMを持ち上げた状態のマスクケース30を示す。図4において、下ケース部31Aの2つの細長い平板部32bの上端部に、それぞれマスクMを支持するための段差部34Ba,34Caが形成された支持部34B,34Cが固定され(一方の支持部34Bは不図示)、支持部34B,34Cの間に段差部34Ba,34Caと同じ高さの小さい平板状の支持部34Aが固定されている。各1対の支持部34B,34Cの段差部34Ba,34Ca、及び1対の支持部34Aの上面にマスクMのパターン面(下面)の周縁部を載置することによって、下ケース部31AでマスクMを支持することができる。マスクライブラリLBにマスクケース30を収納した状態で、マスクMのパターン面はほぼ水平面に平行である。
FIG. 4 shows the
また、カバー部材39の平板部39aに設けられた4箇所の開口(例えばほぼ正方形の開口)に、それぞれ光(例えば可視光)を透過するマスク観察用の窓部39eが装着され、平板部39aの+X方向の端部に設けられた開口(例えば細長い矩形開口)に、光(例えば可視光)を透過するバーコード観察用の窓部39fが装着されている。さらに、ベース部材32の平板部32aの−X方向の端部かつ−Y方向の端部に設けられた開口(例えばほぼ正方形の開口)に、光(例えば可視光)を透過する内部観察用の窓部32a1が装着されている。下ケース部31Aに上ケース部31Bを装着した状態で、オペレータは、窓部39eを通して内部のマスクMの状態(マスクMの有無を含む)を観察できるとともに、オペレータ又は所定の検出装置は、窓部39fを通して内部のマスクMに形成されたバーコード(不図示)を読み取ることができる。なお、窓部39e,39f,32a1には、光の透過性を有し発塵が少ない材料として合成樹脂、ガラス(例えば石英ガラス)等を用いることができる。
In addition,
また、カバー部材39の側壁部39b,39cは、それぞれベース部材32の細長い平板部32bにおいて支持部34B,34Cの外側の領域に載置されるとともに、側壁部39dは、ベース部材32の+Y方向の端部の領域に載置される。さらに、カバー部材39の平板部39aの−Y方向の端部39gは、下ケース部31Aの側壁部材33を覆うことが可能な程度に、側壁部39b,39cよりも−Y方向に突き出ている。そして、支持部34B,34Cの高さは側壁部材33の高さより低く設定され、側壁部39b〜39dの高さは側壁部材33の高さに対してわずかに高く設定されている。また、カバー部材39の平板部39aの底面において、下ケース部31Aの支持部34B,34Cと側壁部材33との間の領域に対向する位置にそれぞれ側壁部39b,39cよりも低いロッド状の位置決め部40A,40Bが設けられている。この構成によって、カバー部材39の側壁部39b〜39dをベース部材32上の支持部34A〜34Cの外側の領域に載置したときに、端部39gが側壁部材33を覆うようになるため、内部の気密性が高く維持されて、マスクケース30の防塵性能が高くなる。さらに、位置決め部40A,40Bがそれぞれ下ケース部31Aの一部と当接することで、振動等によって、上ケース部31Bの位置が下ケース部31Aに対してX方向およびY方向にずれることが防止される。なお、位置決め部40A,40Bは、上述のように平板部39aの底面の−Y側の端部に設けるだけでなく、平板部39aの底面の+Y側の端部にも同様に設けてもよく、あるいは−Y側に代えて+Y側の端部に設けてもよい。
Further, the
また、図2(B)及び図3(B)に示すように、ベース部材32の平板部32aの底面に、X方向(ここではマスクケース30の幅方向又は短辺方向)に沿って所定間隔で、第1の位置決め部36A、及び第2の位置決め部36Bが固定されている。第1の位置決め部36Aは、その中央部に回転対称な形状の凹部36Aaが形成され、第2の位置決め部36Bは、その中央部にV字型の溝状の凹部36Ba(線対称な凹部)がX方向に沿って形成されている。また、平板部32aの底面の位置決め部36A,36Bから+Y方向及び−Y方向にそれぞれ所定間隔離れた位置PS2,PS1及びPS4,PS3に、平坦な表面(以下、平坦面という)36Caを有する4個の位置決め部36Cが固定されている。一例として、図3(C)に示すように、位置決め部36Aの凹部36Aaは円錐面状である。ただし、凹部36Aaは球面状等でもよい。また、位置決め部36A(他の位置決め部36B,36Cも同様)は、例えばそれぞれ複数のボルトB4を用いて平板部32aの底面に固定されている。
Further, as shown in FIGS. 2B and 3B, a predetermined distance is provided on the bottom surface of the
また、図3(B)において、マスクMを収容した状態のマスクケース30の重心位置は、位置決め部36A,36Bの中心を結ぶ直線と、+Y方向側の2つの位置決め部36Cの中心を結ぶ直線との中間付近で、かつベース部材32のX方向の中心付近を通り、Z軸に平行な直線上に位置している。このため、後述のように、位置決め部36A,36Bの凹部36Aa,36Ba及び位置PS1(又はPS2)にある位置決め部36Cの平坦面36Caをそれぞれ対応するボールトランスファ54A〜54C(図5(A)参照)等の球面で支持することによって、マスクケース30を安定に支持できる。なお、これらの場合でも、振動等でマスクケース30が傾斜する場合を考慮して、他の位置PS3,PS4の位置決め部36Cにも対向するように所定間隔を隔ててボールトランスファの支持部材を配置してもよい。
3B, the center of gravity of the
また、図2(B)に示すように、ベース部材32の平板部32aの窓部32a1の近くに、下ケース部31Aの有無を検出するための光ビームを反射する反射部37Aが設けられている。一例として反射部37Aは再帰性反射部材であり、反射部37Aに入射した光ビームは入射した方向に反射される。このため、下ケース部31Aが傾斜していても、検出部(不図示)によって下ケース部31Aの有無を正確に検出できる。
As shown in FIG. 2B, a
さらに、図2(B)のマスクケース30の窓部32a1を含む部分の断面図である図7に示すように、カバー部材39の平板部39aの内面のうち窓部32a1に対向する位置に、上ケース部31Bの有無を検出するための光ビームLB4を反射する反射部37Bが設けられている。一例として反射部37Bの表面には例えばマスクケース30の幅方向を偏光方向とする偏光板(不図示)が固定されており、反射部37Bは偏光特性を有する。このため、マスクケース30の外部から窓部32a1を通して反射部37Bに入射し、反射部37Bで反射された光ビームLB4のうち、その偏光方向に沿った偏光成分の光のみがその偏光板を透過して窓部32a1を通して外部に射出される。そして、外部の検出部63cではその偏光方向の偏光成分のみを検出することによって、他の外乱光に影響されることなく、上ケース部31Bの内面で反射された光ビームのみを検出できるため、上ケース部31Bの有無を正確に検出できる。
Furthermore, as shown in FIG. 7 which is a cross-sectional view of a portion including the window portion 32a1 of the
なお、反射部37Bを偏光特性のない再帰性反射部材としてもよく、反射部37Aに再帰性のない偏光特性を持たせるようにしてもよい。又は、反射部37A,37Bにそれぞれ再帰性及び偏光特性の両方を持たせるようにしてもよい。また、窓部32a1は、マスクケース30の外部からマスクMの有無(又は検出部からマスクMのパターン面Maまでの距離)を検出するために照射される光ビームLB3を通すためにも使用される。
Note that the
次に、搬送車Vの構成につき、図5(A)(平面図)及び図5(B)(側面図)を参照して説明する。搬送車Vは、マスクライブラリLBの一時収容部66に対するマスクケース30の搬送、及び一時収容部66からのマスクケース30の搬出を行う。図5(A)及び(B)は、図1のマスクライブラリLBに対するマスクケース30の搬入又は搬出を行うためにY方向に移動している搬送車Vを示す。搬送車Vは、本体部55と、駆動機構(不図示)によって駆動されて本体部55を移動させる複数の車輪56と、本体部55の前面に駆動機構(不図示)によってZ方向に移動可能に支持されたマスクケース搬送部53とを備えている。その駆動機構は、マスクケース搬送部53に支持されたマスクケース30のZ方向の位置(Z位置)を計測するエンコーダ(不図示)を有する。また、マスクケース搬送部53のほぼ水平面に平行で長方形状の上面を有する平板部53aに、点線で示すように平板部53aの長手方向とマスクケース30の長手方向とが平行になるように、マスクケース30が載置される。図5(A)及び(B)の状態では、平板部53aの長手方向はY方向であり、平板部53aのX方向の幅はマスクケース30のベース部材32の平板部32aの幅よりも狭く設定されている。なお、複数の車輪56によって本体部55の移動方向を制御することも可能であり、本体部55には、マスクケース搬送部53のX方向の位置を調整する機構(不図示)も設けられている。
Next, the configuration of the transport vehicle V will be described with reference to FIG. 5 (A) (plan view) and FIG. 5 (B) (side view). The transport vehicle V transports the
また、平板部53aの上面に、図3(B)に示すマスクケース30のベース部材32の底面に設けられた位置決め部36A,36B、及び位置PS1,PS2の位置決め部36Cと同じ配置で、それぞれ表面に球面部54Aa,54Ba,54Ca,54Daが設けられた支持部材であるボールトランスファ54A,54B,54C,54Dがボルト(不図示)によって固定されている。さらに、図2(B)の位置決め部36A,36Bに対する連結部38A,38Bの開口38Aa,38Baと同じ位置関係で、平板部53aの上面のボールトランスファ54A,54Bから−Y方向に離れた位置に、開口38Aa,38Baよりも小さい直径のピン57Aa,57Baを有する支持部57A,57Bが固定されている。
Further, on the upper surface of the
マスクケース30をマスクケース搬送部53に載置する際には、マスクケース30の位置決め部36A,36Bの凹部36Aa,36Ba、及び位置PS1の位置決め部36Cの平坦部36Caがそれぞれボールトランスファ54A,54B,54Cの球面部54Aa,54Ba,54Caに接触する。この状態で、マスクケース30の平板部32aの底面がほぼ水平面に平行になるように、マスクケース搬送部53のボールトランスファ54A〜54Cの高さが個別に調整されている。この際に、マスクケース30とマスクケース搬送部53との間に、位置決め部36Aの凹部36Aaの半径程度までの位置ずれがあっても、マスクケース搬送部53のボールトランスファ54Aの球面部の中心と位置決め部36Aの凹部36Aaの中心とが合致し、ボールトランスファ54Bの球面部の中心のY方向の位置と位置決め部36Bの凹部36Baの中心のY方向の位置とが合致するように、マスクケース30の自重によってマスクケース30の位置及び回転角が自動的に調整される。このため、マスクケース30をマスクケース搬送部53に載置する際の位置制御精度をあまり高くする必要がない。
When the
さらに、位置PS2の位置決め部36Cから僅かな間隔を隔ててボールトランスファ54Dの球面部54Daが位置するように、ボールトランスファ54Dの高さが調整されている。なお、同様に、位置PS3.PS4の位置決め部36Cから僅かな間隔を隔てて別のボールトランスファ(不図示)を平板部53aの上面に設けてもよい。
凹部36Aa,36Ba及び平坦部36Caをそれぞれボールトランスファ54A〜54Cで支持することによって、マスクケース搬送部53(搬送車V)に対するマスクケース30のX方向及びY方向の位置、及びZ軸に平行な軸の回り(以下、θz方向という)の回転角がそれぞれ目標値に自動的に設定され、この状態で搬送車Vによってマスクケース30が安定に搬送される。また、他の位置PS2の位置決め部36Cに近接してボールトランスファ54Dが配置されているため、振動等でマスクケース30が傾斜しても、位置決め部36Cがボールトランスファ54Dに接触することによって、その傾斜角がそれ以上大きくなることはない。さらに、この状態でマスクケース30の連結部38A,38Bの開口38Aa,38Baにマスクケース搬送部53のピン57Aa,57Baが差し込まれるため、搬送中の振動等によってマスクケース30の位置がずれることが確実に防止できる。なお、搬送中の振動が少ない場合等には、連結部38A,38B及び支持部57A,57Bを省略することも可能である。Further, the height of the
By supporting the concave portions 36Aa, 36Ba and the flat portion 36Ca with ball transfer 54A to 54C, respectively, the position of the
また、露光チャンバCHの外部には、一例としてY方向に離れた2箇所で搬送車Vのマスクケース搬送部53の側面までの間隔を検出する非接触方式の間隔センサ(不図示)が設置されている。そして、マスクケース搬送部53に載置されているマスクケース30のX方向の位置及びθz方向の回転角が、それぞれマスクライブラリLB内に収容されているときの目標値になるときにその2箇所の間隔センサで検出される間隔が、調整目標値として例えば制御装置CONTの記憶部に記憶されている。このため、その2箇所の間隔センサで検出される間隔が対応する調整目標値になるように搬送車VのX方向の位置及びθz方向の回転角を調整することによって、搬送車Vで支持されているマスクケース30のX方向の位置及びθz方向の回転角をそれぞれ目標値に設定できる。さらに、搬送車Vで計測されるマスクケース30のZ位置と、マスクライブラリLBの一時収容部66に収容されている状態のマスクケース30のZ位置の値(以下、設定値という)との関係は既知である。また、搬送車Vは、マスクケース搬送部53に支持されたマスクケース30のY方向の位置を計測するエンコーダ(不図示)を有する。このエンコーダで計測されるマスクケース30のY方向の位置と、マスクライブラリLB内の一時収容部66でのY方向の目標位置との関係は既知である。
Further, as an example, a non-contact type distance sensor (not shown) that detects the distance to the side surface of the mask
そして、搬送車Vで支持されているマスクケース30のZ位置をその設定値よりも所定間隔だけ高く設定した状態で、搬送車Vを−Y方向に移動して、マスクケース搬送部53で支持されるマスクケース30をマスクライブラリLBの一時収容部66の上方に移動した後、マスクケース搬送部53を降下させることで、マスクケース30を一時収容部66に受け渡すことができる。逆に、一時収容部66に保持されているマスクケース30の底面側にマスクケース搬送部53を移動した後、マスクケース搬送部53のZ位置を高くすることによって、一時収容部66からマスクケース搬送部53(搬送車V)にマスクケース30を受け渡すことができる。
Then, with the Z position of the
次に、搬送装置H1の構成につき、図6(A)(平面図)及び図6(B)(側面図)を参照して説明する。搬送装置H1は、マスクケース30が載置されるマスクケース搬送部61と、マスクケース搬送部61の−Y方向の端部を保持する保持部64と、保持部64を介してマスクケース搬送部61をY方向に移動する水平駆動部67と、水平駆動部67を介してマスクケース搬送部61をZ方向に移動する昇降駆動部68とを備えている。昇降駆動部68は、マスクケース搬送部61に支持されたマスクケース30のZ位置を計測するエンコーダ(不図示)を有する。このエンコーダで計測されるマスクケース30のZ位置と、マスクライブラリLB内の各収容部65及び一時収容部66でのマスクケース30のZ位置の値(設定値)との関係は既知である。水平駆動部67はマスクケース搬送部61に支持されたマスクケース30のY方向の位置を計測するエンコーダ(不図示)を有する。このエンコーダで計測されるマスクケース30のY方向の位置と、マスクライブラリLB内の各収容部65でのY方向の目標位置との関係は既知である。
Next, the configuration of the transport device H1 will be described with reference to FIG. 6A (plan view) and FIG. 6B (side view). The transport apparatus H1 includes a mask
ほぼ水平面に平行でY方向を長手方向とする長方形状の上面を有するマスクケース搬送部61に、マスクケース搬送部61の長手方向とマスクケース30の長手方向とが平行になるように、マスクケース30が載置される。マスクケース搬送部61のX方向の幅はマスクケース30のベース部材32の平板部32aの幅よりも狭く設定されている。
また、マスクケース搬送部61の上面に、図3(B)に示すマスクケース30のベース部材32の底面に設けられた位置決め部36A,36B、及び位置PS1,PS2の位置決め部36Cと同じ配置で、それぞれ表面に球面部62Aa,62Ba,62Ca,62Daが設けられた支持部材であるボールトランスファ62A,62B,62C,62Dがボルト(不図示)によって固定されている。さらに、図2(B)の位置決め部36Bに対する反射部37A及び窓部32a1と同じ位置関係で、マスクケース搬送部61の上面のボールトランスファ62から−Y方向に離れた位置に、マスクケース30の検出装置63が設けられている。The mask case is arranged so that the longitudinal direction of the mask
In addition, the same arrangement as the
マスクケース30をマスクケース搬送部61に載置する際には、マスクケース30の位置決め部36A,36Bの凹部36Aa,36Ba、及び位置PS1の位置決め部36Cの平坦部36Caがそれぞれボールトランスファ62A,62B,62Cの球面部62Aa,62Ba,62Caに接触する。この状態で、マスクケース30の平板部32aの底面がほぼ水平面に平行になるように、マスクケース搬送部61のボールトランスファ62A〜62Cの高さが個別に調整されている。この際に、マスクケース30とマスクケース搬送部61との間に、位置決め部36Aの凹部36Aaの半径程度までの位置ずれがあっても、マスクケース搬送部61のボールトランスファ62Aの球面部の中心と位置決め部36Aの凹部36Aaの中心とが合致し、ボールトランスファ62Bの球面部の中心のY方向の位置と位置決め部36Bの凹部36Baの中心のY方向の位置とが合致するように、マスクケース30の自重によってマスクケース30の位置及び回転角が自動的に調整される。このため、マスクケース30をマスクケース搬送部61に載置する際の位置制御精度をあまり高くする必要がなく、マスクライブラリLBの収容部65又は一時収容部66に収容されるマスクケース30の位置精度をあまり高くする必要もない。
When the
さらに、位置PS2の位置決め部36Cから僅かな間隔を隔ててボールトランスファ62Dの球面部62Daが位置するように、ボールトランスファ62Dの高さが調整されている。なお、同様に、位置PS3.PS4の位置決め部36Cから僅かな間隔を隔てて別のボールトランスファ(不図示)をマスクケース搬送部61の上面に設けてもよい。
凹部36Aa,36Ba及び平坦部36Caをそれぞれボールトランスファ62A〜62Cで支持することによって、マスクケース搬送部61(搬送装置H1)に対するマスクケース30のX方向及びY方向の位置、及びθz方向の回転角がそれぞれ目標値に自動的に設定され、この状態でマスクケース搬送部61によってマスクケース30が安定に搬送される。また、他の位置PS2の位置決め部36Cに近接してボールトランスファ62Dが配置されているため、振動等でマスクケース30が傾斜しても、位置決め部36Cがボールトランスファ62Dに接触することによって、その傾斜角がそれ以上大きくなることはない。さらに、この状態でマスクケース30の反射部37A及び窓部32a1が検出装置63に対向している。Further, the height of the
By supporting the concave portions 36Aa, 36Ba and the flat portion 36Ca with ball transfer 62A to 62C, respectively, the position of the
図7に示すように、検出装置63は、マスクケース30の下ケース部31Aの再帰性の反射部37Aに光ビームLB2を照射し、反射部37Aからの反射光の強度を検出する第1検出部63aと、窓部32a1を通してマスクMのパターン面Maに光ビームLB3を斜めに照射し、パターン面Maで反射されて窓部32a1を通して戻される光の強度を検出する第2検出部63bと、窓部32a1を通して上ケース部31Bの内面の偏光特性を有する反射部37Bに光ビームLB4を照射し、反射部37Bで反射されて窓部32a1を通して戻される光の強度を検出する第3検出部63cとを有する。一例として、光ビームLB2〜LB4は発光ダイオード(LED)等から射出される可視域の光をコリメータレンズ(不図示)によって平行光束にしたものであるが、光ビームLB2〜LB4として近赤外域から赤外域等の光を使用してもよい。この場合、窓部32a1は近赤外域から赤外域等の光を透過する材料から形成される。
As shown in FIG. 7, the
検出部63aで検出される強度を信号処理部(不図示)で所定の第1の基準値と比較することで、下ケース部31Aの有無を検出できる。また、検出部63bで検出される強度を信号処理部(不図示)で所定のテーブル(信号強度と被検物までの距離との対応関係を示すテーブル)に当てはめることで、検出部63bからパターン面Maまでの距離、及び/又はマスクMの有無を検出できる。検出部63cで検出される強度を信号処理部(不図示)で所定の第2の基準値と比較することで、上ケース部31Bの有無を検出できる。検出装置63を用いたマスクケース30の有無等の検出結果は制御装置CONTに供給される。なお、検出部63a〜63cのうち、少なくとも一つを備えるだけでもよい。
By comparing the intensity detected by the
なお、マスクケース搬送部61にも、搬送車Vのピン57Aa,57Baを有する支持部57A,57Bと同様の支持部を設け、この支持部のピン(不図示)をマスクケース30の連結部38A,38Bの開口38Aa,38Baに差し込み可能として、振動等によるマスクケース30の位置ずれを防止するようにしてもよい。
昇降駆動部68によってマスクケース搬送部61で支持されているマスクケース30のZ位置をマスクライブラリLBのある収容部65(又は一時収容部66)での設定値よりも高く設定した状態で、水平駆動部67によってマスクケース搬送部61を+Y方向に移動して、マスクケース搬送部61で支持されるマスクケース30をその収容部65(又は一時収容部66)の上方に移動した後、マスクケース搬送部61を降下させることで、マスクケース30をその収容部65(又は一時収容部66)に受け渡すことができる。逆に、ある収容部65(又は一時収容部66)に保持されているマスクケース30の底面側にマスクケース搬送部61を移動した後、マスクケース搬送部61のZ位置を高くすることによって、収容部65(又は一時収容部66)からマスクケース搬送部61(搬送装置H1)にマスクケース30を受け渡すことができる。The mask
In a state where the Z position of the
次に、図8〜図10を参照して、マスクライブラリLBの構成につき説明する。図8及び図10は、それぞれマスクライブラリLBを示す斜視図、図9はマスクライブラリLBを+Y方向に見た図である。図8において、マスクライブラリLBは、それぞれX方向、Y方向、及びZ方向に平行な複数のロッド状の部材(説明の便宜上、一部の部材が2点鎖線で表されている)を連結して構成される箱状のフレーム機構43と、フレーム機構43の最下段にY方向に平行に固定されたZ位置が同じ1対のレール45A,45Bと、レール45A,45Bの上方でフレーム機構43に固定された水平面にほぼ平行な仕切り板44と、仕切り板44の上方の次第に高くなる位置P1,P2,P3,P4,P5でフレーム機構43に固定されたそれぞれY方向に平行な1対のレール46A,46Bとを備えている。レール45A,45B及び46A,46Bはそれぞれ断面形状がL字型で、上面がほぼ水平面に平行になるように、かつ互いに対向するように、その上面に直交する側面を有する部分がボルト(不図示)によってフレーム機構43の内面に固定されている。
Next, the configuration of the mask library LB will be described with reference to FIGS. 8 and 10 are perspective views showing the mask library LB, respectively. FIG. 9 is a view of the mask library LB in the + Y direction. In FIG. 8, the mask library LB connects a plurality of rod-shaped members parallel to the X direction, the Y direction, and the Z direction (for convenience of explanation, some members are represented by two-dot chain lines). A box-shaped
レール45A,45B及び46A,46BのY方向の長さは、マスクケース30のY方向の長さよりもわずかに長く設定され、レール45A,45Bの上面と仕切り板44との間隔、及び位置P1〜P5のZ方向に隣接したレール46A,46Bの上面のZ方向の間隔は、それぞれマスクケース30の高さより広く設定されている。また、レール45A,45B及び46A,46BのX方向の外形の幅は、マスクケース30の鍔部41A,41Bの外形のX方向の幅よりも広く設定され、レール45A,45B及び46A,46BのX方向の間隔は、マスクケース30の下ケース部31Aの平板部32aのX方向の幅(脚部35が固定された2つの平板部32bの間隔)とほぼ同じに設定されている。このため、1対のレール45A,45Bの上面、及び位置P1〜P5の1対のレール46A,46Bの上面に、それぞれマスクケース30の下ケース部31Aの−X方向の2つの脚部35及び+X方向の2つの脚部35を載置することができる。1対のレール45A,45Bを含んで一時収容部66が構成され、位置P1〜P5の1対のレール46A,46Bを含んでそれぞれ収容部65が構成されている。なお、図8等では、収容部65は位置P1〜P5の5段に配置されているが、収容部65の数は増加又は減少させることができる。また、平面視で、レール46A,46Bとレール45A,45Bとは互いに同じ形状で、かつX方向及びY方向の同じ位置に設置されている。
The lengths of the
マスクライブラリLBと搬送装置H1との位置関係は、図6(A)の搬送装置H1のマスクケース搬送部61のボールトランスファ62A,62B,62Cの球面部62Aa,62Ba,62Caにマスクケース30の位置決め部36A〜36Cの凹部36Aa,36Ba及び平坦面36Caを接触させた状態で、マスクケース30の−X方向及び+X方向の2つの脚部35がそれぞれ対応する位置P1〜P5のレール46A,46B上のX方向の目標位置に位置するように設定されている。また、マスクケース搬送部61のX方向の幅は、レール46A,46BのX方向の間隔よりも余裕を持って小さく設定されている。このため、搬送装置H1によってマスクケース30の脚部35の底面のZ位置を位置P1〜P5のレール46A,46Bの上面よりも所定間隔だけ高く設定し、マスクケース30のY方向(マスクライブラリLBに対する搬出入方向)の位置を所定の目標位置に設定した後、マスクケース30を降下させることによって、容易にその位置P1〜P5のレール46A,46B上(収容部65)に4箇所の脚部35を介してマスクケース30を載置(収容)できる。同様に、搬送装置H1によってレール45A,45B上(一時収容部66)にマスクケース30を載置できる。さらに、搬送装置H1の逆の動作によって収容部65又は一時収容部66からマスクケース30を搬出できる。なお、レール45A,45Bを一時収容部66に設ける代わりに、同様のレールを搬送車Vが備えるようにしてもよい。これにより、マスクケースを一時的に一時収容部66に受け渡すことなく、搬送車Vと搬送装置H1との間で直接的にマスクケースの受け渡しを行うことができる。
The positional relationship between the mask library LB and the transfer device H1 is such that the
また、−X方向側のレール45A,46Aの上面の+Y方向の端部に、それぞれマスクケース30の側面までのX方向及びY方向の間隔を非接触で検出可能な近接センサ50Aが設置され、+X方向側のレール45B,46Bの上面の+Y方向の端部に、それぞれマスクケース30の側面までのX方向及びY方向の間隔を非接触で検出可能な近接センサ50Bが設置され、レール45B,46Bの上面の−Y方向の端部に、それぞれマスクケース30の側面までのX方向の間隔を非接触で検出可能な近接センサ51が設置されている。近接センサ50A,50B,51は例えば光学式である。近接センサ50A,50B,51で検出される一時収容部66及び収容部65におけるマスクケース30の位置(X方向、Y方向の位置、及びθz方向の回転角)の情報が制御装置CONTに供給される。そのようにして検出されるマスクケース30の位置が所定の目標値から許容範囲を超えてずれている場合には、一例として搬送車V又は搬送装置H1によってマスクケース30の位置及び/又は回転角の調整が行われる。なお、近接センサ50A,50B,51のうちの少なくとも一つのセンサを残して他のセンサを省略してもよい。また、近接センサ50A,50Bの少なくとも一方を−Y方向の端部に移動させてもよく、近接センサ50A,50BをY方向に関して互いに反対側の端部に配置してもよい。
Further,
また、位置P2〜P5のレール46A及び46Bの2箇所にそれぞれ位置P1〜P4の収容部65に収容されるマスクケース30の鍔部41A及び41Bを支持するための支持部47A1,47A2及び47B1,47B2が対向するように取り付けられ、フレーム機構43の上端のY方向に平行な2つの部分の2箇所にそれぞれ最上段(位置P5)の収容部65に収容されるマスクケース30の鍔部41A及び41Bを支持するための支持部47C1,47C2及び47D1,47D2が対向するように取り付けられている。
Further, support portions 47A1, 47A2 and 47B1, which support the
マスクケース30が位置P1〜P4のレール46A,46B上の目標位置に載置されている状態では、例えば図3(A)に点線で示すように平面視で(すなわちX軸及びY軸を含む平面に沿った方向に関して)、位置P2〜P5のレール46A,46Bに取り付けられた一方の支持部47A1,47B1がマスクケース30の鍔部41A,41Bの切り欠き部41Aa,41Ba内に位置しているとともに、他方の支持部47A2,47B2は鍔部41A,41Bの−Y方向の端部に近接している。なお、支持部47A1〜47B2のZ位置は対応する鍔部41A,41Bの上面よりも高く設定されている。さらに、他方の支持部47A2,47B2の上面には、それぞれ鍔部41A,41Bの開口41Ab,41Bbに挿通可能なピン48が固定されている。ピン48の直径は開口41Ab,41Bbの直径に対して、搬送装置H1によるマスクケース30の位置決め精度よりも大きいクリアランスをもって小さく設定されている。支持部47C1,47C2,47D1,47D2のXY平面内での位置は、支持部47A1,47A2,47B1,47B2と同様であり、支持部47C2,47D2の上面にも、それぞれピン48が固定されている。
In a state where the
この構成によって、搬送装置H1で位置P1〜P5のレール46A,46B上のマスクケース30を、支持部47A1,47B1がそれぞれ切り欠き部41Aa,41Baを通過するように上昇させて、さらにマスクケース30を、開口41Ab,41Bbがピン48の上方に位置するように、例えば鍔部41A,41Bの切り欠き部41Aa,41BaのY方向の幅分だけ−Y方向に移動させた後、マスクケース30を降下させることによって、上ケース部31Bの鍔部41A,41Bがそれぞれ位置P2〜P5のレール46A,46Bに設けた支持部47A1,47A2,47B1,47B2又は最上部の支持部47C1,47C2,47D1,47D2で支持されるため、下ケース部31Aから上ケース部31Bを容易に分離することができる。この際に、鍔部41A,41Bの開口41Ab,41Bb内にそれぞれ支持部47A2,47B2又は47C2,47D2のピン48が挿通されるため、振動等によって鍔部41A,41Bの位置がずれることが防止できる。また、この逆の動作によって、下ケース部31Aに上ケース部31Bを容易に正確に位置決めした状態で載置することができる。なお、振動等が少なく、鍔部41A,41Bの位置ずれ量が少ない場合には、鍔部41A,41Bの開口41Ab,41Bb及び支持部47A2,47B2,47C2,47D2のピン48は省略することが可能である。また、開口41Ab,41Bbは、ピン48が挿通されるように貫通した開口した形状に限定されず、ピン48と互いに嵌合する形状であればよく、例えば、鍔部41A,41Bの上面側が閉じた(開口していない)孔、すなわち貫通していない(凹状の)孔とすることもできる。
With this configuration, the
また、図8において、仕切り板44の+X方向の端部の上面にマスクケース30の検出装置52が固定され、検出装置52からZ方向に平行に上方に光ビームLB1が照射され、フレーム機構43の最上部の部材に、光ビームLB1を−Z方向に反射する反射部材49が設けられている。本実施形態において、反射部材49及び検出装置52は、搬送装置H1の一部である。位置P1〜P5の+X方向側のレール46Bにはそれぞれ光ビームLB1を通すための開口46Baが形成されている。図9に示すように、検出装置52は、光ビームを射出する光源部52aと、光源部52aから射出された光ビームの一部(光ビームLB1)を+Z方向に反射するビームスプリッター52bと、反射部材49で反射された光ビームLB1のうちでビームスプリッター52bを透過した光ビームを受光して光電変換するフォトダイオード等の光電センサ52cとを有する。光電センサ52cの検出信号を信号処理部(不図示)で所定の基準値と比較することによって、光ビームLB1の光路上に物体があるかどうかを検出できる。検出結果は制御装置CONTに供給される。
なお、光源部52aと光電センサ52cとの配置を入れ替えて、ビームスプリッター52bが光源部52aからの光ビームを透過させ、光電センサ52cがビームスプリッター52bで反射された光ビームを検出してもよい。また、反射部材49に、上述した反射部37Bと同様に偏光特性をもたせてもよく、あるいは反射部材49に向かう光ビームと反射部材49で反射された光ビームとが互いに偏光方向が直交する直線偏光になるように光ビームの光路に1/4波長板や偏光子等の偏光素子を配置してもよい。この場合、ビームスプリッター52bに偏光特性を持たせて偏光ビームスプリッターにしてもよい。In FIG. 8, the
Note that the arrangement of the
この場合、図10に示すように、位置P1(又はP2〜P5)のレール46A,46B上の目標位置にマスクケース30を載置した状態で、鍔部41Bの切り欠き部41Baから離れた位置にある開口41Bd内を光ビームLB1が通過するように、光ビームLB1の光路が設定されている。さらに、上述のように、搬送装置H1によってマスクケース30の上ケース部31Bを例えば位置P3(又は位置P2,P4,P5)の支持部47A1,47A2及び47B1,47B2又は支持部47C1,47C2及び47D1,47D2上に載置した状態で、鍔部41Bの切り欠き部41Baに近い位置にある開口41Bc(図2(A)参照)内を光ビームLB1が通過するように、上ケース部31Bが位置決めされる。このように位置P1〜P5の全部のマスクケース30及び/又は上ケース部31Bがそれぞれ収容部65の所定位置(目標位置)に位置決めされた状態では、光ビームLB1は鍔部41Bの開口41Bc又は41Bd内を通過するため、検出装置52では光ビームLB1の光路に物体がないことを検出できる。すなわち、検出装置52により光ビームLB1を検出することで、マスクケース30及び/又は上ケース部31Bが収容部65(目標位置)に対して所定の許容範囲内に位置決めされたことを検知することができる。換言すると、収容部65に対するマスクケース30及び/又は上ケース部31Bの収容状態を検知することができる。
In this case, as shown in FIG. 10, in a state where the
一方、位置P1〜P5のいずれかのマスクケース30又は上ケース部31Bが目標位置から許容範囲を超えてずれた状態では、光ビームLB1は鍔部41Bの開口41Bc及び41Bdを通過できなくなり、検出装置52では光ビームLB1の光路に物体(鍔部41B)があることを検出できる。すなわち、検出装置52により光ビームLB1を検出できなくなることで、マスクケース30及び/又は上ケース部31Bが目標位置に対して許容範囲を超えて位置決めされた(すなわち位置ずれしている)ことを検知することができる。換言すると、この場合も収容部65に対するマスクケース30及び/又は上ケース部31Bの収容状態を検知することができる。このため、一例として、搬送装置H1によって収容部65にマスクケース30を搬送する際、又はマスクケース30の上ケース部31Bを対応する支持部47A1〜47B2等に載置する際には、それぞれ検出装置52で光ビームLB1が検出できるようにマスクケース30又は上ケース部31Bの位置を調整することによって、マスクケース30又は上ケース部31Bをそれぞれ容易に目標位置に設置できる。
On the other hand, when the
なお、本実施形態において、下ケース部31A及び上ケース部31Bを構成する複数の部材は、ボルトによる連結の他に、溶接又は接着による連結、又は一体成形等で連結してもよい。
次に、本実施形態の露光装置EXにおけるマスクMの搬送方法を含む露光方法の一例につき図11(A)及び(B)のフローチャートを参照して説明する。この動作は制御装置CONTによって制御される。In the present embodiment, the plurality of members constituting the
Next, an example of an exposure method including a method for transporting the mask M in the exposure apparatus EX of the present embodiment will be described with reference to the flowcharts of FIGS. This operation is controlled by the control device CONT.
まず、マスクMが収納されたマスクケース30が搬送車Vによってマスクストッカ(不図示)から露光装置EXのマスクライブラリLBまで搬送される(ステップ102)。即ち、搬送車Vのマスクケース搬送部53のボールトランスファ54A〜54Cの球面部にマスクケース30の位置決め部36A〜36Cの凹部36Aa,36Ba及び平坦部36Caが接触するように、マスクケース搬送部53にマスクケース30を載置する。そして、マスクケース30のX方向の位置及びθz方向の角度がそれぞれ一時収容部66での目標値になるように搬送車Vの位置決めを行い、マスクケース30のZ位置を設定値よりも高くした後、図示しない開閉機構によって露光チャンバCHの搬出人口(不図示)を開放し、搬送車Vがその搬出人口を通してマスクケース搬送部53で支持されたマスクケース30をマスクライブラリLBのレール45A,45Bの上方に移動する。さらに、図9に示すように、搬送車Vのマスクケース搬送部53を降下させることによって、レール45A,45Bにマスクケース30の4箇所の脚部35が載置される。これによって、搬送車Vから一時収容部66にマスクケース30が受け渡されたことになる。
First, the
この際に、レール45A,45B上の近接センサ50A,50B,51によってマスクケース30のX方向、Y方向の位置、及びθz方向の回転角を検出し、制御装置CONTにおいてその検出結果を予め定めてある目標値と比較してもよい。そして、その検出結果の目標値からのずれ量が所定の許容範囲を超えている場合には、搬送車Vでマスクケース30をレール45A,45Bから上昇させて、マスクケース30の位置及び/又は回転角を補正した後、マスクケース30を一時収容部66に受け渡してもよい。これは搬送装置H1によってレール46A,46B上にマスクケース30を載置する際も同様である。その後、搬送車Vが+Y方向に移動して露光チャンバCHの搬出人口(不図示)が閉じられる。
At this time, the
さらに、搬送装置H1によって、マスクライブラリLBの一時収容部66からある収容部65にマスクケース30を移動するために、図9に示されているマスクケース搬送部53の位置に、搬送装置H1のマスクケース搬送部61を移動する。そして、マスクケース搬送部61を上昇させて、マスクケース搬送部61のボールトランスファ62A〜62Cの球面部がマスクケース30の位置決め部36A〜36Cの凹部36Aa,36Ba及び平坦部36Caに接触するように、マスクケース搬送部61にマスクケース30を受け渡す。
Further, in order to move the
このようにマスクケース搬送部61にマスクケース30を受け渡したときに、一例として図11(B)のステップ120で示すように、検出装置63によってマスクケース30の下ケース部31A、マスクM、及び上ケース部31Bの有無(又はマスクMまでの距離)を検出してもよい。下ケース部31Aがない場合には、下ケース部31Aとして別のマスク用の下ケース部が使用されている場合等が考えられる。そして、下ケース部31A、マスクM、及び上ケース部31Bの少なくとも一つが無い(又はマスクMまでの距離が許容範囲を超えている)と判定された場合、ステップ122に移行してマスクケース30を返却する。即ち、制御装置CONTでは、一例として、搬送装置H1にそのマスクケース30を一時収容部66に戻すように制御情報を供給し、搬送車Vにそのマスクケース30を露光チャンバCHの外部に搬出するように制御情報を供給する。これによって、マスクケース30は露光チャンバCHの外部に搬出される。その後、動作はステップ102に戻る。この場合、その返却されたマスクケース30と交換された別のマスクケース30が搬送車Vによって一時収容部66に搬入される。
Thus, when the
これによって、別のマスクMが収納されたマスクケース30、又はマスクMのないマスクケース30が誤ってマスクライブラリLBの収容部65に収納されることが防止できる。このため、例えば搬送装置H1がマスクローダ系H2にマスクMを受け渡す段階でマスクMがないことが判明するようなことが防止できる、マスクの搬送不良を防止できる。なお、例えば露光チャンバCHの外部で、下ケース部31A、マスクM、及び上ケース部31Bが存在すること(又はマスクMまでの距離が許容範囲内にあること)がオペレータ等によって正確に確認されているような場合には、検出装置63による確認(ステップ120)を省略してもよい。
Accordingly, it is possible to prevent the
ステップ120において、下ケース部31A、マスクM、及び上ケース部31Bが全部存在する(又はマスクMまでの距離が許容範囲内にある)と判定された場合、又は検出装置63による確認を省略した場合には、ステップ104に移行して、搬送装置H1によって、マスクケース30をマスクライブラリLBの例えば位置P1の収容部65に移動する。即ち、マスクケース30を支持するマスクケース搬送部61を−Y方向に移動し、マスクケース30のZ位置が例えば位置P1のレール46A,46Bの上方になるようにマスクケース搬送部61を上昇させて、マスクケース搬送部61を+Y方向に移動することで、マスクケース30は位置P1のレール46A,46Bの上方に移動する。さらに、図9に2点鎖線で示すように、搬送装置H1のマスクケース搬送部61を降下させることによって、位置P1のレール46A,46Bにマスクケース30の4箇所の脚部35が載置される。これによって、一時収容部66から位置P1の収容部65にマスクケース30が移動されたことになる。
In
ここでは、説明の便宜上、図12に2点鎖線で示すように、位置P2のレール46A,46B上(収容部65)にマスクケース30が移動されたものとして、位置P2の収容部65からマスクステージMSTにマスクケース30内のマスクMを搬送するものとする。なお、図12及び図13においては、説明の便宜上、フレーム機構43の一部及びマスクケース30の鍔部41Bを断面で表している。このとき、図12において、検出装置52から射出された光ビームLB1が、マスクケース30の鍔部41Bの開口41Bd及び反射部材49を介して検出装置52で検出されるように、かつ鍔部41A,41Bの切り欠き部41Aa,41Baの上方に位置P3の支持部47A1,47B1が位置するように(図3(A)参照)、マスクケース30の位置決めが行われている。これによって、次にマスクケース30を搬送装置H1で支持するときに、マスクケース30に対するマスクケース搬送部61の位置決めを効率的に(短時間で)行うことができる。
Here, for convenience of explanation, as shown by a two-dot chain line in FIG. 12, it is assumed that the
そして、位置P2の収容部65のマスクケース30の底面の下方に搬送装置H1のマスクケース搬送部61を移動した後、マスクケース搬送部61を上昇させて、使用対象のマスクケース30の位置決め部36A,36Bの凹部36Aa,36Baにマスクケース搬送部61のボールトランスファ62A,62Bの球面部62Aa,62Ba(凸部)を接触(係合)させ、そのマスクケース30の位置決め部36Cの平坦部36Caにボールトランスファ62Cの球面部62Caを接触(係合)させる(ステップ106)。この状態でマスクケース搬送部61(マスクケース30)をさらに上昇させて、鍔部41A,41Bの切り欠き部41Aa,41Baが支持部47A1,47B1を通過した後、矢印A1で示すように、切り欠き部41Aa,41BaのY方向の幅分だけマスクケース30を−Y方向にスライド移動させてから、矢印A2で示すようにマスクケース30を降下させる(ステップ108)。
And after moving the mask case conveyance
これによって、図13及び図9に2点鎖線で示すように、マスクケース30の上ケース部31Bの鍔部41A,41Bが位置P3の支持部47A1,47A2及び47B1,47B2に載置され、下ケース部31Aだけがマスクケース搬送部61に載置されて、下ケース部31Aから上ケース部31Bが分離される。また、鍔部41A,41Bの開口41Ab,41bb内に支持部47A2,47B2のピン48が挿通されている。
Accordingly, as shown by a two-dot chain line in FIGS. 13 and 9, the
さらに、一例として、ステップ108に続いて図11(C)のステップ130において、制御装置CONTは、検出装置52から射出された光ビームLB1が、反射部材49を介して検出装置52で検出されるかどうかを確認してもよい。光ビームLB1が検出装置52で検出される場合には、光ビームLB1が、上ケース部31Bの鍔部41Bの開口41Bcを通過していること、即ち、上ケース部31Bが正確に位置決めされていることを意味する。この場合には、マスクMの使用後にマスクMが載置された下ケース部31Aに上ケース部31Bを載置する際に、上ケース部31Bの下方の目標位置にマスクケース搬送部61(下ケース部31A)を移動して、下ケース部31Aを上昇させることによって、効率的に(短時間で)上ケース部31Bに下ケース部31Aを正確に載置できる。
Further, as an example, in
そこで、ステップ130において、光ビームLB1が検出装置52で検出される場合には動作はステップ110に移行する。一方、ステップ130において、光ビームLB1が検出装置52で検出されない場合には、ステップ132に移行して、再度マスクケース搬送部61によって上ケース部31Bを上昇させて上ケース部31Bに上ケース部31Bを載置した後、光ビームLB1が検出装置52で検出されるようにマスクケース搬送部61のY方向の位置を調整した後、マスクケース搬送部61(下ケース部31A)を降下させる。そして、光ビームLB1が検出装置52で検出されるようになった状態で、ステップ110に移行する。なお、ステップ130及び132の動作は、ステップ108の途中(マスクケース30の−Y方向へのスライド移動の後)に行うようにしてもよい。
Therefore, in
ステップ110において、矢印A3で示すように、マスクケース搬送部61を介して下ケース部31Aを−Y方向にスライド移動させて、下ケース部31AをマスクライブラリLBから引き抜いた後、マスクケース搬送部61(下ケース部31A)を搬送装置H1の最上部である位置CA1(図1参照)まで上昇させる。位置CA1において、マスクMは、搬送装置H1のマスクケース搬送部61からマスクローダ系H2のキャリア21に受け渡される(ステップ112)。この際に、下ケース部31Aの位置決め部36A,36Bがマスクケース搬送部61のボールトランスファ62A,62Bに対して位置決めされており、キャリア21とマスクケース搬送部61(ボールトランスファ62A,62B)とは互いに正確に位置決めされているため、キャリア21は効率的にマスクケース搬送部61からマスクMを受け取ることができる。
In
キャリア21は、例えば真空吸着機構によってマスクMを受け取る。その真空吸着機構は、キャリア21の底面に設けられた真空吸着孔と、その真空吸着孔に不図示の配管を介して連結された不図示の真空ポンプとを有し、この真空ポンプのオン/オフによってマスクMの吸着保持及び保持解除を切り換え可能となっている。そして、マスクローダ系H2によってマスクMはマスクステージMSTの上方に搬送されて、マスクステージMSTにロードされる(ステップ114)。
The
即ち、キャリア21は、マスクMを保持した状態で、位置CA1と位置CA2との間をキャリアガイド部21Aに支持されつつ移動可能であると共に、キャリアガイド部21Aと共にZ方向に移動可能である。つまり、キャリア21は図1中、X方向及びZ方向に移動可能に設けられている。キャリア21は、位置CA1において搬送装置H1に支持されている下ケース部31AからマスクMを受け取った後、マスクMを位置CA2まで搬送する。位置CA2に移動したキャリア21は、位置CA2においてマスクMをロードアーム22に渡す。ここでロードアーム22及びアンロードアーム23は、図1中、Y方向及びZ方向に移動可能である。ロードアーム22とアンロードアーム23とは、位置CA2とマスクステージMSTとの間をY方向に個別に移動可能であると共に、Z方向についてはZ軸ガイド部22Aに支持されつつ一体で移動可能となっている。これらロードアーム22及びアンロードアーム23は、マスクMを保持する真空吸着孔を有しており、連結された真空ポンプのオン/オフによってマスクMの吸着保持及び保持解除を行う。ロードアーム22は、位置CA2において露光処理に使用するマスクMをキャリア21から受け取り、マスクステージMSTの上方まで搬送した後、マスクMをマスクステージMSTにロードする。
That is, the
そして、露光装置EXの露光部Sにおいて、マスクMのパターンの像を所定ロット数のプレートPに露光する(ステップ116)。露光部Sにおいて露光処理を終えたマスクMはマスクローダ系H2及び搬送装置H1によってマスクライブラリLBに戻される(ステップ118)。即ち、マスクMはアンロードアーム23によりマスクステージMSTからアンロードされ、位置CA2まで搬送される。位置CA2に搬送されたマスクMは、この位置CA2に待機しているキャリア21に渡され、このキャリア21によって位置CA1に搬送される。そして、位置CA1に搬送されたマスクMは、位置CA1に待機していた搬送装置H1のマスクケース搬送部61に載置されている下ケース部31Aに載置される。その後、マスクケース搬送部61(マスクMが載置された下ケース部31A)を露光処理前に収容されていた収容部65の高さまで移動し、マスクケース搬送部61を図13に示す上ケース部31Bの下方の位置まで+Y方向にスライド移動する。
Then, in the exposure unit S of the exposure apparatus EX, the pattern image of the mask M is exposed on a predetermined number of plates P (step 116). The mask M that has been subjected to the exposure processing in the exposure unit S is returned to the mask library LB by the mask loader system H2 and the transport device H1 (step 118). That is, the mask M is unloaded from the mask stage MST by the unload
さらに、マスクケース搬送部61(下ケース部31A)を上昇させて、支持部47A1,47A2,47B1,47B2で支持されている上ケース部31Bを下ケース部31Aに載置した後、図12の矢印A1と逆方向にマスクケース搬送部61によってマスクケース30(下ケース部31A及び上ケース部31B)を移動することで、位置P2のレール46A,46B上(収容部65)にマスクケース30が戻される。その後、位置P2の収容部65のマスクケース30をマスクストッカ(不図示)に戻す場合には、搬送装置H1によってそのマスクケース30を一時収容部66に戻した後、搬送車Vによって一時収容部66のマスクケース30を露光チャンバCHの外部に搬出すればよい。
Further, after the mask case transport section 61 (
この搬送方法によれば、マスクMを収納するマスクケース30の下ケース部31Aの位置決め部36A,36Bを用いて、マスクケース30と搬送装置H1のマスクケース搬送部61との位置決めが自動的に高精度に行われており、搬送装置H1によるマスクライブラリLBに対するマスクケース30の搬入及び搬出、さらに搬送装置H1とマスクローダ系H2(キャリア21)との間のマスクMの受け渡し、ひいては、例えば露光装置EXで複数のマスクMを用いて順次露光を行うような場合に、マスクライブラリLBとマスクステージMSTとの間におけるマスクMの搬送不良を低減することができる。
According to this transport method, the positioning of the
上述のように本実施形態のマスクMが収納されるマスクケース30は、マスクMを支持する支持部34B,34Cが設けられるベース部材32(底面)を有する下ケース部31A(第1ケース部)と、下ケース部31Aに対して着脱可能に設けられ、ベース部材32に対向配置される平板部39a(上面)を有する上ケース部31B(第2ケース部)とを備え、マスクライブラリLB(保管装置)に保管可能なマスクケースである。そして、マスクケース30において、上ケース部31Bは、下ケース部31Aから取り外されてマスクライブラリLBに保持されるときに用いられる鍔部41B(保持部)を有し、鍔部41Bは、下ケース部31Aに装着された上ケース部31BがマスクライブラリLBに保管される第1位置にあるときに、光ビームLB1が通過する開口41Bd(第1の光通過部)と、下ケース部31Aから取り外された上ケース部31Bの鍔部41BがマスクライブラリLBの支持部47B1,47B2に保持される第2位置にあるときに、光ビームLB1が通過する開口41Bc(第2の光通過部)と、を備えている。
また、本実施形態のマスクケース30は、マスクMが載置される下ケース部31Aと、下ケース部31Aに載置されるマスクMを覆うように、下ケース部31Aに載置される上ケース部31Bと、を備え、上ケース部31Bは、マスクライブラリLB(マスクケース30の保管部)で上ケース部31Bを支持するための鍔部41A,41Bを有し、鍔部41Bに、上ケース部31Bの位置を検出するための光ビームLB1が通過可能な開口41Bcが設けられている。As described above, the
The
また、マスクMを搬送する搬送装置H1は、マスクケース30のマスクMが載置された下ケース部31Aを支持するマスクケース搬送部61(ケース支持部)と、下ケース部31Aから分離された上ケース部31Bを、上ケース部31Bの鍔部41A,41Bを介して支持する支持部47A1,47A2,47B1,47B2(上ケース支持部)と、上ケース部31Bの鍔部41Bの開口41Bcに光ビームLB1を照射する光源部52a(照射部)と、鍔部41Bの開口41Bcを通過した光ビームLB1を開口41Bcに向けて反射する反射部材49と、反射部材49で反射されて開口41Bcを通過した光ビームLB1を検出する光電センサ52c(検出部)と、を備えている。
また、マスクケース30を保管するマスクライブラリLB(保管装置)は、マスクケース30の鍔部41A,41B(保持部)を介してマスクケース30を支持可能な支持部47A1,47A2,47B1,47B2と、支持部47B1(支持部47B1の近傍の鍔部41Bの開口41Bc,41Bd)に向けて光ビームLB1を照射する光源部52a(照射部)と、支持部47B1に向けて照射された光ビームLB1を検出する光電センサ52c(検出部)と、を備えている。Further, the transfer device H1 for transferring the mask M is separated from the
The mask library LB (storage device) that stores the
また、マスクMの搬送方法は、マスクケース30のマスクMが載置された下ケース部31Aを支持するステップ106と、上ケース部31Bの鍔部41Bの開口41Bcに光ビームLB1を照射し、開口41Bcを通過した後、反射部材49(光ビーム反射部)で反射されて開口41Bcを通過した光ビームLB1を検出するステップ130と、光ビームLB1の検出結果に応じて上ケース部31Bの位置を調整するステップ132とを有する。
また、マスクケース30を保管する保管方法は、マスクケース30の鍔部41A,41Bを介してマスクケース30の上ケース部31Bを支持するステップ108と、鍔部41Bに向けて光ビームLB1を照射し、鍔部41Bに向けて照射された光ビームLB1を検出するステップ130とを含んでいる。In addition, the mask M is transported by irradiating the light beam LB1 to the
Further, the storage method for storing the
本実施形態によれば、鍔部41Bの開口41Bcを通過した光ビームLB1が検出されるように上ケース部31Bの支持部47A1,47A2,47B1,47B2に対する位置決めを行うことで、次に下ケース部31Aに上ケース部31Bを載置する際の位置合わせを効率的に行うことができる。このため、マスクMを収納するマスクケース30をマスクライブラリLBに戻す際の時間を短縮でき、マスクMの搬送を効率的に(短時間に)行うことができる。
According to this embodiment, by positioning the
なお、本実施形態において、マスクケース30の上ケース部31Bに鍔部41A,41Bを設ける場合には、マスクケース30の下ケース部31Aに位置決め部36A〜36C、反射部37A、及び窓部32a1を設ける必要は必ずしもない。そして、下ケース部31Aに位置決め部36A〜36Cを設けない場合には、マスクケース30の搬送時に、下ケース部31Aをエアー浮上機構、カムフォロア機構、又はローラコンペア機構等で搬送してもよい。
In this embodiment, when the
また、上述のように本実施形態のマスクMが収納されるマスクケース30は、マスクMが載置される下ケース部31Aと、マスクMを覆うように、下ケース部31Aに載置される上ケース部31Bと、を備え、下ケース部31Aの底面に、外部からの光を反射する反射部37A(第1反射部)、及び外部からの光を通過させる窓部32a1が設けられている。
Further, as described above, the
また、マスクMを搬送する搬送装置H1は、マスクMが収納されたマスクケース30を支持するマスクケース搬送部61(ケース支持部)と、下ケース部31Aの反射部37Aに光ビームLB2を照射し、反射部37Aからの反射光を検出して下ケース部31Aの有無(状態)を検出する検出部63a(第1検出部)と、下ケース部31Aに載置されているマスクMに下ケース部31Aの窓部32a1を介して光ビームLB3を照射し、マスクMからの反射光を窓部32a1を介して検出してマスクMの有無又はマスクMまでの距離(マスクMの状態)を検出する検出部63b(第2検出部)と、下ケース部31A上に載置されている上ケース部31Bに窓部32a1を介して光ビームLB4を照射し、上ケース部31Bに設けられた反射部37Bからの反射光を窓部32a1を介して検出して上ケース部31Bの有無又は上ケース部31Bまでの距離(上ケース部31Bの状態)を検出する検出部63c(第3検出部)と、を備えている。
The transport device H1 that transports the mask M irradiates the light beam LB2 to the mask case transport section 61 (case support section) that supports the
また、マスクMの搬送方法は、マスクMが収納されマスクケース30をマスクケース搬送部61で支持するステップ102と、下ケース部31Aの反射部37Aに光ビームLB2を照射し、反射部37Aからの反射光を検出して下ケース部31Aの有無(状態)を検出し、下ケース部31Aに載置されたマスクMに下ケース部31Aの窓部32a1を介して光ビームLB3を照射し、マスクMからの反射光を窓部32a1を介して検出してマスクMの有無等の状態を検出し、下ケース部31A上に載置された上ケース部31Bに窓部32a1を介して光ビームLB4を照射し、上ケース部31Bに設けられた反射部37Bからの反射光を窓部32a1を介して検出して上ケース部31Bの有無等の状態を検出するステップ120とを有する。
The mask M is transported by the
本実施形態によれば、マスクMが収納されていないマスクケース30、又は必要とするマスクケースと異なる種類のマスクケース等を誤ってマスクライブラリLBに収容することを防止できるため、マスクMの搬送中においてマスクケース30を返却する事態等を防止でき、マスクMの搬送不良を低減してマスクMを確実に搬送できる。
なお、マスクケース30の下ケース部31Aに反射部37A及び窓部32a1を設けた場合には、下ケース部31Aの底面に位置決め部36A〜36Cを設ける必要も必ずしもない。この場合、搬送装置H1(マスクケース搬送部61)とマスクケース30との連結は、クランプ機構、電磁石機構、又は真空吸着機構等を用いた連結機構によって行ってもよい。According to the present embodiment, the
In addition, when the
また、上述のように本実施形態のマスクMが収納されるマスクケース30は、マスクMが載置される下ケース部31Aと、マスクMを覆うように、下ケース部31Aに載置される上ケース部31Bと、を備え、下ケース部31Aの搬送装置H1のマスクケース搬送部61(マスクケースの搬送部)に対向する底面に、回転対称な凹部36Aaが形成された位置決め部36A、V字型の溝状の凹部36Baが形成された位置決め部36B、及び平坦面36Caが形成された少なくとも一つの位置決め部36Cが設けられている。
Further, as described above, the
また、マスクMを搬送する搬送装置H1は、マスクケース30を支持するマスクケース搬送部61(ケース支持部)と、下ケース部31Aの凹部36Aaに係合可能にマスクケース搬送部61に設けられたボールトランスファ62A(第1の凸部)と、下ケース部31Aの凹部36Baに係合可能にマスクケース搬送部61に設けられたボールトランスファ62B(第2の凸部)と、下ケース部31Aの平坦面36Caに係合可能にマスクケース搬送部61に設けられた位置決め部36C(第3の凸部)と、を備えている。
The transport device H1 for transporting the mask M is provided in the mask
また、マスクMを搬送する搬送方法は、マスクケース30の下ケース部31Aの凹部36Aa,36Ba及び平坦面36Caをそれぞれマスクケース搬送部61のボールトランスファ62A〜62Cで支持するステップ106と、凹部36Aa,36Ba及び平坦面36Caを介して支持した上ケース部31Bを位置CA1(マスクMのマスクローダ系H2に対する受け渡し位置)まで移動するステップ110とを有する。
Further, the transport method for transporting the mask M includes the
本実施形態によれば、マスクケース30の下ケース部31Aの凹部36Aa,36Baによって、搬送装置H1に対する下ケース部31A(及びマスクM)の位置決めが高精度に行われているため、搬送装置H1からマスクローダ系H2に下ケース部31A内のマスクMを受け渡す際に、マスクローダ系H2によるマスクMのサーチ等をほとんど行う必要がなく、搬送装置H1からマスクローダ系H2に対するマスクMの受け渡しの確からしさを向上させることができ、マスクMの搬送不良を低減させることができる。さらに、マスクローダ系H2に対するマスクMの位置決めも高精度に行われているため、マスクローダ系H2からマスクステージMSTにマスクMをロードする際のマスクステージMSTに対するマスクMの受け渡しの確からしさも向上させることができ、マスクMの搬送の搬送不良を低減させることができる。
According to this embodiment, the positioning of the
また、マスクライブラリLBに設けられている光源部52a及び光電センサ52cを有する検出装置52(検出部)は、マスクケース30の上ケース部31Bの鍔部41A,41Bの開口41Ab,41Bbが支持部47A2,47B2のピン48に係合すること、及び係合しないことの少なくとも一方を検出する検出部とみなすこともできる。すなわち、検出装置52によって、光ビームLB1が上ケース部31Bの鍔部41Bの開口41Bcを通過することが検出された場合には、開口41Ab,41Bbがピン48に係合するとみなすことができ、光ビームLB1が開口41Bcを通過しないことが検出された場合には、開口41Ab,41Bbがピン48に係合しないとみなすことができる。開口41Ab,41Bbがピン48に係合しないことが検出された場合には、開口41Ab,41Bbがピン48に係合するようにマスクケース30(上ケース部31B)の位置を調整することができる。さらに、開口41Ab,41Bbがピン48に係合しないことが検出された場合に、マスクM及び/又はマスクケース30の搬送を中断して、マスクケース30を例えば一時収容部66に戻すようにしてもよい。
また、本実施形態の露光装置EXは、露光光でマスクMを照明し、露光光でマスクM及び投影光学系PLを介してプレートP(基板)を露光する露光装置であって、マスクMを保持するマスクステージMSTと、搬送装置H1と、を備え、搬送装置H1によって搬送されるマスクケース30から取り出されるマスクMがマスクステージMSTに載置される。Further, in the detection device 52 (detection unit) having the
The exposure apparatus EX of the present embodiment is an exposure apparatus that illuminates the mask M with exposure light and exposes the plate P (substrate) with the exposure light via the mask M and the projection optical system PL. A mask stage MST to be held and a transport apparatus H1 are provided, and a mask M taken out from the
また、露光装置EXを用いる露光方法は、マスクMの搬送方法を含むものである。
本実施形態によれば、露光装置EXの露光工程におけるマスクMの搬送不良を低減させることができる。
なお、上述の実施形態においては以下のような変形が可能である。
まず、上述の実施形態においては、マスクケース30の側面に1対の鍔部41A,41Bが設けられているが、図14の変形例のマスクケース30Aで示すように、マスクケースの対向する側面に複数(一例として2つ)の鍔部41C1,41C2及び41D1,41D2を設けてもよい。なお、図14において図3(A)に対応する部分には同一の符号を付してその詳細な説明を省略する。また、図15(A)〜(E)、及び図17(A)〜(E)において、図12、図13に対応する部分には同一の符号を付してその詳細な説明を省略する。The exposure method using the exposure apparatus EX includes a method for transporting the mask M.
According to this embodiment, the conveyance failure of the mask M in the exposure process of the exposure apparatus EX can be reduced.
In the above-described embodiment, the following modifications are possible.
First, in the above-described embodiment, the pair of
図14において、マスクケース30Aは、マスクM(図4参照)が載置される下ケース部(第1ケース部)31Aと、その下ケース部31Aに載置されたマスクMを覆うように下ケース部31Aの上に載置(装着)される上ケース部(第2ケース部)31BAとを備えている。また、上ケース部31BAのカバー部材39の+X方向の側面のY方向に離れた2箇所に外側に突き出るように鍔部41C1,41C2(保持部)が設けられ、カバー部材39の−X方向の側面のほぼ鍔部41C1,41C2に対向する位置に外側に突き出るように2つの鍔部41D1,41D2(保持部)が設けられている。一例として、鍔部41C1,41C2(鍔部41D1,41D2)のY方向の間隔はカバー部材39のY方向の長さの1/2程度である。
In FIG. 14, the
鍔部41C1,41C2及び41D1,41D2は断面形状がL字型であり、鍔部41C1,41C2及び41D1,41D2のうちカバー部材39の側壁部39c,39d(図4参照)に対向する部分がそれぞれ複数箇所でボルト(不図示)によって側壁部39c,39dに固定されている。以下、鍔部41C1,41C2及び41D1,41D2の+X方向及び−X方向に突き出た部分を単に鍔部41C1,41C2及び41D1,41D2という。
−Y方向にある鍔部41C1,41D1には、それぞれマスクライブラリLBの支持部47A2,47B2の上面のピン48(図9参照)が挿通可能な大きさの開口(貫通孔)41C1a,41D1aが設けられている。一例として、マスクケース30Aのより大きい位置決め誤差に対応できるように、一方の開口41D1aは他方の開口41C1aよりも大きく形成されている。また、+Y方向で+X方向の鍔部41C2には、Y方向に沿って所定間隔で2つの互いに同じ大きさの円形の開口(貫通孔)41C2a,41C2bが設けられている。具体的には、一例として、開口41C2a,41C2bは、Y方向に互いに60mm隔てた位置が開口(貫通)するように設けられている。また、一例として、41C2aの中心と、開口41C1aの中心とのY方向の間隔は570mmである。開口41C2a,41C2bは、図9の検出装置52から照射される光ビームLB1を通過させるために使用される。なお、開口41C2a,41C2bは、互いに同じ大きさに限定されず異なる大きさであってもよく、円形状に限定されず他の形状であってもよい。例えば、開口41C2a,41C2bは、円形状に閉じた開口(孔)形状ではなく、鍔部41C2の側面に繋がった切り欠き形状であってもよい。また、開口41Ab,41Bbは、ピン48が挿通されるように貫通した開口した形状に限定されず、ピン48と互いに嵌合する形状であればよく、例えば、鍔部41A,41Bの上面側が閉じた(開口していない)孔、すなわち貫通していない(凹状の)孔とすることもできる。この他の構成は図4のマスクケース30と同様である。The flange portions 41C1, 41C2, and 41D1, 41D2 have an L-shaped cross section, and the portions of the flange portions 41C1, 41C2, 41D1, and 41D2 that face the
The flange portions 41C1 and 41D1 in the −Y direction are provided with openings (through holes) 41C1a and 41D1a that are large enough to allow insertion of the pins 48 (see FIG. 9) on the upper surfaces of the support portions 47A2 and 47B2 of the mask library LB, respectively. It has been. As an example, one opening 41D1a is formed larger than the other opening 41C1a so as to cope with a larger positioning error of the
この変形例のマスクケース30Aを上述の実施形態のマスクライブラリLBに収容する場合、図10に示すように、位置P1(又はP2〜P5)のレール46A,46B上の目標位置にマスクケース30Aを載置した状態で、鍔部41C2の開口41C2a内を光ビームLB1が通過するように、光ビームLB1の光路が設定されている。さらに、上述の搬送装置H1によってマスクケース30Aの上ケース部31BAの鍔部41C1,41C2,41D1,41D2を例えば位置P2(又は位置P3〜P5等)の支持部47B2,47B1,47A2,47A1、又は47D2,47D1,47C2,47C1上に載置した状態で、鍔部41C2の開口41C2b内を光ビームLB1が通過するように、上ケース部31BAが位置決めされる。
When accommodating the
このように位置P1〜P5の全部のマスクケース30A及び/又は上ケース部31BAがそれぞれ収容部65の所定位置(目標位置)に位置決めされた状態では、光ビームLB1は鍔部41Cの開口41C2b内を通過するため、検出装置52では光ビームLB1の光路に物体がないことを検出できる。すなわち、検出装置52により光ビームLB1を検出することで、マスクケース30A及び/又は上ケース部31BAが収容部65(目標位置)に対して所定の許容範囲内に位置決めされたことを検知することができる。換言すると、収容部65に対するマスクケース30及び/又は上ケース部31BAの収容状態を検知することができる。
As described above, in a state where all the
一方、位置P1〜P5のいずれかのマスクケース30A又は上ケース部31BAが目標位置から許容範囲を超えてずれた状態では、光ビームLB1は鍔部41Cの開口41C2bを通過できなくなり、検出装置52では光ビームLB1の光路に物体(鍔部41C2)があることを検出できる。すなわち、検出装置52により光ビームLB1を検出できなくなることで、マスクケース30A及び/又は上ケース部31BAが目標位置に対して許容範囲を超えて位置決めされた(すなわち位置ずれしている)ことを検知することができる。換言すると、この場合も収容部65に対するマスクケース30及び/又は上ケース部31BAの収容状態を検知することができる。このため、一例として、搬送装置H1によって収容部65にマスクケース30Aを搬送する際、又はマスクケース30Aの上ケース部31BAを対応する支持部47A1〜47B2等に載置する際には、それぞれ検出装置52で光ビームLB1が検出できるようにマスクケース30A又は上ケース部31BAの位置を調整することによって、マスクケース30A又は上ケース部31BAをそれぞれ容易に目標位置に設置できる。
On the other hand, when the
具体的に、搬送装置H1の搬送アーム61を用いてマスクケース30AをマスクライブラリLBの例えば位置P2のレール46A,46B上に搬送する場合、図15(A)に示すように、搬送アーム61に載置されたマスクケース30Aが位置P2のレール46A,46B(レール46Aは不図示)の上方に搬送される。この際に図12の検出装置52から射出される光ビームLB1は、マスクケース30Aの鍔部41C2で遮光されていないため、図12の反射部材49で反射される光ビームLB1を検出装置52で受光して得られる検出信号S1は、図16(A)の時点t1で示すように2値化するための所定の閾値Sthを超えている。検出信号S1から制御装置CONTは鍔部41C2が光ビームLB1まで達していないことを認識できる。
Specifically, when the
そして、搬送アーム61を+Y方向に移動して、図15(B)に示すように、光ビームLB1が鍔部41C2で遮光されると、時点t2で示すように検出信号S1が閾値Sthよりも小さくなり、制御装置CONTは鍔部41C2が光ビームLB1まで達したことを認識できる。なお、搬送アーム61のX方向、Y方向、及びZ方向の位置は例えばリニアエンコーダ(不図示)によって計測されている。また、図16(A),(B)の横軸は時間tであり、検出信号S1は所定のサンプリングレートで不揮発性の記憶装置(例えばフラッシュメモリ)に記憶されている。さらに、搬送アーム61を+Y方向に移動して、図15(C)に示すように、光ビームLB1が鍔部41C2の開口41C2bを通過するようになると、時点t3で示すように検出信号S1が閾値Sthよりも大きくなり、制御装置CONTは鍔部41C2の開口41C2bが光ビームLB1まで達したことを認識できる。
Then, when the
そして、搬送アーム61を+Y方向に移動して、図15(D)に示すように、光ビームLB1が鍔部41C2で遮光されると、時点t4で示すように検出信号S1が閾値Sthよりも小さくなり、制御装置CONTは鍔部41C2の開口41C2b,41C2a間の領域が光ビームLB1まで達したことを認識できる。さらに、搬送アーム61を+Y方向に移動して、図15(E)に示すように、光ビームLB1が鍔部41C2の開口41C2aを通過するようになると、時点t5で示すように検出信号S1が閾値Sthよりも大きくなり、制御装置CONTは鍔部41C2の開口41C2aが光ビームLB1まで達したことを認識できる。この時点t5で、制御装置CONTは搬送アーム61のY方向への移動を停止させ、搬送アーム61を−Z方向に降下させる。この動作によって、マスクケース30A(下ケース部31A)は位置P2のレール46A,46B上に載置される。
Then, when the
この動作の途中で、例えば時点t3,t4間の時点txで停電等によって搬送装置H1が停止した場合、その停電から復旧した後で、制御装置CONTは、記憶されている検出信号S1の履歴から、鍔部41C2の開口41C2b,41C2aの間の領域が光ビームLB1を遮光する位置にあることを認識できる。このため、マスクケース30AをマスクライブラリLBに搬入する動作を円滑に再開できる。なお、停電から復旧した後で、搬送アーム61を+Y方向又は−Y方向に移動させて、その際に観測される検出信号の検出結果に基づいて、マスクケース30AがライブラリLB内のどこにあるかを認識しても良い。
その後、位置P2のレール46A,46B上にマスクケース30A内のマスクMを露光に使用する場合には、図17(A)に示すように、搬送装置H1の搬送アーム61をマスクケース30Aの下ケース部31Aの下方に移動する。光ビームLB1は、マスクケース30Aの鍔部41C2の開口41C2aを通過しているため、光ビームLB1の検出信号S1は、図16(B)の時点t11で示すように閾値Sthを超えている。In the middle of this operation, for example, when the transport device H1 stops due to a power failure or the like at a time tx between time points t3 and t4, after recovering from the power failure, the control device CONT uses the stored history of the detection signal S1. It can be recognized that the region between the openings 41C2b and 41C2a of the collar portion 41C2 is at a position where the light beam LB1 is shielded. For this reason, the operation of carrying the
Thereafter, when the mask M in the
そして、図17(B)に示すように、搬送アーム61を介してマスクケース30Aを+Z方向に上昇させても、検出信号S1は、時点t12で示すように閾値Sthを超えている。さらに、搬送アーム61を介して、マスクケース30Aの鍔部41C1,41C2が支持部47B1,47B2(ピン48)より高くなるように、マスクケース30Aを上昇させた後、図17(C)に示すように、鍔部41C2の開口41C2b,41C2a間の領域が光ビームLB1を遮光するようにマスクケース30Aを−Y方向に移動する。このとき検出信号S1は、時点t13で示すように閾値Sthよりも小さくなるため、制御装置CONTは鍔部41C2が光ビームLB1を遮光する位置にあることを認識できる。
As shown in FIG. 17B, even if the
そして、搬送アーム61を−Y方向に移動して、図17(D)に示すように、光ビームLB1が鍔部41C2の開口41C2bに入ると、時点t14で示すように検出信号S1が閾値Sthよりも大きくなり、制御装置CONTは鍔部41C2の開口41C2bが光ビームLB1まで達したことを認識できる。この状態で、搬送アーム61の−Y方向への移動を停止させて、搬送アーム61を−Z方向に降下させることで、図17(E)に示すように、上ケース部31BAの鍔部41C1,41C2が位置P3のレール46Bの支持部47B1,47B2に載置され、他方の鍔部41D1,41D2が位置P3のレール46A(図8参照)の支持部47A1,47A2に載置される。この時点t15においても、検出信号S1は閾値Sthを超えている。その後、一例として、搬送アーム61によってマスクMを保持する下ケース部31Aは露光装置に搬送される。
Then, when the
この動作の途中で、例えば停電等によって搬送装置H1が停止した場合、その停電から復旧した後で、制御装置CONTは、記憶されている検出信号S1の履歴から、鍔部41C2の開口41C2b,41C2aと光ビームLB1との位置関係を認識できる。このため、下ケース部31Aを露光装置に搬送する動作を円滑に再開できる。
また、図18(A)の他の変形例のマスクケース30Bで示すように、マスクケースの鍔部に設ける2つの開口の形状及び大きさを変えるようにしてもよい。なお、図18(A)において図14に対応する部分には同一の符号を付してその詳細な説明を省略する。In the middle of this operation, for example, when the transfer device H1 stops due to a power failure or the like, after the recovery from the power failure, the control device CONT uses the history of the stored detection signal S1 to open the openings 41C2b and 41C2a of the collar portion 41C2. And the light beam LB1 can be recognized. For this reason, the operation | movement which conveys
Further, as shown in a
図18(A)において、マスクケース30Bの上ケース部31BAのカバー部材39の+X方向の側面のY方向に離れた2箇所に鍔部41C1,41C3が設けられ、カバー部材39の−X方向の側面のほぼ鍔部41C1,41C3に対向する位置に2つの鍔部41D1,41D2が設けられている。−Y方向にある鍔部41C1,41D1には、それぞれマスクライブラリLBの支持部47A2,47B2の上面のピン48(図9参照)が挿通可能な大きさの開口(貫通孔)41C1a,41D1aが設けられている。また、+Y方向で+X方向の鍔部41C3には、Y方向に沿って所定間隔でほぼ正方形状の第1の開口41C3a及び開口41C3aより小さい円形の第2の開口41C3bが設けられている。開口41C3aは図14の開口41C2aよりも大きく設定され、開口41C3bは図14の開口41C2bとほぼ同じ大きさである。
In FIG. 18 (A), collar portions 41C1 and 41C3 are provided at two locations separated in the Y direction on the side surface in the + X direction of the
なお、一例として、図18(B)に示すように、鍔部41C2の2つの角部は円周状に形成されているため、開口41C3aの4つの角部も同様に円周状に形成されている。一例として、開口41C3aの中心と、開口41C3bの中心のY方向の間隔は60mmである。また、一例として、開口41C3aの中心と、開口41C1aの中心とのY方向の間隔は570mmである。開口41C3a,41C3bは、図9の検出装置52から照射される光ビームLB1を通過させるために使用される。この他の構成は図14のマスクケース30Aと同様である。
As an example, as shown in FIG. 18B, since the two corners of the flange 41C2 are formed in a circle, the four corners of the opening 41C3a are also formed in a circle. ing. As an example, the distance in the Y direction between the center of the opening 41C3a and the center of the opening 41C3b is 60 mm. As an example, the distance in the Y direction between the center of the opening 41C3a and the center of the opening 41C1a is 570 mm. The openings 41C3a and 41C3b are used to pass the light beam LB1 emitted from the
この変形例のマスクケース30Bにおいて、鍔部41C3の開口41C3aは、上ケース部31BAと下ケース部31Aとが重なった状態で、マスクライブラリLB内でのマスクケース30Bの位置を検出するために使用される。すなわち、開口41C3aを光ビームLB1が通過している状態で、マスクケース30Bは目標値にあることが分かる。この際に、開口41C3aが開口41C3bよりも大きいため、例えば振動等によって下ケース部31A及び上ケース部31BAの重なりの状態が変化して、開口41C3aの位置がある程度ずれても、開口41C3aを光ビームLB1が通過するため、マスクケース30Bが目標位置にあることが検出できる。
In the
これに対して、上ケース部31BAの鍔部41C1,41C3をマスクライブラリLBの支持部47B1,47B2に載置する際には、小さい開口41C3bを光ビームLB1が通過するように上ケース部31BAを位置決めすることによって、鍔部41C1の開口41C1aを支持部47B2のピン48に係合させることができる。さらに、鍔部41C1の開口41C1aがピン48に係合している状態では、上ケース部31BAの位置ずれはほとんど生じないため、光ビームLB1はその後も継続して開口41C3bを通過している。
On the other hand, when placing the flange portions 41C1 and 41C3 of the upper case portion 31BA on the support portions 47B1 and 47B2 of the mask library LB, the upper case portion 31BA is moved so that the light beam LB1 passes through the small opening 41C3b. By positioning, the opening 41C1a of the collar portion 41C1 can be engaged with the
このように、位置決め精度があまり高くない用途では、大きい開口41C3aを使用して、高い位置決め精度が要求される用途では、小さい開口41C3bを使用することによって、マスクケース30Bの搬送を円滑に行うことができる。
なお、鍔部41C3の開口41C3aは、開口41C3bよりも大きい円形でもよい。さらに、鍔部41C3の代わりに、図18(C)に示すように、ほぼ正方形の開口41C4a及びこれよりも小さい円形の開口41C4bが形成された鍔部41C4を使用してもよい。As described above, in applications where the positioning accuracy is not so high, the large opening 41C3a is used, and in applications where high positioning accuracy is required, the small opening 41C3b is used to smoothly carry the
Note that the opening 41C3a of the flange portion 41C3 may have a larger circle than the opening 41C3b. Furthermore, instead of the flange portion 41C3, as shown in FIG. 18C, a flange portion 41C4 in which a substantially square opening 41C4a and a smaller circular opening 41C4b are formed may be used.
この変形例のマスクケース30Bを用いて、搬送アーム61によりマスクケース30BをマスクライブラリLBに搬送する場合、検出装置52で受光して得られる検出信号は、光ビームLB1が開口41C3aを通過する場合と、開口41C3bを通過する場合とで異なる。例えば、開口41C3bよりも開口41C3aが大きいマスクケース30Bを用いる場合、開口41C3a及び開口41C3bをまたいで検出信号が検出されるように搬送アーム61を等速で移動させると、開口41C3aをまたいで検出される検出信号の方が、開口41C3bをまたいで検出される検出信号よりも長い時間観測される。言い換えると、開口41C3aで観測される検出信号の方が開口41C3bで観測される検出信号よりも半値幅が長い。これによって、開口41C3aの検出信号と開口41C3bの検出信号を区別することができるので、搬送アーム61の位置を特定することができる。
次に、上述の実施形態においては、搬送装置H1とは別に搬送車Vが使用されているが、搬送車Vを本発明による搬送装置の一例とみなすことも可能である。この場合、搬送車Vに検出装置63を設けるようにしてもよい。When the
Next, in the above-described embodiment, the transport vehicle V is used separately from the transport device H1, but the transport vehicle V can also be regarded as an example of the transport device according to the present invention. In this case, the
また、上述の実施形態においては、マスクライブラリLBに収容部65の他に一時収容部66が設けられているが、一時収容部66を設けることなく、複数の収容部65のうちの任意の一つの収容部65に搬送車Vからマスクケース30を搬入し、任意の一つの収容部65から搬送車Vによってマスクケース30を搬出してもよい。
また、上述の実施形態においては、搬送車V及び搬送装置H1とマスクケース30との連結はマスクケース30(下ケース部31A)の底面部において行っているが、下ケース部31Aの側面部又は上ケース部31Bの上面部等でその連結を行うようにしてもよい。In the above-described embodiment, the mask library LB is provided with the
In the above-described embodiment, the transport vehicle V and the transport device H1 and the
また、上述の実施形態においては、搬送車V及び搬送装置H1のマスクケース搬送部53,61にはほぼ同一構造のボールトランスファ54A〜54D及び62A〜62Dが使用されているが、マスクケース搬送部53,61の端部等、マスクケース30の受け渡しの際に大きな衝撃が加わる恐れがある部分には、耐衝撃性が高いボールトランスファ等のケース支持部材を用いることもできる。
In the above-described embodiment, the
また、上述の実施形態においては、搬送装置H1は、自動で作動するものとして説明したが、作業員などが部分的にマニュアル方式で作動させてもよい。
また、上述の実施形態においては、搬送車Vのマスクケース搬送部53及び搬送装置H1のマスクケース搬送部61の少なくとも一方に、マスクケース30のθz方向の回転角を調整する機構を設けてもよい。Further, in the above-described embodiment, the transport device H1 has been described as operating automatically. However, an operator or the like may be partially operated by a manual method.
In the above-described embodiment, a mechanism for adjusting the rotation angle of the
また、上述の実施形態の露光装置EXとしては、マスクとプレート(基板)とを同期移動してステップ・アンド・スキャン方式でマスクのパターンをプレートに露光する走査型露光装置が使用されている。露光装置EXとして、その他に、ステップ・アンド・リピート方式の投影露光装置(ステッパ)、又は投影光学系を用いることなく、マスクと基板とを近接させて露光を行うプロキシミティ露光装置等を使用する場合にも本発明が適用できる。 In addition, as the exposure apparatus EX of the above-described embodiment, a scanning type exposure apparatus is used in which a mask and a plate (substrate) are moved synchronously to expose a mask pattern onto a plate by a step-and-scan method. In addition, a step-and-repeat projection exposure apparatus (stepper) or a proximity exposure apparatus that performs exposure with the mask and the substrate in close proximity without using a projection optical system is used as the exposure apparatus EX. The present invention can also be applied to cases.
また、露光装置EXの種類としては、液晶表示デバイス製造用の露光装置に限られず、半導体ウエハに半導体デバイス用のパターンを露光する半導体デバイス製造用の露光装置や、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD)あるいはレチクルなどを製造するための露光装置などを使用する場合にも本発明が適用できる。
また、上記の各実施形態の露光装置EX又は露光方法を用いて、基板上に所定のパターン(TFTパターン等)を形成することによって、電子デバイス(マイクロデバイス)としての液晶ディスプレイ用のパネル(液晶表示パネル)を得ることもできる。以下、図19のフローチャートを参照して、この製造方法の一例につき説明する。The type of exposure apparatus EX is not limited to an exposure apparatus for manufacturing a liquid crystal display device, but an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device that exposes a semiconductor device pattern on a semiconductor wafer, a thin film magnetic head, an image sensor (CCD). ) Or an exposure apparatus for manufacturing a reticle or the like is also applicable to the present invention.
In addition, by using the exposure apparatus EX or the exposure method of each of the above embodiments to form a predetermined pattern (TFT pattern or the like) on the substrate, a liquid crystal display panel (liquid crystal) as an electronic device (micro device) is formed. Display panel). Hereinafter, an example of this manufacturing method will be described with reference to the flowchart of FIG.
図19のステップS401(パターン形成工程)では、先ず、露光対象の基板上にフォトレジストを塗布して感光基板(プレートP)を準備する塗布工程、上記の露光装置を用いてパネル用のマスク(例えばマスクMを含む)のパターンをその感光基板上の複数のパターン形成領域に露光する露光工程、及びその感光基板を現像する現像工程が実行される。この塗布工程、露光工程、及び現像工程を含むリソグラフィ工程によって、その基板上に所定のレジストパターンが形成される。このリソグラフィ工程に続いて、そのレジストパターンをマスクとしたエッチング工程、及びレジスト剥離工程等を経て、その基板上に所定パターンが形成される。そのリソグラフィ工程等は、その基板上のレイヤ数に応じて複数回実行される。 In step S401 (pattern formation process) of FIG. 19, first, a coating process for preparing a photosensitive substrate (plate P) by applying a photoresist on a substrate to be exposed, and a panel mask (using the above exposure apparatus) For example, an exposure process for exposing a pattern (including a mask M) to a plurality of pattern formation regions on the photosensitive substrate and a developing process for developing the photosensitive substrate are performed. A predetermined resist pattern is formed on the substrate by a lithography process including the coating process, the exposure process, and the development process. Following this lithography process, a predetermined pattern is formed on the substrate through an etching process using the resist pattern as a mask, a resist stripping process, and the like. The lithography process or the like is executed a plurality of times according to the number of layers on the substrate.
その次のステップS402(カラーフィルタ形成工程)では、赤R、緑G、青Bに対応した3つの微細なフィルタの組をマトリックス状に多数配列するか、又は赤R、緑G、青Bの3本のストライプ状の複数のフィルタの組を水平走査線方向に配列することによってカラーフィルタを形成する。その次のステップS403(セル組立工程)では、例えばステップS401にて得られた所定パターンを有する基板とステップS402にて得られたカラーフィルタとの間に液晶を注入して、液晶セルを製造する。 In the next step S402 (color filter forming step), a large number of three fine filter sets corresponding to red R, green G, and blue B are arranged in a matrix, or red R, green G, and blue B are arranged. A color filter is formed by arranging a set of three stripe-shaped filters in the horizontal scanning line direction. In the next step S403 (cell assembly process), for example, a liquid crystal cell is manufactured by injecting liquid crystal between the substrate having the predetermined pattern obtained in step S401 and the color filter obtained in step S402. .
その後のステップS404(モジュール組立工程)では、そのようにして組み立てられた液晶セルに表示動作を行わせるための電気回路、及びバックライト等の部品を取り付けて、液晶表示パネルとして完成させる。
上述の電子デバイスの製造方法によれば、上記の実施形態の露光装置又は露光方法を用いてマスクのパターンを基板に転写する工程(ステップS401の一部)と、この工程によりそのパターンが転写された基板をそのパターンに基づいて加工(現像、エッチング等)する工程(ステップS401の他の部分)とを含んでいる。In subsequent step S404 (module assembling step), an electric circuit for causing the liquid crystal cell thus assembled to perform a display operation and components such as a backlight are attached to complete a liquid crystal display panel.
According to the above-described electronic device manufacturing method, the mask pattern is transferred to the substrate using the exposure apparatus or exposure method of the above-described embodiment (part of step S401), and the pattern is transferred by this step. And a step of processing (developing, etching, etc.) the substrate based on the pattern (the other part of step S401).
この製造方法によれば、露光工程のスループットを高めることができるため、液晶表示パネル等の電子デバイスを効率的に製造できる。
なお、上述の電子デバイスの製造方法は、有機EL(Electro-Luminescence)ディスプレイ、又はプラズマディスプレイ等の他のディスプレイ用のパネル等を製造する場合にも適用できる。According to this manufacturing method, since the throughput of the exposure process can be increased, an electronic device such as a liquid crystal display panel can be efficiently manufactured.
The above-described method for manufacturing an electronic device can also be applied to the case of manufacturing an organic EL (Electro-Luminescence) display, or another display panel such as a plasma display.
なお、本明細書には以下の発明も記載されている。
13. マスクを支持する支持部が設けられる底面を有する第1ケース部と、前記第1ケース部に対して着脱可能に設けられ、前記底面に対向配置される上面を有する第2ケース部と、を備え、保管装置に保管可能なマスクケースであって、
前記第2ケース部は、前記第1ケース部から取り外されて保持されるときに用いられる保持部を備え、
前記保持部は、前記第1ケース部から取り外された前記第2ケース部が前記保管装置で支持されるときに、前記保管装置に設けられたピン部に嵌合するための開口部を有するマスクケース。
14. 前記保持部の開口部は、前記第2ケース部の前記上面における一方の側面及び他方の側面のそれぞれに設けられる13に記載のマスクケース。
15. マスクを支持する支持部が設けられる底面を有する第1ケース部と、前記第1ケース部に対して着脱可能に設けられ、前記底面に対向配置される上面を有する第2ケース部と、で構成されるマスクケースであって、
前記第1ケース部は、前記底面において前記支持部に対向する位置に、外部からの光を通過させる光通過部を有し、
前記第2ケース部は、前記第1ケース部の前記光通過部に対向する位置に、前記光通過
部から入射する光を前記光通過部に向けて反射する反射部を有するマスクケース。
16. 前記第1ケース部に設けられ、外部からの光を反射する反射部材をさらに備える15に記載のマスクケース。
17. マスクを支持する支持部が設けられる底面を有する第1ケース部と、前記第1ケース部に対して着脱可能に設けられ、前記底面に対向配置される上面を有する第2ケース部と、で構成されるマスクケースであって、
前記第1ケース部は、前記底面において前記支持部に対向する位置に設けられ、外部からの光を通過させる光通過部と、前記光通過部と重ならない位置に設けられ、外部からの光を反射する反射部材と、を有するマスクケース。
18. 前記支持部は、前記マスクケースが保管される保管装置に前記第1ケース部及び前記第2ケース部が搬送される第1方向における前記マスクの端部の位置を規定し、
前記光通過部は、前記支持部に対向する位置に設けられる15〜17のいずれか一項に記載のマスクケース。
19. 前記光通過部は、前記第1ケース部の底面に対して傾斜して設けられる15〜18のいずれか一項に記載のマスクケース。
20. 前記光通過部は、前記第2ケース部が前記第1ケース部に装着されて前記マスクが前記第1ケース部及び前記第2ケース部に収納された状態で、前記マスクと前記第2ケース部とが見える位置に設けられている15〜19のいずれか一項に記載のマスクケース。
21. 前記光通過部が設けられる側から前記マスクケースを見たときに、前記反射部材、前記マスク、前記反射部の順に並んで設けられる16に記載のマスクケース。
22. 前記反射部材及び前記反射部のうち少なくとも一方は、偏光板である16又は21に記載のマスクケース。
23. 前記第1ケース部の底面に設けられ、互いに異なる形状を有する少なくとも3つの溝部を有する1〜22のいずれか一項に記載のマスクケース。
24. 前記溝部の少なくとも3つの溝部は、円錐面状の溝部と平坦面を有する溝部とを含む23に記載のマスクケース。
31. マスクケースを保管する保管装置であって、
13又は14に記載のマスクケースの保持部を支持可能なケース支持部を備え、
前記ケース支持部に、前記保持部に設けられた前記開口部と係合可能なピン部を有する保管装置。
32. 前記開口部が前記ピン部に係合しないことを検出する検出部をさらに備える31に記載の保管装置。
33. マスクが収納されたマスクケースを搬送する搬送装置であって、
32に記載の保管装置に前記マスクケースを搬送する搬送アームを備え、
前記搬送アームは、前記検出部によって前記開口部が前記ピン部に係合しないことを検出した場合に、前記マスク又は前記マスクケースの搬送を行わない搬送装置。
34. マスクケースを搬送する搬送装置において、
15〜24のいずれか一項に記載のマスクケースを支持するケース支持部と、
前記マスクケースに向けて光ビームを照射する照射部と、
前記マスクケースに向けて照射された前記光ビームを検出する検出部と、を備える搬送装置。
35. 前記照射部は、前記マスクケースの前記光通過部に前記光ビームを照射し、
前記検出部は、前記光通過部に向けて照射された前記光ビームを検出する34に記載の搬送装置。
36. 前記検出部で検出された検出結果に基づいて、所望のマスクではないマスクが搬送された場合、又は、マスクのないマスクケースが搬送された場合に、前記マスクケースの搬送を行わない34又は35に記載の搬送装置。
37. 前記検出部で検出された検出結果に基づいて、所望のマスクではないマスクが搬送された場合、又は、マスクのないマスクケースが搬送された場合に、前記マスクケースが保管される保管装置の一時収容部に前記マスクケースを返却する34〜36のいずれか一項に記載の搬送装置。
38. 前記検出部は、
前記マスクケースに光を照射し、前記マスクケースからの反射光を検出して前記マスクケースの状態を検出する第1検出部と、
前記マスクケースに設けられた前記光通過部を介して前記マスクケースに収納されている前記マスクに光を照射し、前記マスクからの反射光を前記光通過部を介して検出する第2検出部と、
を有する34〜37のいずれか一項に記載の搬送装置。
39. 前記検出部は、
前記第1ケース部の前記光通過部を介して前記第2ケース部に設けられた反射部に光を照射し、前記反射部からの反射光を前記光通過部を介して検出して、前記第2ケース部の状態を検出する第3検出部を備える38に記載の搬送装置。
40. 23又は24に記載のマスクケースを支持するケース支持部を備え、
前記ケース支持部は、前記マスクケースの前記底面の少なくとも3つの溝部に係合可能な少なくとも3つの凸部を有する搬送装置。
41. マスクケースを保管する保管装置において、
1〜24のいずれか一項に記載のマスクケースを支持するケース支持部と、
前記マスクケースに向けて前記光を照射する照射部と、
照射された前記光を検出する検出部と、を備える保管装置。
42. マスクケースを搬送する搬送装置において、
1〜24のいずれか一項に記載のマスクケースを支持するケース支持部を備える搬送装置。
43. マスクケースを搬送する搬送装置であって、
1〜24のいずれか一項に記載のマスクケースから前記第2ケース部を取り出して、前記マスクが載置された前記第1ケース部を搬送する搬送アームを備える搬送装置。
44. マスクを搬送するマスク搬送装置であって、
43に記載の搬送装置によって搬送され、かつ、前記マスクが載置された前記第1ケース部から前記マスクを受け取って、前記マスクを搬送するマスク搬送部を備えるマスク搬送装置。
45. 基板を露光する露光装置において、 1〜24のいずれか一項に記載のマスクケースに収納されたマスクを用いて、前記基板を露光する露光装置。
46. 基板を露光する露光装置において、
25〜33、41のいずれか一項に記載の保管装置を備え、
前記保管装置に保管可能なマスクケースに収納されたマスクを用いて、前記基板を露光する露光装置。
47. 基板を露光する露光装置において、
29、30、34〜40、42、43のいずれか一項に記載の搬送装置を備え、
前記搬送装置によって搬送されたマスクケースの内部に収納されたマスクを用いて、前記基板を露光する露光装置。
48. 基板を露光する露光装置において、
44に記載のマスク搬送装置を備え、
前記マスク搬送装置によって搬送されたマスクを用いて、前記基板を露光する露光装置。
49. 45〜48のいずれか一項に記載の露光装置を用いて感光性基板を露光することと、
前記露光された感光性基板を処理することと、を含むデバイス製造方法。
50. マスクケースを保管する保管方法において、
1〜14のいずれか一項に記載のマスクケースの前記保持部を介して前記マスクケースを支持することと、
前記支持部に向けて光ビームを照射することと、
前記支持部に向けて照射された前記光ビームを検出することと、を含む保管方法。
51. マスクケースを保管する保管方法において、
1〜14のいずれか一項に記載のマスクケースの前記第1ケース部を支持することと、
前記第1ケース部から分離された前記第2ケース部を、前記第2ケース部の前記保持部を介して支持することと、
前記第2ケース部の前記保持部に光ビームを照射し、前記保持部に照射された前記光ビームを検出することと、
前記光ビームの検出結果に応じて前記第2ケース部の位置を調整することと、を含む保管方法。
52. マスクケースを保管する保管方法において、
1〜24のいずれか一項に記載のマスクケースの保持部に設けられた開口部をピン部で係合させて、前記マスクケースを支持する保管方法。
53. マスクケースを搬送する搬送方法において、
マスクが収納された1〜24のいずれか一項に記載のマスクケースを支持することと、
前記マスクケースの第1ケース部に光を照射し、前記第1ケース部に照射された前記光を検出することと、
前記第1ケース部に設けられる光通過部を介して前記第1ケース部に載置された前記マスクに前記光を照射し、前記マスクからの反射光を前記光通過部を介して検出することと、を含む搬送方法。
54. マスクを搬送するマスク搬送方法であって、
1〜24のいずれか一項に記載のマスクケースに収納されたマスクを搬送するマスク搬送方法。
なお、本発明は上述の実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を取り得ることは勿論である。
In this specification, the following inventions are also described.
13. A first case portion having a bottom surface on which a support portion for supporting the mask is provided; and a second case portion having an upper surface provided detachably with respect to the first case portion and disposed to face the bottom surface. A mask case that can be stored in a storage device,
The second case part includes a holding part that is used when being detached and held from the first case part,
The holding portion has a mask having an opening for fitting into a pin portion provided in the storage device when the second case portion removed from the first case portion is supported by the storage device. Case.
14 14. The mask case according to 13, wherein the opening of the holding portion is provided on each of one side surface and the other side surface of the upper surface of the second case portion.
15. A first case portion having a bottom surface on which a support portion for supporting the mask is provided, and a second case portion having a top surface that is detachably provided on the first case portion and is disposed to face the bottom surface. A mask case,
The first case portion has a light passage portion that allows light from the outside to pass at a position facing the support portion on the bottom surface,
The second case portion is located at a position facing the light passage portion of the first case portion.
The mask case which has a reflection part which reflects the light which injects from a part toward the said light passage part.
16. 16. The mask case according to 15, further comprising a reflecting member that is provided in the first case portion and reflects light from the outside.
17. A first case portion having a bottom surface on which a support portion for supporting the mask is provided, and a second case portion having a top surface that is detachably provided on the first case portion and is disposed to face the bottom surface. A mask case,
The first case portion is provided at a position facing the support portion on the bottom surface, provided at a position that does not overlap the light passage portion, a light passage portion that allows light from the outside to pass through, and transmits light from the outside. A mask case having a reflecting member for reflecting.
18. The support portion defines a position of an end portion of the mask in a first direction in which the first case portion and the second case portion are transported to a storage device in which the mask case is stored;
The said light passage part is a mask case as described in any one of 15-17 provided in the position facing the said support part.
19. The said light passage part is a mask case as described in any one of 15-18 provided inclining with respect to the bottom face of the said 1st case part.
20. The light passage portion includes the mask and the second case portion in a state where the second case portion is attached to the first case portion and the mask is accommodated in the first case portion and the second case portion. The mask case as described in any one of 15-19 provided in the position where can be seen.
21. 17. The mask case according to 16, which is provided in the order of the reflecting member, the mask, and the reflecting portion when the mask case is viewed from the side where the light passage portion is provided.
22. The mask case according to 16 or 21, wherein at least one of the reflecting member and the reflecting portion is a polarizing plate.
23. The mask case according to any one of 1 to 22, which is provided on a bottom surface of the first case portion and has at least three groove portions having different shapes.
24. 24. The mask case according to 23, wherein at least three groove portions of the groove portion include a conical groove portion and a groove portion having a flat surface.
31. A storage device for storing a mask case,
A case support portion capable of supporting the mask case holding portion according to 13 or 14,
The storage apparatus which has a pin part which can be engaged with the said opening part provided in the said holding | maintenance part in the said case support part.
32. 32. The storage device according to 31, wherein the storage device further includes a detection unit that detects that the opening does not engage with the pin unit.
33. A transport device for transporting a mask case containing a mask,
A storage arm according to 32, comprising a transfer arm for transferring the mask case,
The transfer arm does not transfer the mask or the mask case when the detection unit detects that the opening is not engaged with the pin part.
34. In the transfer device that transfers the mask case,
A case support part for supporting the mask case according to any one of 15 to 24;
An irradiation unit for irradiating a light beam toward the mask case;
And a detection unit that detects the light beam emitted toward the mask case.
35. The irradiation unit irradiates the light beam to the light passage part of the mask case,
35. The transport apparatus according to 34, wherein the detection unit detects the light beam emitted toward the light passage unit.
36. Based on the detection result detected by the detection unit, when a mask that is not a desired mask is transported, or when a mask case without a mask is transported, the mask case is not transported 34 or 35 The conveying apparatus as described in.
37. Based on the detection result detected by the detection unit, when a mask that is not a desired mask is transported, or when a mask case without a mask is transported, a temporary storage device for storing the mask case is stored. The transfer device according to any one of 34 to 36, wherein the mask case is returned to the storage unit.
38. The detector is
A first detector for irradiating the mask case with light and detecting reflected light from the mask case to detect the state of the mask case;
A second detection unit configured to irradiate the mask accommodated in the mask case through the light passage unit provided in the mask case and detect reflected light from the mask through the light passage unit; When,
The conveying apparatus as described in any one of 34-37 which has these.
39. The detector is
Irradiating light to the reflection part provided in the second case part via the light passage part of the first case part, detecting reflected light from the reflection part via the light passage part, 39. The transport device according to 38, further comprising a third detection unit that detects a state of the second case unit.
40. A case support part for supporting the mask case according to 23 or 24,
The said case support part is a conveying apparatus which has at least 3 convex part which can be engaged with the at least 3 groove part of the said bottom face of the said mask case.
41. In the storage device that stores the mask case,
A case support portion for supporting the mask case according to any one of 1 to 24;
An irradiating unit for irradiating the light toward the mask case;
A storage device comprising: a detection unit that detects the irradiated light.
42. In the transfer device that transfers the mask case,
A conveying apparatus provided with a case support part which supports the mask case as described in any one of 1-24.
43. A transfer device for transferring a mask case,
A transport apparatus comprising a transport arm that takes out the second case part from the mask case according to any one of 1 to 24 and transports the first case part on which the mask is placed.
44. A mask transfer device for transferring a mask,
43. A mask transport apparatus comprising a mask transport section that is transported by the transport apparatus according to
45. The exposure apparatus which exposes a board | substrate, The exposure apparatus which exposes the said board | substrate using the mask accommodated in the mask case as described in any one of 1-24.
46. In an exposure apparatus that exposes a substrate,
The storage device according to any one of 25 to 33, 41 is provided,
An exposure apparatus that exposes the substrate using a mask stored in a mask case that can be stored in the storage apparatus.
47. In an exposure apparatus that exposes a substrate,
29, 30, 34-40, 42, comprising the transport device according to any one of 43,
An exposure apparatus that exposes the substrate using a mask housed in a mask case transported by the transport apparatus.
48. In an exposure apparatus that exposes a substrate,
44.
An exposure apparatus that exposes the substrate using a mask transported by the mask transport apparatus.
49. Exposing the photosensitive substrate using the exposure apparatus according to any one of 45 to 48;
Processing the exposed photosensitive substrate.
50. In the storage method for storing the mask case,
Supporting the mask case via the holding part of the mask case according to any one of 1 to 14,
Irradiating a light beam toward the support;
Detecting the light beam irradiated toward the support portion.
51. In the storage method for storing the mask case,
Supporting the first case portion of the mask case according to any one of 1 to 14,
Supporting the second case part separated from the first case part via the holding part of the second case part;
Irradiating the holding part of the second case part with a light beam, and detecting the light beam applied to the holding part;
Adjusting the position of the second case part in accordance with the detection result of the light beam.
52. In the storage method for storing the mask case,
The storage method which supports the said mask case by engaging the opening part provided in the holding | maintenance part of the mask case as described in any one of 1-24 by a pin part.
53. In the transport method for transporting the mask case,
Supporting the mask case according to any one of 1 to 24 in which a mask is stored;
Irradiating the first case part of the mask case with light and detecting the light emitted to the first case part;
Irradiating the light on the mask placed on the first case part via a light passage part provided on the first case part, and detecting reflected light from the mask via the light passage part And a conveying method including:
54. A mask carrying method for carrying a mask,
The mask conveyance method which conveys the mask accommodated in the mask case as described in any one of 1-24.
In addition, this invention is not limited to the above-mentioned embodiment, Of course, a various structure can be taken in the range which does not deviate from the summary of this invention.
EX…露光装置、M…マスク、P…プレート、MST…マスクステージ、CH…露光チャンバ、V…搬送車、H1…搬送装置、H2…マスクローダ系、LB…マスクライブラリ、30…マスクケース、31A…下ケース部(第1ケース部)、31B…上ケース部(第2ケース部)、32…ベース部材、32a1…窓部、36A〜36C…位置決め部、37A,37B…反射部、41A,41B…鍔(つば)部、43…フレーム機構、46A,46B…レール、47A1,47A2,47B1,47B2…支持部、49…反射部材、52…検出装置、65…収容部、66…一時収容部 EX ... exposure apparatus, M ... mask, P ... plate, MST ... mask stage, CH ... exposure chamber, V ... carrier, H1 ... conveyor, H2: mask loader system, LB ... mask library, 30 ... mask case, 31A ... Lower case part (first case part), 31B ... Upper case part (second case part), 32 ... Base member, 32a1 ... Window part, 36A to 36C ... Positioning part, 37A, 37B ... Reflecting part, 41A, 41B ... collar part, 43 ... frame mechanism, 46A, 46B ... rail, 47A1, 47A2, 47B1, 47B2 ... support part, 49 ... reflecting member, 52 ... detection device, 65 ... housing part, 66 ... temporary housing part
Claims (22)
前記第2ケース部は、前記第1ケース部から取り外されて前記保管装置に保持されるときに用いられる保持部を有し、
前記保持部は、
前記第1ケース部に装着された前記第2ケース部が前記保管装置に保管される第1位置にあるときに、光が通過する第1の光通過部と、
前記第1ケース部から取り外された前記第2ケース部の前記保持部が前記保管装置に保持される第2位置にあるときに、前記光が通過する、前記第1の光通過部とは異なる第2の光通過部と、
を備えるマスクケース。 A first case portion having a bottom surface on which a support portion for supporting the mask is provided; and a second case portion having an upper surface provided detachably with respect to the first case portion and disposed to face the bottom surface. A mask case that can be stored in a storage device,
The second case part has a holding part that is used when the second case part is removed from the first case part and held by the storage device,
The holding part is
A first light passage portion through which light passes when the second case portion attached to the first case portion is in a first position stored in the storage device;
Different from the first light passage portion, through which the light passes when the holding portion of the second case portion removed from the first case portion is in the second position held by the storage device. A second light passage part;
Mask case with
前記第1ケース部に装着された前記第2ケース部が前記保管装置に保管されているときの位置から前記第1方向にずれた位置で、前記第1ケース部から取り外された前記第2ケース部の前記保持部を介して前記保管装置に保持されているときの、前記第2ケース部の前記保管装置に対する相対位置関係を検出するために用いられる請求項3に記載のマスクケース。 The second light passage section is
The second case removed from the first case part at a position shifted in the first direction from the position when the second case part attached to the first case part is stored in the storage device. The mask case according to claim 3, wherein the mask case is used for detecting a relative positional relationship of the second case part with respect to the storage device when being held by the storage device via the holding unit.
前記第2ケース部を装着した前記第1ケース部が、前記保管装置に支持されているときの前記第2ケース部の位置と、前記第2ケース部が前記第1ケース部から取り外されて、前記保持部を介して前記保管装置に支持されているときの前記第2ケース部の位置と、の前記第1方向におけるずれ量だけ前記第1方向にずれて配置される請求項3又は4に記載のマスクケース。 The first light passing portion is in contrast to the second light passing portion.
The position of the second case portion when the first case portion mounted with the second case portion is supported by the storage device, and the second case portion is removed from the first case portion, The arrangement according to claim 3 or 4, wherein the second case portion is displaced by a shift amount in the first direction from the position of the second case portion when supported by the storage device via the holding portion. The mask case described.
前記部分突出部の1つに、前記第1の光通過部と前記第2の光通過部とが設けられる請求項1〜9のいずれか一項に記載のマスクケース。 The holding part is composed of at least two partial protrusions protruding outward from one side face and the other side face of the upper surface of the second case part,
The mask case according to any one of claims 1 to 9, wherein the first light passage portion and the second light passage portion are provided in one of the partial protrusions.
請求項1〜12のいずれか一項に記載のマスクケースの前記保持部を介して前記マスクケースを支持可能な支持部と、
前記支持部に向けて光ビームを照射する照射部と、
前記支持部に向けて照射された前記光ビームを検出する検出部と、
を備える保管装置。 In the storage device that stores the mask case,
A support part capable of supporting the mask case via the holding part of the mask case according to any one of claims 1 to 12,
An irradiation unit for irradiating the support unit with a light beam;
A detection unit for detecting the light beam irradiated toward the support unit;
A storage device comprising:
前記検出部は、前記光通過部に向けて照射された前記光ビームを検出する請求項13に記載の保管装置。 The irradiation unit irradiates the light beam toward the light passing unit provided in the holding unit,
The storage device according to claim 13 , wherein the detection unit detects the light beam irradiated toward the light passage unit.
前記検出部は、前記光ビーム反射部で反射されて前記光通過部を通過した前記光ビームを検出する請求項13又は14に記載の保管装置。 A light beam reflecting part that reflects the light beam that has passed through the light passing part of the holding part toward the light passing part;
The storage device according to claim 13 or 14 , wherein the detection unit detects the light beam reflected by the light beam reflection unit and passed through the light passage unit.
前記保持部の少なくとも一部が前記係合部に係合された状態で、前記照射部が前記支持部によって支持された前記保持部の前記光通過部に光を照射して、前記光通過部を通過した光を前記検出部で検出する請求項13〜15のいずれか一項に記載の保管装置。 An engaging portion that engages with at least a part of the holding portion;
In a state where at least a part of the holding part is engaged with the engaging part, the irradiating part irradiates light to the light passing part of the holding part supported by the supporting part, and the light passing part The storage device according to any one of claims 13 to 15 , wherein the detection unit detects light that has passed through the detector.
請求項13〜16のいずれか一項に記載の保管装置に前記マスクケースを搬送する搬送アームを備え、
前記搬送アームは、前記マスクケースを保持してから前記マスクケースが前記保管装置の前記支持部に支持されるまでの間に前記検出部で検出された前記光ビームの検出結果に基づいて、前記マスクケースが前記支持部で支持される位置を制御する搬送装置。 A transfer device for transferring a mask case,
A transport arm for transporting the mask case to the storage device according to any one of claims 13 to 16 ,
The transport arm is based on the detection result of the light beam detected by the detection unit between the time when the mask case is held and the time when the mask case is supported by the support unit of the storage device. A transfer device for controlling a position at which the mask case is supported by the support portion.
前記搬送アームは、前記検出部で検出された前記検出結果が所望の検出結果と異なる場合に、前記マスクケースを前記一時収容部に返却する請求項17に記載の搬送装置。 The storage device further includes a temporary storage unit for delivering the mask case,
18. The transfer device according to claim 17 , wherein the transfer arm returns the mask case to the temporary storage unit when the detection result detected by the detection unit is different from a desired detection result.
請求項1〜12のいずれか一項に記載のマスクケースに収納されたマスクを用いて、前記基板を露光する露光装置。 In an exposure apparatus that exposes a substrate,
Using a mask stored in a mask case according to any one of claims 1 to 12 exposure apparatus that exposes the substrate.
請求項13〜16のいずれか一項に記載の保管装置を備え、
前記保管装置に保管可能なマスクケースに収納されたマスクを用いて、前記基板を露光する露光装置。 In an exposure apparatus that exposes a substrate,
The storage device according to any one of claims 13 to 16 , comprising:
An exposure apparatus that exposes the substrate using a mask stored in a mask case that can be stored in the storage apparatus.
請求項17又は18に記載の搬送装置を備え、
前記搬送装置によって搬送されたマスクケースの内部に収納されたマスクを用いて、前記基板を露光する露光装置。 In an exposure apparatus that exposes a substrate,
A transport device according to claim 17 or 18 ,
An exposure apparatus that exposes the substrate using a mask housed in a mask case transported by the transport apparatus.
前記露光された感光性基板を処理することと、を含むデバイス製造方法。 Exposing the photosensitive substrate using the exposure apparatus according to any one of claims 19 to 21 ;
Processing the exposed photosensitive substrate.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015012595 | 2015-01-26 | ||
JP2015012595 | 2015-01-26 | ||
PCT/JP2016/051805 WO2016121635A1 (en) | 2015-01-26 | 2016-01-22 | Mask case, storage device and storage method, transfer device and transfer method, and exposure device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2016121635A1 JPWO2016121635A1 (en) | 2017-11-16 |
JP6418421B2 true JP6418421B2 (en) | 2018-11-07 |
Family
ID=56543248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016571989A Active JP6418421B2 (en) | 2015-01-26 | 2016-01-22 | Mask case, storage device, transport device, exposure device, and device manufacturing method |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6418421B2 (en) |
KR (3) | KR102494177B1 (en) |
CN (2) | CN107407867A (en) |
TW (3) | TWI668510B (en) |
WO (1) | WO2016121635A1 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6418421B2 (en) * | 2015-01-26 | 2018-11-07 | 株式会社ニコン | Mask case, storage device, transport device, exposure device, and device manufacturing method |
CN109051686B (en) * | 2018-09-29 | 2020-08-04 | 苏州精濑光电有限公司 | Workpiece operation method |
KR102644838B1 (en) * | 2018-10-23 | 2024-03-11 | 삼성디스플레이 주식회사 | Electrostatic chuck and electrostatic adsorption apparaus having the same |
TWI741848B (en) * | 2018-10-29 | 2021-10-01 | 家登精密工業股份有限公司 | Reticle retaining system |
JP7195127B2 (en) * | 2018-12-06 | 2022-12-23 | 株式会社ディスコ | Positioning method of transport unit and transport tray |
CN114077163B (en) * | 2020-08-14 | 2023-03-31 | 长鑫存储技术有限公司 | Mask conveying device and exposure system |
KR102460392B1 (en) * | 2022-05-31 | 2022-10-31 | 주식회사 비엘에스 | Continuous automated manufacturing system of photomask storage and protective case |
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- 2016-01-22 JP JP2016571989A patent/JP6418421B2/en active Active
- 2016-01-22 CN CN201680016449.4A patent/CN107407867A/en active Pending
- 2016-01-22 KR KR1020217010770A patent/KR102494177B1/en active IP Right Grant
- 2016-01-22 WO PCT/JP2016/051805 patent/WO2016121635A1/en active Application Filing
- 2016-01-22 KR KR1020237003028A patent/KR20230019229A/en not_active Application Discontinuation
- 2016-01-22 CN CN202011052246.5A patent/CN112162461A/en active Pending
- 2016-01-22 KR KR1020177023573A patent/KR102242065B1/en active IP Right Grant
- 2016-01-26 TW TW105102289A patent/TWI668510B/en active
- 2016-01-26 TW TW108124519A patent/TWI714162B/en active
- 2016-01-26 TW TW109140335A patent/TWI801774B/en active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20170106463A (en) | 2017-09-20 |
JPWO2016121635A1 (en) | 2017-11-16 |
TWI801774B (en) | 2023-05-11 |
TWI668510B (en) | 2019-08-11 |
TW201940962A (en) | 2019-10-16 |
CN112162461A (en) | 2021-01-01 |
WO2016121635A1 (en) | 2016-08-04 |
KR20230019229A (en) | 2023-02-07 |
KR102242065B1 (en) | 2021-04-19 |
TWI714162B (en) | 2020-12-21 |
TW201629618A (en) | 2016-08-16 |
CN107407867A (en) | 2017-11-28 |
KR102494177B1 (en) | 2023-01-31 |
KR20210043017A (en) | 2021-04-20 |
TW202115489A (en) | 2021-04-16 |
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