JP2001244313A - Transportation method and transportation apparatus, and exposure method and aligner - Google Patents

Transportation method and transportation apparatus, and exposure method and aligner

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JP2001244313A
JP2001244313A JP2000052514A JP2000052514A JP2001244313A JP 2001244313 A JP2001244313 A JP 2001244313A JP 2000052514 A JP2000052514 A JP 2000052514A JP 2000052514 A JP2000052514 A JP 2000052514A JP 2001244313 A JP2001244313 A JP 2001244313A
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Japan
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mask
substrate
size
exposure
storage container
Prior art date
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JP2000052514A
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Japanese (ja)
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Eiji Goto
英司 後藤
Toshiya Ota
稔也 太田
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/70741Handling masks outside exposure position, e.g. reticle libraries

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for stably transporting each mask (substrate) of various sizes, and to provide an exposure method and an aligner employing such method and apparatus. SOLUTION: The aligner S comprises a dimension detecting system R for detecting the size of a mask M in a mask case 11, a transportation apparatus H for transporting this mask M to a discrimination part A, and a control part 9 for instructing to transport the M to a projection exposure part E after positioning the mask M in the discrimination part A based on the size of the mask M and carrying out the predetermined treatment. A transportation apparatus H transports stably in response to the dimension of the mask M, because the dimension of the mask M is detected before transportation.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、液晶表示
用デバイス製造において用いられる基板(マスク)を搬
送する搬送方法及び搬送装置、並びに露光方法及び露光
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer method and a transfer apparatus for transferring a substrate (mask) used in the manufacture of a device for liquid crystal display, and to an exposure method and an exposure apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示素子や半導体素子あるいは薄膜
磁気ヘッド等をフォトリソグラフィ工程で製造する場合
に種々の露光装置が使用されているが、フォトマスクあ
るいはレチクル(以下、「マスク」という)に形成され
たパターンの像を、表面にフォトレジスト等の感光剤を
塗布された基板上の各露光領域(ショット領域)に投影
光学系を介して投影する露光装置が一般的に使用されて
いる。
2. Description of the Related Art Various types of exposure apparatuses have been used for manufacturing a liquid crystal display element, a semiconductor element, a thin film magnetic head, and the like by a photolithography process. An exposure apparatus that projects an image of the formed pattern onto each exposure area (shot area) on a substrate having a surface coated with a photosensitive agent such as a photoresist through a projection optical system is generally used.

【0003】このような露光装置は、通常、ある1つの
大きさ(寸法)のマスクに対応するように設計されてい
る。すなわち、使用されるマスクの大きさは露光装置毎
に決められている。
[0003] Such an exposure apparatus is usually designed to correspond to a mask of a certain size (dimension). That is, the size of the mask to be used is determined for each exposure apparatus.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】この場合、1つの露光
装置を様々な大きさのマスクに対応できるようにするこ
とにより、作業性及び生産性は向上する。例えば、一例
として、図15(a)に示すように、露光装置が1つの
マスクMにしか対応していない場合には、1つの基板W
に対して所定のパターンを形成するには露光回数は4回
必要となるが、図15(b)に示すように、露光装置を
複数の大きさのマスクMに対応可能とすることにより、
露光回数は2回に抑えられる。
In this case, workability and productivity are improved by making one exposure apparatus compatible with masks of various sizes. For example, as an example, as shown in FIG. 15A, when the exposure apparatus supports only one mask M, one substrate W
In order to form a predetermined pattern, the number of exposures is four. However, as shown in FIG. 15B, by making the exposure apparatus compatible with masks M of a plurality of sizes,
The number of exposures can be suppressed to two.

【0005】しかしながら、従来における露光装置やマ
スクMを収容するマスクケース、あるいはこのマスクケ
ースから露光装置にマスクMを搬送する搬送装置は、大
きさの異なる複数のマスクMに対応していないので、所
定の処理を安定して行うことができない。
However, the conventional exposure apparatus, the conventional mask case for accommodating the mask M, or the transport apparatus for transporting the mask M from the mask case to the exposure apparatus do not support a plurality of masks M having different sizes. Predetermined processing cannot be performed stably.

【0006】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、様々な大きさを有するそれぞれのマスク(基
板)を安定して搬送することができる搬送方法及び搬送
装置、並びにこれを備えた露光方法及び露光装置を提供
することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and has a transfer method and a transfer device capable of stably transferring respective masks (substrates) having various sizes, and a transfer device and a transfer method. An exposure method and an exposure apparatus are provided.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め本発明は、実施の形態に示す図1〜図16に対応付け
した以下の構成を採用している。本発明の搬送方法は、
収納容器(11、12)に収容される複数の基板(M)
のうち少なくとも1つの基板(M)を所定位置(A、1
7)まで搬送する搬送方法において、収納容器(11、
12)に収容される基板(M)の大きさを検出し、この
検出結果に基づいて基板(M)が指定の大きさか否かを
判別し、指定の大きさであると判別した基板(M)を収
納容器(11、12)から取り出して所定位置(A、1
7)まで搬送することを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention employs the following configuration corresponding to FIGS. 1 to 16 shown in the embodiment. The transport method of the present invention,
Plural substrates (M) stored in storage containers (11, 12)
At least one substrate (M) is positioned at a predetermined position (A, 1
7) In the transport method for transporting the container (11,
12), the size of the substrate (M) accommodated in the substrate (M) is detected, and based on the detection result, it is determined whether or not the substrate (M) is the specified size. ) Is taken out of the storage containers (11, 12),
7) is transported.

【0008】本発明によれば、基板(M)は、収納容器
(11、12)において大きさを検出されてから搬送さ
れるので、収納容器(11、12)に収容されている複
数の基板(M)が様々な大きさを有している場合であっ
ても、収容容器(11、12)から確実に所望の基板
(W)を取り出すことができるとともに、この基板
(M)の大きさに応じた搬送動作を行うことができる。
According to the present invention, since the substrate (M) is conveyed after its size is detected in the storage containers (11, 12), a plurality of substrates (M) stored in the storage containers (11, 12) are transported. Even if (M) has various sizes, a desired substrate (W) can be reliably taken out of the storage containers (11, 12), and the size of the substrate (M) can be reduced. Can be performed in accordance with the transfer operation.

【0009】この場合、基板(M)の大きさに応じて、
所定位置(A)における位置決めを行うことにより、所
定位置(A)における処理は正確且つ安定して行われ
る。
In this case, according to the size of the substrate (M),
By performing positioning at the predetermined position (A), processing at the predetermined position (A) is performed accurately and stably.

【0010】本発明の搬送装置は、収納容器(11、1
2)に収容される複数の基板(M)のうち少なくとも1
つの基板(M)を所定位置(A)まで搬送する搬送装置
(H)において、収納容器(11、12)内の基板
(W)の大きさを検出する寸法検出系(R)と、基板
(M)を収納容器(11、12)から取り出す搬送系
(H、13)と、寸法検出系(R)の検出結果に基づい
て、基板(M)が指定の大きさか否かを判別し、指定の
大きさであると判別した基板(M)に対して、収納容器
(11、12)から所定位置(A、17)まで搬送する
よう搬送系(H、13)に指示する制御系(C、9)と
を備えることを特徴とする。
The transfer device of the present invention comprises a storage container (11, 1).
At least one of the plurality of substrates (M) accommodated in 2)
In a transfer device (H) for transferring one substrate (M) to a predetermined position (A), a dimension detection system (R) for detecting the size of the substrate (W) in the storage containers (11, 12); M) is determined based on the transport system (H, 13) that takes out the storage container (11, 12) from the storage container (11, 12) and the detection result of the dimension detection system (R), and determines whether the substrate (M) is the specified size. The control system (C, C) instructs the transport system (H, 13) to transport the substrate (M) determined to have the size from the storage container (11, 12) to the predetermined position (A, 17). 9).

【0011】本発明によれば、基板(M)は、搬送系
(H、13)によって搬送される前に、寸法検出系
(R)によって大きさを検出されるので、収納容器(1
1、12)に収容されている複数の基板(M)が様々な
大きさを有している場合であっても、搬送系(H、1
3)は、収容容器(11、12)から所望の基板(W)
を確実に取り出すことができる。また、搬送前に基板
(M)の大きさを検出しておくことにより、搬送系
(H、13)は、この基板(M)大きさに応じた設定を
制御系(C、9)によって施されるので、基板(M)は
安定して搬送される。
According to the present invention, the size of the substrate (M) is detected by the dimension detection system (R) before being transported by the transport system (H, 13).
Even if the plurality of substrates (M) housed in the (1, 12) have various sizes, the transfer system (H, 1)
3) a desired substrate (W) from the container (11, 12)
Can be reliably taken out. Further, by detecting the size of the substrate (M) before the transfer, the transfer system (H, 13) performs setting according to the size of the substrate (M) by the control system (C, 9). Therefore, the substrate (M) is stably transported.

【0012】この場合、制御系(C、9)は、基板
(M)の大きさに応じて所定位置(A)における基板
(M)の位置決めを行うので、所定位置(A)における
処理は正確且つ安定して行われる。
In this case, since the control system (C, 9) positions the substrate (M) at the predetermined position (A) according to the size of the substrate (M), the processing at the predetermined position (A) is accurate. And it is performed stably.

【0013】本発明の露光方法は、収納容器(11、1
2)に収納されるマスク(M)を露光光(EL)の光路
上に搬送し、露光光(EL)によってマスク(M)に形
成されたパターン(PA)の像を基板(W)上に転写す
る露光方法において、収納容器(11、12)に収容さ
れるマスク(M)の大きさを検出し、検出したマスク
(M)の大きさに応じてこのマスク(M)を収納容器
(11、12)から取り出して所定位置(A)に搬送
し、マスク(M)の大きさに応じて、所定位置(A)に
おける位置決めを行い、所定位置(A)において所定の
処理を行った後、マスク(M)を光路上に搬送し露光処
理することを特徴とする。
According to the exposure method of the present invention, the container (11, 1)
The mask (M) housed in 2) is transported on the optical path of the exposure light (EL), and the image of the pattern (PA) formed on the mask (M) by the exposure light (EL) is placed on the substrate (W). In the exposure method for transferring, the size of the mask (M) stored in the storage container (11, 12) is detected, and the mask (M) is placed in the storage container (11) according to the detected size of the mask (M). , 12), is transported to a predetermined position (A), is positioned at a predetermined position (A) according to the size of the mask (M), and is subjected to predetermined processing at the predetermined position (A). It is characterized in that the mask (M) is transported on the optical path and exposed.

【0014】本発明によれば、マスク(M)の大きさは
搬送前に検出されるので、このマスク(M)の大きさに
応じた搬送動作を行うことができる。そして、マスク
(M)の大きさに応じて所定位置(A)における位置決
めを行うことにより、所定位置(A)における処理は正
確且つ安定して行われる。マスク(M)は所定の処理を
施されてから安定して露光処理されるので、生産性、作
業性は向上する。
According to the present invention, since the size of the mask (M) is detected before the transfer, the transfer operation according to the size of the mask (M) can be performed. Then, by performing positioning at the predetermined position (A) according to the size of the mask (M), processing at the predetermined position (A) is performed accurately and stably. The mask (M) is stably exposed after being subjected to a predetermined process, so that productivity and workability are improved.

【0015】また、検出結果に基づいてマスク(M)が
指定の大きさか否かを判別し、指定の大きさであると判
別したマスク(M)を収納容器(11、12)から取り
出すことにより、所望の大きさを有するマスク(M)の
みを収納容器(11,12)から確実に取り出すことが
できるので、効率良い処理を行うことができる。
Further, it is determined whether or not the mask (M) is of a specified size based on the detection result, and the mask (M) determined to be of the specified size is taken out of the storage containers (11, 12). Since only the mask (M) having a desired size can be reliably taken out of the storage containers (11, 12), efficient processing can be performed.

【0016】本発明の露光装置は、収納容器(11、1
2)に収納されるマスク(M)を露光光(EL)の光路
上に搬送し、露光光(EL)によってマスク(M)に形
成されたパターン(PA)の像を基板(W)上に転写す
る露光装置(E、S)において、収納容器(11、1
2)内のマスク(M)の大きさを検出する寸法検出系
(R)と、マスク(M)を収納容器(11、12)から
取り出し所定位置(A)まで搬送する搬送系(H、1
3)と、寸法検出系(R)の検出結果に基づいて、所定
位置(A)におけるマスク(M)の位置決めを行い、所
定位置(A)において所定の処理を行った後、マスク
(M)を光路上に搬送するよう搬送系(H)に指示する
制御系(C、9)とを備えることを特徴とする。
The exposure apparatus of the present invention comprises a container (11, 1).
The mask (M) housed in 2) is transported on the optical path of the exposure light (EL), and the image of the pattern (PA) formed on the mask (M) by the exposure light (EL) is placed on the substrate (W). In the exposure apparatus (E, S) for transferring, the storage containers (11, 1
2) A dimension detection system (R) for detecting the size of the mask (M) in the container, and a transport system (H, 1) for removing the mask (M) from the storage containers (11, 12) and transporting the mask (M) to a predetermined position (A).
3) and positioning of the mask (M) at the predetermined position (A) based on the detection result of the dimension detection system (R), and after performing predetermined processing at the predetermined position (A), the mask (M) And a control system (C, 9) for instructing the conveyance system (H) to convey the light onto the optical path.

【0017】本発明によれば、マスク(M)の大きさ
は、搬送前に寸法検出系(R)によって検出されるの
で、搬送系(H、13)は、このマスク(M)の大きさ
に応じた設定を制御系(C、9)によって施されてから
マスク(M)を搬送する。そして、制御系(C、9)
は、マスク(M)の大きさに応じて所定位置(A)にお
ける位置決めを行うことにより、所定位置(A)におけ
る処理は正確且つ安定して行われる。マスク(M)は所
定の処理を安定して施されてから露光処理されるので、
露光処理は安定して行われ、生産性、作業性は向上す
る。
According to the present invention, since the size of the mask (M) is detected by the dimension detection system (R) before transport, the transport system (H, 13) determines the size of the mask (M). Is set by the control system (C, 9), and then the mask (M) is transported. And the control system (C, 9)
By performing positioning at the predetermined position (A) according to the size of the mask (M), processing at the predetermined position (A) is performed accurately and stably. Since the mask (M) is subjected to an exposure process after being stably subjected to a predetermined process,
Exposure processing is performed stably, and productivity and workability are improved.

【0018】また、収納容器(11)に、所定の位置関
係で配置され、マスク(M)を所定位置に位置決めする
位置決め部材(20)を備えさせ、位置決め部材(2
0)を、任意の位置に取り付け可能とすることにより、
様々な大きさを有するマスク(M)を収納容器(11)
に安定して収容することができる。
A positioning member (20) for positioning the mask (M) at a predetermined position is provided in the storage container (11) in a predetermined positional relationship.
0) can be attached to any position,
Storage container (11) for masks (M) having various sizes
Can be stably accommodated.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、本発明の第1実施形態に係
る搬送方法及び搬送装置、並びに露光方法及び露光装置
を図面を参照しながら説明する。図1は本発明の搬送装
置を備えた露光装置全体を説明するための概略構成図で
ある。また、図2はマスクMを収容する収納容器(マス
クケース)を説明するための構成図であり、図3は処理
部(識別部)を説明するための平面図である。さらに、
図4は露光装置(投影露光部)を説明するための構成
図、図5は、露光装置S全体を制御する制御系を説明す
るための図である。この露光装置Sは、露光用照明光
(露光光)ELをマスクMに照明して、このマスクMの
パターンの像を投影光学系120を介して基板(ウェー
ハ)W上に転写するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a transport method and a transport apparatus, an exposure method and an exposure apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram for explaining an entire exposure apparatus provided with the transport device of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram illustrating a storage container (mask case) that stores the mask M, and FIG. 3 is a plan view illustrating a processing unit (identification unit). further,
FIG. 4 is a configuration diagram for explaining an exposure apparatus (projection exposure unit), and FIG. 5 is a diagram for explaining a control system for controlling the entire exposure apparatus S. The exposure apparatus S illuminates a mask M with illumination light for exposure (exposure light) EL, and transfers an image of a pattern of the mask M onto a substrate (wafer) W via a projection optical system 120. .

【0020】これらの図において、露光装置Sは、露光
時に使用されるマスクMの複数枚を個別に収納する収納
容器(マスクケース)11と、このマスクケース11に
収納されたマスクMを複数個収納するためのライブラリ
(収納部)12と、このライブラリ12内のマスクケー
ス11からマスクMを取り出す搬送アーム13と、搬送
アーム13によって取り出されたマスクMをこの搬送ア
ーム13から位置CA1において受け取るとともに位置
CA1と位置CA2との間を移動自在に設けられたキャ
リア14と、位置CA2に移動したキャリア14からマ
スクMを受け取って露光装置本体(投影露光部)Eに設
けられたマスクステージ17まで搬送するロードアーム
15と、露光工程を終えたマスクMをマスクステージ1
7から取り出すためのアンロードアーム16と、露光装
置S全体の動作を制御する制御部9とを備えている。
In these figures, an exposure apparatus S includes a storage container (mask case) 11 for individually storing a plurality of masks M used at the time of exposure, and a plurality of masks M stored in the mask case 11. A library (storage section) 12 for storing, a transfer arm 13 for taking out the mask M from the mask case 11 in the library 12, and a mask M taken out by the transfer arm 13 are received from the transfer arm 13 at a position CA1. The carrier M is provided movably between the position CA1 and the position CA2, and the mask M is received from the carrier 14 moved to the position CA2 and transported to the mask stage 17 provided in the exposure apparatus main body (projection exposure unit) E. Load arm 15 and the mask M after the exposure process
The exposure apparatus S includes an unload arm 16 for taking out the exposure apparatus 7 and a control unit 9 for controlling the operation of the entire exposure apparatus S.

【0021】そして、これら搬送アーム13とキャリア
14とロードアーム15及びアンロードアーム16とに
よって、マスクMをマスクケース11から投影露光部E
のマスクステージ17まで搬送するための搬送装置(搬
送路)Hを構成している。なお、この露光装置Sは、所
定温度に設定された空調チャンバー内部に収容されてい
る。
The transfer arm 13, the carrier 14, the load arm 15 and the unload arm 16 move the mask M from the mask case 11 to the projection exposure section E.
A transport device (transport path) H for transporting to the mask stage 17 is formed. The exposure apparatus S is housed inside an air conditioning chamber set at a predetermined temperature.

【0022】マスクMは、平面4角形状のガラス基板に
よって形成されており、このガラス基板の中央部に形成
されたパターンPAと、ガラス基板の表面一部の所定位
置に形成されたバーコード(識別子)Bとを備えてい
る。このバーコードBは、個々のマスクMに形成された
パターンPAの情報など露光工程に関する様々な情報を
記憶したものである。
The mask M is formed of a plane quadrangular glass substrate. A pattern PA formed in the center of the glass substrate and a bar code (bar code) formed at a predetermined position on a part of the surface of the glass substrate are formed. Identifier B). The bar code B stores various information related to the exposure process such as information on the pattern PA formed on each mask M.

【0023】パターンPAは、マスクMの中央部におい
て面積の大部分を占めるように形成されており、バーコ
ードBは、パターンPAの周辺部の余白部分に形成され
ている。バーコードBとパターンPAとは、例えばクロ
ムなどの同じ材質によって形成されている。
The pattern PA is formed so as to occupy most of the area in the center of the mask M, and the bar code B is formed in a margin at the periphery of the pattern PA. The barcode B and the pattern PA are formed of the same material such as chrome.

【0024】搬送路Hの所定位置には、マスクMに対し
て所定の処理を行うための処理部Aが設けられている。
本実施形態における処理部Aは、マスクM上に設けられ
たバーコードBを読み取り、このバーコードBの情報に
基づいて個々のマスクMを識別するための識別部Aとな
っている。
At a predetermined position of the transport path H, a processing section A for performing a predetermined process on the mask M is provided.
The processing unit A in the present embodiment serves as an identification unit A for reading a barcode B provided on the mask M and identifying each mask M based on the information of the barcode B.

【0025】ライブラリ12は、マスクケース11に個
別に収納されたマスクMを複数個収納するものである。
このときマスクMは、図1中(又は図2中)、X−Y平
面と平行になるようにマスクケース11内部に個別に収
納されており、マスクMを個別に収容した複数のマスク
ケース11はライブラリ12内においてZ方向に複数段
積み重ねられるように配置されている。すなわち、露光
時において使用されるマスクMは、マスクケース11に
収納されつつライブラリ12に収納されている。このマ
スクMが収納されたマスクケース11は、空調チャンバ
ーの一部に設けられた前面扉Tを開けてライブラリ12
の各スロットに装填されるようになっている。
The library 12 stores a plurality of masks M individually stored in the mask case 11.
At this time, the masks M are individually housed in the mask case 11 in FIG. 1 (or in FIG. 2) so as to be parallel to the XY plane, and the plurality of mask cases 11 individually housing the masks M are provided. Are arranged in the library 12 so as to be stacked in a plurality of stages in the Z direction. That is, the mask M used at the time of exposure is stored in the library 12 while being stored in the mask case 11. The mask case 11 containing the mask M is opened by opening a front door T provided in a part of the air conditioning chamber.
In each slot.

【0026】この場合、マスクケース11はオペレータ
によって搬送され前面扉Tから装填されるが、例えば、
他の搬送機構、あるいは自動搬送車(AGV)等によっ
て搬送することも可能である。
In this case, the mask case 11 is transported by the operator and loaded from the front door T.
It is also possible to convey by another conveyance mechanism, an automatic conveyance vehicle (AGV), or the like.

【0027】空調チャンバーの外部にはキーボードとモ
ニターとを備えた操作表示部が設けられており、この操
作表示部によって制御部9の操作、及び所望のマスクM
の選択・登録が可能となっている。そして、この操作表
示部を操作することによって、マスクケース11に個別
に収納されライブラリ12に複数充填されているマスク
Mのうち、露光時において使用すべきマスクMが予め1
つ指定される。
An operation display unit having a keyboard and a monitor is provided outside the air-conditioning chamber. The operation display unit allows the operation of the control unit 9 and the desired mask M
Can be selected and registered. By operating this operation display unit, one of the masks M to be used at the time of exposure is set in advance among the masks M individually stored in the mask case 11 and filled in the library 12.
Are specified.

【0028】搬送装置Hの一部である搬送アーム13
は、ライブラリ12内に配置されている複数のマスクケ
ース11のうち、予め指定されたマスクケース11から
露光時に使用されるマスクMを取り出すとともに、露光
工程で使用されマスクケース11に戻されるべきマスク
Mをこのマスクケース11に収容するためのものであっ
て、図1中、Y方向及びZ方向に移動可能に設けられて
いる。すなわち、搬送アーム13は、マスクケース11
に対して接近・離間するようにY軸ガイド部13aに移
動可能に支持されているとともに、マスクケース11の
配列方向に沿うようにZ軸ガイド部13bに移動可能に
支持されており、予め指定されたマスクケース11内に
進入可能となっている。
The transfer arm 13 which is a part of the transfer device H
Takes out a mask M to be used at the time of exposure from a predetermined mask case 11 out of a plurality of mask cases 11 arranged in a library 12 and a mask to be used in an exposure step and returned to the mask case 11. M is accommodated in the mask case 11, and is provided so as to be movable in the Y and Z directions in FIG. That is, the transfer arm 13 is
Movably supported by the Y-axis guide portion 13a so as to approach / separate from the mask case 11, and movably supported by the Z-axis guide portion 13b along the arrangement direction of the mask cases 11, and designated in advance. The mask case 11 can be entered.

【0029】この搬送アーム13は真空吸着穴を備えて
おり、連結された不図示の真空ポンプのON・OFFに
よって種々の大きさを有するマスクMの保持・解除を行
うことができるようになっている。したがって、搬送ア
ーム13は指定されたマスクケース11に進入すること
によって所望のマスクMを取り出し可能であるととも
に、マスクケース11に戻されるべきマスクMを指定さ
れたマスクケース11に収容可能となっている。
The transfer arm 13 has a vacuum suction hole, and can hold and release masks M having various sizes by turning on and off a connected vacuum pump (not shown). I have. Therefore, the transfer arm 13 can take out the desired mask M by entering the designated mask case 11 and can accommodate the mask M to be returned to the mask case 11 in the designated mask case 11. I have.

【0030】露光時に使用されるマスクMを投影露光部
Eまで搬送する場合において、搬送アーム13はレチク
ルケース11内のマスクMを吸着してY方向に取り出
し、そのままZ方向の最上位置である位置CA1まで搬
送し、この位置CA1においてキャリア14に渡すよう
になっている。このキャリア14は、位置CA1と位置
CA2との間をキャリアガイド部14aに支持されつつ
移動可能に設けられいるとともに、キャリアガイド部1
4aとともにZ方向に移動可能に設けられている。すな
わち、キャリア14は図1中、X、Z方向に移動可能に
設けられている。このキャリア14は下面に真空吸着穴
を備えており、連結された不図示の真空ポンプのON・
OFFによって種々の大きさを有するマスクMを保持・
解除できるようになっている。そして、キャリア14
は、位置CA1において搬送アーム13からマスクMを
受け取ったあと位置CA2まで搬送するようになってい
る。
When the mask M used at the time of exposure is transported to the projection exposure section E, the transport arm 13 sucks the mask M in the reticle case 11 and takes it out in the Y direction. The sheet is conveyed to CA1 and transferred to the carrier 14 at this position CA1. The carrier 14 is provided movably between the position CA1 and the position CA2 while being supported by the carrier guide portion 14a.
It is provided movably in the Z direction together with 4a. That is, the carrier 14 is provided so as to be movable in the X and Z directions in FIG. The carrier 14 has a vacuum suction hole on the lower surface, and is connected to a ON / OFF of a connected vacuum pump (not shown).
Holds masks M of various sizes by turning OFF
It can be released. And carrier 14
Is configured to receive the mask M from the transfer arm 13 at the position CA1, and then transfer the mask M to the position CA2.

【0031】また、キャリア14には4辺を基準に2方
向から挟み込んでマスクMをプリアライメントする機構
(不図示)が設けられており、キャリア14はプリアラ
イメントされた状態のマスクMを位置CA2まで搬送す
るようになっている。なお、キャリア14は、露光工程
において使用されマスクケース11に戻されるべきマス
クMをアンロードアーム16から受け取り、位置CA1
において搬送アーム13に渡すことが可能である。
The carrier 14 is provided with a mechanism (not shown) for pre-aligning the mask M by sandwiching the mask M from two directions on the basis of the four sides. To be transported. The carrier 14 receives from the unload arm 16 the mask M to be used in the exposure process and to be returned to the mask case 11, and receives the position CA1.
At the transfer arm 13.

【0032】ロードアーム15及びアンロードアーム1
6は、図1中、Y方向及びZ方向に移動可能に設けられ
ている。ロードアーム15とアンロードアーム16と
は、位置CA2とマスクステージ17との間をY方向に
個別に移動可能に設けられているとともに、Z方向につ
いてはZ軸ガイド部15aに支持されつつ一体に移動可
能となっている。ロードアーム15は、位置CA2にお
いて露光時に使用するマスクMをキャリア14から受け
取るようになっている。一方、アンロードアーム16
は、露光工程において使用されマスクケース11に戻さ
れるべきマスクMをマスクステージ17から受け取り、
位置CA2においてキャリア14に渡すようになってい
る。これらロードアーム15及びアンロードアーム16
は、搬送アーム13同様にマスクMを保持するための真
空吸着穴を備えており、連結された真空ポンプのON・
OFFによって種々の大きさを有するマスクMの吸着保
持・解除を自在に行うことができるようになっている。
Load arm 15 and unload arm 1
Reference numeral 6 is provided so as to be movable in the Y direction and the Z direction in FIG. The load arm 15 and the unload arm 16 are provided so as to be individually movable in the Y direction between the position CA2 and the mask stage 17, and are integrally supported in the Z direction while being supported by the Z-axis guide portion 15a. It is movable. The load arm 15 receives the mask M used at the time of exposure at the position CA2 from the carrier 14. On the other hand, unload arm 16
Receives from the mask stage 17 a mask M to be used in the exposure step and to be returned to the mask case 11,
The data is transferred to the carrier 14 at the position CA2. These load arm 15 and unload arm 16
Is provided with a vacuum suction hole for holding the mask M in the same manner as the transfer arm 13, and the ON / OFF of the connected vacuum pump
By turning off, the mask M having various sizes can be freely held and released by suction.

【0033】露光時に使用するマスクMを投影露光部E
に設けられたマスクステージ17に向かって搬送する搬
送装置Hの途中には、このマスクMを保持した状態でマ
スクMの表面の一部に設けられたバーコードBを読み取
ることにより、個々のマスクMを識別するための識別部
(処理部)Aが所定位置に設けられている。
The mask M used at the time of exposure is
In the middle of the transfer device H for transferring the mask M to the mask stage 17, the bar code B provided on a part of the surface of the mask M is read while the mask M is held, whereby the individual masks are read. An identification unit (processing unit) A for identifying M is provided at a predetermined position.

【0034】この識別部Aは、露光時に使用するマスク
Mを位置CA2において受け取ったロードアーム15が
マスクステージ17に向かう途中の位置に設けられてお
り、ロードアーム15に保持されたマスクMのバーコー
ドBを読み取るためのバーコードリーダー3を備えてい
る。すなわち、搬送装置Hは、ライブラリ12に収納さ
れたマスクケース11に収容される複数のマスクMのう
ち、少なくとも1つのマスクMを所定位置に設けられた
識別部Aまで搬送する。
The discriminating section A is provided at a position where the load arm 15 that has received the mask M used at the time of exposure at the position CA2 is on the way to the mask stage 17, and the bar of the mask M held by the load arm 15 is A bar code reader 3 for reading the code B is provided. That is, the transport device H transports at least one of the plurality of masks M stored in the mask case 11 stored in the library 12 to the identification unit A provided at a predetermined position.

【0035】バーコードリーダー3は、投光部と受光部
とを備えたレーザー式バーコードリーダーによって構成
されている。
The bar code reader 3 is constituted by a laser bar code reader having a light projecting part and a light receiving part.

【0036】次に、露光装置本体(投影露光部)Eにつ
いて、図4を参照しながら説明する。図4に示すよう
に、投影露光部Eは、光源153からの光束をマスクス
テージ17に保持されるマスクMに照明する照明光学系
150と、この照明光学系150内に配され露光用照明
光(露光光)ELを通過させる開口Kの面積を調整して
この露光光ELによるマスクMの照明範囲を規定するブ
ラインド部140と、露光光ELで照明されたマスクM
のパターンの像を基板W上に投影する投影光学系120
と、基板Wを保持する基板ホルダ132と、この基板ホ
ルダ132を支持する基板ステージ19とを備えてい
る。
Next, the exposure apparatus main body (projection exposure section) E will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 4, the projection exposure unit E includes an illumination optical system 150 that illuminates a light beam from a light source 153 onto a mask M held by a mask stage 17, and an illumination light for exposure that is arranged in the illumination optical system 150. (Exposure light) A blind portion 140 that regulates the area of the opening K through which the EL passes and defines the illumination range of the mask M by the exposure light EL, and the mask M illuminated by the exposure light EL
Optical system 120 that projects the image of the pattern on substrate W
, A substrate holder 132 for holding the substrate W, and a substrate stage 19 for supporting the substrate holder 132.

【0037】照明光学系150は、例えば水銀ランプ等
の光源153と、この光源153から射出された露光光
を集光する楕円鏡154と、この集光された露光光をほ
ぼ平行な光束に変換するインプットレンズ155と、こ
のインプットレンズ155から出力された光束が入射し
て後側(マスクM側)焦点面に多数の二次元光源を形成
するフライアイレンズ156と、これら二次元光源から
射出された露光光を集光してマスクMを均一な照度で照
明するコンデンサレンズ系とを備えている。
The illumination optical system 150 includes, for example, a light source 153 such as a mercury lamp, an elliptical mirror 154 that collects exposure light emitted from the light source 153, and converts the collected exposure light into a substantially parallel light flux. Input lens 155, a light beam output from the input lens 155, a fly-eye lens 156 for forming a large number of two-dimensional light sources on the rear (mask M side) focal plane upon incidence, and emitted from these two-dimensional light sources. And a condenser lens system for condensing the exposure light and illuminating the mask M with uniform illuminance.

【0038】なお、光源153は、例えば、発振波長1
57nmのフッ素レーザー(F2 レーザー)、発振波長
146nmのクリプトンダイマーレーザー(Kr2 レー
ザー)、発振波長126nmのアルゴンダイマーレーザ
ー(Ar2 レーザー)などによって構成することも可能
である。また、光源153として、発振波長193nm
のArFレーザーエキシマレーザー等を用いることも可
能である。
The light source 153 has, for example, an oscillation wavelength of 1
It is also possible to use a 57 nm fluorine laser (F2 laser), a krypton dimer laser (Kr2 laser) having an oscillation wavelength of 146 nm, and an argon dimer laser (Ar2 laser) having an oscillation wavelength of 126 nm. The light source 153 has an oscillation wavelength of 193 nm.
It is also possible to use an ArF laser excimer laser or the like.

【0039】ブラインド部140は、例えば、平面L字
状に屈曲し露光光ELの光軸AXと直交する面内で組み
合わせられることによって矩形状の開口Kを形成する一
対のブレード145A、145Bと、これらブレード1
45A、145Bを制御部9の指示に基づいて光軸AX
と直交する面内で変位させる遮光部変位装置143A、
143Bとを備えている。この可動ブレード145A、
145Bの近傍には、開口形状が固定された固定ブライ
ンド146が配置されている。固定ブラインド146
は、例えば4つのナイフエッジにより矩形の開口を囲ん
だ視野絞りであり、その矩形開口の上下方向の幅がブレ
ード145A、145Bによって規定されるようになっ
ている。このとき、開口Kの大きさはブレード145
A、145Bの変位に伴って変化し、開口Kはフライア
イレンズ156から入射される露光光ELのうち、通過
させた露光光ELのみを反射ミラー151を介してメイ
ンコンデンサレンズ152に送る。開口Kにより規定さ
れた露光光ELは、メインコンデンサレンズ152を介
してマスクステージ17に保持されるマスクMの特定領
域(パターン領域)PAをほぼ均一な照度で照明する。
これら各光学部材及びブラインド部140は所定位置関
係で配置されており、ブラインド部140はマスクMの
パターン面と共役な面に配置されている。
The blind part 140 includes, for example, a pair of blades 145A and 145B which are bent into a plane L shape and are combined in a plane orthogonal to the optical axis AX of the exposure light EL to form a rectangular opening K. These blades 1
45A and 145B are controlled by the optical axis
Light-shielding unit displacement device 143A for displacing in a plane orthogonal to
143B. This movable blade 145A,
A fixed blind 146 having a fixed opening shape is arranged near 145B. Fixed blind 146
Is a field stop that surrounds a rectangular opening with, for example, four knife edges, and the width of the rectangular opening in the vertical direction is defined by the blades 145A and 145B. At this time, the size of the opening K is
The aperture K changes with the displacement of A and 145B, and the aperture K sends only the passed exposure light EL out of the exposure light EL incident from the fly-eye lens 156 to the main condenser lens 152 via the reflection mirror 151. The exposure light EL defined by the opening K illuminates a specific area (pattern area) PA of the mask M held on the mask stage 17 via the main condenser lens 152 with substantially uniform illuminance.
These optical members and the blind portion 140 are arranged in a predetermined positional relationship, and the blind portion 140 is arranged on a surface conjugate to the pattern surface of the mask M.

【0040】投影露光部Eに設けられたマスクステージ
17は露光時に使用されるマスクMを搭載するためのも
のであって、マスクMに形成されているパターンPA
は、投影光学系120通して基板ステージ19に設置さ
れる基板Wに転写されるようになっている。
The mask stage 17 provided in the projection exposure section E is for mounting a mask M used at the time of exposure, and is provided with a pattern PA formed on the mask M.
Is transferred to the substrate W mounted on the substrate stage 19 through the projection optical system 120.

【0041】マスクステージ17は、その上面の4つの
コーナー部分に真空吸着部112を有し、この真空吸着
部112を介してマスクMがマスクステージ17上に保
持されている。このマスクステージ17は、異なる大き
さを有するマスクMを保持可能であって、マスクM上の
パターンが形成された領域であるパターン領域PAに対
応した開口(図示略)を有し、不図示の駆動機構により
X方向、Y方向、θ方向(Z軸回りの回転方向)に微動
可能となっている。このマスクステージ17の駆動機構
は、例えば2組のボイスコイルモータによって構成され
ており、制御部9の指示に基づいて駆動する。制御部9
は、マスクステージ17を移動することによって、パタ
ーン領域PAの中心(マスクセンター)が投影光学系1
20の光軸AXを通るようにマスクMの位置決めをする
ようになっている。
The mask stage 17 has vacuum suction portions 112 at four corners on the upper surface thereof, and the mask M is held on the mask stage 17 via the vacuum suction portions 112. The mask stage 17 can hold a mask M having a different size, has an opening (not shown) corresponding to a pattern area PA in which a pattern on the mask M is formed, and The drive mechanism enables fine movement in the X direction, the Y direction, and the θ direction (rotation direction around the Z axis). The drive mechanism of the mask stage 17 is composed of, for example, two sets of voice coil motors, and is driven based on an instruction from the control unit 9. Control unit 9
The center of the pattern area PA (mask center) is moved by moving the mask stage 17 so that the projection optical system 1
The mask M is positioned so as to pass through the 20 optical axes AX.

【0042】投影光学系120は、開口Kによって規定
されたマスクMの露光光ELによる照明範囲に存在する
パターンPAの像を基板Wに結像させ、基板Wの特定領
域(ショット領域)にパターンPAの像を露光するもの
である。この投影光学系120は、蛍石、フッ化リチウ
ム等のフッ化物結晶からなるレンズや反射鏡などの複数
の光学部材を投影系ハウジングで密閉したものである。
The projection optical system 120 forms an image of the pattern PA existing in the illumination range of the mask M defined by the opening K by the exposure light EL on the substrate W, and forms the pattern PA in a specific area (shot area) of the substrate W. The PA image is exposed. The projection optical system 120 is obtained by sealing a plurality of optical members such as a lens and a reflector made of a fluoride crystal such as fluorite or lithium fluoride with a projection system housing.

【0043】基板ステージ19は、基板ホルダ132を
載置した基板テーブル131と、この基板テーブル13
1をX−Y平面の2次元方向に移動可能に支持するXY
ステージ装置133とを備えている。この場合、投影光
学系120の光軸AXは、X−Y平面に直交するZ方向
と一致している。すなわち、X−Y平面は、投影光学系
120の光軸AXと直交関係にある。基板ステージ19
上の基板ホルダ132に搬送された基板Wは、基板ホル
ダ132によって真空吸着される。
The substrate stage 19 comprises a substrate table 131 on which a substrate holder 132 is mounted,
XY supporting movably in the two-dimensional direction of the XY plane
A stage device 133 is provided. In this case, the optical axis AX of the projection optical system 120 coincides with the Z direction orthogonal to the XY plane. That is, the XY plane is orthogonal to the optical axis AX of the projection optical system 120. Substrate stage 19
The substrate W transferred to the upper substrate holder 132 is vacuum-sucked by the substrate holder 132.

【0044】基板ホルダー132は、基板ステージ19
に支持されている。基板ステージ19は、互いに直交す
る方向へ移動可能な一対のブロックを重ね合わせたもの
であって、X−Y平面に沿った水平方向に移動可能とな
っている。あるいは、例えば磁気浮上型の2次元リニア
モータ(平面モータ)等からなるウェーハ駆動系(図示
略)によってベースの上面に沿って且つ非接触でX−Y
面内で自在に駆動されるようになっている。すなわち、
この基板ステージ19に固定された基板Wは、X−Y平
面に沿った水平方向に(投影光学系120の光軸AXに
対して垂直な方向に)移動可能に支持されている。な
お、この基板Wは、コータによって表面(露光処理面)
に感光剤を塗布された後、不図示の搬送機構によって基
板ステージ19上に供給される。
The substrate holder 132 holds the substrate stage 19
It is supported by. The substrate stage 19 is a stack of a pair of blocks movable in directions orthogonal to each other, and is movable in a horizontal direction along the XY plane. Alternatively, a wafer drive system (not shown) including, for example, a magnetic levitation type two-dimensional linear motor (plane motor) or the like is provided along the upper surface of the base and in a non-contact XY manner.
It is designed to be driven freely in the plane. That is,
The substrate W fixed to the substrate stage 19 is movably supported in the horizontal direction along the XY plane (in the direction perpendicular to the optical axis AX of the projection optical system 120). The substrate W is coated on the surface (exposure processing surface) by a coater.
Is applied onto the substrate stage 19 by a transport mechanism (not shown).

【0045】基板ステージ19のXY方向の位置はレー
ザー干渉システムによって調整されるようになってい
る。X移動鏡136XとX軸レーザー干渉計137Xと
により基板WのX位置、同様に、図示は省略されている
が、Y移動鏡とY軸レーザー干渉計とにより基板WのY
位置が検出される。X軸及びY軸それぞれのレーザー干
渉計の検出値(計測値)に基づく基板WのXY方向の位
置情報は制御部9に送られる。
The position of the substrate stage 19 in the X and Y directions is adjusted by a laser interference system. The X position of the substrate W is determined by the X moving mirror 136X and the X-axis laser interferometer 137X. Similarly, although not shown, the Y position of the substrate W is determined by the Y moving mirror and the Y-axis laser interferometer.
The position is detected. The position information of the substrate W in the XY directions based on the detected values (measured values) of the laser interferometers of the X axis and the Y axis are sent to the control unit 9.

【0046】一方、投影光学系120の投影領域内に配
置された基板WのZ方向の位置は斜入射方式の焦点検出
系の1つである多点フォーカス位置検出系(図示せず)
によって検出される。この検出値、すなわち基板WのZ
方向の位置情報は制御部9に送られる。
On the other hand, the position in the Z direction of the substrate W arranged in the projection area of the projection optical system 120 is a multi-point focus position detection system (not shown) which is one of the oblique incidence type focus detection systems.
Is detected by This detection value, that is, Z of the substrate W
The position information of the direction is sent to the control unit 9.

【0047】制御部9は、レーザー干渉システム及び多
点フォーカス位置検出系により得られた基板WのXY方
向及びZ方向の位置情報をモニターしつつ、駆動系とし
ての基板ステージ駆動装置121を介してXYステージ
装置133及び基板テーブル131を駆動し、マスクM
のパターン面と基板W表面とが投影光学系120に関し
て共役となるように、且つ投影光学系120の結像面と
基板Wとが一致するように、基板WのXY方向、Z方向
及び傾斜方向の位置決め動作を行う。このようにして位
置決めがなされた状態で照明光学系150から射出され
た露光光ELによりマスクMのパターン領域PAがほぼ
均一な照度で照明されると、マスクMのパターンPAの
像が投影光学系120を介して表面にフォトレジストを
塗布された基板W上に結像される。
The controller 9 monitors the positional information of the substrate W in the XY and Z directions obtained by the laser interference system and the multi-point focus position detecting system, and via the substrate stage driving device 121 as a driving system. The XY stage device 133 and the substrate table 131 are driven so that the mask M
The XY direction, the Z direction, and the tilt direction of the substrate W such that the pattern surface of the substrate W and the surface of the substrate W are conjugate with respect to the projection optical system 120, and the imaging plane of the projection optical system 120 coincides with the substrate W. Is performed. When the pattern area PA of the mask M is illuminated by the exposure light EL emitted from the illumination optical system 150 with substantially uniform illuminance in the state where the positioning is performed in this manner, the image of the pattern PA of the mask M is projected. An image is formed on a substrate W having a surface coated with a photoresist through 120.

【0048】次に、図6を参照しながら、収納容器(マ
スクケース)11について説明する。ライブラリ12内
に複数個収納されているそれぞれのマスクケース11に
は、大きさ(面積)の異なる複数種類のマスクMが個別
に収納されている。これらのマスクMは、露光処理する
基板Wの大きさや、形成するパターンに応じて予め設定
された寸法を備えている。
Next, the storage container (mask case) 11 will be described with reference to FIG. A plurality of masks M having different sizes (areas) are individually stored in the respective mask cases 11 stored in the library 12. These masks M have dimensions set in advance according to the size of the substrate W to be exposed and the pattern to be formed.

【0049】図6に示すように、マスクケース11の内
部には、所定の位置関係で配置され、処理対象であるマ
スクMを基準位置Jに位置決めする位置決め部材(位置
決めピン)20が設けられている。この位置決めピン2
0は、マスクケース11の底部において所定の位置に設
けられた穴部20aに嵌合することによって、マスクケ
ース11の底部から上方(Z方向)に延びるように設置
されている。
As shown in FIG. 6, inside the mask case 11, there are provided positioning members (positioning pins) 20 which are arranged in a predetermined positional relationship and position the mask M to be processed at the reference position J. I have. This positioning pin 2
0 is installed so as to extend upward (Z direction) from the bottom of the mask case 11 by fitting into a hole 20a provided at a predetermined position in the bottom of the mask case 11.

【0050】このとき、位置決めピン20は、マスクケ
ース11内に収容されたマスクMのそれぞれの角部に当
接するように設置されており、本実施形態においては、
1つの角部に2本ずつ、全部で8本設けられている。マ
スクMは、これらの位置決めピン20によって水平方向
(X−Y方向)への移動を規制されている。
At this time, the positioning pins 20 are installed so as to come into contact with respective corners of the mask M housed in the mask case 11, and in this embodiment,
A total of eight are provided, two at each corner. The movement of the mask M in the horizontal direction (X-Y direction) is restricted by the positioning pins 20.

【0051】この位置決めピン20は、図7に示すよう
に、収容するマスクMの大きさに応じて、任意の位置に
取り付け可能となっている。すなわち、位置決めピン2
0を嵌合する穴部20aは予め複数設けられており、収
容するマスクMの大きさに応じて、このマスクMの端部
を位置決めピン20が当接するように、用いられるべき
穴部20aが選択される。この位置決めピン20は、マ
スクケース11内にマスクMを収容するときに、このマ
スクMの大きさに応じて取り付けられる。
As shown in FIG. 7, the positioning pin 20 can be attached to an arbitrary position according to the size of the mask M to be housed. That is, the positioning pin 2
A plurality of holes 20a for fitting 0 are provided in advance. Depending on the size of the mask M to be accommodated, the holes 20a to be used are so positioned that the positioning pins 20 abut the ends of the mask M. Selected. The positioning pins 20 are attached according to the size of the mask M when the mask M is accommodated in the mask case 11.

【0052】なお、マスクMの大きさは無段階に変更さ
れることはなく、予め複数種類(例えば3種類程度)に
設定されているので、使用される全ての種類のマスクM
の位置決めは、予め設けられた穴部20aによって対応
することができる。
It should be noted that the size of the mask M is not changed steplessly and is preset in plural types (for example, about three types).
Can be determined by the holes 20a provided in advance.

【0053】こうして、マスクMの大きさに応じて位置
決めピン20の取り付け位置が設定され、マスクケース
11内のマスクMは、この位置決めピン20によって基
準位置Jに対して位置決めされる。
Thus, the mounting position of the positioning pin 20 is set according to the size of the mask M, and the mask M in the mask case 11 is positioned with respect to the reference position J by the positioning pin 20.

【0054】このとき、位置決めの基準位置Jは、図7
(a)に示すように、それぞれのマスクMの平面視中心
位置(図心)に設定することができる。あるいは、図7
(b)に示すように、マスクMの外形基準位置(ある一
辺の位置)に設定することができる。こうして、処理対
象であるマスクMは、位置決めピン20により基準位置
Jに対して位置決めを行われる。
At this time, the reference position J for positioning is determined by referring to FIG.
As shown in (a), each mask M can be set at the center position (centroid) in plan view. Alternatively, FIG.
As shown in (b), it can be set to the outer shape reference position (the position of a certain side) of the mask M. Thus, the mask M to be processed is positioned with respect to the reference position J by the positioning pins 20.

【0055】一方、搬送アーム13の先端部には、マス
クケース11に収容されているマスクMの端部の少なく
とも1つの位置Nを検出する検出部(変位センサ)21
が設けられている。この変位センサ21は、搬送アーム
13がマスクケース11からマスクMを取り出す際にマ
スクMの端部と対向する位置に設けられており、マスク
Mの端部位置Nまでの距離を検出可能となっている。
On the other hand, a detecting portion (displacement sensor) 21 for detecting at least one position N of the end of the mask M housed in the mask case 11 is provided at the tip of the transfer arm 13.
Is provided. The displacement sensor 21 is provided at a position facing the end of the mask M when the transfer arm 13 takes out the mask M from the mask case 11, and can detect the distance to the end position N of the mask M. ing.

【0056】この変位センサ21としては、搬送アーム
13の位置(変位センサ取り付け位置)と検出対象位置
(マスクMの端部位置)Nとの距離を検出可能なもので
あれば良く、例えばレーザー変位センサや渦電流センサ
を用いることができる。この場合、レーザー変位センサ
は、マスクMの端部位置Nを離間した位置から計測可能
であるとともに、検出時間が短くて済み、また、搬送ア
ーム13を移動しながらの検出が可能であるため、好適
である。
The displacement sensor 21 may be any sensor that can detect the distance between the position of the transfer arm 13 (position where the displacement sensor is attached) and the position N to be detected (the end position of the mask M). Sensors and eddy current sensors can be used. In this case, since the laser displacement sensor can measure from the position where the end position N of the mask M is separated, the detection time can be short, and the detection can be performed while moving the transfer arm 13. It is suitable.

【0057】変位センサ21の検出信号は制御部9に送
出されるようになっている。すなわち、基準位置Nに位
置決めされたマスクMの端部の少なくとも1つの位置N
に関する情報が制御部9に送出される。
The detection signal of the displacement sensor 21 is sent to the control unit 9. That is, at least one position N at the end of the mask M positioned at the reference position N
Is transmitted to the control unit 9.

【0058】また、制御部9には予め、マスクケース1
1内に収容されるマスクMの基準位置Jに関する情報が
記憶されている。すなわち、制御部9には予め、位置決
めピン20の配置に関する情報が記憶されている。
The control unit 9 has a mask case 1 in advance.
The information on the reference position J of the mask M accommodated in 1 is stored. That is, the control unit 9 stores information on the arrangement of the positioning pins 20 in advance.

【0059】次に、上述のような構成を持つ搬送装置H
を備えた露光装置Sの動作について説明する。露光処理
を行うにあたり、はじめに、ライブラリ12の各スロッ
トに、所定の大きさ(寸法)を備えるマスクMを収容し
たマスクケース11を前面扉Tから装填する。それぞれ
のマスクケース11には、基板W、及び基板Wに形成す
べきパターンに応じた種々の大きさを有するマスクMが
収容されている。このマスクMの大きさは予め設定され
たものであって、マスクMの大きさに関する情報は、予
め制御部9に記憶されている。すなわち、使用されるマ
スクMの種類(ライブラリ12に装填されるマスクMの
種類)は予め分かっており、制御部9は、これらのマス
クMの大きさに関する複数のデータを予め記憶してい
る。
Next, the transfer device H having the above-described configuration
The operation of the exposure apparatus S provided with is described. In performing the exposure processing, first, a mask case 11 containing a mask M having a predetermined size (dimension) is loaded into each slot of the library 12 from the front door T. Each mask case 11 accommodates a substrate W and masks M having various sizes according to a pattern to be formed on the substrate W. The size of the mask M is set in advance, and information on the size of the mask M is stored in the control unit 9 in advance. That is, the type of the mask M to be used (the type of the mask M loaded in the library 12) is known in advance, and the control unit 9 previously stores a plurality of data relating to the size of the mask M.

【0060】制御部9は、前述した操作表示部の操作に
基づき、所定のマスクケース11からマスクMを取り出
すように、搬送装置Hの搬送アーム13に指示する。搬
送アーム13は指定されたマスクケース11に接近す
る。なお、この場合、複数のマスクケース11に搬送ア
ーム13をアクセスする順序は、操作表示部の操作によ
らずに、予め制御部9に記憶させた順序に関するデータ
に基づいて設定することも可能である。
The control unit 9 instructs the transfer arm 13 of the transfer device H to take out the mask M from the predetermined mask case 11 based on the operation of the operation display unit described above. The transfer arm 13 approaches the designated mask case 11. In this case, the order in which the transfer arms 13 access the plurality of mask cases 11 can be set based on data on the order stored in the control unit 9 in advance, without operating the operation display unit. is there.

【0061】搬送アーム13がマスクMに接近したら、
制御部9は、搬送アーム13の先端に設けられた変位セ
ンサ21によってマスクMの端部の位置Nを検出する。
この場合、搬送アーム13とマスクMとが所定距離にな
った時点でマスクMの端部位置Nの検出を行ってもよい
し、搬送アーム13を移動しつつ位置検出を行ってもよ
い。
When the transfer arm 13 approaches the mask M,
The control unit 9 detects the position N of the end of the mask M by the displacement sensor 21 provided at the tip of the transfer arm 13.
In this case, the end position N of the mask M may be detected when the transfer arm 13 and the mask M have reached a predetermined distance, or the position may be detected while moving the transfer arm 13.

【0062】変位センサ21の検出信号は、制御部9に
送出される。制御部9には、予め、マスクケース11内
に収容されているマスクMの基準位置Jに関する情報が
記憶されており、制御部9は、この基準位置Jに関する
情報と変位センサ21の検出結果とに基づいてマスクM
の大きさを算出する。すなわち、制御部9は、マスクM
の端部位置Nと基準位置Jとを求め、この端部位置と基
準位置との距離を算出することにより、マスクMの大き
さを求める。
The detection signal of the displacement sensor 21 is sent to the control unit 9. The control unit 9 stores information about the reference position J of the mask M housed in the mask case 11 in advance, and the control unit 9 stores the information about the reference position J, the detection result of the displacement sensor 21, Based on the mask M
Is calculated. That is, the control unit 9 sets the mask M
Of the mask M is obtained by calculating the end position N and the reference position J, and calculating the distance between the end position and the reference position.

【0063】このように、マスクケース11内に所定の
位置関係で配置され、マスクMを基準位置Jに位置決め
する位置決め部材(位置決めピン)20と、マスクMの
端部の少なくとも1つの位置を検出する検出系(変位セ
ンサ)21と、変位センサ21の検出結果に基づいてマ
スクMの大きさを求める算出系(制御部)9とによっ
て、マスクMの大きさ(寸法)を検出する寸法検出系R
を構成している。
As described above, the positioning member (positioning pin) 20 which is arranged in the mask case 11 in a predetermined positional relationship and positions the mask M at the reference position J, and detects at least one position of the end of the mask M Detection system (displacement sensor) 21 and a calculation system (control unit) 9 for calculating the size of the mask M based on the detection result of the displacement sensor 21, a dimension detection system for detecting the size (dimension) of the mask M R
Is composed.

【0064】このとき、制御部9は、検出したマスクM
の大きさと基準位置Jとに基づいて、このマスクMの中
心位置(図心)を求めることもできる。
At this time, the control unit 9 sets the detected mask M
The center position (centroid) of the mask M can also be obtained based on the size of the mask M and the reference position J.

【0065】制御部9は、検出したマスクMが指定の大
きさか否かを判別し、指定の大きさであると判別した場
合、このマスクMは搬送すべきマスクMであると判断
し、このマスクMをマスクケース11から取り出すよ
う、搬送アーム13に指示する。搬送アーム13はY軸
ガイド部13aに沿って更にマスクケース11に接近す
るとともにマスクMの下面側に挿入し、制御部9の指示
に基づいて所定距離だけマスクケース11内に進入す
る。このとき、マスクMには、パターンPAへの異物の
付着を防止するペリクルを備えたペリクル枠PWが装着
されている。したがって、搬送アーム13はこのペリク
ル枠PW以外の部分を下からすくうように支持する。
The control section 9 determines whether or not the detected mask M has a specified size. If it determines that the detected size is the specified size, the control section 9 determines that the mask M is a mask M to be conveyed. The transfer arm 13 is instructed to take out the mask M from the mask case 11. The transfer arm 13 further approaches the mask case 11 along the Y-axis guide portion 13a and is inserted on the lower surface side of the mask M, and enters the mask case 11 by a predetermined distance based on an instruction from the control portion 9. At this time, a pellicle frame PW having a pellicle for preventing foreign matter from adhering to the pattern PA is mounted on the mask M. Therefore, the transfer arm 13 supports the portion other than the pellicle frame PW so as to scoop from below.

【0066】この場合、搬送アーム13がマスクケース
11内に進入する所定距離は、マスクMの大きさに応じ
て制御部9によって指示されるものであって、搬送アー
ム13がマスクMを安定して支持可能となるように設定
される。
In this case, the predetermined distance at which the transfer arm 13 enters the mask case 11 is instructed by the control section 9 according to the size of the mask M, and the transfer arm 13 stabilizes the mask M. It is set to be supportable.

【0067】すなわち、搬送アーム13は、マスクケー
ス11をはじめとする各部材と干渉しない程度に、且
つ、安定してマスクMを支持できるようにマスクケース
11内に進入する。例えば、マスクMが大型である場合
には、搬送アーム13はスクケース11と干渉しない程
度に奥まで進入する。また、マスクMが小型である場合
には、このマスクMを安定して支持可能な程度に短い距
離だけ進入する。マスクMが小型の場合に搬送アーム1
3の移動距離を短く設定することにより、搬送のための
作業時間(搬送アーム13の移動時間)を短縮すること
ができるので、作業性は向上される。
That is, the transfer arm 13 enters the mask case 11 so as not to interfere with each member including the mask case 11 and so as to stably support the mask M. For example, when the mask M is large, the transfer arm 13 enters the back so as not to interfere with the case 11. When the mask M is small, the mask M enters only a short distance enough to stably support the mask M. Transfer arm 1 when mask M is small
By setting the moving distance of 3 short, the work time for carrying (moving time of the transfer arm 13) can be shortened, and the workability is improved.

【0068】この場合、制御部9には、それぞれの大き
さを有するマスクMを安定して支持するための搬送アー
ム13の移動距離に関する情報が予め記憶されている。
つまり、ライブラリ12に装填されているマスクMの種
類は予め分かっているので、このマスクMの大きさに応
じた搬送アーム13の最適な進入距離を予め設定するこ
とができる。
In this case, the control section 9 previously stores information on the moving distance of the transfer arm 13 for stably supporting the mask M having each size.
That is, since the type of the mask M loaded in the library 12 is known in advance, the optimum approach distance of the transfer arm 13 according to the size of the mask M can be set in advance.

【0069】このように、制御部9は、寸法検出系Rの
検出結果に基づいて、搬送アーム13のマスクケース1
1内への進入距離(移動距離)を求め、この求めた値に
基づいて搬送アーム13に指示する。
As described above, the control unit 9 controls the mask case 1 of the transfer arm 13 based on the detection result of the dimension detection system R.
A distance (moving distance) into the inside of the vehicle 1 is obtained, and an instruction is given to the transfer arm 13 based on the obtained value.

【0070】マスクMを支持した搬送アーム13は、マ
スクケース11から離間するようにY軸ガイド部13a
に沿って移動し、マスクMをマスクケース11から取り
出す。次いで、このマスクMをキャリア14に渡すため
に、搬送アーム13aはZ軸ガイド部13bに沿って+
Z方向に移動(上昇)し、位置CA1において、マスク
Mをキャリア14に渡す。キャリア14に保持されたマ
スクMは、位置CA1から位置CA2に搬送され、この
位置CA2においてロードアーム15に渡される。
The transfer arm 13 supporting the mask M is moved away from the mask case 11 so as to be separated from the Y-axis guide portion 13a.
And the mask M is taken out of the mask case 11. Next, in order to transfer the mask M to the carrier 14, the transfer arm 13a moves along the Z-axis guide portion 13b.
It moves (rises) in the Z direction, and passes the mask M to the carrier 14 at the position CA1. The mask M held by the carrier 14 is transported from the position CA1 to the position CA2, and is transferred to the load arm 15 at the position CA2.

【0071】マスクMを保持したロードアーム15は、
このマスクMを識別部Aに搬送する。ロードアーム15
は、制御部9の指示に基づいて、バーコードBがバーコ
ードリーダー3によって読み取り可能な位置に配置され
るように、マスクMの位置決めを行う。この位置決めは
寸法検出系Rによって検出したマスクMの大きさに関す
る情報に基づいて行われる。
The load arm 15 holding the mask M is
The mask M is transported to the identification unit A. Load arm 15
Performs the positioning of the mask M based on the instruction of the control unit 9 such that the barcode B is arranged at a position where the barcode reader 3 can read the barcode B. This positioning is performed based on information on the size of the mask M detected by the dimension detection system R.

【0072】このとき、ロードアーム15の位置を調整
する他に、バーコードリーダー3に不図示の駆動機構を
設け、このバーコードリーダー3を移動することによっ
て位置決めを行うこともできる。すなわち、搬送装置H
であるロードアーム15とバーコードリーダー3とを相
対的に移動することにより位置決めを行う。
At this time, in addition to adjusting the position of the load arm 15, a drive mechanism (not shown) may be provided in the bar code reader 3 to perform positioning by moving the bar code reader 3. That is, the transport device H
The positioning is performed by relatively moving the load arm 15 and the barcode reader 3.

【0073】ロードアーム15によりマスクMを所定の
位置に配置したら、制御部9はバーコードリーダー3の
投光部に、マスクMのバーコードBが形成されている領
域に向かって投光光を出射するように指示する。投光光
は、マスクMのうちバーコードBを含んだ領域を照射
し、バーコードBからの反射光は、バーコードリーダー
3の受光部に受光される。マスクケース11からマスク
Mを取り出すときに、このマスクMの大きさを予め検出
しておくことにより、バーコードBの読み取り動作は安
定して行われる。
When the mask M is arranged at a predetermined position by the load arm 15, the control unit 9 causes the light projecting unit of the bar code reader 3 to emit light toward the area where the bar code B of the mask M is formed. Instruct to emit. The projected light irradiates a region including the bar code B in the mask M, and the reflected light from the bar code B is received by a light receiving unit of the bar code reader 3. When taking out the mask M from the mask case 11, by detecting the size of the mask M in advance, the reading operation of the barcode B is performed stably.

【0074】すなわち、様々な大きさを有するマスクM
が搬送装置Hによって搬送されるが、マスクMの大きさ
が異なることによって、バーコードBの形成される位置
が変わる。このとき、識別部Aにおいて、マスクMの大
きさに応じた位置決めを行わないと、バーコードリーダ
ー3は投光光を安定してバーコードB部分に照射できな
い場合がある。しかしながら、マスクMの大きさを予め
検出し、この検出結果に基づいて、制御部9が、マスク
Mに形成されたバーコードBをバーコードリーダー3が
読み取り可能な位置に配置されるようにロードアーム1
5を制御することにより、バーコードBの読み取りを安
定して行うことができる。
That is, masks M having various sizes
Is transported by the transport device H, but the position at which the barcode B is formed changes due to the difference in the size of the mask M. At this time, if the identification unit A does not perform positioning according to the size of the mask M, the barcode reader 3 may not be able to stably emit the projected light to the barcode B portion. However, the size of the mask M is detected in advance, and based on the detection result, the control unit 9 loads the barcode B formed on the mask M so that the barcode B is arranged at a position where the barcode reader 3 can read the barcode. Arm 1
By controlling 5, the bar code B can be read stably.

【0075】バーコードリーダー3によって読み取られ
たバーコード情報は、解析部90で解析され、この解析
結果は制御部9に送られる。制御部9は、バーコードB
の情報に基づき、このマスクMが予め指定されたものか
どうかを判断する。
The bar code information read by the bar code reader 3 is analyzed by the analysis unit 90, and the result of the analysis is sent to the control unit 9. The control unit 9 controls the bar code B
Then, it is determined whether or not the mask M is specified in advance.

【0076】このマスクMが指定のものであると判断し
た場合、制御部9はロードアーム15に、マスクMをマ
スクステージ17に搬送するよう指示する。なお、マス
クMは、マスクステージ17に搬送される前に、マスク
ステージ17に対してプリアライメントされる。
When determining that the mask M is the designated one, the control unit 9 instructs the load arm 15 to transfer the mask M to the mask stage 17. The mask M is pre-aligned with the mask stage 17 before being transferred to the mask stage 17.

【0077】ロードアーム15は、マスクMを投影露光
部Eのマスクステージ17にロードする際にも、寸法検
出系Rによって検出したマスクMの大きさに基づいて位
置決めを行う。そして、マスクステージ17に載置され
たマスクMはアライメントされたのち、露光光ELを照
明され、このマスクMに対して配置された基板ステージ
19の基板WにパターンPAの像を転写する。なお、ロ
ードアーム15でマスクステージ17にロードする実施
形態を示したが、CA2の位置をマスクステージ17の
上方になるようにして、キャリア14をさらに上下銅さ
せてマスクMを載置してもよい。
The load arm 15 also performs positioning based on the size of the mask M detected by the dimension detection system R when loading the mask M onto the mask stage 17 of the projection exposure section E. Then, after the mask M placed on the mask stage 17 is aligned, the mask M is illuminated with exposure light EL, and the image of the pattern PA is transferred to the substrate W of the substrate stage 19 placed on the mask M. Although the embodiment in which the load arm 15 is used to load the mask stage 17 has been described, the position of CA2 may be above the mask stage 17 and the carrier M may be further vertically moved to place the mask M thereon. Good.

【0078】こうして、マスクMの大きさに応じて、処
理部Aにおける位置決めを行い、この処理部Aにおいて
所定の処理であるバーコードBの読み取りを行った後、
このマスクMを露光光ELの光路上に搬送し、露光処理
を行う。
In this way, the positioning in the processing section A is performed in accordance with the size of the mask M, and after reading the bar code B, which is a predetermined processing in the processing section A,
The mask M is transported on the optical path of the exposure light EL, and exposure processing is performed.

【0079】一方、マスクMをマスクケース11から取
り出す時点で、寸法検出系Rの検出結果に基づいてマス
クMは指定の大きさでないと判別された場合、制御部9
は、搬送アーム13に、このときアクセスしたマスクケ
ース11からマスクMを取り出さずに、他のマスクケー
ス11にアクセスするよう指示する。そして、寸法検出
系Rに、このマスクケース11内に収容されているマス
クMの大きさを検出するよう指示する。このマスクMが
指定の大きさであると判別された場合、制御部9は、搬
送アーム13に、このマスクMをマスクケース11から
取り出すよう指示する。そして、上述した工程と同様の
工程で、搬送装置HによりマスクMを識別部Aに搬送し
て所定の処理を行う。なお、搬送アーム13が複数のマ
スクケース11にアクセスする順序は、例えば図1(図
2)のライブラリ12内に収容されているマスクケース
11の上から順番にするなど、任意に設定することがで
きる。
On the other hand, when it is determined that the mask M is not the specified size based on the detection result of the dimension detection system R at the time of removing the mask M from the mask case 11, the control unit 9
Instructs the transfer arm 13 to access another mask case 11 without taking out the mask M from the mask case 11 accessed at this time. Then, it instructs the dimension detection system R to detect the size of the mask M accommodated in the mask case 11. When it is determined that the mask M has the specified size, the control unit 9 instructs the transfer arm 13 to remove the mask M from the mask case 11. Then, in a process similar to the above-described process, the mask M is transported to the identification unit A by the transport device H, and a predetermined process is performed. The order in which the transfer arm 13 accesses the plurality of mask cases 11 can be arbitrarily set, for example, from the top of the mask cases 11 housed in the library 12 in FIG. 1 (FIG. 2). it can.

【0080】あるいは、搬送アーム13を他のマスクケ
ース11にアクセスさせずに、例えば、装置外部に設け
られた表示装置を駆動し、マスクMが指定の大きさでな
い旨をオペレータに知らせるといった構成とすることも
可能である。
Alternatively, for example, a display device provided outside the apparatus is driven without allowing the transfer arm 13 to access another mask case 11, and an operator is notified that the mask M is not the designated size. It is also possible.

【0081】ところで、識別部Aにおいて、マスクMが
所望のものでないと判断された場合、制御部9は、この
マスクMをライブラリ12のマスクケース11に戻すた
めに、アンロードアーム16に、識別部AからマスクM
を受け取るように指示する。アンロードアーム16に保
持されたマスクMは、位置CA2においてキャリア14
に渡され、さらに位置CA1に搬送されて搬送アーム1
3に渡され、マスクケース11に収納される。なお、マ
スクMが所望のものでないと判別された場合において、
このマスクMをマスクケース11に戻す場合の搬送経路
は、搬送装置Hによらずに(すなわちロード時に使用し
た搬送経路によらずに)、例えば、別系統に設けられた
搬送機構によって構成されてもよい。さらに、所望のも
のと識別されなかったマスクMはライブラリ12のマス
クケース11に戻されずに他の収納部に収納されること
ももちろん可能である。
If the discriminating section A determines that the mask M is not the desired one, the control section 9 sends the discrimination information to the unload arm 16 to return the mask M to the mask case 11 of the library 12. From part A to mask M
To receive The mask M held by the unload arm 16 moves the carrier 14 at the position CA2.
Is transferred to the position CA1 and the transfer arm 1
3 and stored in the mask case 11. When it is determined that the mask M is not the desired one,
A transport path for returning the mask M to the mask case 11 is configured by, for example, a transport mechanism provided in a separate system without using the transport apparatus H (that is, regardless of the transport path used at the time of loading). Is also good. Further, the mask M that has not been identified as a desired one can of course be stored in another storage unit without being returned to the mask case 11 of the library 12.

【0082】投影露光部Eにおいて露光工程を終えたマ
スクMは、マスクステージ17においてアンロードアー
ム16に吸着保持され、Y方向に移動されることによっ
て位置CA2まで搬送される。位置CA2に搬送された
マスクMは、この位置CA2に待機しているキャリア1
4に渡され、このキャリア14によって位置CA1に搬
送される。そして、位置CA1に搬送されたマスクM
は、位置CA1に待機していた搬送アーム13に渡さ
れ、この搬送アーム13によって指定されたマスクケー
ス11に収納される。
The mask M, which has been subjected to the exposure process in the projection exposure section E, is sucked and held by the unload arm 16 on the mask stage 17, and is moved to the position CA2 by being moved in the Y direction. The mask M transported to the position CA2 is the carrier 1 waiting at this position CA2.
4 and is transported by this carrier 14 to the position CA1. Then, the mask M transported to the position CA1
Is transferred to the transfer arm 13 waiting at the position CA1, and is stored in the mask case 11 designated by the transfer arm 13.

【0083】なお、露光工程を終えたマスクMがライブ
ラリ12のマスクケース11に戻される場合において
も、搬送装置Hによらずに別系統の搬送機構によって搬
送することが可能である。さらに、このマスクMは、マ
スクケース11に戻されずに他の収納部に収納されるこ
とももちろん可能である。また、識別部Aの位置とし
て、搬送アーム13に隣接する位置に設け、マスクケー
ス11から取り出す際に読み取るように構成してもよ
い。
Note that, even when the mask M after the exposure step is returned to the mask case 11 of the library 12, it can be transported by a transport mechanism of another system without using the transport device H. Further, the mask M can of course be stored in another storage portion without being returned to the mask case 11. Further, the identification unit A may be provided at a position adjacent to the transfer arm 13 so as to be read when the identification unit A is taken out of the mask case 11.

【0084】以上のように、搬送装置Hに、マスクMの
大きさを検出する寸法検出系Rを設けたことにより、マ
スクMは、識別部Aにおいて正確に位置決めをされてか
らバーコードBを読み取られる。このとき、バーコード
BにはマスクMに関する様々な情報が含まれているの
で、マスクMは識別部Aにおいて正確に識別されてから
投影露光部Eに搬送される。すなわち、マスクMを搬送
する前に、予めこのマスクMの大きさを検出することに
より、処理部における所定の処理を安定して行うことが
できる。
As described above, the provision of the dimension detection system R for detecting the size of the mask M in the transfer device H allows the mask M to be accurately positioned at the identification section A before the bar code B is transferred. Read. At this time, since the barcode B contains various information on the mask M, the mask M is transported to the projection exposure unit E after the mask M is correctly identified by the identification unit A. That is, by detecting the size of the mask M before transporting the mask M, the predetermined processing in the processing unit can be stably performed.

【0085】そして、マスクMは、識別部Aにおいて所
定の処理を施されてから投影露光部Eに搬送されるの
で、露光処理は安定して行われ、生産性は向上する。
Then, since the mask M is subjected to a predetermined process in the identification unit A and then conveyed to the projection exposure unit E, the exposure process is performed stably, and the productivity is improved.

【0086】さらに、マスクMの中心位置(図心)など
位置に関する様々な情報も得ることができ、マスクステ
ージ17に対する位置決めも安定して行うことができ、
安定した露光処理を行うことができる。
Further, various information on the position such as the center position (center of gravity) of the mask M can be obtained, and the positioning with respect to the mask stage 17 can be stably performed.
Stable exposure processing can be performed.

【0087】また、様々な大きさを有するマスクMのそ
れぞれの大きさ(寸法)は、搬送する前に検出されるの
で、搬送装置Hは、このマスクMの大きさに応じた搬送
動作を安定して行うことができる。
Since the sizes (dimensions) of the masks M having various sizes are detected before the transfer, the transfer device H stabilizes the transfer operation according to the size of the mask M. You can do it.

【0088】また、マスクMの寸法検出は、光学センサ
を用いて非接触で行われるので、この寸法検出工程にお
けるゴミの発生などを防ぐことができる。
Further, since the dimension detection of the mask M is performed in a non-contact manner using an optical sensor, it is possible to prevent the generation of dust in the dimension detection step.

【0089】なお、処理部Aにおける所定の処理は、バ
ーコードBの識別に限るものではない。例えば、処理部
Aに、マスクMに付着した異物(ゴミ)を検出するゴミ
検出装置を設置することができる。このとき、マスクM
の大きさを予め検出しておくことにより、ゴミ検出の開
始位置を正確に設定することができるなど、効率良い処
理を行うことができる。この場合も、例えば、このマス
クMによって適正な露光処理を行えないと判断した場合
には、制御部9は、マスクMを搬送装置Hによってマス
クケース11に戻したり、あるいは、ゴミ除去装置によ
ってゴミを除去する作業を行ったりすることができる。
The predetermined processing in the processing section A is not limited to the identification of the bar code B. For example, a dust detection device that detects foreign matter (dust) attached to the mask M can be installed in the processing unit A. At this time, the mask M
By detecting the size in advance, it is possible to perform an efficient process such that the start position of dust detection can be accurately set. Also in this case, for example, when it is determined that the mask M cannot perform an appropriate exposure process, the control unit 9 returns the mask M to the mask case 11 by the transport device H, or removes the dust by the dust removing device. Or work to remove it.

【0090】ところで、搬送アーム13を、図8に示す
ような、関節を有する伸縮自在のロボットアーム130
によって構成してもよい。このロボットアーム(搬送ア
ーム)130は、マスクMを吸着保持するための真空吸
着穴を備えており、連結させた真空ポンプの駆動・停止
によってマスクMを吸着保持・解除するように設けられ
ている。また、搬送アーム130は基端部130aを基
準として旋回自在に支持されている。そして、マスクM
の大きさの検出結果に応じて、マスクMのほぼ中心位置
(図心)を保持するように、マスクケース11内に進入
する構成とすることができる。このとき、搬送アーム1
30に、アームの移動(あるいはアームの伸縮)に応じ
たパルスを発生するエンコーダ24を設け、このエンコ
ーダ24にエンコーダ24から出力されるエンコーダパ
ルスをカウントするカウンタ25を接続し、エンコーダ
パルスをカウントして搬送アーム130の伸縮量をカウ
ント値として認識することができる。そして、このカウ
ント値、すなわち、マスクMの移動方向における位置に
関する情報を制御部9に送ることができる。同様に、ロ
ードアーム15及びアンロードアーム16をロボットア
ーム130と同様の構成とすることができる。
By the way, as shown in FIG. 8, the transfer arm 13 is a telescopic robot arm 130 having joints.
May be configured. The robot arm (transfer arm) 130 is provided with a vacuum suction hole for sucking and holding the mask M, and is provided so as to suck and hold and release the mask M by driving and stopping a connected vacuum pump. . Further, the transfer arm 130 is supported so as to be pivotable with respect to the base end 130a. And the mask M
According to the detection result of the size of the mask M, the mask M may enter the mask case 11 so as to maintain the substantially center position (centroid). At this time, the transfer arm 1
An encoder 24 for generating a pulse according to the movement of the arm (or expansion and contraction of the arm) is provided at 30, and a counter 25 for counting the encoder pulse output from the encoder 24 is connected to the encoder 24 to count the encoder pulse. Thus, the amount of expansion and contraction of the transfer arm 130 can be recognized as a count value. The count value, that is, information on the position of the mask M in the moving direction can be sent to the control unit 9. Similarly, the load arm 15 and the unload arm 16 can have the same configuration as the robot arm 130.

【0091】なお、識別部Aは、図9に示すように、搬
送装置Hとは独立して設けられ、搬送装置Hのうちロー
ドアーム15によって渡されたマスクMを保持する保持
部31と、この保持部31に保持されたマスクMのバー
コードBを読み取るバーコードリーダー3とによって構
成することもできる。この保持部31は、板状に形成さ
れた土台部34と、この土台部34の角に均等配置され
た支柱部35とを備えており、支柱部35はマスクMの
角部下面を直接支持する構成となっている。このとき、
ロードアーム15は位置CA2とマスクステージ17と
の間の搬送路HにおいてマスクMをこの識別部Aに渡す
とともに識別部AからマスクMを受け取るようになって
いる。なお、ロードアーム15から識別部Aに対するマ
スクMの受け取り・渡しを、ロードアーム15とは別
の、例えば図8に示したようなロボットアーム130の
ような搬送機構を設け、この搬送機構によって行っても
よい。
As shown in FIG. 9, the identification section A is provided independently of the transfer device H, and includes a holding portion 31 of the transfer device H for holding the mask M passed by the load arm 15; The bar code reader 3 that reads the bar code B of the mask M held by the holding unit 31 can also be used. The holding portion 31 includes a base portion 34 formed in a plate shape, and a support portion 35 evenly arranged at a corner of the base portion 34, and the support portion 35 directly supports the lower surface of the corner of the mask M. Configuration. At this time,
The load arm 15 transfers the mask M to the identification unit A in the transport path H between the position CA2 and the mask stage 17 and receives the mask M from the identification unit A. A transfer mechanism other than the load arm 15 such as a robot arm 130 as shown in FIG. 8, for example, is provided for receiving and delivering the mask M from the load arm 15 to the identification unit A. You may.

【0092】そして、この保持部31に移動装置30を
設け、マスクMを保持部31に保持した状態でこのマス
クMを所定位置に対して位置合わせする構成とすること
ができる。この移動装置30は、制御部9の指示に基づ
いて駆動されるようになっており、マスクMは、この基
板移動装置30によって、バーコードBをバーコードリ
ーダー3に読み取り可能な位置に移動される。この移動
装置30としては、図9に示すように、マスクMを保持
した保持部31の土台部34を水平方向に移動させるX
−Yステージ36と、土台部34とX−Yステージ36
との間に介装され土台部34を鉛直軸まわりに回転させ
るθステージとによって構成することが可能である。こ
れら各ステージはステージ駆動部37によって駆動され
るようになっており、予め大きさを検出されたマスクM
のバーコードBはバーコードリーダー3に対して位置決
めされる。あるいは、この移動装置30として、平面4
角形に形成されたマスクMの4辺を基準に2方向から挟
み込むことによってマスクMの位置合わせを機械的に行
うアライメントピンによって構成することもできる。さ
らに、バーコードリーダー3を移動する移動装置とする
こともできる。
Then, it is possible to provide a structure in which the holding unit 31 is provided with the moving device 30 and the mask M is positioned at a predetermined position while the mask M is held by the holding unit 31. The moving device 30 is driven based on an instruction from the control unit 9, and the mask M is moved to a position where the barcode B can be read by the barcode reader 3 by the substrate moving device 30. You. As shown in FIG. 9, the moving device 30 moves the base 34 of the holding unit 31 holding the mask M in the horizontal direction.
-Y stage 36, base part 34, and XY stage 36
And a θ stage that is interposed between them and rotates the base part 34 around a vertical axis. Each of these stages is driven by a stage driving unit 37, and a mask M whose size is detected in advance is used.
Is positioned with respect to the barcode reader 3. Alternatively, as the moving device 30, the plane 4
It is also possible to use an alignment pin that mechanically aligns the mask M by sandwiching the mask M from the two sides with reference to the four sides of the rectangular mask M. Further, the barcode reader 3 can be a moving device for moving.

【0093】この場合、仮にマスクMが支柱部35に安
定して載置されなかったり、バーコードBがバーコード
リーダー3に読み取り不可能な位置に載置された場合に
は、ロードアーム15はマスクMと土台部34との間の
空間に進入してマスクMを再び保持し、置き直し動作を
行うことができる。
In this case, if the mask M is not stably placed on the column 35 or the bar code B is placed at a position where the bar code reader 3 cannot read it, the load arm 15 will be It is possible to enter the space between the mask M and the base portion 34, hold the mask M again, and perform the replacement operation.

【0094】なお、本実施形態においては、変位センサ
21はマスクMの端部位置Nを直接検出するものである
が、例えば、変位センサ21で、位置決めピン20の配
置位置を検出し、この検出結果に基づいてマスクMの大
きさを検出することも可能である。この場合、マスクM
は位置決めピン20に端部を当接するように支持されて
いるので、位置決めピン20の位置を検出することによ
り、マスクMの大きさを検出することができる。
In this embodiment, the displacement sensor 21 directly detects the end position N of the mask M. For example, the displacement sensor 21 detects the position of the positioning pin 20 and detects this position. It is also possible to detect the size of the mask M based on the result. In this case, the mask M
Is supported so that the end thereof abuts on the positioning pin 20, so that the size of the mask M can be detected by detecting the position of the positioning pin 20.

【0095】更に、マスクMの大きさに関する情報を含
んだ第2バーコードを、例えば、マスクMの端部位置N
にバーコードBとは独立して設けるとともに、搬送アー
ム13の先端にバーコードリーダーを設けて、このバー
コードリーダーによって第2バーコードを読み取ること
により、マスクMの大きさを検出することも可能であ
る。
Further, a second bar code containing information on the size of the mask M is displayed, for example, at the end position N of the mask M.
It is also possible to detect the size of the mask M by providing a bar code reader at the tip of the transfer arm 13 and reading the second bar code by using the bar code reader. It is.

【0096】また、本実施形態において、位置決めピン
20は、予め形成された穴部20aに嵌合する構成であ
るが、例えば、マスクケース11の底部を磁性体とし、
位置決めピン20を磁石とすることによって、位置決め
ピン20の取り付け位置を任意に設定することができ
る。
In the present embodiment, the positioning pin 20 is configured to fit into the hole 20a formed in advance. For example, the bottom of the mask case 11 is made of a magnetic material.
By using the positioning pin 20 as a magnet, the mounting position of the positioning pin 20 can be set arbitrarily.

【0097】また、位置決め部材20としては、本実施
形態のような複数のピン部材によって構成する他に、例
えば、図10に示すように、大きさの異なるマスクMを
載置可能な複数の段部40aを有する位置決め部材40
とすることも可能である。この場合、取り出し方向の奥
側の一辺が基準位置Jとされる。
Further, as the positioning member 20, besides being constituted by a plurality of pin members as in this embodiment, for example, as shown in FIG. 10, a plurality of steps on which masks M of different sizes can be placed are provided. Positioning member 40 having portion 40a
It is also possible to use In this case, one side on the far side in the takeout direction is set as the reference position J.

【0098】マスクステージ17上に、異なる大きさを
有するマスクMに対応したマスクホルダを設置すること
が可能である。すなわち、マスクステージ17上に、大
型マスク用と小型マスク用とのマスクホルダを複数設け
ることが可能である。搬送装置H(ロードアーム15)
は、搬送するマスクMの大きさに応じて、マスクMを対
応するマスクホルダ(マスクステージ)に搬送する。マ
スクステージ17は、このマスクMが投影光学系120
の投影領域に配置されるように、X−Y方向あるいはθ
方向に駆動される。
On the mask stage 17, it is possible to install mask holders corresponding to masks M having different sizes. That is, it is possible to provide a plurality of mask holders for the large mask and the small mask on the mask stage 17. Transfer device H (load arm 15)
Transports the mask M to a corresponding mask holder (mask stage) according to the size of the mask M to be transported. The mask stage 17 is configured such that the mask M is
In the XY direction or θ
Driven in the direction.

【0099】次に、本発明の搬送装置を備えた露光装置
の第2実施形態について図11を参照しながら説明す
る。ここで、前述した第1実施形態と同一もしくは同等
の構成部分については、同一の符号を用いるとともに、
その説明を簡略もしくは省略するものとする。
Next, a second embodiment of the exposure apparatus provided with the transport device of the present invention will be described with reference to FIG. Here, the same reference numerals are used for the same or equivalent components as those in the first embodiment, and
The description is simplified or omitted.

【0100】図11において、マスクケース11の内部
には、マスクMの端部を検出する検出センサ22が複数
設置されている。本実施形態では、この検出センサ22
は、マスクMの取り出し方向に2つ設けられている。こ
の検出センサ22は、マスクケース11内にあるマスク
Mの下方から、上方にマスクMの端部が存在するか否か
を検出可能な有無センサであって、例えばレーザー変位
センサなどの光学センサによって構成されている。この
検出センサ22は、それぞれ投光部と受光部とを備えて
おり、投光部からの投光光がマスクMの端部に反射し、
この反射光が受光部に受光するか否かによって、マスク
Mがそれぞれの検出センサ22の上方に存在するか否か
を検出するようになっている。これら検出センサ22は
制御部9に接続しており、検出センサ22からの検出信
号は制御部9に送出されるようになっている。制御部9
は、この検出信号に基づいて所定の処理を行う。
In FIG. 11, inside the mask case 11, a plurality of detection sensors 22 for detecting an end of the mask M are provided. In the present embodiment, the detection sensor 22
Are provided in the direction in which the mask M is taken out. The detection sensor 22 is a presence / absence sensor capable of detecting whether or not an end of the mask M exists from below the mask M in the mask case 11 and above, and is, for example, an optical sensor such as a laser displacement sensor. It is configured. The detection sensor 22 includes a light emitting unit and a light receiving unit, and light emitted from the light emitting unit is reflected to an end of the mask M,
Whether or not the mask M is present above each detection sensor 22 is detected depending on whether or not the reflected light is received by the light receiving unit. These detection sensors 22 are connected to the control unit 9, and a detection signal from the detection sensor 22 is sent to the control unit 9. Control unit 9
Performs a predetermined process based on this detection signal.

【0101】このような構成を持つ搬送装置Hの動作に
ついて説明する。それぞれのマスクケース11内に個別
に収容されている複数のマスクMは、それぞれ異なる大
きさを有している。そして、1つのマスクMが搬送アー
ム13によってマスクケース11から取り出される際
に、制御部9は検出センサ22によってこのマスクMの
大きさを検出する。
The operation of the transport device H having such a configuration will be described. The plurality of masks M individually accommodated in the respective mask cases 11 have different sizes. Then, when one mask M is taken out of the mask case 11 by the transfer arm 13, the control unit 9 detects the size of the mask M by the detection sensor 22.

【0102】例えば、マスクケース11の中心側(取り
出し方向内側)に設けられている検出センサ22aのみ
がマスクMの端部を検出し、マスクケース11の出口側
(取り出し方向外側)に設けられている検出センサ22
bはマスクMの端部を検出しない場合、制御部9は、こ
のマスクMを、図11中、実線で示すような小型のマス
クMであると判別する。一方、検出センサ22b、ある
いは検出センサ22a、22bの双方がマスクMの端部
を検出した場合、制御部9は、このマスクMを、図11
中、破線で示すような大型のマスクMであると判別す
る。
For example, only the detection sensor 22a provided on the center side (inside in the take-out direction) of the mask case 11 detects the end of the mask M, and is provided on the outlet side (outside in the take-out direction) of the mask case 11. Detection sensor 22
When b does not detect the end of the mask M, the control unit 9 determines that the mask M is a small mask M as indicated by a solid line in FIG. On the other hand, when the detection sensor 22b or both of the detection sensors 22a and 22b detect the end of the mask M, the control unit 9 replaces the mask M with FIG.
It is determined that the mask is a large mask M as indicated by the middle and broken lines.

【0103】すなわち、制御部9は、これら検出センサ
22a、22bの検出結果に基づいて、マスクMの大き
さを判別する。マスクMの大きさが指定の大きさである
と判別した場合には、制御部9は、搬送アーム13に、
このマスクMをマスクケース11から取り出すととも
に、搬送装置Hに所定位置(例えば識別部A)まで搬送
するよう指示する。そして、識別部Aにおいて、所定の
処理を施されたマスクMは、搬送装置Hによって、投影
露光部Eのマスクステージ17まで搬送され、露光処理
を行う。
That is, the control section 9 determines the size of the mask M based on the detection results of the detection sensors 22a and 22b. If the size of the mask M is determined to be the specified size, the control unit 9
The mask M is taken out of the mask case 11 and the transfer device H is instructed to transfer the mask M to a predetermined position (for example, the identification unit A). Then, in the identification section A, the mask M that has been subjected to the predetermined processing is transported by the transport device H to the mask stage 17 of the projection exposure section E, where the exposure processing is performed.

【0104】このように、マスクケース11内に、マス
クMの板面方向に沿うように検出センサ22を複数設け
ることによっても、マスクMの大きさ(寸法)を検出す
ることができる。また、検出センサ22を多く設置する
ことにより、複数種類のマスクMに対して対応すること
ができる。また、比較的、平易な構成でマスクMの大き
さを検出することができる。
As described above, the size (dimension) of the mask M can also be detected by providing a plurality of the detection sensors 22 in the mask case 11 along the plate surface direction of the mask M. In addition, by installing many detection sensors 22, it is possible to cope with a plurality of types of masks M. Further, the size of the mask M can be detected with a relatively simple configuration.

【0105】この場合、検出センサ22は、予め設定さ
れているマスクMの大きさのみを検出可能な構成であ
る。すなわち、マスクMの大きさの検出は、2つの検出
センサ22a、22bによってデジタル的に行われる。
しかしながら、マスクMの大きさが無段階に変更される
ことは現実的には少ないので、本実地形態のような構成
でも十分に対応することができる。
In this case, the detection sensor 22 is configured to detect only the size of the mask M set in advance. That is, the detection of the size of the mask M is performed digitally by the two detection sensors 22a and 22b.
However, since the size of the mask M is not changed steplessly in reality, it is possible to sufficiently cope with the configuration of the present embodiment.

【0106】さらに、上述した実施形態において、検出
センサ22は、マスクMの取り出し方向に沿って配置さ
れているが、この検出センサ22を、マスクMの取り出
し方向と垂直に交わる方向(Y方向)に配置することも
可能である。すなわち、図12に示すように、マスクM
の大きさがX方向にも変化している場合においても、検
出センサ22をX方向に沿って複数配置しておくことに
より、マスクMのX方向の大きさ(寸法)を検出するこ
とができる。
Further, in the above-described embodiment, the detection sensor 22 is arranged along the direction in which the mask M is taken out, and the detection sensor 22 is moved in a direction perpendicular to the direction in which the mask M is taken out (Y direction). It is also possible to arrange in. That is, as shown in FIG.
Even when the size of the mask M also changes in the X direction, the size (dimension) of the mask M in the X direction can be detected by arranging a plurality of the detection sensors 22 along the X direction. .

【0107】なお、この場合、搬送アーム13をはじめ
とする搬送装置Hの各アームの間隔を、このアームに設
けられた駆動機構によって可変とし、マスクMのX方向
の大きさに応じてアーム間隔を変化することにより、種
々の大きさを有するマスクMを安定して搬送することが
できる。この場合、制御部9は、X方向に配置された検
出センサ22の検出結果に基づいて、前記駆動機構を駆
動する。
In this case, the distance between the arms of the transfer device H including the transfer arm 13 is made variable by a driving mechanism provided on this arm, and the distance between the arms in accordance with the size of the mask M in the X direction is changed. Is changed, masks M having various sizes can be stably conveyed. In this case, the control unit 9 drives the driving mechanism based on the detection result of the detection sensor 22 arranged in the X direction.

【0108】次に、本発明の搬送装置を備えた露光装置
の第3実施形態について図13を参照しながら説明す
る。ここで、前述した第1、第2実施形態と同一もしく
は同等の構成部分については、同一の符号を用いるとと
もに、その説明を簡略もしくは省略するものとする。
Next, a third embodiment of the exposure apparatus provided with the transport device of the present invention will be described with reference to FIG. Here, the same reference numerals are used for the same or equivalent components as those of the above-described first and second embodiments, and the description thereof will be simplified or omitted.

【0109】図13において、搬送装置Hに設けられる
マスクMの大きさを検出する寸法検出系Rは、搬送装置
Hによって測定位置を通過するマスクMの位置情報を検
出する検出センサ23と、この検出センサ23の検出結
果と搬送装置Hの搬送に関する情報とに基づいて、マス
クMの大きさを求める制御部(算出系)9とを備えてい
る。
In FIG. 13, a dimension detection system R provided in the transfer device H for detecting the size of the mask M includes a detection sensor 23 for detecting the position information of the mask M passing through the measurement position by the transfer device H, The control unit (calculation system) 9 for obtaining the size of the mask M based on the detection result of the detection sensor 23 and information on the transport of the transport device H is provided.

【0110】検出センサ23は、ライブラリ12のマス
クMの取り出し口側の上部に設けられた投光部23a
と、下部に設けられた受光部23bとによって構成され
ており、投光部23aからの投光光は、マスクケース1
1から取り出されるマスクMの取り出し方向に直交する
ように受光部23bに向かって照射される。また、投光
部23aが投光するタイミングは、制御部9により指示
されるとともに、受光部23bの検出信号は制御部9に
送出される。
The detection sensor 23 is provided at the upper part of the library 12 on the side of the take-out opening of the mask M.
And a light receiving portion 23b provided at a lower portion. The light projected from the light projecting portion 23a is
Irradiation is performed toward the light receiving portion 23b so as to be orthogonal to the direction in which the mask M taken out of the mask 1 is taken out. The timing at which the light emitting unit 23a emits light is instructed by the control unit 9, and a detection signal of the light receiving unit 23b is sent to the control unit 9.

【0111】一方、搬送装置Hのうち、マスクケース1
1からマスクMを取り出す搬送アーム13の移動に関す
る情報は、制御部9に送出されるように設けられてい
る。すなわち、例えば、搬送アーム13を図8に示すよ
うなロボットアーム130によって構成する場合、搬送
アーム13の移動(あるいはアームの伸縮)に関する情
報は、アームの移動に応じたパルスを発生するエンコー
ダ24と、このエンコーダ24から出力されるエンコー
ダパルスをカウントするカウンタ25と、このカウント
値に基づいて、マスクMの移動方向における位置に関す
る情報を求める制御部9とを備える移動速度検出系によ
って検出される。こうして、制御部9は、搬送アーム1
3によって搬送されるマスクMの位置及び移動速度に関
する情報を検出する。
On the other hand, in the transfer device H, the mask case 1
Information on the movement of the transport arm 13 for taking out the mask M from 1 is provided to the control unit 9. That is, for example, when the transfer arm 13 is configured by a robot arm 130 as shown in FIG. 8, the information on the movement of the transfer arm 13 (or the expansion and contraction of the arm) includes the encoder 24 that generates a pulse corresponding to the movement of the arm. The moving speed detecting system includes a counter 25 that counts encoder pulses output from the encoder 24 and a control unit 9 that obtains information on the position of the mask M in the moving direction based on the count value. Thus, the control unit 9 controls the transfer arm 1
The information about the position and the moving speed of the mask M conveyed by 3 is detected.

【0112】このような構成を持つ搬送装置Hの動作に
ついて説明する。はじめに、制御部9は、マスクケース
11からマスクMを取り出すために、搬送アーム13を
マスクケース11内に進入し、搬送アーム13にマスク
Mを保持する。そして、搬送アーム13によってマスク
Mをマスクケース11から取り出す際に、検出センサ2
3の投光部23aから受光部23bに向かって投光光を
照射する。
The operation of the transport device H having such a configuration will be described. First, in order to take out the mask M from the mask case 11, the control unit 9 enters the transfer arm 13 into the mask case 11, and holds the mask M on the transfer arm 13. When the mask M is taken out of the mask case 11 by the transfer arm 13, the detection sensor 2
The light projecting unit 23a emits light toward the light receiving unit 23b.

【0113】マスクMは、搬送アーム13によってマス
クケース11から取り出されることによって、投光部2
3aから出射した投光光を横断するように通過する。こ
のとき、投光光は通過するマスクMによって遮光され受
光部23bに達しなくなる。受光部23bはマスクMの
通過に伴う投光光の受光または遮光によって、マスクM
が投光光の光路上に存在するか否かを検出する。こうし
て、検出センサ23は、投光光の光路上(測定位置)を
通過するマスクMの位置情報を検出する。受光部23b
の検出信号は制御部9に送出される。
The mask M is taken out of the mask case 11 by the transfer arm 13 so that
The light passes through the projected light emitted from 3a. At this time, the projected light is blocked by the passing mask M and does not reach the light receiving portion 23b. The light receiving section 23b receives or blocks the light emitted from the mask M as it passes through the mask M, and
Is detected on the optical path of the projected light. Thus, the detection sensor 23 detects the position information of the mask M passing on the optical path (measurement position) of the projected light. Light receiving section 23b
Is sent to the control unit 9.

【0114】一方、搬送アーム13に設けられたエンコ
ーダ24からは、搬送アーム13の移動に関する情報が
制御部9に送られる。制御部9は、エンコーダ24から
の信号によって搬送アーム13の位置情報を求める。
On the other hand, information on the movement of the transfer arm 13 is sent to the control unit 9 from the encoder 24 provided on the transfer arm 13. The control unit 9 obtains position information of the transfer arm 13 based on a signal from the encoder 24.

【0115】制御部9は、この搬送アーム13の位置、
すなわちマスクMが移動した際の、受光部23bが遮光
された位置と、再度光が入射する位置とに基づいて、マ
スクMの取り出し方向における距離(マスクMのY方向
の寸法)を検出する。
The control unit 9 determines the position of the transfer arm 13,
That is, the distance (dimension in the Y direction of the mask M) in the taking-out direction of the mask M is detected based on the position where the light receiving unit 23b is shielded from light and the position where light is incident again when the mask M moves.

【0116】こうして、大きさを検出されたマスクM
は、搬送装置Hによって処理部Aに送られ、処理部Aに
おいて所定の処理を施された後、投影露光部Eに搬送さ
れ、露光処理を行う。
The mask M whose size is thus detected
Is transported by the transport device H to the processing section A, subjected to predetermined processing in the processing section A, and then transported to the projection exposure section E to perform exposure processing.

【0117】このように、搬送装置Hによって測定位置
を通過するマスクMの位置情報を検出し、この検出結果
に基づいて、制御部(算出系)9はマスクMの大きさを
求めることができる。
As described above, the position information of the mask M passing through the measurement position is detected by the transfer device H, and the control unit (calculation system) 9 can obtain the size of the mask M based on the detection result. .

【0118】なお、搬送アーム13の移動速度と受光部
23bが遮光されている時間とを用いてマスクMの寸法
を求めてもよい。この場合、搬送アーム13の移動速度
を予め所定の速度に設定しておくことにより、搬送アー
ム13に移動速度検出系を設けること無く、簡易な構成
でマスクMの大きさを検出することができる。一方、移
動速度検出系を設けることにより、それぞれのマスクケ
ース11からマスクMを取り出す際に、それぞれのマス
クMに応じた取り出し速度を設定しても、マスクMの大
きさを正確に求めることができる。そして、大型のマス
クMの場合には低速で取り出し、小型のマスクMの場合
には高速で取り出すなど、マスクMの大きさに応じて取
り出し速度を変えることができる。
The dimensions of the mask M may be obtained using the moving speed of the transfer arm 13 and the time during which the light receiving section 23b is shielded from light. In this case, by setting the moving speed of the transfer arm 13 to a predetermined speed in advance, the size of the mask M can be detected with a simple configuration without providing a moving speed detection system in the transfer arm 13. . On the other hand, by providing the moving speed detection system, when taking out the masks M from the respective mask cases 11, the size of the masks M can be accurately obtained even if the take-out speed is set according to the respective masks M. it can. Then, the take-out speed can be changed according to the size of the mask M, such as taking out the mask at a low speed in the case of a large mask M and taking it out at a high speed in the case of a small mask M.

【0119】次に、本発明の搬送装置を備えた露光装置
の第4実施形態について図14を参照しながら説明す
る。ここで、前述した第1、第2、第3実施形態と同一
もしくは同等の構成部分については、同一の符号を用い
るとともに、その説明を簡略もしくは省略するものとす
る。
Next, a fourth embodiment of the exposure apparatus provided with the transport device of the present invention will be described with reference to FIG. Here, the same reference numerals are used for the same or equivalent components as those of the above-described first, second, and third embodiments, and the description thereof will be simplified or omitted.

【0120】本実施形態は、第3実施形態で説明した検
出センサ23をX方向に並列に複数設置したものであっ
て、本実施形態では投光部230aと受光部230bと
を備えた検出センサ230が2つ設けられている。そし
て、それぞれの投光部230aからは受光部230bに
向かって、マスクMの取り出し方向に直交する方向(Z
方向)に投光光が投光される。こうして、マスクケース
11から取り出されるマスクMは複数箇所(2箇所)の
位置を検出される。
In this embodiment, a plurality of detection sensors 23 described in the third embodiment are installed in parallel in the X direction. In this embodiment, a detection sensor having a light projecting unit 230a and a light receiving unit 230b is provided. Two 230 are provided. Then, from each of the light projecting units 230a toward the light receiving unit 230b, a direction (Z
Direction) is emitted. In this manner, the positions of a plurality of (two) positions of the mask M taken out of the mask case 11 are detected.

【0121】このような構成を持つ搬送装置の動作につ
いて説明する。制御部9は、マスクケース11内のマス
クMを取り出すために搬送アーム13をマスクケース1
1内に進入し、この搬送アーム13でマスクMを保持す
る。マスクMは搬送アーム13によってマスクMが取り
出される。
The operation of the transport device having such a configuration will be described. The control unit 9 controls the transfer arm 13 to take out the mask M from the mask case 11.
1 and the transfer arm 13 holds the mask M. The mask M is taken out by the transfer arm 13.

【0122】制御部9は、2箇所に設けられた検出セン
サ230によって、通過するマスクMの2箇所の位置を
検出する。それぞれの検出センサ230(受光部230
b)の検出信号は制御部9に送られる。制御部9は、こ
の検出結果に基づいて、マスクMの大きさとともに、マ
スクMの取り出し方向(Y方向)の傾き(回転成分)を
検出する。
The control unit 9 detects two positions of the mask M passing therethrough by the detection sensors 230 provided at two positions. Each detection sensor 230 (light receiving unit 230
The detection signal of b) is sent to the control unit 9. The control unit 9 detects the size of the mask M and the inclination (rotation component) in the take-out direction (Y direction) of the mask M based on the detection result.

【0123】すなわち、それぞれの検出センサ230の
遮光の時間差によって、マスクMの回転成分を検出する
ことができる。制御部9は、このマスクMの取り出し方
向(Y方向)の大きさ(寸法)及び回転成分を検出して
から、このマスクMを搬送装置Hによって搬送する。
That is, the rotational component of the mask M can be detected based on the time difference between the light shielding times of the respective detection sensors 230. The control unit 9 transports the mask M by the transport device H after detecting the size (dimension) and the rotation component in the take-out direction (Y direction) of the mask M.

【0124】このとき、マスクMの回転成分が所定値よ
り小さいと判断された場合には、制御部9は、マスクM
をマスクケース11から安定して取り出せたと判断し、
搬送装置HによってマスクMを搬送する。これととも
に、制御部9は、例えば、各々の検出センサ230の検
出信号に基づいて算出されたマスクMの大きさ(寸法)
の平均値をマスクMの大きさとする。
At this time, if it is determined that the rotational component of the mask M is smaller than the predetermined value, the control unit 9 sets the mask M
Is determined to be stably taken out of the mask case 11,
The mask M is transported by the transport device H. At the same time, the control unit 9 determines, for example, the size (dimension) of the mask M calculated based on the detection signal of each detection sensor 230.
Is the size of the mask M.

【0125】一方、マスクMの回転成分が所定値より大
きいと判断された場合には、制御部9は、マスクMがマ
スクケース11内に正しく設置されていなかったか、マ
スクケース11がライブラリ12に正しく設置されてい
なかったと判断し、その旨を装置外に設置された表示装
置を駆動してオペレータに知らせたり、あるいは、搬送
アーム13や他の搬送機構等を用いてマスクMの置き換
え動作を行ったりする。あるいは、回転成分は許容範囲
外であるがマスクMの大きさは検出できた場合には、制
御部9は、マスクMを搬送装置Hによって所定位置まで
搬送し、この所定位置に設けられたマスクMの置き換え
機構(回転成分修正機構)によってマスクMを所定の角
度に修正することができる。この場合の置き換え動作
も、マスクMの大きさは予め検出されていることにより
安定して行われる。
On the other hand, when it is determined that the rotation component of the mask M is larger than the predetermined value, the control unit 9 determines whether the mask M is not correctly set in the mask case 11 or the mask case 11 It is determined that the mask M has not been correctly installed, and a display device installed outside the apparatus is driven to notify the operator of this fact, or the mask M is replaced using the transfer arm 13 or another transfer mechanism. Or Alternatively, when the rotation component is out of the allowable range but the size of the mask M can be detected, the control unit 9 conveys the mask M to a predetermined position by the conveyance device H, and sets the mask provided at the predetermined position. The mask M can be corrected to a predetermined angle by the M replacement mechanism (rotational component correction mechanism). The replacement operation in this case is also performed stably because the size of the mask M is detected in advance.

【0126】さらに、検出センサ230を、X方向にさ
らに多く(例えば4箇所等)所定距離離間して設置して
おくことにより、マスクMのX方向の大きさの判別を、
回転成分の検出とともに行うことができる。この場合、
第2実施形態で述べたようにマスクMの大きさは無限で
はないので、このような方法でも十分対応することがで
きる。
Further, by installing more detection sensors 230 in the X direction (for example, four places) at a predetermined distance, the size of the mask M in the X direction can be determined.
This can be performed together with the detection of the rotation component. in this case,
As described in the second embodiment, since the size of the mask M is not infinite, such a method can be used sufficiently.

【0127】なお、上述した各実施形態において、寸法
検出及び搬送の対象はマスクMであるが、ガラスプレー
トである基板Wに適用することももちろん可能である。
すなわち、この基板Wを不図示の基板収納部に複数収納
し、この基板収納部に収容される複数の基板Wのうち少
なくとも1つの基板Wを基板ステージ19に搬送する場
合において、基板収納部に収容される基板Wの大きさを
検出し、この検出結果に基づいて基板Wが指定の大きさ
か否かを判別し、指定の大きさであると判別した基板W
を基板収納部から取り出して基板ステージ19まで搬送
する構成とすることができる。
In each of the above-described embodiments, the target of dimension detection and transport is the mask M, but it is of course possible to apply the present invention to the substrate W which is a glass plate.
That is, when a plurality of the substrates W are stored in a substrate storage unit (not shown) and at least one substrate W among the plurality of substrates W stored in the substrate storage unit is transferred to the substrate stage 19, The size of the accommodated substrate W is detected, and based on the detection result, it is determined whether or not the substrate W is the specified size, and the substrate W determined to be the specified size is determined.
Can be taken out of the substrate storage unit and transported to the substrate stage 19.

【0128】本発明に係る基板Wとしては、液晶表示デ
バイス用のガラスプレートのみならず、半導体デバイス
用の半導体ウェーハや、薄膜磁気ヘッド用のセラミック
ウェーハであってもよい。
The substrate W according to the present invention is not limited to a glass plate for a liquid crystal display device, but may be a semiconductor wafer for a semiconductor device or a ceramic wafer for a thin-film magnetic head.

【0129】露光装置としては、マスクMと基板Wとを
静止した状態でマスクMのパターンを露光し、基板Wを
順次ステップ移動させるステップ・アンド・リピート方
式の露光装置(ステッパー)に限らず、マスクMと基板
Wとを同期移動してマスクMのパターンを基板Wに露光
するステップ・アンド・スキャン方式の走査型露光装置
(スキャニング・ステッパー)や、投影レンズを複数備
えたマルチレンズタイプの大型基板用露光装置にも適用
することができる。
The exposure apparatus is not limited to a step-and-repeat type exposure apparatus (stepper) that exposes the pattern of the mask M while the mask M and the substrate W are stationary and sequentially moves the substrate W step by step. A step-and-scan type scanning exposure apparatus (scanning stepper) for exposing the pattern of the mask M to the substrate W by synchronously moving the mask M and the substrate W, or a large multi-lens type having a plurality of projection lenses. The present invention can also be applied to a substrate exposure apparatus.

【0130】露光装置の種類としては、上記液晶表示デ
バイス製造用のみならず、半導体ウェーハ製造用の露光
装置、薄膜磁気ヘッド製造用の露光装置や、撮像素子
(CCD)あるいはマスクMなどを製造するための露光
装置などにも広く適用できる。
As the type of the exposure apparatus, not only the above-described liquid crystal display device manufacturing, but also an exposure apparatus for manufacturing a semiconductor wafer, an exposure apparatus for manufacturing a thin film magnetic head, an image pickup device (CCD) or a mask M are manufactured. Can be widely applied to an exposing apparatus and the like.

【0131】照明光学系150の光源153として、水
銀ランプから発生する輝線(g線(436nm)、h線
(404.7nm)、i線(365nm))、KrFエ
キシマレーザ(248nm)などを用いることができ
る。
As a light source 153 of the illumination optical system 150, a bright line (g line (436 nm), h line (404.7 nm), i line (365 nm)) generated from a mercury lamp, a KrF excimer laser (248 nm), or the like is used. Can be.

【0132】投影光学系120の倍率は、縮小系のみな
らず、等倍系および拡大系のいずれでもよい。
The magnification of the projection optical system 120 may be not only a reduction system but also an equal magnification system or an enlargement system.

【0133】また、投影光学系120としては、エキシ
マレーザーなどの遠紫外線を用いる場合は硝材として石
英や蛍石などの遠紫外線を透過する材料を用い、F2 レ
ーザやX線を用いる場合は反射屈折系または屈折系の光
学系にすればよい(マスクMも反射型タイプのものを用
いる)。
Further, as the projection optical system 120, when far ultraviolet rays such as an excimer laser are used, a material that transmits far ultraviolet rays such as quartz or fluorite is used as a glass material, and when an F2 laser or X-ray is used, catadioptric refraction is used. It is sufficient to use a system or a refraction type optical system (a mask M is of a reflection type).

【0134】なお、基板室外部、すなわち光透過窓より
外部の測長ビームの光路部分を、両端に光透過窓が設け
られた容器で覆い、この容器の内部のガスの温度、圧力
等を制御するようにしてもよい。あるいは、この容器内
部を真空にしてもよい。これにより、その外部の光路上
の空気揺らぎに起因する測長誤差を低減することができ
る。かかる詳細は、例えば特開平10−105241号
公報等に開示されている。
The outside of the substrate chamber, that is, the optical path portion of the length measurement beam outside the light transmission window is covered with a container provided with light transmission windows at both ends, and the temperature, pressure, etc. of the gas inside the container are controlled. You may make it. Alternatively, the inside of the container may be evacuated. As a result, it is possible to reduce a length measurement error caused by air fluctuation on the external optical path. Such details are disclosed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-105241.

【0135】なお、レーザー干渉計用の参照鏡(固定
鏡)を投影光学系に固定し、これを基準としてX移動
鏡、Y移動鏡の位置を計測することも比較的多く行われ
るが、かかる場合には、参照ビームと測長ビームとを分
離する偏光ビームスプリッタ(プリズム)より先の光学
素子を基板室内部に収納し、レーザー光源、ディテクタ
等を基板室外に配置するようにしてもよい。
It is to be noted that the reference mirror (fixed mirror) for the laser interferometer is fixed to the projection optical system, and the positions of the X-moving mirror and the Y-moving mirror are measured on the basis of the reference mirror. In this case, an optical element ahead of the polarizing beam splitter (prism) for separating the reference beam and the measurement beam may be housed inside the substrate chamber, and a laser light source, a detector, and the like may be arranged outside the substrate chamber.

【0136】以上のように、本願実施形態の露光装置
は、本願特許請求の範囲に挙げられた各構成要素を含む
各種サブシステムを、所定の機械的精度、電気的精度、
光学的精度を保つように、組み立てることで製造され
る。これら各種精度を確保するために、この組み立ての
前後には、各種光学系については光学的精度を達成する
ための調整、各種機械系については機械的精度を達成す
るための調整、各種電気系については電気的精度を達成
するための調整が行われる。各種サブシステムから露光
装置への組み立て工程は、各種サブシステム相互の、機
械的接続、電気回路の配線接続、気圧回路の配管接続等
が含まれる。この各種サブシステムから露光装置への組
み立て工程の前に、各サブシステム個々の組み立て工程
があることはいうまでもない。各種サブシステムの露光
装置への組み立て工程が終了したら、総合調整が行わ
れ、露光装置全体としての各種精度が確保される。な
お、露光装置の製造は温度およびクリーン度等が管理さ
れたクリーンルームで行うことが望ましい。
As described above, the exposure apparatus according to the embodiment of the present invention converts various subsystems including the components described in the claims of the present application into predetermined mechanical accuracy, electrical accuracy,
It is manufactured by assembling to maintain optical accuracy. Before and after this assembly, adjustments to achieve optical accuracy for various optical systems, adjustments to achieve mechanical accuracy for various mechanical systems, and various electric systems to ensure these various accuracy Are adjusted to achieve electrical accuracy. The process of assembling the exposure apparatus from various subsystems includes mechanical connections, wiring connections of electric circuits, and piping connections of pneumatic circuits among the various subsystems. It goes without saying that there is an assembling process for each subsystem before the assembling process from these various subsystems to the exposure apparatus. When the process of assembling the various subsystems into the exposure apparatus is completed, comprehensive adjustment is performed, and various precisions of the entire exposure apparatus are secured. It is desirable that the manufacture of the exposure apparatus be performed in a clean room in which the temperature, cleanliness, and the like are controlled.

【0137】半導体デバイスは、図16に示すように、
デバイスの機能・性能設計を行うステップ201、この
設計ステップに基づいたマスクを製作するステップ20
2、デバイスの基材となる基板(ガラスプレート、ウェ
ーハ)を製造するステップ203、前述した実施形態の
露光装置によりマスクのパターンを基板に露光する基板
処理ステップ204、デバイス組み立てステップ(ダイ
シング工程、ボンディング工程、パッケージ工程を含
む)205、検査ステップ206等を経て製造される。
The semiconductor device is, as shown in FIG.
Step 201 for designing the function and performance of the device, Step 20 for manufacturing a mask based on this design step
2. Step 203 of manufacturing a substrate (glass plate, wafer) serving as a base material of a device; substrate processing step 204 of exposing a mask pattern to the substrate by the exposure apparatus of the above-described embodiment; device assembling step (dicing step, bonding) (Including a process and a package process) 205, an inspection step 206, and the like.

【0138】[0138]

【発明の効果】本発明の搬送方法及び搬送装置、並びに
露光方法及び露光装置は以下のような効果を有するもの
である。
The transport method and the transport apparatus, the exposure method and the exposure apparatus of the present invention have the following effects.

【0139】請求項1に記載の発明によれば、基板は、
収納容器において大きさを検出されてから搬送されるの
で、収納容器に収容されている複数の基板が様々な大き
さを有している場合であっても、収容容器から確実に所
望の基板を取り出すことができるとともに、この基板の
大きさに応じた搬送動作を行うことができる。
According to the first aspect of the present invention, the substrate is
Since the substrate is transported after its size is detected in the storage container, even when a plurality of substrates stored in the storage container have various sizes, a desired substrate can be reliably removed from the storage container. The substrate can be taken out, and a transport operation according to the size of the substrate can be performed.

【0140】請求項2に記載の発明によれば、検出した
基板の大きさに応じて、所定位置における位置決めを行
うことにより、所定位置における処理は正確且つ安定し
て行われる。
According to the second aspect of the present invention, by performing positioning at a predetermined position according to the detected size of the substrate, processing at the predetermined position is performed accurately and stably.

【0141】請求項3に記載の発明によれば、基板は、
搬送系によって搬送される前に、寸法検出系によって大
きさを検出されるので、収納容器に収容されている複数
の基板が様々な大きさを有している場合であっても、搬
送系は、収容容器から所望の基板を確実に取り出すこと
ができる。また、搬送前に基板の大きさを検出しておく
ことにより、搬送系は、この基板大きさに応じた設定を
制御系によって施されるので、基板は安定して搬送され
る。
According to the third aspect of the present invention, the substrate comprises:
Before being transported by the transport system, the size is detected by the dimension detection system, so even if a plurality of substrates housed in the storage container have various sizes, the transport system is Thus, the desired substrate can be reliably taken out of the storage container. Further, by detecting the size of the substrate before the transfer, the transfer system is set by the control system in accordance with the size of the substrate, so that the substrate is stably transferred.

【0142】請求項4に記載の発明によれば、制御系
は、基板の大きさに応じて所定位置における基板の位置
決めを行うので、所定位置における処理は正確且つ安定
して行われる。
According to the fourth aspect of the present invention, since the control system positions the substrate at a predetermined position according to the size of the substrate, the processing at the predetermined position is performed accurately and stably.

【0143】請求項5に記載の発明によれば、マスクの
大きさは搬送前に検出されるので、このマスクの大きさ
に応じた搬送動作を行うことができる。そして、マスク
の大きさに応じて所定位置における位置決めを行うこと
により、所定位置における処理は正確且つ安定して行わ
れる。マスクは所定の処理を施されてから安定して露光
処理されるので、生産性、作業性は向上する。
According to the fifth aspect of the present invention, since the size of the mask is detected before the transfer, the transfer operation according to the size of the mask can be performed. Then, by performing positioning at a predetermined position according to the size of the mask, processing at the predetermined position is performed accurately and stably. Since the mask is subjected to stable exposure processing after being subjected to predetermined processing, productivity and workability are improved.

【0144】請求項6に記載の発明によれば、検出結果
に基づいてマスクが指定の大きさか否かを判別し、指定
の大きさであると判別したマスクを収納容器から取り出
すことにより、所望の大きさを有するマスクのみを収納
容器から確実に取り出すことができるので、効率良い処
理を行うことができる。
According to the sixth aspect of the present invention, it is determined whether or not the mask is of a specified size based on the detection result, and the mask determined to be of the specified size is taken out of the storage container. Since only the mask having the size of can be reliably taken out of the storage container, efficient processing can be performed.

【0145】請求項7に記載の発明によれば、マスクの
大きさは、搬送前に寸法検出系によって検出されるの
で、搬送系は、このマスクの大きさに応じた設定を制御
系によって施されてからマスクを搬送する。そして、制
御系は、マスクの大きさに応じて所定位置における位置
決めを行うことにより、所定位置における処理は正確且
つ安定して行われる。マスクは所定の処理を安定して施
されてから露光処理されるので、露光処理は安定して行
われ、生産性、作業性は向上する。
According to the seventh aspect of the present invention, the size of the mask is detected by the dimension detecting system before the transfer, so that the transfer system sets by the control system according to the size of the mask. Then, the mask is transported. Then, the control system performs positioning at a predetermined position according to the size of the mask, so that processing at the predetermined position is performed accurately and stably. Since the mask is subjected to the exposure processing after the predetermined processing is stably performed, the exposure processing is performed stably, and the productivity and workability are improved.

【0146】請求項8に記載の発明によれば、収納容器
に、所定の位置関係で配置され、マスクを所定位置に位
置決めする位置決め部材を備えさせ、位置決め部材を、
任意の位置に取り付け可能とすることにより、様々な大
きさを有するマスクを収納容器に安定して収容すること
ができる。
According to the eighth aspect of the present invention, the storage container is provided with a positioning member which is arranged in a predetermined positional relationship and positions the mask at a predetermined position.
By being able to be attached to an arbitrary position, masks having various sizes can be stably stored in the storage container.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の搬送装置を備えた露光装置全体の第1
実施形態を示す構成図である。
FIG. 1 is a first view of an entire exposure apparatus including a transport device according to the present invention.
It is a lineblock diagram showing an embodiment.

【図2】収納容器を説明するための側面図である。FIG. 2 is a side view for explaining a storage container.

【図3】識別部(処理部)を説明するための構成図であ
る。
FIG. 3 is a configuration diagram for explaining an identification unit (processing unit).

【図4】投影露光部(露光装置)を説明するための構成
図である。
FIG. 4 is a configuration diagram for explaining a projection exposure section (exposure apparatus).

【図5】制御系を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining a control system.

【図6】本発明の搬送装置の第1実施形態を説明するた
めの構成図である。
FIG. 6 is a configuration diagram for explaining a first embodiment of the transport device of the present invention.

【図7】図6の他の実施形態を説明するための図であ
る。
FIG. 7 is a diagram for explaining another embodiment of FIG. 6;

【図8】搬送装置の他の形態を説明するための図であ
る。
FIG. 8 is a diagram for explaining another embodiment of the transport device.

【図9】識別部(処理部)の他の形態を説明するための
図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining another mode of the identification unit (processing unit).

【図10】収納容器の他の形態を説明するための図であ
る。
FIG. 10 is a view for explaining another embodiment of the storage container.

【図11】本発明の搬送装置の第2実施形態を説明する
ための構成図である。
FIG. 11 is a configuration diagram for explaining a second embodiment of the transport device of the present invention.

【図12】図11の他の実施形態を説明するための図で
ある。
FIG. 12 is a diagram for explaining another embodiment of FIG. 11;

【図13】本発明の搬送装置の第3実施形態を説明する
ための構成図である。
FIG. 13 is a configuration diagram for explaining a third embodiment of the transport device of the present invention.

【図14】本発明の搬送装置の第4実施形態を説明する
ための構成図である。
FIG. 14 is a configuration diagram for explaining a fourth embodiment of the transport device of the present invention.

【図15】大きさの異なるマスクによって露光処理する
様子を説明するための図である。
FIG. 15 is a diagram for explaining a state in which exposure processing is performed using masks having different sizes.

【図16】半導体デバイスの製造工程の一例を示すフロ
ーチャート図である。
FIG. 16 is a flowchart illustrating an example of a manufacturing process of a semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3 バーコードリーダー 9 制御部(制御系) 11 マスクケース(収納容器) 12 ライブラリ(収納部) 13 搬送アーム(搬送装置) 15 ロードアーム(搬送装置) 17 マスクステージ 19 基板ステージ 20 位置決めピン(位置決め部材) 153 光源 120 投影光学系 150 照明光学系 A 識別部(処理部) B バーコード(識別子) C 制御系 E 投影露光部(制御装置) EL 露光光 H 搬送装置(搬送系) J 基準位置 M マスク(基板) PA パターン R 寸法検出系 S 露光装置 W 基板(ガラスプレート) Reference Signs List 3 Bar code reader 9 Control unit (control system) 11 Mask case (storage container) 12 Library (storage unit) 13 Transfer arm (transfer device) 15 Load arm (transfer device) 17 Mask stage 19 Substrate stage 20 Positioning pin (positioning member) ) 153 light source 120 projection optical system 150 illumination optical system A identification unit (processing unit) B barcode (identifier) C control system E projection exposure unit (control device) EL exposure light H transport device (transport system) J reference position M mask (Substrate) PA pattern R Dimension detection system S Exposure device W Substrate (glass plate)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/30 516Z Fターム(参考) 5F031 CA07 DA12 DA17 EA19 FA04 FA07 FA11 FA14 GA08 GA25 GA36 GA38 GA45 GA48 GA49 GA50 HA13 HA53 HA57 HA58 HA59 JA01 JA02 JA06 JA12 JA17 JA23 JA29 JA30 JA32 JA49 KA06 KA07 KA08 KA20 LA08 MA13 MA27 PA16 5F046 AA17 AA21 BA03 CC01 CC02 CC03 CC09 CD02 CD04 CD06 DA06 DA29 DB05 DB14 DC14 DD04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 21/30 516Z F-term (Reference) 5F031 CA07 DA12 DA17 EA19 FA04 FA07 FA11 FA14 GA08 GA25 GA36 GA38 GA45 GA48 GA49 GA50 HA13 HA53 HA57 HA58 HA59 JA01 JA02 JA06 JA12 JA17 JA23 JA29 JA30 JA32 JA49 KA06 KA07 KA08 KA20 LA08 MA13 MA27 PA16 5F046 AA17 AA21 BA03 CC01 CC02 CC03 CC09 CD02 CD04 CD06 DA06 DA29 DB05 DB14 DC14 DD04

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 収納容器に収容される複数の基板のうち
少なくとも1つの基板を所定位置まで搬送する搬送方法
において、 前記収納容器に収容される基板の大きさを検出し、 前記検出結果に基づいて前記基板が指定の大きさか否か
を判別し、 指定の大きさであると判別した基板を前記収納容器から
取り出して前記所定位置まで搬送することを特徴とする
搬送方法。
1. A transport method for transporting at least one substrate among a plurality of substrates stored in a storage container to a predetermined position, wherein a size of the substrate stored in the storage container is detected, and based on the detection result. Determining whether the substrate is of a specified size, and taking out the substrate determined to be of the specified size from the storage container and transferring the substrate to the predetermined position.
【請求項2】 請求項1に記載の搬送方法において、 前記基板の大きさに応じて、前記所定位置における位置
決めを行うことを特徴とする搬送方法。
2. The transfer method according to claim 1, wherein the positioning at the predetermined position is performed according to a size of the substrate.
【請求項3】 収納容器に収容される複数の基板のうち
少なくとも1つの基板を所定位置まで搬送する搬送装置
において、 前記収納容器内の基板の大きさを検出する寸法検出系
と、 前記基板を前記収納容器から取り出す搬送系と、 前記寸法検出系の検出結果に基づいて、前記基板が指定
の大きさか否かを判別し、指定の大きさであると判別し
た基板に対して、前記収納容器から前記所定位置まで搬
送するよう前記搬送系に指示する制御系とを備えること
を特徴とする搬送装置。
3. A transport device for transporting at least one substrate among a plurality of substrates accommodated in a storage container to a predetermined position, wherein: a size detection system for detecting a size of the substrate in the storage container; A transport system to be taken out of the storage container, and based on the detection result of the size detection system, determine whether the substrate is a specified size or not. And a control system for instructing the transport system to transport the paper to the predetermined position.
【請求項4】 請求項3に記載の搬送装置において、 前記制御系は、前記基板の大きさに応じて前記所定位置
における基板の位置決めを行うことを特徴とする搬送装
置。
4. The transfer device according to claim 3, wherein the control system performs positioning of the substrate at the predetermined position according to a size of the substrate.
【請求項5】 収納容器に収納されるマスクを露光光の
光路上に搬送し、前記露光光によってマスクに形成され
たパターンの像を基板上に転写する露光方法において、 前記収納容器に収容されるマスクの大きさを検出し、 前記検出したマスクの大きさに応じて該マスクを前記収
納容器から取り出して所定位置に搬送し、 該マスクの大きさに応じて、前記所定位置における位置
決めを行い、 前記所定位置において所定の処理を行った後、該マスク
を前記光路上に搬送し露光処理することを特徴とする露
光方法。
5. An exposure method in which a mask stored in a storage container is conveyed on an optical path of exposure light, and an image of a pattern formed on the mask is transferred onto a substrate by the exposure light. The size of the mask to be detected is detected, the mask is taken out of the storage container according to the detected size of the mask, and is transported to a predetermined position. According to the size of the mask, positioning at the predetermined position is performed. An exposure method, wherein after performing a predetermined process at the predetermined position, the mask is transported on the optical path and exposed.
【請求項6】 請求項5に記載の露光方法において、 前記検出結果に基づいて前記マスクが指定の大きさか否
かを判別し、 指定の大きさであると判別したマスクを前記収納容器か
ら取り出すことを特徴とする露光方法。
6. The exposure method according to claim 5, wherein it is determined whether or not the mask has a specified size based on the detection result, and the mask determined to have the specified size is taken out of the storage container. An exposure method comprising:
【請求項7】 収納容器に収納されるマスクを露光光の
光路上に搬送し、前記露光光によってマスクに形成され
たパターンの像を基板上に転写する露光装置において、 前記収納容器内のマスクの大きさを検出する寸法検出系
と、 前記マスクを前記収納容器から取り出し所定位置まで搬
送する搬送系と、 前記寸法検出系の検出結果に基づいて、前記所定位置に
おける前記マスクの位置決めを行い、該所定位置におい
て所定の処理を行った後、該マスクを前記光路上に搬送
するよう前記搬送系に指示する制御系とを備えることを
特徴とする露光装置。
7. An exposure apparatus for transporting a mask stored in a storage container on an optical path of exposure light and transferring an image of a pattern formed on the mask by the exposure light onto a substrate, wherein the mask in the storage container is provided. A dimension detection system that detects the size of the mask, a transport system that removes the mask from the storage container and transports the mask to a predetermined position, based on a detection result of the dimension detection system, performs positioning of the mask at the predetermined position, An exposure apparatus, comprising: a control system that instructs the transport system to transport the mask onto the optical path after performing a predetermined process at the predetermined position.
【請求項8】 請求項7に記載の露光装置において、 前記収納容器は、所定の位置関係で配置され、前記マス
クを所定位置に位置決めする位置決め部材を備え、 前記位置決め部材は、任意の位置に取り付け可能である
ことを特徴とする露光装置。
8. The exposure apparatus according to claim 7, wherein the storage container is arranged in a predetermined positional relationship, and includes a positioning member for positioning the mask at a predetermined position, wherein the positioning member is located at an arbitrary position. An exposure apparatus characterized by being attachable.
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