JP6409254B2 - 画像読取装置、画像形成装置及び画像読取り方法 - Google Patents

Description

本発明は、画像読取装置、画像形成装置及び画像読取り方法に関する。

従来、原稿に照射した光の反射光を取り込んで画像データを読み取る画像読取装置では、光源の照度のばらつきや光電変換素子の個体感度差による不均一な特性の影響を除去するために、画像データに対してシェーディング補正が一般的に行われている。このシェーディング補正用のデータは、原稿の読取位置に設けられた白色の基準部材（白色基準部材）を画像読取装置が読み取ったシェーディングデータに基づいて生成される。

両面同時読取装置では、原稿の裏面を読み取る画像読取部（イメージセンサ及び白色基準部材）は、ＡＤＦ（自動原稿搬送装置）内に設けられる。白色基準部材は、原稿の搬送路に面しているため、原稿に付着した紙粉やほこりによって表面に汚れや傷が生じることは避けられない。

この場合、汚れ等の発生箇所ではシェーディングデータに誤りが生じ、このシェーディングデータに基づいてシェーディング補正された画像データは、スジ上のノイズが生じることとなり、画質が劣化してしまう。

したがって、正確なシェーディング補正をするためのシェーディングデータを得るには、白色基準部材の汚れの影響を排除する必要がある。

白色基準部材の汚れの影響を除去するために、白色基準部材を白ローラーとして、回転機構を設けて読取ローラーの１周分を超える範囲を読み取り、最も汚れの少ない部分のデータでシェーディングデータを生成する技術が知られている。しかしながら、このように白色基準部材に可動部を設けた場合、装置の大型化や高コストを招いてしまう。

また、メモリに清浄な白色基準部材で採取した初期のシェーディングデータを予め格納しておき、原稿を読み取る直前に採取したシェーディングデータと対比して、これらの比が所定範囲を超える画素位置のデータを初期のデータに置換する技術が知られている。しかしながら、不揮発性メモリや、不揮発性メモリからシェーディングデータを読み出すためのハード構成、及び清浄なシェーディングデータの取得が必要となるため、コスト高となってしまう。

また、特許文献１は、１ラインの読み取りデータ内の注目画素のデータと、該注目画素から所定画素分離れた第１の比較画素のデータとの差が所定の値を越え、注目画素のデータと、第１の比較画素より離れている注目画素から所定画素分離れた第２の比較画素のデータとの差が所定の値を越える場合に、注目画素のデータを第１の比較画素のデータに置換する画像読取装置を開示する。

また、特許文献２は、光量が有効でないと判定された画素の光量を、レンズの配列間隔と同じ間隔をあけて光量検出部材が検出した画素の光量に置換する画像読取装置を開示する。

しかしながら、特許文献１に記載された技術では、密着型イメージセンサ（CIS：Contact Image Sensor）のように主走査方向に配列された複数のレンズにより反射光を結像する場合、光電変換素子に入力される光量が主走査方向で周期的に変化することにより、有効でない画素データを精度よく検出することができないために、精度よくシェーディングデータを生成することを可能にできないという問題があった。

また、特許文献２に記載された技術では、主走査方向の有効な全ての画素データよりも明度が低い画素データのみしか有効でない画素データの判定対象とならない。具体的には、周期的に変化する光量変化よりも大きな変化量の画素データであり、かつ複数のレンズの両端側の明度が低い画素データよりも明度が低い画素データのみしか判定できず、精度よくシェーディングデータを生成することを可能にできない。

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、精度よくシェーディングデータを生成することを可能にする画像読取装置、画像形成装置及び画像読取り方法を提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、一方向に延びて光を照射する照射部と、前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を画素ごとに光電変換し、配列された複数の画素を示す複数の画素データに変換する光電変換素子と、前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を前記光電変換素子に結像する略同じ直径の配列された複数のレンズと、前記照射部が白色基準部材に照射する光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に、前記光電変換素子が変換する複数の画素データに対し、前記照射部が延びる方向の低周波数成分を抽出して除去する除去部と、前記除去部が前記低周波数成分を除去した複数の画素データにおける注目画素の画素データと、前記注目画素から前記レンズの配列間隔の略整数倍の離れた位置にある第１比較画素の画素データとを比較する第１比較部と、前記注目画素の画素データと、前記第１比較画素とは異なる画素であり前記注目画素から前記レンズの配列間隔の略整数倍の離れた位置にある第２比較画素の画素データとを比較する第２比較部と、前記第１比較部が比較した結果、及び前記第２比較部が比較した結果のいずれもが予め定められた閾値を超える相違を示す場合に、前記注目画素の画素データは有効でないと判定する判定部と、前記除去部が前記低周波数成分を除去する前の前記複数の画素データを、前記判定部が有効でないと判定した注目画素に対応する画素データを前記第１比較画素又は前記第２比較画素に対応する画素データにより置換することにより補正する補正部と、を有することを特徴とする。

本発明によれば、精度よくシェーディングデータを生成することを可能にすることができるという効果を奏する。

図１は、実施の形態にかかる画像形成装置の構成を示す図である。 図２は、ＡＤＦの構成を示す断面図である。 図３は、ＡＤＦを制御するコントローラ及びその周辺の概要を示すブロック図である。 図４は、第２読取部の概要を例示する図である。 図５は、第２読取部の電気回路の要部を例示するブロック図である。 図６は、白補正部の概要を示す機能ブロック図である。 図７は、第１補正部及び第２補正部が補正を行う前に、第１記憶部が記憶しているシェーディングデータを示す図である。 図８は、第１補正部及び第２補正部が補正を行う前に、第１記憶部が記憶している異物の影響を受けたシェーディングデータを示す図である。 図９は、白補正部を有するＡＤＦが精度よくシェーディングデータを生成するために行う処理を示すフローチャートである。 図１０は、白補正部を有するＡＤＦがシェーディングデータに対して行う判定と、画素データを補正するために行う処理の詳細を示すフローチャートである。 図１１は、ＡＤＦがシェーディングデータに対して異常判定を行った結果を示す図である。 図１２は、第１比較画素及び第２比較画素の位置の第１設定例における異常判定を行った結果を示す図である。 図１３は、第１比較画素及び第２比較画素の位置の第２設定例における異常判定を行った結果を示す図である。 図１４は、白補正部の変形例の概要を示す機能ブロック図である。 図１５は、除去部が低周波数成分を除去する前後のシェーディングデータを示す図である。 図１６は、変形例の白補正部を有するＡＤＦがシェーディングデータに対して行う判定と、画素データを補正するために行う処理の詳細を示すフローチャートである。

以下に添付図面を参照して、画像形成装置の実施の形態を詳細に説明する。図１は、実施の形態にかかる画像形成装置１の構成を示す図である。図１に示すように、画像形成装置１は、画像読取装置としての機能を有する自動原稿搬送装置（ＡＤＦ：Auto Document Feeder）１０と、給紙部２と、画像形成部３とを備えている。

給紙部２は、用紙サイズの異なる記録紙を収納する給紙カセット２１，２２と、給紙カセット２１，２２に収納された記録紙を画像形成部３の画像形成位置まで搬送する各種ローラーからなる給紙手段２３とを有している。

画像形成部３は、露光装置３１と、感光体ドラム３２と、現像装置３３と、転写ベルト３４と、定着装置３５とを備えている。画像形成部３は、ＡＤＦ１０内部の画像読取部により読み取られた原稿の画像データに基づいて、露光装置３１により感光体ドラム３２を露光して感光体ドラム３２に潜像を形成し、現像装置３３により感光体ドラム３２に異なる色のトナーを供給して現像するようになっている。そして、画像形成部３は、転写ベルト３４により感光体ドラム３２に現像された像を給紙部２から供給された記録紙に転写した後、定着装置３５により記録紙に転写されたトナー画像のトナーを溶融して、記録紙にカラー画像を定着するようになっている。

次に、ＡＤＦ１０について詳述する。図２は、ＡＤＦ１０の構成を示す断面図である。図３は、ＡＤＦ１０を制御するコントローラ１１及びその周辺の概要を示すブロック図である。ＡＤＦ１０は、被読取原稿を固定された読取装置部に搬送し、所定の速度で搬送しながら画像読取を行う。コントローラ１１は、図示しないＣＰＵを含み、ＡＤＦ１０を構成する各部を制御する。

ＡＤＦ１０は、原稿セット部Ａ、分離給送部Ｂ、レジスト部Ｃ、ターン部Ｄ、第１読取搬送部Ｅ、第２読取搬送部Ｆ、排紙部Ｇ、及びスタック部Ｈを有する。原稿セット部Ａは、読取原稿束をセットする。分離給送部Ｂは、セットされた原稿束から一枚毎に原稿を分離して給送する。レジスト部Ｃは、給送された原稿を一次突当整合する働きと、整合後の原稿を引き出し搬送する働きを有する。ターン部Ｄは、搬送される原稿をターンさせて、原稿面を読取り側（下方）に向けて搬送する。第１読取搬送部Ｅは、原稿の表面画像を、コンタクトガラスの下方より読取を行わせる。第２読取搬送部Ｆは、読取後の原稿の裏面画像を読み取る。排紙部Ｇは、表裏の読取が完了した原稿を機外に排出する。スタック部Ｈは、読取完了後の原稿を積載保持する。

読取を行う原稿束１３０をセットするのは、可動原稿テーブル１３１を含む原稿テーブル１３２上で、原稿面を上向きの状態でセットする。更に原稿束１３０の幅方向を図示しないサイドガイドによって搬送方向と直行する方向の位置決めを行う。原稿のセットはセットフィラー１３３、原稿セットセンサ１００により検知され、Ｉ／Ｆ１１４により本体制御部１２２に送信される。

更に原稿テーブル面に設けられた原稿長さ検知センサ１３４又は１３５（反射型センサ又は、原稿１枚も検知可能なアクチュエーター・タイプのセンサが用いられる）により原稿の搬送方向長さの概略が判定される。

可動原稿テーブル１３１は、底板上昇モータ１１２により図に示すａ、ｂ方向に上下動可能な構成になっていて、原稿がセットされた事をセットフィラー１３３、原稿セットセンサ１００により検知すると底板上昇モータ１１２を正転させて原稿束１３０の最上面がピックアップローラー１４８と接触するように可動原稿テーブル１３１を上昇させる。ピックアップローラー１４８は、ピックアップモータ１０８によりカム機構で図に示すｃ、ｄ方向に動作すると共に、可動原稿テーブル１３１が上昇し可動原稿テーブル１３１上の原稿上面により押されてｃ方向に上がり給紙適正位置センサ１０２により上限を検知可能となっている。

操作部１２１よりプリントキーが押下され、本体制御部１２２からＩ／Ｆ１１４を介してコントローラ１１に原稿給紙信号が送信されると、ピックアップローラー１４８は給紙モータ１０９の正転によりコロが回転駆動し、原稿テーブル１３２上の数枚（理想的には１枚）の原稿をピックアップする。回転方向は、最上位の原稿を給紙口に搬送する方向である。なお、操作部１２１は、ユーザによる入力に応じて、ＡＤＦ１０に対する設定を行う設定部となっている。

給紙ベルト１３６は、給紙モータ１０９の正転により給紙方向に駆動され、リバースローラー１３７は給紙モータ１０９の正転により給紙と逆方向に回転駆動され、最上位の原稿とその下の原稿を分離して、最上位の原稿のみを給紙できる構成となっている。さらに詳しく説明すると、リバースローラー１３７は給紙ベルト１３６と所定圧で接し、給紙ベルト１３６と直接接している時、又は原稿１枚を介して接している状態では給紙ベルト１３６の回転につられて反時計方向に連れ回りし、原稿が２枚以上給紙ベルト１３６とリバースローラー１３７の間に侵入した時は連れ回り力がトルクリミッターのトルクよりも低くなるように設定されており、リバースローラー１３７は本来の駆動方向である時計方向に回転し、余分な原稿を押し戻す働きをし、重送が防止される。

給紙ベルト１３６とリバースローラー１３７との作用により１枚に分離された原稿は給紙ベルト１３６によって更に送られ、突き当てセンサ１０５によって先端が検知され更に進んで停止しているプルアウトローラー１３８に突き当たる。その後突き当てセンサ１０５の検知から所定量定められた距離送られ、結果的には、プルアウトローラー１３８に所定量撓みを持って押し当てられた状態で給紙モータ１０９を停止させることにより、給紙ベルト１３６の駆動が停止する。この時、ピックアップモータ１０８を回転させることでピックアップローラー１４８を原稿上面から退避させ原稿を給紙ベルト１３６の搬送力のみで送ることにより、原稿先端は、プルアウトローラー１３８の上下ローラー対のニップに進入し、先端の整合（スキュー補正）が行われる。

プルアウトローラー１３８は、スキュー補正機能を有すると共に、分離後にスキュー補正された原稿を中間ローラー１３９まで搬送するためのローラーで、給紙モータ１０９の逆転により駆動される。またこの時（給紙モータ１０９逆転時）、プルアウトローラー１３８と中間ローラー１３９は駆動されるが、ピックアップローラー１４８と給紙ベルト１３６は駆動されていない。

原稿幅センサ１０４は奥行き方向に複数個並べられ、プルアウトローラー１３８により搬送された原稿の搬送方向に直行する幅方向のサイズを検知する。また、原稿の搬送方向の長さは原稿の先端後端を突き当てセンサ１０５で読取ることによりモータパルスから原稿の長さを検知する。

プルアウトローラー１３８及び中間ローラー１３９の駆動によりレジスト部Ｃからターン部Ｄに原稿が搬送される際には、レジスト部Ｃでの搬送速度を第１読取搬送部Ｅでの搬送速度よりも高速に設定して原稿を読取部へ送り込む処理時間の短縮が図られている。原稿先端が読取入口センサ１０３により検出されると、読取入口ローラー１４０の上下ローラー対のニップに原稿先端が進入前に、原稿搬送速度を読取搬送速度と同速にする為に減速を開始すると同時に、読取モータ１１０を正転駆動して読取入口ローラー１４０、読取出口ローラー１４１、ＣＩＳ出口ローラー１４２を駆動する。原稿の先端をレジストセンサ１０７にて検知すると、所定の搬送距離をかけて減速し、読取位置１４３の手前で一時停止すると共に、本体制御部１２２にＩ／Ｆ１１４を介してレジスト停止信号を送信する。

続いて本体制御部１２２より読取り開始信号を受信すると、レジスト停止していた原稿は、読取位置に原稿先端が到達するまでに所定の搬送速度に立上がるように増速されて搬送される。読取モータ１１０のパルスカウントにより検出された原稿先端が読取部に到達するタイミングで、本体制御部１２２に対して第１面の副走査方向有効画像領域を示すゲート信号が、第１読取部を原稿後端が抜けるまで送信される。

片面原稿読取りの場合には、第１読取搬送部Ｅを通過した原稿は第二読取り部を経て排紙部Ｇへ搬送される。この際、排紙センサ１０６により原稿の先端を検知すると、排紙モータ１１１を正転駆動して排紙ローラー１４４を反時計方向に回転させる。また、排紙センサ１０６による原稿の先端検知からの排紙モータパルスカウントにより、原稿後端が排紙ローラー１４４の上下ローラー対のニップから抜ける直前に排紙モータ駆動速度を減速させて、排紙トレイ１４５上に排出される原稿が飛び出さない様に制御される。

両面原稿読取りの場合には、排紙センサ１０６にて原稿先端を検知してから読取りモータのパルスカウントにより第２読取部１１３に原稿先端が到達するタイミングで第２読取部１１３に対してコントローラ１１から副走査方向の有効画像領域を示すゲート信号が読取り部を原稿後端が抜けるまで送信される。第２読取ローラー１４６は、第２読取り部における原稿の浮きを抑えると同時に、第２読取部１１３におけるシェーディングデータを取得する為の基準白部（白色基準部材）を兼ねるものである。なお、ＡＤＦ１０は、第２読取ローラー１４６に代えて、固定された板状の白色基準部材が設けられてもよい。

次に、第２読取部１１３について詳述する。図４は、第２読取部１１３の概要を例示する図である。第２読取部１１３は、例えば一方向に延びるロッドレンズアレイを用いた読取モジュール（ＣＩＳ：Contact Image Sensor）となっている。第２読取部１１３においては、例えばＬＥＤなどの光源部４０が主走査方向に延びる導光体４１の両端にそれぞれ設けられている。導光体４１、ロッドレンズアレイ４２及びセンサ基板４３は、それぞれ略平行に配置されている。光源部４０及び導光体４１は、一方向に延びて光を照射する照射部となっている。ロッドレンズアレイ４２は、主走査方向に配列された略同じ直径の複数のロッドレンズ４２０を有する。なお、略同じとは、差分が所定の閾値以下であることをいう。センサ基板４３には、例えば約７０００画素分のセンサ（光電変換素子）４３０が主走査方向に配列されている。ロッドレンズアレイ４２は、照射部が照射した光の原稿や白色基準部材による反射光（又は透過光）をセンサ４３０へ結像する。各センサ４３０は、ロッドレンズアレイ４２により結像された光の光量を、主走査方向に配列された複数の画素を示す電気信号に変換する。

ロッドレンズ４２０は、中心付近では光を集光し易く出力が高いが、端部においては出力が低下する。そのため、ロッドレンズアレイ４２は、ロッドレンズ４２０が配列された周期で出力の高い位置と低い位置が周期的に発生する。

図５は、第２読取部１１３の電気回路の要部を例示するブロック図である。図５に示すように、第２読取部１１３は、ＬＥＤ、蛍光灯、又は冷陰極管などからなる光源部５００を有する。なお、光源部５００は、図４に示した光源部４０及び導光体４１に相当し、図示しない導光体などと共に光を主走査方向に照射する照射部を構成する。また、図５に示した第２読取部１１３を構成する各部は、コントローラ１１の制御によって動作する。

また、第２読取部１１３は、主走査方向（原稿幅方向に対応する方向）に並ぶ複数のセンサ（光電変換素子）５０１、それぞれのセンサ５０１に個別に接続された複数のアンプ回路５０２、それぞれのアンプ回路５０２に個別に接続された複数のＡ／Ｄ変換部５０３も有している。Ａ／Ｄ変換部５０３の出力信号には、信号成分以外に黒レベルオフセットがある。第２読取部１１３は、黒レベルオフセットを除去する黒補正部５０４を有している。黒補正部５０４の出力信号に対し、光源部５００のムラやセンサ５０１の感度不均一による画像データへの影響の除去をする白補正を白補正部６が行う。また、白補正部６は、白色基準部材を読み取り、この白色基準部材の読み取り結果と過去の白色基準部材の読み取り結果との比較に基づいて光量低下の度合い（補正係数）を求め、シェーディング補正データによる補正結果にさらに補正する機能も搭載していてもよい。更に、第２読取部１１３は、画像処理部５０６、フレームメモリ５０７、出力制御回路５０８、Ｉ／Ｆ回路５０９なども有している。

センサ５０１は、例えば等倍密着イメージセンサ（ＣＩＳ）と称される光電変換素子と図示しない集光レンズ（ロッドレンズ）とを具備する。第２読取部１１３による読取位置に図示しない原稿が進入するのに先立って、コントローラ１１から光源部５００に点灯ＯＮ信号が送られる。これにより、光源部５００が点灯し、その光を図示しない原稿に向けて照射する。

原稿で反射した反射光は、複数のセンサ５０１において、集光レンズによって光電変換素子に集光されて画像情報として読み取られる。それぞれのセンサ５０１で読み取られた画像情報は、アンプ回路５０２によって増幅された後、Ａ／Ｄ変換部５０３によってデジタル画像情報（複数の画素それぞれの画素値）に変換される。デジタル画像情報は、例えば８ｂｉｔで示される場合には、黒の画素値が０となり、白の画素値が２５５となる。

これらデジタル画像情報は、黒補正部５０４によりオフセット成分を除去（黒補正）され、白補正部６により補正され、画像処理部５０６に入力されてライン間補正などが施された後、フレームメモリ５０７に一時記憶される。

その後、デジタル画像情報は、出力制御回路５０８によって本体制御部１２２に受入可能なデータ形式に変換された後、Ｉ／Ｆ回路５０９を経由して本体制御部１２２に出力される。なお、コントローラ１１からは原稿の先端が第２読取部１１３による読取位置に到達するタイミング（そのタイミング以降の画像データが有効データとして扱われる）を知らせるためのタイミング信号や光源の点灯信号、電源等が出力されるようになっている。

次に、白補正部６について詳述する。図６は、白補正部６の概要を示す機能ブロック図である。図６に示すように、白補正部６は、第１記憶部６０、第１比較部６１、第２比較部６２、判定部６３、第１補正部６４及び第２補正部６５を有する。

第１記憶部６０は、例えば揮発性メモリなどであり、黒補正部５０４がオフセット成分を除去した画素データ（シェーディングデータ）を記憶し、白補正部６内で補正された画素データを画像処理部５０６からのアクセスによって出力する。ここで、第１記憶部６０は、ＡＤＦ１０が白色基準部材を読取る動作を行った場合に、シェーディングデータを記憶する。また、第１記憶部６０は、ＡＤＦ１０が原稿を読取る動作を行った場合には、シェーディングデータを保持しつつ、原稿画像を示す画素データを記憶する。つまり、第１記憶部６０は、シェーディングデータと、原稿画像を示す画素データとの両方を記憶する機能を有する。

第１比較部６１は、光源部４０及び導光体４１（照射部）が白色基準部材に照射する光の反射光をロッドレンズ４２０それぞれがセンサ４３０に結像した場合に、シェーディングデータにおける注目画素の画素データと、注目画素からロッドレンズ４２０の配列間隔の略整数倍の間隔をあけてセンサ４３０が光電変換した第１比較画素の画素データとを比較する。なお、略整数倍とは、整数倍に対する差分が所定の閾値以下であることをいう。

第２比較部６２は、シェーディングデータにおける注目画素の画素データと、第１比較画素とは異なる画素であり注目画素からロッドレンズ４２０の配列間隔の略整数倍の間隔をあけてセンサ４３０が光電変換した第２比較画素の画素データとを比較する。

判定部６３は、第１比較部６１が比較した結果、及び第２比較部６２が比較した結果のいずれもが予め定められた閾値を超える相違を示す場合に、シェーディングデータにおける注目画素の画素データは有効でないと判定する。

第１補正部６４は、画素データは有効でないと判定部６３が判定した注目画素に対応する画素データを、第１比較画素又は第２比較画素の画素データによって置換することにより、シェーディングデータにおける画素データを補正する。

第２補正部６５は、第１記憶部６０が記憶する原稿画像を示す画素データに対し、（補正されたシェーディングデータを用いて）照射部のムラやセンサ４３０（センサ５０１）の感度不均一による画像データへの影響の除去をする白補正を行う。また、第２補正部６５は、白色基準部材の読み取り結果と過去の白色基準部材の読み取り結果との比較に基づいて光量低下の度合い（補正係数）を求め、シェーディングデータをさらに補正する機能も有する。

なお、白補正部６は、第２補正部６５を備えない構成にされてもよい。この場合、第２補正部６５に代えて、例えば画像処理部５０６が白補正を行うようにされればよい。

図７は、第１補正部６４及び第２補正部６５が補正を行う前に、第１記憶部６０が記憶しているシェーディングデータを示す図である。図８は、第１補正部６４及び第２補正部６５が補正を行う前に、第１記憶部６０が記憶している異物の影響を受けたシェーディングデータを示す図である。

密着型イメージセンサでは、原稿からの反射光は、主走査方向に配列された複数のロッドレンズ４２０（ロッドレンズアレイ４２）によりセンサ４３０に集光されるため、入力される光量はロッドレンズ４２０の配列間隔とほぼ同じ周期で変化する。したがって、シェーディングデータ（白色基準部材からの反射光の光量）もロッドレンズ４２０の配列間隔と略同じ周期で変化する。

例えば、ロッドレンズ４２０の配列間隔は１４画素相当であるため、図７に示すようにシェーディングデータにも１４画素周期の変動が現れている。ここで、白色基準部材の表面に紙粉などの異物があった場合は、異物箇所のシェーディングデータは、出力レベルが低下又は上昇する。この異物による出力レベルの変化量を抽出すると、抽出した変化量が所定の閾値を越えた場合に異物ありと判断することができる。

ただし、例えば図８に示したように、複数のロッドレンズ４２０による周期的な光量の変動量が１０ｄｉｇｉｔであり、異物による変化量も１０ｄｉｇｉｔであり、異物ありと判定する閾値を５ｄｉｇｉｔとすると、誤って異物の判定がなされる。つまり、異物がある画素データａと、異物がない画素データｂと比較した場合、差分が略０ｄｉｇｉｔになるため、異物なしと判断されてしまう。また、異物がない画素データｂと、異物がない画素データｃとを比較した場合は、差分が１０ｄｉｇｉｔとなり、異物ありと判断されてしまう。このように、第１補正部６４及び第２補正部６５が補正を行う前に、第１記憶部６０が記憶しているシェーディングデータでは、有効でない画素データを精度よく検出することができないために、精度よくシェーディングデータを生成することを可能にできない。

次に、白補正部６を有するＡＤＦ１０が精度よくシェーディングデータを生成するために行う処理について説明する。図９は、白補正部６を有するＡＤＦ１０が精度よくシェーディングデータを生成するために行う処理を示すフローチャートである。

ステップ１００（Ｓ１００）において、黒補正部５０４は、センサ５０１のオフセット成分を除去するために必要となる光源部５００がオフの状態（光源消灯時）の読取データを取得し、画素毎の黒レベルデータを生成する。

ステップ１０２（Ｓ１０２）において、コントローラ１１は、光源部５００を点灯させる（光源点灯）。

ステップ１０４（Ｓ１０４）において、センサ５０１は、基準白板などの白色基準部材を読み取る。

ステップ１０６（Ｓ１０６）において、黒補正部５０４は、Ｓ１０４の処理で読取った画素データから、Ｓ１００の処理で生成した黒レベルデータを減じることにより、シェーディングデータを生成する（黒補正）。

ステップ１０８（Ｓ１０８）において、コントローラ１１は、Ｓ１０６の処理で生成したシェーディングデータを第１記憶部６０に格納する。

ステップ１１０（Ｓ１１０）において、白補正部６は、画素毎にシェーディングデータが有効であるか否かの判定（異常判定）を行い、有効でない（異常あり）と判定した画素データを補正する。

ステップ１１２（Ｓ１１２）において、白補正部６は、Ｓ１１０の処理で補正した画素データを第１記憶部６０に格納する。つまり、第１記憶部６０には、異物の影響が除去されたシェーディングデータが格納される。

図１０は、白補正部６を有するＡＤＦ１０がシェーディングデータに対して行う判定（異常判定）と、画素データを補正するために行う処理の詳細を示すフローチャートである。

ステップ２００（Ｓ２００）において、コントローラ１１は、異常判定対象の画素（注目画素）の主走査方向の位置を示すポインタＰを初期化する。例えば、コントローラ１１は、ポインタＰの値を１５とする。

ステップ２０２（Ｓ２０２）において、第１比較部６１及び第２比較部６２は、第１記憶部６０からポインタＰが示す画素データ（ＳＤ０：注目画素）を読み出す。

ステップ２０４（Ｓ２０４）において、第１比較部６１は、第１記憶部６０からポインタ（Ｐ＋１４）が示す画素データを読み出し、第１比較画素データ（ＳＤ１）とする。

ここで、第１比較部６１は、複数のロッドレンズ４２０（ロッドレンズアレイ４２）による周期的な光量変動を考慮して、ロッドレンズ４２０の配列間隔の略整数倍（例えば１倍）離れた位置の画素データを第１比較画素データとしている。ただし、第１比較画素データの位置は、異常判定対象の画素に対してなるべく近いほうが、シェーディングデータの主走査方向における緩やかな変動の影響等による誤差が小さくなるため望ましい。ここでは、第１比較画素データは、異常判定対象となる画素位置からロッドレンズ４２０の配列間隔の１周期にあたる１４画素分離れた画素データとされている。よって、第１比較部６１は、第１記憶部６０からポインタ（Ｐ＋１４）が示す画素データを読み出している。

ステップ２０６（Ｓ２０６）において、第１比較部６１は、異常判定対象の画素データと第１比較画素データの差分の絶対値を下式１によって算出する。

△ＳＤ１＝｜ＳＤ０−ＳＤ１｜ ・・・（１）

ステップ２０８（Ｓ２０８）において、第１比較部６１は、△ＳＤ１が所定の閾値（例えば５ｄｉｇｉｔ）を超えているか否かを判定する。△ＳＤ１が所定の閾値を超えている場合、ＳＤ０及びＳＤ１のいずれかに異常があるとしている。コントローラ１１は、△ＳＤ１が所定の閾値を超えていると第１比較部６１が判定した場合（Ｓ２０８：Ｙｅｓ）には、Ｓ２１０の処理に進む。また、コントローラ１１は、△ＳＤ１が所定の閾値以下であると第１比較部６１が判定した場合（Ｓ２０８：Ｎｏ）には、Ｓ２１８の処理に進む。

ステップ２１０（Ｓ２１０）において、第２比較部６２は、第１記憶部６０からポインタ（Ｐ−１４）が示す画素データを読み出し、第２比較画素データ（ＳＤ２）とする。

ここで、第２比較部６２は、第１比較画素データとは異なる位置の画素データであり、且つ複数のロッドレンズ４２０（ロッドレンズアレイ４２）による周期的な光量変動を考慮して、ロッドレンズ４２０の配列間隔の略整数倍（例えば１倍）離れた位置の画素データを第２比較画素データとしている。ただし、第２比較画素データの位置は、異常判定対象の画素に対してなるべく近いほうが、シェーディングデータの主走査方向における緩やかな変動の影響等による誤差が小さくなるため望ましい。ここでは、第２比較画素データは、異常判定対象となる画素位置からロッドレンズ４２０の配列間隔の−１周期分離れた画素データとされている。よって、第２比較部６２は、第１記憶部６０からポインタ（Ｐ−１４）が示す画素データを読み出している。

ステップ２１２（Ｓ２１２）において、第２比較部６２は、異常判定対象の画素データと第２比較画素データの差分の絶対値を下式２によって算出する。

△ＳＤ２＝｜ＳＤ０−ＳＤ２｜ ・・・（２）

ステップ２１４（Ｓ２１４）において、第２比較部６２は、△ＳＤ２が所定の閾値（例えば５ｄｉｇｉｔ）を超えているか否かを判定する。コントローラ１１は、△ＳＤ２が所定の閾値を超えていると第２比較部６２が判定した場合（Ｓ２１４：Ｙｅｓ）には、Ｓ２１６の処理に進む。また、コントローラ１１は、△ＳＤ２が所定の閾値以下であると第２比較部６２が判定した場合（Ｓ２１４：Ｎｏ）には、Ｓ２１８の処理に進む。

ステップ２１６（Ｓ２１６）において、判定部６３は、第１比較部６１が比較した結果、及び第２比較部６２が比較した結果のいずれもが予め定められた閾値（例えば５ｄｉｇｉｔ）を超える相違を示していることにより、注目画素（ＳＤ０）の画素データは有効でない（異常である）と判定する。そして、第１補正部６４は、異常判定対象の画素データ（ＳＤ０）を第１比較画素データ（ＳＤ１）で置換し、第１記憶部６０に書き込む（ＳＤ０←ＳＤ１）。なお、第１補正部６４は、異常判定対象の画素データ（ＳＤ０）を第１比較画素データ（ＳＤ１）に代えて第２比較画素データ（ＳＤ２）で置換し、第１記憶部６０に書き込んでもよい（ＳＤ０←ＳＤ２）。

ステップ２１８（Ｓ２１８）において、コントローラ１１は、処理した画素が最終画素か否かを判定する。コントローラ１１は、処理した画素が最終画素でない場合（Ｓ２１８：Ｎｏ）には、Ｓ２２０の処理に進む。また、コントローラ１１は、処理した画素が最終画素である場合（Ｓ２１８：Ｙｅｓ）には、処理を終了する。

ステップ２２０（Ｓ２２０）において、コントローラ１１は、異常判定対象の画素の位置を示すポインタをインクリメント（Ｐ＝Ｐ＋１）し、Ｓ２０２の処理に進む。

なお、シェーディングデータの主走査方向の両端側の画素（先端側１４画素、後端側１４画素）に関しては、図１０に示した例では比較する画素データがないため、異常判定ができないことになる。しかし、主走査方向両端側の画素に対しては、比較する画素データを異常判定対象の画素の前後に１４画素離れた画素ではなく、後方に１４画素離れた画素と２８画素離れた画素、又は前方に１４画素離れた画素と２８画素離れた画素とすれば、異常判定ができる。又は、シェーディングデータの主走査方向両端側に対しては、予め異常判定範囲から除外しておけばよい。このとき、画像読取装置のイメージセンサの読取範囲は、通常、原稿読取領域よりも大きいため、主走査両端側の画素データは画像読取りに使われないことが多く、大きな問題とはならない。

また、ＡＤＦ１０は、異常判定対象となる画素データＳＤ０と比較画素データ（ＳＤ１、ＳＤ２）との比較は、差分でなくてもよい。例えば、ＡＤＦ１０は、比率（ＳＤ１／ＳＤ０、１−ＳＤ１／ＳＤ０など）と所定の閾値とを比較して異常判定をすることにより、異物範囲を検出するように構成されてもよい。

図１１は、ＡＤＦ１０がシェーディングデータに対して異常判定を行った結果を示す図である。図１１（ａ）は、主走査方向における異常判定対象のシェーディングデータ（ＳＤ０）を示す。図１１（ｂ）は、ＳＤ０と比較される第１比較画素データ（ＳＤ１）を示す。また、図１１（ｃ）は、ＳＤ０と比較される第２比較画素データ（ＳＤ２）を示す。

なお、第１比較画素データＳＤ１は、シェーディングデータＳＤ０の位相をロッドレンズアレイ４２による周期変動の１周期分（＋１４画素）ずらしたデータとする。また、第２比較画素データＳＤ２は、シェーディングデータＳＤ０の位相をロッドレンズアレイ４２による周期変動の−１周期分（−１４画素）ずらしたデータとする。

ここで、第１比較部６１がＳＤ０とＳＤ１の差分の絶対値△ＳＤ１を算出すると、図１１（ｄ）に示すように、ロッドレンズアレイ４２による光量の周期的な変動分が除去される。よって、白色基準部材に付着した異物による変動成分が抽出できるため、△ＳＤ１の各画素は、所定の閾値（Ｔ）より大きい場合には異常である可能性があると判断される。

この時点では、位置Ｐ＝ｎ付近の画素データと、位置Ｐ＝ｎから−１４画素離れた位置のＰ＝ｎ−１４付近の画素データのどちらかに異物があることになる。つまり、位置Ｐ＝ｎ−１４付近において、ＳＤ０には異物がない。しかし、異物のあるＳＤ１との差分が算出されるため、位置Ｐ＝ｎ−１４付近においても異物による変動成分が抽出されてしまう。

次に、第２比較部６２がＳＤ０とＳＤ２の差分の絶対値△ＳＤ２を算出すると、図１１（ｅ）に示すように、ロッドレンズアレイ４２による光量の周期的な変動分が除去される。よって、白色基準部材に付着した異物による変動成分が抽出できるため、△ＳＤ２の各画素は、所定の閾値より大きい場合には異常である可能性があると判断される。

ここで、判定部６３は、△ＳＤ１で異常である可能性があると判断され、△ＳＤ２でも異常である可能性があると判断された位置を、異物がある範囲（画素列）と判定する。つまり、精度よくシェーディングデータを生成することを可能にしている。

そして、第１補正部６４は、判定部６３が異物範囲と判定した位置において、ＳＤ０の画素データを、ＳＤ１又はＳＤ２の画素データに置き換えて第１記憶部６０に格納する。つまり、ロッドレンズアレイ４２による光量の周期的な変動を再現でき、精度のよいシェーディングデータを生成することができる。

次に、第１比較画素及び第２比較画素の位置について説明する。第１比較画素及び第２比較画素の位置は、白色基準部材へ付着することなどによりシェーディングデータに有効でない（異常である）画素データを生じさせる異物の大きさに応じて予め又は設定により決定される。

つまり、ユーザがシェーディングデータから除去したい有効でない画素列の長さ（検出対象の異物の大きさに相当）に応じて、第１比較画素及び第２比較画素の位置は決定される。ここで、異物の大きさは、複数の隣接する画素の画素データが有効でないことを判定部６３が判定すべき複数の隣接する画素が形成する画素列により示される。例えば、第１比較画素データ及び第２比較画素データの位置は、ユーザが操作部（設定部）１２１を介して入力したデータに応じて設定される。

例えば、シェーディングデータＳＤ０のユーザが除去したい異物範囲が６００ｄｐｉで２４画素（約１ｍｍの異物を検出可能）の場合、第１比較画素データは、異常検出対象画素から２４画素以上離れており、且つロッドレンズ４２０の配列間隔の略整数倍の位置の画素データとなればよい。つまり、第１比較画素データは、異常検出対象画素から２８画素（２周期）分離れた位置の画素データとなる。ここで、２４画素は、検出対象の異物の大きさに相当する設定された画素列の最短長である。

また、第２比較画素データは、異常検出対象画素から２４画素以上離れており、且つロッドレンズ４２０の配列間隔の略整数倍の位置の第１比較画素データとは異なる画素データとされる。

ただし、例えば図１２（ｂ）、（ｃ）に示したように、第１比較画素データを異常判定対象画素（注目画素）から前方に２周期分離れた位置の画素データとし、第２比較画素データを前方に３周期分離れた位置の画素データとした場合、検出（有効でないと判定）される異物範囲は、図１２（ｅ）に示した異物範囲Ａ，Ｂの２箇所となる。つまり、異物範囲Ｂは、本来異物がない範囲にも関わらず異物があると判定されてしまう。

このように、第１比較画素データと第２比較画素データの位置関係は、シェーディングデータから除去（又は検出）したい異物範囲の大きさに応じて設定されなければ、異物範囲の誤検出を生じさせる可能性がある。

そこで、注目画素と第２比較画素との間隔は、注目画素と第１比較画素との間隔の略２倍以上の間隔であるように設定されることにより、異物範囲の誤検出を防止することができる。例えば、図１３に示したように、異物範囲が２４画素である場合、注目画素と第１比較画素との間隔はロッドレンズ４２０の２周期分（２８画素）に設定され、注目画素と第２比較画素との間隔はロッドレンズ４２０の４周期分（５６画素）に設定される。なお、検出対象の異物の大きさに相当する画素列の最短長は、ユーザの操作に応じて操作部１２１が設定する。

つまり、白補正部６は、第１比較部６１、第２比較部６２及び判定部６３によって有効でない画素データを精度よく検出することができ、第１補正部６４が画素データを補正するので、精度よくシェーディングデータを生成することができる。

（白補正部の変形例）
次に、白補正部６の変形例について説明する。図１４は、白補正部６の変形例（白補正部６ａ）の概要を示す機能ブロック図である。図１４に示すように、白補正部６ａは、第２記憶部６６、除去部６７、第１記憶部６０、第１比較部６１、第２比較部６２、判定部６３、第１補正部６４及び第２補正部６５を有する。なお、図１４に示した白補正部６ａを構成する各部において、図６に示した白補正部６を構成する各部と実質的に同一の機能を有する部分には同一の符号が付してある。

第２記憶部６６は、例えば揮発性メモリなどであり、黒補正部５０４がオフセット成分を除去した画素データ（シェーディングデータ）を記憶する。なお、第２記憶部６６は、少なくともＡＤＦ１０が白色基準部材を読取る動作を行った場合に、シェーディングデータを記憶する。

図１５は、除去部６７が低周波数成分を除去する前後のシェーディングデータを示す図である。図１５（ａ）に示すように、主走査方向端部のシェーディングデータは、主走査方向の緩やかな変動（低周波数成分）による光量の低下と、複数のロッドレンズ４２０による周期的な光量の変動とを含む。このため、異物がない範囲でも異常判定対象画素データと比較画素データの差が大きくなり、判定部６３が異常と判定してしまい誤検出が発生してしまう可能性がある。

まず、除去部６７は、第２記憶部６６が記憶しているシェーディングデータを平滑化することにより、シェーディングデータの低周波数成分を抽出する。次に、除去部６７は、第２記憶部６６が記憶しているシェーディングデータから、抽出したシェーディングデータの低周波数成分を減じる。これにより、除去部６７は、図１５（ｂ）に示した低周波数成分を除去したシェーディングデータ（ＦＳＤ０）を算出することができる。低周波数成分を除去したシェーディングデータ（ＦＳＤ０）は、ロッドレンズアレイ４２による光量の周期変動と、異物による変動とを含むデータである。そして、除去部６７は、低周波数成分を除去したシェーディングデータを上書きとして第２記憶部６６に記憶させる。

第１比較部６１は、除去部６７が低周波数成分を除去したシェーディングデータにおける注目画素及び第１比較画素の画素データを比較する。第２比較部６２は、除去部６７が低周波数成分を除去したシェーディングデータにおける注目画素及び第２比較画素の画素データを比較する。

判定部６３は、第１比較部６１が比較した結果、及び第２比較部６２が比較した結果のいずれもが予め定められた閾値を超える相違を示す場合に、シェーディングデータ（ＦＳＤ０）における注目画素の画素データは有効でないと判定する。

第１補正部６４は、シェーディングデータ（ＦＳＤ０）における有効でないと判定部６３が判定した注目画素と、第１比較画素（又は第２比較画素）のそれぞれの画素位置を用いて、画素位置が対応している第１記憶部６０が記憶した（低周波数成分を除去されていない）シェーディングデータにおける注目画素の画素データを補正する。つまり、第１補正部６４は、画素位置が対応している第１比較画素（又は第２比較画素）の画素データによって注目画素の画素データを置換することにより、第１記憶部６０が記憶している（低周波数成分を除去されていない）シェーディングデータにおける画素データを補正する。

第２補正部６５は、第１記憶部６０が記憶する原稿画像を示す画素データに対し、（補正されたシェーディングデータを用いて）照射部のムラやセンサ４３０（センサ５０１）の感度不均一による画像データへの影響の除去をする白補正を行う。また、第２補正部６５は、白色基準部材の読み取り結果と過去の白色基準部材の読み取り結果との比較に基づいて光量低下の度合い（補正係数）を求め、シェーディングデータをさらに補正する機能も有する。

なお、第２記憶部６６は、第１記憶部６０が有する機能を全て備えていてもよい。また、第２記憶部６６及び第１記憶部６０は、例えば１つの揮発性メモリ内に構成され、低周波数成分を除去したシェーディングデータ、補正されたシェーディングデータ、及び原稿画像を示す画素データを記憶するように構成されてもよい。

図１６は、変形例の白補正部６ａを有するＡＤＦ１０がシェーディングデータに対して行う判定（異常判定）と、画素データを補正するために行う処理の詳細を示すフローチャートである。

ステップ３００（Ｓ３００）において、コントローラ１１は、異常判定対象の画素（注目画素）の主走査方向の位置を示すポインタＰを初期化する。例えば、コントローラ１１は、ポインタＰの値を１５とする。

ステップ３０２（Ｓ３０２）において、第１比較部６１及び第２比較部６２は、第２記憶部６６からポインタＰが示す画素データ（ＦＳＤ０：注目画素）を読み出す。

ステップ３０４（Ｓ３０４）において、第１比較部６１は、第２記憶部６６からポインタ（Ｐ＋１４）が示す画素データを読み出し、第１比較画素データ（ＦＳＤ１）とする。

ステップ３０６（Ｓ３０６）において、第１比較部６１は、異常判定対象の画素データと第１比較画素データの差分の絶対値を下式３によって算出する。

△ＦＳＤ１＝｜ＦＳＤ０−ＦＳＤ１｜ ・・・（３）

ステップ３０８（Ｓ３０８）において、第１比較部６１は、△ＦＳＤ１が所定の閾値（例えば５ｄｉｇｉｔ）を超えているか否かを判定する。△ＦＳＤ１が所定の閾値を超えている場合、ＦＳＤ０及びＦＳＤ１のいずれかに異常があるとしている。コントローラ１１は、△ＦＳＤ１が所定の閾値を超えていると第１比較部６１が判定した場合（Ｓ３０８：Ｙｅｓ）には、Ｓ３１０の処理に進む。また、コントローラ１１は、△ＦＳＤ１が所定の閾値以下であると第１比較部６１が判定した場合（Ｓ３０８：Ｎｏ）には、Ｓ３１８の処理に進む。

ステップ３１０（Ｓ３１０）において、第２比較部６２は、第２記憶部６６からポインタ（Ｐ−１４）が示す画素データを読み出し、第２比較画素データ（ＦＳＤ２）とする。

ステップ３１２（Ｓ３１２）において、第２比較部６２は、異常判定対象の画素データと第２比較画素データの差分の絶対値を下式４によって算出する。

△ＦＳＤ２＝｜ＦＳＤ０−ＦＳＤ２｜ ・・・（４）

ステップ３１４（Ｓ３１４）において、第２比較部６２は、△ＦＳＤ２が所定の閾値（例えば５ｄｉｇｉｔ）を超えているか否かを判定する。コントローラ１１は、△ＦＳＤ２が所定の閾値を超えていると第２比較部６２が判定した場合（Ｓ３１４：Ｙｅｓ）には、Ｓ３１６の処理に進む。また、コントローラ１１は、△ＦＳＤ２が所定の閾値以下であると第２比較部６２が判定した場合（Ｓ３１４：Ｎｏ）には、Ｓ３１８の処理に進む。

ステップ３１６（Ｓ３１６）において、判定部６３は、第１比較部６１が比較した結果、及び第２比較部６２が比較した結果のいずれもが予め定められた閾値（例えば５ｄｉｇｉｔ）を超える相違を示していることにより、第２記憶部６６が記憶している注目画素（ＦＳＤ０）に対応する画素位置の第１記憶部６０が記憶している注目画素（ＳＤ０）の画素データは有効でない（異常である）と判定する。そして、第１補正部６４は、異常判定対象の画素データ（ＳＤ０：Ｐ）を第１比較画素データ（ＳＤ１：Ｐ＋１４）で置換し、第１記憶部６０に書き込む（ＳＤ０←ＳＤ１）。なお、第１補正部６４は、異常判定対象の画素データ（ＳＤ０）を第１比較画素データ（ＳＤ１）に代えて第２比較画素データ（ＳＤ２）で置換し、第１記憶部６０に書き込んでもよい（ＳＤ０←ＳＤ２）。

ステップ３１８（Ｓ３１８）において、コントローラ１１は、処理した画素が最終画素か否かを判定する。コントローラ１１は、処理した画素が最終画素でない場合（Ｓ３１８：Ｎｏ）には、Ｓ３２０の処理に進む。また、コントローラ１１は、処理した画素が最終画素である場合（Ｓ３１８：Ｙｅｓ）には、処理を終了する。

ステップ３２０（Ｓ３２０）において、コントローラ１１は、異常判定対象の画素の位置を示すポインタをインクリメント（Ｐ＝Ｐ＋１）し、Ｓ３０２の処理に進む。

このように、白補正部６ａを有するＡＤＦ１０は、異常判定対象となるシェーディングデータに主走査方向の緩やかな変動があった場合にも、予め低周波成分を除去したシェーディングデータに対して異常判定を行うので、精度のよいシェーディングデータを生成することができる。

なお、上記実施の形態では、本発明の画像形成装置１をコピー機能、プリンタ機能、スキャナ機能及びファクシミリ機能のうち少なくとも２つの機能を有する複合機に適用した例を挙げて説明したが、複写機、スキャナ装置、ファクシミリ装置等の画像読取装置を備える画像形成装置であれば、いずれにも適用することができる。

１ 画像形成装置
６、６ａ 白補正部
１０ ＡＤＦ（画像読取装置）
１１ コントローラ
４０、５００ 光源部
４１ 導光体
４２ ロッドレンズアレイ
４３ センサ基板
６０ 第１記憶部
６１ 第１比較部
６２ 第２比較部
６３ 判定部
６４ 第１補正部
６５ 第２補正部
６６ 第２記憶部
６７ 除去部
１１３ 第２読取部
１４６ 第２読取ローラー（白色基準部材）
４２０ ロッドレンズ
４３０、５０１ センサ
５０３ Ａ／Ｄ変換部
５０４ 黒補正部
５０６ 画像処理部

特許第３０９６５９８号公報 特許第４７３７０４４号公報

Claims (6)

1. 一方向に延びて光を照射する照射部と、
   前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を画素ごとに光電変換し、配列された複数の画素を示す複数の画素データに変換する光電変換素子と、
   前記照射部が照射する光の反射光又は透過光を前記光電変換素子に結像する略同じ直径の配列された複数のレンズと、
   前記照射部が白色基準部材に照射する光の反射光を前記レンズそれぞれが前記光電変換素子に結像した場合に、前記光電変換素子が変換する複数の画素データに対し、前記照射部が延びる方向の低周波数成分を抽出して除去する除去部と、
   前記除去部が前記低周波数成分を除去した複数の画素データにおける注目画素の画素データと、前記注目画素から前記レンズの配列間隔の略整数倍の離れた位置にある第１比較画素の画素データとを比較する第１比較部と、
   前記注目画素の画素データと、前記第１比較画素とは異なる画素であり前記注目画素から前記レンズの配列間隔の略整数倍の離れた位置にある第２比較画素の画素データとを比較する第２比較部と、
   前記第１比較部が比較した結果、及び前記第２比較部が比較した結果のいずれもが予め定められた閾値を超える相違を示す場合に、前記注目画素の画素データは有効でないと判定する判定部と、
   前記除去部が前記低周波数成分を除去する前の前記複数の画素データを、前記判定部が有効でないと判定した注目画素に対応する画素データを前記第１比較画素又は前記第２比較画素に対応する画素データにより置換することにより補正する補正部と、
   を有することを特徴とする画像読取装置。
2. 前記注目画素と前記第２比較画素との間隔は、前記注目画素と前記第１比較画素との間隔の略２倍以上の間隔であること
   を特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
3. 前記第１比較画素及び前記第２比較画素は、複数の隣接する画素の画素データが有効でないことを前記判定部が判定すべき複数の隣接する画素が形成する画素列の最短長よりも前記注目画素からそれぞれ離れていること
   を特徴とする請求項１又は２に記載の画像読取装置。
4. 前記画素列の最短長を設定する設定部をさらに有すること
   を特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
5. 請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像読取装置と、
   前記画像読取装置の前記補正部での補正により得られる複数の画素データに基づいて画像を形成する画像形成部と、
   を有する画像形成装置。
6. 一方向に延びた照射部が照射する光の反射光又は透過光を略同じ直径の配列された複数のレンズが光電変換素子に結像し、前記光電変換素子により、前記光の反射光又は前記透過光を画素ごとに光電変換し、配列された複数の画素を示す複数の画素データに変換する工程と、
   前記照射部が白色基準部材に照射する光の反射光を略同じ直径の配列された前記複数のレンズが前記光電変換素子に結像した場合に、前記光電変換素子が変換する複数の画素データに対し、前記照射部が延びる方向の低周波数成分を抽出して除去する工程と、
   前記低周波数成分を除去した複数の画素データにおける注目画素の画素データと、前記注目画素から前記レンズの配列間隔の略整数倍の離れた位置にある第１比較画素の画素データとを比較する工程と、
   前記注目画素の画素データと、前記第１比較画素とは異なる画素であり前記注目画素から前記レンズの配列間隔の略整数倍の離れた位置にある第２比較画素の画素データとを比較する工程と、
   比較した結果のいずれもが予め定められた閾値を超える相違を示す場合に、前記注目画素の画素データは有効でないと判定する工程と、
   前記低周波数成分を除去する前の前記複数の画素データを、前記有効でないと判定した注目画素に対応する画素データを前記第１比較画素又は前記第２比較画素に対応する画素データにより置換することにより補正する工程と、
   を含むことを特徴とする画像読取り方法。

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