JP6340983B2 - シェーディング補正装置、および画像処理装置 - Google Patents

Description

本発明は、シェーディング補正装置、および画像処理装置に関する。

画像読取装置において、読み取り光学系の主走査位置毎の光量分布のばらつき、およびセンサチップ画素毎の感度のばらつきを補正するために、シェーディング補正が行われる。具体的には、例えば白色の濃度基準部材の読み取り結果（シェーディングデータ）を用いて、入力データのシェーディング補正を行う。

特許文献１（特開２０１０−０１１２９７号公報）には、初期のシェーディングデータと、原稿を読み取る直前に取得したシェーディングデータとの光量が異なることで、ロッドレンズ周期ムラの振幅の変化を低減した画像処理装置が開示されている。この画像処理装置は、汚れの無い初期のシェーディングデータに光量比（初期のシェーディングデータと原稿を読み取る直前に取得したシェーディングデータの主走査全域、または主走査の特定エリア平均値の比）を補正して置き換えて補間する。これにより、上述の光量の違いから生ずるロッドレンズ周期ムラの振幅の変化を低減できる。

しかし、特許文献１に開示されている画像処理装置を含む従来の技術においては、汚れを検知して初期のシェーディングデータに置き換えた箇所に、縦スジが発生する不都合を生じていた。すなわち、原稿を読み取る直前に取得したシェーディングデータと初期のシェーディングデータとの間において、リップルムラによる振幅差がロッドレンズの間隔で発生する。これにより、縦スジが発生する。このため、従来は、正確なシェーディング補正が行われているとは言い難い問題があった。

本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、正確なシェーディング補正が可能なシェーディング補正装置、および画像処理装置の提供を目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、濃度基準部材から読み取った基準となるシェーディングデータである初期データから第１の直流成分データを抽出する第１の直流成分抽出部と、抽出された第１の直流成分データと初期データとの差分となる第１の交流成分データを抽出する第１の交流成分抽出部と、初期データよりも時間的に後から濃度基準部材から読み取ったシェーディングデータである現在データから第２の直流成分データを抽出する第２の直流成分抽出部と、抽出された第２の直流成分データと初期データとの差分となる第２の交流成分データを抽出する第２の交流成分抽出部と、第１の交流成分データの絶対値の最大値である第１の最大値を検出する第１のピーク検出部と、第２の交流成分データの絶対値の最大値である第２の最大値を検出する第２のピーク検出部と、第２の最大値を第１の最大値で除算処理することで、シェーディングデータの交流補正倍率を算出する補正倍率計算部と、交流補正倍率を乗算処理した第１の交流成分データに第１の直流成分データを加算処理することで、補正したシェーディングデータを生成する補正データ生成部と、補正したシェーディングデータを用いて、入力データにシェーディング補正処理を施して出力するシェーディング補正部を有する。

本発明によれば、正確なシェーディング補正を行うことができるという効果を奏する。

図１は、読み取りモジュール（ＣＩＳ）の模式図である。 図２は、主走査光量分布のリップルの振幅が変動する理由を説明するための図である。 図３は、リップルの振幅差により、出力原稿または出力データに発生する縦スジを説明するための図である。 図４は、本発明の第１の実施の形態となる複合機（ＭＦＰ）の断面図である。 図５は、第１の実施の形態のＭＦＰに設けられている自動原稿搬送機構の断面図である。 図６は、第１の実施の形態のＭＦＰに設けられている自動原稿搬送機構を制御するコントローラ、および、コントローラの周辺回路のブロック図である。 図７は、第１の実施の形態のＭＦＰに設けられている第２読取部のブロック図である。 図８は、第１の実施の形態のＭＦＰの白補正部のブロック図である。 図９は、第１の実施の形態のＭＦＰの白補正部における、原稿読取時シェーディングデータの交流成分の抽出動作を説明するための図である。 図１０は、第１の実施の形態のＭＦＰの白補正部における、補正したシェーディングデータの生成動作を説明するための図である。 図１１は、第１の実施の形態のＭＦＰの白補正部における、初期シェーディングデータと原稿読取時シェーディングデータとの間の振幅差を是正するシェーディングデータの生成動作を説明するための図である。 図１２は、濃度基準部材に付着していた汚れの影響で、原稿読取時シェーディングデータに特異的なレベル変動が生じている様子を示す図である。 図１３は、第２の実施の形態のＭＦＰの白補正部のブロック図である。 図１４は、第２の実施の形態のＭＦＰの白補正部における、補正したシェーディングデータの生成動作を説明するための図である。 図１５は、第３の実施の形態のＭＦＰの白補正部のブロック図である。 図１６は、第３の実施の形態のＭＦＰの白補正部における、補正したシェーディングデータの生成動作を説明するための図である。 図１７は、シェーディング補正でデータに特異的なレベル変動が生じた際の不都合を説明するための図である。 図１８は、第４の実施の形態のＭＦＰの白補正部のブロック図である。 図１９は、第４の実施の形態のＭＦＰの白補正部における、補正したシェーディングデータの生成動作を説明するための図である。 図２０は、第５の実施の形態のＭＦＰの白補正部のブロック図である。 図２１は、第５の実施の形態のＭＦＰの白補正部における、補正したシェーディングデータの生成動作を説明するための図である。

以下、一例として、本発明を適用した実施の形態の複合機（ＭＦＰ：Multifunction Peripheral）を、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、ＭＦＰは、例えば印刷機能、複写機能、スキャナ機能、およびファクシミリ機能のうち、１つまたは２つ以上の機能を有する電子機器である。

（概要）
ＭＦＰ等の画像の読み取りを行う電子機器において、読み取り光学系の主走査位置毎の光量分布のばらつき、およびセンサチップ画素毎の感度のばらつきを補正するために、シェーディング補正が行われる。具体的には、所定の白色を有する濃度基準部材の読み取り結果（シェーディングデータ）を「ＳＤ」、入力データを「Ｄｉｎ」とし、以下の数１式の演算を行うことで、入力データに対してシェーディング補正を施した結果である「Ｄｏｕｔ」を得るようになっている。

Ｄｏｕｔ＝Ｄｉｎ／ＳＤ・・・（数１式）

ここで、シェーディング補正に用いるシェーディングデータの生成時に、濃度基準部材に汚れが付着していると、汚れが付着している箇所のシェーディングデータの値は、正確なシェーディング補正が困難な値となる。これは、例えばライン状のイメージセンサ等の読み取り光学系の主走査方向（画素が並べられている方向）に沿って、濃度基準部材に付着している汚れが付着している箇所に対応する画素の画素データが正確にシェーディング補正されないことを意味している。このため、主走査方向に対して２次元方向に直交する副走査方向に読み取り光学系を走査して生成される１枚の画像上に、濃度基準部材に汚れが付着していた箇所に対応するスジ状のノイズが現れる不都合を生ずる。

具体的には、濃度基準部材に黒い汚れが付着していた場合、黒い汚れにより、読み取り光が吸収され、また、乱反射することで、黒い汚れの付着箇所に対応する画素に対する入射光が、他の箇所よりも少なくなり、生成されるシェーディングデータの値に落ち込みが生ずる。この落ち込みが生じたシェーディングデータをシェーディング補正に用いると、上述の数１式の分母の値が小さくなるため、シェーディング補正結果が大きな値となり、白スジが発生する（シェーディング補正不足）。同様に、濃度基準部材に白い汚れが付着していた場合、白い汚れにより、読み取り光の反射量が多くなる。このため、白い汚れの付着箇所に対応する画素に対する入射光が、他の箇所よりも多くなり、生成されるシェーディングデータの値が大きな値となる。この大きな値となったシェーディングデータをシェーディング補正に用いると、上述の数１式の分母の値が大きくなるため、シェーディング補正結果が小さな値となり、黒スジが発生する（シェーディング補正過多）。

このようなスジ状のノイズの発生を防止するために、シェーディングデータの生成時に、画像読取部のイメージセンサと濃度基準部材との相対的な位置を、可動機構で変更することで、濃度基準部材の汚れおよびキズ等の影響を低減することが考えられる。すなわち、副走査方向にイメージセンサを移動させながら濃度基準部材の複数箇所の読み取りを行う。そして、読み取りを行った複数個所に対応する各シェーディングデータを平均化する。これにより、汚れおよびキズ等の影響を低減したシェーディングデータを生成できる。または、回転ローラで形成した濃度基準部材を回転させながら複数箇所の読み取りを行う。これにより、汚れおよびキズ等の影響を低減したシェーディングデータを生成できる。

しかし、原稿の裏面を読み取るための密着型イメージセンサ（ＣＩＳ：Compact Image Sensor）等の読み取りモジュールは、ＡＤＦ（Auto Document Feeder）装置内の小スペースに固定して設けられることが多い。このため、濃度基準部材および可動機構をＡＤＦ装置内に設けると、ＡＤＦ装置の複雑化、大型化およびコスト高を招く。

ここで、以下の手法により、可動機構を設けなくても濃度基準部材の汚れやキズの影響を低減できる。すなわち、不揮発性のメモリに、予め清浄な濃度基準部材で取得した初期のシェーディングデータを格納しておく。初期のシェーディングデータと、原稿を読み取る直前に取得したシェーディングデータとを対比する。対比結果が所定以上の画素位置のデータを、汚れまたはキズ等の影響を受けたデータとして判定する。そして、汚れの影響を受けたデータを、汚れの無い初期のシェーディングデータに光量比を補正して置き換えて補間する。なお、光量比は、初期のシェーディングデータと原稿を読み取る直前に取得したシェーディングデータとの主走査全域、または主走査の特定エリア平均値の比である。これにより、可動機構を設けなくても濃度基準部材の汚れやキズの影響を低減できる。

しかし、このような手法においても、汚れを検知して初期のシェーディングデータに置き換えた箇所において、原稿を読み取る直前に取得したシェーディングデータと初期のシェーディングデータのロッドレンズ間隔で発生するリップルムラの振幅差に起因する縦スジが発生する。

以下、具体的に説明する。図１に読み取りモジュール（ＣＩＳ）の模式図を示す。図１の（ａ）の符号を付した図は、読み取りモジュールの要部の分解斜視図である。図１の（ｂ）の符号を付した図は、読み取りモジュールの、要部の拡大図である。図１の（ｃ）の符号を付した図は、読み取りモジュールの各ロッドレンズに対応する出力波形を示す図である。

図１の（ａ）の符号を付した図に示すように、読み取りモジュールは、棒状の導光体１と、導光体１の両端部にそれぞれ設けられたＬＥＤ等の光源部２とを有している。ＬＥＤは、「Light Emitting Diode」の略記である。導光体１は、光源部２からの光を、濃度基準部材および原稿等に照射する。また、読み取りモジュールは、濃度基準部材および原稿等に照射した光の反射光を読み取り信号に変換するラインセンサ３を有している。ラインセンサ３は、図１の（ｂ）の符号を付した拡大図からわかるように、複数の読み取りセンサ（以下、画素という）３ａが、主走査方向に沿ってライン状に配置されて形成されている。また、読み取りモジュールは、濃度基準部材および原稿等に照射された光の反射光をラインセンサ３に集光するロッドレンズアレイ４を有している。ロッドレンズアレイ４は、図１の（ｂ）の符号を付した拡大図からわかるように、複数のロッドレンズ４ａを、主走査方向に沿ってライン状に配置されて形成されている。

このような読み取りモジュールは、ロッドレンズ４を用いて反射光をラインセンサ３に集光している。このため、図１の（ｃ）の符号を付した図から分かるように、反射光が集光されるロッドレンズ４ａの中心付近では、ラインセンサ３の出力（読み取り信号のレベル）が高くなり、ロッドレンズ４ａの端部においては、ラインセンサ３の出力が低くなる。このため、ロッドレンズ４ａ周期で、出力の高い位置と低い位置とが周期的に発生する。

ここで、原稿読み取り時の光源部２の連続点灯による発熱、および、環境温度等により、光量の低下が発生すると共に、主走査光量分布のリップルの振幅が変動する。図２は、主走査光量分布のリップルの振幅が変動する理由を説明するための図である。また、図２の（ａ）の符号を付した図は、ロッドレンズ４ａに熱膨張が生じていないときの、画素３ａの出力を示す図である。図２の（ｂ）の符号を付した図は、ロッドレンズ４ａが熱膨張した後の、画素３ａの出力を示す図である。

図２の（ａ）および（ｂ）の符号を付した図を、それぞれ見比べて分かるように、ロッドレンズ４ａが熱膨張して径の大きさが変化すると、ロッドレンズ４ａと画素３ａの相対的な位置関係が副走査方向に経時でずれる。副走査方向は、主走査方向に対して、２次元的に直交する方向である。また、ラインセンサ３の基板も、熱膨張により副走査方向に伸びる。ラインセンサ３の基板が副走査方向に伸びると、ロッドレンズ４ａと画素３ａの相対的な位置関係が、副走査方向に経時でずれる。ロッドレンズ４ａとラインセンサ３の基板の熱膨張率が等しければ、副走査光量分布のシフトは発生しない。しかし、ロッドレンズ４ａとラインセンサ３の基板の熱膨張率は、それぞれ異なる。このため、ラインセンサ３で受光される反射光の受光量が減少する。

図３は、リップルの振幅差により、出力原稿または出力データに発生する縦スジを説明するための図である。図３の（ａ）の符号を付した図において、点線の波形は、工場出荷時等の初期の段階で生成された初期シェーディングデータである。図３の（ａ）の符号を付した図において、実線の波形は、原稿読み取り時に生成された原稿読取時シェーディングデータである。図３の（ｂ）の符号を付した図において、点線の波形は、工場出荷時等の初期の段階で生成された初期シェーディングデータである。図３の（ｂ）の符号を付した図において、細線の波形は、原稿読み取り時に生成された原稿読取時シェーディングデータである。図３の（ｂ）の符号を付した図において、太線の波形は、初期シェーディングデータで補正された原稿読取時シェーディングデータ（補正シェーディングデータ）である。

シェーディング補正を行う場合、通常、光量比を補正することで、汚れの影響を受けた原稿読取時シェーディングデータを、汚れの無い初期シェーディングデータに置き換える。光量比は、初期シェーディングデータと原稿読取時シェーディングデータの主走査全域、または、主走査の特定エリアの平均値の比である。初期シェーディングデータに置き換える時、光量比を補正した補正シェーディングデータにおいても、原稿読取時シェーディングデータのリップルを正確に再現困難となり、両者間に差が生じる場合がある。この場合、本来よりも明るい、または、本来よりも暗い補正シェーディングデータが生成される。このため、このような本来とは異なる補正シェーディングデータでシェーディング補正された箇所に、図３の（ｃ）の符号を付した図に示すように、明るいスジ、または、暗いスジが発生する。

（第１の実施の形態）
実施の形態のＭＦＰは、以下に説明するように、原稿を読み取る直前に取得した汚れのついている原稿読取時シェーディングデータを、汚れのない初期シェーディングデータに置き換える際に、初期シェーディングデータを、原稿読取時シェーディングデータのリップルムラと振幅が合うように補正する。これにより、出力原稿または出力データに明るいスジ、または、暗いスジが発生する不都合を防止し、正確なシェーディング補正を可能とすることができる。

図４に、実施の形態のＭＦＰの断面図を示す。この図４に示すように、実施の形態のＭＦＰは、自動原稿搬送機構（ＡＤＦ：Auto Document Feeder）１０と、給紙部２０と、画像形成部３０とを備えている。給紙部２０は、用紙サイズの異なる記録紙を収納する給紙カセット２１，２２を有している。また、給紙部２０は、給紙カセット２１，２２に収納された記録紙を画像形成部３０の画像形成位置まで搬送する各種ローラを備えた給紙機構２３を有している。

画像形成部３０は、露光装置３１と、感光体ドラム３２と、現像装置３３と、転写ベルト３４と、定着装置３５とを備えている。画像形成部３０は、ＡＤＦ１０内部の画像読取部で読み取られた原稿の画像データに基づいて、露光装置３１により感光体ドラム３２を露光して感光体ドラム３２に潜像を形成する。また、画像形成部３０は、現像装置３３により、感光体ドラム３２に異なる色のトナーを供給して現像する。そして、画像形成部３０は、転写ベルト３４により、感光体ドラム３２に現像された像を給紙部２０から供給された記録紙に転写した後、定着装置３５により記録紙に転写されたトナー画像のトナーを溶融して、記録紙にカラー画像を定着させる。

図５は、ＡＤＦ１０の断面の拡大図である。また、図６は、ＡＤＦ１０を制御するコントローラ１１、および、コントローラ１１の周辺回路のブロック図である。ＡＤＦ１０は、固定された読取装置部に読取原稿を搬送し、所定の速度で搬送しながら画像の読み取りを行う。ＡＤＦ１０は、原稿セット部Ａ、分離給送部Ｂ、レジスト部Ｃ、ターン部Ｄ、第１読取搬送部Ｅ、第２読取搬送部Ｆ、排紙部Ｇ、および、スタック部Ｈを有する。原稿セット部Ａは、読取原稿束をセットする。分離給送部Ｂは、セットされた原稿束から一枚毎に原稿を分離して給送する。レジスト部Ｃは、給送された原稿を一次突当整合する働きと、整合後の原稿を引き出し搬送する働きを有する。ターン部Ｄは、搬送される原稿をターンさせて、原稿面を読取り側（下方）に向けて搬送する。第１読取搬送部Ｅは、原稿の表面画像を、コンタクトガラスの下方より読取を行わせる。第２読取搬送部Ｆは、読取後の原稿の裏面画像を読み取る。排紙部Ｇは、表裏の読取が完了した原稿を機外に排出する。スタック部Ｈは、読取完了後の原稿を積載保持する。

読み取りを行う原稿束１３０は、可動原稿テーブル１３１を含む原稿テーブル１３２上に、原稿面を上向きの状態としてセットする。さらに、原稿束１３０の幅方向を、図示しないサイドガイドによって、搬送方向と直行する方向に位置決めする。原稿のセットは、セットフィラー１３３、原稿セットセンサ１００により検知され、Ｉ／Ｆ１１４により本体制御部１２２に送信される。

さらに、原稿テーブル面に設けられた原稿長さ検知センサ１３４または１３５（反射型センサ、または、原稿１枚も検知可能なアクチュエータータイプのセンサが用いられる）により、原稿の搬送方向長さの概略が判定される。

可動原稿テーブル１３１は、底板上昇モータ１１２により、図５中矢印で示すａ方向およびｂ方向に動作可能（上下動可能）な構成となっている。可動原稿テーブル１３１は、原稿のセットを、セットフィラー１３３および原稿セットセンサ１００で検知すると、底板上昇モータ１１２を正転させて原稿束１３０の最上面がピックアップローラ１４８と接触するように可動原稿テーブル１３１を上昇させる。ピックアップローラ１４８は、ピックアップモータ１０８を駆動源とするカム機構により、図５中矢印で示すｃ方向およびｄ方向に動作する。また、ピックアップローラ１４８は、可動原稿テーブル１３１が上昇し、可動原稿テーブル１３１上の原稿上面により押されてｃ方向に上がり、給紙適正位置センサ１０２により上限を検知可能となっている。

操作部１２１よりプリントキーが押下され、本体制御部１２２からＩ／Ｆ１１４を介してコントローラ１１に原稿給紙信号が送信されると、ピックアップローラ１４８が、給紙モータ１０９の正転により回転駆動され、原稿テーブル１３２上の数枚（理想的には１枚）の原稿をピックアップする。回転方向は、最上位の原稿を給紙口に搬送する方向である。

給紙ベルト１３６は、給紙モータ１０９の正転により給紙方向に駆動される。リバースローラ１３７は、給紙モータ１０９の正転により、給紙方向と逆方向に回転駆動され、最上位の原稿とその下の原稿を分離して、最上位の原稿のみを給紙する構成となっている。さらに詳しく説明すると、リバースローラ１３７は、給紙ベルト１３６と所定圧で接する。リバースローラ１３７は、給紙ベルト１３６と直接接している際、または原稿１枚を介して接している状態では、給紙ベルト１３６の回転につられて反時計回り方向に回転する。また、リバースローラ１３７は、給紙ベルト１３６とリバースローラ１３７との間に、２枚以上の原稿が侵入した時は、連れ回り力がトルクリミッターのトルクよりも低くなるように設定されている。この場合、リバースローラ１３７は、本来の駆動方向である時計回り方向に回転し、余分な原稿を押し戻す働きをする。これにより、原稿の重送を防止できる。

給紙ベルト１３６とリバースローラ１３７との作用により、１枚に分離された原稿は、給紙ベルト１３６によって更に送られ、突き当てセンサ１０５によって先端が検知され更に進んで停止しているプルアウトローラ１３８に突き当たる。その後、原稿は、突き当てセンサ１０５の検知から所定量定められた距離分、搬送され、プルアウトローラ１３８に所定量撓みを持って押し当てられる。この状態で、給紙モータ１０９が停止され、給紙ベルト１３６の駆動が停止する。この時、ピックアップモータ１０８を回転させ、ピックアップローラ１４８を原稿上面から退避させ、原稿を給紙ベルト１３６の搬送力のみで送る。これにより、原稿の先端部は、プルアウトローラ１３８の上下ローラ対のニップに進入し、先端部の整合（スキュー補正）が行われる。

プルアウトローラ１３８は、スキュー補正機能を有する。また、プルアウトローラ１３８は、分離後にスキュー補正された原稿を中間ローラ１３９まで搬送するためのローラで、給紙モータ１０９の逆転により駆動される。またこの時（給紙モータ１０９逆転時）、プルアウトローラ１３８と中間ローラ１３９は駆動されるが、ピックアップローラ１４８と給紙ベルト１３６は駆動されない。

原稿幅センサ１０４は、奥行き方向に複数個並べられ、プルアウトローラ１３８により搬送された原稿の搬送方向に直行する幅方向のサイズを検知する。また、原稿の搬送方向の長さは、原稿の先端および後端を突き当てセンサ１０５で読み取ることで生成されるモータパルスを用いて検知される。

プルアウトローラ１３８および中間ローラ１３９の駆動により、レジスト部Ｃからターン部Ｄに原稿が搬送される際には、レジスト部Ｃでの搬送速度が、第１読取搬送部Ｅでの搬送速度よりも高速に設定される。これにより、原稿を読み取り部へ送り込む処理時間の短縮化が図られている。原稿の先端が読取入口センサ１０３により検出されると、読取入口ローラ１４０の上下ローラ対のニップに原稿先端が進入する前に、原稿搬送速度を、読取搬送速度と同速にするために減速を開始する。これと同時に、読取モータ１１０を正転駆動し、読取入口ローラ１４０、読取出口ローラ１４１、およびＣＩＳ出口ローラ１４２を駆動する。レジストセンサ１０７で原稿の先端が検知されると、所定の搬送距離をかけて減速し、読取位置１４３の手前で一時停止すると共に、本体制御部１２２にＩ／Ｆ１１４を介してレジスト停止信号を送信する。

続いて、本体制御部１２２より読取り開始信号を受信すると、レジスト停止していた原稿は、読取位置に原稿先端が到達するまでに所定の搬送速度に立ち上がるように増速されて搬送される。読取モータ１１０のパルスカウントにより検出された原稿先端が読取部に到達するタイミングで、本体制御部１２２に対して第１面の副走査方向の有効画像領域を示すゲート信号が、第１読取部を原稿後端が抜けるまで送信される。

片面原稿読取りの場合には、第１読取搬送部Ｅを通過した原稿は第２読取り部を経て排紙部Ｇへ搬送される。この際、排紙センサ１０６により原稿の先端が検知されると、排紙モータ１１１が正転駆動され、排紙ローラ１４４が、反時計回り方向に回転する。また、排紙センサ１０６による原稿の先端検知からの排紙モータパルスカウントにより、原稿後端が排紙ローラ１４４の上下ローラ対のニップから抜ける直前に、排紙モータ駆動速度が減速される。これにより、排紙トレイ１４５上に排出される原稿が、排紙トレイ１４５から飛び出る不都合を防止している。

両面原稿読取りの場合には、排紙センサ１０６にて原稿先端を検知してから読取りモータのパルスカウントにより第２読取部１１３に原稿先端が到達するタイミングで、第２読取部１１３に対してコントローラ１１から副走査方向の有効画像領域を示すゲート信号が読取り部を原稿後端が抜けるまで送信される。第２読取ローラ１４６は、第２読取り部における原稿の浮きを抑える。また、第２読取ローラ１４６は、第２読取部１１３でシェーディングデータを取得するための基準白部（濃度基準部材）を兼ねている。

図７は、第２読取部１１３の電気回路の要部のブロック図である。図７に示すように、第２読取部１１３は、ＬＥＤ、蛍光灯、又は冷陰極管などからなる光源部２を有する。なお、光源部２は、図示しない導光体などと共に光を主走査方向に照射する照射部を構成する。

また、第２読取部１１３は、主走査方向（原稿幅方向に対応する方向）に並ぶ複数の画素（光電変換素子）３ａ、各画素３ａにそれぞれ接続された複数のアンプ回路２０２、各アンプ回路２０２にそれぞれ接続された複数のＡ／Ｄ変換部２０３も有している。Ａ／Ｄ変換部２０３の出力信号には、信号成分以外に黒レベルオフセット成分が含まれている。第２読取部１１３は、黒レベルオフセット成分を除去する黒補正部２０４を有している。

白補正部２０５は、黒補正部２０４の出力信号に対して白補正処理を施すことで、光源部２のムラおよび各画素３ａの不均一な感度による画像データへの悪影響を除去する。また、詳しくは後述するが、白補正部２０５は、原稿を読み取る直前に濃度基準部材を読み取ることで取得した、汚れのついている原稿読取時シェーディングデータを、汚れのない初期シェーディングデータに置き換える際に、初期シェーディングデータを、原稿読取時シェーディングデータのリップルムラと振幅が合うように補正する。これにより、出力原稿または出力データに明るいスジ、または、暗いスジが発生する不都合を防止している。

また、第２読取部１１３は、画像処理部２０６、フレームメモリ２０７、出力制御回路２０８、Ｉ／Ｆ回路２０９等も有している。

このような第２読取部１１３で読み取りが行われる読取位置に対する原稿の搬送に先立って、コントローラ１１から光源部２に点灯をＯＮ制御するための点灯信号が供給される。これにより、光源部２が点灯し、図示しない原稿に光が照射され、反射光が発生する。この原稿からの反射光は、ロッドレンズ４ａにより各画素３ａに集光され受光される。各画素３ａは、受光した反射光に対応する電気信号である読み取り信号を生成する。読み取り信号は、アンプ回路２０２で増幅された後、Ａ／Ｄ変換部２０３によって、読み取りデータにデジタル化される。例えば、読み取りデータが８ｂｉｔの場合、黒レベルが「０」となり、白レベルが「２５５」となる。

読み取りデータには、黒補正部２０４によりオフセット成分の除去処理が施され、白補正部２０５により、後述するシェーディング補正が施される。また、読み取りデータは、画像処理部２０６によりライン間補正処理等が施された後、フレームメモリ２０７に一時記憶される。その後、読み取りデータは、出力制御回路２０８によって本体制御部１２２でデータ処理可能なデータ形式に変換された後、Ｉ／Ｆ回路２０９を介して、本体制御部１２２に供給される。なお、コントローラ１１から第２読取部１１３に対しては、上述の光源部２の点灯信号の他、原稿の先端が第２読取部１１３による読取位置に到達するタイミング（そのタイミング以降の画像データが有効データとして扱われる）を知らせるためのタイミング信号、および、電源等が供給される。

次に、白補正部２０５におけるシェーディング補正動作を説明する。図８は、白補正部２０５の機能ブロック図である。この図８に示すように、白補正部２０５は、第１記憶部３０１、第２記憶部３０２、平滑化部３０３、交流成分抽出部３０４、ピーク検出部３０５、および平滑化部３０６を有している。また、白補正部２０５は、交流成分抽出部３０７、ピーク検出部３０８、交流補正倍率計算部３０９、補正データ生成部３１０、およびシェーディング補正部３１１を有している。

平滑化部３０３は、第１の直流成分抽出部の一例である。交流成分抽出部３０４は、第１の交流成分抽出部の一例である。平滑化部３０６は、第２の直流成分抽出部の一例である。交流成分抽出部３０７は、第２の交流成分抽出部の一例である。ピーク検出部３０５は、第１のピーク検出部の一例である。ピーク検出部３０８は、第２のピーク検出部の一例である。交流補正倍率計算部３０９は、補正倍率計算部の一例である。

平滑化部３０３〜シェーディング補正部３１１は、コントローラ１１が、図６に示すように、例えばハードディスクドライブ装置、ＲＯＭまたはＲＡＭ等の記憶部１０１に記憶されているシェーディング補正プログラムを実行することで、ソフトウェア的に実現する機能となっている。ＲＯＭは、「Read Only Memory」の略記である。ＲＡＭは、「Random Access Memory」の略記である。なお、この例では、白補正部２０５の平滑化部３０３〜シェーディング補正部３１１は、ソフトウェア的に実現することとして説明を進めるが、平滑化部３０３〜シェーディング補正部３１１のうち、一部または全部をハードウェアで実現してもよい。

また、シェーディング補正プログラムは、インストール可能な形式または実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク（ＦＤ）などのコンピュータ装置で読み取り可能な記録媒体に記録して提供してもよい。また、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ、ブルーレイディスク（登録商標）、半導体メモリなどのコンピュータ装置で読み取り可能な記録媒体に記録して提供してもよい。ＤＶＤは、「Digital Versatile Disk」の略記である。また、シェーディング補正プログラムは、インターネットなどのネットワーク経由でインストールするかたちで提供してもよい。また、シェーディング補正プログラムは、機器内のＲＯＭ等に予め組み込んで提供してもよい。

このような白補正部２０５において、実施の形態のＭＰＦの工場出荷時等の初期時に、汚れていない濃度基準部材（この例の場合、上述の第２読取ローラ１４６）を読取った入力データを、初期シェーディングデータとして第１記憶部３０１に格納する。そして、第１記憶部３０１に格納した初期シェーディングデータを、不揮発性メモリなどで構成される第２記憶部３０２に転送して格納する。

次に、原稿読み取り時において、原稿の読み取りを行う直前に濃度基準部材を読み取り、これを原稿読取時シェーディングデータとして第１記憶部３０１に格納する。図９の（ａ）の符号を付した図は、原稿読取時シェーディングデータの一例を示す図である。この図９の（ａ）の符号を付した図からわかるように、原稿読取時シェーディングデータは、ロッドレンズ４ａのレンズピッチに対応した周期的な変動成分が重畳した波形となっている。

平滑化部３０６は、第１記憶部３０１から読み出された原稿読取時シェーディングデータから、ロッドレンズ４ａのレンズピッチに対応した周期的な変動成分等を除去することで、原稿読取時シェーディングデータの直流成分を生成する。図９の（ｂ）の符号を付した図が、原稿読取時シェーディングデータから生成された直流成分の波形図である。

交流成分抽出部３０７は、平滑化部３０６で生成された原稿読取時シェーディングデータの直流成分と、第１記憶部３０１から読み出された原稿読取時シェーディングデータとの差分となる交流成分を抽出する。図９の（ｃ）の符号を付した図は、交流成分抽出部３０７により抽出された交流成分の波形を示している。

一方、平滑化部３０３および交流成分抽出部３０４も上述と同様に、第２記憶部３０２に格納された初期シェーディングデータから直流成分を抽出し、初期シェーディングデータから直流成分と初期シェーディングデータとの差分となる交流成分を抽出する。

次に、主走査軸上でｘ画素目の初期シェーディングデータの交流成分の値を「Ａｉｎｉｔ（ｘ）」とし、直流成分の値を「Ｄｉｎｉｔ（ｘ）」とする。また、原稿読取時シェーディングデータに関しても同様に、主走査軸上でｘ画素目の原稿読取時シェーディングデータの交流成分の値を「Ａｐｒｅ（ｘ）」とし、直流成分の値を「Ｄｐｒｅ（ｘ）」とする。そして、一定の画素数で構成されるブロックを主走査方向に複数設定し、以下に説明する処理をブロック単位で行う。

ピーク検出部３０８は、上述のブロック内における原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の絶対値の最大値である「Ａｐｒｅ＿ａｍｐ［］」を検出する。なお、Ａｐｒｅ＿ａｍｐ［］のように、括弧（［］）がついた変数は配列であり、括弧内にはブロック番号が入ることとする。以下の説明においても同様である。また、ピーク検出部３０５は、上述のブロック内における初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の絶対値の最大値である「Ａｉｎｉｔ＿ａｍｐ［］」を検出する。

具体的には、図１０の（ａ）の符号を付した図において、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）、および、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の各波形の一例を示す。図１０の（ａ）の符号を付した図において、点線の波形が、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）である。また、図１０の（ａ）の符号を付した図において、実線の波形が、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の波形である。この図１０の（ａ）の符号を付した図に示すように、ピーク検出部３０８は、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の絶対値の最大値Ａｐｒｅ＿ａｍｐ［］、および、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の絶対値の最大値Ａｉｎｉｔ＿ａｍｐ［］を、ブロック毎に検出する。

次に、交流補正倍率計算部３０９は、図１０の（ｂ）の符号を付した図に示すように、以下の次の数２式を用いて、交流補正倍率α［］をブロック毎に算出する。

α［］＝（Ａｐｒｅ＿ａｍｐ［］）／（Ａｉｎｉｔ＿ａｍｐ［］）・・・（数２式）

なお、この数２式において、Ａｉｎｉｔ＿ａｍｐ［］＝０の場合、α［］＝０である。

次に、補正データ生成部３１０は、第１の手順として、以下の数３式の演算を行う。これにより、補正データ生成部３１０は、各ブロックの初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）に対して、それぞれ対応する交流補正倍率α［］を乗算処理した補正交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）を算出する。

Ａｃｏｒ（ｘ）＝Ａｉｎｉｔ（ｘ）×α［］・・・（数３式）

図１０の（ｃ）の符号を付した図において、点線の波形は、補正倍率α［］の乗算処理前（補正前）における各ブロックの初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の波形である。これに対して、図１０の（ｃ）の符号を付した図において、実線の波形は、補正倍率α［］の乗算処理後（補正後）における各ブロックの初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の波形である。この図１０（ｃ）の符号を付した図からわかるように、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値は、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との間の振幅差に応じて補正される。

次に、補正データ生成部３１０は、第２の手順として、以下の数４式の演算を行う。これにより、補正データ生成部３１０は、補正交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）と、初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ（ｘ）とを加算処理した、主走査軸上におけるｘ画素目のシェーディングデータＳＤ（ｘ）を算出する。

ＳＤ（ｘ）＝Ａｃｏｒ（ｘ）＋Ｄｉｎｉｔ（ｘ）・・・（数４式）

補正データ生成部３１０は、このような数３式および数４式の演算を、全画素に対して行うことで、全画素のシェーディングデータＳＤ（ｘ）を生成し、これをシェーディング補正部３１１に供給する。

図１１は、シェーディングデータＳＤ（ｘ）の生成工程を模式的に示した図である。図１１の（ａ）の符号を付した図は、交流補正倍率計算部３０９からの補正倍率α［］により補正された補正交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）の波形図である。図１１の（ｂ）の符号を付した図は、平滑化部３０３により生成された初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ（ｘ）の波形である。図１１の（ｃ）の符号を付した図は、補正データ生成部３１０で生成されたシェーディングデータの波形図である。すなわち、図１１の（ａ）の符号を付した図に示す補正交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）と、図１１の（ｂ）の符号を付した図に示す初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ（ｘ）とを加算処理する（上述の数４式）。これにより、図１１の（ｃ）の符号を付した図に示すように、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との間の振幅差を是正するシェーディングデータＳＤ（ｘ）を生成することができる。

次に、シェーディング補正部３１１は、補正データ生成部３１０により補正されたシェーディングデータＳＤ（ｘ）を用いて、黒補正部２０４からの読み取りデータ（入力データ）にシェーディング補正処理を施す。図１２の実線の波形は、汚れ等が付着した濃度基準部材を読み取ることで、汚れ等の付着箇所に対応するタイミングで特異的な変動が発生している原稿読取時シェーディングデータの波形を示している。また、図１２の点線の波形は、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との間の振幅差を是正するシェーディングデータＳＤ（ｘ）の波形を示している。

濃度基準部材に付着した汚れ等が原因で、原稿読取時シェーディングデータに特異的な変動が発生した場合でも、濃度基準部材に汚れの付着していない状態で取得された初期シェーディングデータに置換してシェーディング補正を行うため、濃度基準部材の汚れ等が原因で画像に縦スジが発生する不都合を防止できる。

また、原稿読取時シェーディングデータを、初期シェーディングデータに置換する際に、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との間の振幅を合わせるように初期シェーディングデータを補正している。このため、正確なシェーディング補正を行うことができ、シェーディングデータの交流成分の振幅の差から生ずる周期的なスジの発生を防止した印刷画像または画像データを提供することができる。

以上の説明から明らかなように、第１の実施の形態のＭＦＰは、原稿を読取る直前に取得した汚れが付着した原稿読取時シェーディングデータを、汚れのない初期シェーディングデータに置き換える際に、原稿読取時シェーディングデータのリップルムラと振幅が合うように初期シェーディングデータを補正する。そして、補正した初期シェーディングデータを用いて、シェーディング補正を行う。これにより、シェーディングデータの交流成分の振幅の差から生ずる周期的なスジの発生を防止する、正確なシェーディング補正を行うことができる。

（第２の実施の形態）
次に、本発明の第２の実施の形態となるＭＦＰの説明をする。上述の第１の実施の形態のＭＦＰでは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）、および、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の各振幅の絶対値の最大値を用いて、初期シェーディングデータの補正倍率を決定した。これに対して、第２の実施の形態のＭＦＰでは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）、および、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の正側および負側の補正倍率を別個に決定するようにしたものである。以下、第１の実施の形態と第２の実施の形態の差異の説明のみ行い、重複説明は省略する。

図１３は、第２の実施の形態のＭＦＰに設けられている白補正部２０５の機能ブロック図である。この図１３に示す各機能ブロックのうち、ピーク検出部３２１、ピーク検出部３２２、交流補正倍率計算部３２３、および補正データ生成部３２４の各機能ブロックが、上述の第１の実施の形態との差異となっている。

ピーク検出部３２１は、図１４の（ａ）の符号を付した図に示すように、上述の各ブロック毎に、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の最大値Ａｉｎｉｔ＿ｍａｘ［］、および、最小値Ａｉｎｉｔ＿ｍｉｎ［］を検出する。また、ピーク検出部３２２は、図１４の（ａ）の符号を付した図に示すように、上述の各ブロック毎に、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の最大値Ａｐｒｅ＿ｍａｘ［］、および、最小値Ａｐｒｅ＿ｍｉｎ［］を検出する。なお、図１４の（ａ）の符号を付した図において、例えばＡｉｎｉｔ＿ｍａｘ［Ｎ］は、Ｎブロック目の初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の最大値を示す。

交流補正倍率計算部３２３は、以下の数５式に示す演算を行うことで、図１４の（ｂ）の符号を付した図に示すように正側の補正倍率α＿ｐ［］をブロック毎に算出する。また、交流補正倍率計算部３２３は、以下の数６式に示す演算を行うことで、図１４の（ｂ）の符号を付した図に示すように負側の補正倍率α＿ｎ［］をブロック毎に算出する。

正側の補正倍率α＿ｐ［］＝（Ａｐｒｅ＿ｍａｘ［］）／（Ａｉｎｉｔ＿ｍａｘ［］）・・・（数５式）

なお、数５式において、Ａｉｎｉｔ＿ｍａｘ［］＝０の場合、α＿ｐ［］＝０となる。

負側の補正倍率α＿ｎ［］＝（Ａｐｒｅ＿ｍｉｎ［］）／（Ａｉｎｉｔ＿ｍｉｎ［］）・・・（数６式）

なお、数６式において、Ａｉｎｉｔ＿ｍｉｎ［］＝０の場合、α＿ｎ［］＝０となる。

次に、補正データ生成部３２４は、Ａｉｎｉｔ（ｘ）≧０の場合、以下の数７式による演算を行うことで、ブロック毎の正側の波形に対応する初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）に補正倍率α＿ｐ［］を乗算処理する。なお、「Ａｉｎｉｔ（ｘ）≧０の場合」とは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値が正の値の場合を示している。これにより、補正データ生成部３２４は、図１４の（ｃ）の符号を付した図に示すように、正側を補正した初期シェーディングデータの交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）を生成する。

Ａｃｏｒ（ｘ）＝Ａｉｎｉｔ（ｘ）×α＿ｐ［］・・・（数７式）

同様に、補正データ生成部３２４は、Ａｉｎｉｔ（ｘ）＜０の場合、以下の数８式による演算を行うことで、ブロック毎の負側の波形に対応する初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）に補正倍率α＿ｎ［］を乗算処理する。なお、「Ａｉｎｉｔ（ｘ） ＜０の場合」とは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値が負の値の場合を示している。これにより、補正データ生成部３２４は、図１４の（ｃ）の符号を付した図に示すように、負側を補正した初期シェーディングデータの交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）を生成する。

Ａｃｏｒ（ｘ）＝Ａｉｎｉｔ（ｘ）×α＿ｎ［］・・・（数８式）

次に、補正データ生成部３２４は、以下の数９式の演算を行い、正側および負側の両方を補正した初期シェーディングデータの交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）と、初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ（ｘ）を加算する。この演算により、補正データ生成部３２４は、上述の正側および負側の両方の補正に対応するシェーディングデータＳＤ（ｘ）を生成する。

ＳＤ（ｘ）＝Ａｃｏｒ（ｘ）＋Ｄｉｎｉｔ（ｘ）・・・（数９式）

シェーディング補正部３１１は、補正データ生成部３２４で生成された、上述の正側および負側の両方の補正に対応するシェーディングデータＳＤ（ｘ）を用いて、黒補正部２０４からの読み取りデータ（入力データ）にシェーディング補正処理を施す。

以上の説明から明らかなように、第２の実施の形態のＭＦＰは、正側および負側の補正倍率を個別に設定する。これにより、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の波形が、正側および負側で非対称な波形であっても、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値を、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の値に合わせることができる。このため、シェーディングデータの交流成分の振幅の差から生ずる周期的なスジの発生を、より強力に防止できる他、上述の第１の実施の形態のＭＦＰと同様の効果を得ることができる。

（第３の実施の形態）
次に、本発明の第３の実施の形態となるＭＦＰの説明をする。上述の各実施の形態のＭＦＰでは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）、および、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の各振幅の最大値、または、最小値を用いて、ブロック毎の初期シェーディングデータの補正倍率を決定した。これに対して、第３の実施の形態のＭＦＰでは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値の平均値、および、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の値の平均値で、ブロック毎の初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の補正倍率を決定するようにしたものである。以下、上述の各実施の形態と第３の実施の形態の差異の説明のみ行い、重複説明は省略する。

図１５は、第３の実施の形態のＭＦＰに設けられている白補正部２０５の機能ブロック図である。この図１５の機能ブロックにおいて、ピーク検出部３０５，３０８，３２１，３２２が不要である点、および、交流補正倍率計算部３３１が、上述の平均値で、ブロック毎の初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の補正倍率を決定する点が、上述の各実施の形態との差異となっている。

すなわち、第３の実施の形態のＭＦＰの場合、図１５に示す交流補正倍率計算部３３１は、図１６の（ａ）の符号を付した図に示すように、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値に応じて、上述のブロック毎に、下記の演算を行う。すなわち、Ａｉｎｉｔ（ｘ）＞０の場合、交流補正倍率計算部３３１は、以下の数１０式の演算を行うことで、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との比である「Ｒ＿ｐ（ｘ）」を算出する。

Ｒ＿ｐ（ｘ）＝（Ａｐｒｅ（ｘ））／（Ａｉｎｉｔ（ｘ））・・・（数１０式）

なお、交流補正倍率計算部３３１は、この数１０式の演算を行った場合、ブロック内でＡｉｎｉｔ（ｘ）＞０となる画素数を示す変数Ｎｕｍ＿ｐ［］の値を１つインクリメントする。換言すると、交流補正倍率計算部３３１は、図１６の（ａ）の符号を付した図に示すように、上述の比である「Ｒ＿ｐ（ｘ）」を算出する演算を、各ブロック内において所定時間毎に行う。

また、Ａｉｎｉｔ（ｘ）＜０の場合、交流補正倍率計算部３３１は、以下の数１１式の演算を行うことで、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との比である「Ｒ＿ｎ（ｘ）」を算出する。

Ｒ＿ｎ（ｘ）＝（Ａｐｒｅ（ｘ））／（Ａｉｎｉｔ（ｘ））・・・（数１１式）

なお、交流補正倍率計算部３３１は、この数１１式の演算を行った場合、ブロック内でＡｉｎｉｔ（ｘ）＜０となる画素数を示す変数Ｎｕｍ＿ｎ［］の値を１つインクリメントする。換言すると、交流補正倍率計算部３３１は、図１６の（ａ）の符号を付した図に示すように、上述の比である「Ｒ＿ｎ（ｘ）」を算出する演算を、各ブロック内において所定時間毎に行う。また、交流補正倍率計算部３３１は、Ａｉｎｉｔ（ｘ）＝０の場合は、演算は行わない。

次に、交流補正倍率計算部３３１は、以下の数１２式の演算をブロック毎に行うことで、正側の補正倍率α＿ｐ［］を算出する。また、交流補正倍率計算部３３１は、以下の数１３式の演算をブロック毎に行うことで、負側の補正倍率α＿ｎ［］を算出する。正側の補正倍率α＿ｐ［］は、各ブロック内における複数のＲ＿ｐ（ｘ）の平均値である。同様に、負側の補正倍率α＿ｎ［］も、各ブロック内における複数のＲ＿ｎ（ｘ）の平均値である。なお、以下の数１２式および数１３式において、「ΣＲ＿ｐ（ｘ）」および「ΣＲ＿ｎ（ｘ）」は、それぞれ各ブロック内でのＲ＿ｐ（ｘ）の総和、Ｒ＿ｎ（ｘ）の総和を示している。

α＿ｐ［］＝（ΣＲ＿ｐ（ｘ））／（Ｎｕｍ＿ｐ［］）・・・（数１２式）

α＿ｎ［］＝（ΣＲ＿ｎ（ｘ））／（Ｎｕｍ＿ｎ［］）・・・（数１３式）

補正データ生成部３２４は、図１６の（ｂ）の符号を付した図に示すように、正側の平均値である補正倍率α＿ｐ［］を用いて、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）をブロック毎に補正する。また、補正データ生成部３２４は、図１６の（ｂ）の符号を付した図に示すように、負側の平均値である補正倍率α＿ｎ［］を用いて、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値をブロック毎に補正する。

ここで、図１７は、濃度基準部材に付着した汚れ等が原因で、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）の最大値または最小値が特異的に変化した場合、補正に用いる初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）の値が不適当な値となる様子を示している。すなわち、図１７の（ａ）の符号を付した図は、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）に、いわゆるスパイクノイズ状の異常値が現れた様子を示している。

図１７の（ａ）の符号を付した図において、Ｎブロック目の原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）に現れた２つの異常値は、最大値以下、または、最小値未満である。このため、図１７の（ｂ）の符号を付した図に示すように、上述の正側および負側の補正倍率の演算（上述の数５式および数６式を参照）を行うことで、図１７の（ｃ）の符号を付した図に示すように、Ｎブロック目の初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）は、正確な補正倍率で、シェーディング補正に適した値に補正される。

これに対して、図１７の（ａ）の符号を付した図において、Ｎ＋１ブロック目の原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）に現れた２つの異常値は、最大値または最小値を超えた値である。この場合、図１７の（ｂ）の符号を付した図に示す、上述の正側および負側の補正倍率の演算（上述の数５式および数６式を参照）を行うと、図１７の（ｃ）の符号を付した図に示すように、Ｎ＋１ブロック目の初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）は、上述の異常値による不正確な補正倍率で補正され、シェーディング補正には適さない値となる恐れがある。

しかし、第３の実施の形態のＭＦＰの場合、図１６を用いて説明したように、正側における初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との比である複数のＲ＿ｐ（ｘ）の平均値を補正倍率α＿ｐ［］として用いて、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）をブロック毎に補正する。また、第３の実施の形態のＭＦＰの場合、負側における初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）との比である複数のＲ＿ｎ（ｘ）の平均値を補正倍率α＿ｎ［］として用いて、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）をブロック毎に補正する。

これにより、図１７の（ａ）の符号を付した図に示したように、ブロック内に特異な値の最大値または最小値が現れた場合でも、上述の平均化により、正常に近い値の補正倍率を生成し、正確なシェーディング補正を実行可能とすることができる。このため、濃度基準部材に濃度変化の大きな汚れが付着した場合等の、濃度基準部材の汚れに対する耐性を高くすることができる。従って、シェーディングデータの交流成分の振幅の差から生ずる周期的なスジの発生を、さらに強力に防止できる他、上述の各実施の形態のＭＦＰと同様の効果を得ることができる。

（第４の実施の形態）
次に、本発明の第４の実施の形態となるＭＦＰの説明をする。第４の実施の形態のＭＦＰは、特異的に値が変動した画素が多い異常ブロックの補正倍率を、異常ブロックの前後の正常ブロックの補正倍率から推定する。そして、推定した補正倍率で初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）を補正してシェーディング補正に用いることで、正確なシェーディング補正を可能としたものである。以下、上述の各実施の形態と第４の実施の形態の差異の説明のみ行い、重複説明は省略する。

図１８は、第４の実施の形態のＭＦＰに設けられている白補正部２０５の機能ブロック図である。この図１８の機能ブロックにおいて、異常検出部３４１、交流補正倍率計算部３４２、および出力選択部３４３が、上述の各実施の形態との差異となっている。

すなわち、第４の実施の形態のＭＦＰの場合、図１８に示す異常検出部３４１に、第１記憶部３０１に格納された原稿読取時シェーディングデータ、および、第２記憶部３０２に格納された初期シェーディングデータが供給される。異常検出部３４１は、各シェーディングデータを比較することで、濃度基準部材の汚れ等が原因で原稿読取時シェーディングデータに特異的な変動が発生した画素を検出する。このような異常検出部３４１としては、例えば特開２０１０−０１１２９７号公報等で開示されている技術を用いることができる。

なお、特異的な変動が発生している画素を「異常画素」という。また、異常画素を含むブロックを「異常ブロック」という。これに対して、異常画素ではない画素を「正常画素」という。また、正常画素のみで構成されるブロックを「正常ブロック」という。

図１９の(ａ)の符号を付した図の例は、Ｎブロックが異常ブロック、Ｎブロックの前のブロックに相当するＮ−１ブロック、および、Ｎブロックの後のブロックに相当するＮ＋１ブロックが、それぞれ正常ブロックである例である。また、図１９の(ａ)の符号を付した図において、点線の波形は、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ(ｘ)の波形の例である。また、図１９の(ａ)の符号を付した図において、実線の波形は、原稿読取時シェーディングデータの交流成分Ａｐｒｅ(ｘ)の波形の例である。交流補正倍率計算部３４２は、まず、図１９の(ａ)の符号を付した図に例示したような、全ての正常ブロックおよび異常ブロックに対して、第２または第３の実施の形態で説明したいずれかの手法で正側の補正倍率α＿ｐ［］および負側の補正倍率α＿ｎ［］を算出する。

次に、交流補正倍率計算部３４２は、異常ブロック（または複数の異常ブロックで構成されるブロック群）を挟む二つ一組の正常ブロックの補正倍率に用いて線形補間を行うことで、異常ブロックの補正倍率を再算出する。すなわち、図１９の(ｂ)の符号を付した図の例の場合、交流補正倍率計算部３４２は、異常ブロックとなっているＮブロックに近接する正常ブロックの補正倍率を用いて線形補間を行うことで近似値を算出し、この近似値を、異常ブロックであるＮブロックの補正倍率とする。図１９の(ｂ)の符号を付した図の例の場合、交流補正倍率計算部３４２は、異常ブロックとなっているＮブロックの前後の正常ブロックであるＮ−１ブロックおよびＮ＋１ブロックの補正倍率を用いて線形補間を行うことで近似値を算出し、この近似値を、異常ブロックであるＮブロックの補正倍率とする。

具体的には、交流補正倍率計算部３４２は、この例の異常ブロックであるＮブロックの正側の補正倍率α＿ｐ［Ｎ］を、以下の数１４式に示す線形補間の演算式を用いて再算出し、負側の補正倍率α＿ｎ［Ｎ］を、以下の数１５式に示す線形補間の演算式を用いて再算出する。

α＿ｐ［Ｎ］＝α＿ｐ［Ｎ−１］＋(（α＿ｐ［Ｎ＋１］−α＿ｐ［Ｎ−１］）×｛Ｎ−（Ｎ−１）｝)／｛（Ｎ＋１）−（Ｎ−１）｝・・・(数１４式)

α＿ｎ［Ｎ］＝α＿ｎ［Ｎ−１］＋(（α＿ｎ［Ｎ＋１］−α＿ｎ［Ｎ−１］）×｛Ｎ−（Ｎ−１）｝)／｛（Ｎ＋１）−（Ｎ−１）｝・・・(数１５式)

なお、この例においては、異常ブロックの前後の正常ブロックを用いて、異常ブロックの補正倍率を線形補間により推定(再算出)した。しかし、例えば異常ブロックの前または後のうち、いずれか一方の複数の正常ブロックを用いて上述の推定を行ってもよい。また、例えば異常ブロックの二つ前の正常ブロック、異常ブロックの一つ前の正常ブロック、異常ブロックの一つ後の正常ブロック、異常ブロックの二つ後の正常ブロックを用いて上述の推定を行う等のように、二つ以上の正常ブロックを用いて上述の推定を行ってもよい。

次に、補正データ生成部３２４は、交流成分抽出３０４からの初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ(ｘ)に、交流補正倍率計算部３４２により算出された正側の補正倍率α＿ｐ［Ｎ］および負側の補正倍率α＿ｎ［Ｎ］を乗算する。これにより、図１９の(ｃ)の符号を付した図に示すように、正常ブロックであるＮ−１ブロックおよびＮ＋１ブロックの初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ(ｘ)が、さらに最適な値のシェーディングデータに補正される。また、異常ブロックであるＮブロックの初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ(ｘ)も、前後の正常ブロックから推定された最適な値のシェーディングデータに補正される。

次に、補正データ生成部３２４は、補正倍率を乗算処理することで補正した初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ(ｘ)と、平滑化部３０３から供給される初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ(ｘ)とを加算処理することで、シェーディング補正用のシェーディングデータを生成する。

次に、出力選択部３４３には、第１記憶部３０１から読み出された原稿読取時シェーディングデータ、および、補正データ生成部３２４により補正された初期シェーディングデータが供給されている。また、出力選択部３４３には、異常検出部３４１からのブロック判別信号が供給されている。このブロック判別信号は、シェーディング補正部３１１でシェーディング補正を行おうとしているブロックが、正常ブロックまたは異常ブロックであることを示す信号である。

出力選択部３４３は、異常検出部３４１から供給されたブロック判別信号が、正常ブロックであることを示す場合、第１記憶部３０１から読み出された原稿読取時シェーディングデータを選択して、シェーディング補正部３１１に供給する。すなわち、シェーディング補正部３１１でシェーディング補正を行おうとしているブロックが、正常ブロックである場合、第１記憶部３０１から読み出された原稿読取時シェーディングデータがシェーディング補正部３１１に供給される。

これに対して、出力選択部３４３は、異常検出部３４１から供給されたブロック判別信号が、異常ブロックであることを示す場合、補正データ生成部３２４により補正された初期シェーディングデータを選択して、シェーディング補正部３１１に供給する。すなわち、シェーディング補正部３１１でシェーディング補正を行おうとしているブロックが、異常ブロックである場合、上述の線形補間により推定された近似値(補正された初期シェーディングデータ)が、シェーディング補正部３１１に供給される。

シェーディング補正部３１１は、原稿読取時シェーディングデータを用いて、正常ブロックのシェーディング補正を行う。また、シェーディング補正部３１１は、上述の線形補間により推定された近似値(補正された初期シェーディングデータ)を用いて、異常ブロックのシェーディング補正を行う。

濃度基準部材の広範囲に汚れが付着した場合、特異的な値となった異常画素群の値が支配的となって補正倍率の演算が行われ、正確な補正倍率を算出することが困難となる。しかし、第４の実施の形態のＭＦＰの場合、異常画素を含む異常ブロックの補正倍率を、異常ブロックの周囲の正常ブロックの値を用いて推定することで、適した値のシェーディング補正データを用いて、さらに正確なシェーディング補正を行うことができる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。

（第５の実施の形態）
次に、本発明の第５の実施の形態となるＭＦＰの説明をする。上述の各実施の形態のＭＦＰは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）を補正するものであった。これに対して、第５の実施の形態のＭＦＰは、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ（ｘ）と共に、直流成分Ｄｉｎｉｔ（ｘ）も補正するようにしたものである。以下、上述の各実施の形態と第５の実施の形態の差異の説明のみ行い、重複説明は省略する。

図２０は、第５の実施の形態のＭＦＰに設けられている白補正部２０５の機能ブロック図である。この図２０の機能ブロックにおいて、異常検出部３４１、直流補正倍率計算部３５１、直流成分補正部３５２、交流成分補正部３５３、および、出力選択部３５４が、上述の各実施の形態との差異となっている。異常検出部３４１は、異常画素検出部も兼ねている。

すなわち、図２１の(ａ)，(ｂ)，(ｃ)の符号を付した各図において、二次曲線状の波形は、原稿読取時シェーディングデータの直流成分Ｄｐｒｅ(ｘ)の波形を示しており、緩やかな曲線状の波形(略々直線状の波形)は、初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ(ｘ)の波形を示している。第５の実施の形態のＭＦＰの場合、図２１の(ａ)，(ｂ)，(ｃ)の符号を付した各図に示したような、初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ(ｘ)、および、原稿読取時シェーディングデータの直流成分Ｄｐｒｅ(ｘ)が、平滑化部３０３および平滑化部３０６から直流補正倍率計算部３５１にそれぞれ供給される。

第５の実施の形態のＭＦＰの場合、異常検出部３４１は、原稿読取時シェーディングデータの直流成分、および、初期シェーディングデータの直流成分を比較することで、濃度基準部材の汚れ等が原因で特異的な変動が発生している画素を検出する。具体的には、異常検出部３４１は、図２１の(ａ)の符号を付した図に例示する原稿読取時シェーディングデータの直流成分Ｄｐｒｅ(ｘ)、および、初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ(ｘ)を比較する。これにより、異常検出部３４１は、Ｔ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｔ)およびＵ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｕ)を異常画素として検出することとなる。この異常画素の検出出力（異常画素検出信号）は、直流補正倍率計算部３５１および出力選択部３５４に供給される。

直流補正倍率計算部３５１は、以下の数１６式の演算を行うことで、主走査軸上の位置ｘにおける直流成分の補正倍率β（ｘ）を算出する。直流補正倍率計算部３５１は、主走査軸上の全ての画素に対する直流成分の補正倍率β（ｘ）を算出する。

β（ｘ）＝Ｄｐｒｅ（ｘ）／Ｄｉｎｉｔ（ｘ）・・・(数１６式)

次に、直流補正倍率計算部３５１は、異常検出部３４１で検出された異常画素を挟む二つの正常画素の補正倍率β（ｘ）を用い、線形補間による近似値を算出し、この近似値を異常画素の補正倍率β（ｘ）とする。すなわち、直流補正倍率計算部３５１は、異常画素の補正倍率β（ｘ）だけ、前後の正常画素を用いて再計算する。

具体的には、図２１の(ａ)の符号を付した図において、原稿読取時シェーディングデータの直流成分Ｄｐｒｅ(ｘ)の出力レベルに大きな落ち込みが生じている箇所が存在する。この出力レベルの落ち込みの開始点となるＳ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｓ)は正常画素である。また、出力レベルの落ち込みの終端点となるＶ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｖ)は正常画素である。これに対して、原稿読取時シェーディングデータの直流成分Ｄｐｒｅ(ｘ)のＳ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｓ)およびＶ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｖ)の間に存在するＴ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｔ)およびＵ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｕ)は、それぞれ異常画素である。すなわち、Ｔ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｔ)およびＵ番目の画素Ｄｐｒｅ(Ｕ)は、原稿読取時シェーディングデータの直流成分Ｄｐｒｅ(ｘ)の出力レベルの落ち込みを生じさせている異常画素である。

直流補正倍率計算部３５１は、Ｓ番目およびＶ番目の各正常画素の直流成分の補正倍率β（Ｓ）、β（Ｖ）を用い、以下の数１７式および数１８式に示す線形補間による近似値の演算を行う。この演算により、直流補正倍率計算部３５１は、この例において異常画素となっているＴ番目およびＵ番目の各異常画素に対応する直流成分の補正倍率β（Ｔ）、β（Ｕ）を再算出(推定)する。

β（Ｔ）＝β（Ｓ）＋（｛β（Ｖ）−β（Ｓ）｝×（Ｔ−Ｓ））／（Ｖ−Ｓ）・・・(数１７式)

β（Ｕ）＝β（Ｓ）＋（｛β（Ｖ）−β（Ｓ）｝×（Ｕ−Ｓ））／（Ｖ−Ｓ）・・・(数１８式)

次に、直流成分補正部３５２は、直流補正倍率計算部３５１で算出した補正倍率β（ｘ）と、平滑化部３０３から供給された初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ(ｘ)とを乗算処理し、乗算処理結果を補正後の直流成分とする。すなわち、直流成分補正部３５２は、以下の数１９式の演算を行うことで、補正後の直流成分Ｄｃｏｒ（ｘ）を算出する。

Ｄｃｏｒ（ｘ）＝β（ｘ）×Ｄｉｎｉｔ（ｘ）・・・(数１９式)

これにより、図２１の(ｂ)の符号を付した図に示すように、初期シェーディングデータの直流成分Ｄｉｎｉｔ(ｘ)に出力レベルの落ち込みが生じている場合でも、図２１の(ｃ)の符号を付した図に示すように、出力レベルの落ち込みを補正した直流成分Ｄｉｎｉｔ(ｘ)を生成することができる。すなわち、図２１の(ｂ)の符号を付した図に示すように、正常画素の補正倍率から再算出(推定)したＴ番目の異常画素用の補正倍率β（Ｔ）およびＵ番目の異常画素用の補正倍率β（Ｕ）で、Ｔ番目およびＵ番目の各異常画素に対応する直流成分Ｄｐｒｅ(Ｔ)および直流成分Ｄｐｒｅ(Ｕ)を補正する。これにより、図２１の(ｃ)の符号を付した図に示すように、Ｔ番目およびＵ番目の各異常画素に対応する直流成分Ｄｐｒｅ(Ｔ)および直流成分Ｄｐｒｅ(Ｕ)の出力レベルの落ち込みを補正することができる。

一方、交流成分補正部３５３は、上述の補正データ生成部３２４と同様に、初期シェーディングデータの補正した交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）を生成する。すなわち、交流成分補正部３５３は、Ａｉｎｉｔ（ｘ）≧０の場合、以下の数２０式に示す演算を行う。これにより、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ(ｘ)に対して、交流補正倍率計算３４２で算出した交流用の正側の補正倍率α＿ｐ［］を乗算処理して補正した交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）を生成する。

Ａｃｏｒ（ｘ）＝Ａｉｎｉｔ（ｘ）×α＿ｐ［］・・・(数２０式)

交流成分補正部３５３は、Ａｉｎｉｔ（ｘ）＜０の場合、以下の数２１式に示す演算を行う。これにより、初期シェーディングデータの交流成分Ａｉｎｉｔ(ｘ)に対して、交流補正倍率計算３４２で算出した交流用の負側の補正倍率α＿ｎ［］を乗算処理して補正した交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）を生成する。

Ａｃｏｒ（ｘ）＝Ａｉｎｉｔ（ｘ）×α＿ｎ［］・・・(数２１式)

次に、出力選択部３５４には、異常検出部３４１で直流成分が異常値となっている異常画素が検出されている間、異常画素検出信号が供給される。出力選択部３５４は、異常画素検出信号が供給されていないときには、以下の数２２式で示すように、原稿読取時シェーディングデータのそのままの直流成分Ｄｐｒｅ（ｘ）、および、そのままの交流成分Ａｐｒｅ（ｘ）を加算処理したシェーディングデータＳＤ（ｘ）を生成する。すなわち、この場合のシェーディングデータＳＤ（ｘ）は、原稿読取時シェーディングデータをそのまま用いることを意味している。出力選択部３５４は、異常画素検出信号が供給されていないときには、この原稿読取時シェーディングデータを、シェーディングデータＳＤ（ｘ）としてシェーディング補正部３１１に供給する。

ＳＤ（ｘ）＝Ａｐｒｅ（ｘ）＋Ｄｐｒｅ（ｘ）・・・(数２２式)

これに対して、出力選択部３５４は、異常検出部３４１から異常画素検出信号が供給された場合、以下の数２３式に示すように、補正された交流成分Ａｃｏｒ（ｘ）と、補正された直流成分Ｄｃｏｒ（ｘ）とを加算処理し、この加算出力を、異常画素用のシェーディングデータＳＤ（ｘ）として選択し、シェーディング補正部３１１に供給する。

ＳＤ（ｘ）＝Ａｃｏｒ（ｘ）＋Ｄｃｏｒ（ｘ）・・・(数２３式)

シェーディング補正部３１１は、原稿読取時シェーディングデータを用いて、正常画素のシェーディング補正を行う。また、シェーディング補正部３１１は、上述の線形補間により近似値に補正された直流成分が補正されたシェーディングデータを用いて、異常画素のシェーディング補正を行う。

以上の説明から明らかなように、第５の実施の形態のＭＦＰは、異常画素の直流成分の補正倍率を、周囲の正常画素の直流成分の補正倍率から線形補間によって近似する。そして、異常画素の直流成分を、直流成分の補正倍率と初期シェーディングデータの直流成分の積で上書き（再算出）する。これにより、原稿読取時シェーディングデータと初期シェーディングデータとの間で直流成分が変化した場合でも、異常画素の直流成分の値を、シェーディング補正に適した値に補正して用いることができる。このため、より正確なシェーディング補正を行うことができる他、上述の各実施の形態と同様の効果を得ることができる。

上述の各実施の形態は、例として説明したものであり、本発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な各実施の形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことも可能である。各実施の形態および各実施の形態の変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１ 導光体
２ 光源部
３ ラインセンサ
３ａ 画素
４ ロッドレンズアレイ
４ａ ロッドレンズ
１１ コントローラ
１４６ 第２読取ローラ（濃度基準部材）
２０５ 白補正部
３０１ 第１記憶部
３０２ 第２記憶部
３０３ 平滑化部
３０４ 交流成分抽出部
３０５ ピーク検出部
３０６ 平滑化部
３０７ 交流成分抽出部
３０８ ピーク検出部
３０９ 交流補正倍率計算部
３１０ 補正データ生成部
３１１ シェーディング補正部
３２１ ピーク検出部
３２２ ピーク検出部
３２３ 交流補正倍率計算部
３２４ 補正データ生成部
３３１ 交流補正倍率計算部
３４１ 異常検出部
３４２ 交流補正倍率計算部
３４３ 出力選択部
３５１ 直流補正倍率計算部
３５２ 直流成分補正部
３５３ 交流成分補正部
３５４ 出力選択部

特開２０１０−０１１２９７号公報

Claims (10)

1. 濃度基準部材から読み取った基準となるシェーディングデータである初期データから第１の直流成分データを抽出する第１の直流成分抽出部と、
   抽出された前記第１の直流成分データと前記初期データとの差分となる第１の交流成分データを抽出する第１の交流成分抽出部と、
   前記初期データよりも時間的に後から前記濃度基準部材から読み取ったシェーディングデータである現在データから第２の直流成分データを抽出する第２の直流成分抽出部と、
   抽出された前記第２の直流成分データと前記初期データとの差分となる第２の交流成分データを抽出する第２の交流成分抽出部と、
   前記第１の交流成分データの絶対値の最大値である第１の最大値を検出する第１のピーク検出部と、
   前記第２の交流成分データの絶対値の最大値である第２の最大値を検出する第２のピーク検出部と、
   前記第２の最大値を前記第１の最大値で除算処理することで、シェーディングデータの交流補正倍率を算出する補正倍率計算部と、
   前記交流補正倍率を乗算処理した前記第１の交流成分データに前記第１の直流成分データを加算処理することで、補正したシェーディングデータを生成する補正データ生成部と、
   補正した前記シェーディングデータを用いて、入力データにシェーディング補正処理を施して出力するシェーディング補正部と
   を有するシェーディング補正装置。
2. 前記第１のピーク検出部は、前記第１の交流成分データの正側の最大値を前記第１の最大値として検出し、
   前記第２のピーク検出部は、前記第２の交流成分データの正側の最大値を前記第２の最大値として検出すること
   を特徴とする請求項１に記載のシェーディング補正装置。
3. 前記第１のピーク検出部は、前記第１の交流成分データの正側の最大値および負側の最小値を検出し、
   前記第２のピーク検出部は、前記第２の交流成分データの正側の最大値および負側の最小値を検出し、
   前記補正倍率計算部は、前記第２のピーク検出部で検出された前記正側の最大値を、前記第１のピーク検出部で検出された前記正側の最大値で除算処理することで、正側のシェーディングデータの交流補正倍率を算出すると共に、前記第２のピーク検出部で検出された前記負側の最小値を、前記第１のピーク検出部で検出された前記負側の最小値で除算処理することで、負側のシェーディングデータの交流補正倍率を算出し、
   前記補正データ生成部は、前記正側の交流補正倍率および前記負側の交流補正倍率をそれぞれ乗算処理した前記第１の交流成分データに前記第１の直流成分データを加算処理することで、補正したシェーディングデータを生成すること
   を特徴とする請求項１または請求項２に記載のシェーディング補正装置。
4. 前記第１のピーク検出部、前記第２のピーク検出部、前記補正倍率計算部、および前記補正データ生成部は、前記濃度基準部材の読み取りを行う読み取りモジュールの所定数の画素に対応するブロック単位で、前記最大値の検出、前記最小値の検出、前記交流補正倍率の算出、または、前記補正したシェーディングデータの生成を行うこと
   を特徴とする請求項３に記載のシェーディング補正装置。
5. 濃度基準部材から読み取った基準となるシェーディングデータである初期データから第１の直流成分データを抽出する第１の直流成分抽出部と、
   抽出された前記第１の直流成分データと前記初期データとの差分となる第１の交流成分データを抽出する第１の交流成分抽出部と、
   前記初期データよりも時間的に後から前記濃度基準部材から読み取ったシェーディングデータである現在データから第２の直流成分データを抽出する第２の直流成分抽出部と、
   抽出された前記第２の直流成分データと前記初期データとの差分となる第２の交流成分データを抽出する第２の交流成分抽出部と、
   所定時間毎に、前記第１の交流成分データおよび前記第２の交流成分データの比を算出すると共に、複数の前記比の平均値を、シェーディングデータの交流補正倍率として算出する補正倍率計算部と、
   前記交流補正倍率を乗算処理した前記第１の交流成分データに前記第１の直流成分データを加算処理することで、補正したシェーディングデータを生成する補正データ生成部と、
   補正した前記シェーディングデータを用いて、入力データにシェーディング補正処理を施して出力するシェーディング補正部と
   を有するシェーディング補正装置。
6. 前記補正倍率計算部は、前記第１の交流成分データおよび前記第２の交流成分データを、正側および負側に分けて、それぞれ前記比、および、前記比の平均値である交流補正倍率の算出を行い、
   前記補正データ生成部は、正側の前記第１の交流成分データに前記正側の交流補正倍率を乗算処理し、負側の前記第１の交流成分データに前記負側の交流補正倍率を乗算処理すること
   を特徴とする請求項５に記載のシェーディング補正装置。
7. 前記補正倍率計算部、および、前記補正データ生成部は、
   前記濃度基準部材の読み取りを行う読み取りモジュールの所定数の画素に対応するブロック単位で、前記比の算出、前記交流補正倍率の算出、および、前記補正したシェーディングデータの生成を行うこと
   を特徴とする請求項５または請求項６に記載のシェーディング補正装置。
8. 前記初期データおよび前記現在データを比較することで、異常値を示す前記現在データを検出する異常検出部と、
   前記現在データおよび前記補正データ生成部からの補正されたシェーディングデータのうち、いずれか一方を選択して前記シェーディング補正部に供給する出力選択部とを有し、
   前記補正倍率計算部は、異常値を示す前記現在データが検出された場合、異常値を示す前記現在データに近接する正常値の前記現在データに対応する、前記第１の交流成分データの交流補正倍率を用いて、近似値となる交流補正倍率を算出し、算出した近似値の交流補正倍率を、前記異常値を示す前記現在データに対応する前記第１の交流成分データの交流補正倍率として出力し、
   前記補正データ生成部は、前記近似値として算出された交流補正倍率で、異常値を示す前記現在データに対応する前記第１の交流成分データを補正し、
   前記出力選択部は、前記異常検出部において、異常値を示す前記現在データが検出されている間は、前記補正データ生成部からの補正されたシェーディングデータを選択し、前記異常検出部で異常値を示す前記現在データが検出されていないときには、前記現在データを選択すること
   を特徴とする請求項１〜請求項７のうち、いずれか一項に記載のシェーディング補正装置。
9. 前記初期データの直流成分および前記現在データの直流成分を比較することで、濃度基準部材の読み取りを行う読み取りモジュールの各画素のうち、直流成分の異常値を示す異常画素を検出する異常画素検出部と、
   前記第１の直流成分データで前記第２の直流成分データを除算処理することで、直流成分データの直流補正倍率を算出すると共に、前記異常画素に近接する正常値の直流成分の正常画素に対応する前記直流補正倍率を用いて、近似値となる直流補正倍率を算出し、算出した近似値の直流補正倍率を、前記異常画素に対応する直流補正倍率として出力する直流補正倍率計算部と、
   前記直流補正倍率を乗算処理して、前記第１の直流成分データのレベル補正を行う直流成分補正部とを有し、
   前記出力選択部は、前記第１の交流成分データに、レベル補正された前記第１の直流成分データを加算処理することで、補正したシェーディングデータを生成すると共に、前記異常画素検出部で前記異常画素が検出されている間、前記補正したシェーディングデータを前記シェーディング補正部に供給し、前記異常画素検出部で前記異常画素が検出されない間は、前記現在データを前記シェーディング補正部に供給すること
   を特徴とする請求項８に記載のシェーディング補正装置。
10. 請求項１〜請求項９のうち、いずれか一項に記載のシェーディング補正装置を備えたこと
    を特徴とする画像処理装置。

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