JP6388886B2 - 半導体ウエハをプラズマ・ダイシングするための方法 - Google Patents
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Description
1)破損及び欠けが減少する
2)切り口寸法を20ミクロンより十分小さくなるまで減少させることができる
3)ダイの数が増加したとき、処理時間が著しくは長くならない
4)より薄いウエハには、処理時間が減少する
5)ダイ・トポロジが直線的なフォーマットに限定されない。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に静電チャックを設けるステップであって、前記静電チャックは、密閉バンド及び少なくとも1つのクランプ電極を有する、ステップと、
加工物を前記加工物サポート上に置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有し、基板は、前記密閉バンドに重ならない、ステップと、
前記静電クランプを使用して、前記加工物を前記加工物サポートに静電的にクランプするステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して前記加工物をエッチングするステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に静電チャックを設けるステップであって、前記静電チャックは、少なくとも1つのクランプ電極を有する、ステップと、
加工物を前記加工物サポート上に置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有し、前記クランプ電極は、基板の一部に重なる、ステップと、
前記静電クランプを使用して、前記加工物を前記加工物サポートに静電的にクランプするステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して加工物をエッチングするステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に静電チャックを設けるステップであって、前記静電チャックは、密閉バンド、流体注入口及び少なくとも1つのクランプ電極を有し、前記流体注入口は、前記密閉バンドの内径内に位置付けられる、ステップと、
加工物を前記加工物サポート上に置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有する、ステップと、
前記静電クランプを使用して、前記加工物を前記加工物サポートに静電的にクランプするステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して加工物をエッチングするステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に静電チャックを設けるステップと、
処理チャンバ内にリフト機構を設けるステップと、
前記リフト機構を使用して、加工物を前記加工物サポート上に載せるステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有し、前記リフト機構は、前記加工物の基板の外径の外側で前記加工物と係合する、ステップと、
前記静電クランプを使用して、前記加工物を前記加工物サポートに静電的にクランプするステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して加工物をエッチングするステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に、静電チャックを設けるステップと、
加工物を前記加工物サポート上に置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有する、ステップと、
前記加工物サポートの第1の領域にRFバイアスを加えるステップであって、前記加工物サポートの前記第1の領域は、サイズが基板の第2の領域より大きい、ステップと、
前記静電クランプを使用して、前記加工物を前記加工物サポートに静電的にクランプするステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して加工物をエッチングするステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
加工物を前記加工物サポート上に置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有する、ステップと、
処理チャンバ内に、機械的隔壁を設けるステップであって、前記機械的隔壁は、プラズマ源と前記加工物の間に位置付けられる、ステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して加工物をエッチングするステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に基板サポートを設けるステップと、
基板を前記基板サポート上に置くステップと、
処理チャンバ内に機械的隔壁を設けるステップであって、前記機械的隔壁は、プラズマ源と基板の間に位置付けられる、ステップと、
RFバイアス・パワーを前記基板サポートに加えるステップであって、前記RFバイアス・パワーは、RFバイアス周波数がイオン・プラズマ周波数より高い、ステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して基板をエッチングするステップと、
前記エッチングするステップを使用して、絶縁層を露出させるステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
加工物を前記加工物サポート上に置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有する、ステップと、
前記処理チャンバ内に複数の機械的隔壁を設けるステップであって、前記複数の機械的隔壁は、プラズマ源と前記加工物の間に位置付けられる、ステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して加工物をエッチングするステップとを含む。
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
処理チャンバの壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
加工物を前記加工物サポート上に置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び基板を有する、ステップと、
処理チャンバ内に機械的隔壁を設けるステップであって、前記機械的隔壁は、プラズマ源と前記加工物の間に位置付けられる、ステップと、
プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
発生されたプラズマを使用して加工物をエッチングするステップと、
性質の均一性を測定するステップと、
前記測定するステップに基づき、前記機械的隔壁の前記位置付けを調節するステップとを含む。
基板を処理するステップと、
少なくとも1つのウエハの性質(たとえば、材料のエッチング速度、選択性比率、特徴プロフィールなど)を測定するステップと、
少なくとも1つの測定された性質に基づき、機械的隔壁(たとえば、隔壁間隔、隔壁から基板までの距離、隔壁厚さ及び/又は貫通穴サイズ、間隔、形状、及び/又はアスペクト比など)を調節するステップとである。別のウエハが処理され、そして必要な場合、機械的隔壁(690)が、所望のウエハ性質(1つ又は複数)を獲得するために、繰り返される。
Claims (15)
- 基板をプラズマ・ダイシングするための方法であって、
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
前記処理チャンバの前記壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
前記処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に静電チャックを設けるステップであって、前記静電チャックは、密閉バンド及び少なくとも1つのクランプ電極を有する、ステップと、
前記加工物サポート上に加工物を置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び前記基板を有し、前記基板は、前記密閉バンドに重ならない、ステップと、
前記静電チャックを使用して前記加工物を前記加工物サポートに対して静電的にクランプするステップと、
前記プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
前記発生されたプラズマを使用して前記加工物をエッチングするステップとを含む、方法。 - 前記クランプ電極が前記基板の一部に重なるステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記クランプ電極が前記基板に完全に重なるステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記クランプ電極が前記密閉バンドの一部に重なるステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記クランプ電極が前記密閉バンドに完全に重なるステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記密閉バンドの内径が前記基板の外径より大きいステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 基板をプラズマ・ダイシングするための方法であって、
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
前記処理チャンバの前記壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
前記処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に静電チャックを設けるステップであって、前記静電チャックは、密閉バンド、流体注入口及び少なくとも1つのクランプ電極を有し、前記流体注入口の少なくとも1部は、前記基板の周囲の外側に位置付けられる、ステップと、
前記加工物サポート上に加工物を置くステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び前記基板を有する、ステップと、
前記静電チャックを使用して前記加工物を前記加工物サポートに対して静電的にクランプするステップと、
前記プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
前記発生されたプラズマを使用して前記加工物をエッチングするステップとを含む、方法。 - 前記クランプ電極が前記基板の一部に重なるステップをさらに含む、請求項7に記載の方法。
- 前記クランプ電極が前記基板に完全に重なるステップをさらに含む、請求項7に記載の方法。
- 前記クランプ電極が、RFでバイアスされるステップをさらに含む、請求項7に記載の方法。
- 前記密閉バンドが前記基板を完全に囲むステップをさらに含む、請求項7に記載の方法。
- 前記流体注入口が前記基板の周囲の外側に位置付けられるステップをさらに含む、請求項7に記載の方法。
- 基板をプラズマ・ダイシングするための方法であって、
壁を有する処理チャンバを設けるステップと、
前記処理チャンバの前記壁に隣接してプラズマ源を設けるステップと、
前記処理チャンバ内に加工物サポートを設けるステップと、
前記加工物サポート内に静電チャックを設けるステップと、
前記処理チャンバ内にリフト機構を設けるステップであって、前記リフト機構は、前記基板の周囲の外側に位置するリフト・ピン穴を使用する、前記設けるステップと、
前記リフト機構を使用して前記加工物サポート上に加工物を載せるステップであって、前記加工物は、サポート・フィルム、フレーム及び前記基板を有し、前記リフト機構は、前記加工物の前記基板の周囲の外側で前記加工物と係合し、前記リフト・ピン穴を通じて移動する、ステップと、
前記静電チャックを使用して前記加工物を前記加工物サポートに対して静電的にクランプするステップと、
前記プラズマ源を使用してプラズマを発生するステップと、
前記発生されたプラズマを使用して前記加工物をエッチングするステップとを含む、方法。 - 前記リフト機構は、前記加工物の前記フレームと係合する、請求項13に記載の方法。
- 前記リフト機構は、前記加工物の前記基板の前記周囲の少なくとも5mm外側で前記加工物と係合する、請求項13に記載の方法。
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