JP6363349B2 - ワークピース加工機械内で受容されるべき温度補償型測定プローブ、及び測定プローブの温度補償 - Google Patents
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Description
に関する。
測定プローブのプロービング装置によってワークピースをプロービングし、
測定プローブの少なくとも1つのプロービング・センサによってこのようなプロービング動作を信号に変換し、
測定プローブに割り当てられた少なくとも1つの温度センサによって測定プローブの温度を表す信号を生成し、そして
少なくとも1つのプロービング・センサの信号と温度センサの信号とをリンクすることにより、ワークピース加工機械の数値制御システムへ出力されるように意図された、測定プローブの温度補償済プロービング信号をもたらす、
工程を含む。
MTS,MTE 温度補償型測定プローブ
WS ワークピース
ASE プロービングセンサ
TKAS 温度補償済プロービング信号
Claims (17)
- ワークピース加工機械(WBM)内で受容されるようになっていて、ワークピース(WS)に関する測定値を記録するため、及び該測定値を表す信号を出力するために接触式又は非接触式で測定を行う温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)であって、
温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)は、
ワークピース(WS)を一次元又は多次元プロービングするためのプロービング装置(TE)と、
プロービング動作を信号に変換するための少なくとも1つのプロービングセンサ(ASE)と、
測定プローブ(MTS)の温度を表す信号(T)を生成するために、測定プローブ(MTS)に割り当てられた少なくとも1つの温度センサ(TS)と、
ワークピース加工機械(WBM)の数値制御システム(NC)へ出力されるように意図された温度補償済プロービング信号(TKAS)をもたらすように、少なくとも1つのプロービングセンサ(ASE)の信号と温度センサ(TS)の信号(T)とを関連づけするリンク装置(VE)と、を備え、
前記リンク装置(VE)は、温度補償済プロービング信号(TKAS)をもたらすために、前記少なくとも1つのプロービングセンサ(ASE)の信号を前記温度センサ(TS)の信号(T)に関連づけ、該温度センサ(TS)の信号(T)に反映する温度に応じて、プロービング中の前記測定プローブのフィード速度に応じた前記少なくとも1つのプロービングセンサ(ASE)の信号が、時間的に遅延した態様で前記温度補償済プロービング信号(TKAS)として出力されるようにし、
前記時間的に遅延した態様は前記リンク装置(VE)で処理された遅延時間によって定められることを特徴とする温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - いくつかの温度センサ(TS)が測定プローブ(MTS)に割り当てられており、測定プローブの信号は、温度補償済プロービング信号(TKAS)をもたらすために、リンク装置(VE)内で、少なくとも1つのプロービングセンサ(ASE)の信号と関連づけすることを特徴とする請求項1に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- 前記リンク装置(VE)は、少なくとも1つのプロービング・センサ(ASE)の信号を、温度センサ(TS)の信号(T)に関連づけ、温度センサ(TS)の信号(T)に反映する温度に応じて、少なくとも1つのプロービング・センサ(ASE)の信号の未プロービング状態とプロービング済状態の間の切り換え閾値を変化させ、プロービング・センサ(ASE)の信号が温度補償済プロービング信号(TKAS)として出力される態様で温度補償済プロービング信号(TKAS)をもたらすようにし、且つ/又は、
リンク装置(VE)は、少なくとも1つのプロービング・センサ(ASE)の信号を温度センサ(TS)の信号(T)に関連づけ、温度センサ(TS)の信号(T)を時間、前記プロービング装置(TE)の偏向方向及び/又は偏向規模に関して記憶された関数に応じて変化させ、少なくとも1つのプロービングセンサ(ASE)に未プロービング状態とプロービング済状態の間の相応の切り換え閾値が指定されるようにして、温度補償済プロービング信号(TKAS)をもたらすようにしたことを特徴とする請求項1又は2に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - 温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)であって、
測定プローブに1つ又は2つ以上の歪みゲージが装着され、温度補償型測定プローブの、温度に起因する伸長を代表的な個所で測定し、測定結果をワークピース加工機械の数値制御システムへ伝送し、且つ/又は
測定プローブの該温度に起因する伸長を割り出す目的で、測定プローブは該/各温度センサ(TS)の信号(T)を利用し、ワークピース加工機械の数値制御システムにこの温度に起因する伸長値を伝送することを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - 測定プローブがハウジング(G)を有しており、ハウジング内には環状支持ベアリングが測定プローブのX,Yベアリング平面と該X,Yベアリング平面に対して垂直な中心Z軸とを画定しており、
支持体(TK)が、前記環状支持ベアリングに対向する環状対向ベアリング(GL)と、長手方向軸とを有し、ハウジング(G)と支持体(TK)との間にはばね(F)がクランプされていて、ばねは支持体を休止位置に保持しようとし、休止位置では対向ベアリング(GL)が支持ベアリング(SL)と当接し、支持体(TK)の長手方向軸は測定プローブ(MTS,MTE)の中心軸Zと少なくともほぼ一致し、スタイラス(TS)を受容するために、支持体(TK)の中心にスタイラス・ソケット(TSA)が配置されており、
伝達部材(UG)がハウジング(G)内で案内され、測定プローブとワークピースとの相対運動によってもたらされる、支持体(TK)のその休止位置からの任意の偏向を直線運動に変換するために、中心Z軸に沿って変位可能となるようにし、
少なくとも1つのプロービング・センサ(ASE)が伝達部材のこのような運動を信号に変換し、
伝達部材(UG)の一方の端部が、スタイラス・ソケット(TSA)の中心に配置されて、他方の端部に隣接する一部だけが中心軸Zの方向に案内され、伝達部材(UG)は、少なくとも1つのプロービング・センサ(ASE)から見て、ベアリング平面を超えて位置する支持体(TK)上の場所に配置されており、1つのプロービング・センサ(ASE)は、変位依存性アナログ測定信号を有するか又はバイナリ切り換え信号を有する光バリアの一部であり、スタイラス・ソケット(TSA)は支持体(TK)に配置されているか又は支持体(TK)の一部であり、長手方向に沿って変位可能であるように案内されていて、ストッパによって画定された通常位置に向かう方向に弾性的に付勢されている、ことを特徴とする請求項1〜4までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - (i)少なくとも測定プローブとワークピースとの、測定プローブの中心Z軸に沿った相対運動を、X,Yベアリング平面内の運動から区別し、
(ii)これを再現する方向信号を該リンク装置(VE)へ発信するように設定された運動方向検出器(BRD)が設けられており、
リンク装置(VE)は、測定プローブとワークピースとが測定プローブの中心Z軸に沿って相対運動する場合、温度補償済プロービング信号(TKAS)を出力し、そして測定プローブとワークピースとが測定プローブのX,Yベアリング平面内で相対運動する場合には、非温度補償信号を出力するように設定されている、ことを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - 運動方向検出器(BRD)は、変位依存性アナログ測定信号の信号変化速度から方向信号を突き止めるように、
測定プローブとワークピースとが測定プローブの中心Z軸に沿って相対運動する場合、温度補償済プロービング信号(TKAS)を出力し、測定プローブとワークピースとが測定プローブのX,Yベアリング平面内で相対運動する場合には、少なくとも1つのプロービング・センサ(ASE)の非温度補償信号を出力するように設定されており、且つ/又は、
運動方向検出器(BRD)は、プロービング・センサ(ASE)の変位依存性アナログ測定信号の高い信号変化速度を、測定プローブとワークピースとの、測定プローブの中心Z軸に沿った相対運動として評価し、プロービング・センサ(ASE)の変位依存性アナログ測定信号の比較的低い信号変化速度を、測定プローブとワークピースとの、測定プローブのX,Yベアリング平面内の相対運動として評価する、
ことを特徴とする請求項1〜6までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - 測定プローブとワークピースとの相対運動の変化する運動方向のためのいくつかのプロービングセンサ(ASE)が設けられており、プロービング・センサ(ASE)の機械的な配置及び配向によって、Z方向に割り当てられたプロービングセンサ(ASE)によってのみ信号がリンク装置(VE)への温度補償出力を活性化し、且つ/又は、Z方向に割り当てられたプロービングセンサ(ASE)の信号だけが、温度補償されるようになっていることが保証される、ことを特徴とする請求項1〜7までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- 加速度センサが、測定プローブとワークピースとの相対運動の変化する運動方向を検出しており、加速度センサの機械的な配置及び配向によって、該加速度センサがZ方向に割り当てられている場合に、信号がリンク装置(VE)への温度補償出力を活性化する、
ことを特徴とする請求項1〜8までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - 測定プローブとワークピースとの相対運動の変化する運動方向を検出し、XYZ空間内のXY平面に対して傾斜したプロービング角度(a)を成すプロービング動作を評価するために、センサが設けられており、測定値の全ては、前記リンク装置(VE)内で前記プロービング角度(a)の関数で乗算され、出力される遅延時間によって、Z成分に対して比例的に補償される、ことを特徴とする請求項1〜9までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- 測定プローブがワークピースのプロービングを行う前に機械制御システムから測定プローブへプロービング角度(a)が伝送され、又は(ii)測定プローブ内に配置された運動方向検出器(BRD)からの信号がプロービング角度(a)を反映し、信号はリンク装置へ供給され、又は(iii)軸方向に生じる力を突き止めるためにプロービング装置(TE)に割り当てられた歪みゲージまたは圧電センサからの信号がリンク装置(TE)に供給される、ことを特徴とする請求項10に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- プロービング角度(a)を割り出す目的で、プロービング・センサ内の信号変化速度、及びプロービング装置(TE)のシャフト内又は支持体内にある1つ又は2つ以上のセンサで測定されたプロービング力の両方が、リンク装置(VE)内で評価される、ことを特徴とする請求項10に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- プロービング角度(a)を割り出す目的で、支持体上、又は測定プローブのハウジング内のその支持部上のいくつかの場所にセンサが配置されており、センサは、測定プローブがワークピースのプロービングを行う時に生じる前記プロービング装置(TE)の偏向方向及び/又は偏向規模を前記リンク装置(VE)へ提供するように設定されている、ことを特徴とする請求項10に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- 測定プローブとワークピースとの相対運動の変化する運動方向のために、測定プローブ内にいくつかのセンサが設けられており、センサは、これらの機械的な配置及び配向によって、偏向が生じた場合に全てがそれぞれ信号を発信し、信号に基づいて、偏向角度(a)がリンク装置(VE)内で突き止められ、前記少なくとも1つのプロービングセンサ(ASE)の信号の遅延時間は、温度補償を目的として該プロービング角度(a)の正弦によって乗算される、ことを特徴とする請求項1〜13までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- 測定プローブとワークピースとの相対運動の運動方向は、スイッチによって手動でリンク装置(VE)に指定されるようになっており、且つ/又は、
測定プローブとワークピースとの相対運動の運動方向は、ワークピース加工機械(WBM)の数値制御システム(NC)によって該リンク装置(VE)に指定されるようになっている、ことを特徴とする請求項1から14までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。 - 前記測定プローブと前記ワークピースとが前記測定プローブのZ軸に沿って相対運動する場合において、ワークピース加工機械(WBM)の数値制御システム(NC)が、毎測定運動の開始時にデータ・インターフェイスを介して前記測定プローブに前記相対運動の方向を通信することによって、温度補償がリンク装置(VE)によって活性化されるようになっている、ことを特徴とする請求項1から15までのいずれか一項に記載の温度補償型測定プローブ(MTS,MTE)。
- 請求項1〜16の何れか一項に記載の測定プローブの温度補償方法であって、測定プローブが、測定プローブとワークピースとの毎測定運動の開始時に、又は時間的インターバルを置いて、データ・インターフェイスを介してワークピース加工機械(WBM)の数値制御システム(NC)に、温度補正値又は長さ補正値を通信し、
測定が測定プローブのZ軸に沿って行われる場合、又は測定がZ軸とは空間的に異なるプロービング方向に沿って行われる場合、数値制御システム(NC)は、ワークピース加工機械(WBM)の変位測定システムを介して突き止められた位置によって温度補償を相殺することを特徴とする測定プローブの温度補償方法。
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DE102013015237A1 (de) * | 2013-09-13 | 2015-03-19 | Blum-Novotest Gmbh | Rauheits-Messinstrument zum Einsatz in einer Werkzeugmaschine und Verfahren zur Rauheitsmessung in einer Werkzeugmaschine |
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JP6216400B2 (ja) * | 2016-02-26 | 2017-10-18 | 株式会社ミツトヨ | 測定プローブ |
EP3444686B1 (en) * | 2017-08-15 | 2021-12-22 | GF Machining Solutions AG | Method for using a geometrical probe with a spindle of a machine tool, and machine tool configured to carry out such a method |
GB201806830D0 (en) * | 2018-04-26 | 2018-06-13 | Renishaw Plc | Surface finish stylus |
AU2019373598B2 (en) * | 2018-11-02 | 2022-12-08 | Tineco Intelligent Technology Co., Ltd. | Cleaning device and control method therefor |
CN113686239B (zh) * | 2020-05-19 | 2024-06-04 | 宝山钢铁股份有限公司 | 基于光电传感器的自动测温枪的探头套接/拔除检测方法 |
CN113686238B (zh) * | 2020-05-19 | 2022-07-19 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种冶金自动测温枪的探头套接/拔除检测实现方法 |
CN111964619A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-11-20 | 南京航空航天大学 | 一种位移传感器测量轴类零件的温差补偿方法 |
Family Cites Families (30)
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US3250012A (en) | 1963-02-01 | 1966-05-10 | Lockheed Aircraft Corp | Inspection device and method |
JPS61279465A (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-10 | Mazda Motor Corp | 内面研削盤におけるワ−クの内径寸法測定装置 |
DE3831975A1 (de) | 1988-04-12 | 1989-10-26 | Wegu Messtechnik | Piezogesteuerter dynamischer tastkopf |
US5052121A (en) * | 1988-07-01 | 1991-10-01 | Albion Devices, Inc. | Temperature-compensated quantitative dimensional measurement device with rapid temperature sensing and compensation |
DE3822873C1 (ja) * | 1988-07-06 | 1989-10-12 | Guenter Prof. Dr.-Ing. Dr.H.C. Dr.E.H. Spur | |
DE4217641C2 (de) | 1992-05-28 | 1997-07-17 | Wolfgang Madlener | Tastkopf zum dreidimensionalen Antasten von Werkstücken |
JPH07108457A (ja) * | 1993-10-08 | 1995-04-25 | Toyoda Mach Works Ltd | 熱変位補正機能を有した定寸装置 |
JP3792266B2 (ja) * | 1994-06-16 | 2006-07-05 | 森精機興産株式会社 | 工作機械の熱変位補正方法及びその装置 |
US5853961A (en) | 1995-04-19 | 1998-12-29 | Tokyo Electron Limited | Method of processing substrate and apparatus for processing substrate |
JP3413068B2 (ja) * | 1997-08-19 | 2003-06-03 | オークマ株式会社 | 工作機械の熱変位推定方法 |
EP0969264A3 (de) * | 1998-05-06 | 2001-06-13 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Flächiger Sensor, Anordnung des flächigen Sensors und Verfahren zur Kompensation thermischer Verformungen |
IT1305536B1 (it) | 1998-09-21 | 2001-05-09 | Marposs Spa | Testata per il controllo di dimensioni lineari di pezzi meccanici |
WO2001096809A1 (en) * | 2000-06-16 | 2001-12-20 | Renishaw Plc | Force sensing probe |
JP2002224935A (ja) * | 2001-01-31 | 2002-08-13 | Toyoda Mach Works Ltd | 工作機械の定寸装置およびその制御プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 |
DE10241087B4 (de) | 2002-08-29 | 2006-06-08 | Blum-Novotest Gmbh | Multidirektionaler Messtaster |
KR20060015557A (ko) * | 2003-04-28 | 2006-02-17 | 스티븐 제임스 크램톤 | 외골격을 구비한 cmm 암 |
GB0603128D0 (en) * | 2006-02-16 | 2006-03-29 | Renishaw Plc | Articulating probe head apparatus |
JP2006145560A (ja) * | 2006-03-06 | 2006-06-08 | Mitsutoyo Corp | 倣いプローブの校正プログラムおよび校正方法 |
EP2064027B1 (en) * | 2006-08-31 | 2013-08-28 | Faro Technologies Inc. | Smart probe |
WO2008132483A1 (en) * | 2007-04-30 | 2008-11-06 | Renishaw Plc | Analogue probe with temperature control and method of operation |
DE102007043030B4 (de) | 2007-09-11 | 2009-11-12 | M & H Inprocess Messtechnik Gmbh | Werkzeugaufnahme sowie Messtaster mit einer Werkzeugaufnahme |
JP2010105063A (ja) * | 2008-10-28 | 2010-05-13 | Fanuc Ltd | 温度ドリフト補正を行う機上計測装置を用いるワークの形状計測方法および機上計測装置を備えた工作機械 |
US8104189B2 (en) * | 2009-06-30 | 2012-01-31 | Hexagon Metrology Ab | Coordinate measurement machine with vibration detection |
CN102771079A (zh) * | 2010-01-20 | 2012-11-07 | 法罗技术股份有限公司 | 具有多通信通道的便携式关节臂坐标测量机 |
EP2402714B1 (fr) * | 2010-07-02 | 2013-04-17 | Tesa Sa | Dispositif de mesure de dimensions |
JP5816475B2 (ja) * | 2010-08-02 | 2015-11-18 | 株式会社ミツトヨ | 産業機械 |
IT1403845B1 (it) * | 2010-10-29 | 2013-11-08 | Marposs Spa | Sonda di tastaggio e relativo metodo di controllo |
EP2629048B1 (fr) * | 2012-02-20 | 2018-10-24 | Tesa Sa | Palpeur |
WO2013131007A1 (en) * | 2012-03-02 | 2013-09-06 | Hexagon Metrology, Inc. | Coordinate measuring machine with constrained counterweight |
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