JP6334528B2 - 撮像装置および生産設備 - Google Patents

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Description

本発明は、対象物を撮像する撮像装置、および撮像装置による画像データに基づいて生産処理を制御する生産設備に関するものである。
撮像装置は、様々な分野に用いられ、例えば特許文献1には、工業分野において種々の製品の生産に用いられる生産設備である部品実装機に、部品カメラや基板カメラとして適用された構成が開示されている。この部品実装機においては、撮像装置の撮像による画像データに基づいて認識した電子部品などの状態を実装制御に反映させて、実装制御の精度の向上が図られている。撮像装置は、例えば部品実装機の小型化などの要請によって、外形寸法や設置場所が制約されることがある。そこで、特許文献2には、光学系に可変焦点レンズを採用した撮像装置が開示されている。可変焦点レンズは、印加電圧に応じて焦点距離を変動可能なので、光学系の部品点数を低減して撮像装置の小型化を図ることができる。
ところで、可変焦点レンズを備える撮像装置における焦点合わせの方法としては、エッジ処理などの画像処理を用いた方法が知られている。しかし、この方法では、画像処理に基づいて印加電圧の調整を行うため、焦点合わせにある程度の時間を要することになる。そこで、撮像の対象物までの距離を予め認識している場合には、可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との間に一定の相関関係があることを利用して、撮像の対象物に応じて所定の電圧を可変焦点レンズに印加する方法がある(特許文献2の段落[0032]を参照)。これにより、撮像の際に画像処理や印加電圧の調整が不要となるため、撮像処理の効率化を図ることができる。
特開2013−26278号公報 特開2011−86847号公報
しかしながら、可変焦点レンズは、周辺温度などの撮像環境に動作が影響されることが知られ、一定の電圧を印加された状態でも、例えば可変焦点レンズの温度の変化に伴って焦点距離が変動することがある。そうすると、画像処理によらず所定の電圧を可変焦点レンズに印加して焦点合わせを行う方法においては、目標の焦点距離と実際の焦点距離との間に誤差が生じて、撮像環境によって焦点がずれてしまうおそれがある。これに対して、温度センサにより可変焦点レンズの温度を測定して、その測定結果に基づいて印加電圧を補正することが考えられる。しかしながら、この構成では、温度センサの増設に伴うコストの増加や、撮像処理の負荷の増加などが懸念される。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、撮像環境に応じて撮像の対象物に確実に焦点合わせを行うことができる撮像装置、および撮像装置を備える生産設備を提供することを目的とする。
本発明の撮像装置は、印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像制御部と、前記撮像素子から規定の距離に設けられた標準点を撮像の対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧を調整して、前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部と、前記標準点を撮像の対象物として、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示す規定のレンズ特性に基づいて算出される前記可変焦点レンズへの標準の印加電圧と、前記焦点制御部が前記標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レンズへの現在の印加電圧との差分を補正電圧として算出する補正電圧算出部と、を備え、前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記規定のレンズ特性に基づいて算出される電圧に、前記補正電圧を付加した目標電圧を前記可変焦点レンズに印加する。
このような構成によると、撮像装置は、撮像素子から撮像の対象物までの概ねの距離を予め認識していることを前提として、当該距離に応じた所定の電圧を印加する焦点合わせの方法を採用している。よって、撮像装置は、撮像の際に画像処理に基づく印加電圧の調整を要しないので、撮像処理の効率化を図ることができる。また、対象物を撮像する際に可変焦点レンズに印加される目標電圧には、現在の撮像環境を反映した補正電圧が含まれる。これにより、周辺温度などの撮像環境が変化した場合においても、当該撮像環境に適応した電圧を可変焦点レンズに印加できる。よって、撮像環境に応じて撮像の対象物に確実に焦点合わせを行うことができる。また、補正電圧算出部は、予め記憶されている規定のレンズ特性を用いて撮像環境を反映した補正電圧を算出するので、実際の焦点合わせを少なくとも1回行うことで補正電圧を算出できる。さらに、従来のような温度補正と異なり、現在の撮像環境に確実に適応するので補正精度が高く、また温度センサを要さないので製造コストの増加を防止できる。
本発明の撮像装置は、印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像制御部と、前記撮像素子から互いに異なる規定の距離に設けられた複数の標準点をそれぞれ撮像の対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧を調整して、前記複数の標準点ごとに前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部と、前記焦点制御部が前記複数の標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レンズへの現在の印加電圧のそれぞれに基づいて、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示す現在のレンズ特性を設定するレンズ特性設定部と、を備え、前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記現在のレンズ特性に基づいて算出される目標電圧を前記可変焦点レンズに印加し、前記撮像制御部は、同一の前記対象物を異 なる時刻にそれぞれ撮像し、当該撮像による各画像データの空間周波数を構成する複数の 周波数成分を比較することにより、前記現在のレンズ特性の更新の要否を判定する。
このような構成によると、撮像装置は、撮像素子から撮像の対象物までの概ねの距離を予め認識していることを前提として、当該距離に応じた所定の電圧を印加する焦点合わせの方法を採用している。よって、撮像装置は、撮像の際に画像処理に基づく印加電圧の調整を要しないので、撮像処理の効率化を図ることができる。また、対象物を撮像する際に可変焦点レンズに印加される目標電圧は、現在の撮像環境を反映して設定された現在のレンズ特性に基づいて算出される。これにより、周辺温度などの撮像環境が変化した場合においても、当該撮像環境に適応した電圧を可変焦点レンズに印加できる。よって、撮像環境に応じて撮像の対象物に確実に焦点合わせを行うことができる。また、レンズ特性設定部は、複数の標準点に対して実際に焦点合わせを行った結果を用いて撮像環境を反映した現在のレンズ特性を設定するので、現在の撮像環境に適応した現在のレンズ特性をより高精度に設定することができる。さらに、従来のような温度補正と異なり、現在の撮像環境に確実に適応するので補正精度が高く、また温度センサを要さないので製造コストの増加を防止できる。
本発明の撮像装置は、印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像制御部と、前記撮像素子から規定の距離に設けられた標準点を撮像の対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧を調整して、前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部と、予め記憶されている前記可変焦点レンズへの印加電圧に対する焦点距離の変化の割合と、前記焦点制御部が前記標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レンズへの現在の印加電圧とに基づいて、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示す現在のレンズ特性を設定するレンズ特性設定部と、を備え、前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記現在のレンズ特性に基づいて算出される目標電圧を前記可変焦点レンズに印加し、前記撮像制御部は、同 一の前記対象物を異なる時刻にそれぞれ撮像し、当該撮像による各画像データの空間周波 数を構成する複数の周波数成分を比較することにより、前記現在のレンズ特性の更新の要 否を判定する。
このような構成によると、撮像装置は、撮像素子から撮像の対象物までの概ねの距離を予め認識していることを前提として、当該距離に応じた所定の電圧を印加する焦点合わせの方法を採用している。よって、撮像装置は、撮像の際に画像処理に基づく印加電圧の調整を要しないので、撮像処理の効率化を図ることができる。また、対象物を撮像する際に可変焦点レンズに印加される目標電圧は、現在の撮像環境を反映して設定された現在のレンズ特性に基づいて算出される。これにより、周辺温度などの撮像環境が変化した場合においても、当該撮像環境に適応した電圧を可変焦点レンズに印加できる。よって、撮像環境に応じて撮像の対象物に確実に焦点合わせを行うことができる。また、レンズ特性設定部は、予め記憶されている可変焦点レンズへの印加電圧に対する焦点距離の変化の割合を用いて撮像環境を反映した現在のレンズ特性を設定するので、実際の焦点合わせを少なくとも1回行うことで現在のレンズ特性を設定できる。さらに、従来のような温度補正と異なり、現在の撮像環境に確実に適応するので補正精度が高く、また温度センサを要さないので製造コストの増加を防止できる。
第一実施形態における部品実装機を示す全体図である。 部品実装機の制御装置と部品カメラを示すブロック図である。 図1における部品カメラを示す側面図である。 保護ガラスとカメラ視野との関係を示す図である。 部品実装機による実装処理を示すフロー図である。 補正電圧の算出処理を示すフロー図である。 規定のレンズ特性と補正電圧を示すグラフである。 補正電圧を用いた撮像処理を示すフロー図である。 第二実施形態における制御装置と部品カメラを示すブロック図である。 現在のレンズ特性の設定処理を示すフロー図である。 現在のレンズ特性を示すグラフである。
以下、本発明の撮像装置および生産設備を具体化した実施形態について図面を参照して説明する。本実施形態において、生産設備は、回路基板に電子部品を実装して生産される回路基板製品を対象とし、この回路基板製品の生産ラインを構成する。また、本実施形態では、生産設備が部品実装機である構成を例示する。部品実装機は、例えば集積回路の製造工程において、回路基板上に複数の電子部品を装着する装置である。この回路基板は、例えばスクリーン印刷機により電子部品の装着位置にクリームハンダを塗布され、複数の部品実装機を順に搬送されて電子部品を装着される。その後に、電子部品を装着された回路基板は、リフロー炉に搬送されてハンダ付けされることにより回路基板製品として集積回路を構成する。
<第一実施形態>
(部品実装機の全体構成)
部品実装機1の全体構成について、図1,2を参照して説明する。部品実装機1は、基板搬送装置10と、部品供給装置20と、部品移載装置30と、部品カメラ50と、基板カメラ60と、制御装置70とを備えて構成される。各装置10,20,30および各カメラ50,60は、部品実装機1の基台2に設けられ、制御装置70により制御される。また、図1に示すように、部品実装機1の水平幅方向(図1の左上から右下に向かう方向)をX軸方向、部品実装機1の水平長手方向(図1の右上から左下に向かう方向)をY軸方向、鉛直高さ方向(図1の上下方向)をZ軸方向とする。
基板搬送装置10は、回路基板BをX軸方向に搬送するとともに、回路基板Bを所定位置に位置決めする。この基板搬送装置10は、Y軸方向に並設された第一搬送機構11と第二搬送機構12とにより構成されたダブルコンベアタイプである。第一搬送機構11は、一対のガイドレール11a,11bと、図示しないコンベアベルトなどにより構成される。一対のガイドレール11a,11bは、基台2の上部にX軸方向に平行に配置され、コンベアベルトに載置されて搬送される回路基板Bを案内する。また、所定位置まで搬送された回路基板Bは、図示しないクランプ装置により基台2側から押し上げられることでクランプされる。第二搬送機構12は、第一搬送機構11と同様に構成されているため、詳細な説明を省略する。
部品供給装置20は、回路基板Bに実装される電子部品を供給する装置である。部品供給装置20は、部品実装機1のY軸方向の前部側(図1の左前側)に配置されている。この部品供給装置20は、本実施形態において、複数のカセット式のフィーダ21を用いたフィーダ方式としている。フィーダ21は、基台2に対して着脱可能に取り付けられるフィーダ本体部21aとフィーダ本体部21aの後端側に設けられたリール収容部21bとを有する。フィーダ21は、リール収容部21bにより部品包装テープが巻回された供給リール22を保持している。
上記の部品包装テープは、電子部品が所定ピッチで収納されたキャリアテープと、このキャリアテープの上面に接着されて電子部品を覆うトップテープとにより構成される。フィーダ21は、図示しないピッチ送り機構により供給リール22から引き出された部品包装テープをピッチ送りする。そして、フィーダ21は、キャリアテープからトップテープを剥離して電子部品を露出させている。これにより、フィーダ21は、フィーダ本体部21aの前端側に位置する部品供給位置Plにおいて、部品移載装置30が電子部品を吸着可能となるように電子部品の供給を行っている。
部品移載装置30は、電子部品を部品供給位置Plから回路基板Bの実装位置に移載する装置である。本実施形態において、部品移載装置30は、基板搬送装置10および部品供給装置20の上方に配置された直交座標型としている。この部品移載装置30は、Y軸方向に延在する一対のY軸レール31にY軸方向に移動可能にY軸移動台32が設けられている。Y軸移動台32は、ボールねじ機構を介してY軸モータ33の動作により制御される。また、Y軸移動台32には、X軸移動台34がX軸方向に移動可能に設けられている。X軸移動台34は、図示しないボールねじ機構を介してX軸モータ35の動作により制御される。
また、X軸移動台34には、部品装着ヘッド40が取り付けられている。この部品装着ヘッド40は、Z軸と平行なR軸回りに回転可能なノズルホルダ41により複数の吸着ノズル42を昇降可能に支持する。部品装着ヘッド40は、フレーム43をX軸移動台34に固定されている。また、ノズルホルダ41は、R軸モータ44の出力軸に連結され、R軸モータ44によって回転制御可能に構成されている。吸着ノズル42は、Z軸モータ45などにより構成される昇降機構によりZ軸方向の移動を制御されるとともに、図示しないθ軸モータの回転駆動により自転角度を制御される。また、吸着ノズル42は、部品装着ヘッド40における吸着機構を構成し、制御される空気圧の負圧によって電子部品を吸着可能としている。
部品カメラ50および基板カメラ60は、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子を有するデジタル式の撮像装置である。部品カメラ50および基板カメラ60は、通信可能に接続された制御装置70による制御信号に基づいてカメラ視野に収まる範囲の撮像を行い、当該撮像により取得した画像データを制御装置70に送出する。また、部品カメラ50および基板カメラ60の「カメラ視野」とは、各カメラ50,60のレンズユニットや撮像素子によって定まる撮像可能な範囲をいう。
部品カメラ50は、光軸がZ軸方向となるように基台2に固定され、吸着ノズル42に吸着された状態の電子部品を撮像可能に構成されている。この部品カメラ50から画像データを取得した制御装置70は、画像処理により吸着ノズル42による電子部品の吸着状態を認識する。このように、電子部品の吸着状態に応じて吸着ノズル42の位置および角度を補正することで、実装制御の精度向上を図ることが可能となる。また、部品カメラ50の構成の詳細については後述する。
基板カメラ60は、光軸がZ軸方向となるようにX軸移動台34に固定され、回路基板Bを撮像可能に構成されている。この基板カメラ60から画像データを取得した制御装置70は、画像処理により例えば基板に付された基板マークを認識することで、基板搬送装置10による回路基板Bの位置決め状態を認識する。そして、制御装置70は、回路基板Bの位置決め状態に応じてY軸移動台32およびX軸移動台34を位置補正して、電子部品の装着を行うように制御する。このように、基板カメラ60の撮像による画像データを用いることにより、実装制御の精度向上を図ることが可能となる。
制御装置70は、主として、CPUや各種メモリ、制御回路により構成され、部品カメラ50および基板カメラ60の撮像により取得した画像データに基づいて部品装着ヘッド40の動作を制御する。この制御装置70は、図2に示すように、実装制御部71、画像処理部72、および記憶部73に、バスを介して入出力インターフェース74が接続されている。入出力インターフェース74には、モータ制御回路75および撮像制御回路76が接続されている。
実装制御部71は、モータ制御回路75を介して部品装着ヘッド40の位置や吸着機構の動作を制御する。より詳細には、実装制御部71は、部品実装機1に複数設けられた各種センサから出力される情報や、各種の認識処理の結果を入力する。そして、実装制御部71は、記憶部73に記憶されている制御プログラム、各種センサによる情報、画像処理や認識処理の結果に基づいて、モータ制御回路75に制御信号を送出する。画像処理部72は、撮像制御回路76を介して部品カメラ50および基板カメラ60の撮像による画像データを取得して、用途に応じた画像処理を実行する。この画像処理には、例えば、画像データの二値化、フィルタリング、色相抽出などの加工処理などが含まれる。
記憶部73は、ハードディスク装置などの光学ドライブ装置、またはフラッシュメモリなどにより構成される。この記憶部73には、部品実装機1を動作させるための制御プログラム、バスや通信ケーブルを介して部品カメラ50および基板カメラ60から制御装置70に転送された画像データ、画像処理部72による処理の一時データなどが記憶される。入出力インターフェース74は、CPUや記憶部73と各制御回路75,76との間に介在し、データ形式の変換や信号強度を調整する。
モータ制御回路75は、実装制御部71による制御信号に基づいて、Y軸モータ33、X軸モータ35、R軸モータ44、Z軸モータ45、およびθ軸モータを制御する。これにより、部品装着ヘッド40が各軸方向に位置決めされるとともに、吸着ノズル42が所定角度となるように制御される。撮像制御回路76は、制御装置70のCPUなどによる撮像の制御信号に基づいて、部品カメラ50および基板カメラ60による撮像を制御する。また、撮像制御回路76は、部品カメラ50および基板カメラ60の撮像による画像データを取得して、入出力インターフェース74を介して記憶部73に記憶させる。
(部品カメラの詳細構成)
部品カメラ50の詳細構成について、図2〜図4を参照して説明する。部品カメラ50は、主として、光学系を構成するレンズユニットNlと、当該レンズユニットNlを支持する本体部Nbとを有する。部品カメラ50のレンズユニットNlは、図3に示すように、固定レンズ51、液体レンズ52(本発明の「可変焦点レンズ」に相当する)、保護ガラス53などにより構成される。部品カメラ50の本体部Nbは、撮像素子54、図示しないCPUや各種メモリなどにより構成される。固定レンズ51および液体レンズ52は、撮像素子54の光軸と同軸となるように配置されている。固定レンズ61は、所定の焦点距離に設定された対物レンズである。
液体レンズ52は、印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズである。本実施形態では、可変焦点レンズとして、2つの電極間に異なる複数の流体を配置された液体レンズを採用している。液体レンズ52は、例えば水溶液とオイルの境界面にレンズ面を形成しており、電極に電圧が印加されると水溶液およびオイルが流動して境界面が曲面状に変形してレンズとして作用する。また、液体レンズ52は、電極への印加電圧が高くなるに従ってレンズ面の曲率が小さくなり、焦点距離が短くなる。よって、液体レンズ52への印加電圧の制御をもって、液体レンズ52の焦点距離を制御することができる。
保護ガラス53は、レンズユニットNlの最外部において撮像の対象物(電子部品)と液体レンズ52との間に配置され、ユニット内部への異物の侵入等を防止する。保護ガラス53は、撮像の対象物から部品カメラ50への入射光を透過可能な透過部材であり、本実施形態ではガラス材料により形成されている。この保護ガラス53は、レンズユニットNlが本体部Nbに連結されることによって、撮像素子54から規定の距離Lsとなるように固定される。
また、保護ガラス53には、図4に示すように、標準マークMs(本発明の「標準点」に相当する)が付されている。この標準マークMsは、後述する補正電圧ΔVrの算出などに用いられる。本実施形態において、標準マークMsは、4本の線分を等間隔に配置して構成され、保護ガラス53の所定の位相における外周縁であって、保護ガラス53の内側面に付されている。これにより、標準マークMsは、部品カメラ50が本来の目的として電子部品を撮像の対象物とする際には、カメラ視野Fvの主要範囲の外側に位置して電子部品の撮像を妨げないように構成されている。
撮像素子54は、上記のようにCCDやCMOSなどであり、部品カメラ50の本体部Nbにおいて、その撮像面にレンズユニットNlの光軸が直交するように配置される。この撮像素子54は、保護ガラス53、固定レンズ51、および液体レンズ52の透過光を、撮像面に結像された光の強弱に応じて発生される電気信号に変換する。
また、部品カメラ50の本体部NbのCPUは、図2に示すように、撮像制御部55と、焦点制御部56と、補正電圧算出部57とを有する。撮像制御部55は、外部入力される制御信号およびメモリに記憶されている設定値等に基づいて、液体レンズ52に所定の電圧を印加するとともに、撮像素子54により変換された電気信号をデジタル信号に変換して対象物を撮像する。そして、撮像制御部55は、撮像により取得した画像データを制御装置70に転送する。この撮像制御部55による撮像処理については、後述する部品実装機1の実装処理において説明する。
焦点制御部56は、標準マークMsを撮像の対象物として、撮像素子54の電気信号に基づいて液体レンズ52への印加電圧を調整して、液体レンズ52の焦点合わせを行う。具体的には、焦点制御部56は、撮像制御部55により変換されたデジタル信号を画像処理して、液体レンズ52を含むレンズユニットNlの焦点が合っているか否かを判定する。そして、焦点制御部56は、レンズユニットNlの焦点が合っていない場合には、液体レンズ52の動作制御の制御値である印加電圧を調整して、液体レンズ52の焦点距離を変動させることで焦点合わせを行う。
本実施形態においては、焦点制御部56は、上記の画像処理においてコントラスト検出方式を採用している。即ち、焦点制御部56は、画像データにおける所定領域について算出したコントラストの値に基づいて、焦点が合っているか否かを判定している。また、焦点制御部56は、図4に示すように、部品カメラ50が撮像可能な撮像領域(即ち、カメラ視野Fv)のうち標準マークMsを含む一部の領域を有効領域Ffとして設定する。そして、焦点制御部56は、標準マークMsに対して液体レンズ52の焦点合わせを行う際に、有効領域Ffについて撮像素子54の電気信号に基づいて液体レンズ52への印加電圧の調整処理を行う。
補正電圧算出部57は、撮像制御部55が撮像の際に液体レンズ52に印加する目標電圧の生成に必要とされる補正電圧ΔVrを算出する。この補正電圧ΔVrは、可変焦点レンズである液体レンズ52の動作が周辺温度などの撮像環境により影響されることを勘案して、その動作を補正するために用いられる。補正電圧算出部57は、レンズ特性と実際に焦点合わせを行った際の印加電圧とに基づいて、補正電圧ΔVrを算出する。
ここで、レンズ特性とは、液体レンズ52への印加電圧と、焦点距離との関係を示すものである。液体レンズ52の焦点距離は、液体レンズ52を含むレンズユニットNl全体の焦点距離や、部品カメラ50から撮像の対象物までの距離と相関がある。よって、レンズ特性としては、液体レンズ52への印加電圧と、対象物−部品カメラ50間の距離との関係を示すようにして、印加電圧と焦点距離との関係を間接的に示すものとしてもよい。この補正電圧算出部57による補正電圧ΔVrの算出処理については、後述する部品実装機1の実装処理において説明する。
上記のように構成される部品カメラ50において、レンズユニットNlの被写界深度は、固定レンズ51と液体レンズ52の焦点距離や、撮像の対象物までの距離などに応じて定まる。レンズユニットNlの被写界深度は、鮮鋭な画像データを取得するという観点からは深いほど望ましいが、過剰に深くするとコスト増大などのおそれがある。そのため、レンズユニットNlの被写界深度は、用途に応じた範囲を確保しつつ、過剰とならない程度に設定されることが望ましい。
ここで、部品カメラ50は、吸着ノズル42に吸着された電子部品の撮像を目的としている。そのため、部品カメラ50から対象物である電子部品までの距離は、電子部品の高さや動作の位置誤差による影響はあるものの、概ね一定とみなすことが可能である。つまり、レンズユニットNlの被写界深度は、固定レンズ51および液体レンズ52によるレンズユニットNlの焦点距離に依存することになる。
一方で、部品カメラ50は、上記のように、撮像環境による影響を勘案して、液体レンズ52の動作の補正処理を行うものとしている。この補正処理は、現在の撮像環境に適応するために、実測値(焦点合わせを行った際の印加電圧)に基づいて実行されるため、その補正に誤差が含まれるおそれがある。しかしながら、この補正の誤差は、概ね所定の範囲に収まることが分かっている。
そこで、本実施形態では、先ず同一の距離にある対象物に対して焦点制御部56が液体レンズ52の焦点合わせを複数回に亘って行った場合に生じる印加電圧の誤差を取得する。そして、液体レンズ52を含むレンズユニットNlの被写界深度は、取得した印加電圧の誤差を許容する範囲に設定される構成としている。これにより、レンズユニットNlの被写界深度が過剰となることを防止してコスト増大を抑制しつつ、十分な性能の確保を図っている。
(部品実装機による実装処理)
上記の部品実装機1による電子部品の実装処理について、図5を参照して説明する。この実装処理は、生産設備(部品実装機)による対象製品の「生産処理」に相当する。部品実装機1は、準備処理(ステップ11(以下、「ステップ」を「S」と表記する))を実行した後に、電子部品の実装制御に移行する。この実装制御では、先ず、複数の吸着ノズル42に電子部品を順次吸着させる吸着処理(S12)が実行される。次に、部品装着ヘッド40を部品カメラ50の上方に移動させて、吸着された複数の電子部品を撮像する撮像処理(S13)が実行される。その後に、電子部品を回路基板Bに順次装着する装着処理(S14)が実行される。
そして、全ての電子部品の装着が終了したか否かを判定し(S15)、装着が終了するまで上記処理(S12〜S14)が繰り返される。上記の実装制御では、実装精度の向上を図るために、各吸着ノズル42による電子部品の吸着状態に対応して吸着ノズル42の移動を制御している。そのため、制御装置70は、撮像処理(S13)により取得された画像データを画像処理することにより、各吸着ノズル42による電子部品の吸着状態を認識するようにしている。
ここで、本実施形態の部品カメラ50は、可変焦点レンズである液体レンズ52を有していることから、撮像の対象物までの距離が変動しても、その都度焦点合わせを行うことが可能な構成となっている。しかし、部品カメラ50の焦点合わせは、上記のように、コントラスト検出方式などの画像処理および印加電圧の調整処理を実行するため、ある程度の時間を要することになる。これに対して、撮像処理(S13)では、電子部品の実装制御におけるサイクルタイムの短縮などを目的として、撮像の対象物に対して画像処理による焦点合わせを省略する構成としている。
具体的には、部品カメラ50の撮像制御部55は、撮像素子から撮像の対象物(電子部品)までの概ねの距離を予め認識していることを前提として、当該距離に応じた所定の電圧を印加することをもって焦点合わせがなされたものとする方式を採用している。このような焦点合わせの方式では、撮像処理(S13)において、画像処理に基づく印加電圧の調整処理を要しないので、処理の効率化を図ることが可能となる。その一方で、この方式では、撮像環境による液体レンズ52の動作の影響を勘案しないと、所定の電圧を印加したとしても撮像の対象物にレンズユニットNlの焦点が合わないおそれがある。
そこで、本実施形態では、上記の準備処理(S11)において、現在の撮像環境に適応した撮像を行うために、撮像処理(S13)に先駆けて、補正電圧ΔVrの算出を行うようにしている。そして、この補正電圧ΔVrを用いてレンズユニットNlの焦点距離を変動させることで、焦点合わせの高速化および焦点ずれの防止を図っている。なお、この補正電圧ΔVrの算出については、例えば、部品実装機1の電源投入時や生産工程の移行時などに適宜行われる。
(補正電圧の算出処理)
準備処理(S11)における補正電圧ΔVrの算出処理について、図6,7を参照して説明する。部品カメラ50の焦点制御部56は、先ず、保護ガラス53に付された標準マークMs(図3,4を参照)を撮像の対象物として、レンズユニットNlの焦点合わせを行う(S111)。
具体的には、焦点制御部56は、焦点距離を変動可能な液体レンズ52への印加電圧を調整することで、レンズユニットNl全体として標準マークMsに焦点合わせがなされた状態とする。このとき、焦点制御部56は、カメラ視野Fvのうち標準マークMsを含む有効領域Ffについて画像処理を実行し、その処理結果に基づいて印加電圧を調整する。このように、焦点制御部56は、有効領域Ffの外部については画像処理の対象外として、有効領域Ffに対する焦点合わせの高速化および処理負荷の軽減を図っている。
次に、標準マークMsを撮像の対象物として、焦点制御部56が液体レンズ52を含むレンズユニットNlの焦点合わせを行った際の液体レンズ52への現在の印加電圧Vcを取得する(S112)。この「現在の印加電圧Vc」は、周辺温度などを含む現在の撮像環境において、撮像素子54から規定の距離Lsにある標準マークMsに焦点合わせをした際に、液体レンズ52に印加されている電圧である。つまり、現在の印加電圧Vcは、現在の撮像環境に適応した電圧である。
続いて、補正電圧算出部57は、標準点を撮像の対象物として、液体レンズ52への印加電圧と焦点距離との関係を示す規定のレンズ特性LCpに基づいて、液体レンズ52への標準の印加電圧Vbを算出する(S113)。規定のレンズ特性LCpは、図7の実線のように示され、例えば標準的な撮像環境における実測値に基づいて生成され、予め部品カメラ50のメモリに記憶されている。ここで、液体レンズ52の焦点距離LFsは、標準マークMsまでの規定の距離Lsに対応する。つまり、液体レンズ52が所定の電圧を印加されて焦点距離LFsとなった場合に、レンズユニットNlが規定の距離Lsにある標準マークMsに焦点が合っている状態となる。
そして補正電圧算出部57は、S112で取得された現在の印加電圧Vcと、S113で算出された標準の印加電圧Vbとの差分(Vc−Vb)を補正電圧ΔVrとして算出する(S114)。ここで、図7に示すように、液体レンズ52が規定の距離Lsに対応した焦点距離LFsとなるのは、標準的な撮像環境では標準の印加電圧Vbを要し、現在の撮像環境では現在の印加電圧Vcを要する。
このように、液体レンズ52は、周辺温度を含む撮像環境が変化した場合に印加電圧の調整を要するが、その調整量としては、何れの焦点距離においても同程度あることが見出された。つまり、現在のレンズ特性は、図7の破線で示すように、規定のレンズ特性LCpを補正電圧ΔVrだけシフトさせた状態となる。よって、上記のように算出された補正電圧ΔVrは、規定のレンズ特性LCpにおける何れの焦点距離においても、現在の撮像環境に適応させる補正量といえる。
(補正電圧を用いた撮像処理)
上記のように算出された補正電圧ΔVrを用いた撮像処理(S13)の詳細について、図7,8を参照して説明する。部品カメラ50の撮像制御部55は、先ず、吸着ノズル42に吸着された電子部品を撮像の対象物として、当該対象物までの距離と規定のレンズ特性LCpに基づいて基礎電圧Vxを算出する(S131)。ここで、「対象物までの距離」は、撮像素子54から吸着ノズル42の先端部までの距離に対応し、部品装着ヘッド40や部品カメラ50の設置位置や寸法などに基づいて予め認識されている。
また、算出された基礎電圧Vxとは、標準的な撮像環境において、液体レンズ52の当該電圧を印加したとすると、液体レンズ52が焦点距離LFx1となり、吸着ノズル42に吸着された電子部品にレンズユニットNlの焦点が合っている状態となる電圧である。ここでは、撮像環境に変化があり、液体レンズ52に基礎電圧Vxを印加したとしても、レンズユニットNlの焦点が電子部品に合っていない状態にあるものとする。
そこで、撮像制御部55は、S131で算出された基礎電圧Vxに、S114で予め算出された補正電圧ΔVrを付加して(Vx+ΔVr)、目標電圧Vt1を算出する(S132)。さらに、撮像制御部55は、より確実に焦点ずれを防止するために、制御プログラムに含まれる電子部品の寸法情報を取得し、当該電子部品を対象物として撮像する際に、電子部品における部品カメラ50の光軸方向長さに基づいて、目標電圧Vt1を補正する。
具体的には、撮像制御部55は、先ず、制御プログラムに含まれる電子部品の寸法情報として、例えば部品番号などを取得する。そして、撮像制御部55は、部品番号に対応して当該電子部品の寸法が記録された部品テーブルから、部品カメラ50の光軸方向(Z軸方向)の寸法Hpを取得する。続いて、撮像制御部55は、規定のレンズ特性LCpに基づいて、レンズユニットNlの焦点距離が寸法Hpだけ短くなった場合に、液体レンズ52に印加する電圧の変化量を調整電圧ΔVfとして算出する(S133)。
そして、撮像制御部55は、S132で算出された目標電圧Vt1に、S133で算出された調整電圧ΔVfを付加して(Vt1+ΔVf)、補正された目標電圧Vt2を算出する(S134)。この補正された目標電圧Vt2が液体レンズ52に印加されると、液体レンズ52が焦点距離LFx2となり、現在の撮像環境において、レンズユニットNlの焦点が吸着ノズル42に吸着された電子部品の下面に合っている状態となる。そして、撮像制御部55は、この状態でカメラ視野Fvに収まる範囲の撮像を行う(S135)。その後に、部品カメラ50が撮像により取得した画像データを制御装置70に送出して、撮像処理を終了する。
ここで、補正された目標電圧Vt2の算出には補正電圧ΔVrが用いられ、当該補正電圧ΔVrの算出には現在の印加電圧Vcが用いられている。そうすると、現在の印加電圧Vcが画像処理に基づく印加電圧の調整により取得されることから、補正電圧ΔVrには所定の範囲の誤差が生じるおそれがある。しかしながら、本実施形態においては、部品カメラ50のレンズユニットNlの被写界深度は、補正電圧ΔVrを含む目標電圧Vt2の誤差を許容する範囲に設定されている。これにより、仮に補正電圧ΔVrの算出において誤差が生じたとしても、この補正電圧ΔVrを用いて算出された目標電圧Vt2を液体レンズ52に印加した際に、レンズユニットNlの被写界深度が当該誤差を許容し、対象物に焦点を合わせることを可能としている。
(本実施形態の構成による効果)
上述した部品実装機1および部品カメラ50によると、撮像制御部55は、撮像の対象物(電子部品)を撮像する際に、画像処理に基づく印加電圧の調整処理を行うことなく、液体レンズ52に目標電圧Vt2を印加することで、レンズユニットNlを対象物に焦点合わせすることができる。部品カメラ50は、撮像処理の効率化を図ることができる。また、液体レンズ52に印加される目標電圧Vt2には、現在の撮像環境を反映した補正電圧ΔVrが含まれる。これにより、周辺温度などの撮像環境が変化した場合においても、当該撮像環境に適応した電圧を液体レンズ52に印加できる。よって、撮像環境に応じて撮像の対象物に確実に焦点合わせを行うことができる。
また、補正電圧算出部57は、予め記憶されている規定のレンズ特性LCpを用いて撮像環境を反映した補正電圧ΔVrを算出するので、画像処理に基づく焦点合わせを少なくとも1回行うことで補正電圧ΔVrを算出できる。さらに、従来のような温度補正と異なり、現在の撮像環境に確実に適応するので補正精度が高く、また温度センサを要さないので製造コストの増加を防止できる。
本実施形態では、撮像素子から規定の距離Lsに配置される標準点(標準マークMs)は、レンズユニットNlへの入射光を透過可能な保護ガラス53に付される構成とした。これにより、標準マークMsを部品カメラ50として一体的にできるので、部品実装機1などに部品カメラ50を設置する際に、撮像素子54から標準マークMsまでの距離の調整が不要となる。よって、部品カメラ50の設置を容易にすることが可能となる。よって、撮像素子54と標準マークMsとの間を規定の距離Lsに確実に維持することができる。
焦点制御部56は、標準マークMsにレンズユニットNlに焦点合わせを行う際に(S111)、カメラ視野Fvのうち標準マークMsを含む有効領域Ffについて画像処理を実行し、その処理結果に基づいて印加電圧を調整する構成とした。これにより、焦点制御部56は、有効領域Ffの外部については画像処理の対象外として、有効領域Ff焦点合わせを高速化できるとともに、焦点合わせの処理負荷を軽減することができる。
また、部品カメラ50のレンズユニットNlの被写界深度は、補正電圧ΔVrを含む目標電圧Vt2の誤差を許容する範囲に設定される構成とした。これにより、仮に補正電圧ΔVrの算出において誤差が生じたとしても、この補正電圧ΔVrを用いて算出された目標電圧Vt2を液体レンズ52に印加した際に、レンズユニットNlの被写界深度が当該誤差を許容し、対象物に焦点を合わせることができる。よって、部品カメラ50は、撮像処理(S13)において、現在の撮像環境に適応しつつ、焦点がずれることをより確実に防止できる。また、レンズユニットNlの被写界深度を必要最小限に抑えることができるので、レンズユニットNlの外形寸法を比較的小さく設定できる。
また、部品カメラ50は、可変焦点レンズに液体レンズ52を採用する構成とした。可変焦点レンズとしては、液体レンズと液晶レンズが考えられる。ここで、液体レンズは、液晶レンズと比較すると、製造コストを抑えることができるが、周辺温度などの撮像環境による影響を受けやすい。そこで、可変焦点レンズに液体レンズが採用された構成に本発明を適用することで、液体レンズによる製造コストの低減という利点を受けつつ、撮像環境に適応した撮像が可能となる。
本実施形態において、生産設備は、回路基板製品を対象とした生産ラインを構成し、回路基板に電子部品を装着する部品実装機1であるものとした。このような部品実装機1には、対象製品の微細化や生産処理の高精度化が望まれており、上述した構成からなる部品カメラ50の部品実装機1への適用は特に有用である。
本実施形態では、部品実装機1は、上述した構成からなる部品カメラ50を備えるものとした。これにより、部品実装機1は、現在の撮像環境に適応して撮像を行う部品カメラ50による画像データを得られるので、焦点ずれが生じていない鮮鋭な画像データを高速に得られる。よって、制御装置70は、電子部品の吸着状態を認識するための画像処理において、鮮鋭な画像データを用いて高精度な処理が可能となる。従って、部品実装機1の実装制御の精度向上を図ることができる。
また、撮像制御部55は、制御プログラムに含まれる電子部品の寸法情報を取得し、当該情報に基づいて目標電圧Vt1をさらに補正する構成とした(S133,S134)。ここで、部品カメラ50は、撮像の対象物までの距離を概ね認識していることを前提としている。しかし、対象物の寸法が変化すると、その変化量の分だけ撮像素子54までの距離が変動する。つまり、電子部品が同一の吸着ノズル42に吸着されているとしても、電子部品の寸法の違いにより焦点距離の調整を要することがある。そこで、制御プログラムに含まれる電子部品の寸法情報から部品高さ(即ち、部品カメラ50の光軸方向長さ)の分だけ印加電圧を補正することで、対象物にレンズユニットNlの焦点をより確実に合わせることができる。
<第二実施形態>
第二実施形態の部品実装機および撮像装置について、図9〜図11を参照して説明する。第二実施形態の構成は、主として、第一実施形態とは目標電圧の算出方法が相違する。その他の共通する構成については、第一実施形態と実質的に同一であるため、詳細な説明を省略する。以下、相違点のみについて説明する。
(部品カメラの詳細構成)
部品カメラ150の本体部NbのCPUは、図9に示すように、撮像制御部155と、焦点制御部156と、レンズ特性設定部158とを有する。撮像制御部155は、第一実施形態の部品カメラ50における撮像制御部55に対応する。この撮像制御部155による撮像処理の詳細については、後述する。
焦点制御部156は、撮像素子54から互いに異なる規定の距離に設けられた複数の標準点をそれぞれ撮像の対象物として、撮像素子54の電気信号に基づいて液体レンズ52への印加電圧を調整して、複数の標準点ごとに液体レンズ52の焦点合わせを行う。上記の「複数の標準点」とは、レンズユニットNlの光軸方向に異なる位置に配置された2以上の標準マークなどである。よって、複数の標準点は、第一実施形態と同様に保護ガラス53に付される他に、部品装着ヘッド40などに付される構成としてもよい。
レンズ特性設定部158は、撮像制御部155が撮像の際に液体レンズ52に印加する目標電圧の算出に必要とされる現在のレンズ特性を設定する。この現在のレンズ特性は、可変焦点レンズである液体レンズ52の動作が周辺温度などの撮像環境により影響されることを勘案して、その動作を補正するために用いられる。レンズ特性設定部158は、複数の標準点に対して実際に焦点合わせを行った際の現在の印加電圧のそれぞれに基づいて、現在のレンズ特性を設定する。
(現在のレンズ特性の設定処理)
レンズ特性設定部158による現在のレンズ特性の設定処理について、図10,11を参照して説明する。なお、現在のレンズ特性LCcの設定は、例えば第一実施形態と同様に、電子部品の実装処理における準備処理(図5のS11)など、撮像処理(同図のS13)に先駆けて適宜行われる。部品カメラ150の焦点制御部156は、先ず、保護ガラス53などに付されている標準点Ps1〜Ps3を撮像の対象物として、レンズユニットNlの焦点合わせを行う(S211)。
次に、レンズ特性設定部158は、S211で焦点制御部156が複数の標準点Ps1〜Ps3に対して焦点合わせ行った際の液体レンズ52への現在の印加電圧Vc1〜Vc3を取得する(S212)。そして、レンズ特性設定部158は、現在の印加電圧Vc1〜Vc3のそれぞれに基づいて、液体レンズ52への印加電圧と焦点距離との関係を示す現在のレンズ特性LCcを設定する(S213)。
現在のレンズ特性LCcの設定方法としては、2つの標準点に焦点合わせを行った際の2種類の印加電圧を用いて、焦点距離−印加電圧の平面上において各点を通る直線として設定してもよい。本実施形態においては、3つの標準点Ps1〜Ps3に焦点合わせを行った際の3種類の印加電圧Vc1〜Vc3を用いて、焦点距離−印加電圧の平面上において各点を近似した直線として設定する方法を採用している。
より詳細には、レンズ特性設定部158は、先ず、標準点Ps1までの規定の距離にレンズユニットNlの焦点が合っていることに基づいて、その際の液体レンズ52の焦点距離LFs1を算出する。同様に、標準点Ps2,Ps3についても液体レンズ52の焦点距離LFs2,LFs3を算出する。そして、レンズ特性設定部158は、図11の実線で示すように、焦点距離−印加電圧の平面上において、焦点距離LFs1〜LFs3に対する印加電圧Vc1〜Vc3の3点を最小自乗法などにより近似した直線を現在のレンズ特性LCcとして設定する。
(現在のレンズ特性を用いた撮像処理)
上記のように設定された現在のレンズ特性LCcを用いた撮像処理について説明する。撮像制御部155は、対象物を撮像する際に、対象物までの距離と現在のレンズ特性LCcに基づいて算出される目標電圧を算出する。そして、撮像制御部155は、この目標電圧を液体レンズ52に印加して、レンズユニットNlの焦点が対象物に合っている状態とする。そして、撮像制御部155は、この状態でカメラ視野Fvに収まる範囲の撮像を行う。その後に、部品カメラ150が撮像により取得した画像データを制御装置70に送出して、撮像処理を終了する。また、撮像制御部155は、第一実施形態と同様に、目標電圧を調整電圧ΔVfによりさらに補正する構成としてもよい。
(本実施形態の構成による効果)
上述した部品カメラ150によると、第一実施形態と同様の効果を奏する。また、液体レンズ52に印加される目標電圧は、現在のレンズ特性LCcに基づいて設定される構成とした。これにより、周辺温度などの撮像環境が変化した場合においても、当該撮像環境に適応した電圧を液体レンズ52に印加できる。よって、撮像環境に応じて撮像の対象物に確実に焦点合わせを行うことができる。
また、レンズ特性設定部158は、3つの標準点Ps1〜Ps3に対して実際に焦点合わせを行った結果を用いて撮像環境を反映した現在のレンズ特性LCcを設定する構成とした。これにより、レンズ特性設定部158は、現在の撮像環境に適応した現在のレンズ特性LCcをより高精度に設定することができる。さらに、従来のような温度補正と異なり、現在の撮像環境に確実に適応するので補正精度が高く、また温度センサを要さないので製造コストの増加を防止できる。
<第二実施形態の変形態様>
第二実施形態において、レンズ特性設定部158は、焦点制御部156が複数の標準点Ps1〜Ps3に対して焦点合わせ行った際の液体レンズ52への現在の印加電圧Vc1〜Vc3のそれぞれに基づいて、現在のレンズ特性LCcを設定するものとした。これに対して、レンズ特性設定部158は、予め記憶されている可変焦点レンズへの印加電圧に対する焦点距離の変化の割合に基づいて現在のレンズ特性LCcを設定する構成としてもよい。
ここで、可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示すレンズ特性は、図11で示すように、直線的な変化の割合を有する。そして、このレンズ特性は、撮像環境の変化に伴って焦点距離−印加電圧の平面上を平行移動するように変化する。つまり、撮像環境の変化の前後におけるレンズ特性の傾きA1,A2は、ほぼ等しい値となることが見出された。そこで、このレンズ特性の傾きに相当する変化の割合を予めメモリに記憶しておく。そして、レンズ特性設定部158は、例えば1つの標準点にのみ焦点合わせを行った際の印加電圧と、レンズ特性の変化の割合に基づいて現在のレンズ特性LCcを設定することが可能となる。
このような構成によると、レンズ特性設定部158は、実際の焦点合わせを焦点制御部156が少なくとも1回行うことで現在のレンズ特性LCcを設定できる。よって、部品カメラ50は、現在のレンズ特性LCcの設定を行う準備処理に要する時間を短縮することができる。また、このような構成においても、第二実施形態と同様の構成により、同様の効果を奏する。
<第一、第二実施形態の変形態様>
(補正電圧ΔVrおよび現在のレンズ特性LCcの更新の要否判定)
上述したように、撮像環境に可変焦点レンズの動作が影響されることに鑑みて、第一実施形態では補正電圧ΔVrを算出し、第二実施形態では現在のレンズ特性LCcを設定し、これらを用いることで現在の撮像環境に適応を図る構成とした。また、補正電圧ΔVrおよび現在のレンズ特性LCcについては、例えば電子部品の実装処理における準備処理(S11)など、部品実装機1の電源投入時や生産工程の移行時に適宜行われるものとした。
これに対して、撮像環境には周辺温度などが含まれることから、時間の経過とともに撮像環境も変化することが考えられる。そうすると、準備処理(S11)において、その時刻の撮像環境に適応したとしても、撮像環境の変化の大きさによっては、撮像処理においてレンズユニットNlの焦点がずれるおそれがある。そこで、撮像環境の変化に追従すべく、補正電圧ΔVrおよび現在のレンズ特性LCcを適宜更新する必要性がある。
補正電圧ΔVr等の更新のタイミングについては、前回の算出時から所定の時間が経過した場合に自動的に行うことが考えられる。その他に、撮像制御部55,155は、同一の対象物を異なる時刻にそれぞれ撮像し、撮像による各画像データの空間周波数を構成する複数の周波数成分を比較することにより、補正電圧ΔVrおよび現在のレンズ特性LCcの更新の要否を判定するようにしてもよい。
より具体的には、撮像制御部55,155は、先ず、準備処理(S11)から電子部品の実装制御に移行した後の撮像処理(S13)で取得した画像データについて周波数解析を行う。この周波数解析では、例えば、画像データの空間周波数を構成する複数の周波数成分のうち輝度値が最大となる周波数を記録する。また、複数の周波数成分については、画像データを部品実装機1の制御装置に転送する前にJPEG圧縮する場合には、圧縮過程の離散コサイン変換を行った際の中間データから取得することができる。
そして、撮像制御部55,155は、撮像処理のたびに、複数の周波数成分のうち輝度値が最大となる周波数を取得する。撮像制御部55,155は、記憶されている当初の周波数と、撮像処理のたびに取得される周波数とを比較する。そして、これらの周波数が一致する場合には、補正電圧ΔVr等の更新が不要であるものと判定し、これらの周波数が一致しない場合には、補正電圧ΔVr等の更新を要するものと判定する。
このような更新の要否の判定方法は、レンズユニットNlの焦点が対象物からずれ始めると、画像データにおけるコントラストに変化が生じ、その結果、空間周波数を構成する複数の周波数成分の各輝度値にも変化が生じることを利用している。これにより、例えば定期的に標準点を撮像する必要なく、実装制御の実行中に現在使用している補正電圧ΔVrおよび現在のレンズ特性LCcの有効性を判定しつつ撮像処理を行うことができる。よって、撮像環境に適応して、焦点ずれが生じることを確実に防止できる。
(その他)
可変焦点レンズとしては、第一、第二実施形態で例示した液体レンズの他に、液晶レンズを採用してもよい。また、また、撮像装置として、部品実装機1に用いられる部品カメラ50を例示して説明した。これに対して、撮像装置は、部品実装機1の基板カメラ60としてもよい。この構成では、撮像の対象物を回路基板Bとして、クリームハンダの印刷状態や、電子部品の装着状態、部品供給装置20による部品供給状態などの認識に使用できるので、これらを実装制御に反映させて実装制御の精度の向上を図ることができる。
さらに、撮像装置は、部品実装機1に適用される他に、撮像素子54から撮像の対象物までの概ねの距離を予め認識していることを前提として、所定の電圧を可変焦点レンズに印加することをもって焦点合わせを行う構成であれば、他の生産設備や撮像装置単体として使用されるようにしてもよい。例えば、撮像装置は、回路基板製品の生産ラインを構成する他の印刷機や検査機に適用することも可能である。さらに、撮像装置は、回路基板製品以外の製品を生産の対象とする工作機械や汎用組立機などの生産設備に適用することも可能である。このような構成においても、実施形態と同様の効果を奏するとともに、製品の微細化や高精度化が望まれる生産設備への適用は特に有用である。
また、撮像装置は、生産設備などに配置される構成においては、通信可能に接続された制御装置の一部が撮像装置の一部を構成するものとして、生産設備側の制御装置に撮像制御部55,155、焦点制御部56,156、補正電圧算出部57、またはレンズ特性設定部158を配置してもよい。
1:部品実装機(生産設備)、 2:基台
10:基板搬送装置、 20:部品供給装置、 30:部品移載装置
50,150:部品カメラ、 Nb:本体部、 Nl:レンズユニット
51:固定レンズ、 52:液体レンズ、 53:保護ガラス
54:撮像素子、 55,155:撮像制御部
56,156:焦点制御部、 57:補正電圧算出部
158:レンズ特性設定部
60:基板カメラ、 70:制御装置
Fv:カメラ視野、 Ff:有効領域
Ms:標準マーク(標準点)、 Ps1〜Ps3:標準点
Ls:規定の距離
LCp:規定のレンズ特性、 LCc:現在のレンズ特性
Vb:標準の印加電圧
Vc,Vc1〜Vc3:現在の印加電圧、 ΔVr:補正電圧
Vx:基礎電圧、 Vt1,Vt2:目標電圧、 ΔVf:調整電圧
LFs,LFs1〜LFs3:液体レンズの焦点距離

Claims (14)

  1. 印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、
    前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、
    対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像制御部と、
    前記撮像素子から規定の距離に設けられた標準点を撮像の対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧を調整して、前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部と、
    前記標準点を撮像の対象物として、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示す規定のレンズ特性に基づいて算出される前記可変焦点レンズへの標準の印加電圧と、前記焦点制御部が前記標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レンズへの現在の印加電圧との差分を補正電圧として算出する補正電圧算出部と、を備え、
    前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記規定のレンズ特性に基づいて算出される電圧に、前記補正電圧を付加した目標電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像装置。
  2. 印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、
    前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、
    対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像制御部と、
    前記撮像素子から互いに異なる規定の距離に設けられた複数の標準点をそれぞれ撮像の対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧を調整して、前記複数の標準点ごとに前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部と、
    前記焦点制御部が前記複数の標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レンズへの現在の印加電圧のそれぞれに基づいて、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示す現在のレンズ特性を設定するレンズ特性設定部と、を備え、
    前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記現在のレンズ特性に基づいて算出される目標電圧を前記可変焦点レンズに印加し、
    前記撮像制御部は、同一の前記対象物を異なる時刻にそれぞれ撮像し、当該撮像による 各画像データの空間周波数を構成する複数の周波数成分を比較することにより、前記現在 のレンズ特性の更新の要否を判定する撮像装置。
  3. 印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、
    前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、
    対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像制御部と、
    前記撮像素子から規定の距離に設けられた標準点を撮像の対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧を調整して、前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部と、
    予め記憶されている前記可変焦点レンズへの印加電圧に対する焦点距離の変化の割合と、前記焦点制御部が前記標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レンズへの現在の印加電圧とに基づいて、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示す現在のレンズ特性を設定するレンズ特性設定部と、を備え、
    前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記現在のレンズ特性に基づいて算出される目標電圧を前記可変焦点レンズに印加し、
    前記撮像制御部は、同一の前記対象物を異なる時刻にそれぞれ撮像し、当該撮像による 各画像データの空間周波数を構成する複数の周波数成分を比較することにより、前記現在 のレンズ特性の更新の要否を判定する撮像装置。
  4. 前記標準点は、撮像の対象物と前記可変焦点レンズとの間において前記撮像素子から規定の距離となるように前記撮像装置と一体的に設けられ、入射光を透過可能な透過部材に付されている、請求項1〜3の何れか一項の撮像装置。
  5. 前記焦点制御部は、前記標準点に対して可変焦点レンズの焦点合わせを行う際に、前記撮像装置が撮像可能な撮像領域のうち前記標準点を含む一部の領域を有効領域として設定し、当該有効領域について前記撮像素子の電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧の調整処理を行う、請求項1〜4の何れか一項の撮像装置。
  6. 前記撮像装置において前記可変焦点レンズを含む光学系の被写界深度は、同一の距離にある対象物に対して前記焦点制御部が前記可変焦点レンズの焦点合わせを複数回に亘って行った場合に生じる印加電圧の誤差を許容する範囲に設定されている、請求項1〜5の何れか一項の撮像装置。
  7. 前記撮像制御部は、同一の前記対象物を異なる時刻にそれぞれ撮像し、当該撮像による各画像データの空間周波数を構成する複数の周波数成分を比較することにより、前記補正電圧の更新の要否を判定する、請求項1の撮像装置。
  8. 前記可変焦点レンズは、2つの電極間に異なる複数の流体を配置された液体レンズである、請求項1〜の何れか一項の撮像装置。
  9. 請求項1〜の何れか一項の撮像装置と、
    前記撮像装置と通信可能に接続され、前記撮像装置から撮像による画像データを取得し、当該画像データと予め記憶している制御プログラムに基づいて生産処理を制御する制御装置と、
    を備える生産設備。
  10. 前記生産設備は、回路基板に電子部品を実装して生産される回路基板製品を対象とし、前記回路基板製品の生産ラインを構成する、請求項の生産設備。
  11. 前記生産設備は、前記制御装置の制御により前記回路基板に前記電子部品を装着する部品実装機である、請求項10の生産設備。
  12. 前記撮像制御部は、前記制御プログラムに含まれる前記電子部品の寸法情報を取得し、当該電子部品を対象物として撮像する際に、前記電子部品における前記撮像装置の光軸方向長さに基づいて、前記目標電圧をさらに補正する、請求項10または11の生産設備。
  13. 撮像装置と、
    前記撮像装置と通信可能に接続され、前記撮像装置から撮像による画像データを取得し、当該画像データと予め記憶している制御プログラムに基づいて生産処理を制御する制御装置と、
    を備える生産設備であって、
    前記撮像装置は、
    印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、
    前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、
    対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印 加する撮像制御部と、
    前記撮像素子から互いに異なる規定の距離に設けられた複数の標準点をそれぞれ撮像の 対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧 を調整して、前記複数の標準点ごとに前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部 と、
    前記焦点制御部が前記複数の標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レン ズへの現在の印加電圧のそれぞれに基づいて、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距 離との関係を示す現在のレンズ特性を設定するレンズ特性設定部と、を備え、
    前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記現在のレンズ 特性に基づいて算出される目標電圧を前記可変焦点レンズに印加し、
    前記生産設備は、回路基板に電子部品を実装して生産される回路基板製品を対象とし、 前記回路基板製品の生産ラインを構成し、
    前記撮像制御部は、前記制御プログラムに含まれる前記電子部品の寸法情報を取得し、 当該電子部品を対象物として撮像する際に、前記電子部品における前記撮像装置の光軸方 向長さに基づいて、前記目標電圧をさらに補正する生産設備。
  14. 撮像装置と、
    前記撮像装置と通信可能に接続され、前記撮像装置から撮像による画像データを取得し、当該画像データと予め記憶している制御プログラムに基づいて生産処理を制御する制御装置と、
    を備える生産設備であって、
    前記撮像装置は、
    印加電圧に応じて焦点距離を変動可能な可変焦点レンズと、
    前記可変焦点レンズの透過光を電気信号に変換する撮像素子と、
    対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離に応じた電圧を前記可変焦点レンズに印加する撮像制御部と、
    前記撮像素子から規定の距離に設けられた標準点を撮像の対象物として、前記撮像素子の前記電気信号に基づいて前記可変焦点レンズへの印加電圧を調整して、前記可変焦点レンズの焦点合わせを行う焦点制御部と、
    予め記憶されている前記可変焦点レンズへの印加電圧に対する焦点距離の変化の割合と、前記焦点制御部が前記標準点に対して焦点合わせを行った際の前記可変焦点レンズへの現在の印加電圧とに基づいて、前記可変焦点レンズへの印加電圧と焦点距離との関係を示す現在のレンズ特性を設定するレンズ特性設定部と、を備え、
    前記撮像制御部は、対象物を撮像する際に、当該対象物までの距離と前記現在のレンズ特性に基づいて算出される目標電圧を前記可変焦点レンズに印加し、
    前記生産設備は、回路基板に電子部品を実装して生産される回路基板製品を対象とし、前記回路基板製品の生産ラインを構成し、
    前記撮像制御部は、前記制御プログラムに含まれる前記電子部品の寸法情報を取得し、当該電子部品を対象物として撮像する際に、前記電子部品における前記撮像装置の光軸方向長さに基づいて、前記目標電圧をさらに補正する生産設備。
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EP3250020B1 (en) * 2015-01-20 2019-11-20 FUJI Corporation Inspection support device and inspection support method
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5340334B2 (ja) * 1972-11-30 1978-10-26
JP2001174690A (ja) * 1999-12-17 2001-06-29 Canon Inc 自動焦点調節装置、自動露出装置、自動調光装置、光学装置及びカメラ
JP2007121981A (ja) * 2005-09-30 2007-05-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板検査方法
JP2007115820A (ja) * 2005-10-19 2007-05-10 Juki Corp 部品搭載方法及び装置
JP2009210705A (ja) * 2008-03-03 2009-09-17 Citizen Holdings Co Ltd 投影型表示装置
JP5443938B2 (ja) * 2009-10-19 2014-03-19 Juki株式会社 電子部品実装装置
JP5252023B2 (ja) * 2011-03-30 2013-07-31 カシオ計算機株式会社 コード読取装置及びプログラム
JP2013025507A (ja) * 2011-07-19 2013-02-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 印刷情報読取装置

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