JP6313000B2 - 強誘電体メモリの読み込みを行うシステムおよび方法 - Google Patents

強誘電体メモリの読み込みを行うシステムおよび方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6313000B2
JP6313000B2 JP2013189272A JP2013189272A JP6313000B2 JP 6313000 B2 JP6313000 B2 JP 6313000B2 JP 2013189272 A JP2013189272 A JP 2013189272A JP 2013189272 A JP2013189272 A JP 2013189272A JP 6313000 B2 JP6313000 B2 JP 6313000B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ferroelectric
ferroelectric capacitor
capacitor
memory
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013189272A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014067477A (ja
Inventor
ディヴィッド・エリック・シュワルツ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Palo Alto Research Center Inc
Original Assignee
Palo Alto Research Center Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Palo Alto Research Center Inc filed Critical Palo Alto Research Center Inc
Publication of JP2014067477A publication Critical patent/JP2014067477A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6313000B2 publication Critical patent/JP6313000B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/22Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/22Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements
    • G11C11/221Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements using ferroelectric capacitors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/22Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements
    • G11C11/225Auxiliary circuits
    • G11C11/2273Reading or sensing circuits or methods

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

(関連出願の相互参照)
本出願は、本出願と同日に出願された米国特許出願(代理人整理番号056−0526)、発明の名称「強誘電体メモリの書き込みおよび非破壊的な読み込みを行うシステムおよび方法」と関連し、その開示はそのすべてにおいて本明細書に参照により組み込まれる。
本開示は、強誘電体メモリの読み込みを行うシステムおよび方法に関し、具体的には、メモリ読み出しをサポートするためにメモリセルの一部として、従来の電荷またはセンス増幅器の必要性を回避する強誘電体メモリを無線でかつ遠隔的に読み込むための高周波数交流電流(AC)信号を利用するシステムおよび方法に関する。
強誘電体メモリは、強誘電体材料に残留分極として情報を記憶する不揮発性電気メモリコンポーネントである。多様な使用可能な強誘電体材料が存在する。多くの場合、強誘電体メモリの強誘電体材料は、例えばポリ(フッ化ビニリデン−コ−トリフルオロエチレン)、つまりP(VDF−TrEF)を含む強誘電体ポリマーの形状で提供され、これは物理的に容易に操作可能および強誘電体特性が容易に修正可能なことに基づく多くの強誘電体メモリ用途において非常に魅力的な傾向がある。強誘電体メモリを利用するデバイスは、他のメモリ技術を使用するデバイスより比較的に低い電力使用および高速な書き込み性能を有する傾向がある。これらのデバイスは、より大きい書き込み消去サイクルの最大数をサポートする傾向にある。さらに、これらのデバイスは印刷回路として形成される可能性がある。これらの利点は、低い記憶密度、記憶容量の制限、および高コストを含む一定の不利益との釣り合いを保つ。
一般的に、強誘電体コンデンサは、強誘電体材料で誘電体としてコンデンサを形成するために、強誘電体材料が2つの電極の間に挟まれている電子デバイスを構成する。簡素で単純かつ慣例的に利用される構成において、強誘電体コンデンサは並列プレート構成であり得るが、他の多様な構造が可能であり、しばしば実装される。
強誘電体材料は、電界が印加かつ除去された後に残留分極を有することにより特徴づけられる。強誘電体材料は、印加された電界と見掛け上の蓄積電化との間に非線形関係を有する。具体的には、強誘電体特性はヒステリシスループの形状を有しており、これは強誘電体材料のヒステリシスループと非常に類似した形状である。図1は、正および負の電界が強誘電体コンデンサ全体に印加された場合の分極の一般的なヒステリシス100を示す。強誘電体材料に関連するヒステリシスループは、一般的に、正または負の電界が強誘電体コンデンサなどにおける強誘電体材料全体に印加される場合、特定の分極応答が生じることを示す。印加された電界が十分な大きさである場合、電界が除去された後でもコンデンサはその分極を保持する。強誘電体コンデンサは双安定であり、電界が印加されない場合、2つの異なる分極を有する可能性がある。これらは、値「1」(図1の要素110を参照)および「0」(図1の要素120を参照)を表すために使用される可能性がある。これらの点110、120は、強誘電体メモリの1ビットメモリ要素の値「1」および「0」を表す非電界での2つの安定点である。
1ビットのデータが、強誘電体材料全体にバイアスを印加することによって強誘電体メモリへ書き込まれる。正のバイアスは1つの状態(「1」)値を書き込んでよく、かつ負のバイアスは別の状態(「0」)値を書き込んでよく、または強誘電体メモリの分極に依存して逆であってもよい。外部電界が誘電体全体に印加される場合、双極子は電界方向に整列する傾向にあり、原子の位置における小さなシフトおよび結晶構造の電子電荷の分配におけるシフトにより生産される。電荷が除去された後、双極子はその分極状態を保持する。したがって、「0」および「1」の2進値は、強誘電体ベースのデータ記憶セルそれぞれに2つの潜在的な電気分極のうちの1つとして保存される。
一般的な構成において、上記に記載したように、データは強誘電体コンデンサの2進分極状態によって保存される。セルへの書き込みは、一般的に、(1)「1」を書き込むために強誘電体コンデンサ全体に正のバイアスを印加すること、または(2)「0」を書き込むために強誘電体コンデンサ全体に負のバイアスを印加すること、により達成される。セルからの読み出しは、一般的に、強誘電体コンデンサ全体に負のバイアスを印加すること、およびコンデンサによって放出される電荷の量を測定することにより達成される。この電荷は、センス増幅器または電荷積分器のうちの1つを使用して測定されてよく、いずれかが電荷を大きな電圧へ変換するために使用され得る。「1」状態に対応する電荷の大きさが大きく、かつ「0」状態に対応する電荷の大きさが小さい状態で、測定される電荷の量は、強誘電体コンデンサによって保持される分極状態に依存する。読み込みプロセスは破壊的であるため、上記の記載は電荷を「保持」しているセルを指すことに留意することが重要である。読み込みプロセスの後、セルは一般的に常に「0」値を保持する。セルが読み込まれると、セルが「1」を保持する場合、セルは再びその値まで再充電されなければならない。さらに、上記の考察において使用されるように、当業者は「正」、「負」、「1」、および「0」の定義、およびそれらの相互関係が任意に割り当てられ、他の組み合わせが適切であることを認識する。
従来の読み込みプロセスと共通するのは、メモリセルを構成する印刷回路の独立したコンポーネントとしての電荷またはセンス増幅器の存在および要求である。電荷感知読み出しの多くの変形が可能であるにも関わらず、これらの変形はすべて精密な電荷またはセンス増幅器を必要とする特性を共有している。特定の状況において、電荷またはセンス増幅器の存在は望ましくない。電荷感知セル回路に要求される電荷またはセンス増幅器の含有は、メモリセルに比較的大きなコストをもたらす。さらに、電荷またはセンス増幅器は、多くの低コストかつ大規模な電子技術において有機薄膜トランジスタを含む印刷回路などでの組み立ては不可能である。例えば、電荷またはセンス増幅器を印刷有機半導体プロセスを使用するRFIDタグに含むことは実際的ではない。電荷またはセンス増幅器をフレキシブル基板に配置される回路に含むこともまた実際的ではない。最後に、電荷またはセンス増幅器が強誘電体メモリセルを遠隔的に読み込むことは、慣例的に不可能である。この最後の点において、簡単に言うと、強誘電体メモリを遠隔的または無線で読み込む慣例的な手法はない。
一般的に、シリコンエレクトロニクスを使用して強誘電体メモリを読み込む場合、メモリからの非常に小さな電荷は大きな困難なく読み込まれることが可能である。これは比較的小さな電荷を読み込むために、非常に高感度(低ノイズ)の増幅器を使用することによって容易になり、シリコンエレクトロニクスを使用して容易に生産される。その一方で、有機エレクトロニクス(半導体)が使用される場合、当該の高感度の低ノイズ増幅器を生産することは実質的に不可能である。有機エレクトロニクスの使用における不利益および強誘電体メモリを読み込むために有機半導体を利用する要求は、強誘電体メモリが読み込まれる方法における新しい手法を求めるために結びつく。
強誘電体メモリが共用される広範囲の用途の観点において、強誘電体メモリの無線読み込みを実装するシステムおよび方法を開発すること、および強誘電体メモリの読み込みにおける有機エレクトロニクスの使用を拡張し得るシステムおよび方法をさらに開発することが好都合であろう。当該の能力は、RFIDタグおよび他の「近接」用途における使用の拡張を含むが、それに限定されない、広範囲の追加的なより実際的な用途における強誘電体メモリの含有を可能にし得る。このプロセスの第1のステップとして、他の利点を達成するために、電荷またはセンス増幅器の要件を排除する強誘電体メモリを個々のメモリセルの要素として読み込むシステムおよび方法を開発することが好都合であろう。
本開示によって、システムおよび方法の例示的な実施形態は、電荷増幅器がメモリセルの一部であることを必要としない回路を遠隔的に使用して強誘電体メモリを読み込む能力を提供し得る。
別の見方では、強誘電体コンデンサのヒステリシスはコンデンサの変化と見なされる。図2は、強誘電体コンデンサの容量210の一般的なヒステリシスカーブ200を示す。図2において、電圧Vg220は強誘電体コンデンサ全体の電圧を表す。図2に示すように、電圧Vg220が0に等しい場合、容量210は、分極とは独立して、図示されたユニットにおいて約1.0の値に近いが完全には一致しないと見なされ得る(230の点線の箱を参照)。事実、限定された容量の差は異なる分極に対して維持されることに留意することが重要である。図2の描写をさらに分析すると、正または負の電圧Vg220のいずれかが強誘電体コンデンサ全体に印加される場合、容量210は電圧の分極にさらに依存することが判明する。例えば、電圧Vg220の正の値が印加される場合、電圧Vg220の正の値が10に達するまで、容量は1.3ユニットへ上昇するか、または0.55ユニットへ降下するかのいずれかであってよく、この時点で容量はどちらの場合においても0.55に設定され、強誘電体メモリは再書き込みされる。
例示的な実施形態は、強誘電体メモリのこの独自の特徴および印加されたAC信号への応答を、強誘電体メモリを読み込む新しい手法を提供するために利用し得る。
例示的な実施形態は、メモリセルに記憶された情報に対する非破壊的な手法において限定された容量の差を測定するために高感度のエレクトロニクスをさらに利用し得る。
例示的な実施形態は、単純読み込み回路を超えて強誘電体メモリセルと直接的に配線される追加的な電子回路コンポーネントを用いずに、強誘電体メモリに記憶されるデータ値の兆候として強誘電体コンデンサの容量を測定するためにAC信号を使用して容量を独自に測定するための単純回路を利用し得る。
例示的な実施形態は、生成され、かつ無線を含む方法で回路へ入力されるAC信号を変調する単純回路を提供してよく、ここで強誘電体コンデンサの容量はフィルタとして作動する。強誘電体メモリ(コンデンサ)が充電されるか放電されるかに依存して異なる容量を有し、信号が示すインピーダンスに作用する。遠隔的に信号差を読み込む能力は、電荷の兆候というより容量の兆候として、強誘電体メモリおよび、例えばRFIDタグなどを含む幅広い用途のスペクトルを利用する利点を証明し得る。換言すれば、強誘電体コンデンサから放出される電荷よりも、強誘電体コンデンサ全体の容量を読み込むために有利であり得る。
例示的な実施形態は、バイアスの前に強誘電体コンデンサの分極状態に基づいて強誘電体コンデンサ全体にバイアス電圧が印加される場合、より大きな容量差をもたらし得る。バイアス電圧はメモリを再書き込みするため、この読み込み方法は強誘電体メモリに記憶される情報に対して破壊的である。
例示的な実施形態は、無線読み出しが可能で、かつメモリ読み出しをサポートするために従来の電荷またはセンス増幅器の必要性を回避する強誘電体メモリを読み込むための高周波数AC信号を使用し得る。
例示的な実施形態は、ユーザが受信システムを介して利用できるデータを作成するために、例えば誘導結合、容量結合、または他の既知の無線送信手段を介して強誘電体コンデンサと無線接触するAC信号に基づいて、遠隔的にAC信号を生成および/または測定し得る。
例示的な実施形態は、印刷電子回路およびこれらの回路の有機電子(半導体)における使用に特に適応し得る。
例示的な実施形態は、フレキシブル基板に配置される回路に特に適応し得る。
図1は、正および負の電界が強誘電体コンデンサ全体に印加された場合の強誘電体コンデンサの分極の一般的なヒステリシスの第1の図である。 図2は、強誘電体コンデンサの容量の一般的なヒステリシスカーブの第2の図である。 図3は、本開示によって、強誘電体メモリへ情報を書き込み、強誘電体メモリから情報を読み込むための回路の第1の例示的な実施形態を示す図である。 図4は、本開示によって、強誘電体メモリへ情報を書き込み、強誘電体メモリから情報を読み込むための回路の第2の例示的な実施形態を示す図である。 図5は、本開示によって、強誘電体メモリから情報を無線で読み込む例示的なシステムのブロック図である。 図6は、本開示によって、強誘電体メモリから情報を無線で読み込む例示的な方法のフローチャートである。
本開示によって、無線でかつ遠隔的に強誘電体メモリを読み込むことを含む、強誘電体メモリの読み込みを行い、メモリ読み出しをサポートするために従来の電荷またはセンス増幅器の必要性を回避する高周波数AC信号を使用するシステムおよび方法は、一般的にこれらのシステムおよび方法に固有の有用性に関する。本開示に記載かつ描写される例示的な実施形態は、例えば読み込み回路、または遠隔読み込み回路の任意の特定の構成に明確に限定されると解釈されるべきではない。事実、単純回路の好都合な使用は、本開示に表される手法における強誘電体メモリセルそれぞれに関連する従来の電荷またはセンス増幅器を排除する手法で強誘電体メモリセルの固有な読み込みをサポートするために考慮される。
例えば、任意の特定のメモリセル構成に対する具体的な参照は、例示のみの目的であり、いかなる手法においても、開示されるシステムおよび方法が強誘電体メモリセルと特に適応可能であることを除いては、メモリセルの任意の特定の分野に限定されないことを理解されたい。
図3は、本開示によって、強誘電体メモリへ情報を書き込み、強誘電体メモリから情報を読み込むための回路300の第1の例示的な実施形態を示す。図4は、本開示によって、強誘電体メモリへ情報を書き込み、強誘電体メモリから情報を読み込むための回路400の第2の例示的な実施形態を示す。図3および図4に示される実施形態の共通のコンポーネントの可能な最大限の範囲において、300および400番の数字を使用する共通の番号体系が利用され得る。
図3および図4に示されるように、例示的な回路300、400は、強誘電体コンデンサの容量を強誘電体コンデンサの状態値の兆候として、AC信号を使用して以下の手法で測定するために使用され得る。
例示的な回路300、400において、強誘電体コンデンサ350、450の書き込みまたは読み込みを行うための電位は、単一の直流電圧ソース310、または複数の直流電圧ソース410/480をそれぞれ使用して印加され得る。これらの直流電圧ソースを様々に組み合わせるのが適切である。
図3に示される実施形態において、単一の直流電圧ソース310は、正および負の電圧両方に切り替えることが可能であるべきである。
図4に示される実施形態において、単一の極性直流電圧は、複数の(第1および第2の)直流電圧ソース410/480から強誘電体コンデンサ450の両側に印加され得る。
同時に、交流電流電圧は、交流電流電圧ソース340、440を使用して印加され得る。交流電流電圧ソース340、440から流れる電流は、多数の従来の方法のうちの任意の方法で、例えば既知の値のAC側抵抗器365、465全体のテストポイント(Vtest1)370、470および(Vtest2)360、460で電圧を測定することによって、測定され得る。もちろん、交流電流電圧ソース340、440から流れる電流を測定する異なる方法が使用される場合、AC側抵抗器365、465は回路から取り除かれる。さらに、本開示による実施形態において、交流電流電圧ソース340、440からの交流電流信号は、例えば誘導結合または容量結合を介して例示的な回路300、400のコンポーネントと無線で通信され得る。したがって、交流電流信号は遠隔的に生成および測定され得る。
AC側コンデンサ330、430は、切り替え電圧がテストポイント(Vtest1)370、470および(Vtest2)360、460で、または交流電流電圧ソース340、440によって示されないように、直流電圧ソース310、410から生じる実質的にすべての切り替え電圧をブロックし得る。実際には、一部の一時的な切り替え電圧はAC側コンデンサ330、430を介して到達し得ると見なされるべきである。
DC側抵抗器320、420は、交流電流電圧ソース340、440からの電圧が直流電流電圧ソース310、410に影響するのを実質的に防ぐために利用され得る。さらに、DC側抵抗器320、420の存在は、交流電流電圧ソース340、440の観点から、強誘電体コンデンサ350、450より大きい負荷を回路へかけないように、直流電流電圧ソース310、410/480のインピーダンスを増加させ得る。
メモリは、直流電圧ソース310または410/480をそれぞれ使用して強誘電体コンデンサ350、450全体に切り替え電圧を印加することによって読み込まれてよく、一方でより小さい振幅のAC信号および周波数「f」は交流電流電圧340、440により印加される。
しかしながら、ゼロバイアスでの容量差は測定された電流において小さな差をもたらし得ることに留意されたい。実施形態において、この差は非破壊的な読み出し技術において測定可能である。より大きい信号差を達成するために、バイアスは、より高いバイアスで大きい容量を観測するために切り替えられ得る。AC電流における一時的な変化は、強誘電体コンデンサ350、450の初期の分極状態に依存する一時的な変化の大きさの切り替え中に観測され得る。
強誘電体コンデンサ350、450の状態が「切り替え中」である時、強誘電体コンデンサ350、450の容量は上記に記載した手法で変化する。周波数「f」での強誘電体コンデンサ350、450全体のインピーダンス「I」は(「f」の関数、つまりI(f)として)、次の方程式によって表され得る。
Figure 0006313000
ここで、Cはメモリの分極状態に依存する。
交流電流電圧ソース340、440により供給される電流は、より高い電流がより大きい値Cで流れるこのインピーダンスIに依存し得る。結果として、メモリの状態は、強誘電体コンデンサ350、450の容量の兆候として、ひいては強誘電体コンデンサ350、450の分極状態の兆候として電流を測定することにより決定され得る。
複数のメモリセルは、選択的にオンまたはオフされる可能性のある送信ゲートまたはパストランジスタを介して接続されるメモリセルのいずれかの側へ独立的に書き込まれ、およびいずれかの側から読み込まれ得る。
図3および図4に描写されるように、回路300、400の例示的な実施形態はそれぞれ、本開示によって、強誘電体メモリセルの書き込みおよび読み込みタスクを達成する回路の単純な変形例であることを理解されたい。同等の機能性を達成するために、特定の回路設計における広域スペクトルの変形が可能であり、当業者により明確に理解されるであろう。
追加的なエレクトロニクスおよび/またはソフトウェアベースの信号処理は、AC信号を参照することにより2つのメモリ状態を判別するために使用され得る。その後、開示されるシステムおよび方法は、AC信号ソースおよび電流測定デバイスが強誘電体メモリから離れていてよいように、AC信号が近接誘導結合を介して印加され得るため、無線読み出しと互換性があり得る。交流電流電圧ソースの回路への容量結合も可能である。
開示される構想を実装する強誘電体メモリセル読み込みシステムを設計する場合、考慮される妥協点があり得ることは当業者により認識されるであろう。所与の強誘電体コンデンサでは、AC側(結合)コンデンサは少なくとも小さい切り替え容量と同じ桁か、またはより大きい容量を有する。この手法において、交流電流電圧ソースにより示される任意のインピーダンスは、AC側(結合)コンデンサの支配を受けない。この優先傾向は、AC側(結合)コンデンサが大きいほど直流電圧ソースからの信号がより多く交流電流電圧ソースを通過し得ることを当業者が理解することによって限定される。同様の手法において、AC信号の周波数「f」でのAC側(結合)コンデンサのACインピーダンスの大きさより、少なくとも1桁、または、より好ましくは2桁以上大きいDC側(結合)抵抗器を有することが好ましいであろう。この手法において、AC信号はDC側(結合)抵抗器により大部分がブロックされる。具体的には、DC側(結合)抵抗器は、好ましくは強誘電体コンデンサの最少容量のインピーダンスの大きさより大きくてよい。最終的に、使用されるAC信号の周波数「f」は、好ましくは、強誘電体切り替え容量がかなりのインピーダンスを表すのに十分なほど高く、寄生容量およびインダクタンスが信号騒音比を過度に削減するほど高くはない。これらのパラメータはすべて強誘電体コンデンサの容量に依存するため、これらのパラメータがすべて、適切な強誘電体コンデンサの選択または組み立てを通して最適化され得ることを当業者は認識するであろう。性能を最適化するために、強誘電体コンデンサの「0」および「1」状態の間の容量比はできるだけ大きいことが望ましい。強誘電体コンデンサセルは、これらの容量が読み込み回路における個々のまたは蓄積された寄生容量より大きくなるのに十分なほど大きくあるべきである。
さらに、直流電流電圧ソースからの切り替え電圧をランプと切り替えることも望ましい。切り替え電圧が過度に速く切り替えられる場合、一時的な信号が交流電流側(結合)コンデンサを通してより大きな大きさで通過し得る可能性が高い。逆に、切り替え電圧が過度に遅く切り替えられる場合、強誘電体コンデンサは、インピーダンスコントラストが記録され得るのに十分な状態になる前にリセットされ得る。
実験的なシミュレーションにおいて、例えば、おおよそ27.5pFおよび5pFの「0」および「1」容量で±20Vで切り替えられる強誘電体コンデンサ、1メガオーム(MΩ)の抵抗を備える直流側(結合)抵抗器、最大振幅1Vを備える8pFおよび10MHzのAC信号の交流電流側(結合)コンデンサが使用され得る。代替の実験的なシミュレーションにおいて、他の値が使用されてもよい。
本開示によって構想を実装する任意の回路の信号騒音比は、示差測定法、オフセット取り消し、および複数のオーバーレイ周波数での信号の使用を含むいくつかの既知の技術により向上され得る。例えば、強誘電体コンデンサの代わりに、強誘電体コンデンサの「0」または「1」の状態値のいずれかと等しい値の固定コンデンサで、同一回路が組み立て可能である。当該の回路において測定される電流は、その後、強誘電体セルで回路を通る電流の比較のために基準値として使用され得る。
図5は、本開示によって、強誘電体メモリから情報を無線で読み込むことを含む、読み込みを行う例示的なシステム500のブロック図を示す。
例示的なシステム500は、ユーザが例示的なシステム500と通信し得る動作インタフェース510を含み得る。動作インタフェース510は、ユーザが情報を例示的なシステム500へ入力することを許可する計算デバイスと共通の1つまたは複数の従来のメカニズムとして構成され得る。動作インタフェース510は、例えば従来のキーボードおよび/またはマウス/タッチパッドポインティングシステム、「ソフト」ボタンまたは互換性のあるスタイラスで使用するための様々なコンポーネントを備えるタッチスクリーン、音声認識プログラムにより「翻訳」される口頭の命令をユーザが例示的なシステム500へ提供し得るマイクロホン、またはユーザが特定の動作命令を例示的なシステム500に伝達し得る他のデバイスを含み得る。
例示的なシステム500は、個々に例示的なシステム500を動作させ、上記に記載するように、図3および図4に示される単純回路およびその変形などのメモリ読み込み/書き込み回路580と通信することによって強誘電体メモリを読み込む動作機能を実行する1つまたは複数のローカルプロセッサ520を含み得る。プロセッサ520は、例示的なシステム500の特定の機能を行わせる命令を解釈および実行する少なくとも1つの従来のプロセッサまたはマイクロプロセッサを含み得る。プロセッサ520は、メモリ読み込み/書き込み回路580から再生されるデータおよび/または信号との通信および解釈を開始および制御し得る。
例示的なシステム500は、1つまたは複数のデータ記憶デバイス530を含み得る。当該のデータ記憶デバイス530は、例示的なシステム500によって、具体的には例示的なシステム500の制御およびデータ/信号解釈機能を実行するプロセッサ520によって使用されるデータまたは動作プログラムを記憶するために使用され得る。データ記憶デバイス530は、強誘電体メモリと関連するメモリ読み込み/書き込み回路580で強誘電体メモリから再生されるデータを一時的に記憶するために使用され得る。データ記憶デバイス530は、ランダムアクセスメモリ(RAM)または更新可能な情報を記憶することが可能であり、かつ、例えばプロセッサ520によりシステム動作の実行を行うための命令を独立して記憶するための別の種類の動的記憶デバイスを含み得る。データ記憶デバイス530は、従来のROMデバイスまたは静的情報およびプロセッサ520への命令を記憶する他の種類の静的記憶デバイスを含み得る読み取り専用メモリ(ROM)をさらに含み得る。さらに、データ記憶デバイス530は例示的な制御システム500に不可欠であってよく、または例示的な制御システム500の外部に提供されて、かつ有線または無線通信し得る。
例示的なシステム500は、情報をユーザへ出力する1つまたは複数の従来のメカニズムとして構成され得る少なくとも1つのデータ出力デバイス540を含んでよく、これはデジタル表示スクリーンを含むか、またはグラフィカルユーザインタフェース(GUI)の一部の手法を表し得る動作インタフェース510と併用される。データ出力デバイス540は、例えば例示的なシステム500のユーザが使用可能な形状の強誘電体メモリから再生される出力データを利用し得る。
例示的なシステム500は、AC信号を生成し、かつ、例示的なシステム500が無線通信を含む方法でメモリ書き込み/読み込み回路580と通信し得るための1つまたは複数の外部通信インタフェース560を介して、メモリ書き込み/読み込み回路580と通信する場合に、AC信号の変化を解釈する信号処理デバイス550を含み得る。信号処理デバイス550は、プロセッサ520および/またはデータ記憶デバイス530と連動して動作するか、または独立型デバイスとして動作してよく、すなわち、信号データを1つまたは複数の外部通信インタフェース560から受信し、かつ例えばデータ出力デバイス540の表示スクリーンへ表示する例示的なシステム500により効率的に処理される形式へデータを変換するよう構成される。
少なくとも1つの外部通信インタフェース560は、例示的なシステム500が強誘電体メモリを表す複数のメモリ書き込み/読み込み回路580と無線で通信し得る際に経由するデータ/信号通信ポートとして構成され得る。無線通信は、誘導結合および/または容量結合を含むが、それに限定されない既知の方法によって行われ得る。複数のメモリ書き込み/読み込み回路580との無線通信における適切なデータ接続は、外部データインタフェース560により取り囲まれるように考慮される。
例示的なシステム500の様々なコンポーネントはすべて、図5に描写されるように、1つまたは複数のデータ/制御バス570により接続され得る。すべてのコンポーネントが統合的に収容されるか、またはそうでない場合は例示的なシステム500の外部で通信するかに関わらず、これらのデータ/制御バス570は、例示的なシステム500の様々なコンポーネント間に有線または無線通信を提供し得る。
図5には統合ユニットとして描写されているが、例示的なシステム500の様々な開示される要素は、個々のコンポーネントまたはコンポーネントの組み合わせとしてのサブシステムの任意の組み合わせ、単一ユニットへの統合、または例示的なシステム500の他のコンポーネントまたはサブシステムの外部での有線または無線通信において配置され得ることに留意されたい。換言すれば、統合ユニットまたはサポートユニットとしての特別な構成は図5の描写により限定されない。さらに、例示的なシステム500に関する本開示において提供される詳細部分を容易に理解するために独立ユニットとして描写されているが、個々に描写されるコンポーネントの記載された機能は、例えば1つまたは複数のデータ記憶デバイス530と接続かつ通信される1つまたは複数のプロセッサ520により開始され得ることを理解されたい。
開示される実施形態は、強誘電体メモリから情報を無線で読み込む方法を含み得る。図6は、本開示によって、強誘電体メモリから情報を無線で読み込む例示的な方法のフローチャートを示す。例示的な方法は、強誘電体コンデンサの容量を強誘電体コンデンサの状態値の兆候としてAC信号を使用して測定するために使用され得る。図6に示されるように、本方法の動作は、ステップS6000で始まり、ステップS6100へ進む。
ステップS6100において、強誘電体コンデンサの書き込みまたは読み込みを行うための電位は、少なくとも1つの直流電圧ソースを使用して強誘電体コンデンサへ印加され得る。本方法の動作はステップS6200へ進む。
ステップS6200において、電位が強誘電体コンデンサへ印加されるのと同じ時期に、交流電流電圧信号が交流電流電圧ソースを使用して印加され得る。実施形態において、この交流電流電圧信号は、誘導結合および/または容量結合を含む既知の手段によって強誘電体コンデンサと無線で通信され得る。本方法の動作はステップS6300へ進む。
ステップS6300において、交流電流電圧ソースから流れる電流は、多数の従来の方法のうちの任意の方法で、例えば既知の値の交流電流側抵抗器全体のテストポイントで電圧を測定することによって測定され得る。本方法の動作はステップS6400へ進む。
ステップS6400において、周波数「f」での強誘電体コンデンサ全体のインピーダンス「I」は(「f」の関数、つまりI(f)として)、強誘電体コンデンサのインピーダンスIを強誘電体コンデンサの状態の兆候として導き出すために、上記の方程式1によって算出され得る。交流電流電圧ソースにより供給される電流は、より高い電流がより大きい値Cで流れるこのインピーダンスIに依存し得る。結果として、メモリの状態は、上記に記載されるように、図3および図4に示される例示的な回路300、400などの単純回路、およびその変形において電流を測定することによって決定され得る。本方法の動作はステップS6500へ進む。
ステップS6500において、単純回路によってなされる決定を示す表示値が、ユーザが使用可能な形式でユーザに出力され得る。本方法の動作はステップS6600へ進み、ここで本方法の動作は終了する。
開示される実施形態は、プロセッサによって実行される場合、上記で概説した方法のすべてまたは少なくとも一部のステップをプロセッサに実行させ得る命令を記憶する持続性コンピュータ読取可能媒体を含み得る。
上記に記載した例示的なシステムおよび方法は、親密さおよび理解のし易さのために本開示の主題が実装され得る適切な動作、計算および通信環境の簡潔で一般的な記載を提供するために、一定の従来のコンポーネントを参照する。要求はされないが、本開示の実施形態は、少なくとも部分的に、記載される特定の機能を実行するために、ハードウェア回路、ファームウェア、またはソフトウェアコンピュータ実行可能命令の形式で提供され得る。これらはプロセッサにより実行される個々のプログラムモジュールを含み得る。一般的に、プログラムモジュールは、本開示によって、システムおよび方法全体の目的のサポートにおいて特定のタスクを実行するか、または特定の種類のデータを実装するルーチンプログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含む。
上記で示したように、本開示の範囲内で実施形態は、1つまたは複数のプロセッサにより、アクセス、読み込み、および実行されることが可能なコンピュータ実行可能命令またはデータ構造を記憶したコンピュータ読み込み可能媒体をさらに含み得る。当該のコンピュータ読み込み可能媒体は、プロセッサ、汎用コンピュータ、または専用コンピュータによってアクセス可能な任意の利用可能な媒体である可能性がある。例示の目的で、限定されることなく、当該のコンピュータ読み込み可能媒体は、RAM、ROM、EEPROM、CD−ROM、フラッシュドライブ、データメモリカード、またはアクセス可能なコンピュータ実行可能命令またはデータ構造の形状で所望のプログラム要素またはステップを保持または記憶するために使用することが可能な他のアナログまたはデジタルデータ記憶デバイスを備える可能性がある。情報がネットワークまたは別の通信接続を介して転送または提供される場合、有線、無線、または両方の組み合わせであるかに関わらず、受信プロセッサは厳密に接続をコンピュータ読み込み可能媒体と見なす。したがって、当該の接続は厳密にコンピュータ読み込み可能媒体と呼ばれる。上記の組み合わせも、本開示の目的のコンピュータ読み込み可能媒体の範囲内に含まれるべきである。
コンピュータ実行可能命令は、例えば、プロセッサに上述した機能を独立して、または様々な組み合わせにおいて行わせるために、それぞれに実行およびアクセス可能な持続性命令およびデータを含む。コンピュータ実行可能命令は、プロセッサによるアクセスおよび実行のために遠隔的に記憶されるプログラムモジュールをさらに含み得る。
実行可能命令または関連データ構造の例示的な描写される順番は、ステップにおいて記載される機能を実装する役割の対応順の1つの例を表す。例示的な描写されるステップは、開示される実施形態の目的物を生じさせる任意の合理的な順番で実行され得る。本方法の開示されるステップの特定の順番は、特定の方法ステップが任意の他の方法ステップの実行に必要な前提条件である場合を除いて、必ずしも図6の描写により暗示されるものではない。

Claims (8)

  1. 強誘電体メモリセルを読み込む回路であって、
    強誘電体メモリにおける単一データビットを表す2進分極状態を記憶する強誘電体コンデンサと、
    前記強誘電体コンデンサの第1の電極と接続される第1の電極を備える追加的なコンデンサと、および、
    前記強誘電体コンデンサの前記第1の電極と接続される抵抗器と、
    を備え、前記強誘電体コンデンサの容量は前記強誘電体コンデンサの前記分極状態の兆候として測定され、
    交流電流電圧信号を前記強誘電体コンデンサへ印加する前記追加的なコンデンサを介して、前記強誘電体コンデンサと接続される交流電流電圧ソースをさらに含み、
    前記強誘電体コンデンサの前記容量は前記交流電流電圧信号における変化を参照することによって測定される、回路。
  2. 前記強誘電体コンデンサの前記分極状態を変更するために、直流電圧信号を前記強誘電体コンデンサへ印加する前記抵抗器を介して、前記強誘電体コンデンサと接続される第1の直流電圧ソースをさらに備える、請求項1に記載の回路。
  3. 前記強誘電体コンデンサの前記分極状態を変更するために、直流電圧信号を前記強誘電体コンデンサへ印加する前記強誘電体コンデンサの第2の電極と接続される第2の直流電圧ソースをさらに備える、請求項に記載の回路。
  4. 前記強誘電体コンデンサ、前記追加的なコンデンサ、および前記抵抗器は印刷回路コンポーネントである、請求項1に記載の回路。
  5. 強誘電体メモリを読み込む方法であって、
    追加的なコンデンサを介して、強誘電体コンデンサ全体に交流電流電圧信号を印加することと、
    プロセッサで、前記強誘電体コンデンサの正および負の分極状態のうちの少なくとも1つにおける前記交流電流電圧信号の変化を参照することによって前記強誘電体コンデンサの容量を測定することと、および、
    前記強誘電体メモリにおける単一データビットを表す前記強誘電体コンデンサの分極状態の兆候として、前記測定することの結果をユーザへ出力することと、
    を備え、
    強誘電体コンデンサの分極状態を変更するために、直流電圧信号を前記強誘電体コンデンサへ印加することをさらに含み、
    前記強誘電体コンデンサの前記容量は、前記強誘電体コンデンサの前記分極状態が前記直流電圧信号によって切り替え中に前記プロセッサで測定される、方法。
  6. 前記強誘電体メモリが、印刷電子回路コンポーネントを含む、請求項に記載の方法。
  7. 前記強誘電体メモリが、1つまたは複数のフレキシブル基板に配置される、請求項に記載の方法。
  8. 前記交流電流電圧信号を前記印加することおよび前記容量を前記測定することは無線で行われる、請求項に記載の方法。
JP2013189272A 2012-09-25 2013-09-12 強誘電体メモリの読み込みを行うシステムおよび方法 Active JP6313000B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/626,840 2012-09-25
US13/626,840 US8837195B2 (en) 2012-09-25 2012-09-25 Systems and methods for reading ferroelectric memories

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014067477A JP2014067477A (ja) 2014-04-17
JP6313000B2 true JP6313000B2 (ja) 2018-04-18

Family

ID=49263157

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013189272A Active JP6313000B2 (ja) 2012-09-25 2013-09-12 強誘電体メモリの読み込みを行うシステムおよび方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8837195B2 (ja)
EP (1) EP2711932B1 (ja)
JP (1) JP6313000B2 (ja)
KR (1) KR101986492B1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9899073B2 (en) * 2016-06-27 2018-02-20 Micron Technology, Inc. Multi-level storage in ferroelectric memory
US10153021B1 (en) 2017-06-09 2018-12-11 Micron Technology, Inc. Time-based access of a memory cell
US10153022B1 (en) * 2017-06-09 2018-12-11 Micron Technology, Inc Time-based access of a memory cell
US10460787B1 (en) 2018-05-16 2019-10-29 Palo Alto Research Center Incorporated Selection circuit usable with ferroelectric memory
US11079405B1 (en) * 2020-05-05 2021-08-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and apparatus for detecting ferroelectric signal
US11569250B2 (en) 2020-06-29 2023-01-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Ferroelectric memory device using back-end-of-line (BEOL) thin film access transistors and methods for forming the same

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3094686A (en) * 1961-10-02 1963-06-18 Gen Electric Gating circuits utilizing ferroelectric capacitors
JP2777163B2 (ja) * 1989-01-26 1998-07-16 株式会社東芝 強誘電体メモリ
US5309390A (en) * 1990-12-19 1994-05-03 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Ferroelectric space charge capacitor memory
US5140548A (en) * 1990-12-19 1992-08-18 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Ferroelectric space charge capacitor memory
JPH05129622A (ja) * 1991-10-31 1993-05-25 Olympus Optical Co Ltd 強誘電体メモリ装置
JPH06275062A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 Olympus Optical Co Ltd 強誘電体メモリ装置
JPH06282982A (ja) * 1993-03-26 1994-10-07 Olympus Optical Co Ltd 強誘電体メモリの駆動方法とその装置
US5818238A (en) * 1996-03-15 1998-10-06 Symetrix Corporation Apparatus for measuring current and other parameters of an electornic device in response to an applied voltage
JP3919312B2 (ja) * 1996-12-27 2007-05-23 ローム株式会社 強誘電体記憶装置
US6114861A (en) * 1997-03-14 2000-09-05 Matsushita Electronics Corporation Apparatus for and method of evaluating the polarization characteristic of a ferroelectric capacitor
JP3966593B2 (ja) * 1997-12-26 2007-08-29 ローム株式会社 強誘電体回路シミュレーション装置
US6238933B1 (en) * 1999-05-06 2001-05-29 Ramtron International Corporation Polarization method for minimizing the effects of hydrogen damage on ferroelectric thin film capacitors
WO2001001161A1 (fr) * 1999-06-24 2001-01-04 Sony Corporation Procede et dispositif de mesure d'un film ferroelectrique, et procede de mesure de memoires a semi-conducteurs
US6294393B1 (en) * 2000-08-23 2001-09-25 Nec Research Institute, Inc. Reduction of imprint in ferroelectric devices using a depoling technique
NO316580B1 (no) * 2000-11-27 2004-02-23 Thin Film Electronics Asa Fremgangsmåte til ikke-destruktiv utlesing og apparat til bruk ved fremgangsmåten
JP2008244203A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Gunma Prefecture 情報記録素子、情報記録再生方法及び情報記録装置
US7990749B2 (en) * 2009-06-08 2011-08-02 Radiant Technology, Inc. Variable impedance circuit controlled by a ferroelectric capacitor

Also Published As

Publication number Publication date
KR101986492B1 (ko) 2019-06-10
JP2014067477A (ja) 2014-04-17
US8837195B2 (en) 2014-09-16
EP2711932B1 (en) 2015-08-12
EP2711932A1 (en) 2014-03-26
KR20140040009A (ko) 2014-04-02
US20140085962A1 (en) 2014-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6419419B2 (ja) 強誘電体メモリの書き込みおよび非破壊的な読み込みを行うシステムおよび方法
JP6313000B2 (ja) 強誘電体メモリの読み込みを行うシステムおよび方法
JP6706660B2 (ja) 多段階フィードバックコンデンサスイッチングスキーム
TWI632548B (zh) 記憶體單元之印痕避免
US10949032B2 (en) Circuit, touch chip, and electronic device for capacitance detection
TWI421746B (zh) 觸控面板
US8823396B2 (en) Apparatus and associated methods
KR102188490B1 (ko) 강유전체 메모리를 포함하며 강유전체 메모리에 액세스하기 위한 장치 및 방법
US20180061469A1 (en) Apparatuses and methods including ferroelectric memory and for operating ferroelectric memory
US10936138B2 (en) Touch detection circuit and the method of driving the same
CN109844862A (zh) 存储器装置的温度更新
US9665215B2 (en) Method and circuit for parasitic capacitance cancellation for self capacitance sensing
US20170300148A1 (en) Capacitance measurement circuit
KR20180100451A (ko) 셀 기반 기준 전압 생성
CN109273038A (zh) 电子存储器设备和用于存取存储器单元的方法
JP2013015329A (ja) センサモジュール及び表示装置
US20240069869A1 (en) Multiply-accumulate operation device and neural network
CN110021316A (zh) 脉冲积分器和存储器技术
KR101857475B1 (ko) 지문 검출 장치의 리드아웃 회로
CN114325123A (zh) 电容检测电路及相关装置
Petrosyan SELECTION OF A READING AMPLIFIER FOR A FERROELECTRIC STORAGE DEVICE AND CHARACTERISTICS MODELING
JPH05152578A (ja) 強誘電体メモリ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160909

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170731

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170815

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171114

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180306

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180322

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6313000

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250