JP6300908B2 - 磁気センサ装置 - Google Patents

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Description

この発明は、紙幣等の紙葉状媒体上に形成された微小磁性パターンを検出する磁気センサ装置に関する。
磁気センサ装置は、磁束密度に対して抵抗値が変化する特性を有している磁気抵抗効果素子を複数使用したセンサ装置である。紙幣等の紙葉状媒体に含まれる磁性パターンを多チャンネル同時に検出する磁気センサ装置においては、この磁性パターンの磁化量が微小であるため、感度良く磁性パターンを検出するためには、半導体磁気抵抗効果素子よりも感度の高い異方性磁気抵抗効果素子を使用し、複数の異方性磁気抵抗効果素子がすべて磁気飽和せず感度が高くなる磁界強度環境下に設けた上で、紙幣など紙葉状媒体は強磁界環境を通過させる必要がある。
異方性磁気抵抗効果素子の検知方向は素子の短辺方向であり、検知方向に感度が一番高くなるバイアス磁束密度を印加し、磁性インクの読み取りを実施する。特開2012−255770号公報(特許文献1参照)には、異方性磁気抵抗素子を使用した磁気センサ装置が開示されている。
特開2012−255770号公報
特許文献1に記載の磁気センサ装置では、理想的に異方性磁気抵抗効果素子の非感磁方向(長手方向)に磁束が印加されない構造となっているため、検知方向(短辺方向)に対してのみ同じ方向に磁気ベクトルが向くことになるが、実際の製品では磁石の長さが有限であるため、磁石長手方向に対して、磁石の中心からそれぞれ外側方向に磁束が印加されることになり、異方性磁気抵抗効果素子の非感磁方向(長手方向)にも磁束密度が印加される。尚、非感磁方向(長手方向)への磁束密度印加の要因は磁石の磁力のばらつきや、磁石・磁性体の外形ばらつき、組立ばらつき等でも発生する。
これらの要因により、異方性磁気抵抗効果素子は非感磁方向(長手方向)に印加された磁束密度の向きに傾いた磁気ベクトルを持つことになるが、実装位置により非感磁方向(長手方向)の向きが変わっており(反転しており)、平面方向に傾いた磁性パターンを読み取る場合、磁性パターンが発生している磁気ベクトルの非感磁方向(長手方向)の向きと異方性磁気抵抗効果素子が持つ磁気ベクトルの非感磁方向(長手方向)の向きの関係により、異方性磁気抵抗効果素子が実装されている場所により出力の大小が発生するという課題があった。
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたものであり、異方性磁気抵抗効果素子の非感磁方向(長手方向)に印加されるバイアス磁束密度の向きを同じ方向にすることを目的になされたものであり、磁性パターンの形状に影響を受けず、ライン方向に並べて実装された各異方性磁気抵抗効果素子から安定した出力を取得する磁気センサ装置を得るものである。
この発明に係る磁気センサ装置は、磁性体を有する被検知物の搬送方向に鉛直する方向に互いに異なる磁極を有し、前記搬送方向に直交する方向を長手方向として前記長手方向に延在する磁石と、前記磁石の前記被検知物側の磁極に、前記長手方向にライン状に配置した異方性磁気抵抗効果素子と、を備え、前記磁石は、前記長手方向の端部が前記長手方向の中央部よりも、前記搬送方向に鉛直する方向の長さが長いものである。
この発明によれば、磁石は、長手方向の端部が長手方向の中央部よりも、搬送方向に鉛直する方向の長さが長いので、ライン方向に並べて実装された各異方性磁気抵抗効果素子の非感磁方向(長手方向)に強制的に同じ方向にバイアス磁束密度を印加することが可能となるので、平面方向に傾いた磁性パターンに対しても複数の異方性磁気抵抗効果素子で安定的に同じレベルの出力が得られるようになる。
この発明の実施の形態1における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。 この発明の実施の形態1における磁気センサ装置の上面から見た上面図である。 この発明の実施の形態1における磁気センサ装置をXZ平面から見たときの磁力線分布の図である。 磁気センサ装置の検出原理を説明する磁力線ベクトル図である。 図1における、磁力線分布の図である。 図1から第2の磁石2を取り除いた磁気センサを示す図である。 図6における、異方性磁気抵抗効果素子に印加されるBy成分を示すグラフである。 図6の構成における上面からみた断面図と、各異方性磁気抵抗効果素子に印加されたバイアス磁束ベクトルを示す図である。 図8における各異方性磁気抵抗効果素子の出力を示す図である。 図6の構成において、XY平面で反時計周りに回転した磁性インクが搬送された場合の検出磁束ベクトルを示す図である。 図10における各異方性磁気抵抗効果素子の出力を示す図である。 この発明の実施の形態1における、異方性磁気抵抗効果素子に印加されるBy成分を示すグラフである。 この発明の実施の形態1における、バイアス磁束ベクトル、Y方向に垂直な磁性インクが搬送された場合の検出磁束ベクトルを示す図である。 この発明の実施の形態1における、XY平面で反時計周りに回転した磁性インクが搬送された場合の検出磁束ベクトルを示す図である。 図2に対して、異方性磁気抵抗効果素子のブリッジ方法をT字ブリッジにした磁気センサ装置の上面から見た上面図である。 この発明の実施の形態2における磁気センサ装置の長手方向の側面図である この発明の実施の形態3における磁気センサ装置を上面からみた上面図である。 この発明の実施の形態4における磁気センサ装置を上面からみた上面図である。 この発明の実施の形態5における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。 この発明の実施の形態6における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。 この発明の実施の形態6における、異方性磁気抵抗効果素子に印加されるBy成分を示すグラフである。 この発明の実施の形態6における、異方性磁気抵抗効果素子に印加されるBy成分を示すグラフである。 この発明の実施の形態7における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。 この発明の実施の形態7における磁気センサ装置をXZ平面から見たときの磁力線分布の図である。 この発明の実施の形態7における他の磁気センサ装置の長手方向の側面図である。
実施の形態1.
この発明の実施の形態1を含む全ての実施の形態において、被検知物の搬送方向即ち磁気センサ装置の短手方向をX方向、被検知物の搬送方向に直交する磁気センサ装置の長手方向(ライン方向)をY方向、磁気センサ装置の短手方向(搬送方向)及び長手方向(ライン方向)に直交する方向(搬送方向に鉛直する方向)をZ方向と定義する。
図1は、この発明の実施の形態1における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。図2は、この発明の実施の形態1における磁気センサ装置の上面から見た上面図である。図1及び図2において、磁気センサ装置は、磁性体を有する被検知物6の搬送方向10に鉛直する方向に互いに異なる磁極を有し、搬送方向10に直交する方向を長手方向として、搬送方向10に鉛直する方向の長さが長手方向に亘って同一で、長手方向に延在する第1の磁石1と、第1の磁石1の搬送方向10における中央位置から搬送方向10に所定の位置にシフトし、長手方向にライン状に異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51を配置した異方性磁気抵抗効果素子(AMR)チップ5と、第1の磁石1の長手方向の端部に、搬送方向10に鉛直する方向に、第1の磁石1に接する面の磁極が第1の磁石1の磁極に異なり、搬送方向10に鉛直する方向に互いに異なる磁極を有して配置した微小な磁石である第2の磁石2と、を備えている。
図1及び図2において、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)チップ5は、第1の磁石1の被検知物6側に配置され、第1の磁石1及び第2の磁石2の磁極は、異方性磁気抵抗効果素子チップ5(異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51、)の側をN極とし、異方性磁気抵抗効果素子チップ5(異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51)の側と反対側をS極としている。
図1及び図2において、第1の磁石1は、被検知物6の上に設けられた磁性インク61aと、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)チップ5の上に設けられた異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)にバイアス磁束を印加する。第1の磁性体ヨーク4は、第1の磁石1のばらつきを吸収し異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51に均一なバイアス磁束を与えることを目的として、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)チップ5を第1の磁性体ヨーク4に載置して、第1の磁石1のN極側に設けられている。第2の磁石2は、一定方向の磁束ベクトルのY方向成分Byを印加させることを目的として、微小な磁石が第1の磁石1のS極側の一方の端部に備えられている。尚、第2の磁石2のN極は、第1の磁石1のS極に対面している。被検知物6は、図1、図2のX方向に搬送され、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51の上を通過時に、磁性インク61aが検出される。なお、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)チップ5は、第1の磁石1のX方向の中央からX方向に若干ずらして配置している。
尚、実際の製品では、上述した第1の磁石1等を保持する筐体や、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)に電源を印加したり出力を取りだしたりする基板、被検知物6が搬送される際に磁気抵抗効果素子51に接触しないように設けられたシールドカバー等が存在するが、本図では省略している。
図3は、この発明の実施の形態1における磁気センサ装置をXZ平面から見たときの磁力線分布の図であり、XZ平面から見た第1の磁石1、第2の磁石2、第1の磁性体ヨーク4がつくる磁力線7を示す。異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)の位置では、磁力線がX方向に微小に傾いており、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51に磁束ベクトルのX方向成分Bxが印加されている。ここで磁束ベクトルのX方向成分Bxは数mT程度の微小磁界である。また、被検知物6には磁束ベクトルのZ方向成分Bzを主成分とした大きな磁束(数100mT程度)が印加され、磁性インク61aが磁化され、その磁化成分を異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)で検出する。
被検知物6の検出動作について、図3、図4を用いて詳しく説明する。図4は、磁気センサ装置の検出原理を説明する磁力線ベクトル図である。図3において、磁力線7は、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)が第1の磁性体ヨーク4の搬送方向の長さの中心軸より少しX方向に離れているため、図4(a)に示すように、磁力線7の磁束ベクトル8は、垂直方向(Z方向)から少しだけ搬送方向(X方向)に傾いており、この磁束ベクトル8の搬送方向(X方向)成分Bxが異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)のバイアス磁束として作用している。
被検知物6が近づいてくると、図4(b)に示すように、磁束ベクトル8が被検知物6に吸い寄せられるように被検知物6側に傾くため搬送方向(X方向)の磁束ベクトル8成分(Bx)が小さくなり、被検知物6が離れていくと、図4(c)に示すように、磁束ベクトル8が被検知物6に引っ張られるように被検知物6側に傾くため搬送方向(X方向)の磁束ベクトル8成分(Bx)が大きくなることにより、X方向成分を感磁する異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)の抵抗値が変化し、被検知物6を検知することができる。すなわち、被検知物6の通過により、搬送方向(X方向)の磁束ベクトル8成分(Bx)が変化するので、X方向成分を感磁する異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)の抵抗値が変化し、被検知物6を検知することができる。図4(b)、図4(c)において磁束ベクトル8に交差している点線矢印は、図4(a)における磁束ベクトル8の位置を示しているものである。
図5は、図1における、磁力線分布の図であり、YZ平面から見た第1の磁石1、第2の磁石2、第1の磁性体ヨーク4がつくる磁力線7を示す。異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)の大部分に+By方向(磁束ベクトルの正のY方向成分)の磁束が印加されている。
ここで図6から図11を用いて、一般的な磁気センサの動作について説明する。図6は、図1から第2の磁石2を取り除いた磁気センサである。図7は、図6における、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)に印加されるBy成分(磁束ベクトルのY方向成分)を示すグラフである。図7において、一点鎖線は磁気センサ装置の長手方向(Y方向)の中心位置を示す。また、グラフのY軸方向の両端が、磁気センサ装置の長手方向(Y方向)の両端部に相当する。このとき、図3を用いた説明で示したように、バイアス磁束のX方向成分Bxが異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51に印加されている。ここで、第1の磁石1は有限の長さを持っているため、図7に示すBy成分(磁束ベクトルのY方向成分)も異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51に印加されており、このBy成分は磁石の中心を対称として左右で反対の極性を持つ。尚、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)には数100mT程度のBz成分(磁束ベクトルのZ方向成分)も印加されているが、Bz成分は磁束変化検知に影響を与えないため説明を省略している。
図8は、図6の構成における上面からみた断面図と、各異方性磁気抵抗効果素子(AMR)に印加されたバイアス磁束ベクトルを示す図であり、図6の構成における上面からみた上面図と、第1の磁石1、第1の磁性体ヨーク4により各異方性磁気抵抗効果素子(AMR)に印加されたバイアス磁束ベクトル8を示す。By成分(磁束ベクトルのY方向成分)の影響により、中心から−Y方向では−Y方向に傾いたバイアス磁束ベクトル8a、中心から+Y方向では+Y方向に傾いたバイアス磁束ベクトル8bが異方性磁気抵抗効果素子(AMR)に印加されている。また、図9は図8における各異方性磁気抵抗効果素子(AMR)の出力を示す図であり、図9に、図8における各異方性磁気抵抗効果素子(AMR)の出力を示す。
図8において、Y方向と平行の磁性インク61aが搬送された場合、Y方向と平行の磁性インク61aにより磁性インク61aと垂直方向(X方向)の磁束変化611aが発生し、−Y方向に傾いたバイアス磁束ベクトル8a、+Y方向に傾いたバイアス磁束ベクトル8bともに、X方向の磁束変化が発生し、−Y方向に傾いた検出磁束ベクトル81a、+Y方向に傾いた検出磁束ベクトル81b(磁性インク61aが通り過ぎるときは反対の変化)のようにベクトルの回転が起こり、各磁気抵抗効果素子51(51a、51b)から図9に示す出力が得られる。
次に、XY平面で反時計周りに回転した磁性インク61bが搬送された場合について図10と図11で説明する。図10は、図6の構成において、XY平面で反時計周りに回転した磁性インクが搬送された場合の検出磁束ベクトルを示す図であり、図11は、図10における各異方性磁気抵抗効果素子(AMR)の出力を示す図である。
図10に示すように、磁性インク61bにより磁性インク61bと垂直方向の磁束変化611bが発生する。この磁束変化611bは、−Y方向に傾いたバイアス磁束ベクトル8aとほぼ同じ方向を持っているため、中心より−Y方向に配置されている異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)では、−Y方向に傾いた検出磁束ベクトル82aとバイアス磁束ベクトル8aの差が小さくなり、図11に示すように出力が小さくなる。反対に、+Y方向に配置されている異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)では、+Y方向に傾いた検出磁束ベクトル82bとバイアス磁束ベクトル8bの差が大きくなり、図11に示すように出力が大きくなる。
このように、Y方向のバイアス磁束の向きが各異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)で違ってしまうと、被検知物6の出力が異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)ごとにばらつく。
図1から図3で示したこの発明の実施の形態1における磁気センサ装置の作用・効果について、図12から図15を用いて説明する。図12に、この発明の実施の形態1における、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)に印加されるBy成分(磁束ベクトルのY方向成分)、図13に、この発明実施の形態1における、バイアス磁束ベクトル8(8a、8b)、Y方向に垂直な磁性インク61aが搬送された場合の検出磁束ベクトル81(81a、81b)、図14に、XY平面で反時計周りに回転した磁性インク61bが搬送された場合の検出磁束ベクトル82(82a、82b)を示す。第2の磁石により、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)に印加されるBy成分は大部分のエリアで一定方向を向くことが分かる。この効果により、磁性インクがXY平面で回転されていても、端の部分を除き各異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)の出力を安定して取り出すことが可能となる。
また、本構成によれば、Y方向に一定方向の一定以上のバイアス磁束を印加することが可能となる。例えば強磁性体を検出する場合、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)の非感磁方向(長手方向、ここではY方向)の磁化ベクトルが反転し戻らず、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)の抵抗値が初期値から変化してしまうという問題が発生するが、本構成によりY方向に一定方向の一定以上のバイアス磁束を印加することで、磁化ベクトルが反転することを抑えることも可能となる。
また、本構成によれば、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)を平行配列としたが、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51の第2の検出素子51bは必ずしも第1の検出素子51aと平行に配列とする必要はなく、図15に示すように、長手方向をX方向とし、第1の検出素子51aと第2の検出素子51bでT型ブリッジにしても同様の効果が得られる。
なお、この発明の実施の形態1においては、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51に均一なバイアス磁束を与えることを目的として第1の磁性体ヨーク4を配置する構成としたが、第1の磁性体ヨークが無い場合でも異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51に十分に均一なバイアス磁束を印加出来る場合は、第1の磁性体ヨーク4は異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51を載置可能な非磁性金属又は基板に置き換えても良い。
実施の形態2.
この発明の実施の形態2について、図を用いて説明する。図16は、この発明の実施の形態2における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。図16において、傾斜磁石3は、ライン方向(Y方向に)向かうに従い、磁極方向(Z方向)の厚みが減少していく構成となっている。図16では、直線的に傾斜して減少している。図16において、図1と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。
図16において、被検知物6の上に設けられた磁性インク61aと、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)チップ5の上に設けられた異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)にバイアス磁束を印加する傾斜磁石3、第1の磁石1のばらつきを吸収し異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)に均一なバイアス磁束を与えることを目的とした第1の磁性体ヨーク4が備えられており、被検知物6は図のX方向に搬送され、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51(51a、51b)の上を通過時に、磁性インク61aが検出される。
図16に示す構成にした場合も、磁石3により、この発明の実施の形態1と同様にY方向に対して一定方向のバイアス磁束を印加することが可能であり、この発明の実施の形態1と同様の効果が得られる。尚、図16の傾斜磁石3は直線傾斜形状としたが、必ずしも直線傾斜形状である必要はなく、階段形状でも良い。
実施の形態3.
図17は、この発明の実施の形態3における磁気センサ装置を上面からみた上面図である。図17において、搬送方向からみた側面図は図6と同じ構成である。図17において、図1と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。このときバイアス磁束ベクトル8のX方向成分は、第1の検知素子52a、第2の検知素子52bに対して+X方向に印加されているものとする。本構成では、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52(52a、52b)をXY平面上で、2列で、長手方向(Y方向)から搬送方向(X方向)へ、同じ方向に傾けて実装している。この構成においては、X方向のバイアス磁束により、第1の検知素子52a、第2の検知素子52bどちらに対しても、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)の長手+Y方向(非感磁方向)に一定方向に磁束を印加することが可能となり、第1の磁石1等により作られるY方向の磁束密度を打ち消し、同じ向きにByを印加することが可能となる。そのためこの発明の実施の形態1と同様の効果が得られる。
この発明の実施の形態3に、この発明の実施の形態1又は2を組み合わせることにより、双方の実施の形態の相乗効果が現れ、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52には、Y方向にプラス側に、第1の磁石1の長手方向全体に亘って、均一なByが印加されることになるので、ライン状に配置された異方性磁気抵抗効果素子(AMR)5(52)の全てにおいて、バイアス磁束のベクトル方向が揃うため、磁気センサ装置から安定した出力が得られる効果がある。
実施の形態4.
図18は、この発明の実施の形態4における磁気センサ装置を上面からみた上面図である。図18において、搬送方向からみた側面図は図6と同じ構成である。図18において、図17と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。このときバイアス磁束ベクトル8のX方向成分は、第1の検知素子52aに対しては+X方向に印加され、第2の検知素子52bに対しては−X方向に印加されているものとする。本構成では、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52をXY平面上に2列で、長手方向(Y方向)から搬送方向(X方向)へ、傾けて実装しており、第1の検知素子52aと第2の検知素子52bでY軸に対して線対称な構成となっている。また、第1の検知素子52aと第2の検知素子52bとの線対称軸であるY軸は、載1の磁石1の搬送方向(X方向)の中央部を通っている。この構成においては、第1の検知素子52aに対しては+X方向のバイアス磁束、第2の検知素子52bに対しては−X方向のバイアス磁束により、どちらに対しても、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)の長手+Y方向(非感磁方向)に一定方向に磁束を印加することが可能となり、第1の磁石1等により作られるY方向の磁束密度を打ち消し、同じ向きにByを印加することが可能となる。そのため、この発明の実施の形態1と同様の効果が得られる。
この発明の実施の形態4に、この発明の実施の形態1又は2を組み合わせることにより、双方の実施の形態の相乗効果が現れ、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52には、Y方向にプラス側に、第1の磁石1の長手方向全体に亘って、均一なByが印加されることになるので、ライン状に配置された異方性磁気抵抗効果素子(AMR)5(52)の全てにおいて、バイアス磁束のベクトル方向が揃うため、磁気センサ装置から安定した出力が得られる効果がある。
実施の形態5.
図19は、この発明の実施の形態5における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。図19において、図1と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。本構成では、被検知物6を非接触で搬送させるために、被検知物6の上側に第1の磁石1と第2の磁石2、下側に異方性磁気抵抗効果素子(AMR)チップ5、均一なバイアス磁束を与えることを目的とした磁性体キャリア9を配置している。この構成の場合でも、この発明の実施の形態1から4と同様の磁石の配置や異方性磁気抵抗効果素子(AMR)を傾けた実装を行うことにより、同じ効果が得られる。
実施の形態6.
図20は、この発明の実施の形態6における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。図21は、この発明の実施の形態6における、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)に印加されるBy成分を示すグラフである。図22は、この発明の実施の形態6における、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)に印加されるBy成分を示すグラフである。図20において、図1と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。
この発明の実施の形態1では、第2の磁石2は、第1の磁石1の一方の端部に備えられていたが、この発明の実施の形態6では、小型の第2の磁石2a、2bがそれぞれ第1の磁石1の両端部に設けられている。図20において、第2の磁石2a、2bそれぞれのN極が第1の磁石1のS極に対面している。この構成にすることにより、図21に示すように、第1の磁石1の両端部の磁束ベクトルのY方向成分Byが、ゼロに近づく。図21において、点線8cは小型の第2の磁石2a、2bを備えていない場合の磁束ベクトルのY方向成分By成分であり、実線8dは、小型の第2の磁石2a、2bを備えている場合の磁束ベクトルのY方向成分By成分である。従って、この発明の実施の形態6によれば、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51に印加されるバイアス磁束ベクトルは、第1の磁石1の長手方向全体に亘って、磁束ベクトルのY方向成分Byがゼロ付近に均一化される。
更に、図20において、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)5(52)は、図17に示すように異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52(52a、52b)をXY平面上で同じ方向に傾けた構成、又は図18に示すように第1の検知素子52aと第2の検知素子52bでY軸に対して線対称に、XY平面上で傾斜させた構成としている。
このように異方性磁気抵抗効果素子(AMR)5(52)を配置しているので、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52には、図22に示すように、Y方向にプラス側に、第1の磁石1の長手方向全体に亘って、均一な磁束ベクトルのY方向成分Byが印加されることになるので、ライン状に配置された異方性磁気抵抗効果素子(AMR)5(52)の全てにおいて、バイアス磁束のベクトル方向が揃うため、磁気センサ装置から安定した出力が得られる。図22において、点線8eは、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52(52a、52b)を傾斜させていない場合のBy成分(磁束ベクトルのY方向成分)であり、実線8fは、異方性磁気抵抗効果素子(AMR)52(52a、52b)をXY平面で傾斜させた場合のBy成分(磁束ベクトルのY方向成分)である。
この発明の実施の形態6では、第2の磁石2a、2bがそれぞれ第1の磁石1の両端部に設けられている構造としたが、この発明の実施の形態2(図16)のように、傾斜磁石3を用い、傾斜磁石3は、両端部からライン方向(Y方向に)に中央部に向かうに従い、磁極方向(Z方向)の厚みが減少していく構成としても良い。
実施の形態7.
図23は、この発明の実施の形態7における磁気センサ装置の長手方向の側面図である。この発明の実施の形態7における磁気センサ装置は、図1に示すこの発明の実施の形態1における磁気センサ装置の第1の磁石1のS極において第2の磁石2が配置されていない面上に、第2の磁性体ヨーク11を配置したものである。図23において、図1と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。
図24は、この発明の実施の形態7における磁気センサ装置をXZ平面から見たときの磁力線分布の図である。図24において、図3と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。図24において、磁気センサ装置の第1の磁石1のS極における搬送方向10に鉛直する方向の面において、第2の磁石2が配置された面を除く面に第2の磁性ヨーク11が配置されている。第1の磁石1のS極からの磁束(磁力線7)は第2の磁性ヨーク11に集約され、第2の磁性ヨーク11の長手方向の側面11a、11bに第1の磁性ヨーク4からの磁束(磁力線7)が集中して侵入する磁気回路が形成される。
すなわち、この発明の実施の形態1における磁気センサ装置の図1の構成に比べて、第1の磁石1のN極に配置された第1の磁性ヨーク4と第1の磁石1のS極との間の磁気経路が短くなるので、不要な漏れ磁束(磁力線7)が減り、結果、第1の磁石1のN極に配置された第1の磁性ヨーク4からの磁束密度(磁力線7の密度)が大きくなり、磁束ベクトル8のZ成分が大きくなるので、被検知物6の検出感度が、この発明の実施の形態1における磁気センサ装置よりも向上する効果がある。
同様に、図20に示すこの発明の実施の形態6における磁気センサにおいて、第2の磁石2a、第2の磁石2bとの間の、第1の磁石1のS極の搬送方向に鉛直する方向の面に、第2の磁性体ヨーク11を配置しても、同様の作用効果を有する。図25は、この発明の実施の形態6における磁気センサにおいて、第2の磁石2a、第2の磁石2bとの間の、第1の磁石1のS極の搬送方向に鉛直する方向の面に、第2の磁性体ヨーク11を配置した、この発明の実施の形態7における他の磁気センサ装置の長手方向の側面図である。図25において、図20と同一若しくは同等の構成要素には同一符号を付し、その説明を省略する。
なお、この発明の実施の形態1からこの発明の実施の形態7において、第1の磁石1及び第2の磁石2の磁極は、異方性磁気抵抗効果素子チップ5(異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51、52)の側をN極とし、異方性磁気抵抗効果素子チップ5(異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51、52)の側と反対側をS極とした場合について説明したが、磁石(第1の磁石1及び第2の磁石2)のN極S極の向きが反対、すなわち第1の磁石1及び第2の磁石2の磁極は、異方性磁気抵抗効果素子チップ5(異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51、52)の側をS極とし、異方性磁気抵抗効果素子チップ5(異方性磁気抵抗効果素子(AMR)51、52)の側と反対側をN極とした場合でも同じ効果が得られる。
本出願は、2014年5月13日に出願された、日本国特許出願特願2014−99724号に基づく。本明細書中に日本国特許出願特願2014−99724号の明細書、特許請求の範囲、図面全体を参照として取り込むものとする。
1 第1の磁石、
2 第2の磁石、
2a 第2の磁石、
2b 第2の磁石、
3 傾斜磁石、
4 第1の磁性体ヨーク、
5 異方性磁気抵抗効果素子チップ、
51 異方性磁気抵抗効果素子、
51a 異方性磁気抵抗効果素子(第1の検知素子)、
51b 異方性磁気抵抗効果素子(第2の検知素子)、
52 異方性磁気抵抗効果素子、
52a 異方性磁気抵抗効果素子(第1の検知素子)、
52b 異方性磁気抵抗効果素子(第2の検知素子)、
6 被検知物、
61a 磁性インク、
61b 磁性インク、
611a 磁束変化、
611b 磁束変化、
7 磁力線、
8 バイアス磁束ベクトル、
8a バイアス磁束ベクトル、
8b バイアス磁束ベクトル、
8c 点線、
8d 実線、
8e 点線、
8f 実線、
81 検出磁束ベクトル、
81a 検出磁束ベクトル、
81b 検出磁束ベクトル、
82 検出磁束ベクトル、
82a 検出磁束ベクトル、
82b 検出磁束ベクトル、
9 磁性体キャリア、
10 搬送方向、
11 第2の磁性体ヨーク、
11a 側面、
11b 側面。

Claims (12)

  1. 磁性体を有する被検知物の搬送方向に鉛直する方向に互いに異なる磁極を有し、前記搬送方向に直交する方向を長手方向として前記長手方向に延在する磁石と、
    前記磁石の前記被検知物側の磁極に、前記長手方向にライン状に配置した異方性磁気抵抗効果素子と、を備え、
    前記磁石は、前記長手方向の端部が前記長手方向の中央部よりも、前記搬送方向に鉛直する方向の長さが長い磁気センサ装置。
  2. 前記異方性磁気抵抗効果素子と前記磁石との間に磁性体ヨークを備えた請求項1に記載の磁気センサ装置。
  3. 前記磁石は、前記搬送方向に鉛直する方向の長さが前記長手方向に亘って同じである第1の磁石と、
    前記第1の磁石の前記長手方向の端部であって前記被検知物側と反対側の磁極に、前記搬送方向に鉛直する方向に、前記第1の磁石に接する面の磁極が前記第1の磁石の磁極に異なり、前記搬送方向に鉛直する方向に互いに異なる磁極を有して配置した第2の磁石と、
    を備えた請求項1または2に記載の磁気センサ装置。
  4. 前記第1の磁石の前記被検知物側と反対側の磁極であって、前記第2の磁石が配置された面を除く面に第2の磁性体ヨークを備えた請求項3に記載の磁気センサ装置。
  5. 前記磁石は、前記搬送方向に鉛直する方向の長さが、前記長手方向の端部から中央部に向かうにつれ、短くなっていく請求項1または2に記載の磁気センサ装置。
  6. 前記異方性磁気抵抗効果素子は、前記長手方向から前記搬送方向側へ、所定の角度で傾斜している請求項1から5のいずれか1項に記載の磁気センサ装置。
  7. 磁性体を有する被検知物の搬送方向に鉛直する方向に互いに異なる磁極を有し、前記搬送方向に直交する方向を長手方向として前記長手方向に延在する磁石と、
    前記磁石の前記被検知物側の磁極に、前記長手方向にライン状に複数配置した異方性磁気抵抗効果素子と、を備え、
    前記異方性磁気抵抗効果素子は、前記長手方向から前記搬送方向側へ、所定の角度で傾斜しており、
    それぞれの前記異方性磁気抵抗効果素子に印加される前記磁石から発せられる磁界の前記長手方向の成分の向きは、前記長手方向の端部に配置された前記異方性磁気抵抗効果素子を除き、同じ向きである磁気センサ装置。
  8. 前記異方性磁気抵抗効果素子は、前記長手方向に2列で配列されている請求項1から7のいずれか1項に記載の磁気センサ装置。
  9. 前記異方性磁気抵抗効果素子の2列の前記搬送方向の中心は、前記磁石の前記搬送方向における中央位置から前記搬送方向の所定の位置にシフトしている請求項8に記載の磁気センサ装置。
  10. 前記異方性磁気抵抗効果素子は、一方の列が前記磁石の前記搬送方向における中央位置から前記磁石の前記搬送方向の一端側へシフトし、他方の列が前記磁石の前記搬送方向における中央位置から前記磁石の前記搬送方向の他端側へシフトしている請求項8に記載の磁気センサ装置。
  11. 前記異方性磁気抵抗効果素子は、前記長手方向に2列で配列され、一方の列が前記磁石の前記搬送方向における中央位置から前記磁石の前記搬送方向の一端側へシフトし、他方の列が前記磁石の前記搬送方向における中央位置から前記磁石の前記搬送方向の他端側へシフトし、一方の列と他方の列とで前記傾斜の方向が互いに異なる請求項6または7に記載の磁気センサ装置。
  12. 前記異方性磁気抵抗効果素子は、前記搬送方向における中央位置を通る前記長手方向を基準に、線対称で配置されている請求項11に記載の磁気センサ装置。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105488896A (zh) * 2015-12-31 2016-04-13 威海华菱光电股份有限公司 纸币检测装置
US20190377036A1 (en) * 2016-05-06 2019-12-12 Mitsubishi Electric Corporation Magnetic sensor device
JP2018054460A (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 大同特殊鋼株式会社 薄膜磁気センサ
DE102016015559A1 (de) * 2016-12-27 2018-06-28 Giesecke+Devrient Currency Technology Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren eines Sicherheitsfadens in einem Wertdokument
JP6494895B1 (ja) * 2017-07-19 2019-04-03 三菱電機株式会社 磁気センサ装置
JP2021047036A (ja) * 2019-09-17 2021-03-25 エイブリック株式会社 磁性体検出センサ
US11639974B1 (en) 2020-03-30 2023-05-02 Mitsubishi Electric Corporation Magnetic sensor device
JP2022134867A (ja) * 2021-03-04 2022-09-15 株式会社日立製作所 センシング装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5821158A (ja) * 1981-07-30 1983-02-07 Denki Onkyo Co Ltd 多チヤネル磁気センサ
JP3341518B2 (ja) * 1994-03-02 2002-11-05 株式会社デンソー 磁気検出装置
US5644226A (en) 1994-03-02 1997-07-01 Nippondenso Co., Ltd. Magnetic detector having a bias magnet and magnetoresistive elements shifted away from the center of the magnet
US5491632A (en) * 1994-05-26 1996-02-13 General Motors Corporation Rotary encoder with neutral position
US5739517A (en) * 1995-01-27 1998-04-14 Nhk Spring Co., Ltd. Apparatus and a method for checking an object to be checked for authenticity
US6639399B2 (en) 2001-02-06 2003-10-28 Delphi Technologies, Inc. Target wheel sensor assembly for determining position and direction of motion of a rotating target wheel
JP3879777B2 (ja) * 2004-02-27 2007-02-14 株式会社村田製作所 長尺型磁気センサ
KR101163908B1 (ko) * 2008-03-17 2012-07-09 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 원점 위치 신호 검출기
JP5242698B2 (ja) * 2008-11-10 2013-07-24 グローリー株式会社 磁気質検出装置
JP5867235B2 (ja) * 2011-05-16 2016-02-24 三菱電機株式会社 磁気センサ装置
CN202916902U (zh) * 2012-10-31 2013-05-01 江苏多维科技有限公司 一种被磁偏置的敏感方向平行于检测面的验钞磁头

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