JP6295807B2 - 研磨具、及び、研磨装置 - Google Patents

研磨具、及び、研磨装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6295807B2
JP6295807B2 JP2014092531A JP2014092531A JP6295807B2 JP 6295807 B2 JP6295807 B2 JP 6295807B2 JP 2014092531 A JP2014092531 A JP 2014092531A JP 2014092531 A JP2014092531 A JP 2014092531A JP 6295807 B2 JP6295807 B2 JP 6295807B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polishing
elastic layer
polished
flat plate
plate portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014092531A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015208818A (ja
Inventor
張 軍
軍 張
沢田 清孝
清孝 沢田
肥塚 恭太
恭太 肥塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2014092531A priority Critical patent/JP6295807B2/ja
Priority to CN201510203608.9A priority patent/CN105033840B/zh
Publication of JP2015208818A publication Critical patent/JP2015208818A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6295807B2 publication Critical patent/JP6295807B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/11Lapping tools

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Description

本発明は、ガラス、セラミックス、シリコン等の硬脆材料を仕上げ加工するための研磨具及びこのような研磨具を備えた研磨装置に関するものである。
シリコンウェーハやガラスディスクをはじめ、各種硬脆材料により形成される部品の平坦化のために、遊離砥粒を用いた研磨加工が施される。この平坦化プロセスは良好な研磨面粗さが得られる反面、反りやだれ、表面段差などが生じやすく、加工面形状精度が悪くなると云う問題が指摘されている。研磨面の平坦性を向上させるためには、研磨具、主に研磨パッドに硬い樹脂材料を用い、さらに片あたりを抑制するために、ドレッシングの手法によって、研磨パッドの表面の平坦性を向上させることで対応してきた。
しかし、近年、ウェーハサイズの大径化に伴い、研磨パッド表面のドレッシング手法だけでは改善の限界が見えてきた。また、遊離砥粒を用いた場合に生じる廃液などの排出は、環境負荷も一つの課題である。これらに対し、廃液の少ない、従来の研磨仕上げと同等の優れた仕上げ面粗さを得ることができ、高い形状精度が得られやすい固定砥粒加工工具、たとえば研磨テープなどの開発が各方面で活発に行われている。また、研磨テープを用いる線接触順送り型テープ研磨方式以外に、図10に例示した研磨シート(超精密研磨シート)を用いる加工方式も広く行われている。
図10に示した例では、シート(フイルムを含む)の一方の面(研磨面)に砥粒が固定されて構成された研磨シート10はベース基材(定盤)5の上に固定されている。また、被研磨材(ワーク)20は、ベース基材5の上方に設けられた、軸8を介して図示しないモータなどにより回転駆動されで、かつ、この例では上下方向に昇降可能なヘッド部6に装着されている。また、この例とは異なり、研磨シート10を上側に配置し、その下方のベース基材5の上に、被研磨材20を固定するという逆のレイアウトでの研磨方法も知られている。
このような研磨方式の場合、次のようないくつかの問題が生じるおそれがある。
(1)被研磨材のエッジ部での片あたり
代表的な問題として、図11にモデル的に示した、研磨シート10の研磨面に対して被研磨材20の被研磨面が斜めに接する、「片あたり」が挙げられる。片あたりは、遊離砥粒加工での研磨パッドでも同様に生じるが、研磨シートの場合には、研磨パッドとは異なり、ドレッシング手法による解決が図れない。このため、この問題を解決するために研磨装置側で様々な工夫が凝らされている。一例として、回転主軸にユニバーサルジョイント状のエアーチャンバーを付ける技術が開発され、この部材により、被研磨材の被研磨面が研磨具(砥石、研磨シート)の研磨面に倣うので、片あたりは改善する。しかし、被研磨材が大きい場合には、片あたりを完全に解消することは困難である。
一方、研磨シートを取り付ける方法として、ベース基材に研磨シートを直接取り付けるのではなく、スポンジ状材などのバッキング材を介して取り付ける方法が提案されている。しかし、この方法では、バッキング材の硬さを選定するのが非常に難しい。バッキング材が柔らかすぎると、研磨時の圧力がかからず、研磨能率が著しく低下してしまう。その反面、バッキング材が硬すぎると、ベース基材に研磨シートを直接取り付けた場合に近い状態となり、バッキング材による片あたり防止効果が十分に得られにくい。
(2)被研磨材のエッジ部以外での片あたり
図10に示した技術における他の問題として、被研磨材のエッジ部以外の部分での片あたりが挙げられる。すなわち、被研磨材の被研磨面に局部的なうねりや突起が存在する場合、上記(1)の課題における被研磨材のエッジ以外の場所でも片あたり(応力集中(図12の白抜き矢印部分))が発生する恐れがある。本来、平坦化加工はこのようなうねりと突起とを除去する目的として行うプロセスであるが、研磨シートによる固定砥粒加工の場合、このような応力集中が生じると、被研磨面に深い加工傷やスクラッチが生じてしまう。そして、研磨によりうねりや突起が解消した場合であっても、傷やスクラッチが表面に残留してしまう恐れがある。
(3)被研磨材の研磨面への研磨シートの密着
さらに、上記の問題に加えて、研磨材の研磨面への密着が挙げられる。すなわち、研磨加工による被研磨材の被研磨面の平坦化に伴い、被研磨材と研磨シートとの密着性が増加する。そして、研磨中には冷却のため、被研磨材に対して、一般に水などが供給されるが、図13にモデル的に示すように、この水11により被研磨材20と研磨シート10との間に薄い水膜ができる。そして、表面張力と外気圧とにより、被研磨材と研磨シートとが強く密着してしまう現象が生じやすくなる。特に、近年、シリコンウェーハなどの被研磨材の大型化が進行し、この現象はより顕著に発生するようになった。この現象により、加工能率の著しい低下だけではなく、場合によっては被研磨材20のスピンアウト(研磨装置から被研磨材が外れてしまうこと。このとき、被研磨材は傷つき、利用できなくなる)などの事故が発生する恐れがある。
ここで、同様の課題は、遊離砥粒を用いた加工の場合でも同じく存在している。ここで、遊離砥粒を用いた加工の場合、前述のドレッシング手法以外に、研磨パッドの構成につぎのような様々な工夫が施されている。
もっとも典型的な例として、ニータ・ハース社製のCMPパッド・IC1000/SUBA積層パッドシリーズの利用が挙げられる。このパッドは2層による積層構造を有しており、被研磨材と研磨装置の被研磨材取り付け面との間に配置されて用いられる。そして、研磨被研磨材と接する部分に硬質な発泡ウレタンの層が、そして、反対側の、研磨装置側に軟質の不織布が、それぞれ配置されるように積層されている。
この構成により、軟質の不織布が加工時の被研磨材の振動を抑え、安定した研磨特性を維持し、そして、硬質な発泡ウレタンの層が、被研磨材の表面の研磨平坦性をもたらすとされている。しかし、その効果は十分でなく、依然として片あたりが発生しやすく、改善が求められている。
さらに、特許文献1では、可撓性が付与された研磨パッドの利用が提案されている。この研磨パッドは、基材層と、研磨材料からなると共に基材層の一面側に設けられた研磨層と、を備えている。そして、研磨層は、複数の土台部、複数の先端部、及び、複数の溝群を有している。複数の土台部は基材層上に互いに離間して配列されており、先端部は柱状或いは錐台状であって土台部上に互いに離間して配列されている。さらに、溝群は土台部間に前記基材層が露出するように設けられている。このような構成により、研磨パッドの表面を不連続にし、可撓性を改善しようとしている。しかし、このパッドを用いた場合でも研磨箇所のどこかで応力集中が起こる恐れがあり、高加工面品位が保たれずに、精度が低く、傷やスクラッチが表面に残留してしまう恐れが依然として残っていた。
一方、固定砥粒加工技術の場合、上記遊離砥粒研磨用パッドのような改良は殆ど進んでいない。特に研磨シートを用いる場合、ロールツーロールの順送り型で、押付けローラにより無限ベルト状とした研磨シートの研磨面を被研磨材へ線接触させながら行う、いわゆる「テープ研磨」のスタイルが主流である。この方式では研磨面全体を同時に研磨加工できないので、形状精度は遊離砥粒を用いる場合に比べ、むしろ劣化してしまう。しかし、上記の遊離砥粒を用いた場合のように、研磨シートをベース基材あるいはパッドの上に貼り付けて加工しようとすると、むしろ上記で述べたような課題がより深刻となってしまう。このため、研磨シートの特徴を活かす、大面積の研磨材加工がいまだに実用化されていないのが現状である。
このように、被研磨材の片あたりを抑制し、高加工面品位を維持しながら、高加工能率を実現すると同時に、加工中に被研磨材のスピンアウトを低減でき、かつ大面積の研磨面に対応できる、固定砥粒加工を可能とする研磨具が求められてきた。
本発明は、上記従来の問題を解決する、すなわち、被研磨材の片あたりを抑制し、高加工面品位を維持しながら、高加工能率を実現可能とし、加工中に被研磨材のスピンアウトを低減できる固定砥粒加工を可能とする研磨装置を提供することを目的とする。
本発明の研磨具は、上記課題を解決するために、請求項1に記載の通り、ASKER C硬度が40以下の弾性体により形成された第一弾性層、前記第一弾性層側の平板状の平板部と、当該平板部から前記第一弾性層とは反対側に突出して設けられ、先端が同一の平面に位置する複数の凸部と、を有し、前記平板部の前記凸部形成側とは反対側の面に対してASKER Cゴム硬度計を用いて測定した柔軟性を表す値が60以上77以下である第二弾性層、及び、前記平面に一方の面で取り付けられ、かつ、他方の面に砥粒が複数固定されている研磨シート、が順次積層されて構成されていることを特徴とする。
本発明の研磨具は、ASKER C硬度が40以下の弾性体により形成された第一弾性層、前記第一弾性層側の平板状の平板部と、当該平板部から前記第一弾性層とは反対側に突出して設けられ、先端が同一の平面に位置する複数の凸部と、を有し、前記平板部の前記凸部形成側とは反対側の面に対してASKER Cゴム硬度計を用いて測定した柔軟性を表す値が60以上77以下である第二弾性層、及び、前記平面に一方の面で取り付けられ、かつ、他方の面に砥粒が複数固定されている研磨シート、が順次積層されて構成されているので、被研磨材の片あたりを抑制し、高加工面品位(スクラッチフリー、高形状精度)を維持しながら、高加工能率を実現可能とすると同時に、加工中に被研磨材のスピンアウトを低減可能とする固定砥粒加工を可能とする。
図1は、本発明の研磨具の一例Aの構成を示すモデル断面図である。 図2は、図1の研磨具Aの第二弾性層の凸部側から見たモデル上面図である。 図3は、図1の研磨具Aを研磨装置に取り付けた状態を示すモデル側面図である。図中θは研磨面と被研磨面との角度である。 図4は、本発明の研磨具の働きをモデル的に示した説明図である。 図5(a)は、比較例1における、研磨時を想定した、被研磨材による研磨具への押圧時での、大きい圧力変化があった箇所の分布を調べた結果を示す図である。図5(b)は、比較例1における、研磨時を想定した、被研磨材による研磨具への押圧時での、大きい圧力変化があった箇所の分布を調べた結果を示す図である。 図6は、第一弾性層を構成する弾性体のASKER C硬度の、片あたりへの影響を調べた結果を示すグラフである。 図7は第二弾性層の平板部の厚さを0.6mmにしたときの結果を示す図である。 図8は、実施例2での、第二弾性層の平板部の高さを一定として凸部高さ変化させたときの第二弾性層の柔軟性の目安であるASKER C硬度測定に準じて測定した値への影響を示すグラフである。 図9(a)は凸部高さ/平板部厚さの比が0.88の場合の、図9(b)は凸部高さ/平板部厚さの比が5.8の場合の、それぞれ、圧力変化が大きい部分の分布を示した図である。 図10は、従来の、研磨シートを用いる研磨方法の例を示した図である。 図11は、被研磨材のエッジ部における、研磨シートへの片あたりを示すモデル説明図である。 図12は、被研磨材のエッジ部以外の部分での、研磨シートへの片あたりを示すモデル説明図である。 図3は、被研磨材の被研磨面と、研磨シートの研磨面とが水により密着した状態を示すモデル説明図である。
以下、本発明について図面を用いて説明する。図1は本発明の研磨具の一例のモデル断面図である。
この例は、第一弾性層2、第二弾性層1、及び、研磨シート3が順次積層されて構成された研磨具である。第一弾性層2はASKER C硬度(アスカーC硬度)が40以下の弾性体により形成されている。第二弾性層1は、第一弾性層2側の平板状の平板部1bと、当該平板部1bから前記第一弾性層2とは反対側に突出して設けられ、先端が同一の平面1cに位置する複数の凸部1aと、を有している。さらに、このような第二弾性層1は、前記平板部の前記凸部形成側とは反対側の面に対してASKER Cゴム硬度計を用いて測定した値が60以上77以下となっている。また、研磨シート3は、平面1cに一方の面3aで取り付けられ、かつ、他方の面(研磨面)3bに砥粒が複数固定されている。
ここで、第一弾性層2を構成する弾性体のASKER C硬度が高すぎると片あたりの減少効果が得られにくくなる。好ましいASKER C硬度の範囲は40以下である。第一弾性層2を構成する弾性体としては、発泡ポリエチレン、発泡ウレタンなどの多孔質材料であることが発泡率が自由に調整でき,硬度の制御が容易であるので好ましい。
第一弾性層2の厚さは5mm以上50mm以下であることが好ましい。薄すぎると弾性層の変形が十分に得られなく、厚すぎると、加工のために必要な加圧力が吸収されて加工が困難となりやすい。より好ましい範囲は10mm以上30mm以下である。
第二弾性層1を構成する弾性体としては、中実(多孔質でない)のゴムであることが、第二弾性層1の効果を十分に得ることができるので好ましい。ゴムとしては、天然ゴム、シリコーンゴム、ニトリルブタジエンゴムなどが挙げられる。
第二弾性層1の平板部1bは第二弾性層1の複数の凸部1aの配置を決定し、それらの分布状態を維持する機能を有する。すなわち、平板部1bにより、本発明の研磨具の作成が容易となる。その厚さとしては、0.5mm以下であることが好ましく、より好ましくは0.4mm以下である。平板部1bの厚さが厚すぎると第二弾性層に十分な可撓性が得られず、その凸部が被研磨材の被研磨面にある凹凸に有効に対応できない場合が生じる。
図2に、この例の第二弾性層1の凸部1a形成側から見たモデル上面図を示す。図2に示されているように凸部1aは円柱形状をしている。これら凸部1aの配置は60°の千鳥配列である。すなわち、1つの円柱を中心に(この例では互いの軸間距離が3mmで)最近接の円柱がそれぞれ6個あり、かつ、これら円柱は中心の円柱からみて互いに60°ずつ異なる位置に配置されている。
ここで、凸部1aの形状としては円柱形状に限定されず、四角柱形状、三角柱形状、楕円柱形状等の柱状、あるいは、平板部1b側が先端側に比べて太い、円錐台、三角錐台、四角錐台、楕円錐台等の、錐台形状であってもよい。あるいは、これらを複数組み合わせたものであってもよい。
このように、凸部1aの形状を柱状形状、あるいは錐台形状とすることで、研磨時に、研磨シート3と被研磨材の研磨面とが数多い点接触となり、研磨圧力を確実に確保することができる。さらに、被研磨材の研磨面の平坦化に伴い、上記背景技術の説明で述べた(3)の課題、つまり、研磨シートとフィルム表面とが強く密着し合う問題の発生を抑制することが可能となる。
また、凸部の高さが前記平板部の厚さの1倍以上5倍以下であることが好ましい。凸部が低すぎると個々の凸部が変形されにくくなり、被研磨材の研磨面に存在する凹凸への対応が困難となりやすい。また、高すぎると、凸部が研磨面に対して倒れた(寝た)状態になりやすく、このとき、被研磨材の研磨面に存在する凹凸への対応が困難となりやすい。より好ましい範囲は1倍以上3倍以下である。
また、凸部の太さや配置密度は、第二弾性層1の弾性体の硬度、求められる研磨速度、用いる砥粒の種類、被研磨材の大きさ,そして研磨圧力,回転数などの加工条件等によって異なるため、予め検討を行って決定する。
ここで、第二弾性層1の柔軟性の目安として、その平板部の凸部形成側とは反対側の面に対してASKER Cゴム硬度計を用いて測定した柔軟性を表す値が60以上77以下となるように諸パラメータを決定する。この諸パラメータとは具体的には、材質、凸部の太さや配置密度、第二弾性層の厚さ、添加物、架橋の有無や架橋条件などである。
ここで、第二弾性層の柔軟性の評価は、日本ゴム協会標準規格(SRIS)のASKER C硬度測定に用いられるASKER Cゴム硬度計を用いて行う。ただし、そ定対象として、通常のゴムバルク品ではなく、第二弾性層用に成形された、平板体に複数の凸部を一体に設けた成形品を用いる。そして、アスカーゴム硬度計Cの押針をこの成形品の平面(凹部が形成されていない方の面)に垂直に当たるようにして測定する。なお、平面の裏面には部分的に凸部が形成されているために、測定場所によって測定値にばらつきが生じる。このために、測定はランダムに選定した10箇所でそれぞれ行い、それらの値を平均した値を、本発明では、その成形品及び第二弾性層の「ASKER Cゴム硬度計を用いて測定した柔軟性を表す値」とした。また、この値を「ASKER Cゴム硬度測定準じて測定した値」とも云う。
第二弾性層のこのようなASKER C硬度に準じた測定した値が低すぎると研磨圧力がさがり、加工能率が下がる傾向である。一方、硬度が高すぎると、片あたり解消効果が得られにくくなる。好ましいASKER C硬度の範囲としては60以上77以下である。
本発明の構成によれば、凸部はそれぞれ、独立して変形が可能となり、全体の可撓性を向上させる。さらに、被研磨材の被研磨面の小さい凹凸にも大きい凹凸にも対応でき。これらを効果的に解消させることができる。
研磨シート3は、その研磨面側に砥粒が、例えば各種バインダにより構成されるバインダ層からその上端が突出するように固定されており、その裏面は上記第二弾性層1の凸部の先端に接して固定されている。
これらの第一弾性層2、第二弾性層1、及び、研磨シート3は、互いに接着剤や粘着剤、あるいは、両面粘着テープ等を用いて接着や粘着、貼り合せさせてもよい。また、第一弾性層2と第二弾性層1とは、一方を予め形成しておいて他方を形成する際の金型に一方を収納して他方の形成を行うことにより両者を一体に形成してもよく、このとき、接着や粘着の材料や手間が不要となる。
図3に、本発明の研磨具の例Aを、ベース基材5に取り付けた研磨装置のモデル図を示した。
図3に示すように、被研磨材9の被研磨面と研磨シート3の研磨面とが平行でないときに、まず、ベース基材部分に隣接する第一弾性層2が変形し、被研磨材の片あたりを解消する。一方、研磨シート3と接する第二弾性層1は硬度が高いため、第一弾性層と比べ、変形が小さいため、研磨加工点における研磨圧力の低減を抑え、高加工能率を実現させることができる。
ここで、本発明の研磨具の働きを図4にモデル的にまとめた。
図4(a)に示すように、被研磨材9が研磨シート3に対して傾いて接し、しかも被研磨材9の被研磨面にうねり、突起が存在する場合を想定した。
図4(b)に、被研磨材9が上方から押圧された第一の状態を示す。このとき、第一弾性層2が変形して、被研磨材の表面形状に倣い、片あたりが防止される。
図4(c)に、さらに上方から押圧された第二の状態を示す。このとき、第二弾性層1の凸部の柱状構造が被研磨材の被研磨面のうねりに沿って若干変形し、研磨シート3と被研磨材の被研磨面とが完全にフィット(一致)する。図中矢印で示しているのは、凸部の変形の大きい部分、つまり応力集中している箇所である。しかし、図12にモデル的に示した従来例と異なるのは、この矢印で示した以外の部分でも研磨シート3が被研磨材9の被研磨面と接触しており、応力集中は大きく緩和されている。つまり、被研磨面の突起部に対し、集中的に研磨して被研磨面の平坦化が図れるとともに、深いスクラッチの発生も抑制することができる効果が得られる。なお、このモデル例では、仮説に従い経時的に示したが、実際の研磨の場合、この順序で進行するとは限らないが、その場合であっても同じ効果が得られる。
以上、本発明について、好ましい実施形態を挙げて説明したが、本発明の研磨具、及び、研磨装置は上記実施形態の構成に限定されるものではない。
当業者は、従来公知の知見に従い、本発明の研磨具、及び、研磨装置を適宜改変することができる。このような改変によってもなお本発明の研磨具、及び、研磨装置の構成を具備する限り、もちろん、本発明の範疇に含まれるものである。
以下、本発明を実施例により具体的に説明する。
[実施例1]
まず、第二弾性層を作製した。用いる弾性体の材質として天然ゴム(ASKER C硬度:85)を用いた。第二弾性層を構成する平板部1b部分の厚さは0.35mmで、その上に円柱形状の凸部1aを平板部1bと一体に複数(多数)形成した。凸部1aの直径は2mmで、図2に示したように、60°の千鳥配列で、互いの軸間距離(水平ピッチ間隔)は3mm、その高さは1mmとした。この第二弾性層は、このような各寸法を有するステンレス製金型に天然ゴムを流し込み、成形後に金型から離型して、平面部1bと複数の凸部とを一体に成形した。このようにして得た第二弾性層の柔軟性について、第二弾性層のASKER C硬度測定に準じて測定した値は73であった。
第一弾性層として、厚さが30mmの発泡EVA(エチレン・酢酸ビニル共重合樹脂)(市販の10倍独立発泡品:三福工業社製2A10。)を用意した。このスポンジのASKER C硬度は35であった。
このような第一弾性層と上記第二弾性層の板状部とを両面テープを用いて固定して、一体化した。
次に、このように一体化して得た複合弾性層を図3にモデル的に示したようにベース基材5の上に固定し、その上に、ガラスワークの面内圧力分布を計測するために、研磨シートの代わりに富士フィルム社製微圧用プレスケールPrescale4LWを固定した。
このベース基材5(図3参照)の上方にある、軸8により回転可能で、かつ、上下方向に昇降可能なヘッド部6に被研磨材9代替としてガラス基板(100mm×70mm)を固定した。
また、上記ヘッド部分は、ベース基材5の上面に対して、角度調整機構7により傾きを付与できる機構となっている。この実施例では、図3中の角度θを1°として研磨面に対して被研磨面を傾けた状態で、ヘッド部6の上下を行い、このヘッド部のガラス基板を回転させずに、30kPaの圧力となるように、かつ、押圧の保持時間を10秒として、プレスケールに押圧した。
このとき、図5(a)に、プレスケールによって計測された、押圧により大きく圧力変化した部分を濃色で示した。
このように、圧力変化した部分を画像処理(2値化)して濃色化して調べたところ、ガラス基板の大きさ100×70mmの範囲内で、濃色部分の面積は全体の95%以上であった。なお、このように大きく圧力変化した面積が全体の75%以上あれば、被研磨材の片あたりがなく、全面接触であると判断される。
[比較例1]
実施例1と同様に、ただし、第一弾性層として、ASKER C硬度が60のポリエチレン発泡スポンジを用いて、検討した。このときの圧力変化した部分の状体を図5(b)に示す。図5(b)では圧力変化した部分(濃色部分)は42%と小さく、被研磨材の片あたりの抑制効果が十分に得られないことが理解される。
さらに、第一弾性層として、異なる硬度の発泡スポンジを用いたときの、硬度と大きく圧力変化した部分の面積との関係を調べた結果を図6に示す。
図6よりASKER C硬度が40以下であれば、十分な片あたり防止効果が得られることが理解される。なお、ASKER C硬度が25以下では、30の場合と比べて、濃色面積率が若干低くなっているのは次のような理由によると考えられる。すなわち、第一弾性層としてこのようにあまりにも軟質なスポンジを用いた場合には、評価時の押圧の力がこのスポンジに吸収されて、プレスケールによる圧力変化の検出が困難となり、若干低い値となっていると考えられる。
[比較例2]
上記実施例1と同様にして、ただし、第二弾性層の平板部の厚さを0.6mmにして、評価を行った。図7にその結果を示した。
図7から理解されるように、図面右上下の隅の部分が濃色となっており、左に行くほど薄くなる。このように、平板部の厚さが厚くなれば、片あたりが増加する。ここで、平板部の厚さを、0.5mm、0.25mm、及び、0.1mmとして同様に検討を行ったところ、すべて実施例1と同様の結果、すなわち、大きく圧力変化した部分の面積が全体の80%以上となっていた。
[実施例2]
次に第二弾性層の凸部の高さによる影響を調べた。実施例1と同様に(平板部の厚さは0.35mmに固定)、ただし、凸部の円柱の高さのみ変化させて検討を行った。
図8には、横軸に凸部高さ/平板部の厚さの比、縦軸にASKER C硬度測定に準じて測定した値をとり、検討結果を示した。
天然ゴム(ASKER C硬度:85)に対し、凸部高さが高くなるにつれ、ゴム硬度が下がってくるのが理解される。図9(a)には、凸部高さ/平板部厚さの比が0.88の場合のプレスケールでの検出状況を示している。このように、凸部高さ/平板部厚さの比が1より小さくなると、四隅のみで研磨シート面から圧力を受け、被研磨材の中央では研磨シート面の圧力を受けていないことが理解される。
一方、図9(b)には、凸部高さ/平板部厚さの比を5.8としたときの圧力が大きく変化した部分の分布状態を示した。この図では、一見、研磨シート面から全体に圧力を受けているように見えるが、実際には部分的なむらがある。これは、凸部高さ/平板部厚さの比が大きいため、すなわち、凸部の高さが高いため、押圧時に凸部が倒れたり、あるいは、潰れたりしたことが原因であると推測される。ここで、様々な高さの凸部を有する第二弾性層を作成して検討したところ、凸部高さ/平板部厚さの比が、1以上5以下の範囲では、プレスケールで検出される濃色面積比が、すべて75%以上であった。
これら実施例及び比較例の結果から理解されるように、被研磨材の片あたりを効率よく抑制するためには、第一弾性層では、それを形成する弾性体の硬度が重要である。第二弾性層では、平板部厚さ、そして、凸部高さ/平板部厚さの比、さらに第二弾性層のトータルの柔軟性の目安である第二弾性層のASKER C硬度測定に準じて測定した値が重要である。
[実施例3]
実施例1同様に、ただし、プレススケールの代わりに、特許文献2に開示された砥粒をバインダで研磨面に固定して作製した研磨フィルムを、上記の複合弾性層の表面に固定した。最大高さ粗さRtが2μmとなるように調整した直径100mmの光学ガラスディスク(硼珪酸クラウンガラス(BK7相当品))を加工した結果、5分間でスクラッチのない、最大高さ粗さRyが30nm以下の鏡面を得ることができた。このときの研磨条件は、定盤回転数が60rpm、加工圧力が30kPa、冷却水としての純水の研磨面への供給量が200ミリリットル/分であった。研磨加工後に被研磨材についてその10箇所の厚さを計測したところ、その差が0.5μm以内に収まり、十分に高い精度での研磨が行われたことが確認された。そして、この被研磨材に対してさらに継続して10分間の研磨作業を続けたが、被研磨材のスピンアウトは発生しなかった。
[比較例3]
上記実施例3同様に、被研磨材に対して5分間の研磨を行った。そして、第二弾性層なしで、すなわち、第一弾性体に直接研磨フィルムを固定した状態として、さらに研磨作業を行ったところ、2分経過しないうちに被研磨材のスピンアウトが生じた。
このスピンアウトの発生理由は、以下のようであると考えられる。すなわち、被研磨材の被研磨面が十分に平坦化された後で、第二弾性層がない状態で研磨を行うと、被研磨材と研磨シートのとの間の密着性が増加し、供給されている水により、被研磨材と研磨シートとの間に薄い水膜ができる。そして、表面張力と外気圧とで、被研磨材とフィルムは互いに強く密着し、その結果、被研磨材がベース基材から外れてスピンアウトが発生する。
1 第二弾性層
1a 凸部
1b 平板部
1c 平面
2 第一弾性層
3 研磨シート
3a 一方の面
3b 他方の面
5 ベース基材
7 角度調整機構
9 被研磨材
特開2014−018893号公報 特許第3990936号公報

Claims (4)

  1. ASKER C硬度が40以下の弾性体により形成された第一弾性層、
    前記第一弾性層側の平板状の平板部と、
    当該平板部から前記第一弾性層とは反対側に突出して設けられ、先端が同一の平面に位置する複数の凸部と、を有し、前記平板部の前記凸部形成側とは反対側の面に対してASKER Cゴム硬度計を用いて測定した柔軟性を表す値が60以上77以下である第二弾性層、及び、前記平面に一方の面で取り付けられ、かつ、
    他方の面に砥粒が複数固定されている研磨シート、
    が順次積層されて構成されていることを特徴とする研磨具。
  2. 前記平板部の厚さが0.5mm以下であり、
    前記凸部の形状が柱状形、または、前記平板部側が太い錐台形であり、かつ、
    前記凸部の高さが前記平板部の厚さの1倍以上5倍以下であることを特徴とする請求項1に記載の研磨具。
  3. 前記第一弾性層は発泡体により構成され、かつ、前記第二弾性層は中実のゴムにより構成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の研磨具。
  4. 請求項1ないし請求項2に記載の研磨具を有することを特徴とする研磨装置。
JP2014092531A 2014-04-28 2014-04-28 研磨具、及び、研磨装置 Active JP6295807B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014092531A JP6295807B2 (ja) 2014-04-28 2014-04-28 研磨具、及び、研磨装置
CN201510203608.9A CN105033840B (zh) 2014-04-28 2015-04-24 研磨具以及研磨装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014092531A JP6295807B2 (ja) 2014-04-28 2014-04-28 研磨具、及び、研磨装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015208818A JP2015208818A (ja) 2015-11-24
JP6295807B2 true JP6295807B2 (ja) 2018-03-20

Family

ID=54441112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014092531A Active JP6295807B2 (ja) 2014-04-28 2014-04-28 研磨具、及び、研磨装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6295807B2 (ja)
CN (1) CN105033840B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113714928B (zh) * 2021-08-23 2023-05-05 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种研磨盘及基板清洁装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2892189B2 (ja) * 1991-09-11 1999-05-17 三菱マテリアル株式会社 ウェーハの研磨板及び研磨装置
JPH06262532A (ja) * 1993-03-05 1994-09-20 Fuji Photo Film Co Ltd 研磨体
JP3329644B2 (ja) * 1995-07-21 2002-09-30 株式会社東芝 研磨パッド、研磨装置及び研磨方法
JPH10329005A (ja) * 1997-06-03 1998-12-15 Toshiba Corp 研磨布及び研磨装置
JPH1148131A (ja) * 1997-07-30 1999-02-23 Canon Inc 基板を平坦化するための研磨工具および研磨方法
WO1999010129A1 (en) * 1997-08-26 1999-03-04 Ning Wang A pad for chemical-mechanical polishing and apparatus and methods of manufacture thereof
US6413153B1 (en) * 1999-04-26 2002-07-02 Beaver Creek Concepts Inc Finishing element including discrete finishing members
JP4790973B2 (ja) * 2003-03-28 2011-10-12 Hoya株式会社 研磨パッドを使用した情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及びその方法で得られた情報記録媒体用ガラス基板
JP2006142438A (ja) * 2004-11-22 2006-06-08 Sumitomo Bakelite Co Ltd 研磨パッドおよびこれを用いた研磨方法
US20120302148A1 (en) * 2011-05-23 2012-11-29 Rajeev Bajaj Polishing pad with homogeneous body having discrete protrusions thereon
KR101825734B1 (ko) * 2011-11-29 2018-02-05 캐보트 마이크로일렉트로닉스 코포레이션 기초 레이어 및 연마면 레이어를 가진 연마 패드
JP6188286B2 (ja) * 2012-07-13 2017-08-30 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 研磨パッド及びガラス、セラミックス、及び金属材料の研磨方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105033840B (zh) 2017-10-31
JP2015208818A (ja) 2015-11-24
CN105033840A (zh) 2015-11-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4326587B2 (ja) 研磨パッド
CN102049723B (zh) 抛光半导体晶片的方法
JP5061694B2 (ja) 研磨パッドの製造方法及び研磨パッド並びにウエーハの研磨方法
JP5371251B2 (ja) 研磨パッド
JPH11277408A (ja) 半導体ウエーハの鏡面研磨用研磨布、鏡面研磨方法ならびに鏡面研磨装置
KR20110007206A (ko) 반도체 제조에서 기판 경사면 및 엣지 연마를 위한 저비용 및 고성능 연마 테이프를 위한 방법 및 장치
JPH0335063B2 (ja)
JPH09201765A (ja) バッキングパッドおよび半導体ウエーハの研磨方法
JP6295807B2 (ja) 研磨具、及び、研磨装置
JP2007266068A (ja) 研磨方法及び研磨装置
TW201743374A (zh) 雙面研磨方法及雙面研磨裝置
JP2010247254A (ja) 研磨ヘッドの製造方法及び研磨装置
CN214771284U (zh) 研磨垫
JP5502542B2 (ja) 研磨パッド
US9630292B2 (en) Single side polishing apparatus for wafer
JP5620465B2 (ja) 円形状研磨パッド
JP2006142439A (ja) 研磨パッドおよびこれを用いた研磨方法
WO2000024548A1 (fr) Dispositif de polissage et procede de fabrication de semi-conducteurs au moyen dudit dispositif
WO2023095503A1 (ja) テンプレートアセンブリ、研磨ヘッド及びウェーハの研磨方法
JP2002064071A (ja) シリコンウエハー鏡面研磨用研磨板およびシリコンウエハーの鏡面研磨方法
JP2007035917A (ja) 研磨パッド、シリコンウエハおよび研磨機
JP4598551B2 (ja) 被加工物保持材および被加工物保持材の製造方法
TW201328818A (zh) 玻璃板之研磨裝置
JP2015205389A (ja) 研磨パッド及び研磨装置
JP2016107366A (ja) 研磨布

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20161215

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170411

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180125

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180205

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6295807

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151