JP6282508B2 - 凸凹表面のエッジに向けて強化されたエッジ検出ツール - Google Patents
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- 238000003708 edge detection Methods 0.000 title description 11
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 198
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 128
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 91
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 claims description 60
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 45
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 16
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 6
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 claims 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 230000009471 action Effects 0.000 description 7
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 7
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000002184 dynamic force spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 4
- 238000012549 training Methods 0.000 description 4
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 3
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 2
- ABEXEQSGABRUHS-UHFFFAOYSA-N 16-methylheptadecyl 16-methylheptadecanoate Chemical compound CC(C)CCCCCCCCCCCCCCCOC(=O)CCCCCCCCCCCCCCC(C)C ABEXEQSGABRUHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000764238 Isis Species 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 239000005441 aurora Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010219 correlation analysis Methods 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005417 image-selected in vivo spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000012739 integrated shape imaging system Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/13—Edge detection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10016—Video; Image sequence
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
精密なマシンビジョン検査システム(又は略して「ビジョンシステム」)は、被検査物体の精密な寸法測定を取得し、様々な他の物体特徴を検査するために利用することができる。そのようなシステムは、コンピュータと、カメラ及び光学系と、複数の方向に移動可能であり、ワークピース検査を可能にする精密ステージとを含み得る。汎用「オフライン」精密ビジョンシステムとして特徴付けることができる1つの例示的な従来技術によるシステムは、イリノイ州Auroraに所在のMitutoyo America Corporation (MAC)から入手可能な市販のQUICK VISION(登録商標)シリーズのPCに基づくビジョンシステム及びQVPAK(登録商標)ソフトウェアである。QUICK VISION(登録商標)シリーズのビジョンシステム及びQVPAK(登録商標)ソフトウェアの機能及び動作は一般に、例えば、2003年1月に公開されたQVPAK 3D CNC Vision Measuring Machine User's Guide及び1996年9月に公開されたQVPAK 3D CNC Vision Measuring Machine Operation Guideに説明されている。この種のシステムは、顕微鏡型光学系を使用可能であり、様々な倍率で小さいワークピース又は比較的大きなワークピースの検査画像を提供するようにステージを移動させることが可能である。
マシンビジョン検査システムにおいて凸凹表面のエッジのエッジ検出を強化する方法が、本明細書に開示される。マシンビジョン検査システムは、関心領域定義部を含むエッジ要素ビデオツールを含み得、エッジ要素ビデオツールは、関心領域内の複数の異なる合焦位置の画像に基づいて、関心領域におけるエッジ要素のプロファイルデータを特定するように構成される。方法は、ワークピースをマシンビジョン検査システムの視野に配置すること、及びエッジ要素ビデオツールを動作させて、ワークピースの取得画像内のエッジ要素を含むビデオツール関心領域を定義することを含む。エッジ要素ビデオツールは動作して、関心領域内の少なくとも1つのワークピース画像の画像データを解析し、エッジ要素のプロファイルデータを特定する前に、複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングするために使用される方向性フィルタリング方向に沿った各位置でのエッジ要素の各オフセット量を実質的に最小化する参照エッジのアライメント補正を提供する。参照エッジのアライメント補正が、方向性フィルタリング方向に相対するエッジ要素の各オフセット量を最小化又は略最小化しようとするために使用されることが理解されるだろう。しかし、いくつかの実施形態では、計算コスト、画像のワークピース特徴の「ノイズの多さ」、又は両方が、十分ではあるが完璧ではなくこの目標を達成する妥協を決定づけ得る。
による測定が専ら、そのDFSに含まれるピクセルに基づいて特定される。
12 画像測定機
14 制御コンピュータシステム
16 ディスプレイ
18 プリンタ
20 ワークピース
22 ジョイスティック
24 キーボード
26 マウス
32 可動式ワークピースステージ
34 光学撮像システム
120 制御システム部
125 コントローラ
130 入出力インタフェース
131 撮像制御インタフェース
132 運動制御インタフェース
132a 位置制御要素
132b 速度/加速度制御要素
133 照明制御インタフェース
133a〜133n、133fl 照明制御要素
134 レンズ制御インタフェース
136 ディスプレイ装置
138 入力装置
140 メモリ
141 画像ファイルメモリ部
142 ワークピースプログラムメモリ部
143 ビデオツール部
143a、143n 代表的ビデオツール部
143eft 方向性フィルタリング及び位置合わせ補償を有するエッジ要素ツール
143eracd 参照エッジのアライメント補正定義部
143roi 関心領域生成器
170 ワークピースプログラム生成・実行器
190 電源部
200 ビジョン構成要素部
205 光学アセンブリ部
210 ワークピースステージ
212 中央透明部
220 透過光
221、231、241、281 バス
262、296 信号線
230、230’ 落射照明光
232 光
240 斜め照明光
250 交換式対物レンズ
255 ワークピース光
260 カメラ
280 ターレットレンズアセンブリ
284 軸
286、288 レンズ
290 ミラー
291 ビームスプリッタ
294 制御可能なモータ
300、400A、400B、500、600 図
304Ydfs、304Xdfs 方向性フィルタリング小領域
305 正方形フィルタリング小領域
310、410A、410B 画像ピクセル
404A、404B DFSセット
404Aply Y方向プロファイル線
404Bplx X方向プロファイル線
510、610 深度マップ
512、514、612、614 Y位置
520、620 プロファイル再構築領域
522、524、622、624、1025、1125 エッジ要素
530、630 ウィンドウ
531、631 Zプロファイル曲線
504ply、604ply Z高さプロファイル線
612、614 垂直位置
632、634 溝側部プロファイル
700 視野
704pl、704pl’、704’ プロファイル線
705 位置合わせされたビデオツール
705’、1000 ビデオツール
710、720 チャート
712 ボックス
725、825 直線エッジ要素
726 第2のエッジ
800 PFFボックスツール
900 PFF円弧ツール
925 円形エッジ要素
1000 ボックスツール
1100 円弧ツール
1200、1300、1400 方法
Claims (26)
- マシンビジョン検査システムにおいてエッジ要素のプロファイルデータを特定する方法であって、前記マシンビジョン検査システムは、
関心領域定義部を含むエッジ要素ビデオツールであって、前記関心領域内の複数の異なる合焦位置の画像に基づいて、前記関心領域におけるエッジ要素のプロファイルデータを特定するように構成される、エッジ要素ビデオツールを備え、
前記方法は、
ワークピースを前記マシンビジョン検査システムの視野に配置すること、
前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記ワークピースの取得画像内のエッジ要素を含むビデオツール関心領域を定義すること、及び
前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記関心領域内の少なくとも1つのワークピース画像の画像データを解析し、前記エッジ要素の前記プロファイルデータを特定する前に、前記複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングするために使用される方向性フィルタリング方向に沿った各位置での前記エッジ要素の各オフセット量を実質的に最小化する参照エッジのアライメント補正を提供すること、
を含む、方法。 - 前記参照エッジのアライメント補正は、前記方向性フィルタリング方向に沿った各位置での前記エッジ要素の各オフセット量が、a)実質的に除去されること、b)実質的に補償されること、及びc)前記方向性フィルタリング方向に沿った各位置での対応するエッジ要素の、以前に特定された各オフセット量に実質的に一致されることのうちの少なくとも1つであるように、前記方向性フィルタリング方向を調整する、請求項1に記載の方法。
- 前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、複数の異なる合焦位置の画像を取得すること、
前記参照エッジのアライメント補正を適用して、前記方向性フィルタリング方向を調整すること、
前記参照エッジのアライメント補正を適用した後、前記複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングすること、及び
前記方向性フィルタリングされた複数の異なる合焦位置の画像に基づいて、前記エッジ要素の前記プロファイルデータを特定すること、
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングすることは、前記複数の画像のそれぞれのPFFの基本となるピクセル位置に対応するポイントに関連して定義される方向性フィルタリング小領域(DFS)を使用することを含み、各DFSは、前記方向性フィルタリング方向に概ね直交する第2の方向に沿った短寸法よりも大きな、前記方向性フィルタリング方向に沿った長寸法を有し、
前記参照エッジのアライメント補正を使用して、前記方向性フィルタリング方向に沿った前記エッジ要素の前記オフセット量が、前記方向性フィルタリングを実行する前に、a)実質的に除去されること、及びb)実質的に補償されることの少なくとも1つであるように、前記方向性フィルタリング方向を調整する、請求項3に記載の方法。 - 前記短寸法は多くとも5ピクセルであり、前記長寸法は少なくとも、前記短寸法の3倍である、請求項4に記載の方法。
- 前記DFSの前記PFFの基本となるピクセル位置に関連付けられたZ高さ又はPFFによる測定の一方が専ら、そのDFSに含まれる前記ピクセルに基づいて特定される、請求項5に記載の方法。
- 前記エッジ要素ビデオツールは、少なくとも、前記ワークピースの画像に重ねられた関心領域インジケータを含むユーザインタフェースを含み、前記方法は、前記ユーザインタフェースにおいて前記ワークピースの前記画像に重ねられた要素を調整することにより、前記参照エッジのアライメント補正が提供されたことの表示を提供することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記ユーザインタフェースにおいて前記ワークピースの前記画像に重ねられた要素を調整することは、前記参照エッジのアライメント補正が提供されたことを示すために、関心領域インジケータ、エッジ方向インジケータ、及び方向性フィルタリング方向インジケータのうちの少なくとも1つを調整することを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記エッジ要素ビデオツールは、直線エッジ要素に対応して構成され、前記関心領域インジケータを調整することは、軸の1つが前記エッジ要素に直交するように、前記関心領域インジケータを位置決めすることを含み、前記エッジ方向インジケータを調整することは、前記エッジ要素に平行するように前記エッジ方向インジケータを位置決めすることを含み、前記方向性フィルタリング方向インジケータを調整することは、前記エッジ要素に平行又は直交するように、前記方向性フィルタリング方向インジケータを位置決めすることを含む、請求項8に記載の方法。
- 前記エッジ要素ビデオツールは、円形エッジ要素及び円弧エッジ要素のうちの一方に対応して構成され、前記関心領域インジケータを調整することは、境界が前記エッジ要素と概ね同心になるように、前記関心領域インジケータを位置決めすることを含み、前記エッジ方向インジケータを調整することは、前記エッジ要素と概ね同心になるように、前記エッジ方向インジケータを位置決めすることを含み、前記方向性フィルタリング方向インジケータを調整することは、前記エッジ要素と概ね同心になるように、前記方向性フィルタリング方向インジケータを位置決めすることを含む、請求項8に記載の方法。
- 前記ユーザインタフェースにおいて前記ワークピースの前記画像に重ねられた要素を調整することは、前記ワークピースの前記画像に重ねられた要素の属性を変更すること、及び前記画像に重ねられる参照エッジのアライメント補正インジケータを追加することのうちの一方を含む、請求項7に記載の方法。
- 前記方法は、a)参照エッジのアライメント補正動作を含むタイプであるような前記エッジ要素ビデオツールを選択すること、b)前記エッジ要素ビデオツールの、参照エッジのアライメント補正動作を含む参照エッジのアライメント補正モード又はオプションを選択すること、c)前記エッジ要素ビデオツールの、参照エッジのアライメント補正動作を含む方向性フィルタリングモード又はオプションを選択すること、及びd)前記エッジ要素ビデオツールと併せて動作する参照エッジのアライメント補正動作を提供する参照エッジのアライメント補正ツールを選択することのうちの1つを含み、
前記関心領域の少なくとも1つのワークピース画像の前記画像データを解析して、前記参照エッジのアライメント補正を提供することは、前記エッジ要素ビデオツールの動作と併せて前記参照エッジのアライメント補正動作を実行することを含む、請求項1に記載の方法。 - 前記方法は、前記マシンビジョンシステムの学習モード中に実行され、対応する動作はパートプログラムに記録される、請求項1に記載の方法。
- 前記方法の少なくともいくつかのステップは、パートプログラムに記録された対応する動作を実行することにより、前記マシンビジョンシステムの実行モード中に実行される、請求項1に記載の方法。
- 前記参照エッジのアライメント補正を提供することは、前記エッジ要素ビデオツールに関連付けられたデフォルト方向に沿った各位置での前記エッジ要素の各オフセット量を特徴付けることを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記デフォルト方向に沿った各位置での前記エッジ要素の各オフセット量を特徴付けることは、
前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記関心領域内の複数の異なる合焦位置の画像を取得すること、
前記関心領域の前記取得された複数の異なる合焦位置の画像に基づいて、前記エッジ要素の予備プロファイルデータを特定すること、
前記予備プロファイルデータに基づいて、前記エッジ要素ビデオツールに関連付けられた線形状を前記エッジ要素に位置合わせすること、及び
前記デフォルト方向に沿った各位置での位置合わせされた前記線形状の各オフセット量を特徴付けること、
を含む、請求項15に記載の方法。 - 前記エッジ要素ビデオツールに関連付けられた前記線形状は直線であり、前記デフォルト方向に沿った各位置において位置合わせされた前記線形状の各オフセット量を特徴付けることは、前記位置合わせされた直線と前記デフォルト方向との間の角度を特定することを含む、請求項16に記載の方法。
- 前記エッジ要素ビデオツールに関連付けられた前記線形状は、円の少なくとも一部を含み、前記デフォルト方向はデフォルト円に平行する方向を辿り、前記デフォルト方向に沿った各位置において位置合わせされた前記線形状の各オフセット量を特徴付けることは、前記デフォルト円に対する前記位置合わせされた円の少なくとも一部の各オフセット量を特定することを含む、請求項16に記載の方法。
- 前記方法は、
前記マシンビジョンシステムの学習モード中、前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記関心領域内の複数の異なる合焦位置の画像を取得すること、
前記エッジ要素にわたる複数の代表的な複合Z高さプロファイルを特定することであって、代表的な各複合Z高さプロファイルを、各複合Z高さプロファイルを特定する前に、複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングするために使用される対応する方向性フィルタリング方向に基づいて特定すること、
その代表的な複合Z高さプロファイルを提供するために使用される方向性フィルタリング方向に沿った各位置での前記エッジ要素の各オフセット量を実質的に最小化する、前記複数の代表的な複合Z高さプロファイルのうちの1つを特定すること、及び
前記エッジ要素の各オフセット量を実質的に最小化する前記複数の代表的な複合Z高さプロファイルのその1つに対応する前記方向性フィルタリング方向に基づいて、前記参照エッジのアライメント補正を決定すること、
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 各オフセット量を実質的に最小化する前記複数の代表的な複合Z高さプロファイルのうちの1つを特定することは、前記複数の代表的な複合Z高さプロファイルの中から、前記代表的なエッジ要素に対応する最大プロファイル勾配を示す複合Z高さプロファイルを特定することを含む、請求項19に記載の方法。
- エッジ要素のプロファイルデータを特定するシステムであって、
プログラム命令を記憶するメモリと、
前記プログラム命令を実行して、動作を実行するように構成されるプロセッサと、
を含み、前記動作は、
ワークピースをマシンビジョン検査システムの視野に配置すること、
エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記ワークピースの取得画像内のエッジ要素を含むビデオツール関心領域を定義すること、及び
前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記関心領域内の少なくとも1つのワークピース画像の画像データを解析し、前記エッジ要素のプロファイルデータを特定する前に、複数の異なる合焦位置の画像を方向性でフィルタリングするために使用される方向性フィルタリング方向に沿った各位置での前記エッジ要素の各オフセット量を実質的に最小化する参照エッジのアライメント補正を提供すること、
を含む、システム。 - 前記動作は、
前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、複数の異なる合焦位置の画像を取得すること、
前記参照エッジのアライメント補正を適用して、前記方向性フィルタリング方向を調整すること、
前記参照エッジのアライメント補正を適用した後、前記複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングすること、及び
前記方向性フィルタリングされた複数の異なる合焦位置の画像に基づいて、前記エッジ要素の前記プロファイルデータを特定すること、
をさらに含む、請求項21に記載のシステム。 - 前記複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングすることは、前記複数の画像のそれぞれのPFFの基本となるピクセル位置に対応するポイントに関連して定義される方向性フィルタリング小領域(DFS)を使用することを含み、各DFSは、前記方向性フィルタリング方向に概ね直交する第2の方向に沿った短寸法よりも大きな、前記方向性フィルタリング方向に沿った長寸法を有し、
前記参照エッジのアライメント補正を使用して、前記方向性フィルタリング方向に沿った前記エッジ要素の前記オフセット量が、前記方向性フィルタリングを実行する前に、a)実質的に除去されること、及びb)実質的に補償されることの少なくとも1つであるように、前記方向性フィルタリング方向を調整する、請求項22に記載のシステム。 - 命令が記憶されたコンピュータ可読記憶媒体であって、前記命令は、プロセッサにより実行可能であり、
ワークピースをマシンビジョン検査システムの視野に配置する動作と、
エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記ワークピースの取得画像内のエッジ要素を含むビデオツール関心領域を定義する動作と、
前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、前記関心領域内の少なくとも1つのワークピース画像の画像データを解析し、前記エッジ要素のプロファイルデータを特定する前に、複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングするために使用される方向性フィルタリング方向に沿った各位置での前記エッジ要素の各オフセット量を実質的に最小化する参照エッジのアライメント補正を提供する動作と、
を実行する、コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記動作は、
前記エッジ要素ビデオツールを動作させて、複数の異なる合焦位置の画像を取得すること、
前記参照エッジのアライメント補正を適用して、前記方向性フィルタリング方向を調整すること、
前記参照エッジのアライメント補正を適用した後、前記複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングすること、及び
前記方向性フィルタリングされた複数の異なる合焦位置の画像に基づいて、前記エッジ要素の前記プロファイルデータを特定すること、
をさらに含む、請求項24に記載のコンピュータ可読記憶媒体。 - 前記複数の異なる合焦位置の画像を方向性フィルタリングすることは、前記複数の画像のそれぞれのPFFの基本となるピクセル位置に対応するポイントに関連して定義される方向性フィルタリング小領域(DFS)を使用することを含み、各DFSは、前記方向性フィルタリング方向に概ね直交する第2の方向に沿った短寸法よりも大きな、前記方向性フィルタリング方向に沿った長寸法を有し、
前記参照エッジのアライメント補正を使用して、前記方向性フィルタリング方向に沿った前記エッジ要素の前記オフセット量が、前記方向性フィルタリングを実行する前に、a)実質的に除去されること、及びb)実質的に補償されることの少なくとも1つであるように、前記方向性フィルタリング方向を調整する、請求項25に記載のコンピュータ可読記憶媒体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/852,945 US8995749B2 (en) | 2013-03-28 | 2013-03-28 | Enhanced edge detection tool for edges of irregular surfaces |
US13/852,945 | 2013-03-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014194776A JP2014194776A (ja) | 2014-10-09 |
JP6282508B2 true JP6282508B2 (ja) | 2018-02-21 |
Family
ID=51597104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014067664A Active JP6282508B2 (ja) | 2013-03-28 | 2014-03-28 | 凸凹表面のエッジに向けて強化されたエッジ検出ツール |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8995749B2 (ja) |
JP (1) | JP6282508B2 (ja) |
CN (1) | CN104075666B (ja) |
DE (1) | DE102014205726B4 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2013
- 2013-03-28 US US13/852,945 patent/US8995749B2/en active Active
-
2014
- 2014-03-27 DE DE102014205726.4A patent/DE102014205726B4/de active Active
- 2014-03-28 CN CN201410182723.8A patent/CN104075666B/zh active Active
- 2014-03-28 JP JP2014067664A patent/JP6282508B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8995749B2 (en) | 2015-03-31 |
US20140294284A1 (en) | 2014-10-02 |
DE102014205726A1 (de) | 2014-10-16 |
JP2014194776A (ja) | 2014-10-09 |
CN104075666B (zh) | 2017-08-29 |
CN104075666A (zh) | 2014-10-01 |
DE102014205726B4 (de) | 2024-02-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170208 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180110 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180124 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |