JP6281489B2 - 多層プリント配線板の製造方法 - Google Patents
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Description
〔1〕 (A)支持体付きプリプレグを内層回路基板に加熱及び加圧して真空積層する工程、
(B)プリプレグを熱硬化して絶縁層を形成する工程、
を含有することを特徴とする多層プリント配線板の製造方法であって、
前記プリプレグが硬化性樹脂組成物とシート状繊維基材とを含有し、
前記プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率が30質量%以上85質量%以下であり、
前記硬化性樹脂組成物が無機充填材を含有し、
前記(A)工程において、積層時の真空度が0.001〜0.40kPa、真空到達時間が15秒間以下、積層時の加圧が1〜16kgf/cm2、積層時の加熱温度が60〜160℃、積層時の時間が10〜300秒間であることを特徴とする多層プリント配線板の製造方法。
〔2〕 前記プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みが0.25〜0.88であることを特徴とする上記〔1〕に記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔3〕 前記プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率(シート状繊維基材の質量/無機充填材の質量)が0.2〜2.5であることを特徴とする上記〔1〕又は〔2〕に記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔4〕 前記シート状繊維基材がガラスクロス、ガラス不織布、有機織布及び有機不織布からなる群より選択される1種以上を含有することを特徴とする、上記〔1〕〜〔3〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔5〕 前記シート状繊維基材がEガラス繊維、Sガラス繊維及びQガラス繊維からなる群より選択される1種以上を含有することを特徴とする、上記〔1〕〜〔3〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔6〕 前記無機充填材の平均粒径が0.01〜2μmであることを特徴とする上記〔1〕〜〔5〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔7〕 前記無機充填材の平均粒径が0.01〜0.4μmであることを特徴とする上記〔1〕〜〔6〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔8〕 前記無機充填材の含有量が、硬化性樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、40〜85質量%であることを特徴とする上記〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔9〕 前記無機充填材の含有量が、硬化性樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、60〜85質量%であることを特徴とする上記〔1〕〜〔8〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔10〕 前記(A)工程において、
ロール状に巻き取られた支持体付きプリプレグを、保護フィルムが張り合わせてある場合は保護フィルムを剥離し、順次連続的に真空ラミネーターに供給し、支持体付きプリプレグのプリプレグ面を内層回路基板に向かい合わせ、真空ラミネーターを用いて加熱及び加圧して支持体付きプリプレグを内層回路基板に真空積層することを特徴とする上記〔1〕〜〔9〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔11〕 前記(B)工程において、
熱硬化時の温度が150〜250℃、熱硬化時の時間が30〜300分間であることを特徴とする上記〔1〕〜〔10〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔12〕 前記(B)工程において、
加熱オーブンを用いてプリプレグを熱硬化して絶縁層を形成することを特徴とする上記〔1〕〜〔11〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔13〕 前記(B)工程において、
プリプレグを加熱オーブン内で垂直状態に配置し、熱硬化して絶縁層を形成することを特徴とする上記〔1〕〜〔12〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔14〕 前記(B)工程において、
多層プリント配線板を耐熱治具で固定してプリプレグを熱硬化し、硬化後に治具の内側の多層プリント配線板を切り出すことを特徴とする上記〔1〕〜〔13〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔15〕 前記絶縁層の線熱膨張係数が15ppm以下であることを特徴とする上記〔1〕〜〔14〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔16〕 前記絶縁層のガラス転移温度が181℃以上であることを特徴とする上記〔1〕〜〔15〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔17〕 更に(C)支持体を剥離する工程を含むことを特徴とする上記〔1〕〜〔16〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔18〕 更に(D)ビアホールを形成する工程を含むことを特徴とする上記〔1〕〜〔17〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔19〕 更に(E)デスミア工程を含むことを特徴とする上記〔1〕〜〔18〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔20〕 更に(F)メッキにより導体層を形成する工程を含むことを特徴とする上記〔1〕〜〔19〕のいずれかに記載の多層プリント配線板の製造方法。
〔21〕 上記〔1〕〜〔20〕のいずれかに記載の製造方法で得られた多層プリント配線板を含有することを特徴とする半導体装置。
(A)支持体付きプリプレグを内層回路基板に加熱及び加圧して真空積層する工程、
(B)プリプレグを熱硬化して絶縁層を形成する工程、
を含有することを特徴とする多層プリント配線板の製造方法であって、
前記プリプレグが硬化性樹脂組成物とシート状繊維基材とを含有し、
前記プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率が30質量%以上85質量%以下であり、
前記硬化性樹脂組成物が無機充填材を含有し、
前記(A)支持体付きプリプレグを内層回路基板に加熱及び加圧して真空積層する工程において、積層時の真空度が0.001〜0.40kPa、真空到達時間が15秒間以下、積層時の加圧が1〜16kgf/cm2、積層時の加熱温度が60〜160℃、積層時の時間が10〜300秒間であることを特徴とする多層プリント配線板の製造方法である。
(A)工程は、支持体付きプリプレグを内層回路基板に加熱及び加圧して真空積層する工程である。本発明で使用するプリプレグは、硬化性樹脂組成物とシート状繊維基材を含有している。
硬化性樹脂組成物は、特に限定なく使用できるが、中でも、(c)無機充填材を含有する組成物が好ましく、(a)エポキシ樹脂及び(c)無機充填材を含有する組成物がより好ましく、(a)エポキシ樹脂、(b)硬化剤及び(c)無機充填材を含有する組成物が更に好ましい。(a)エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、リン含有エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族鎖状エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、ビスフェノール類のジグリシジルエーテル化物、ナフタレンジオールのジグリシジルエーテル化物、フェノール類のグリシジルエーテル化物、及びアルコール類のジグリシジルエーテル化物、並びにこれらのエポキシ樹脂のアルキル置換体、ハロゲン化物及び水素添加物等が挙げられる。これらは1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用してよい。
なお本発明において、「液状エポキシ樹脂」とは、温度20℃で液状のエポキシ樹脂をいい、「固体状エポキシ樹脂」とは、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂をいう。
プリプレグに用いるシート状繊維基材は特に限定されず、ガラス繊維基材、有機繊維基材等が挙げられ、特にガラスクロス、ガラス不織布、有機織布及び有機不織布からなる群より選択される1種以上を含有することが好ましい。プリプレグの線熱膨張係数を低下させるという点からは、ガラス繊維基材、アラミド不織布、液晶ポリマー不織布等のシート状繊維基材が好ましく、ガラス繊維基材がより好ましく、ガラスクロスが更に好ましい。ガラス繊維基材に用いるガラス繊維としては、線熱膨張係数を低下させることができるという観点から、Eガラス繊維、Sガラス繊維、Qガラス繊維からなる群より選択される1種以上のガラス繊維が好ましく、Sガラス繊維、Qガラス繊維がより好ましく、Qガラス繊維が更に好ましい。Qガラス繊維とは、二酸化珪素の含有率が90%以上を占めるガラス繊維のことをいう。シート状繊維基材の厚さは、プリプレグを薄膜化するという観点から、200μm以下が好ましく、100μm以下がより好ましく、80μm以下が更に好ましく、50μm以下が更に一層好ましく、40μm以下が殊更好ましい。また、取り扱い性を向上させるという観点やプリプレグの剛性を向上させるという観点から、1μm以上が好ましく、10μm以上がより好ましく、15μm以上が更に好ましい。
本発明で使用する支持体は、特に制限されないが、自己支持性を有するフィルムであり、金属箔、プラスチックフィルムが好適に用いられる。金属箔としては、例えば、銅箔、アルミニウム箔等が挙げられる。プラスチックフィルムとしては、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレート、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、ポリテトラフルオロエチレン、ポリカーボネート等が挙げられ、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルムが好ましく、安価であることからポリエチレンテレフタレートフィルムがより好ましい。またプラスチックフィルムは、硬化後の剥離性を向上させる目的で、マット処理、コロナ処理等の表面処理を施した離型プラスチックフィルムが好ましい。また、巻き取りを考慮して、支持体の両面に表面処理を施してもよい。プリプレグと接する側の支持体表面は、プリプレグの膜厚均一性向上という観点から、表面粗さ(Ra値)は50nm以下が好ましく、40nm以下がより好ましく、35nm以下が更に好ましく、30nm以下が更に一層好ましく、25nm以下が殊更好ましい。表面粗さ(Ra値)の下限値は特に限定されるものではないが、支持体の実用性の観点から、0.1nm以上が好ましく、0.5nm以上がより好ましい。表面粗さ(Ra値)の測定は、公知の方法を用いることができ、例えば、非接触型表面粗さ計(例えば、ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300等)などの装置を用いて測定することができる。支持体は市販の支持体を用いてもよく、例えば、T60(東レ(株)製、ポリエチレンテレフタレートフィルム)、A4100(東洋紡(株)製、ポリエチレンテレフタレートフィルム)、Q83(帝人デュポンフィルム(株)製、ポリエチレンナフタレートフィルム)、リンテック(株)製のアルキッド型離型剤(AL−5)付きポリエチレンテレフタレートフィルム、ダイアホイルB100(三菱化学ポリエステルフィルム(株)製、ポリエチレンテレフタレートフィルム)、JTC箔(JX日鉱日石金属(株)製(厚さ18μm))、MT18Ex(三井金属鉱業(株)製)、などが挙げられる。支持体の厚みは、支持体の取り扱い性向上や支持体の剥離性向上という点から、10μm以上が好ましく、15μm以上がより好ましい。また、コストパフォーマンスの観点から、70μm以下が好ましく、50μm以下がより好ましい。
本発明で使用する支持体付きプリプレグは、プリプレグ表面に支持体を貼り合わせたものである。したがって一実施形態において、支持体付きプリプレグは、支持体と、該支持体と接合するプリプレグとを含む。該支持体付きプリプレグにおいて、支持体とプリプレグとの間に極薄樹脂層を介しても良い。したがって他の実施形態において、支持体付きプリプレグは、支持体と、該支持体と接合する極薄樹脂層と、該極薄樹脂層と接合するプリプレグとを含む。ここで、極薄樹脂層とは、厚みが1〜10μmの、シート状繊維基材を含有しない樹脂層(絶縁層)のことを示す。支持体付きプリプレグの製造方法は、特に制限されないが、ホットメルト法やソルベント法が挙げられ、以下の方法(i)〜(iv)が好適である。
(ii):ダイコーター等により硬化性樹脂組成物をシート状繊維基材上に直接塗工してプリプレグを形成し、その後支持体上にプリプレグをラミネートする方法
(iii):硬化性樹脂組成物を有機溶剤に溶解した樹脂ワニスを調製し、シート状繊維基材を樹脂ワニスに浸漬、含浸、乾燥させてプリプレグを形成し、その後支持体上にプリプレグをラミネートする方法
(iv):支持体上にダイコーター等を用いて樹脂ワニスを直接塗工して硬化性樹脂組成物層を形成し、該硬化性樹脂組成物層をシート状繊維基材の両面からラミネートする方法
上記の方法(i)〜(iv)からなる群より選択される1種以上の方法を用いて、支持体付きプリプレグを作製することが好適である。なお、プリプレグへのごみ等の付着を防止するために、プリプレグ表面に支持体を貼り合わせ、プリプレグの他方の面に保護フィルムを貼りあわせてもよい。保護フィルムは、支持体と同様の物を用いることができる。なお、支持体付きプリプレグが極薄樹脂層を有する場合は、予め支持体上に極薄樹脂層を形成しておくことで、上述した方法と同様にして支持体付きプリプレグを形成することができる。
(A)工程では、支持体付きプリプレグを内層回路基板に加熱及び加圧して真空積層する。ここで、支持体付きプリプレグに保護フィルムが張り合わせてある場合は、保護フィルムを剥離した後に、支持体付きプリプレグのプリプレグ面を内層回路基板に向かい合わせ、真空ラミネーターを用いて加熱及び加圧して支持体付きプリプレグを内層回路基板に真空積層する。また、生産性向上の点から、(A)工程では、ロール状に巻き取られた支持体付きプリプレグを、保護フィルムが張り合わせてある場合は保護フィルムを剥離し、順次連続的に真空ラミネーターに供給し、支持体付きプリプレグのプリプレグ面を内層回路基板に向かい合わせ、真空ラミネーターを用いて加熱及び加圧して支持体付きプリプレグを真空積層することが好ましい。ここで内層回路基板とは、片面又は両面に配線パターンが形成された導体層を有する基板をいい、多層プリント配線板を製造する際に、当該基板上にさらに絶縁層および導体層が形成されるべき中間製造物を言う。内層回路基板に用いられる基板としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられる。内層回路基板の厚みは、十分な剛性を有しつつ薄層化された多層プリント配線板を達成すると言う観点から、0.05〜0.9mmが好ましく、0.05〜0.7mmがより好ましく、0.1〜0.5mmが更に好ましく、0.15〜0.3mmが殊更好ましい。
なお、上記所定の真空度への到達時間(以下、「真空到達時間」という。)は、絶縁層中のボイド発生を抑制する観点から、15秒間以下であり、好ましくは14秒間以下、より好ましくは12秒間以下、更に好ましくは10秒間以下、更により好ましくは8秒間以下、特に好ましくは6秒間以下である。真空到達時間は、真空ラミネーターにおいて、真空チャンバーを閉じて真空度が低下し始める時点から所定の真空度に到達する時点までの経過時間をいう。
詳細には、上述の特定の構成を有するプリプレグを備えた支持体付きプリプレグを、積層時の真空度が0.001〜0.40kPa、真空到達時間が15秒間以下、積層時の加圧が1〜16kgf/cm2、積層時の加熱温度が60〜160℃、積層時の時間が10〜300秒間である特定の真空積層方法により内層回路基板に積層することにより、ボイドを抑制し、ガラス転移温度が高く線熱膨張係数が低い、均一な膜厚を有する絶縁層を内層回路基板上に形成することができ、その結果、十分な剛性を有しつつ薄層化された多層プリント配線板を製造することができる。
(B)工程は、プリプレグを熱硬化して絶縁層を形成する工程である。(A)工程の後に(B)工程を行うことで、内層回路基板上に絶縁層を形成することができる。なかでも、加熱オーブンを用いてプリプレグを熱硬化して絶縁層を形成することにより、多層プリント配線板の絶縁層の耐熱性、ガラス転移温度を向上させることができる。さらに、プリプレグを加熱オーブン内で垂直状態に配置し、熱硬化して絶縁層を形成することにより、一度に多くの枚数を加熱オーブン内に投入することができ、(A)工程から(B)工程への連続的でスムーズな作業を可能とし、生産性向上に寄与する。加熱オーブンとして、例えば、クリーンオーブン(ヤマト科学(株)製「クリーンオーブンDE610」)等を用いることができる。
熱硬化時の温度は、硬化性樹脂組成物の熱分解を防ぐという観点から、250℃以下が好ましく、240℃以下がより好ましく、230℃以下が更に好ましく、220℃以下が更に一層好ましく、210℃以下が殊更好ましい。また、硬化性樹脂組成物の熱硬化を十分行うという観点から、150℃以上が好ましく、160℃以上がより好ましく、170度以上が更に好ましく、180℃以上が更に一層好ましく、190℃以上が殊更好ましい。
本発明の製造方法は、更に(C)支持体を剥離する工程((C)工程)を含んでもよい。これにより絶縁層表面を露出させ、他の工程に進むことができる。(C)工程は、(B)工程の前に行ってもよく、(B)工程の後に行っても良いが、絶縁層の平滑性向上という点から、(B)工程の後に行うことが好ましい。支持体がプラスチックフィルムの場合は、支持体の剥離は手動または自動剥離装置により機械的に除去することによって行うことができる。また、支持体が金属箔の場合は、エッチング液などにより金属箔を溶解して、支持体を剥離、除去することができる。
本発明の製造方法は、更に(D)ビアホールを形成する工程((D)工程)を含んでもよい。これにより、絶縁層の層間の導通を行うことができる。(D)工程は、目的が達成される限り特に制限はなく、公知の方法によりビアホールの形成を行うことができる。例えば、機械ドリル、あるいは炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーを用いることができる。また、(D)工程は、(B)工程の後に行うのが好ましい。また、(D)工程は、(C)工程の前に行ってもよく、(C)工程の後に行っても良いが、(C)工程の前に行うことが好ましい。こうすることで、ビア形状を良好に保つことができる。
本発明の製造方法は、更に(E)デスミア工程((E)工程)を含んでもよい。これにより、絶縁層表面を粗化処理し、メッキ密着性を向上させ得ると共に、ビアホール内の樹脂残渣を除去することができる。(E)工程はプラズマ処理等のドライ法、酸化剤処理等のウエット法など公知の方法を用いることができるが、酸化剤処理が好ましい。(E)工程において酸化剤処理を行う場合は、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、中和液による中和処理をこの順に行うのが好ましい。膨潤液としては特に制限はないが、例えば、アルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液である。該アルカリ溶液としては、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液が好ましい。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP(Swelling Dip Securiganth P)、スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU(Swelling Dip Securiganth SBU)等を挙げることができる。膨潤液による膨潤処理は、特に制限はないが、作業性向上、樹脂が膨潤されすぎないようにする点から、絶縁層表面に50〜80℃の膨潤液を1〜15分間付すことで行うのが好ましい。酸化剤としては特に制限はないが、例えば、水酸化ナトリウム水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液を挙げることができる。アルカリ性過マンガン酸溶液等の酸化剤による粗化処理は、絶縁層表面を60〜80℃に加熱した酸化剤溶液に10〜30分間付すことで行うのが好ましい。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5〜10質量%とするのが好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のコンセントレート・コンパクト CP、ドージングソリューション セキュリガンスP等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。また、中和液としては特に制限はないが、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、アトテックジャパン(株)製のリダクションショリューシン・セキュリガントP(中和液)が挙げられる。中和液による処理は、酸化剤溶液による粗化処理がなされた処理面に30〜60℃の中和液を5〜20分間付す方法を用いることができる。(E)工程は、(C)工程及び(D)工程の後に行うことが好ましい。こうすることで、絶縁層表面やビア壁面の粗化処理を行うこができ、ビア内の樹脂残渣を除去することが可能となる。
本発明の製造方法は、更に(F)メッキにより導体層を形成する工程((F)工程)含んでもよい。(F)工程は、公知の方法により行うことができる。例えば、無電解メッキと電解メッキとを組み合わせて導体層を形成することができる。あるいはまた、導体層とは逆パターンのメッキレジストを形成し、無電解メッキのみで導体層を形成することもできる。その後のパターン形成の方法として、例えば、当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディティブ法などを用いることができる。導体層に用いる導体としては、例えば、銅、ニッケル、金、パラジウム等が挙げられるが、銅が特に好ましい。
本発明の半導体装置の製造方法を説明する。本発明の多層プリント配線板上の接続用電極部分に半導体素子を接合することにより、半導体装置を製造する。半導体素子の搭載方法は、特に限定されないが、例えば、ワイヤボンディング実装、フリップチップ実装、異方性導電フィルム(ACF)による実装、非導電性フィルム(NCF)による実装などが挙げられる。本発明の多層プリント配線板は、ビルドアップ層がプリプレグで構成され、剛性の高い多層プリント配線板となっており、半導体チップの実装性が高く、半導体装置に好適に用いることができる。
実施例及び比較例において作製したプリプレグを、500mmx500mmの大きさに裁断機で裁断した。該プリプレグよりも大きな面積を有する銅箔(三井金属鉱業(株)製 MT18Ex)2枚の間にプリプレグを配し、(株)ニチゴー・モートン製ラミネーター(2ステージビルドアップラミネーター CVP7200)を用いて、各実施例及び比較例の真空ラミネート又は真空プレスと同様の条件にて積層し、同様の条件でプリプレグを熱硬化した。その後、銅箔を塩化鉄(II)水溶液(鶴見曹達(株)製、ボーメ度40)中に浸漬して銅箔を除去し、硬化物サンプルを得た。その硬化物サンプルを、幅約5mm、長さ約15mmの試験片に切断し、熱機械分析装置Thermo Plus TMA8310((株)リガク製)を使用して、引張加重法で熱機械分析を行った。サンプルを前記装置に装着後、荷重1g、昇温速度5℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。2回目の測定における25℃から150℃までの温度範囲における平均の線熱膨張係数(ppm)を算出した。線熱膨張係数の値が、8ppm未満の場合を「◎」、8ppm以上12ppm未満を「○」、12ppm以上15ppm未満を「△」、15ppm以上を「×」と評価した。
上記の硬化物サンプルを、幅5mm、長さ15mmの試験片に切断し、動的粘弾性測定装置(SIIナノテクノロジー(株)製 EXSTAR6000)を使用して引張加重法で熱機械分析を行った。サンプルを前記装置に装着後、荷重200mN、昇温速度2℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。2回目の測定における寸法変化シグナルの傾きが変化する点からガラス転移温度(℃)を算出した。ガラス転移温度の値が、185℃以上を「○」、185℃未満を「×」と評価した。
実施例及び比較例において作製した多層プリント配線板から、支持体を剥離(除去)した。その後、絶縁層表面を200mmx200mmの試験片に切断し、光干渉型表面粗度・表面形状測定装置(日本Veeco(株)製 Wyko NT9300)用いて表面状態を観察し、アンジュレーションが3μm未満の場合を「◎○」、3μm以上5μm未満の場合を「◎」、5μm以上7μm未満の場合を「○」、7μm以上9μm未満の場合を「△」、9μm以上の場合を「×」と評価した。
実施例及び比較例において作製した多層プリント配線板から、支持体を剥離(除去)した。その後、絶縁層表面を200mmx200mmの試験片に切断し、マイクロスコープ(KEYENCE(株)製 マイクロスコープVH−5500)を用いて表面状態を観察し、試験片のうちボイドが0個の場合は「◎」、1〜3個の場合は「○」、4〜6個の場合は「△」、7個以上あれば「×」と評価した。
(1)支持体付きプリプレグの作製
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量180、三菱化学(株)製「エピコート828EL」)20部と、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(エポキシ当量163、DIC(株)製「HP4710」)25部、フェノキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製「YL7553BH30」)5部とをMEK15部、シクロヘキサノン15部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂(水酸基当量125、DIC(株)製「LA7054」、窒素含有量約12重量%)の固形分60重量%のMEK溶液15部、ナフトール系硬化剤(水酸基当量215、東都化成(株)製「SN−485」)の固形分60重量%のMEK溶液15部、ナフトール系硬化剤(水酸基当量153、DIC(株)製「EXB―9500」)の固形分50重量%のMEK溶液5部、反応型難燃剤(水酸基当量162、(株)三光製「HCA−HQ」、リン含有量9.5%)10部、球形シリカ(平均粒径0.5μm、(株)アドマテックス製「SOC2」、アミノシラン処理付き)250部、ポリビニルブチラール樹脂(積水化学工業(株)製「KS−1」)の固形分15重量%のエタノールとトルエンの1:1溶液5部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。該ワニスを、(株)有沢製作所製1067ガラスクロス(厚み33μm)に含浸し、縦型乾燥炉にて130℃で5分間乾燥させプリプレグを作製した。プリプレグの残留溶剤量はガラスクロスを含まない硬化性樹脂組成物中0.1〜2質量%、プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は42質量%、プリプレグの厚みは48μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.69、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.8であった。その後、厚み38μmのPETフィルム(リンテック(株)製AL5)の離型面と、厚さ15μmのポリプロピレンフィルムとの間にプリプレグを配置し、(株)ニチゴー・モートン製ラミネーター(2ステージビルドアップラミネーター CVP7200)を用いて、貼り合わせながらロール状に巻き取り、ロール状に巻き取られた支持体付きプリプレグを作製した。
ガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板[銅箔の厚さ18μm、基板厚み0.2mm、松下電工(株)製R1515A]の両面にエッチングにより配線パターンを形成し、さらにマイクロエッチング剤(メック(株)製CZ8100)で粗化処理を行い、内層回路基板を作製した。
支持体付きプリプレグを、保護フィルムを剥離し、順次連続的に(株)ニチゴー・モートン製ラミネーター(2ステージビルドアップラミネーター CVP7200)に供給し、上記(2)で作製した内層回路基板の両面に、ラミネートした。積層時の真空度0.05kPa、真空到達時間5秒間、加圧7kgf/cm2、温度120℃のラミネート条件で30秒間ラミネートして積層した。真空引き時間は0.5分間であった。
該基板を耐熱治具によって四辺から5mm幅の全ての部分を固定し、次いで、該基板を垂直状態で加熱オーブン内へ投入し、大気圧、210℃で90分間熱硬化することで多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55質量%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は65質量%、プリプレグの厚みは55μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.6、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は0.7となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は75質量%、プリプレグの厚みは63μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.52、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は0.4となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55質量%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、積層時の加圧を3kgf/cm2に変更した以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55質量%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、積層時の加圧を15kgf/cm2に変更した以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55質量%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、積層時の真空度を0.03kPaに変更した以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた点、およびガラスクロスとして信越石英(株)製、IPC規格で1035タイプの石英ガラスクロス(厚み32μm、Qガラス繊維)を使用した点以外は、実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55質量%、プリプレグの厚みは45μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.71、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた点、および支持体として銅箔((株)三井金属鉱業製 MT18Ex)を使用した点以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55質量%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量180、三菱化学(株)製「エピコート828EL」)20部と、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(エポキシ当量163、DIC(株)製「HP4710」)25部を、MEK15部、シクロヘキサノン15部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂(水酸基当量125、DIC(株)製「LA7054」、窒素含有量約12重量%)の固形分60重量%のMEK溶液15部、ナフトール系硬化剤(水酸基当量215、東都化成(株)製「SN−485」)の固形分60重量%のMEK溶液15部、ナフトール系硬化剤(水酸基当量153、DIC(株)製「EXB―9500」)の固形分50重量%のMEK溶液5部、球形シリカ(平均粒径0.05μm、(株)アドマテックス製「YA050C−MJA」)の固形分60重量%MEKスラリー溶液250部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。該ワニスを、(株)有沢製作所製1067ガラスクロス(厚み33μm)に含浸し、縦型乾燥炉にて130℃で5分間乾燥させプリプレグ前駆体を作製した。プリプレグ前駆体の厚みは41μmであった。該プリプレグ前駆体をさらに実施例1の樹脂ワニスに含浸し、縦置き乾燥炉にて130℃で5分間乾燥させ、プリプレグを作製した。最終的なプリプレグの残留溶剤量はガラスクロスを含まない硬化性樹脂組成物中0.1〜2質量%、プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有比率は55質量%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.0であった。その後、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量180、三菱化学(株)製「エピコート828EL」)20部と、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(エポキシ当量163、DIC(株)製「HP4710」)20部と、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂(エポキシ当量248、DIC(株)製「HP6000」)10部を、MEK15部、シクロヘキサノン15部に撹拌しながら加熱溶解させた。そこへ、トリアジン骨格含有フェノールノボラック樹脂(水酸基当量125、DIC(株)製「LA7054」、窒素含有量約12重量%)の固形分60重量%のMEK溶液15部、ナフトール系硬化剤(水酸基当量215、東都化成(株)製「SN−485」)の固形分60重量%のMEK溶液15部、ナフチレンエーテル型硬化剤(水酸基当量155、DIC(株)製「EXB―6000」)の固形分50重量%のMEK溶液5部、球形シリカ(平均粒径0.05μm、(株)アドマテックス製「YA050C−MJA」)の固形分60重量%MEKスラリー溶液250部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。該ワニスを、(株)有沢製作所製1067ガラスクロス(厚み33μm)に含浸し、縦型乾燥炉にて130℃で5分間乾燥させプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55質量%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた点、およびガラスクロスとして有沢製作所製1015ガラスクロス(厚み15μm)を使用した点以外は、実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は81質量%、プリプレグの厚みは50μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.30、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は0.3となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。そして、真空到達時間を10秒間とした以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。すなわち、積層時の真空度0.05kPa、真空到達時間10秒間、加圧7kgf/cm2、温度120℃のラミネート条件で30秒間ラミネートした。真空引き時間は0.75分間とした。
実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。そして、真空到達時間を15秒間とした以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。すなわち、積層時の真空度0.05kPa、真空到達時間15秒間、加圧7kgf/cm2、温度120℃のラミネート条件で30秒間ラミネートした。真空引き時間は0.75分間とした。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は65wt%、プリプレグの厚みは55μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.6、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は0.7となった。そして、積層時の真空度を101.3kPaに変更した以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は65wt%、プリプレグの厚みは55μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.6、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は0.7となった。そして、積層時の加圧を25kgf/cm2に変更した以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた点、およびガラスクロスとして有沢製作所製1015ガラスクロス(厚み15μm)を使用した点以外は、実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は90質量%、プリプレグの厚みは70μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.21、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は28wt%、プリプレグの厚みは37μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.89、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は3.4となった。そして、実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は55wt%、プリプレグの厚みは52μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.63、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、積層時の真空度を0.6kPaに変更した以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。
(1)支持体付きプリプレグの作製
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた以外は実施例1と同様にして、プリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は65wt%、プリプレグの厚みは55μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.6、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は0.7となった。その後、銅箔((株)三井金属鉱業製 MT18Ex)の光沢面と、厚さ15μmのポリプロピレンフィルムとの間にプリプレグを配置し、(株)ニチゴー・モートン製ラミネーター(2ステージビルドアップラミネーター CVP7200)を用いて、貼り合わせながらロール状に巻き取り、ロール状に巻き取られた支持体付きプリプレグを作製した。
(2)内層回路基板の作製
実施例1と同様にして内層回路基板を作製した。
(3)支持体付きプリプレグのプレス及び硬化性樹脂組成物の硬化
支持体付きプリプレグを、保護フィルムを剥離した後、上記(2)で作製した内層回路基板の両面に、真空プレス機((株)名機製作所製 MNPC−V−750−750−5−200)を用いて、プレス時の真空度を1kPa、加圧が10kgf/cm2、昇温速度3℃/分で25℃から30分間昇温し115℃とした後、加圧を30kgf/cm2とし、115℃から昇温速度3℃/分で230℃まで昇温させて90分間保持することで、多層プリント配線板を作製した。
ガラスクロスへの樹脂ワニスの含浸量を変化させた点、およびガラスクロスとして有沢製作所製1015ガラスクロス(厚み15μm)を使用した点以外は、実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率は90質量%、プリプレグの厚みは70μm、プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みは0.21、プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率は1.1となった。そして、比較例6と同様にして多層プリント配線板を作製した。
実施例1と同様にして、支持体付きプリプレグを作製した。そして、真空到達時間を20秒間とした以外は実施例1と同様にして多層プリント配線板を作製した。すなわち、積層時の真空度0.05kPa、真空到達時間20秒間、加圧7kgf/cm2、温度120℃のラミネート条件で30秒間ラミネートした。真空引き時間は0.75分間とした。
Claims (21)
- (A)支持体付きプリプレグを内層回路基板に加熱及び加圧して真空積層する工程、
(B)プリプレグを熱硬化して絶縁層を形成する工程、
を含有することを特徴とする多層プリント配線板の製造方法であって、
前記プリプレグが硬化性樹脂組成物とシート状繊維基材とを含有し、厚みが70μm以下であり、
前記プリプレグ中の硬化性樹脂組成物含有率が30質量%以上85質量%以下であり、
前記硬化性樹脂組成物が無機充填材を含有し、
前記(A)工程において、積層時の真空度が0.001〜0.40kPa、真空到達時間が15秒間以下、積層時の加圧が1〜16kgf/cm2、積層時の加熱温度が60〜160℃、積層時の時間が10〜300秒間であることを特徴とする多層プリント配線板の製造方法。 - 前記プリプレグの厚みを1とした場合のシート状繊維基材の厚みが0.25〜0.88であることを特徴とする請求項1に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記プリプレグ中のシート状繊維基材と無機充填材との含有比率(シート状繊維基材の質量/無機充填材の質量)が0.2〜2.5であることを特徴とする請求項1又は2に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記シート状繊維基材がガラスクロス、ガラス不織布、有機織布及び有機不織布からなる群より選択される1種以上を含有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記シート状繊維基材がEガラス繊維、Sガラス繊維及びQガラス繊維からなる群より選択される1種以上を含有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記無機充填材の平均粒径が0.01〜2μmであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記無機充填材の平均粒径が0.01〜0.4μmであることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記無機充填材の含有量が、硬化性樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、40〜85質量%であることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記無機充填材の含有量が、硬化性樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、60〜85質量%であることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記(A)工程において、
ロール状に巻き取られた支持体付きプリプレグを、保護フィルムが張り合わせてある場合は保護フィルムを剥離し、順次連続的に真空ラミネーターに供給し、支持体付きプリプレグのプリプレグ面を内層回路基板に向かい合わせ、真空ラミネーターを用いて加熱及び加圧して支持体付きプリプレグを内層回路基板に真空積層することを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 - 前記(B)工程において、
熱硬化時の温度が150〜250℃、熱硬化時の時間が30〜300分間であることを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 - 前記(B)工程において、
加熱オーブンを用いてプリプレグを熱硬化して絶縁層を形成することを特徴とする、請求項1〜11のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 - 前記(B)工程において、
プリプレグを加熱オーブン内で垂直状態に配置し、熱硬化して絶縁層を形成することを特徴とする請求項1〜12のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 - 前記(B)工程において、
多層プリント配線板を耐熱治具で固定してプリプレグを熱硬化し、硬化後に治具の内側の多層プリント配線板を切り出すことを特徴とする請求項1〜13のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。 - 前記絶縁層の線熱膨張係数が15ppm以下であることを特徴とする請求項1〜14のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 前記絶縁層のガラス転移温度が181℃以上であることを特徴とする請求項1〜15のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 更に(C)支持体を剥離する工程を含むことを特徴とする請求項1〜16のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 更に(D)ビアホールを形成する工程を含むことを特徴とする請求項1〜17のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 更に(E)デスミア工程を含むことを特徴とする請求項1〜18のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 更に(F)メッキにより導体層を形成する工程を含むことを特徴とする請求項1〜19のいずれか1項に記載の多層プリント配線板の製造方法。
- 請求項1〜20のいずれか1項に記載の製造方法で得られた多層プリント配線板を含有することを特徴とする半導体装置。
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