JP6265125B2 - ナノインプリント用モールドの製造方法、および反射防止物品の製造方法 - Google Patents

ナノインプリント用モールドの製造方法、および反射防止物品の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、複数の細孔からなる微細凹凸構造を表面に有するナノインプリント用モールドの製造方法、および反射防止物品に関する。
本願は、2013年8月14日に、日本に出願された特願2013−168539号、に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
近年、可視光の波長以下の周期の微細凹凸構造を表面に有するフィルムなどの物品は、反射防止効果、ロータス効果等を発現することが知られている。特に、モスアイ構造と呼ばれる凹凸構造は、空気の屈折率から物品の材料の屈折率へと連続的に屈折率が増大していくことで有効な反射防止の手段となることが知られている。
物品の表面に微細凹凸構造を形成する方法としては、該微細凹凸構造の反転構造が表面に形成されたモールド(金型)を用い、該モールドと物品本体(基材)との間に硬化性樹脂組成物を供給して硬化させ、モールドの微細凹凸構造を物品本体の表面に転写する方法(ナノインプリント法)が注目されている。
ナノインプリント用のモールドを製造する方法としては、アルミニウム基材を電解液にて陽極酸化して細孔を有する酸化皮膜を形成する工程と、エッチングにより酸化皮膜の細孔を拡大させる工程とを交互に繰り返し、アルミニウム基材の表面に複数の細孔(凹部)を有する陽極酸化アルミナを形成する方法が知られている。
ところで、アルミニウム基材は、切削加工などの機械加工により表面が鏡面化されている場合がある。
しかし、機械加工されたアルミニウム基材を陽極酸化すると、細孔が不均一に分布した酸化皮膜が形成されやすい。細孔が不均一に分布した状態のモールドを用いて微細凹凸構造を物品本体の表面に転写した場合、ヘイズが上昇しやすく、結果、反射率も高くなる。
細孔が不均一に分布した酸化皮膜が形成される原因は、機械加工によりアルミニウム基材の表面に加工変質層が形成しているためと考えられる。
機械加工されたアルミニウム基材を陽極酸化しても細孔が均一に分布したモールドを製造する方法として、例えば特許文献1には、陽極酸化の工程の前に、アルミニウム基材を陰極電解、電解研磨、またはエッチングする方法が開示されている。特許文献1に記載の方法では、陰極電解、電解研磨、またはエッチングにより、加工変質層上に微細な凹凸構造を形成させ、この凹部を利用して陽極酸化により均一な細孔が分布した酸化皮膜を形成する。また、特許文献1では、陰極電解、電解研磨、またはエッチングにより加工変質層を除去した後に、酸化皮膜を形成することもできるとしている。
国際公開第2010/128662号
ところで、アルミニウム基材の純度や機械加工の条件によって、加工変質層の厚さや状態などは変わりやすい。そのため、加工変質層上に微細な凹凸構造を形成させた後に陽極酸化する方法の場合、アルミニウム基材に応じて、陰極電解、電解研磨、エッチングの条件を最適なものに、その都度変更する必要があった。
また、細孔が均一に分布した酸化皮膜を加工変質層上に形成するためには、加工変質層上の微細な凹凸構造の凹部も均一に分布している必要がある。しかし、陰極電解、電解研磨、エッチングにより、凹部が均一に分布した微細な凹凸構造を形成するには限界がある。
しかも、加工変質層上に形成された微細な凹凸構造が陽極酸化後も残ってしまう場合があり、これが転写物にも反映され、ヘイズが上昇するなどの透明性に影響を及ぼすことがあった。
また、陰極電解、電解研磨、エッチングにより加工変質層を除去する方法の場合も、除去後の表面には微細な凹凸構造が形成されていると考えられる。そのため、上述したように、この微細な凹凸構造が陽極酸化後も残ってしまう場合がある。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、細孔が均一に分布した酸化皮膜を形成でき、ヘイズが低い物品を得ることができるナノインプリント用モールドを容易に製造する方法、および反射防止物品を提供する。
本発明は、以下の特徴を有する。
<1> 表面が機械加工されたロール状のアルミニウム基材の表面に微細凹凸構造が形成されたナノインプリント用モールドを製造する方法であって、表面が機械加工されたロール状のアルミニウム基材の該表面を少なくとも平均結晶粒径が変化するまで機械研磨する研磨工程と、前記研磨工程の後にアルミニウム基材を陽極酸化し微細凹凸構造を形成する微細凹凸構造形成工程と、を有する、ナノインプリント用モールドの製造方法。
<2> 前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を前記平均結晶粒径が1μm以上になるまで機械研磨する、<1>に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<3> 前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を前記平均結晶粒径が5μm以上になるまで機械研磨する、<2>に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<4> 前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を厚さ1μm以上除去する、<1>〜<3>のいずれか1つに記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<5> 前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を厚さ3μm以上除去する、<4>に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<6> 前記研磨工程と同時、または研磨工程と微細凹凸構造形成工程との間に、前記ロール状のアルミニウム基材の表面を仕上げる表面仕上げ工程をさらに有する、<1>〜<5>のいずれか1つに記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<7> 前記研磨工程において化学機械研磨を行う、<1>〜<6>のいずれか1つに記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<8> 前記アルミニウム基材の少なくとも表面の純度が99%以上である、<1>〜<7>のいずれか1つに記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<9> 前記微細凹凸構造形成工程において、前記アルミニウム基材を陽極酸化し細孔を形成する陽極酸化工程と、前記細孔の少なくとも一部を溶解し細孔を拡径する細孔径拡大処理工程とを繰り返し行う、<1>〜<8>のいずれか1つに記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<10> 前記陽極酸化の処理時間が5分未満である、<9>に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<11> 前記陽極酸化工程と細孔径拡大処理工程との繰り返し回数が合計で15回以下である、<9>または<10>に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
<12> 表面に微細凹凸構造を有する反射防止物品であって、可視光の波長領域において、下記式(1)より求められる、L表色系で示される原点との色差(E)が0.9以下である、反射防止物品。
={(L+(a+(b1/2 ・・・(1)
<13> 表面に微細凹凸構造を有する反射防止物品であって、可視光の波長領域において、L表色系により測定されるaおよびbの値から、下記式(2)より求められる彩度(C)が0.7以下である、反射防止物品。
={(a+(b1/2 ・・・(2)
<14> 可視光の波長領域内において、入射光に対する反射率の最大値と最小値の差(Δλ)が0.2%以下である、<12>または<13>に記載の反射防止物品。
<15> 前記微細凹凸構造は、平均周期が400nm以下の複数の突起からなる、<12>〜<14>のいずれか1つに記載の反射防止物品。
本発明のナノインプリント用モールドの製造方法によれば、細孔が均一に分布した酸化皮膜を形成でき、ヘイズが低い物品を得ることができるナノインプリント用モールドを容易に製造できる。
また、本発明の反射防止物品は、ヘイズが低い。
本発明に用いる研磨装置の一例を示す斜視図である。 陽極酸化アルミナを表面に有するモールドの製造工程を示す断面図である。 表面に微細凹凸構造を有する物品の製造装置の一例を示す構成図である。 表面に微細凹凸構造を有する物品の一例を示す断面図である。
本明細書において、「細孔」とは、アルミニウム基材の表面の酸化皮膜に形成された微細凹凸構造の凹部のことをいう。
また、「微細凹凸構造」は、隣接する凸部間または凹部間の平均間隔(周期)がナノスケールである構造を意味する。
また、「可視光」とは、波長が400nm以上780nm以下の波長の光のことを意味する。
また、「可視光の波長以下」とは、上記の範囲の波長の光のうち、最も短い使用波長よりも小さいことを意味する。すなわち、「可視光の波長以下」の周期の微細凹凸構造を有する物品を可視光線の反射防止の用途に用いる場合、使用波長は400〜780nmとなる。したがって、この場合の微細凹凸構造の周期は使用波長の最短波長となる400nm以下となる。また、「可視光の波長以下」の周期の微細凹凸構造を有する物品をブルーライトの反射防止の用途に用いる場合、使用波長は460nmとなる。したがって、この場合の微細凹凸構造の周期は460nm以下となる。
「ナノインプリント用モールドの製造方法」
本発明のナノインプリント用モールド(以下、単に「モールド」ともいう。)の製造方法は、表面が機械加工されたロール状のアルミニウム基材を陽極酸化して、表面に微細凹凸構造が形成されたモールドを製造する方法である。得られたモールドを用いて製造した物品を反射防止の用途に用いる場合、前記微細凹凸構造は、可視光の波長以下の周期の微細凹凸構造が好ましい。
本発明のモールドの製造方法は、以下に説明する研磨工程と、微細凹凸構造形成工程とを有する。また、モールドの製造方法は、研磨工程と同時、または研磨工程と微細凹凸構造形成工程との間に表面仕上げ工程とを有することが好ましい。
以下に、本発明のモールドの製造方法の一実施形態例について、詳しく説明する。
<研磨工程>
研磨工程は、表面が機械加工されたロール状のアルミニウム基材の表面(以下、「加工表面」ともいう。)を、少なくとも平均結晶粒径が変化するまで機械研磨する工程である。
アルミニウム基材の表面を機械加工すると、その表面に加工変質層が形成されることが知られている。加工変質層は、機械加工時の局所的な摩擦熱により表面が溶融した後、冷却されることで再結晶することなどにより、形成されるものと考えられている。
ここで、「機械加工」とは、研削や切削などによりアルミニウム基材の表面を鏡面化することを意味する。
機械加工されるアルミニウム基材は、少なくとも表面(具体的には、厚さ100μmの部分)の純度が99%以上であることが好ましく、より好ましくは99.5%であり、特に好ましは99.9%以上である。アルミニウムの純度が高くなるほど、陽極酸化した時に、不純物の偏析による可視光を散乱する大きさの凹凸構造の形成を抑制できるようになる。加えて、陽極酸化で得られる細孔の規則性が向上する傾向にもある。
加工変質層は、通常、結晶粒の大きさが異なる複数の層で構成されている。各層の結晶粒の大きさは、層がアルミニウム基材の加工表面に近いほど小さくなる傾向にある。
本発明では、加工変質層のうち、結晶粒の平均結晶粒径が1μm未満である層を第一の加工変質層とし、結晶粒の平均結晶粒径が1μm以上30μm未満である層を第二の加工変質層とし、結晶粒の平均結晶粒径が30μm以上50μm未満である層を第三の加工変質層とする。第一の加工変質層は加工変質層の最表層に位置する層であり、上から順に第一の加工変質層、第二の加工変質層、第三の加工変質層が重層した加工変質層が、アルミニウム基材の加工表面に形成されているものとする。
加工変質層の厚さは、アルミニウム基材の純度や機械加工の条件によって変化するので一概には決められないが、一般的には数百μm程度とされている。すなわち、アルミニウム基材の加工表面から、第三の加工変質層と加工変質していない部分の界面までの距離が数百μm程度である。また、アルミニウム基材の加工表面から、第一の加工変質層と第二の加工変質層の界面までの距離は、1〜5μm程度であり、アルミニウム基材の加工表面から、第二の加工変質層と第三の加工変質層の界面までの距離は、5〜10μm程度である。
研磨工程では、表面が機械加工されたロール状のアルミニウム基材の表面を、少なくとも平均結晶粒径が変化するまで機械研磨する。
ここで、「平均結晶粒径が変化するまで機械研磨する」とは、アルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径が1μm未満から1μm以上、好ましくは5μm以上に変化するまで、アルミニウム基材の加工表面を機械研磨することである。すなわち、研磨工程では、少なくとも第一の加工変質層を除去するまで機械研磨する。
平均結晶粒径は、アルミニウム基材の加工表面、または研磨工程後の表面における任意に選ばれた100個以上の結晶粒について算出された円換算直径の平均値である。表面の結晶粒の観察は光学顕微鏡などで行うことができ、円換算直径の平均値は、例えば株式会社日本ローパー製「Image−Pro PLUS」等の画像解析ソフトウエアを用いることで求められる。
上述したように、細孔が不均一に分布した酸化皮膜が形成される原因は、機械加工によりアルミニウム基材の表面に加工変質層が形成しているためと考えられる。特に、結晶粒の平均結晶粒径が1μm未満である第一の加工変質層上に酸化皮膜を形成すると、細孔が不均一に分布する。
本発明では、研磨工程において少なくとも第一の加工変質層が除去されるので、細孔が均一に分布した酸化皮膜を形成できる。
研磨工程では、第二の加工変質層や第三の加工変質層の領域まで除去してもよい。具体的には、アルミニウム基材の加工表面から研磨により除去される厚み(研磨厚み)は、1μm以上であることが好ましく、より好ましくは3μm以上であり、さらに好ましくは5μm以上であり、特に好ましくは7μm以上であり、最も好ましくは9μm以上である。特に、細孔がより均一に分布した酸化皮膜が形成されやすくなる点で、第二の加工変質層の全てを除去することが好ましい。すなわち、アルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径が1μm未満から30μm以上に変化するまで、アルミニウム基材の加工表面を機械研磨することが好ましい。
なお、第三の加工変質層についても、層の厚さが薄くなるほど細孔がより均一に分布した酸化皮膜が形成されやすくなる。よって、第三の加工変質層の全てを除去すること、すなわち、アルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径が1μm未満から50μm以上に変化するまで、アルミニウム基材の加工表面を機械研磨することが最も好ましい。しかし、アルミニウム基材の加工表面から、第三の加工変質層と加工変質していない部分の界面までの距離は数百μm程度であり、第三の加工変質層の全てを除去するのは時間や手間がかかる。第三の加工変質層は、第一の加工変質層や第二の加工変質層に比べて、酸化皮膜の細孔の分布に影響しにくい。従って、第三の加工変質層の全てを除去しなくても、細孔が均一に分布した酸化皮膜を形成できる。
研磨工程では、アルミニウム基材の加工表面を少なくとも機械研磨する。
ここで、「機械研磨」とは物理的に加工表面を研磨して鏡面化することである。本発明において、物理的な研磨には「テープ研磨」「化学機械研磨(CMP研磨)」も含まれる。特に、CMP研磨によってアルミニウム基材の加工表面を研磨することが好ましい。
機械研磨によりアルミニウム基材の加工表面を研磨する方法については特に制限されず、公知の方法を採用できる。また、公知の研磨装置を用いることもできる。
研磨工程は、機械研磨のみで行ってもよいし、他の処理方法を併用してもよい。
他の処理方法としては、例えば、エッチング、電解研磨、化学研磨などが挙げられる。
機械研磨と他の処理方法とを併用する場合、その順序については制限されないが、他の処理方法でアルミニウム基材の加工表面をある程度処理した後に、平均結晶粒径が変化するまで機械研磨するのが好ましい。他の処理方法の後で機械研磨を行えば、研磨工程後のアルミニウム基材の表面がより鏡面化した状態で得られる。
ただし、除去時間や作業性を考慮すると、研磨工程は機械研磨のみで行うことが好ましい。
以下、CMP研磨によりアルミニウム基材の加工表面を研磨する方法の一例について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明に用いる研磨装置の一例を示す斜視図である。
この例の研磨装置10は、中空ロール状のアルミニウム基材20の加工表面を研磨するものであり、シャフト12と、研磨手段14と、スラリー供給手段16と、洗浄手段18とを具備して概略構成されている。
アルミニウム基材20には、ロール状のシャフト12が軸方向をアルミニウム基材20の軸方向と同じにして、アルミニウム基材20を貫通して設けられている。
また、アルミニウム基材20は支持軸(図示略)上に支持されており、支持軸に接続されたモータ等の回転駆動部(図示略)によって支持軸が回転することで、アルミニウム基材20が回転できるようになっている。
研磨手段14は、研磨ロール14aと、帯状の研磨布紙14bとを備えている。
研磨ロール14aは、研磨布紙14bをアルミニウム基材20の外周面(加工表面)20aに圧接させて、アルミニウム基材20の外周面20aを研磨するものである。
研磨ロール14aは、モータ等の回転駆動部(図示略)に接続され、回転可能となっている。
研磨布紙14bは、研磨材を基材(布や紙など)に接着したものである。研磨布紙14bは、研磨面を外側にし、長手方向の両端を接合してベルト状にしたものが好ましい。
研磨布紙14bとしては、市販品を用いることができる。
研磨手段14は、アルミニウム基材20の長手方向に沿って移動可能となっている。
スラリー供給手段16は、アルミニウム基材20と研磨布紙14bとの間にスラリーを供給するものであり、スラリー供給配管16aと、ノズル16bとを備えている。
スラリー供給配管16aの一端はスラリーを貯留するタンク(図示略)等に接続され、他端はノズル16bに接続されている。
スラリー供給手段16は、研磨手段14の移動に同期して、アルミニウム基材20の長手方向に沿って移動可能となっている。
洗浄手段18は、研磨後のアルミニウム基材20の外周面20aを洗浄するものであり、洗浄液供給配管18aと、ノズル18bとを備えている。
洗浄液供給配管18aの一端は洗浄液を貯留するタンク(図示略)等に接続され、他端はノズル18bに接続されている。
洗浄手段18は、研磨手段14およびスラリー供給手段の移動に同期して、アルミニウム基材20の長手方向に沿って移動可能となっている。
研磨装置10を用いたアルミニウム基材20の研磨方法は以下の通りである。
まず、アルミニウム基材20にシャフト12が貫通した状態で、回転駆動部(図示略)を駆動させて、支持軸(図示略)を回転させてアルミニウム基材20を回転させる。
別途、研磨ロール14aにベルト状の研磨布紙14bを取り付けた状態で、回転駆動部(図示略)を駆動させて、研磨ロール14aをアルミニウム基材20の回転方向と同方向に回転させる。研磨ロール14aの回転に同期して、ベルト状の研磨布紙14bも回転する。
アルミニウム基材20および研磨ロール14aを回転させながら、研磨布紙14bをアルミニウム基材20の外周面20aに圧接する。そして、研磨布紙14bとアルミニウム基材20の外周面20aとの間にスラリー供給手段16からスラリーを供給し、アルミニウム基材20の外周面(加工表面)20aを研磨する。
研磨手段14およびスラリー供給手段16をアルミニウム基材20の長手方向に沿って移動させることで、研磨領域Aをアルミニウム基材20の長手方向に移動させ、アルミニウム基材20の外周面20aの全体を研磨する。
研磨手段14およびスラリー供給手段16の移動に同期して洗浄手段18も移動させ、研磨が終了した領域(研磨終了領域)Bに洗浄手段18から洗浄液を供給し、アルミニウム基材20の外周面20aに付着したスラリーを除去する。
スラリーを供給する際は、ノズル16bの開閉をタイマーと連動させることにより、間欠的にスラリーを供給してもよい。
また、アルミニウム基材20の長手方向の一端から他端まで研磨が終了した後、研磨手段14およびスラリー供給手段16を逆方向に移動させて(トラバースさせて)、アルミニウム基材20の他端から一端までさらに研磨を続けてもよい。また、研磨手段14およびスラリー供給手段16をアルミニウム基材20の一端まで戻してから、再度一端から他端まで研磨手段14およびスラリー供給手段16を移動させて研磨してもよい。
なお、洗浄手段18は、研磨手段14およびスラリー供給手段16の移動方向の下流に位置していればよく、図1に示す研磨装置10は1つの洗浄手段18を備えている。ただし、研磨手段14およびスラリー供給手段16をトラバースさせて研磨する場合は、スラリー供給手段16を介して反対側にも洗浄手段18を設置してもよい。
研磨に用いるスラリー(研磨スラリー)としては、アルミニウム基材の外周面に付いた傷を消し、外周面を鏡面化する等の各種の目的に応じて適宜選択すればよく、アルミニウム基材の表面を研磨する際に用いられる公知の研磨スラリーを用いることができる。
スラリーとしては、例えば、SiC、Al、SiO、ZrO等の研磨材を含むスラリー;アルミニウムを腐食させる効果を有する溶液に研磨材が分散したCMP研磨用のCMPスラリーなどが挙げられる。
洗浄液としては、水、アルコール、研磨スラリーを中和する酸性又はアルカリ性溶液などが挙げられる。
<表面仕上げ工程>
表面仕上げ工程は、ロール状のアルミニウム基材の表面を仕上げる工程である。
ここで、「表面を仕上げる」とは、アルミニウム基材の表面の算術平均粗さが15nm以下となるまで、鏡面化することである。
アルミニウム基材の表面を仕上げる方法としては、特にCMP研磨が好ましい。CMP研磨でアルミニウム基材の表面を仕上げる場合、研磨工程の説明において先に説明した研磨装置を用いることができる。ただし、表面仕上げ工程と研磨工程とでは、研磨布紙の研磨材やスラリー中の砥粒の平均粒子径が異なるものを用いることが好ましい。具体的には、表面仕上げ工程では、研磨布紙の研磨材やスラリー中の砥粒の平均粒子径が、研磨工程で用いる場合よりも小さいものを用いることが好ましい。
表面仕上げ工程は、上述した研磨工程と同時、または研磨工程と微細凹凸構造形成工程との間に行う。
研磨工程と表面仕上げ工程とを同時に行う場合は、アルミニウム基材の加工表面を平均結晶粒径が変るまで機械研磨しながら、その表面を仕上げる。例えば図1に示す研磨装置10を用いて研磨工程と表面仕上げ工程とを同時に行う場合は、最初から研磨布紙14bの研磨材やスラリー中の砥粒の平均粒子径が小さいもの用いる。ただし、平均粒子径が小さい研磨材や砥粒を用いると、研磨に時間がかかる。
短時間で研磨工程および表面仕上げ工程を完了するには、研磨工程と微細凹凸構造形成工程との間に表面仕上げ工程を行うのが好ましい。本発明では、研磨工程における機械研磨を「粗研磨」といい、研磨工程後の表面仕上げ工程における機械研磨を「仕上げ研磨」ともいう。
研磨工程と表面仕上げ工程の両方をCMP研磨で行う場合は、例えば図1に示す研磨装置10を用いて、アルミニウム基材20の外周面(加工表面)20aを平均結晶粒径が変るまで粗研磨する(研磨工程)。次いで、研磨布紙14bの研磨材およびスラリー中の砥粒の平均粒子径が小さいものに変更し、アルミニウム基材20の外周面20aを仕上げ研磨する(表面仕上げ工程)。
<微細凹凸構造形成工程>
微細凹凸構造形成工程は、上述した研磨工程または表面仕上げ工程後のアルミニウム基材を陽極酸化して、アルミニウム基材の表面に微細凹凸構造を形成する工程である。
微細凹凸構造形成工程では、アルミニウム基材を陽極酸化し細孔を形成する陽極酸化工程と、陽極酸化工程で形成された細孔の少なくとも一部を溶解し細孔を拡径する細孔径拡大処理工程とを繰り返し行う。例えば、微細凹凸構造形成工程は下記の工程(c)〜(f)を有することが好ましい。また、工程(c)に先立ち、下記の工程(a)および工程(b)を行ってもよい。
(a)アルミニウム基材を電解液中、定電圧下で陽極酸化してアルミニウム基材の表面に酸化皮膜を形成する工程。
(b)酸化皮膜の一部または全てを除去し、アルミニウム基材の表面に陽極酸化の細孔発生点を形成する工程。
(c)工程(b)の後、アルミニウム基材を電解液中、再度陽極酸化し、細孔発生点に細孔を有する酸化皮膜を形成する工程。
(d)工程(c)の後、細孔の径を拡大させる工程。
(e)工程(d)の後、電解液中、再度陽極酸化する工程。
(f)工程(d)と工程(e)を繰り返し行い、複数の細孔を有する陽極酸化アルミナがアルミニウム基材の表面に形成されたモールドを得る工程。
工程(a):
図2に示すように、研磨工程または表面仕上げ工程後のアルミニウム基材20を陽極酸化すると、細孔22を有する酸化皮膜24が形成される。
電解液としては、硫酸、シュウ酸、リン酸等が挙げられる。
シュウ酸を電解液として用いる場合:
シュウ酸の濃度は、0.7M以下が好ましい。シュウ酸の濃度が0.7Mを超えると、電流値が高くなりすぎて酸化皮膜の表面が粗くなることがある。
化成電圧が30〜60Vの時、周期が100nmの規則性の高い細孔を有する陽極酸化アルミナを得ることができる。化成電圧がこの範囲より高くても低くても規則性が低下する傾向にある。
電解液の温度は、60℃以下が好ましく、45℃以下がより好ましい。電解液の温度が60℃を超えると、いわゆる「ヤケ」といわれる現象がおこり、細孔が壊れたり、表面が溶けて細孔の規則性が乱れたりすることがある。
硫酸を電解液として用いる場合:
硫酸の濃度は0.7M以下が好ましい。硫酸の濃度が0.7Mを超えると、電流値が高くなりすぎて定電圧を維持できなくなることがある。
化成電圧が25〜30Vの時、周期が63nmの規則性の高い細孔を有する陽極酸化アルミナを得ることができる。化成電圧がこの範囲より高くても低くても規則性が低下する傾向がある。
電解液の温度は、30℃以下が好ましく、20℃以下がよりに好ましい。電解液の温度が30℃を超えると、いわゆる「ヤケ」といわれる現象がおこり、細孔が壊れたり、表面が溶けて細孔の規則性が乱れたりすることがある。
工程(b):
図2に示すように、酸化皮膜24の一部または全てを一旦除去し、これを陽極酸化の細孔発生点26にすることで細孔の規則性を向上することができる。酸化皮膜24は全てを除去せずに一部が残るような状態でも、酸化皮膜24のうち、すでに規則性が十分に高められた部分が残っているのであれば、酸化皮膜除去の目的を果たすことができる。
酸化皮膜を除去する方法としては、アルミニウムを溶解せず、酸化皮膜を選択的に溶解する溶液に溶解させて除去する方法が挙げられる。このような溶液としては、例えば、クロム酸/リン酸混合液等が挙げられる。
工程(c):
図2に示すように、酸化皮膜を除去したアルミニウム基材20を再度、陽極酸化すると、円柱状の細孔22を有する酸化皮膜24が形成される。
陽極酸化は、工程(a)と同様な条件で行えばよい。陽極酸化の時間を長くするほど深い細孔を得ることができる。ただし、工程(b)の効果が失われない範囲であれば、工程(c)での陽極酸化の電圧や、電解液の種類や、温度などを適宜調整することが可能である。
ところで、従来のように切削等の機械加工によりアルミニウム基材を仕上げた場合には、加工変質層がアルミニウム基材表面に残っているため、工程(a)の陽極酸化と工程(b)の酸化皮膜除去により加工変質層を除去する場合があった。
しかし、工程(a)および工程(b)により加工変質層を除去する場合、工程(a)の陽極酸化を長時間行う必要があることがあった。アルミニウム基材を陽極酸化すると、アルミニウム基材の結晶方位により、陽極酸化されやすい結晶と、陽極酸化されにくい結晶との間で段差が形成される場合がある。このような段差は、陽極酸化の処理時間(陽極酸化時間)が長いほど大きくなる傾向にある。特に、高純度のアルミニウムは結晶構造が比較的大きい場合が多いため、高純度のアルミニウムに対して長時間陽極酸化を行うと、結晶構造毎の段差が目視で確認されてしまうことがあった。また、目視で確認できなくとも、転写物のヘイズが上昇したり、転写物が色づいて見えたりすることがあった。
本発明においては、研磨工程により少なくとも第一の加工変質層が除去されているため、長時間の陽極酸化と皮膜除去とにより、加工変質層を除去する必要がない。したがって、工程(a)および(b)を省略しても、細孔が均一に分布した酸化皮膜を容易に形成することができる。工程(a)および工程(b)を省略すれば、陽極酸化時間が短縮され、陽極酸化に起因する結晶粒界ごとの高さのバラつきを最小限に抑えたモールドが得られる。該モールドを用いれば、可視光の範囲中の反射率および反射色の色差に優れる転写物が得られる。なお、ここで「可視光の範囲」とは、光の波長が400nm〜780nmの範囲をいう。
また、微細凹凸構造形成工程において加工変質層を除去する必要がないため、工程(a)および工程(b)を完全に省略せずとも、工程(a)の陽極酸化時間を短くすることもできる。工程(a)の陽極酸化時間を短くできれば、工程(b)の処理時間も短くできるため、全体としてモールドの製造に必要な時間を短縮することも可能となる。
色づきが少ない転写物が得られるモールドを製造するには、工程(a)および工程(c)の陽極酸化時間は、それぞれ5分未満であることが好ましく、より好ましくは4分以下であり、特に好ましくは3分以下である。陽極酸化時間を5分未満とすることで、結晶粒の段差が大きくなることを抑制できるので、得られたモールドを用いれば、転写物のヘイズや色づき等の性能を好ましい範囲に制御することができる。
工程(d):
図2に示すように、細孔22の径を拡大させる処理(以下、細孔径拡大処理と記す。)を行う。細孔径拡大処理は、酸化皮膜を溶解する溶液に浸漬して陽極酸化で得られた細孔の径を拡大させる処理である。このような溶液としては、例えば、5質量%程度のリン酸水溶液等が挙げられる。
細孔径拡大処理の時間を長くするほど、細孔径は大きくなる。
工程(e):
図2に示すように、再度、陽極酸化すると、円柱状の細孔22の底部から下に延びる、直径の小さい円柱状の細孔22がさらに形成される。
陽極酸化は、工程(c)と同様な条件で行えばよい。陽極酸化の時間を長くするほど深い細孔を得ることができる。
工程(f):
図2に示すように、工程(d)の細孔径拡大処理と、工程(e)の陽極酸化を繰り返すと、直径が開口部から深さ方向に連続的に減少する形状の細孔22を有する酸化皮膜24が形成され、アルミニウム基材20の表面に陽極酸化アルミナ(アルミニウムの多孔質の酸化皮膜(アルマイト))を有するモールド28が得られる。最後は工程(d)で終わることが好ましい。
繰り返し回数は、合計で3回以上が好ましく、5回以上がより好ましい。繰り返し回数が2回以下では、非連続的に細孔の直径が減少するため、このような細孔を有する陽極酸化アルミナを用いて形成された微細凹凸構造の反射率低減効果は不十分である。
また、陽極酸化工程と細孔径拡大処理工程との繰り返し回数は、合計で15回以下が好ましく、10回以下がより好ましい。
細孔22の形状としては、略円錐形状、角錐形状、円柱形状等が挙げられ、円錐形状、角錐形状等のように、深さ方向と直交する方向の細孔断面積が最表面から深さ方向に連続的に減少する形状が好ましい。
隣接する細孔22間の平均間隔(周期)は、可視光の波長以下が好ましい。細孔22間の平均間隔は、20nm以上が好ましい。
細孔22間の平均間隔は、電子顕微鏡観察によって隣接する細孔22間の間隔(細孔22の中心から隣接する細孔22の中心までの距離)を50点測定し、これらの値を平均したものである。
細孔22の平均深さは、80〜500nmが好ましく、120〜400nmがより好ましく、150〜300nmが特に好ましい。細孔22間の平均間隔が100nm程度の場合にも同様である。
細孔22の平均深さは、電子顕微鏡観察によって倍率30000倍で観察したときにおける、細孔22の最底部と、細孔22間に存在する凸部の最頂部との間の距離を50点測定し、これらの値を平均したものである。
細孔22のアスペクト比(細孔の平均深さ/隣接する細孔間の平均間隔)は、0.5〜5.0が好ましく、0.8〜5.0がより好ましく、0.8〜4.5がさらに好ましく、1.2〜4.0が特に好ましく、1.5〜3.0が最も好ましい。
モールドの微細凹凸構造が形成された側の表面を離型剤で処理してもよい。
離型剤としては、シリコーン樹脂、フッ素樹脂、フッ素化合物等が挙げられ、加水分解性シリル基を有するフッ素化合物が特に好ましい。
<作用効果>
以上説明した本発明のモールドの製造方法は、微細凹凸構造形成工程の前、すなわち、機械加工されたロール状のアルミニウム基材を陽極酸化する前に、上述した研磨工程を有する。研磨工程によって、少なくとも上述した第一の加工変質層が除去されるので、細孔が均一に分布した酸化皮膜を形成できる。研磨工程では少なくとも機械研磨によりアルミニウム基材の加工表面を除去するので、陰極電解、電解研磨、エッチングを用いた場合に比べて容易に第一の加工変質層を除去できる。よって、転写物のヘイズの上昇を抑制できる。また、研磨工程と同時、または研磨工程と微細凹凸構造形成工程との間に、表面仕上げ工程を有していれば、除去の痕跡が残りにくくなるので、除去の痕跡が転写物に反映されにくくもなる。さらに、陽極酸化時間を短縮することによって、結晶粒界ごとの高さのバラつきを最小限にすることができる。これにより、転写物の反射率を低くし、反射色の色をよりニュートラルに近づけることもできる。
このように、本発明のモールドの製造方法によれば、細孔が均一に分布した酸化皮膜を形成でき、ヘイズが低く反射防止性能や外観品位が優れた物品を得ることができるナノインプリント用モールドを容易に製造できる。
[物品の製造方法]
物品の製造方法は、上述した方法により製造されたモールドを用い、モールド表面に形成された微細凹凸構造を物品本体の表面に転写する方法である。
具体的には、本発明のモールドの製造方法により製造されたモールドと物品本体との間に活性エネルギー線硬化性樹脂組成物を充填し、これに活性エネルギー線を照射して硬化させて、モールドの微細凹凸構造が転写された硬化樹脂層を物品本体の表面に形成し、硬化樹脂層が表面に形成された物品本体をモールドから剥離する方法(いわゆる光インプリント法)により、微細凹凸構造を表面に有する物品(転写物)を得る。
<物品本体>
物品本体の材料としては、物品本体を介して活性エネルギー線の照射を行うため、透明性の高い材料が好ましく、例えばポリカーボネート、ポリスチレン系樹脂、ポリエステル、アクリル系樹脂、セルロース系樹脂(トリアセチルセルロース等)、ポリオレフィン、ガラス等が挙げられる。
また、物品本体の形状としては、フィルム、シート、射出成形品、プレス成形品等が挙げられる。
<製造装置>
微細凹凸構造を表面に有する物品は、例えば図3に示す製造装置を用いて、下記のようにして製造される。
表面に微細凹凸構造(図示略)を有するロール状モールド30と、ロール状モールド30の表面に沿って移動する帯状のフィルム(物品本体)52との間に、タンク32から活性エネルギー線硬化性樹脂組成物48を供給する。
ロール状モールド30と、空気圧シリンダ34によってニップ圧が調整されたニップロール36との間で、フィルム52および活性エネルギー線硬化性樹脂組成物48をニップし、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物48を、フィルム52とロール状モールド30との間に均一に行き渡らせると同時に、ロール状モールド30の微細凹凸構造の細孔内に充填する。
ロール状モールド30の下方に設置された活性エネルギー線照射装置38から、フィルム52を通して活性エネルギー線硬化性樹脂組成物48に活性エネルギー線を照射し、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物48を硬化させることによって、ロール状モールド30の表面の微細凹凸構造が転写された硬化樹脂層54を形成する。
剥離ロール40により、表面に硬化樹脂層54が形成されたフィルム52をロール状モールド30から剥離することによって、表面に微細凹凸構造を有する物品50を得る。
活性エネルギー線照射装置38としては、高圧水銀ランプ、メタルハライドランプ等が挙げられる。
活性エネルギー線照の光照射エネルギー量は、100〜10000mJ/cmが好ましい。
<物品>
図4は、微細凹凸構造を表面に有する物品50の一例を示す断面図である。
硬化樹脂層54は、後述の活性エネルギー線硬化性樹脂組成物の硬化物からなる膜であり、表面に微細凹凸構造を有する。
本発明のモールドの製造方法により製造されたモールドを用いた場合の物品50の表面の微細凹凸構造は、モールドの酸化皮膜の表面の微細凹凸構造を転写して形成されたものであり、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物の硬化物からなる複数の凸部56を有する。
微細凹凸構造としては、略円錐形状、角錐形状等の突起(凸部)が複数並んだ、いわゆるモスアイ構造が好ましい。突起間の間隔が可視光の波長以下であるモスアイ構造は、空気の屈折率から材料の屈折率へと連続的に屈折率が増大していくことで有効な反射防止の手段となることが知られている。
凸部(突起)間の平均間隔(周期)は、物品50を可視光線の反射防止の用途に用いる場合、可視光の波長以下、すなわち400nm以下が好ましく、200nm以下がより好ましく、150nm以下が特に好ましい。また、物品50をブルーライトの反射防止の用途に用いる場合、可視光の波長以下、すなわち460nm以下が好ましく、200nm以下がより好ましく、150nm以下が特に好ましい。
また、凸部間の平均間隔は、凸部の形成のしやすさの点から、20nm以上が好ましい。
凸部間の平均間隔は、電子顕微鏡観察によって隣接する凸部間の間隔(凸部の中心から隣接する凸部の中心までの距離)を50点測定し、これらの値を平均したものである。
凸部の高さは、平均間隔が100nmの場合は、80〜500nmが好ましく、120〜400nmがより好ましく、150〜300nmが特に好ましい。凸部の高さが80nm以上であれば、反射率が十分低くなり、かつ反射率の波長依存性が少ない。凸部の高さが500nm以下であれば、凸部の耐擦傷性が良好となる。
凸部の高さは、電子顕微鏡によって倍率30000倍で観察したときにおける、凸部の最頂部と、凸部間に存在する凹部の最底部との間の距離を測定した値である。
凸部のアスペクト比(凸部の高さ/凸部間の平均間隔)は、0.5〜5.0が好ましく、0.8〜5.0がより好ましく、0.8〜4.5がさらに好ましく、1.2〜4.0が特に好ましく、1.5〜3.0が最も好ましい。凸部のアスペクト比が0.5以上であれば、超親水性膜や超撥水性膜として充分に使用できる。凸部のアスペクト比が5.0以下であれば、凸部の耐擦傷性が良好となる。
凸部の形状は、高さ方向と直交する方向の凸部断面積が最表面から深さ方向に連続的に増加する形状、すなわち、凸部の高さ方向の断面形状が、三角形、台形、釣鐘型等の形状が好ましい。
物品50を反射防止用途に用いる場合、反射光または透過光の波長分散が少ないことが好ましい。反射光または透過光に波長分散性があると、反射光等が色づいて認識される場合がある。波長分散が少ないと、反射光の色づきが視認しづらくなり、物品50を反射防止として用いた製品が個人的な嗜好の影響を受けにくくなる。反射光等の色づきを抑制するには、上述したように、少なくとも第一の加工変質層を除去し、陽極酸化の時間を短くすることで、物品50の反射光または透過光の波長分散を少なくすることができる。
反射光または透過光の波長分散や色づきは、JIS Z 8729またはISO−11664−4に準拠し、分光光度計等を用いて反射光または透過光のスペクトルを測定し、得られた測定結果からL表色系(Lab色空間)の値を求めることにより、規定することができる。L表色系は、色の明度(L=0は黒、L=100は白の拡散色で、白の反射色はさらに高い)、赤/マゼンタと緑の間の位置(a、負の値は緑寄りで、正の値はマゼンタ寄り)、黄色と青の間の位置(b、負の値は青寄り、正の値は黄色寄り)に対応している。つまり、Lの原点(L=0、a=0、b=0)からの距離、すなわち色差(E)が小さいほど、色づきが小さいことになる。
物品50を反射防止用途に用いる場合、可視光の波長領域において、下記式(1)より求められる、L表色系で示される原点との色差(E)が0.9以下であることが好ましい。色差(E)が0.9以下であれば、物品50からの反射光または透過光の色づきを十分に抑制することができる。
={(L+(a+(b1/2 ・・・(1)
また、物品50を反射防止用途に用いる場合、可視光の波長領域において、L表色系により測定されるaおよびbの値から、下記式(2)より求められる彩度(C)が、0.7以下であることが好ましい。彩度(C)が0.7以下であれば、物品50からの反射光または透過光の色づきを十分に抑制することができる。なお、彩度(C)は、明るさの要素を排除した色の値であり、aおよびbとの原点からの距離により規定される。
={(a+(b1/2 ・・・(2)
また、物品50を反射防止用途に用いる場合、可視光の波長領域内において、波長毎の入射光に対する反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)が0.2%以下であることがさらに好ましい。これにより、物品50からの反射色の色をよりニュートラルに近づけることができる。
ところで、モスアイ構造を表面に有する場合、その表面が疎水性の材料から形成されていればロータス効果により超撥水性が得られ、その表面が親水性の材料から形成されていれば超親水性が得られることが知られている。
物品50の硬化樹脂層54の材料が疎水性の場合、微細凹凸構造の表面の水接触角は、90°以上が好ましく、110°以上がより好ましく、120°以上が特に好ましい。水接触角が90°以上であれば、水汚れが付着しにくくなるため、十分な防汚性が発揮される。また、水が付着しにくいため、着氷防止を期待できる。
硬化樹脂層54の材料が親水性の場合、微細凹凸構造の表面の水接触角は、25°以下が好ましく、23°以下がより好ましく、21°以下が特に好ましい。水接触角が25°以下であれば、表面に付着した汚れが水で洗い流され、また油汚れが付着しにくくなるため、十分な防汚性が発揮される。該水接触角は、硬化樹脂層54の吸水による微細凹凸構造の変形、それに伴う反射率の上昇を抑える点から、3°以上が好ましい。
<活性エネルギー線硬化性樹脂組成物>
活性エネルギー線硬化性樹脂組成物は、重合性化合物および重合開始剤を含む。
重合性化合物としては、分子中にラジカル重合性結合および/またはカチオン重合性結合を有するモノマー、オリゴマー、反応性ポリマー等が挙げられる。
ラジカル重合性結合を有するモノマーとしては、単官能モノマー、多官能モノマーが挙げられる。
単官能モノマーとしては、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、i−ブチル(メタ)アクリレート、s−ブチル(メタ)アクリレート、t−ブチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、アルキル(メタ)アクリレート、トリデシル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、アリル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−メトキシエチル(メタ)アクリレート、2−エトキシエチル(メタ)アクリレート等の(メタ)アクリレート誘導体;(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリロニトリル;スチレン、α−メチルスチレン等のスチレン誘導体;(メタ)アクリルアミド、N−ジメチル(メタ)アクリルアミド、N−ジエチル(メタ)アクリルアミド、ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド等の(メタ)アクリルアミド誘導体等が挙げられる。
これらは、1種を単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
多官能モノマーとしては、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、イソシアヌール酸エチレンオキサイド変性ジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,5−ペンタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,3−ブチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリブチレングリコールジ(メタ)アクリレート、2,2−ビス(4−(メタ)アクリロキシポリエトキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(メタ)アクリロキシエトキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(4−(3−(メタ)アクリロキシ−2−ヒドロキシプロポキシ)フェニル)プロパン、1,2−ビス(3−(メタ)アクリロキシ−2−ヒドロキシプロポキシ)エタン、1,4−ビス(3−(メタ)アクリロキシ−2−ヒドロキシプロポキシ)ブタン、ジメチロールトリシクロデカンジ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAのエチレンオキサイド付加物ジ(メタ)アクリレート、ビスフェノールAのプロピレンオキサイド付加物ジ(メタ)アクリレート、ヒドロキシピバリン酸ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ジビニルベンゼン、メチレンビスアクリルアミド等の二官能性モノマー;ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンエチレンオキサイド変性トリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンプロピレンオキシド変性トリアクリレート、トリメチロールプロパンエチレンオキシド変性トリアクリレート、イソシアヌール酸エチレンオキサイド変性トリ(メタ)アクリレート等の三官能モノマー;コハク酸/トリメチロールエタン/アクリル酸の縮合反応混合物、ジペンタエリストールヘキサ(メタ)アクリレート、ジペンタエリストールペンタ(メタ)アクリレート、ジトリメチロールプロパンテトラアクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート等の四官能以上のモノマー;二官能以上のウレタンアクリレート、二官能以上のポリエステルアクリレート等が挙げられる。
これらは、1種を単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
カチオン重合性結合を有するモノマーとしては、エポキシ基、オキセタニル基、オキサゾリル基、ビニルオキシ基等を有するモノマーが挙げられ、エポキシ基を有するモノマーが特に好ましい。
オリゴマーまたは反応性ポリマーとしては、不飽和ジカルボン酸と多価アルコールとの縮合物等の不飽和ポリエステル類;ポリエステル(メタ)アクリレート、ポリエーテル(メタ)アクリレート、ポリオール(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート、ウレタン(メタ)アクリレート、カチオン重合型エポキシ化合物、側鎖にラジカル重合性結合を有する上述のモノマーの単独または共重合ポリマー等が挙げられる。
光硬化反応を利用する場合、光重合開始剤としては、例えば、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、ベンジル、ベンゾフェノン、p−メトキシベンゾフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、α,α−ジメトキシ−α−フェニルアセトフェノン、メチルフェニルグリオキシレート、エチルフェニルグリオキシレート、4,4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン等のカルボニル化合物;テトラメチルチウラムモノスルフィド、テトラメチルチウラムジスルフィド等の硫黄化合物;2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキサイド、ベンゾイルジエトキシホスフィンオキサイド等が挙げられる。
これらは、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
電子線硬化反応を利用する場合、重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン、4,4−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、2,4,6−トリメチルベンゾフェノン、メチルオルソベンゾイルベンゾエート、4−フェニルベンゾフェノン、t−ブチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、2,4−ジエチルチオキサントン、イソプロピルチオキサントン、2,4−ジクロロチオキサントン等のチオキサントン;ジエトキシアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、ベンジルジメチルケタール、1−ヒドロキシシクロヘキシル−フェニルケトン、2−メチル−2−モルホリノ(4−チオメチルフェニル)プロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン等のアセトフェノン;ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル等のベンゾインエーテル;2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキサイド、ビス(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチルペンチルホスフィンオキサイド、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルホスフィンオキサイド等のアシルホスフィンオキサイド;メチルベンゾイルホルメート、1,7−ビスアクリジニルヘプタン、9−フェニルアクリジン等が挙げられる。
これらは、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
熱硬化反応を利用する場合、熱重合開始剤としては、例えば、メチルエチルケトンパーオキサイド、ベンゾイルパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド、t−ブチルハイドロパーオキサイド、クメンハイドロパーオキサイド、t−ブチルパーオキシオクトエート、t−ブチルパーオキシベンゾエート、ラウロイルパーオキサイド等の有機過酸化物;アゾビスイソブチロニトリル等のアゾ系化合物;前記有機過酸化物にN,N−ジメチルアニリン、N,N−ジメチル−p−トルイジン等のアミンを組み合わせたレドックス重合開始剤等が挙げられる。
重合開始剤の量は、重合性化合物100質量部に対して、0.1〜10質量部が好ましい。重合開始剤の量が0.1質量部未満では、重合が進行しにくい。重合開始剤の量が10質量部を超えると、硬化膜が着色したり、機械強度が低下したりすることがある。
活性エネルギー線硬化性樹脂組成物は、必要に応じて、非反応性のポリマー、活性エネルギー線ゾルゲル反応性組成物、帯電防止剤、防汚性を向上させるためのフッ素化合物等の添加剤、微粒子、少量の溶媒を含んでいてもよい。
非反応性のポリマーとしては、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、ポリウレタン、セルロース系樹脂、ポリビニルブチラール、ポリエステル、熱可塑性エラストマー等が挙げられる。
活性エネルギー線ゾルゲル反応性組成物としては、アルコキシシラン化合物、アルキルシリケート化合物等が挙げられる。
アルコキシシラン化合物としては、テトラメトキシシラン、テトラ−i−プロポキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトラ−n−ブトキシシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、テトラ−t−ブトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリプロポキシシラン、メチルトリブトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、トリメチルエトキシシラン、トリメチルメトキシシラン、トリメチルプロポキシシラン、トリメチルブトキシシラン等が挙げられる。
アルキルシリケート化合物としては、メチルシリケート、エチルシリケート、イソプロピルシリケート、n−プロピルシリケート、n−ブチルシリケート、n−ペンチルシリケート、アセチルシリケート等が挙げられる。
(疎水性材料)
硬化樹脂層の微細凹凸構造の表面の水接触角を90°以上にするためには、疎水性の材料を形成し得る活性エネルギー線硬化性樹脂組成物として、フッ素含有化合物またはシリコーン系化合物を含む組成物を用いることが好ましい。
フッ素含有化合物:
フッ素含有化合物としては、フッ素含有モノマー、フッ素含有シランカップリング剤、フッ素含有界面活性剤、フッ素含有ポリマー等が挙げられる。
フッ素含有モノマーとしては、フルオロアルキル基置換ビニルモノマー、フルオロアルキル基置換開環重合性モノマー等が挙げられる。
フルオロアルキル基置換ビニルモノマーとしては、フルオロアルキル基置換(メタ)アクリレート、フルオロアルキル基置換(メタ)アクリルアミド、フルオロアルキル基置換ビニルエーテル、フルオロアルキル基置換スチレン等が挙げられる。
フルオロアルキル基置換開環重合性モノマーとしては、フルオロアルキル基置換エポキシ化合物、フルオロアルキル基置換オキセタン化合物、フルオロアルキル基置換オキサゾリン化合物等が挙げられる。
フッ素含有シランカップリング剤としては、3,3,3−トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、3,3,3−トリフルオロプロピルトリアセトキシシラン、ジメチル−3,3,3−トリフルオロプロピルメトキシシラン、トリデカフルオロ−1,1,2,2−テトラヒドロオクチルトリエトキシシラン等が挙げられる。
フッ素含有界面活性剤としては、フルオロアルキル基含有アニオン系界面活性剤、フルオロアルキル基含有カチオン系界面活性剤等が挙げられる。
フッ素含有ポリマーとしては、フルオロアルキル基含有モノマーの重合体、フルオロアルキル基含有モノマーとポリ(オキシアルキレン)基含有モノマーとの共重合体、フルオロアルキル基含有モノマーと架橋反応性基含有モノマーとの共重合体等が挙げられる。フッ素含有ポリマーは、共重合可能な他のモノマーとの共重合体であってもよい。
シリコーン系化合物:
シリコーン系化合物としては、(メタ)アクリル酸変性シリコーン、シリコーン樹脂、シリコーン系シランカップリング剤等が挙げられる。
(メタ)アクリル酸変性シリコーンとしては、シリコーン(ジ)(メタ)アクリレート等が挙げられ、例えば、信越化学工業株式会社製のシリコーンジアクリレート「x−22−164」「x−22−1602」等が好ましく用いられる。
(親水性材料)
硬化樹脂層の微細凹凸構造の表面の水接触角を25°以下にするためには、親水性の材料を形成し得る活性エネルギー線硬化性樹脂組成物として、少なくとも親水性モノマーを含む組成物を用いることが好ましい。また、耐擦傷性や耐水性付与の観点からは、架橋可能な多官能モノマーを含むものがより好ましい。なお、親水性モノマーと架橋可能な多官能モノマーは、同一(すなわち、親水性多官能モノマー)であってもよい。さらに、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物は、その他のモノマーを含んでいてもよい。
親水性の材料を形成し得る活性エネルギー線硬化性樹脂組成物としては、4官能以上の多官能(メタ)アクリレート、2官能以上の親水性(メタ)アクリレート、必要に応じて単官能モノマーを含む組成物を用いることがより好ましい。
4官能以上の多官能(メタ)アクリレートとしては、ジトリメチロールプロパンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールエトキシテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヒドロキシペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、コハク酸/トリメチロールエタン/アクリル酸のモル比1:2:4の縮合反応混合物、ウレタンアクリレート類(ダイセル・オルネクス株式会社製:EBECRYL220、EBECRYL1290、EBECRYL1290K、EBECRYL5129、EBECRYL8210、EBECRYL8301、KRM8200)、ポリエーテルアクリレート類(ダイセル・オルネクス株式会社製:EBECRYL81)、変性エポキシアクリレート類(ダイセル・オルネクス株式会社製:EBECRYL3416)、ポリエステルアクリレート類(ダイセル・オルネクス株式会社製:EBECRYL450、EBECRYL657、EBECRYL800、EBECRYL810、EBECRYL811、EBECRYL812、EBECRYL1830、EBECRYL845、EBECRYL846、EBECRYL1870)等が挙げられる。これらは、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
4官能以上の多官能(メタ)アクリレートとしては、5官能以上の多官能(メタ)アクリレートがより好ましい。
4官能以上の多官能(メタ)アクリレートの割合は、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物を構成する全モノマーの合計100質量%中、10〜90質量%が好ましく、20〜90質量%がより好ましく、30〜90質量%が特に好ましい。4官能以上の多官能(メタ)アクリレートの割合が10質量%以上であれば、弾性率が高くなって耐擦傷性が向上する。4官能以上の多官能(メタ)アクリレートの割合が90質量%以下であれば、表面に小さな亀裂が入りにくく、外観不良となりにくい。
2官能以上の親水性(メタ)アクリレートとしては、アロニックスM−240、アロニックスM260(東亞合成株式会社製)、NKエステルAT−20E、NKエステルATM−35E(新中村化学工業株式会社製)等の長鎖ポリエチレングリコールを有する多官能アクリレート、ポリエチレングリコールジメタクリレート等が挙げられる。これらは、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
ポリエチレングリコールジメタクリレートにおいて、一分子内に存在するポリエチレングリコール鎖の平均繰り返し単位の合計は、6〜40が好ましく、9〜30がより好ましく、12〜20が特に好ましい。ポリエチレングリコール鎖の平均繰り返し単位が6以上であれば、親水性が十分となり、防汚性が向上する。ポリエチレングリコール鎖の平均繰り返し単位が40以下であれば、4官能以上の多官能(メタ)アクリレートとの相溶性が良好となり、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物が分離しにくい。
2官能以上の親水性(メタ)アクリレートの割合は、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物を構成する全モノマーの合計100質量%中、3〜90質量%が好ましく、3〜70質量%がより好ましい。2官能以上の親水性(メタ)アクリレートの割合が3質量%以上であれば、親水性が十分となり、防汚性が向上する。2官能以上の親水性(メタ)アクリレートの割合が90質量%以下であれば、弾性率が高くなって耐擦傷性が向上する。
単官能モノマーとしては、親水性単官能モノマーが好ましい。
親水性単官能モノマーとしては、M−20G、M−90G、M−230G(新中村化学工業株式会社製)等のエステル基にポリエチレングリコール鎖を有する単官能(メタ)アクリレート、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート等のエステル基に水酸基を有する単官能(メタ)アクリレート、単官能アクリルアミド類、メタクリルアミドプロピルトリメチルアンモニウムメチルサルフェート、メタクリロイルオキシエチルトリメチルアンモニウムメチルサルフェート等のカチオン性モノマー類等が挙げられる。
また、単官能モノマーとして、アクリロイルモルホリン、ビニルピロリドン等の粘度調整剤、物品本体への密着性を向上させるアクリロイルイソシアネート類等の密着性向上剤等を用いてもよい。
単官能モノマーの割合は、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物を構成する全モノマーの合計100質量%中、0〜20質量%が好ましく、5〜15質量%がより好ましい。単官能モノマーを用いることにより、基材と硬化樹脂との密着性が向上する。単官能モノマーの割合が20質量%以下であれば、4官能以上の多官能(メタ)アクリレートまたは2官能以上の親水性(メタ)アクリレートが不足することなく、防汚性または耐擦傷性が十分に発現する。
単官能モノマーは、1種または2種以上を(共)重合した低重合度の重合体として活性エネルギー線硬化性樹脂組成物に0〜35質量%配合してもよい。低重合度の重合体としては、M−230G(新中村化学工業株式会社製)等のエステル基にポリエチレングリコール鎖を有する単官能(メタ)アクリレート類と、メタクリルアミドプロピルトリメチルアンモニウムメチルサルフェートとの40/60共重合オリゴマー(MRCユニテック株式会社製、MGポリマー)等が挙げられる。
<作用効果>
上述した物品の製造方法によれば、上述した本発明のモールドの製造方法により製造されたモールドを用いる。特に反射防止に用いる物品を製造する場合には、陽極酸化時間を短縮したモールドを用いることで、色づきの少ない物品を得ることができる。
本発明により得られる物品は、表面の微細凹凸構造によって、反射防止性能、撥水性能等の種々の性能を発揮する。物品の用途としては、反射防止物品、防曇性物品、防汚性物品、撥水性物品、より具体的には、ディスプレー用反射防止、自動車メーターカバー、自動車ミラー、自動車窓、有機または無機エレクトロルミネッセンスの光取り出し効率向上部材、太陽電池部材等が挙げられる。
以下、本発明を実施例によって具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
「測定・評価」
<平均結晶粒径の測定>
アルミニウム基材の表面における結晶粒について、画像解析ソフトウエア(株式会社日本ローパー製「Image−Pro PLUS」)を用いて円換算直径を測定した。測定は100点行い、その平均値を平均結晶粒径とした。
<算術平均粗さ(Ra)および最大高さ粗さ(Rz)の測定>
走査型プローブ顕微鏡(株式会社日立ハイテクノロジーズ製、「SPI4000プローブステーション、SPA400(ユニット)」)を用いてJIS B 0601:1994に準拠し、以下に示す測定条件により、アルミニウム基材の加工表面の算術平均粗さ(Ra)および最大高さ粗さ(Rz)を求めた。なお、データ処理は、一次傾き補正処理を行った後に、フラット処理を実施した。
測定条件:
・走査モード:DFMモード
・探針:Siカンチレバー「DF−20」(株式会社日立ハイテクノロジーズ製)
・走査速度:0.4Hz、Rotation 90度(圧延痕方向に対して垂直方向にスキャン。)
・走査範囲:2.5μm×2.5μm
・ピクセル数:512×512
<陽極酸化アルミナの細孔の測定>
陽極酸化アルミナの一部を削り、縦断面にプラチナを1分間蒸着し、電界放出形走査電子顕微鏡(日本電子株式会社製、「JSM−7400F」)を用いて、加速電圧:3.00kVの条件にて断面を観察し、隣接する細孔間の間隔、および細孔の深さを測定した。各測定はそれぞれ50点ずつ行い、その平均値を測定値とした。
<物品の凹凸の測定>
微細凹凸構造を表面に有する物品の縦断面にプラチナを10分間蒸着し、陽極酸化アルミナの細孔の測定の場合と同じ装置および条件にて、隣接する凸部間の間隔、および凸部の高さを測定した。各測定はそれぞれ50点ずつ行い、その平均値を測定値とした。
<物品のヘイズの測定>
微細凹凸構造を表面に有する物品のヘイズは、JIS K 7361−1:1997に準拠したヘイズメーター(スガ試験機株式会社製)を用いて測定した。
<物品の色差(E)の算出>
まず、微細凹凸構造を表面に有する物品の可視光の波長領域内の反射率を、分光光度計UV−2450(株式会社島津製作所製)を用いて測定した。
反射率の測定結果に基づき、JIS Z 8729(ISO−11664−4)に準拠して、L表色系で示される原点との色差(E)を上記式(1)より算出し、下記評価基準にて評価した。
◎:E≦0.9
○:0.9<E≦1.2
×:1.2<E
<物品の彩度(C)の算出>
まず、微細凹凸構造を表面に有する物品の可視光の波長領域内の反射率を、分光光度計UV−2450(株式会社島津製作所製)を用いて測定した。
反射率の測定結果に基づき、JIS Z 8729(ISO−11664−4)に準拠してaおよびbの値を求め、彩度(C)を上記式(2)より算出し、下記評価基準にて評価した。
◎:C≦0.7
○:0.7<C≦1.1
×:1.1<C
<物品の反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)の算出>
まず、微細凹凸構造を表面に有する物品の可視光の波長領域内の反射率を、分光光度計UV−2450(株式会社島津製作所製)を用いて測定した。
反射率の測定結果に基づいて各波長の反射率を読み取り、波長毎の入射光に対する反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、下記評価基準にて評価した。
◎:Δλ≦0.2
○:0.2<Δλ≦0.5
×:0.5<Δλ
「実施例1」
<モールドの製造>
純度99.99%の中空ロール状のアルミニウム基材(長手方向の長さ:300mm)を鏡面切削した。
アルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径と、算術平均粗さ(Ra)および最大高さ粗さ(Rz)を測定した。結果を表1に示す。
図1に示す研磨装置10を用いて、以下のようにして研磨工程および表面仕上げ工程を行った。
なお、研磨工程では、研磨布紙14bとしてポリエステル製不織布を用い、スラリーとして平均粒子径が1μmの酸化アルミニウムが水に分散した分散液を用いた。該分散液の25℃でのpHは2であった。
表面仕上げ工程では、研磨布紙14bとして発砲ポリウレタン製スウェードを用い、スラリーとして平均粒子径が0.1μmのSiO粒子が水に分散した分散液を用いた。該分散液の25℃でのpHは10であった。
(研磨工程)
まず、アルミニウム基材20にシャフト12が貫通した状態で、回転駆動部(図示略)を駆動させて、支持軸(図示略)を回転させてアルミニウム基材20を回転させた。
別途、研磨ロール14aにベルト状の研磨布紙14bを取り付けた状態で、回転駆動部(図示略)を駆動させて、研磨ロール14aをアルミニウム基材20の回転方向と同方向に回転させた。
アルミニウム基材20および研磨ロール14aを回転させながら、研磨布紙14bをアルミニウム基材20の外周面20aに圧接させた。そして、研磨布紙14bとアルミニウム基材20の外周面20aとの間にスラリー供給手段16からスラリーを供給した。研磨手段14およびスラリー供給手段16をアルミニウム基材20の長手方向に沿って移動させることで、研磨領域Aをアルミニウム基材20の長手方向に移動させ、アルミニウム基材20の外周面20aの全体を、研磨厚みが10μmになるように粗研磨した。研磨手段14およびスラリー供給手段16の移動に同期して洗浄手段18も移動させ、研磨が終了した領域(研磨終了領域)Bに洗浄手段18から洗浄液を供給し、アルミニウム基材20の外周面20aに付着したスラリーを除去した。
研磨工程後のアルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径を測定した。結果を表1に示す。
(表面仕上げ工程)
研磨布紙14bおよびスラリーを変更し、引き続き研磨工程後のアルミニウム基材20の外周面20aの全体を、算術平均粗さが15nm以下で鏡面化するまで仕上げ研磨した。
(微細凹凸構造形成工程)
工程(a):
表面仕上げ工程後のアルミニウム基材について、0.3Mシュウ酸水溶液中で、直流40V、温度16℃の条件で30分間陽極酸化を行った。
工程(b):
酸化皮膜が形成されたアルミニウム基材を、6質量%リン酸/1.8質量%クロム酸混合水溶液に6時間浸漬して、酸化皮膜を除去した。
工程(c):
このアルミニウム基材について、0.3Mシュウ酸水溶液中、直流40V、温度16℃の条件で30秒陽極酸化を行った。
工程(d):
酸化皮膜が形成されたアルミニウム基材を、32℃の5質量%リン酸に8分間浸漬して、細孔径拡大処理を行った。
工程(e):
このアルミニウム基材について、0.3Mシュウ酸水溶液中、直流40V、温度16℃の条件で30秒陽極酸化を行った。
工程(f):
工程(d)および工程(e)を合計で4回繰り返し、最後に工程(d)を行い、平均間隔:100nm、平均深さ:180nmの略円錐形状の細孔を有する陽極酸化アルミナが表面に形成されたモールドを得た。
<微細凹凸構造を表面に有する物品の製造>
得られたモールドと、透明基材であるアクリルフィルム(三菱レイヨン株式会社製、「アクリプレン HBS010」)との間に、下記に示す組成の活性エネルギー線硬化性樹脂組成物を充填して、高圧水銀ランプで積算光量1000mJ/cmの紫外線を照射することによって、活性エネルギー線硬化性樹脂組成物を硬化させた。その後、フィルムからモールドを剥離し、凸部の平均間隔:100nm、平均高さ:180nmの微細凹凸構造を表面に有する物品を得た。
微細凹凸構造を表面に有する物品のヘイズおよび反射率を測定し、色差(E)、彩度(C)、反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、評価した。結果を表1に示す。
(活性エネルギー線硬化性樹脂組成物)
コハク酸/トリメチロールエタン/アクリル酸(モル比 1:2:4)の縮合反応混合物60質量部、
ポリエチレングリコールジアクリレート(新中村化学工業株式会社製、「A−600」)30質量部、
メチルアクリレート(三菱化学株式会社製)10質量部、
アルキルフェノン系光重合開始剤(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ株式会社製、「Irg184」)1.0質量部、
アシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤(チバ・スペシャリティ・ケミカルズ株式会社製、「Irg819」)0.1質量部、
リン酸エステル系離型剤(AXEL社製、「INT−1856」)0.3質量部)。
「実施例2」
純度99.99%の中空ロール状のアルミニウム基材(長手方向の長さ:300mm)を粗切削した。アルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径と、算術平均粗さ(Ra)および最大高さ粗さ(Rz)を測定した。結果を表1に示す。
このアルミニウム基材を用い、研磨工程での研磨厚みを8μmに変更した以外は実施例1と同様にして、モールドを製造した。研磨工程後のアルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径を測定した。結果を表1に示す。
得られたモールドを用いた以外は実施例1と同様にして、微細凹凸構造を表面に有する物品を製造し、該物品のヘイズおよび反射率を測定し、色差(E)、彩度(C)、反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、評価した。結果を表1に示す。
「実施例3」
研磨工程での研磨厚みを4μmに変更した以外は実施例1と同様にして、モールドを製造した。研磨工程後のアルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径を測定した。結果を表1に示す。
得られたモールドを用いた以外は実施例1と同様にして、微細凹凸構造を表面に有する物品を製造し、該物品のヘイズおよび反射率を測定し、色差(E)、彩度(C)、反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、評価した。結果を表1に示す。
「実施例4」
微細凹凸構造形成工程における工程(a)の陽極酸化時間を3分とした以外は実施例1と同様にして、モールドを製造した。研磨工程後のアルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径を測定した。結果を表1に示す。
得られたモールドを用いた以外は実施例1と同様にして、微細凹凸構造を表面に有する物品を製造し、該物品のヘイズおよび反射率を測定し、色差(E)、彩度(C)、反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、評価した。結果を表1に示す。
「実施例5」
微細凹凸構造形成工程における工程(a)と工程(b)を行わなかった以外は実施例1と同様にして、モールドを製造した。研磨工程後のアルミニウム基材の加工表面の平均結晶粒径を測定した。結果を表1に示す。
得られたモールドを用いた以外は実施例1と同様にして、微細凹凸構造を表面に有する物品を製造し、該物品のヘイズおよび反射率を測定し、色差(E)、彩度(C)、反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、評価した。結果を表1に示す。
「比較例1」
研磨工程を行わなかった以外は実施例1と同様にして、モールドを製造した。
得られたモールドを用いた以外は実施例1と同様にして、微細凹凸構造を表面に有する物品を製造し、該物品のヘイズおよび反射率を測定し、色差(E)、彩度(C)、反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、評価した。結果を表1に示す。
「比較例2」
研磨工程、および微細凹凸構造形成工程における工程(a)と工程(b)を行わなかった以外は実施例1と同様にして、モールドを製造した。
得られたモールドを用いた以外は実施例1と同様にして、微細凹凸構造を表面に有する物品を製造し、該物品のヘイズおよび反射率を測定し、色差(E)、彩度(C)、反射率の最大値差と最小値の差(Δλ)を算出し、評価した。結果を表1に示す。
Figure 0006265125
実施例1、4、5の場合、研磨工程後のアルミニウム基材の表面の平均結晶粒径は30μm以上であり、第1の加工変質層および第2の加工変質層の全てが除去されていた。
実施例2の場合、研磨工程後のアルミニウム基材の表面の平均結晶粒径は1μm以上30μm未満であり、第1の加工変質層の全てと、第2の加工変質層の一部が除去されていた。
実施例3の場合、研磨工程後のアルミニウム基材の表面の平均結晶粒径は1μm以上30μm未満であり、第1の加工変質層の全てと、第2の加工変質層の一部が除去されていた。
また、各実施例で得られたモールドを用いて製造した、微細凹凸構造を表面に有する物品はヘイズが低く、透明性に優れていた。物品のヘイズが低いのは、モールドの製造において、細孔が均一に分布した酸化皮膜が形成されたためと考えられる。中でも、実施例4、5は、微細凹凸構造形成工程における陽極酸化時間を短くしたため、結晶粒界の段差が小さくなり、物品の反射率、色差が低く、反射防止性能に特に優れていた。
一方、研磨工程を行わなかった比較例1のモールドを用いて製造した、微細凹凸構造を表面に有する物品はヘイズが高く、透明性に劣っていた。物品のヘイズが高いのは、モールドの製造において、細孔が不均一に分布した酸化皮膜が形成されたためと考えられる。
研磨工程、および微細凹凸構造形成工程における工程(a)と工程(b)を行わなかった比較例2のモールドを用いて製造した、微細凹凸構造を表面に有する物品は、ヘイズおよび色差が大きく、透明性、反射防止性能に劣っていた。
本発明のモールドの製造方法によって得られたモールドは、反射防止物品、防曇性物品、防汚性物品、撥水性物品の効率的な量産にとって有用である。
10 研磨装置
12 シャフト
14 研磨手段
14a 研磨ロール
14b 研磨布紙
16 スラリー供給手段
16a スラリー供給配管
16b ノズル
18 洗浄液供給手段
18a 洗浄液供給配管
18b ノズル
20 アルミニウム基材
20a 外周面(加工表面)
22 細孔
24 酸化皮膜
26 細孔発生点
28 モールド
30 ロール状モールド
32 タンク
34 空気圧シリンダ
36 ニップロール
38 活性エネルギー線照射装置
40 剥離ロール
48 活性エネルギー線硬化性樹脂組成物
50 物品
52 フィルム(物品本体)
54 硬化樹脂層
56 凸部
A 研磨領域
B 研磨終了領域

Claims (12)

  1. 表面が機械加工されたロール状のアルミニウム基材の表面に微細凹凸構造が形成されたナノインプリント用モールドを製造する方法であって、
    少なくとも表面の純度が99%以上であるとともに、表面が機械加工されたロール状のアルミニウム基材の該表面を少なくとも平均結晶粒径が変化するまで機械研磨する研磨工程と、
    前記研磨工程の後にアルミニウム基材を陽極酸化し微細凹凸構造を形成する微細凹凸構造形成工程と、
    を有し
    前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を前記平均結晶粒径が1μm以上になるまで化学機械研磨する、ナノインプリント用モールドの製造方法。
  2. 前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を前記平均結晶粒径が5μm以上になるまで機械研磨する、請求項に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
  3. 前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を厚さ1μm以上除去する、請求項1に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
  4. 前記研磨工程において、前記アルミニウム基材の表面を厚さ3μm以上除去する、請求項に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
  5. 前記研磨工程と同時、または研磨工程と微細凹凸構造形成工程との間に、前記ロール状のアルミニウム基材の表面を仕上げる表面仕上げ工程をさらに有する、請求項1に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
  6. 前記微細凹凸構造形成工程において、前記アルミニウム基材を陽極酸化し細孔を形成する陽極酸化工程と、前記細孔の少なくとも一部を溶解し細孔を拡径する細孔径拡大処理工程とを繰り返し行う、請求項1に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
  7. 前記陽極酸化工程のそれぞれの処理時間が5分未満である、請求項に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
  8. 前記陽極酸化工程と細孔径拡大処理工程との繰り返し回数が合計で15回以下である、請求項に記載のナノインプリント用モールドの製造方法。
  9. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の製造方法により製造されるナノインプリント用モールドを用いて、モールド表面に形成された微細凹凸構造を転写して得られる、表面に微細凹凸構造を有する反射防止物品の製造方法であって、
    可視光の波長領域において、下記式(1)より求められる、L表色系で示される原点との色差(E)が0.9以下である、反射防止物品の製造方法
    ={(L+(a+(b1/2 ・・・(1)
  10. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の製造方法により製造されるナノインプリント用モールドを用いて、モールド表面に形成された微細凹凸構造を転写して得られる、表面に微細凹凸構造を有する反射防止物品の製造方法であって、
    可視光の波長領域において、L表色系により測定されるaおよびbの値から、下記式(2)より求められる彩度(C)が0.7以下である、反射防止物品の製造方法
    ={(a+(b1/2 ・・・(2)
  11. 可視光の波長領域内において、入射光に対する反射率の最大値と最小値の差(Δλ)が0.2%以下である、請求項または1に記載の反射防止物品の製造方法
  12. 前記微細凹凸構造は、平均周期が400nm以下の複数の突起からなる、請求項または1に記載の反射防止物品の製造方法
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