JP6251049B2 - 表面形状検査装置 - Google Patents
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Description
2 光源
3 ハーフミラー
4,5 ミラー
6 カメラ(撮像手段)
7 画像処理装置(画像処理手段)
10 被検査体
L0 スリット光(照明光)
L1,L2,L3 反射光
LL 光切断線
LL1〜LL3,LL1’〜LL3’ 光切断線像
Claims (3)
- 被検査体の表面に光切断線を形成する照明光を照射する光源と、前記光切断線の両側に位置して配置され前記被検査体の表面からの反射光の一部を反射させる一対のミラーと、前記光切断線からの反射光のうちさらに前記各ミラーで反射した反射光、及び前記光切断線からの反射光のうち前記一対のミラーの間を通過した反射光を受光して前記光切断線の画像データを出力する撮像手段と、前記画像データに所定の画像処理を行う画像処理手段を備えることを特徴とする表面形状検査装置。
- 光源からの照射光を被検査体の表面へ向けて反射させると共に、被検査体の表面及び一対のミラーからの反射光を透過するハーフミラーを備え、前記ハーフミラーから前記被検査体の表面への照射光の中心と、前記被検査体の表面から前記ハーフミラーを透過して撮像手段へ入射される反射光の中心が、互いに同軸にあることを特徴とする請求項1に記載の表面形状検査装置。
- 被検査体を光切断線と交差する方向へ移動させる移動手段を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の表面形状検査装置。
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