JP6220205B2 - レベル出し装置、及びレベル出し装置を備えた基板処理装置 - Google Patents

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本発明は、レベル出し装置、及びレベル出し装置を備えた基板処理装置に関するものである。
近年、半導体ウェハなどの基板の表面を研磨するために、基板処理装置が用いられている。基板処理装置は、例えば、基板の研磨処理を行うための研磨ユニット、基板の洗浄処理及び乾燥処理を行うための洗浄ユニット、及び基板の搬送処理を行うためのロード/アンロードユニット、などを備えて構成される。基板処理装置は、例えば、ロード/アンロードユニット内に投入された基板を研磨ユニットへ搬送して研磨処理を行い、研磨処理後の基板を洗浄ユニットへ搬送して洗浄及び乾燥処理を行い、乾燥処理が完了した基板をロード/アンロードユニットから基板処理装置外に排出するように構成されている。
基板処理装置は、半導体工場などの稼働場所へ搬入される時には上記の複数のユニットに分割されており、搬入後に各ユニットを組み立てて据え付け作業が行われる。ここで、基板処理装置は、据え付け作業の際にレベル出し作業が行われる。
すなわち、基板処理装置は、基板に対する各種処理を行うために、各ユニットが水平を保っており、かつ、各ユニット間での高さレベルが揃っていることが求められる。そこで、複数のユニットはそれぞれ、ユニットと床(ユニットの設置面)との間に、ユニットの自重を支え、かつ、床からの高さを調整するためのレベル出し装置を備えている。
レベル出し装置は通常、各ユニットに複数設けられている。基板処理装置は、ユニットの各レベル出し装置の高さ調整を行うことによって、ユニットの水平出しを行うことができる。また、基板処理装置は、各ユニットのレベル出し装置の高さ調整を行うことによって、各ユニット間の高さレベルの調整を行うことができる。
レベル出し装置は、一般的には、垂直方向にねじ構造を備えたアジャスターフットが使われている。また、例えば除振装置を備えた基板処理装置は、設置面にくさび状のレベル出し装置をあらかじめ配置しておき、くさび状のレベル出し装置の上にユニットを乗せて高さレベル調整を行う場合があった。
特開平08−243916号公報
しかしながら、従来技術は、基板処理装置の大型化に伴って高さレベル調整が困難になることについて考慮されていない。
すなわち、基板処理装置の高さレベル調整作業は、複数のユニット間の高さレベルの調整を行う必要があるため、複数のユニットを組み立てた状態で行われるのが一般的である。また、高さレベル調整作業は、作業員が基板処理装置の外側のメンテナンス場所からレベル出し装置へアクセスして、例えばレベル出し装置のねじを回すことよって行われる。
このため、作業員は、例えば基板処理装置の外周部を支えるレベル出し装置のように、
メンテナンス場所の近くに位置するレベル出し装置に対してはアクセスし易い。一方、ユニットの奥を支えるレベル出し装置のように、メンテナンス場所から遠い距離にあるレベル出し装置に対しては、作業員がアクセスするのが困難になる場合がある。このようなレベル出し装置に対するアクセスの困難性は、各ユニットのサイズが大きくなり基板処理装置が大型化するにつれて顕著になる。
そこで本願発明は、基板処理装置の大きさに関わらず高さレベル調整を容易に行うことを課題とする。
本願発明のレベル出し装置の一形態は、上記課題に鑑みなされたもので、複数のユニットを組み立てて構成される基板処理装置の少なくとも1つのユニットと該ユニットの設置面との間に設けられ、前記設置面に対する前記少なくとも1つのユニットの高さを調整するためのレベル出し機構と、前記レベル出し機構に接続され、前記レベル出し機構を駆動することによって前記設置面に対する前記少なくとも1つのユニットの高さを調整可能なレベル調整つまみと、前記レベル調整つまみに接続される接続部、該接続部から延伸する延伸部、及び前記延伸部に設けられた操作部を有し、前記操作部に対する操作によって前記レベル調整つまみを介して前記レベル出し機構を駆動可能なレベル調整部材と、を備えたことを特徴とする。
また、前記レベル出し機構は、前記設置面と前記少なくとも1つのユニットとの間に積層され、互いに水平ではない対向面を有する第1部材及び第2部材と、前記第1部材と前記第2部材との間にくさび状に設けられた第3部材と、を備え、前記レベル調整つまみは、前記第3部材をスライド駆動することによって、前記第1部材と前記第2部材との間の距離を調整可能になっていることが好ましい。
また、前記第1部材の前記設置面に対向する面に当接する第1当接部と、該第1当接部から前記第1部材の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第1延伸部と、該第1延伸部にそれぞれ形成された突起状の第1係止部と、を有する第1ガイド部材と、前記第2部材の前記ユニットに対向する面に当接する第2当接部と、該第2当接部から前記第2部材の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第2延伸部と、該第2延伸部にそれぞれ形成され、前記第1係止部にそれぞれ係合する突起状の第2係止部と、を有する第2ガイド部材と、を備え、前記第1係止部と前記第2係止部とが係合することによって、前記第1部材と前記第2部材とが離れる方向の移動を規制する、ガイド部材、をさらに備える、ことができる。
また、前記複数のユニットはそれぞれ、前記基板に対する処理を行うユニット本体と、前記ユニット本体を載置するためのベース部材と、を有し、前記レベル出し装置は、前記ベース部材と前記設置面との間に設けられる、ことが好ましい。
また、本願発明の基板処理装置の一形態は、上記のいずれかのレベル出し装置と、前記レベル出し装置上に設けられ、前記レベル出し装置によって設置面に対する高さの調整が行われるユニットと、を備えたことを特徴とする。
また、前記基板処理装置は、組立てられた複数のユニットを含み、前記レベル出し装置は、前記複数のユニットそれぞれに対して複数設けられる、ことが好ましい。
かかる本願発明によれば、基板処理装置の大きさに関わらず高さレベル調整を容易に行うことができる。
図1は、本実施形態の基板処理装置(研磨装置)の全体構成を示す平面図である。 図2は、研磨ユニットのベース部材、及びレベル出し装置を斜め上から見た斜視図である。 図3は、研磨ユニットのベース部材、及びレベル出し装置を斜め下から見た斜視図である。 図4は、レベル出し装置630bをベース部材610に接続した状態を示す断面図である。 図5は、レベル出し装置630aをベース部材610に接続した状態を示す断面図である。 図6は、本実施形態のレベル出し装置630bの構成を示す図である。 図7は、本実施形態のレベル出し装置630bの構成を示す図である。 図8は、本実施形態のレベル出し装置630bの動作を説明するための図である。 図9は、第2実施形態のレベル出し装置の構成を示す図である。
以下、本願発明の一実施形態に係るレベル出し装置、及び基板処理装置を図面に基づいて説明する。以下の実施形態は、基板処理装置の一例として、CMP(Chemical
Mechanical Polishing)研磨装置を説明するが、これには限られない。以下の実施形態では、はじめに基板処理装置の全体構成について説明し、その後、レベル出し装置について説明する。
(基板処理装置の構成)
図1は、本実施形態に係る基板処理装置(研磨装置)の全体構成を示す平面図で、図1に示すように、本実施形態における研磨装置は、略矩形状のハウジング1を備えており、ハウジング1の内部は隔壁1a,1b,1cによって、ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3(3a,3b)、及び洗浄ユニット4に区画されている。これらのロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3(3a,3b)、及び洗浄ユニット4は、それぞれ独立に組み立てられ、独立に排気される。
ロード/アンロードユニット2は、多数の基板(半導体ウェハ)をストックする基板カセットを載置する2つ以上(本実施形態では4つ)のフロントロード部20を備えている。これらのフロントロード部20は、研磨装置の幅方向(長手方向と垂直な方向)に隣接して配列されている。フロントロード部20には、オープンカセット、SMIF(Standard Manufacturing Interface)ポッド、またはFOUP(Front Opening Unified Pod)等を搭載することができる。ここで、SMIF、FOUPは、内部に基板カセットを収納し、隔壁で覆うことにより、外部空間とは独立した環境を保つことができる密閉容器である。
ロード/アンロードユニット2には、フロントロード部20の並びに沿って走行機構21が敷設されており、この走行機構21上に基板カセットの配列方向に沿って移動可能な搬送ロボット22が設置されている。搬送ロボット22は、走行機構21上を移動することによってフロントロード部20に搭載された基板カセットにアクセスできるようになっている。この搬送ロボット22は、上下に2つのハンドを備えており、例えば、上側のハンドを基板カセットに基板を戻すときに使用し、下側のハンドを研磨前の基板を搬送するときに使用して、上下のハンドを使い分けることができるようになっている。
ロード/アンロードユニット2は最もクリーンな状態を保つ必要がある領域であるため、ロード/アンロードユニット2の内部は、装置外部、研磨ユニット3、及び洗浄ユニット4のいずれよりも高い圧力に常時維持されている。また、搬送ロボット22の走行機構21の上部には、HEPAフィルタやULPAフィルタなどのクリーンエアフィルタを有するフィルタファンユニット(図示せず)が設けられており、このフィルタファンユニットにより、パーティクルや有毒蒸気、ガスが除去されたクリーンエアを常時下方に向かって噴出している。
研磨ユニット3は、基板の研磨が行われる領域であり、第1研磨ユニット30Aと第2研磨ユニット30Bとを内部に有する第1研磨ユニット3aと、第3研磨ユニット30Cと第4研磨ユニット30Dとを内部に有する第2研磨ユニット3bとを備えている。これらの第1研磨ユニット30A、第2研磨ユニット30B、第3研磨ユニット30C、及び第4研磨ユニット30Dは、図1に示すように、装置の長手方向に沿って配列されている。
図1に示すように、第1研磨ユニット30Aは、研磨面を有する研磨テーブル300Aと、基板を保持しかつ基板を研磨テーブル300Aに対して押圧しながら研磨するためのトップリング301Aと、研磨テーブル300Aに砥液やドレッシング液(例えば、水)を供給するための砥液供給ノズル302Aと、研磨テーブル300Aのドレッシングを行うためのドレッサ303Aと、液体(例えば純水)と気体(例えば窒素)の混合流体または液体(例えば純水)を霧状にして、1または複数のノズルから研磨面に噴射するアトマイザ304Aとを備えている。また、同様に、第2研磨ユニット30Bは、研磨テーブル300Bと、トップリング301Bと、砥液供給ノズル302Bと、ドレッサ303Bと、アトマイザ304Bとを備えており、第3研磨ユニット30Cは、研磨テーブル300Cと、トップリング301Cと、砥液供給ノズル302Cと、ドレッサ303Cと、アトマイザ304Cとを備えており、第4研磨ユニット30Dは、研磨テーブル300Dと、トップリング301Dと、砥液供給ノズル302Dと、ドレッサ303Dと、アトマイザ304Dとを備えている。
第1研磨ユニット3aの第1研磨ユニット30A及び第2研磨ユニット30Bと洗浄ユニット4との間には、長手方向に沿った4つの搬送位置(ロード/アンロードユニット2側から順番に第1搬送位置TP1、第2搬送位置TP2、第3搬送位置TP3、第4搬送位置TP4とする)の間で基板を搬送する第1リニアトランスポータ5が配置されている。この第1リニアトランスポータ5の第1搬送位置TP1の上方には、ロード/アンロードユニット2の搬送ロボット22から受け取った基板を反転する反転機31が配置されており、その下方には、上下に昇降可能なリフタ32が配置されている。また、第2搬送位置TP2の下方には上下に昇降可能なプッシャ33が、第3搬送位置TP3の下方には上下に昇降可能なプッシャ34がそれぞれ配置されている。なお、第3搬送位置TP3と第4搬送位置TP4との間にはシャッタ12が設けられている。また、図1に示すように、反転機31と搬送ロボット22との間にはシャッタ10が設置されており、基板の搬送時にはシャッタ10を開いて搬送ロボット22と反転機31との間で基板の受け渡しが行われる。
第2研磨ユニット3bには、第1リニアトランスポータ5に隣接して、長手方向に沿った3つの搬送位置(ロード/アンロードユニット2側から順番に第5搬送位置TP5、第6搬送位置TP6、第7搬送位置TP7とする)の間で基板を搬送する第2リニアトランスポータ6が配置されている。この第2リニアトランスポータ6の第6搬送位置TP6の下方にはプッシャ37が、第7搬送位置TP7の下方にはプッシャ38が配置されている。なお、第5搬送位置TP5と第6搬送位置TP6との間にはシャッタ13が設けられている。
研磨時に砥液(スラリ)を使用することを考えるとわかるように、研磨ユニット3は最もダーティな(汚れた)領域である。したがって、この例では、研磨ユニット3内のパーティクルが外部に飛散しないように、各研磨テーブルの周囲から排気が行われており、研磨ユニット3の内部の圧力を、装置外部、周囲の洗浄ユニット4、ロード/アンロードユニット2よりも負圧にすることでパーティクルの飛散を防止している。また、通常、研磨テーブルの下方には排気ダクト(図示せず)が、上方にはフィルタ(図示せず)がそれぞれ設けられ、これらの排気ダクト及びフィルタを介して清浄化された空気が噴出され、ダウンフローが形成される。
各研磨ユニット30A,30B,30C,30Dは、それぞれ隔壁で仕切られて密閉されており、密閉されたそれぞれの研磨ユニット30A,30B,30C,30Dから個別に排気が行われている。したがって、基板は、密閉された研磨ユニット30A,30B,30C,30D内で処理され、スラリの雰囲気の影響を受けないため、良好な研磨を実現することができる。各研磨ユニット30A,30B,30C,30D間の隔壁には、図1に示すように、リニアトランスポータ5,6が通るための開口が開けられている。この開口にそれぞれシャッタを設けて、基板が通過する時だけシャッタを開けるようにしてもよい。
図1に示すように、研磨ユニット30Aを内部に収容するチャンバの外壁には、正常運転時はロックされ、異常検知後に開錠することが可能なメンテナンス用扉500が開閉自在に設置されている。このメンテナンス用扉500は、操作パネルの画面上でロック解除の操作を行う電磁ロックにより安全かつ容易に開閉できるようになっている。同様に、研磨ユニット30Bを内部に収容するチャンバの外壁にはメンテナンス用扉502が、研磨ユニット30Cを内部に収容するチャンバの外壁にはメンテナンス用扉504が、研磨ユニット30Dを内部に収容するチャンバの外壁にはメンテナンス用扉506がそれぞれ開閉自在に設置されている。
洗浄ユニット4は、研磨後の基板を洗浄する領域であり、基板を反転させる反転機41と、基板を仮置きする仮置き台130と、研磨後の基板を洗浄する4つの洗浄機42〜45と、反転機41及び洗浄機42〜45の間で基板を搬送する搬送ユニット46とを備えている。これらの反転機41及び洗浄機42〜45は、長手方向に沿って直列に配置されている。また、これらの洗浄機42〜45の上部には、クリーンエアフィルタを有するフィルタファンユニット(図示せず)が設けられており、このフィルタファンユニットによりパーティクルが除去されたクリーンエアが常時下方に向かって噴出している。また、洗浄ユニット4の内部は、研磨ユニット3からのパーティクルの流入を防止するために研磨ユニット3よりも高い圧力に常時維持されている。
反転機41および洗浄機42〜45は、洗浄中に外部に使用流体が飛散しないように、それぞれ開閉自在なシャッタ48,49,50,51,52によって区画された各チャンバ内に収容されている。
反転機41を内部に収容するチャンバの外壁には、正常運転時はロックされ、異常検知後に開錠することにより、作業者が出入りできるように開閉するメンテナンス用扉508が開閉自在に設置されている。このメンテナンス用扉508も前述と同様に、操作パネルの画面上でロック解除の操作を行う電磁ロックにより安全かつ容易に開閉できるようになっている。
また、反転機41を内部に収容するチャンバの外壁に設けられたメンテナンス用扉508には、メンテナンス用扉508を開くことなく、基板を手で出し入れできるように、基
板出し入れ用扉510が開閉自在に設置されている。研磨装置の洗浄ユニット4の1次洗浄機42を内部に収容するチャンバの外壁には、前記基板出し入れ用扉510とほぼ同じ大きさの基板出し入れ用扉514が開閉自在に設置されている。洗浄ユニット4の2次洗浄機43を内部に収容するチャンバの外壁には基板出し入れ用扉516が、洗浄ユニット4の3次洗浄機44を内部に収容するチャンバの外壁には基板出し入れ用扉518が、洗浄ユニット4の4次洗浄機45を内部に収容するチャンバの外壁には基板出し入れ用扉520がそれぞれ設置されている。
図1に示すように、第1リニアトランスポータ5と第2リニアトランスポータ6との間には、第1リニアトランスポータ5、第2リニアトランスポータ6、及び洗浄ユニット4の反転機41の間で基板を搬送するスイングトランスポータ(基板搬送機構)7が配置されている。このスイングトランスポータ7は、第1リニアトランスポータ5の第4搬送位置TP4から第2リニアトランスポータ6の第5搬送位置TP5へ、第2リニアトランスポータ6の第5搬送位置TP5から反転機41へ、第1リニアトランスポータ5の第4搬送位置TP4から反転機41へそれぞれ基板を搬送できるようになっている。
フロントロード部20内に搭載された基板カセットの開口部と装置の間には、シリンダにより上下に駆動され、カセット搭載エリアと装置内を遮断するシャッタ(図示せず)が配置されている。このシャッタは、基板カセットに対して搬送ロボット22が基板を出し入れしている場合を除き、閉じられている。
図1に示すように、ロード/アンロードユニット2の側部には、基板の膜厚を測定する膜厚測定器(In-line Thickness Monitor:ITM)8が設置されており、搬送ロボット22は、膜厚測定器8にもアクセスできるようになっている。この膜厚測定器8は、搬送ロボット22から研磨前または研磨後の基板を受け取り、この基板の膜厚を測定する。この膜厚測定器8において得られた測定結果に基づいて研磨条件等を適切に調整すれば、研磨精度を上げることができる。
(レベル出し装置の第1実施形態)
次に、レベル出し装置の第1実施形態について説明する。上述のように、基板処理装置は、ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3a、研磨ユニット3b、及び洗浄ユニット4を備える。これら4つのユニットはそれぞれ独立して製造され、基板処理装置の設置場所(稼働場所)へ搬送される。基板処理装置は、搬送されてきた4つのユニットを組み立てて据え付け作業が行われる。ここで、基板処理装置は、据え付け作業の際にレベル出し作業が行われる。
すなわち、ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3a、研磨ユニット3b、及び洗浄ユニット4はそれぞれ、基板に対する処理を適切に行うために水平を保っていることが求められる。また、ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3a、研磨ユニット3b、及び洗浄ユニット4は、相互に基板の受け渡しを行うため、各ユニット間の高さレベルが揃っていることが求められる。そこで、ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3a、研磨ユニット3b、及び洗浄ユニット4はそれぞれ、ユニットと床(ユニットの設置面)との間に、ユニットの自重を支え、かつ、床からの高さを調整するためのレベル出し装置を備えている。
以下、4つのユニットの代表として、研磨ユニット3aに対するレベル出し装置について説明する。図2は、研磨ユニットのベース部材、及びレベル出し装置を斜め上から見た斜視図である。図3は、研磨ユニットのベース部材、及びレベル出し装置を斜め下から見た斜視図である。なお、ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3b、及び洗浄ユニット4にも、研磨ユニット3aと同様にレベル出し装置が設けられる。
研磨ユニット3aは、ユニット本体600(図3)を載置するためのベース部材(土台)610を備えている。ユニット本体600には、上述した研磨テーブル300A,300B、トップリング301A,301B、砥液供給ノズル302A,302B、ドレッサ303A,303B、アトマイザ304A,304Bなどの各種処理部が含まれる。なお、図2では、ユニット本体600の図示を省略している。
図2,3に示すように、本実施形態では、ベース部材610と研磨ユニット3aの設置面との間に、複数のレベル出し装置630が設けられている。レベル出し装置630はそれぞれ、研磨ユニット3aの大きな荷重(重量)が掛かる部分に設けられている。なお、研磨ユニット3aの軽負荷を受ける場所や研磨ユニット3aの水平レベル出しに影響しない部分には、垂直方向にねじ構造を備えたアジャスターフット型のレベル出し装置620を設けることができる。
ここで、レベル出し装置630には、作業員がレベル出し作業を行うためのメンテナンス場所から近い場所に位置するレベル出し装置630aと、メンテナンス場所から遠い場所に位置するレベル出し装置630bと、が含まれる。
レベル出し装置630aとレベル出し装置630bはそれぞれ、ベース部材610に接続される。図4は、レベル出し装置630bをベース部材610に接続した状態を示す断面図である。図5は、レベル出し装置630aをベース部材610に接続した状態を示す断面図である。
図4に示すように、ボルト671を、ワッシャー672及びベース部材610に形成された貫通孔612を介して、レベル出し装置630bに形成された孔649に螺合させることによって、レベル出し装置630bはベース部材610に固定される。また、図5に示すように、ボルト673を、ナット674、ワッシャー675、及び貫通孔612を介して、孔649に螺合させることによって、レベル出し装置630aはベース部材610に固定される。
ところで、図2の領域Aには、研磨ユニット3aに隣接してロード/アンロードユニット2が設置される。領域Bには、研磨ユニット3aに隣接して洗浄ユニット4が設置される。領域Cには、研磨ユニット3aに隣接して研磨ユニット3bが設置される。したがって、研磨ユニット3aに対するレベル出し作業を行うためのメンテナンス場所は領域Dとなる。その結果、領域Dのメンテナンス場所の近くに位置するレベル出し装置630aは、作業員がアクセスし易く(手が届きやすく)、領域Dのメンテナンス場所の遠くに位置するレベル出し装置630bは、作業員がアクセスし難くなる(手が届き難くなる)。レベル出し装置630bに対するアクセスの困難性は、研磨ユニット3aのサイズが大きくなり基板処理装置が大型化するにつれて顕著になる。
そこで、本実施形態では、メンテナンス場所の遠くに位置していてもアクセスし易いレベル出し装置630bを実現している。以下、レベル出し装置630bについて説明する。図6,7は、本実施形態のレベル出し装置630bの構成を示す図である。図8は、本実施形態のレベル出し装置630bの動作を説明するための図である。なお、レベル出し装置630aは、図6,7で示すレベル出し装置630bの構成と同様である。
図6〜8に示すように、レベル出し装置630bは、設置面690に対する研磨ユニット3aの高さを調整するためのレベル出し機構640と、レベル出し機構640に接続されたレベル調整つまみ650と、レベル調整つまみ650に接続されたレベル調整部材660と、を備える。
レベル出し機構640は、設置面690と研磨ユニット3aとの間に積層された第1部材642及び第2部材644を備える。第1部材642及び第2部材644には、互いに水平ではない対向面642a,644aが形成される。対向面642a,644aは、側面視でくさび状になるように形成されている。また、レベル出し機構640は、第1部材642と第2部材644との間にくさび状に設けられた第3部材646を備える。また、レベル出し機構640は、第1部材642の上部に設けられた略円形状の第4部材648を備える。また、第2部材644には、レベル出し装置630bをベース部材610に固定するためのボルトが貫通する孔649が形成されている。
レベル調整つまみ650は、レベル出し機構640(第3部材646)を駆動することによって設置面690に対する研磨ユニット3aの高さを調整可能な部材である。具体的には、レベル調整つまみ650を回転させることにより、レベル調整つまみ650と連動する図示していないボルトが回転し、ボルトの回転によって第3部材646がスライド駆動される。
レベル調整部材660は、レベル調整つまみ650に接続される接続部662、接続部662から延伸する棒状の延伸部(ロッド)664、及び延伸部664に設けられた操作部666を有する。本実施形態では、延伸部664の第1の端部に接続部662が設けられ、延伸部664の第2の端部に操作部666が設けられているが、これには限られない。また、接続部662は、連結部材663を介してベース部材610に連結される。
レベル調整部材660は、操作部666に対する操作によってレベル調整つまみ650を介してレベル出し機構640(第3部材646)を駆動可能になっている。具体的には、作業員が操作部666に工具を挿入して、工具を用いて操作部666を延伸部664の延伸軸回りに回転させることによって、延伸部664が回転し、これに連動して接続部662及びレベル調整つまみ650が回転する。本実施形態では、作業員が操作部666に工具を挿入して、工具を用いてレベル調整つまみ650を回転させる例を示したが、これには限られない。作業員が電動器具等を用いて操作部666を回転させることもできる。
例えば、図8Aに示すように、レベル調整部材660を介してレベル調整つまみ650を一方向(例えば反時計回り)に回転させると、第3部材646がレベル調整つまみ650から遠ざかる方向にスライド駆動される。第3部材646がレベル調整つまみ650から遠ざかる方向にスライド駆動されると、第2部材644が設置面690に近づく方向に移動し、第1部材642と第2部材644とが相対的に近づく。
一方、図8Bに示すように、レベル調整部材660を介してレベル調整つまみ650を反対方向(例えば時計周り)に回転させると、第3部材646がレベル調整つまみ650に近づく方向にスライド駆動される。第3部材646がレベル調整つまみ650に近づく方向にスライド駆動されると、第2部材644が設置面690から遠ざかる方向に移動し、第1部材642と第2部材644とが相対的に離れる。
さらに、図8Cに示すように、レベル調整部材660を介してレベル調整つまみ650を図8Bと同様の方向(例えば時計周り)に回転させると、第3部材646がレベル調整つまみ650に近づく方向にスライド駆動される。第3部材646がレベル調整つまみ650に近づく方向にスライド駆動されると、第2部材644が設置面690からさらに遠ざかる方向に移動し、第1部材642と第2部材644とがさらに相対的に離れる。
本実施形態によれば、レベル調整部材660を設けていることによって、レベル出し機構640(第3部材646)を駆動するための操作部666がメンテナンス場所、又はメ
ンテナンス場所の近くに位置することになる。このため、作業員は、メンテナンス場所から遠い場所に位置するレベル出し装置630bに対しても容易にアクセスすることができる。その結果、本実施形態によれば、基板処理装置の大きさに関わらず研磨ユニット3aの高さレベル調整(水平レベル調整)を容易に行うことができる。また、ロード/アンロードユニット2、研磨ユニット3b、及び洗浄ユニット4についても、研磨ユニット3aと同様に高さレベル調整(水平レベル調整)を容易に行うことができる。
(第2実施形態)
次に、第2実施形態のレベル出し装置について説明する。第2実施形態のレベル出し装置は、第1実施形態のレベル出し装置の構成に加えて、レベル出し装置をユニットに接続した状態で搬送する際の分解を防止するためのガイド部材を設けたものである。第1実施形態と同様の構成については詳細な説明を省略する。
くさび状のレベル出し装置は、設置面にあらかじめ配置され、設置面に配置されたくさび状のレベル出し装置の上にユニットを乗せて高さレベル調整を行うのが一般的であった。
すなわち、上述のように、くさび状のレベル出し装置630は、第1部材642、第2部材644、及び第3部材646(及び第4部材648)という複数の部材を重ねて構成される。このようなレベル出し装置630をベース部材610に接続した状態で研磨ユニット3aを持ち上げて搬送すると、レベル出し装置630の複数の部材が分解されるか、又はレベル出し装置630の複数の部材が中途半端に外れた状態になるおそれがある。仮にレベル出し装置630の複数の部材が中途半端に外れた状態になったら、設置面690に着地させたときに誤った噛み状態となるおそれがある。また、例えば図4に示すように、ボルト頭部とワッシャーとの間に隙間α(例えば、1mm程度)の設定でロックタイト留めすると、ユニットの搬送時にレベル出し装置630が隙間分下がってぶら下がった状態になるので、組み立て時にレベル出し装置630そのものが回ってしまうおそれがある。
これに対して、第2実施形態のレベル出し装置は、レベル出し装置の複数の部材が搬送時に分解されるのを防止するためのガイド部材を備えている。図9は、第2実施形態のレベル出し装置の構成を示す図である。
図9に示すように、レベル出し装置730は、第1部材642と第2部材644とが離れる方向の移動を規制するためのガイド部材740を有する。ガイド部材740は、第1ガイド部材750と第2ガイド部材760とを有する。
第1ガイド部材750は、第1部材642の設置面690に対向する面(第1部材642の底面)に当接する板状の第1当接部752と、第1当接部752から第1部材642の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第1延伸部754と、第1延伸部754にそれぞれ形成された突起状の第1係止部756と、を有する。具体的には、第1係止部756は、第1延伸部754の端部から第3部材646の方向へ突出している。
第2ガイド部材760は、第2部材644の研磨ユニット3aに対向する面(第2部材644の天面)に当接する板状の第2当接部762と、第2当接部762から第2部材644の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第2延伸部764と、第2延伸部764にそれぞれ形成され、第1係止部756にそれぞれ係合する突起状の第2係止部766と、を有する。具体的には、第2延伸部764は、第2部材644の側面に沿って延伸した後、第3部材646側へ折れ曲がり再び第2部材644の側面に沿って延伸する。第2係止部766は、第2延伸部764の端部から、第3部材646から離れる方向へ突出してい
る。
第1係止部756と第2係止部766とが係合することによって、第1部材642と第2部材644は、互いに離れる方向の移動を規制される。したがって、本実施形態によれば、レベル出し装置730をベース部材610に接続した状態で研磨ユニット3aを搬送しても、レベル出し装置730の複数の部材(例えば、第1部材642、第2部材644、及び第3部材646)が分解されるのを抑制することができる。
なお、ガイド部材740は、第1部材642と第2部材644が互いに離れる方向の移動を規制するが、第1部材642と第2部材644が互いに近づく方向の移動は規制しない。例えば、図9に示すように、第1係止部756と第2係止部766とが係合した状態から、図8Aに示すようにレベル調整つまみ650を回転させると、第2部材644が設置面690に近づく方向に移動し、第1部材642と第2部材644とが相対的に近づく。また、第1部材642と第2部材644とが相対的に近づいた状態から、図8Bに示すようにレベル調整つまみ650を回転させると、第1係止部756と第2係止部766とが係合するまでは、第2部材644が設置面690から遠ざかる方向に移動し、第1部材642と第2部材644とが相対的に遠ざかる。したがって、研磨ユニット3aの水平レベル出し、及び各ユニット間の高さ調整を行うことができる。また、第2実施形態では、図4に示したようなボルト671に代えて、植込みボルトとダブルナットを使って、レベル出し装置730をベース部材610に接続することができる。
以上説明したように、本発明は以下の形態を有する。
[形態1]
複数のユニットを組み立てて構成される基板処理装置の少なくとも1つのユニットと該ユニットの設置面との間に設けられ、前記設置面に対する前記少なくとも1つのユニットの高さを調整するためのレベル出し機構と、
前記レベル出し機構に接続され、前記レベル出し機構を駆動することによって前記設置面に対する前記少なくとも1つのユニットの高さを調整可能なレベル調整つまみと、
前記レベル調整つまみに接続される接続部、該接続部から延伸する延伸部、及び前記延伸部に設けられた操作部を有し、前記操作部に対する操作によって前記レベル調整つまみを介して前記レベル出し機構を駆動可能なレベル調整部材と、
を備えたことを特徴とするレベル出し装置。
[形態2]
形態1のレベル出し装置において、
前記レベル出し機構は、前記設置面と前記少なくとも1つのユニットとの間に積層され、互いに水平ではない対向面を有する第1部材及び第2部材と、前記第1部材と前記第2部材との間にくさび状に設けられた第3部材と、を備え、
前記レベル調整つまみは、前記第3部材をスライド駆動することによって、前記第1部
材と前記第2部材との間の距離を調整可能になっている、
ことを特徴とするレベル出し装置。
[形態3]
形態2のレベル出し装置において、
前記第1部材の前記設置面に対向する面に当接する第1当接部と、該第1当接部から前記第1部材の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第1延伸部と、該第1延伸部にそれぞれ形成された突起状の第1係止部と、を有する第1ガイド部材と、
前記第2部材の前記ユニットに対向する面に当接する第2当接部と、該第2当接部から前記第2部材の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第2延伸部と、該第2延伸部にそれぞれ形成され、前記第1係止部にそれぞれ係合する突起状の第2係止部と、を有する第2ガイド部材と、を備え、
前記第1係止部と前記第2係止部とが係合することによって、前記第1部材と前記第2部材とが離れる方向の移動を規制する、ガイド部材、をさらに備える、
ことを特徴とするレベル出し装置。
[形態4]
形態1〜3のいずれか1項のレベル出し装置において、
前記複数のユニットはそれぞれ、前記基板に対する処理を行うユニット本体と、前記ユニット本体を載置するためのベース部材と、を有し、
前記レベル出し装置は、前記ベース部材と前記設置面との間に設けられる、
ことを特徴とするレベル出し装置。
[形態5]
形態1〜4のいずれか1項のレベル出し装置と、
前記レベル出し装置上に設けられ、前記レベル出し装置によって設置面に対する高さの調整が行われるユニットと、
を備えたことを特徴とする基板処理装置。
[形態6]
形態5の基板処理装置において、
前記基板処理装置は、組立てられた複数のユニットを含み、
前記レベル出し装置は、前記複数のユニットそれぞれに対して複数設けられる、
ことを特徴とする基板処理装置。
2 ロード/アンロードユニット
3,3a,3b 研磨ユニット
4 洗浄ユニット
600 ユニット本体
610 ベース部材
630,630b,730 レベル出し装置
640 レベル出し機構
642a,644a 対向面
642 第1部材
644 第2部材
646 第3部材
648 第4部材
650 レベル調整つまみ
660 レベル調整部材
662 接続部
664 延伸部
666 操作部
690 設置面
740 ガイド部材
750 第1ガイド部材
752 第1当接部
754 第1延伸部
756 第1係止部
760 第2ガイド部材
762 第2当接部
764 第2延伸部
766 第2係止部

Claims (4)

  1. 複数のユニットを組み立てて構成される基板処理装置の少なくとも1つのユニットと該ユニットの設置面との間に設けられ、前記設置面に対する前記少なくとも1つのユニットの高さを調整するためのレベル出し機構と、
    前記レベル出し機構に接続され、前記レベル出し機構を駆動することによって前記設置面に対する前記少なくとも1つのユニットの高さを調整可能なレベル調整つまみと、
    前記レベル調整つまみに接続される接続部、該接続部から延伸する延伸部、及び前記延伸部に設けられた操作部を有し、前記操作部に対する操作によって前記レベル調整つまみを介して前記レベル出し機構を駆動可能なレベル調整部材と、
    を備えたレベル出し装置であって、
    前記レベル出し機構は、前記設置面と前記少なくとも1つのユニットとの間に積層され、互いに水平ではない対向面を有する第1部材及び第2部材と、前記第1部材と前記第2部材との間にくさび状に設けられた第3部材と、を備え、
    前記レベル調整つまみは、前記第3部材をスライド駆動することによって、前記第1部材と前記第2部材との間の距離を調整可能になっており、
    前記第1部材の前記設置面に対向する面に当接する第1当接部と、該第1当接部から前記第1部材の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第1延伸部と、該第1延伸部にそれぞれ形成された突起状の第1係止部と、を有する第1ガイド部材と、
    前記第2部材の前記ユニットに対向する面に当接する第2当接部と、該第2当接部から前記第2部材の対向する側面に沿ってそれぞれ延伸する第2延伸部と、該第2延伸部にそれぞれ形成され、前記第1係止部にそれぞれ係合する突起状の第2係止部と、を有する第2ガイド部材と、を備え、
    前記第1係止部と前記第2係止部とが係合することによって、前記第1部材と前記第2部材とが離れる方向の移動を規制する、ガイド部材、を前記レベル出し装置は、さらに備える、
    ことを特徴とするレベル出し装置。
  2. 請求項1のレベル出し装置において、
    前記複数のユニットはそれぞれ、前記基板に対する処理を行うユニット本体と、前記ユニット本体を載置するためのベース部材と、を有し、
    前記レベル出し装置は、前記ベース部材と前記設置面との間に設けられる、
    ことを特徴とするレベル出し装置。
  3. 請求項1または2のレベル出し装置と、
    前記レベル出し装置上に設けられ、前記レベル出し装置によって設置面に対する高さの調整が行われるユニットと、
    を備えたことを特徴とする基板処理装置。
  4. 請求項の基板処理装置において、
    前記基板処理装置は、組立てられた複数のユニットを含み、
    前記レベル出し装置は、前記複数のユニットそれぞれに対して複数設けられる、
    ことを特徴とする基板処理装置。
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