JP6218338B2 - 光ビームのスペクトルを分析するための分光計 - Google Patents
光ビームのスペクトルを分析するための分光計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6218338B2 JP6218338B2 JP2015544521A JP2015544521A JP6218338B2 JP 6218338 B2 JP6218338 B2 JP 6218338B2 JP 2015544521 A JP2015544521 A JP 2015544521A JP 2015544521 A JP2015544521 A JP 2015544521A JP 6218338 B2 JP6218338 B2 JP 6218338B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light beam
- polarization
- spectrometer
- separated
- wavelengths
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims description 27
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 110
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 99
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 84
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 76
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 71
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 27
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 8
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 22
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 11
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 10
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 239000006210 lotion Substances 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 2
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N (2,5-dioxopyrrolidin-1-yl) 4-pyren-1-ylbutanoate Chemical compound C=1C=C(C2=C34)C=CC3=CC=CC4=CC=C2C=1CCCC(=O)ON1C(=O)CCC1=O YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021532 Calcite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004497 NIR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0224—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using polarising or depolarising elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/021—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or particular reflectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/1804—Plane gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/447—Polarisation spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1208—Prism and grating
Description
−回折次数+1における回折効率と回折次数−1における回折効率との和は非常に高く、典型的に90%よりも高い。
−回折次数+1及び回折次数−1で回折された光ビームの相対強度は、入射光ビームの偏光状態の関数であり、かつ入射光ビームの偏光状態に従って回折次数+1及び回折次数−1で回折された光ビームの全強度の0%と100%の間で変えることができる。
−分光計は、複数の波長の各波長に対して、複数の回折光ビームの光強度を測定し、かつ上流光ビームのスペクトルを表す信号を送出するようになった検出手段を含み、
−分光計は、複数の波長の関数として角度的に回折された複数の回折光ビームをフォーカスするための手段であって、フォーカス手段が、複数の波長の各波長に対して、複数の回折光ビームを像平面上又は検出手段上にフォーカスするようになった上記フォーカスするための手段を含み、
−偏光−調整手段は、複数の波長に対して、複数の波長で第1の分離光ビームから第1の調整偏光光ビームを発生させるようになった第1の光学偏光−調整器構成要素と、複数の波長に対して、複数の波長で第2の分離光ビームから第2の調整偏光光ビームを発生させるようになった第2の光学偏光−調整器構成要素とを含み、
−偏光−分離手段は、入口で上流光ビームを捕捉し、それを出口で上流光ビームから第1の分離光ビームと第2の分離光ビームを複数の波長に対して発生させるようになった少なくとも1つの光学偏光−分離器構成要素に向けて誘導するようになった第1の光学系を含み、
−第1の光学系は、上流光ビームの光線が、第1の光学系の出口で全て互いに平行であるように配置され、偏光−分離手段はまた、複数の波長に対して、一方で第1の分離光ビームを入口で捕捉してそれを第1の光学偏光−調整器構成要素上にフォーカスし、他方で第2の分離偏光光ビームを捕捉してそれを第2の光学偏光−調整器構成要素上にフォーカスするようになった第2の光学系を含み、
−光学偏光−分離器構成要素は、第1の分離光ビームと第2の分離光ビームが直交直線偏光状態を有するように構成されたウォラストンプリズム、ロションプリズム、セナルモンプリズム、又はビーム変位器プリズムを含み、第1の光学偏光−調整器構成要素は、第1の遅軸を有する第1の4分の1波長遅延板を含み、第2の光学偏光−調整器構成要素は、第1の遅軸に対して垂直な第2の遅軸を有する第2の4分の1波長遅延板を含み、
−光学偏光−分離器構成要素は、別の偏光−分離回折格子を含み、これは、複数の波長に対して、他方の偏光−分離回折格子の回折次数+1又は回折次数−1のいずれかである第1の回折次数で回折され、かつ第1の円形偏光状態を有する第1の分離光ビームと、他方の偏光−分離回折格子の回折次数+1又は回折次数−1のいずれかであり、第1の回折次数とは異なる第2の回折次数で回折され、かつ第1の偏光状態に対して直交する第2の円形偏光状態を有する第2の分離光ビームとに上流光ビームを回折させるようになっており、
−第1の光学偏光−調整器構成要素は、第1の光学偏光−調整器構成要素を通過する第1の分離光ビームの偏光状態を逆転させる2分の1波長遅延板を含み、第2の光学偏光−調整器構成要素は、第2の光学偏光−調整器構成要素を通過する第2の分離光ビームの偏光状態を修正しない平行面中立板を含み、
−分光計は、加算又は減算構成でカスケードされた複数の分散段を含み、
−有利なことに、例えばツェルニー ターナー構成において、偏光−分離回折格子は、多チャネル検出器の中心波長又は単一チャネル検出器のスリットの出口での波長のいずれかを調節するために回転移動可能に装着され、
−角度分散手段は、調整光ビームを捕捉する入口面と偏光−分離回折格子が配置された出口面とを有するプリズムを含み、
−検出手段は、多チャネル検出器を含み
−検出手段は、スリットと単一チャネル検出器とを含む。
−第1の4分の1波長遅延板1121を通る直線偏光状態を有する第1の分離光ビーム11の透過によって発生される第1の調整偏光光ビーム21は、この遅延板の出口で円形偏光状態を有し、
−第2の4分の1波長遅延板1122を通る直線偏光状態を有する第2の分離光ビーム12の透過によって発生される第2の調整偏光光ビーム22は、この遅延板の出口で円形偏光状態を有する。
−2分の1波長板1121を通る左周り円形偏光状態を有する第1の分離光ビーム11の透過によって発生される第1の調整偏光光ビーム21は、この2分の1波長板の出口で右周り円形偏光状態を有し、
−4分の1波長中立板1122を通る右周り円形偏光状態を有する第2の分離光ビーム12の透過によって発生される第2の調整偏光光ビーム22は、この中立板の出口で右周り円形偏光状態を有する。
図3には、本発明の第1の実施形態による分光計100を示している。
図4には、本発明の第1の実施形態の変形による分光計100を示している。
図6には、本発明の第2の実施形態による分光計200を示している。
図7には、本発明の第3の実施形態による分光計300を示している。
次いで、図8に、本発明の第2の実施形態の変形による分光計300を示している。
図9には、本明細書では減算構成でカスケードされる2つの連続分散段500A、500Bを含む第1の単色光分光器500を示している。
図10には、本明細書では加算構成でカスケードされた2つの連続分散段500A,500Bを含む第1の単色光分光器500の変形を示している。
図11には、減算構成でカスケードされた第1の分散段600A及び第2の分散段600Bと、簡単な第3の分散段600Cとの3つの連続分散段を含む単色光分光器600の第2の実施形態を示している。
図12には、本明細書では加算構成でカスケードされた2つの連続分散段600A,600Bと、図11に示す単色光分光器600のものと同じ第3の分散段600Cとを含む第2の単色光分光器600の変形を示している。
20 調整光ビーム
31、32、33 回折光ビーム
100 分光計
101 入口スリット
130 角度分散手段
Claims (12)
- −上流光ビーム(1)を通すようになった入口スリット(101)と、
−調整光ビーム(20)を複数の波長(λ1,λ2,λ3)の関数として複数の回折光ビーム(31,32,33)に角度的に分散させるようになった角度分散手段(130;230;260;330;430;500A,500B;600A,600B,600C)と、
を含む上流光ビーム(1)のスペクトルを分析するための分光計(100;200;300;500;600)であって、
前記角度分散手段(130,230;260;330;430;500A,500B;600A,600B)は、前記調整光ビーム(20)が、円である予め決められた調整偏光状態を有するときに、前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して、回折次数+1又は回折次数−1のいずれかである偏光−分離回折格子(130;231,232,233;330;432;531A,531B)の同じ特定の回折次数で該調整光ビーム(20)を前記複数の回折光ビーム(31,32,33)に回折させるようになった少なくとも1つの偏光−分離回折格子(130;231,232,233;330;432;531A,531B)を含み、
分光計(100;200;300;500;600)が、偏光−修正手段(1100)を含み、該手段は、前記入口スリット(101)と前記角度分散手段(130,230;260;330;430;500A,500B;600A,600B)の間に配置され、かつ前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して前記上流光ビーム(1)の偏光状態を修正し、前記予め決められた調整偏光状態に従う前記調整光ビーム(20)を発生させるようになっており、該偏光−修正手段(1100)は、
−前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して、互いに直交する偏光状態を有する第1の分離光ビーム(11)と第2の分離光ビーム(12)とを前記上流光ビーム(1)から発生させるようになった偏光−分離手段(1110)と、
−前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して、前記第1の分離光ビーム(11)から第1の調整偏光光ビーム(21)及び前記第2の分離光ビーム(12)から第2の調整偏光光ビーム(22)を発生させるようになった偏光−調整手段(1120)であって、該第1の調整偏光光ビーム(21)と該第2の調整偏光光ビーム(22)が、円である同じ偏光状態を有し、該第1の調整偏光光ビーム(21)と該第2の調整偏光光ビーム(22)が、該同じ円形偏光状態を有する前記調整光ビーム(20)を形成する前記偏光−調整手段(1120)と
を含む、
ことを特徴とする分光計(100;200;300;500;600)。 - 前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)の各波長に対して前記複数の回折光ビーム(31,32,33)の光強度を測定し、かつ前記上流光ビーム(1)の前記スペクトルを表す信号を送出するようになった検出手段(150)を含むことを特徴とする請求項1に記載の分光計(100;200;300)。
- 前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に従って角度的に回折された前記複数の回折光ビーム(31,32,33)のフォーカス手段(140;260;340;540)であって、該複数の波長(λ1,λ2,λ3)の各波長に対して該複数の回折光ビーム(31,32,33)を像平面(505,605)上又は前記検出手段(150)上にフォーカスするようになった前記フォーカス手段(140;260;340;540)を含むことを特徴とする請求項2に記載の分光計(100;200;300;500;600)。
- 前記偏光−調整手段(1120)は、
−前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して該複数の波長で前記第1の分離光ビーム(11)から前記第1の調整偏光光ビーム(21)を発生させるようになった第1の光学偏光−調整器構成要素(1121)と、
−前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して該複数の波長で前記第2の分離光ビーム(12)から前記第2の調整偏光光ビーム(22)を発生させるようになった第2の光学偏光−調整器構成要素(1122)と
を含む、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の分光計(100;200;300;500;600)。 - 前記偏光−分離手段(1110)は、
−入口で前記上流光ビーム(1)を捕捉し、それを出口で前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して該上流光ビーム(1)から前記第1の分離光ビーム(11)と前記第2の分離光ビーム(12)を発生させるようになった少なくとも1つの光学偏光−分離器構成要素(1113)に向けて誘導するようになった第1の光学系(1111)
を含むことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の分光計(100;200;300;500;600)。 - −前記第1の光学系(1111)は、前記上流光ビーム(1)の光線が該第1の光学系(1111)の前記出口で全て互いに平行であるように配置され、
−前記偏光−分離手段(1110)はまた、前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して、一方で前記第1の分離光ビーム(11)を前記入口で捕捉してそれを前記第1の光学偏光−調整器構成要素(1121)上にフォーカスし、他方で前記第2の分離光ビーム(12)を捕捉してそれを前記第2の光学偏光−調整器構成要素(1122)上にフォーカスするようになった第2の光学系(1112)を含む
ことを特徴とする請求項5に記載の分光計(100;200;300;500;600)。 - −前記光学偏光−分離器構成要素(1113)は、前記第1の分離光ビーム(11)と前記第2の分離光ビーム(12)が互いに直交する直線偏光状態を有するように構成されたウォラストンプリズム、ロションプリズム、セナルモンプリズム、又はビーム変位器プリズムを含み、
−前記第1の光学偏光−調整器構成要素(1121)は、第1の遅軸を有する第1の4分の1波長遅延板を含み、前記第2の光学偏光−調整器構成要素(1122)は、該第1の遅軸に対して垂直な第2の遅軸を有する第2の4分の1波長遅延板を含む
ことを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の分光計(100;200;300;500;600)。 - −前記光学偏光−分離器構成要素(1113)は、別の偏光−分離回折格子を含み、該偏光−分離回折格子は、前記複数の波長(λ1,λ2,λ3)に対して、
−前記他方の偏光−分離回折格子(1113)の回折次数+1又は回折次数−1のいずれかである第1の回折次数で回折され、かつ第1の円形偏光状態を有する前記第1の分離光ビーム(11)に、かつ
−前記他方の偏光−分離回折格子(1113)の回折次数+1又は回折次数−1のいずれかである前記第1の回折次数とは異なる第2の回折次数で回折され、かつ前記第1の偏光状態に対して直交する第2の円形偏光状態を有する前記第2の分離光ビーム(12)に、
前記上流光ビーム(1)を回折させるようになっており、
−前記第1の光学偏光−調整器構成要素(1121)は、前記第1の分離光ビーム(11)の偏光状態を逆転させるように配置された2分の1波長遅延板を含み、前記第2の光学偏光−調整器構成要素(1122)は、前記第2の分離光ビーム(12)の偏光状態を保つようになった平行面中立板を含む
ことを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の分光計(100;200;300;500;600)。 - 加算又は減算構成でカスケードされた複数の分散段(500A,500B;600A,600B,600C)を含むことを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の分光計(500;600)。
- 前記角度分散手段(430)は、前記調整光ビーム(20)を捕捉する入口面(431A)と前記偏光−分離回折格子(432)が配置された出口面(431C)とを有するプリズム(431)を含むことを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の分光計(300)。
- 前記検出手段(150)は、多チャネル検出器を含むことを特徴とする請求項2から請求項10のいずれか1項に記載の分光計(100;200;300)。
- 前記検出手段は、スリット及び単一チャネル検出器を含むことを特徴とする請求項2から請求項10のいずれか1項に記載の分光計。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1261627A FR2998963B1 (fr) | 2012-12-04 | 2012-12-04 | Spectrometre pour l'analyse du spectre d'un faisceau lumineux |
FR1261627 | 2012-12-04 | ||
PCT/FR2013/052902 WO2014087083A1 (fr) | 2012-12-04 | 2013-11-29 | Spectromètre pour l'analyse du spectre d'un faisceau lumineux |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015535611A JP2015535611A (ja) | 2015-12-14 |
JP6218338B2 true JP6218338B2 (ja) | 2017-10-25 |
Family
ID=47833220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015544521A Active JP6218338B2 (ja) | 2012-12-04 | 2013-11-29 | 光ビームのスペクトルを分析するための分光計 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9709441B2 (ja) |
EP (1) | EP2929309B1 (ja) |
JP (1) | JP6218338B2 (ja) |
DK (1) | DK2929309T3 (ja) |
FR (1) | FR2998963B1 (ja) |
WO (1) | WO2014087083A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11268854B2 (en) | 2015-07-29 | 2022-03-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Spectrometer including metasurface |
US10514296B2 (en) * | 2015-07-29 | 2019-12-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Spectrometer including metasurface |
US11867556B2 (en) | 2015-07-29 | 2024-01-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Spectrometer including metasurface |
CN106840403B (zh) * | 2016-12-29 | 2018-08-17 | 中国科学院光电研究院 | 基于Amici棱镜分光的多狭缝偏振成像光谱仪 |
CN106840394A (zh) * | 2016-12-29 | 2017-06-13 | 中国科学院光电研究院 | 一种用于成像光谱仪的偏振多狭缝结构 |
US10386234B2 (en) | 2017-01-27 | 2019-08-20 | Kla-Tencor Corporation | Wideband spectrograph |
KR102527672B1 (ko) | 2018-04-06 | 2023-04-28 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 비선형 광학계를 갖는 검사 장치 |
KR102185944B1 (ko) * | 2019-03-25 | 2020-12-03 | 한국과학기술연구원 | 집적화된 프리즘 분광기 |
US11639873B2 (en) * | 2020-04-15 | 2023-05-02 | Viavi Solutions Inc. | High resolution multi-pass optical spectrum analyzer |
CN113946034B (zh) * | 2021-11-08 | 2023-09-19 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种宽带手性光谱分析和大视场成像系统和设计方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08278202A (ja) * | 1995-04-04 | 1996-10-22 | Advantest Corp | 偏光解析用光学系装置及びこれを用いた偏光解析装置 |
JP5055694B2 (ja) * | 2003-12-26 | 2012-10-24 | 旭硝子株式会社 | 偏光性回折素子および光ヘッド装置 |
US7349089B1 (en) * | 2005-06-28 | 2008-03-25 | Hrl Laboratories, Llc | High transmission multi-wavelength filter and method |
EP2137558B1 (en) | 2007-04-16 | 2011-10-19 | North Carolina State University | Low-twist chiral liquid crystal polarization gratings and related fabrication methods |
JP5306323B2 (ja) | 2007-04-16 | 2013-10-02 | ノース・キャロライナ・ステイト・ユニヴァーシティ | 多層アクロマティク液晶偏光回折格子および関連する作製方法 |
EP2012173A3 (en) * | 2007-07-03 | 2009-12-09 | JDS Uniphase Corporation | Non-etched flat polarization-selective diffractive optical elements |
CN102246089B (zh) * | 2008-10-09 | 2016-03-30 | 北卡罗莱纳州立大学 | 包括多个偏振光栅布置和相关器件的偏振无关液晶显示器件 |
US7864333B1 (en) * | 2008-12-03 | 2011-01-04 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Polarization modulated image conjugate piston sensing and phase retrieval system |
US9074993B2 (en) * | 2010-09-03 | 2015-07-07 | The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | White light achromatic grating imaging polarimeter |
JP2012078200A (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-19 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 分光計測装置 |
FR2993979B1 (fr) * | 2012-07-27 | 2014-08-22 | Horiba Jobin Yvon Sas | Dispositif et procede d'analyse polarimetrique a division de front d'onde, spectropolarimetre, camera polarimetrique et microscope optique utilisant un tel dispositif |
-
2012
- 2012-12-04 FR FR1261627A patent/FR2998963B1/fr active Active
-
2013
- 2013-11-29 EP EP13808133.6A patent/EP2929309B1/fr active Active
- 2013-11-29 WO PCT/FR2013/052902 patent/WO2014087083A1/fr active Application Filing
- 2013-11-29 DK DK13808133.6T patent/DK2929309T3/en active
- 2013-11-29 JP JP2015544521A patent/JP6218338B2/ja active Active
- 2013-11-29 US US14/649,065 patent/US9709441B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2014087083A1 (fr) | 2014-06-12 |
JP2015535611A (ja) | 2015-12-14 |
FR2998963A1 (fr) | 2014-06-06 |
US20150300876A1 (en) | 2015-10-22 |
DK2929309T3 (en) | 2016-11-28 |
EP2929309B1 (fr) | 2016-08-17 |
EP2929309A1 (fr) | 2015-10-14 |
FR2998963B1 (fr) | 2016-01-22 |
US9709441B2 (en) | 2017-07-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6218338B2 (ja) | 光ビームのスペクトルを分析するための分光計 | |
JP6314232B2 (ja) | 多機能イメージャ | |
US6970242B2 (en) | Optical spectrometer | |
US11307096B2 (en) | Spectral resolution enhancement device | |
JP2015524564A (ja) | 高い効率のマルチチャネル分光器 | |
DK2929307T3 (en) | SPECTROMETER FOR ANALYZING A SPECTRUM SPECTRUM | |
JP5023707B2 (ja) | チューナブルフィルタ、光源装置、及びスペクトル分布測定装置 | |
US7221454B2 (en) | Photopolarimeters and spectrophotopolarimaters with multiple diffraction gratings | |
US10976194B1 (en) | Pupil division multiplexed imaging systems | |
JP6097412B2 (ja) | 光学装置 | |
JP3095167B2 (ja) | マルチチャネルフーリエ変換分光装置 | |
JP2013228322A (ja) | 分光装置 | |
KR102287914B1 (ko) | 분광기 및 이미징 장치 | |
JP6055006B2 (ja) | 分光装置及び分光方法並びに分析装置 | |
JP2017150981A (ja) | 分光装置 | |
JP2012078200A (ja) | 分光計測装置 | |
JP4790822B2 (ja) | 光学分光計 | |
KR20210041060A (ko) | 압축형 분광기 및 이를 포함하는 기구 | |
JP7033968B2 (ja) | 分光装置、ハイパースペクトル測定システム、及び、分光方法 | |
KR101524556B1 (ko) | 광대역 필터를 이용하여 빛의 파장을 선택할 수 있는 단색화 장치 | |
JPH10160569A (ja) | 分光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160912 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170626 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170711 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170809 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170829 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170925 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6218338 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |