JP6181637B2 - 多層電子デバイス - Google Patents
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Description
− 電極を構成する積層体の堆積方向で、n層の薄い金属層の下に位置する最終反射防止コーティング中の、湿気及び気体に対するバリアである第1のバリア積層体であって、比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも4つの層を含む第1のバリア積層体、
及び/又は
− 電極を構成する積層体の堆積方向で、n層の薄い金属層の上に位置する最終反射防止コーティング中の、湿気及び気体に対するバリアである第2のバリア積層体であって、比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも3つの層を含む第2のバリア積層体、
を含むことを特徴とする多層電子デバイスにある。
○ 各バリア積層体が電極の反射防止コーティング内に直接統合されているかぎりにおいて、この積層体は、湿気及び気体に対するバリア機能と、電極の金属層の反射防止機能とを同時に提供する。これら2つの機能を同一の積層体が行うことによって、層の数を制限し、そうして補足的バリア層が提供される場合と比べて材料を節約することが可能になる。また、層数の削減には、電極の表面粗度の制限という利点もあり、こうして特に、その後のOLED又は光起電セルの能動層の堆積に求められる低粗度要件を満たすことが可能になる。一例を挙げると、OLEDの有機層の堆積のためには、多くの場合、10nm未満、好ましくは2nm未満さらには1nm未満のRMS粗度が必要である。
○ 層数の削減に起因して、デバイスの製造のために提供すべき層の堆積の回数も同様に削減される。こうしてデバイスの製造方法は簡略化され、迅速かつ容易に工業化可能なものとなる。有利には、バリア積層体の層は、同一の堆積プロセス、詳細にはマグネトロンスパッタリングによって、電極の他の層と共に連続的に堆積してよい。このような連続堆積プロセスにより、表面粗度の増大を誘発する傾向をもつと思われるバリア層と電極の他の層の間の界面の通気を回避することが可能になる。
○ 公知の通り、薄い金属層を含む電極は、干渉によって最適化された光学特性を有する薄層積層体で構成されている。より具体的には、電極を構成する積層体内で、薄い金属層(単複)は電極にその電気伝導特性を与え、一方それらをとり囲む反射防止コーティングは、光学的外観に干渉によって作用し、電極にその透明性特性を与える。実際、薄い金属層は、各々の薄い金属層がおよそ10nmの小さい幾何学的厚みであっても、所望の電気伝導特性を得ることを可能にするが、これらの層は、光、特に可視波長範囲内の光の通過を強く妨害する。したがって、優れた光透過率を確保するためには、各々の薄い金属層の両側に反射防止コーティングが必要である。しかしながら、典型的には各バリア層が約10〜100ナノメートルのオーダーの厚みを有する補足的バリア層が、ポリマー層と電極の間の所定の場所に位置する場合、これは電極の積層体を光学的に乱す。本発明はこの問題を克服できるようにする。すなわち電極の積層体内に直接各バリア積層体を統合することによって、バリア層を含めた積層体全体が光学的に最適化される。
− 2つの高活性化エネルギー層の各々について、一方では高活性化エネルギー源でコーティングされた標準基材と、他方ではそのままの状態のこの同じ標準基材との間の水蒸気透過のための活性化エネルギー層は、5kJ/mol以上、好ましくは20kJ/mol以上であり、
− 標準基材上の保持層内の有効水蒸気拡散率と、そのままの状態のこの同じ標準基材内の水蒸気拡散率との比は、厳密に0.1未満である。
P=P0・e(−Ea/kT)(1)
式中、Pは透過率であり;
Poはシステムに特異的な透過係数であり;
kはボルツマン定数であり;
Tは温度であり;
Eaは透過のための活性化エネルギーである。
P=S・D(2)
式中、Sは溶解度、又は基材上の層の場合においては有効溶解度であり、Dは、拡散率、又は基材上の層の場合においては有効拡散率である。
Si3N4/ZnO/Si3N4/ZnO/Ag/Ti/ITO
(32/33/34/35/31/36/37)
SnZnO/ZnO/Ag/Ti/Si3N4/ZnO/Si3N4
(432/433/431/436/437/438/439)
Si3N4/ZnO/Si3N4/ZnO/Ag/Ti/Si3N4/ZnO/Si3N4
(532/533/534/535/531/536/537/538/539)
− TL:2°の観察者条件で発光体D65の下で測定した、%単位の可視光内の光透過率
− RL:2°の観察者条件で発光体D65の下で測定した、%単位の可視光内の光反射率;
− A:TL+RL+A=1となるような、%単位の可視光内の光吸収率;
− a*とb*:2°の観察者条件で発光体D65の下で測定した、LABシステム内の反射色a*及びb*;
− WVTR(水蒸気移動度):8時間サイクルで37.8℃及び100%の相対湿度でMOCON AQUATRANを用いて測定したg/m3・日単位の水蒸気透過率[注:MOCONシステムの検出閾値は5×10−4g/m2・日である]。
− 単一の薄い銀層を含む先行技術からの対応する電極(比較例=例1)に比べて少なくとも10倍改善されたWVTR[MOCONシステムの検出閾値が5×10−4g/m2・日であるという点が喚起される];
− 80%以上の優れた光透過率及び低い吸収率。
本発明の実施態様としては、以下の態様を挙げることができる:
《態様1》
有機ポリマー層(1;102;202;302;308)、及び前記ポリマー層に対して位置している電極(3;403;503)を含み;前記電極(3;403;503)が、n層の薄い金属層(31;431;531)、特に銀又は銀含有金属合金に基づく薄い層と、(n+1)層の反射防止コーティング((M i ) 1≦i≦n+1 )(n≧1)とを交互に含む、透明な薄層の積層体によって構成されており;かつ各々の薄い金属層(31;431;531)が、2つの反射防止コーティング(M i )の間に位置している、多層電子デバイス(10;20;120;230;330)であって、前記電極(3;403;503)は以下を含む、多層電子デバイス:
− 比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも4つの層(23〜35;532〜535)を含み、かつ前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、前記n層の薄い金属層の下に位置する最終反射防止コーティング(M 1 )中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第1のバリア積層体(B 1 )、
及び/又は
− 比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも3つの層(537〜539)を含み、かつ前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、前記n層の薄い金属層の上に位置する最終反射防止コーティング(M n+1 )中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第2のバリア積層体(B 2 )。
《態様2》
前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、薄い金属層(31;431;531)の下に位置する各反射防止コーティング((M i ) 1≦i≦n )が、前記薄い金属層の下の層として、酸化物結晶、特に酸化亜鉛に基づく濡れ層(35;433;535)を含む、態様1に記載のデバイス。
《態様3》
前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、薄い金属層(31;431,531)の上に位置する各反射防止コーティング((M i ) 2≦i≦n+1 )が、薄い金属層の上にある層として、酸化された又は酸化されていない薄い金属オーバーブロッカー層(36;436;536)を含む、態様1又は2に記載のデバイス。
《態様4》
前記電極(3;403;503)の少なくとも1つのバリア積層体(B 1 、B 2 )(3;403;503)が、比較的低い結晶化度と比較的高い結晶化度とを交互に有する少なくとも3つの連続層(32〜35;437〜439;532〜535;537〜539)を含み、比較的高い結晶化度の層の結晶化度の、比較的低い結晶化度の層の結晶化度に対する比が、1.1以上である、態様1〜3のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様5》
前記少なくとも3つの連続層(32〜35;437〜439;532〜535;537〜539)が、交互にアモルファス状態と少なくとも部分的に結晶性の状態となっている、態様4に記載のデバイス。
《態様6》
前記電極のバリア積層体又は各バリア積層体(B 1 、B 2 )を構成する層が、比較的低い屈折率と比較的高い屈折率とを交互に有する、態様1〜5のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様7》
前記電極のバリア積層体又は各バリア積層体(B 1 、B 2 )について、前記バリア積層体の各薄層が、200nm未満、好ましくは100nm未満の幾何学的厚みを有する、態様1〜6のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様8》
前記電極のバリア積層体又は各バリア積層体(B 1 、B 2 )について、前記バリア積層体の各薄層が、ドープされた若しくはドープされていない酸化物、窒化物、又はオキシ窒化物である、態様1〜7のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様9》
前記ポリマー層が、前記電極に対して位置している有機界面層又は有機−無機ハイブリッド界面層を含む、態様1〜8のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様10》
前記ポリマー層(1;308)が、そのデバイスの基材である、態様1〜9のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様11》
前記ポリマー層(102;202;302)が、そのデバイスの基材(101;201;301)とのボンディングのための積層中間層である、態様1〜9のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様12》
有機発光ダイオードデバイス(10)であり、ここで前記電極が有機発光ダイオード(12)の電極であり、前記ポリマー層(1)が、前記有機発光ダイオードを封止するための構造の全部又は一部である、態様1〜11のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様13》
光起電デバイスであり、ここで前記電極が光起電セル(13;113)の電極であり、前記ポリマー層(1;102)が光起電セルを封止するための構造の全部又は一部である、態様1〜11のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様14》
エレクトロクロミックデバイス(230;330)であり、ここで前記電極がエレクトロクロミックシステム(214;314)の電極であり、前記ポリマー層(202;302;308)がエレクトロクロミックシステムを封止するための構造の全部又は一部である、態様1〜11のいずれか一項に記載のデバイス。
《態様15》
前記バリア積層体又は各バリア積層体(B 1 、B 2 )の薄層の少なくとも一部を、スパッタリングによって、特にマグネトロンスパッタリングによって堆積する、態様1〜14のいずれか一項に記載のデバイスの製造方法。
《態様16》
前記バリア積層体又は各バリア積層体の層を含む、前記電極を構成する積層体の薄層の全てを、スパッタリングによって、特にマグネトロンスパッタリングによって堆積する、態様15に記載の製造方法。
《態様17》
有機ポリマー層(1;102;202;302;308)、及び前記ポリマー層に対して位置している電極(3;403;503)を含み;前記電極(3;403;503)が、n層の薄い金属層(31;431;531)、特に銀又は銀含有金属合金に基づく薄い層と、(n+1)層の反射防止コーティング((M i ) 1≦i≦n+1 )(n≧1)とを交互に含む、透明な薄層積層体によって構成されており;かつ、各々の薄い金属層(31;431;531)は、2つの反射防止コーティング(M i )の間に位置している、多層コンポーネント(11)の多層電子デバイス(10;20;120;230;330)での使用であって
前記電極(3;403;503)が、以下を含む、多層コンポーネント(11)の多層電子デバイス(10;20;120;230;330)での使用:
− 交互に比較的低い密度と比較的高い密度を有する少なくとも4つの層(23〜35;532〜535)を含み、かつ前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、前記n層の薄い金属層の下に位置する最終反射防止コーティング(M 1 )中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第1のバリア積層体(B 1 )、
及び/又は
− 比較的低い密度と比較的高い密度を交互に有する少なくとも3つの層(537〜539)を含み、かつ前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、前記n層の薄い金属層の上に位置する最終反射防止コーティング(M n+1 )中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第2のバリア積層体(B 2 )。
Claims (13)
- 有機ポリマー層(1;102;202;302;308)、及び前記ポリマー層に対して位置している電極(3;403;503)を含み;前記電極(3;403;503)が、n層の薄い金属層(31;431;531)と、(n+1)層の反射防止コーティング((Mi)1≦i≦n+1)(n≧1)とを交互に含む、透明な薄層の積層体によって構成されており;かつ各々の薄い金属層(31;431;531)が、2つの反射防止コーティング(Mi)の間に位置している、多層電子デバイス(10;20;120;230;330)であって、
前記多層電子デバイスは、以下(A)又はBのいずれかであることを特徴とする、多層電子デバイス:
(A)スーパーストレートモードで製造され、前記ポリマー層(1;308)は、前記電極(3;403;503)を構成する前記積層体が堆積される前面基材であり、前記電極(3;403;503)は以下を含むこと:
− 比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも4つの層(32〜35;532〜535)を含み、かつ前記ポリマー層の最も近くに位置する最終反射防止コーティング(M1)中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第1のバリア積層体(B1)、
及び/又は
− 比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも3つの層(537〜539)を含み、かつ前記ポリマー層から最も離れて位置する最終反射防止コーティング(Mn+1)中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第2のバリア積層体(B2);
(B)サブストレートモードで製造され、前記ポリマー層(102;202;302)は、前記電極(3;403;503)と前面基材(101;201;301)との間に位置する積層中間層であり、前記電極(3;403;503)は以下を含むこと:
− 比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも4つの層(32〜35;532〜535)を含み、かつ前記ポリマー層に最も離れて位置する最終反射防止コーティング(M 1 )中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第1のバリア積層体(B 1 )、
及び/又は
− 比較的低い密度と比較的高い密度とを交互に有する少なくとも3つの層(537〜539)を含み、かつ前記ポリマー層から最も近くに位置する最終反射防止コーティング(M n+1 )中の、湿気及び気体に対するバリアとなる、第2のバリア積層体(B 2 );
ここで、前記電極のバリア積層体又は各バリア積層体(B1、B2)について、前記バリア積層体の各薄層が、ドープされた若しくはドープされていない酸化物、窒化物、又はオキシ窒化物である。 - 前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、薄い金属層(31;431;531)の下に位置する各反射防止コーティング((Mi)1≦i≦n)が、前記薄い金属層の下の層として、酸化物結晶に基づく濡れ層(35;433;535)を含む、請求項1に記載のデバイス。
- 前記電極を構成する前記積層体の堆積方向で、薄い金属層(31;431,531)の上に位置する各反射防止コーティング((Mi)2≦i≦n+1)が、薄い金属層の上にある層として、酸化された又は酸化されていない薄い金属オーバーブロッカー層(36;436;536)を含む、請求項1又は2に記載のデバイス。
- 前記電極(3;403;503)の少なくとも1つのバリア積層体(B1、B2)(3;403;503)が、比較的低い結晶化度と比較的高い結晶化度とを交互に有する少なくとも3つの連続層(32〜35;437〜439;532〜535;537〜539)を含み、比較的高い結晶化度の層の結晶化度の、比較的低い結晶化度の層の結晶化度に対する比が、1.1以上である、請求項1〜3のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記少なくとも3つの連続層(32〜35;437〜439;532〜535;537〜539)が、交互にアモルファス状態と少なくとも部分的に結晶性の状態となっている、請求項4に記載のデバイス。
- 前記電極のバリア積層体又は各バリア積層体(B1、B2)を構成する層が、比較的低い屈折率と比較的高い屈折率とを交互に有する、請求項1〜5のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記電極のバリア積層体又は各バリア積層体(B1、B2)について、前記バリア積層体の各薄層が、200nm未満の幾何学的厚みを有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記ポリマー層が、前記電極に対して位置している有機界面層又は有機−無機ハイブリッド界面層を含む、請求項1〜7のいずれか一項に記載のデバイス。
- 有機発光ダイオードデバイス(10)であり、ここで前記電極が有機発光ダイオード(12)の電極であり、前記ポリマー層(1)が、前記有機発光ダイオードを封止するための構造の全部又は一部である、請求項1〜8のいずれか一項に記載のデバイス。
- 光起電デバイスであり、ここで前記電極が光起電セル(13;113)の電極であり、前記ポリマー層(1;102)が光起電セルを封止するための構造の全部又は一部である、請求項1〜8のいずれか一項に記載のデバイス。
- エレクトロクロミックデバイス(230;330)であり、ここで前記電極がエレクトロクロミックシステム(214;314)の電極であり、前記ポリマー層(202;302;308)がエレクトロクロミックシステムを封止するための構造の全部又は一部である、請求項1〜8のいずれか一項に記載のデバイス。
- 前記バリア積層体又は各バリア積層体(B1、B2)の薄層の少なくとも一部を、スパッタリングによって堆積する、請求項1〜11のいずれか一項に記載のデバイスの製造方法。
- 前記バリア積層体又は各バリア積層体の層を含む、前記電極を構成する積層体の薄層の全てを、スパッタリングによって堆積する、請求項12に記載の製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
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US6268695B1 (en) * | 1998-12-16 | 2001-07-31 | Battelle Memorial Institute | Environmental barrier material for organic light emitting device and method of making |
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AU2001292316A1 (en) * | 2000-09-29 | 2002-04-08 | Cardinal Ig Company | Transparent laminate having low emissivity |
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CA2457791C (en) * | 2001-08-20 | 2010-08-03 | Nova-Plasma Inc. | Coatings with low permeation of gases and vapors |
EP1294063B1 (en) * | 2001-09-18 | 2004-12-08 | Avalon Photonics AG | Indium-phoshpide-based vertical-cavity surface-emitting laser |
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US20030203210A1 (en) * | 2002-04-30 | 2003-10-30 | Vitex Systems, Inc. | Barrier coatings and methods of making same |
DE602004025461D1 (de) * | 2004-04-16 | 2010-03-25 | Nitride Semiconductors Co Ltd | Lichtemittierendes bauelement auf galliumnitridbasis |
US7781034B2 (en) * | 2004-05-04 | 2010-08-24 | Sigma Laboratories Of Arizona, Llc | Composite modular barrier structures and packages |
FR2898123B1 (fr) * | 2006-03-06 | 2008-12-05 | Saint Gobain | Substrat muni d'un empilement a proprietes thermiques |
CN101536608B (zh) * | 2006-09-07 | 2015-12-09 | 法国圣-戈班玻璃公司 | 用于有机发光装置的基板、其用途和制备方法,以及有机发光装置 |
EP2381744A1 (fr) * | 2006-09-07 | 2011-10-26 | Saint-Gobain Glass France | Substrat pour dispositif electroluminescent organique, utilisation et procede de fabrication de ce substrat, ainsi que dispositif electroluminescent organique |
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CN101939669A (zh) * | 2007-10-30 | 2011-01-05 | 3M创新有限公司 | 用于光学显示滤光片的带电磁干扰屏蔽的多层堆叠光学带通膜 |
FR2925981B1 (fr) * | 2007-12-27 | 2010-02-19 | Saint Gobain | Substrat porteur d'une electrode, dispositif electroluminescent organique l'incorporant. |
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