JP6146064B2 - 積層構造体及び積層構造体の製造方法 - Google Patents

積層構造体及び積層構造体の製造方法 Download PDF

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本発明は、積層構造体、圧電膜、圧電素子、液滴吐出ヘッド、液滴吐出装置及び積層構造体の製造方法に関する。
画像形成装置として使用される液滴吐出装置の液滴吐出ヘッドには、下部電極と上部電極との間に圧電膜等の積層構造体を具備した圧電素子が使用されている。圧電膜の材料としては、主に、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)が使用されているが、作業の安全性や環境上の観点から、非鉛系複合酸化物材料の研究が広く行われている。
非鉛系複合酸化物材料としては、チタン酸バリウム(BaTiO)が知られている。例えば、非特許文献1には、BaTiO系の圧電膜の圧電性能が、BaTiOの結晶性(例えば、粒径)に依存することが開示されている。具体的には、BaTiOの圧電定数(d33)は、BaTiOの平均粒径が略1μm前後近づくにつれ、大きくなる。
BaTiO系の圧電膜の一般的な製造方法である化学的溶液析出法(Chemical Solution Deposition; CSD)により、前述の粒径を有する圧電膜を形成する場合、圧電膜の前駆体液を塗布した後に、1000℃以上の高温焼成処理が必要となる。そのため、焼結助剤を使用して、BaTiOの焼成温度を低下させることが知られている(特許文献1参照)。
しかしながら、焼結助剤を使用して焼成処理して得られた圧電膜等の積層構造体は、焼結助剤が粒界等に析出して、その絶縁性が低下するという問題点を有していた。
上記課題に対して、結晶性及び絶縁性に優れた積層構造体を提供することを課題とする。
非鉛系複合酸化物を含む積層構造体であって、
前記積層構造体は、焼結助剤を有し、
前記積層構造体は、前記焼結助剤の濃度が膜厚方向において一定でなく、第1の焼結助剤濃度を有する第1の層と、前記第1の焼結助剤濃度より前記焼結助剤の濃度が低い第2の焼結助剤濃度を有する第2の層との積層構造を有し、前記第1の層及び前記第2の層がそれぞれ、チタン酸バリウムを含む積層構造体が提供される。
結晶性及び絶縁性に優れた積層構造体を提供できる。
本実施形態に係る圧電素子の構造例を説明するための概略断面図の一例である。 本実施形態に係る圧電膜の製造方法例のフロー図である。 本実施形態に係る圧電素子の絶縁性を説明するための概略図の一例である。 本実施形態に係る圧電素子の構造例を説明するための概略断面図の他の例である。 本実施形態に係る液滴吐出ヘッドの構造の例を説明するための概略断面図である。 本実施形態に係る液滴吐出装置の一例の概略斜視図である。 本実施形態に係る液滴吐出装置の一例の概略側面図である。
以下、図面を参照して発明について詳しく説明する。なお、本明細書においては、非鉛系の複合酸化物材料を含む積層構造体を、圧電膜に応用した例について説明するが、本発明はこの点において限定されず、コンデンサ等の他の用途にも応用可能である。
先ず、本実施形態の積層構造体と、この積層構造体を含む圧電膜及び圧電素子の構造について、図面を参照して説明する。
(圧電素子)
図1(a)に、本実施形態に係る圧電素子の構造例を説明するための概略断面図の一例を示す。また、図1(b)に、図1(a)の圧電素子の圧電膜25(積層構造体25)の拡大概略図を示す。
図1(a)に示されるように、本実施形態に係る圧電素子10は、下地層15と、下地層上に形成される第1の電極20と、第1の電極20上に形成される本実施形態に係る圧電膜25と、圧電膜25上に形成される第2の電極30と、を含む。第1の電極20は下部電極に相当し、第2の電極30は上部電極に相当する。
本実施形態の圧電素子10の圧電膜25以外の各々の層について、図1の下層から順に説明する。
下地層15としては、特に限定されないが、例えば、シリコン(Si)(001)基板上に、熱酸化処理等により、酸化シリコン(SiO)熱酸化膜を形成したものなどを使用することができる。他にも、シリコン基板上に、窒化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜又はこれらの膜の積層膜を形成したもの等を使用することができる。下地膜は、本実施形態の圧電膜25を後述する液滴吐出ヘッドに応用する場合に、振動板として機能する。なお、後述する第1の電極20は、圧電素子に信号入力する際の共通電極として電気的接続を担うので、その下部にある振動板は、上述したような絶縁体又は導体を絶縁処理したもの等が使用される。
基板としては、特に限定されないが、前述したシリコン以外にも、例えば、ガラス、石英、酸化ジルコニウム(ZrO)、酸化マグネシウム(MgO)及び窒化アルミニウム(AlN)等を使用することができる。また、銅、アルミニウム、鉄、ニッケル及びクロムの群から選択される金属又はステンレスを使用することができる。
また、第1の電極20と下地層15との密着性を良好にするために、下地層上に、例えば、チタン(Ti)、酸化チタン(TiO)、窒化チタン(TiN)、タンタル(Ta)、酸化タンタル(Ta)、窒化タンタル(Ta)等の図示しない密着層を設けても良い。
第1の電極20は、圧電素子の下部電極に相当する。第1の電極20の材料としては、高い耐熱性を有する白金(Pt)等の白金族金属又は金(Au)等の金属材料を使用することが好ましい。また、上述した金属等の合金を使用しても良い。
第2の電極30は、圧電素子の上部電極に相当し、第1の電極20と同様に、高い耐熱性を有する金属又は合金材料を使用することが好ましい。
第1の電極20及び第2の電極30は、スパッタ法や真空蒸着等の真空成膜法などの方法により作製することができる。
(圧電膜)
図1(b)を参照して、圧電膜25について、より詳細に説明する。
本実施形態の圧電膜25は、鉛を含有しない非鉛系複合酸化物の積層構造体(以後、圧電膜25を、積層構造体25と呼ぶことがある)を含む。
非鉛系複合酸化物の積層構造体とは、主成分としてチタン酸バリウム(BaTiO)を含む。なお、「主成分としてチタン酸バリウムを含む」とは、チタン酸バリウムを50mol%以上含むことを意味し、その他の成分を含んでも良い。その他の成分としては、ランタン(La)、ジルコニウム(Zr)、ストロンチウム(Sr)、スズ(Sn)、カルシウム(Ca)、ビスマス(Bi)及びマンガン(Mn)の群から選択される1つ又は2つ以上の元素の酸化物又は複合酸化物等が挙げられる。
チタン酸バリウムを主成分として含む圧電膜の前駆体溶液は、出発原料として、バリウムアルコキシド、チタンアルコキシド化合物及びその他の成分のアルコキシド等並びに焼結助剤を、共通溶媒に溶解させることで作製することが可能である。
また、本実施形態の圧電膜25は、焼結助剤を含む。焼結助剤としては、ホウ素(B)、アルミニウム(Al)、シリコン(Si)及びアルカリ金属の群から選択される1つ又は2つ以上の元素を含むことが好ましい。
ここで、本実施形態の積層構造体25は、膜厚方向の焼結助剤の濃度が一定でないという特徴を有する。好ましい例としては、本実施形態の積層構造体25は、図1(b)に示すように、第1の電極20から第2の電極30へと向かう膜厚方向において、第1の焼結助剤濃度を有する第1の層25aと、前記第1の焼結助剤濃度よりも前記焼結助剤の濃度が低い第2の焼結助剤濃度を有する第2の層25bと、の積層構造を有する。図1(b)に示されるように、圧電膜は、第1の層25a及び第2の層25bが1回積層された構造であっても良いし、この積層構造体が複数回繰り返された構造であっても良い。詳細については後述する本実施形態の積層構造体の製造方法で述べるが、積層構造体25を上述の構成と有することにより、絶縁性に優れた積層構造体を得ることができる。また、この積層構造体を圧電膜に応用した場合、絶縁性に優れ、かつ圧電特性に優れた圧電膜を得ることができる。
(第1の実施形態(積層構造体の製造方法))
次に、本実施形態の積層構造体の製造方法を、具体的な実施形態を参照して説明する。また、得られた積層構造体を圧電素子に応用し、得られた圧電素子の圧電特性を評価した実施形態について説明する。より具体的には、本実施形態の積層構造体を有する圧電膜が、第1の電極20から第2の電極30へと向かう膜厚方向において、焼結助剤の濃度が高い第1の層と、前記第1の層の焼結助剤の濃度よりも、焼結助剤の濃度が低い第2の層と、の積層構造を有することにより圧電特性が向上する理由について確認した実施形態について、説明する。
以下、本実施形態においては、積層構造体25としてBaTiO膜を成膜する場合について説明するが、上述した通り、本発明はこの点において限定されず、積層構造体25はその他の成分を含んでいても良い。
図2に、本実施形態に係る積層構造体の製造方法例のフロー図を示す。本実施形態においては、CSD法により積層構造体25を成膜することができ、より具体的には、本実施形態の積層構造体の製造方法は、
S100:被処理体上に、第3の焼結助剤濃度を有する前駆体溶液を塗布した後、塗布された前記前駆体溶液の熱処理を行い、第1の非鉛系複合酸化物膜を形成する、第1成膜工程と、
S200:前記第1の非鉛系複合酸化物膜上に、前記第3の焼結助剤濃度よりも焼結助剤濃度が低い第4の焼結助剤濃度を有する前駆体溶液を塗布した後、塗布された前記前駆体溶液の熱処理を行い、第2の非鉛系複合酸化物膜を形成する、第2成膜工程と、
を有する。
なお、上述した本実施形態の圧電素子の製造方法において、第4の焼結助剤濃度は、第3の焼結助剤濃度の50%以下の濃度とすることが好ましい。これにより、より結晶性及び絶縁性に優れた積層構造体を得ることができる。
上述のCSD法によりBaTiO膜を堆積する実施形態における、前駆体溶液を作製するための、出発原料、共通溶媒及び安定材などの例を表1に示す。
Figure 0006146064
グリコールモノメチルエーテル(EGMME)に、所定量のBa(OEt)、Ti(O−i−Pr)と、焼結助剤として所定量のB(OEt)とを溶解させた。このとき、溶解温度は、溶媒を所定の時間還流することで、約100〜124℃の範囲内とした。溶解液には、安定剤としてモノエタノールアミン(MEA;Monoethanolamine)を添加することにより、前駆体溶液を作製した。
MEAの添加量は、出発原料のアルコキシド基の2〜8倍当量とすることが好ましい。また、Ba(OEt)の溶解性を高めるため、メタノールなどの溶液を加えても良い。なお、合成した溶液の複合酸化物固形分濃度は、0.1〜0.5モル/リットルとする。
予め下部電極としてPt膜を成膜したSi基板上に、この前駆体溶液をスピンコート法で成膜(回転数 4000rpm、20秒)し、その後、120℃、1分の乾燥の後、熱分解処理を行う。熱分解処理の温度、時間は、前駆体溶液から作製した乾燥ゲルの示唆熱熱重量同時測定(TG/DTA測定)の結果から、当業者が適宜選択することができる。本実施形態では、300℃、1分の熱分解処理を行った。
その後、得られた膜について、結晶化熱処理を行う。前述した熱分解処理後の膜は、アモルファス状であり、電歪特性を出現させるために、高温での熱処理を施す。本実施形態の積層構造体の製造方法は、焼結助剤を含んでいるため、1000℃以上の熱処理を必要としない。本実施形態では、RTA(Rapid Thermal Annealing)装置を用いて900℃、5分間の熱処理を施すことにより、結晶化膜を得た。
なお、上述の方法で堆積した結晶化膜の膜厚は約50nmであった。
本実施形態においては、前駆体溶液に加えるB(OEt)の濃度と、成膜の順序を変更することにより、下記の4種類の積層構造体(圧電膜)を成膜した。なお、各々の膜は、下層(第1の電極側)の膜の前駆体溶液を塗布、熱処理して約50nmの膜を成膜後、上層の膜の前駆体溶液を塗布、熱処理し、合計の膜厚が約100nmとなるように圧電膜を成膜した。
4種類の積層構造体は、
例1の積層構造体:ホウ素を2mol%含有する前駆体溶液で形成した膜と、ホウ素を含有しない前駆体溶液で形成した膜との積層膜、
例2の積層構造体:ホウ素を2mol%含有する前駆体溶液のみを使用して形成した2層膜、
例3の積層構造体:ホウ素を1mol%含有する前駆体溶液のみを使用して形成した2層膜、
例4の積層構造体:ホウ素を含有しない前駆体溶液のみを使用して形成した2層膜、
とした。
例1の積層構造体は、先ず、ホウ素を2mol%含有する前駆体溶液を塗布した後、塗布された前記前駆体溶液の熱処理(乾燥処理、熱分解処理及び結晶化処理)を行い、単層膜を得た。その後、得られた単層膜の上に、ホウ素を含有しない前駆体溶液を塗布して、塗布された前記前駆体溶液の熱処理を行うことで、積層膜を得た。
本実施形態において熱処理工程は、上述に限定されない。例えば下層の膜を成膜後、乾燥処理、熱分解処理を実施する。その後、上層の膜を成膜して、乾燥処理、熱分解処理を実施して、最後に結晶化処理を実施しても良い。また、下層の膜を成膜後、乾燥処理を実施し、上層の膜を成膜する。その後、再度乾燥処理を施し、熱分解処理、結晶化処理を経て熱処理工程を終了しても良い。
表2に、例1〜例4で得られた積層構造体の、平均粒径を示す。
Figure 0006146064
非鉛系の圧電膜において、圧電膜の圧電性能は、圧電膜の粒径に依存することが知られている。具体的には、圧電膜の圧電定数(d33)は、圧電膜の平均粒径が略1μm前後近づくにつれ、大きくなる。
本実施形態の積層構造体を圧電膜に応用する場合、表2を参照すると、例2から例4までの結果の比較により、ホウ素の含有量が増加することにより、圧電膜の粒径が増大して1μmに近付くことがわかった。即ち、ホウ素の含有量が増加することにより、得られる圧電膜の圧電特性が良好になることがわかった。
また、例1と例3とでは、平均のホウ素含有量は同程度であるが、下部電極に近い側をホウ素含有量が多い第1の層とし、上部電極に近い側を、第1の層と比較してホウ素含有量が少ない第2の層とすることで、平均の粒径が大きくなることがわかった。
これは、第1の層の粒界又は表面に析出しているホウ素を核として、第2の層のBaTiOが粒成長するため、第2の層のBaTiOの粒成長が促進されたと考えられる。
各々の積層構造体(圧電膜)の上に、上部電極として金(Au)を蒸着法により形成し、第1の実施形態の圧電素子を得た。
本実施形態の圧電素子の製造方法は、BaTiOの平均粒径を大きくすることが可能であるため、圧電定数(d33)が大きい圧電素子を得ることができる。
(第2の実施形態)
次に、本実施形態の圧電素子の絶縁性を評価した実施形態について説明する。
下記以外は第1の実施形態と同様の方法により、第2の実施形態の圧電素子を得た。第2の実施形態の積層構造体(圧電膜)は、Pt膜を成膜したSi基板上に、ホウ素を2mol%含有する前駆体溶液の塗布、熱処理(乾燥、熱分解処理及び結晶化処理)を10回繰り返した後、ホウ素を含有しない前駆体溶液の塗布、熱処理(乾燥、熱分解処理及び結晶化処理)を2回繰り返すことにより得た。
第2の実施形態の積層構造体の膜厚は約0.55μmであった。圧電素子として使用する場合、発生力が振動板を変形させ、その変形量がインク室内にあるインクを排除するため、圧電素子の膜厚は0.5μm〜2μm程度とすることが好ましい。
得られた積層構造体上に、上部電極として直径100μm、膜厚100nmのAuを蒸着法により形成し、第2の実施形態の圧電素子を得た。
また、ホウ素を2mol%含有する前駆体溶液の塗布、乾燥、熱分解及び結晶化処理を12回繰り返して積層構造体を得た以外は、第2の実施形態と同様の方法により、参考例1の圧電素子を得た。さらに、ホウ素を1mol%含有する前駆体溶液の塗布、乾燥、熱分解及び結晶化処理を12回繰り返して積層構造体を得た以外は、第2の実施形態と同様の方法により、参考例2の圧電素子を得た。
得られた各々の圧電素子について、下記の要領で、その絶縁性を評価した。
図3に、本実施形態に係る圧電素子の絶縁性を説明するための概略図の一例を示す。図3の横軸は、各々の圧電素子に印加した電界値を示し、縦軸は、その電界値に対するリーク電流値を示す。
図3に示されるように、参考例1及び参考例2の圧電素子は、第2の実施形態の圧電素子と比して、リーク電流が1桁以上のオーダで大きく、すぐ飽和していることがわかる。即ち、本実施形態の積層構造体は絶縁性に優れ、この積層構造体を含む圧電膜は、圧電特性に優れ、かつ、絶縁性に優れた圧電膜である。
(第3の実施形態)
本実施形態の積層構造体は、第1の焼結助剤濃度を有する第1の層と、前記第1の焼結助剤濃度より前記焼結助剤の濃度が低い第2の焼結助剤濃度を有する第2の層とが、順次繰り返された構造を有していても良い。
図4(a)に、第3の実施形態に係る圧電素子の構造例を説明するための概略断面図の他の例を示す。また、図4(b)に、図4(a)の積層構造体(圧電膜)25の拡大概略図を示す。図4(b)に示されるように、本実施形態の圧電素子は、積層構造体25が、第1の焼結助剤濃度を有する第1の層25aと、前記第1の焼結助剤濃度より前記焼結助剤の濃度が低い第2の焼結助剤濃度を有する第2の層25bと、前記第1の焼結助剤濃度を有する第3の層25cと、を有する。しかしながら、本実施形態の積層構造体は、第1の焼結助剤濃度を有する第1の層と、前記第1の焼結助剤濃度より前記焼結助剤の濃度が低い第2の焼結助剤濃度を有する第2の層とが順次繰り返された構造が形成されていれば、図4で示した実施形態に限定されない。例えば、積層構造体25における、第2の電極30に当接する端部の層は、第1の焼結助剤濃度を有する層であっても良いし、第2の焼結助剤濃度を有する層であっても良い。また、第1の層と第2の層とが繰り返された構造における、その繰り返し回数は、特に限定されない。
図4で示される第3の実施形態の積層構造体の好ましい製造方法としては、先ず、Pt膜を成膜したSi基板上に、ホウ素を2mol含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を行う。その後、ホウ素を1mol%含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を行い、積層膜を形成する。この積層膜の形成を複数回繰り返す。
また、別の方法として、先ず、Pt膜を成膜したSi基板上に、ホウ素を2mol%含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を複数回繰り返す。その後、ホウ素を1mol%含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を複数回繰り返す。さらにその後、ホウ素を2mol%含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を複数回繰り返す。
上述した製造方法においては、積層膜を形成した後に、この積層膜の形成を複数回繰り返す方法を採用することが好ましい。
本実施形態においては、前駆体溶液の塗布は、スプレー法で実施した。しかしながら、本実施形態において、前駆体溶液の塗布方法は、スピンコート法、ディップ法などの他の塗布法であっても良い。
(第4の実施形態)
第3の実施形態の更なる変形例として、本実施形態の積層構造体は、第1の焼結助剤濃度を有する第1の層と、前記第1の焼結助剤濃度より前記焼結助剤の濃度が低い第2の焼結助剤濃度を有する第2の層と、前記第2の焼結助剤濃度より前記焼結助剤の濃度が低い第3の焼結助剤濃度を有する第3の層との積層構造が順次繰り返された構造を有していても良い。
この場合、積層構造体の好ましい製造方法としては、先ず、Pt膜を成膜したSi基板上に、ホウ素を2mol含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を行う。その後、ホウ素を1mol%含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を行う。その後更に、ホウ素を0mol%(ホウ素を含んでいても良い)含有する前駆体溶液の塗布、熱処理を行い、3層の積層膜を形成する。そして、この積層膜の形成を複数回、所定の膜厚となるまで繰り返す。
(液滴吐出ヘッド))
本実施形態に係る圧電素子を液滴吐出ヘッドに応用した実施形態について、説明する。図5(a)に、本実施形態に係る液滴吐出ヘッドの構造の例を説明するための概略断面図を示す。また、図5(b)は、図5(a)の液滴吐出ヘッドを複数個配置した図である。
本実施形態に係る液滴吐出ヘッド40は、液滴を吐出するノズル41と、このノズルが連通する圧力室42(インク流路、加圧液室、加圧室、吐出室、液室等とも称される)と、加圧室内のインクを加圧する前述した本実施形態に係る圧電素子10と、インク流路の壁面を形成する振動板44と、を備えている。
圧力室42は、ノズル41が連通し、ノズル板45と、振動板44と、圧力室板46と、から区画される。そして、振動板44を介して、圧力室42内の液滴を加圧するための、本実施形態に係る圧電素子10が設けられる。
圧力室42は、Si基板の一部を、後述するように裏面からエッチング除去することなどによって形成される。
ノズル41は、ノズル板45の一部に、例えば直線状に2列に並べて形成することができる。ノズル板45は、例えば、ニッケル(Ni)電鋳などによって形成したものなどを使用することができる。
圧力室42を形成するための方法について、簡単に説明する。液滴吐出ヘッドの圧力室42を形成する場合、通常、エッチングを利用してシリコン単結晶基板を加工する。エッチング方法としては、異方性エッチングを使用することが好ましい。異方性エッチングとは、結晶構造の面方位間でのエッチング速度の違いを利用するものである。例えば、水酸化カリウム(KOH)などのアルカリ溶液にシリコン単結晶基板を浸漬させた場合、(100)面に比して(111)面は、エッチング速度が約1/400程度である。当業者は、所望の形状にパターニングするために、エッチング条件(エッチング溶液の種類、濃度、エッチング温度)などを適宜選択することができる。
その後、所定のノズル孔を有するノズル板を接合することで、本実施形態の液滴吐出ヘッドを作製することができる。
(液滴吐出装置)
本実施形態に係る圧電素子を液滴吐出装置に応用した実施形態について、説明する。
本実施形態において、液体吐出記録方式の「画像形成装置」は、紙、糸、繊維、布帛、皮革、金属、プラスチック、ガラス、木材、セラミックス等の媒体に液滴を着弾させて画像形成を行う装置を意味し、「画像形成」とは、文字や図形等の意味を持つ画像を媒体に対して付与することだけでなく、パターン等の意味を持たない画像を媒体に付与すること(単に液滴を媒体に着弾させること)をも意味する。
さらに、本実施形態において、「液滴」とは、インクと称されるものに限らず、記録液、定着処理液、樹脂、液体などと称されるものを含み、画像形成を行うことが可能に微細粒状化して液滴にできる全ての液体の液滴の総称として用いる。また、「記録媒体」とは、材質を紙に限定するものではなく、OHPシート、布なども含み、液滴が付着されるものの意味であり、被記録媒体、記録紙、記録用紙、使用可能な薄紙から厚紙、はがき、封筒あるいは単に用紙等と称されるものを含むものの総称として用いる。また、画像とは2次元画像に限らず、3次元画像も含まれる。
図6に、本実施形態に係る液滴吐出装置の一例の概略斜視図を示し、図7に、本実施形態に係る液滴吐出装置の一例の概略側面図を示す。
液滴吐出装置81は、主に、装置本体の内部に主走査方向に移動可能なキャリッジ93と、キャリッジ93に搭載した本発明を実施した液滴吐出ヘッドからなる記録ヘッド94と、記録ヘッド94へインクを供給するインクカートリッジ95とで構成される印字機構部82等を有している。液滴吐出装置81の下方部には前方側から多数枚の用紙83を積載可能な給紙カセット(或いは給紙トレイでもよい。)84を抜き差し自在に装着することができ、また、用紙83を手差しで給紙するための手差しトレイ85を開倒することができ、給紙カセット84或いは手差しトレイ85から給送される用紙83を取り込み、印字機構部82によって所要の画像を記録した後、後面側に装着された排紙トレイ86に排紙する。
印字機構部82は、図示しない左右の側板に横架したガイド部材である主ガイドロッド91と従ガイドロッド92とでキャリッジ93を主走査方向に摺動自在に保持し、このキャリッジ93にはイエロー(Y)、シアン(C)、マゼンタ(M)、ブラック(Bk)の各色のインク滴を吐出する本発明に係るインクジェットヘッドからなる記録ヘッド94を、複数のインク吐出口(ノズル)を主走査方向と交差する方向に配列し、インク滴吐出方向を下方に向けて装着している。またキャリッジ93には記録ヘッド94に各色のインクを供給するための各インクカートリッジ95を交換可能に装着している。
インクカートリッジ95は上方に大気と連通する図示しない大気口、下方にはインクジェットヘッドへインクを供給する図示しない供給口を、内部にはインクが充填された図示しない多孔質体を有しており、該多孔質体の毛管力によりインクジェットヘッドへ供給されるインクをわずかな負圧に維持している。また、記録ヘッドとしてここでは各色のヘッド94を用いているが、各色のインク滴を吐出するノズルを有する1個のヘッドでもよい。
キャリッジ93は後方側(用紙搬送方向下流側)を主ガイドロッド91に摺動自在に嵌装し、前方側(用紙搬送方向上流側)を従ガイドロッド92に摺動自在に載置している。そして、このキャリッジ93を主走査方向に移動走査するため、主走査モータ97で回転駆動される駆動プーリ98と従動プーリ99との間にタイミングベルト100を張装している。タイミングベルト100はキャリッジ93に固定しており、主走査モータ97の正逆回転によりキャリッジ93が往復駆動される。
一方、給紙カセット84にセットした用紙83を記録ヘッド94の下方側に搬送するために、給紙カセット84から用紙83を分離給装する給紙ローラ101及びフリクションパッド102と、用紙83を案内するガイド部材103と、給紙された用紙83を反転させて搬送する搬送ローラ104と、この搬送ローラ104の周面に押し付けられる搬送コロ105及び搬送ローラ104からの用紙83の送り出し角度を規定する先端コロ106とを設けている。搬送ローラ104は副走査モータ107によってギヤ列を介して回転駆動される。
そして、キャリッジ93の主走査方向の移動範囲に対応して搬送ローラ104から送り出された用紙83を記録ヘッド94の下方側で案内する用紙ガイド部材である印写受け部材109を設けている。この印写受け部材109の用紙搬送方向下流側には、用紙83を排紙方向へ送り出すために回転駆動される搬送コロ111、拍車112を設け、さらに用紙83を排紙トレイ86に送り出す排紙ローラ113及び拍車114と、排紙経路を形成するガイド部材115,116とを配設している。
記録時には、キャリッジ93を移動させながら画像信号に応じて記録ヘッド94を駆動することにより、停止している用紙83にインクを吐出して1行分を記録し、用紙83を所定量搬送後次の行の記録を行う。記録終了信号または、用紙83の後端が記録領域に到達した信号を受けることにより、記録動作を終了させ用紙83を排紙する。
キャリッジ93の移動方向右端側の記録領域を外れた位置には、ヘッド94の吐出不良を回復するための回復装置117を配置している。回復装置117はキャップ手段と吸引手段とクリーニング手段を有している。キャリッジ93は印字待機中にはこの回復装置117側に移動されてキャッピング手段でヘッド94をキャッピングされ、吐出口部を湿潤状態に保つことによりインク乾燥による吐出不良を防止する。また、記録途中などに記録と関係しないインクを吐出することにより、全ての吐出口のインク粘度を一定にし、安定した吐出性能を維持する。
吐出不良が発生した場合等には、キャッピング手段でヘッド94の吐出口(ノズル)を密封し、チューブを通して吸引手段で吐出口からインクとともに気泡等を吸い出し、吐出口面に付着したインクやゴミ等はクリーニング手段により除去され吐出不良が回復される。
また、吸引されたインクは、本体下部に設置された図示しない廃インク溜に排出され、廃インク溜内部のインク吸収体に吸収保持される。
本実施形態に係る液滴吐出装置は、振動板駆動不良による液滴吐出不良が少なく、安定した液滴吐出特性が得られる。
10 圧電素子
15 下地層
20 第1の電極
25 積層構造体(圧電膜)
25a 第1の層
25b 第2の層
30 第2の電極
40 液滴吐出ヘッド
41 ノズル
42 圧力室
44 振動板
46 圧力室板
"DOMAIN SIZE EFFECT ON DIELECTRIC PROPERTIES OF BARIUM TITANATE CERAMICS",Japanese Journal of Applied Physics,47,7607(2008).

Claims (15)

  1. 非鉛系複合酸化物を含む積層構造体であって、
    前記積層構造体は、焼結助剤を有し、
    前記積層構造体は、前記焼結助剤の濃度が膜厚方向において一定でなく、第1の焼結助剤濃度を有する第1の層と、前記第1の焼結助剤濃度より前記焼結助剤の濃度が低い第2の焼結助剤濃度を有する第2の層との積層構造を有し、前記第1の層及び前記第2の層がそれぞれ、チタン酸バリウムを含む、積層構造体。
  2. 前記積層構造体は、前記第2の層が前記第1の層の上に積層された積層構造を有する、
    請求項に記載の積層構造体。
  3. 前記積層構造体は、前記積層構造が複数回繰り返された多層積層構造を有する、
    請求項1又は2に記載の積層構造体。
  4. 前記第2の焼結助剤濃度は、前記第1の焼結助剤濃度の50%以下の濃度である、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の積層構造体。
  5. 前記積層構造体は、主成分としてチタン酸バリウムを含む、
    請求項1乃至4のいずれか一項に記載の積層構造体。
  6. 前記焼結助剤は、ホウ素、アルミニウム、シリコン及びアルカリ金属の群から選択される1つ又は2つ以上の元素を含む、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の積層構造体。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の積層構造体を有する、圧電膜。
  8. 膜厚が0.5〜2μmである、請求項7に記載の圧電膜。
  9. 下部電極と、
    請求項7又は8に記載の圧電膜と、
    上部電極と、
    を有する
    圧電素子。
  10. 請求項9に記載の圧電素子を有する液滴吐出ヘッド。
  11. 請求項10に記載の液滴吐出ヘッドを有する液滴吐出装置。
  12. 被処理体上に、第3の焼結助剤濃度を有する前駆体溶液を塗布した後、塗布された前記前駆体溶液の熱処理を行い、第1の非鉛系複合酸化物膜を形成する、第1成膜工程と、
    前記第1の非鉛系複合酸化物膜上に、前記第3の焼結助剤濃度よりも焼結助剤濃度が低い第4の焼結助剤濃度を有する前駆体溶液を塗布した後、塗布された前記前駆体溶液の熱処理を行い、第2の非鉛系複合酸化物膜を形成する、第2成膜工程と、
    を有する、積層構造体の製造方法。
  13. 前記第1成膜工程と前記第2成膜工程とを周期的に又は非周期的に複数回繰り返す、
    請求項12に記載の積層構造体の製造方法。
  14. 前記第4の焼結助剤濃度は、前記第3の焼結助剤濃度の50%以下の濃度である、請求項12又は13に記載の積層構造体の製造方法。
  15. 前記熱処理は、前記前駆体溶液の乾燥処理、熱分解処理及び結晶化処理の少なくとも1つの工程を含む、
    請求項12乃至14のいずれか一項に記載の積層構造体の製造方法。
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