JP6140573B2 - 出力バッファ回路 - Google Patents

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    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers

Description

本発明は、コモンモード電圧および振幅によって規定される差動信号を出力する出力バッファ回路に関するものである。
図10に示すように、定電流型の出力バッファ回路から出力される差動信号間に内蔵の終端抵抗を加えた構成の差動バッファが知られている。差動バッファのなかで、差動信号のコモンモード電圧および振幅が規定されているLVDS(Low Voltage Differential Signaling)やmini−LVDSなどのインタフェイス規格に対応した出力バッファ回路の構成に代表される定電流型の出力バッファ回路のアーキテクチャでは、電源およびグランドと差動スイッチとの間にそれぞれ電流源を配置した構成のものが使用される。
ここで、差動信号の高電位(H)の電圧をVTP、低電位(L)の電圧をVTMとすると、図9に示すように、差動信号のコモンモード電圧VOCは、差動信号のHの電圧VTPとLの電圧VTMの中央の電圧(VOC=(VTP+VTM)/2)で表される。また、差動信号の振幅の電圧VODは、差動信号のHの電圧VTPとLの電圧VTMとの差電圧(|VOD|=|VTP−VTM|)で表される。
しかし、定電流型の出力バッファ回路では、電流源による高いインピーダンスのために差動信号のスルーレートが制限され、定電圧型の出力バッファ回路に比べて同一消費電力条件下では動作速度が劣るという問題がある。
これに対し、図10の構成において、内蔵の終端抵抗と外付けの終端抵抗との合成抵抗の抵抗値が、外付けの終端抵抗の抵抗値の1/2に低減されるとすると、定電圧型の出力バッファ回路の差動信号と同等の動作帯域を得ることができるが、消費電流が2倍になる。
一方、従来の定電圧型の出力バッファ回路として、一般的に、図11に示すように、電源およびグランドと差動スイッチとの間にソースフォロアで構成された電圧源を配置したものがある。しかし、この構成では、差動信号の振幅およびコモンモード電圧を制御することができず、両方の電圧源ともにソースフォロアであることから、差動信号の振幅も、電圧源を構成するMOSの閾値電圧によって制限を受ける。
これに対し、差動信号の振幅を制御可能な既存の定電圧型の出力バッファ回路として、図12に示すように、図11に示す定電圧型の出力バッファ回路の一方の電圧源、図12の例の場合にはグランド側の電圧源をなくして、差動スイッチを直接グランドに接続し、オペアンプにより、基準電圧と、電源側の電圧源から供給される電圧とが等しくなるように制御する構成のものがある。
しかし、この構成では、対地に対して差動信号の振幅を得るので、コモンモード電圧に振幅依存性がある。このため、振幅を大きくするとコモンモード電圧も上昇し、差動信号を受信する受信側の受信可能なコモンモード電圧範囲から外れることがあり、出力可能な振幅範囲が制限されるという問題がある。また、受信側の終端抵抗や伝送線路上の抵抗の値によっても、そのコモンモード電圧が変化するという問題がある。
また、図13に示すように、差動信号の振幅ではなく、コモンモード電圧を制御可能に構成することも可能であるが、この場合には、差動信号の振幅を制御することができなくなる。さらに、振幅調整用のオペアンプとは別のオペアンプを用いて、振幅に依存せずにコモンモード電圧を調整することが考えられるが、同時に2つのフィードバック制御を行うと互いに影響し合い安定動作させることができない。
ここで、本発明に関連性のある先行技術文献として、特許文献1,2などがある。
特許文献1には、電源およびグランドと差動スイッチとの間にそれぞれ電圧源および電流源が配置されたドライバ回路と、ドライバ回路のレプリカ回路とを備え、オペアンプにより、リファレンス電圧とレプリカ回路の所定のノードの電圧とが等しくなるように制御する制御信号を生成し、制御信号をドライバ回路の電源側の電圧源と、レプリカ回路の電源側の電圧源のゲートに入力した構成の出力ドライバ回路が記載されている。
特許文献2には、差動信号の出力ZとZBとの間に、等しい値の内部抵抗R1およびR2が直列に配置され、OPAMPを基本とするフィードバック・ループを用いて、内部抵抗R1,R2の中間のノードMIDにおける共通モード電圧VMIDと、所望の出力電圧VCMとを比較し、OPAMPの出力に応じて、グランド側の電流源が引き出す電流を制御するLVDS出力バッファが記載されている。
しかし、特許文献1の構成では、電流源側はスルーレートを制限され、電圧源側は制限されないため、出力スイッチング時のコモンモード電圧変動が生じる。
また、特許文献2の構成は、コモンモード電圧をVCMによって設定が可能な回路となっているが、定電流型の出力バッファ回路であるため、特許文献1の場合と同様に、コモンモード電圧変動の問題がある。
特開2009−152944号公報 特開平11−330947号公報
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解消し、高速動作が可能で、かつ、差動信号の振幅およびコモンモード電圧を独立して調整することができる定電圧型の出力バッファ回路を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、差動出力バッファと、レプリカ回路と、電流制御回路と、電圧制御回路とを備え、
前記差動出力バッファは、第1電圧源と、電流源と、前記第1電圧源の出力端子と前記電流源との間にそれぞれ直列に接続された第1、第3スイッチおよび第2、第4スイッチとを備え、前記第1、第3スイッチの間の第1ノードと前記第2、第4スイッチの間の第2ノードとの間に終端抵抗が接続され、該終端抵抗に差動出力信号が出力され、
前記第1、第4スイッチの組および前記第2、第3スイッチの組は、前段回路からそれぞれ入力される差動入力信号に応じて、一方の組がオン、他方の組がオフするように制御されるものであり、
前記電流制御回路は、前記第1ノードと第2ノードの間に直列に接続された同じ抵抗値の2つの抵抗素子の間のノード、もしくは前記第3および第4スイッチと前記電流源との間のノードである、第3ノードの電圧が第1基準電圧と等しくなるように、前記電流源に流れる電流を制御するものであり、
前記レプリカ回路は、少なくとも、前記第1電圧源と共通の制御信号によって制御され、該第1電圧源が生成する電圧と同一の電圧を出力端子に出力する第2電圧源と、該第2電圧源の出力端子に接続され、オン状態の前記第1または第2スイッチに相当する第5スイッチと、一定の電流を前記第2電圧源および前記第5スイッチを含む電流経路に流す定電流源とを備え、
前記電圧制御回路は、前記レプリカ回路の前記一定の電流が流れる電流経路の、前記第2電圧源の出力端子を除くいずれかのノードである第4ノードの電圧が第2基準電圧と等しくなるように、前記制御信号を生成するものであって、
前記定電流源との間でカレントミラー回路を構成し、前記差動出力信号の振幅に応じて、前記定電流源が流す一定の電流を調整する振幅調整回路を備えることを特徴とする出力バッファ回路を提供するものである。
ここで、前記レプリカ回路の電流経路が、さらに、前記終端抵抗の抵抗値の1/2に相当する抵抗値を有し、前記第5スイッチを介して前記第2電圧源の出力端子に接続された第1抵抗素子を含み、前記第4ノードが、該第1抵抗素子の前記第5スイッチと反対側のノードであることが好ましい。
また、前記第3ノードが前記2つの抵抗素子の間のノードであり、前記第1基準電圧と前記第2基準電圧とが共通の基準電圧であることが好ましい。
また、前記レプリカ回路の電流経路が、さらに、前記オン状態の前記第3または第4スイッチに相当する第6スイッチと、前記第5スイッチと前記第6スイッチとの間に接続された前記終端抵抗の抵抗値に相当する抵抗値を有する第6抵抗素子とを備え、
前記第3ノードが前記第3および第4スイッチと前記電流源との間のノードであり、前記定電流源が、ゲートに電流設定電圧が供給され、ドレインが前記電流経路に接続された定電流源トランジスタを含み、
前記電流源が、前記第3および第4スイッチにドレインが接続され、前記電流制御回路が前記第3ノードの電圧と前記第1基準電圧とを比較して生成した電流制御信号がゲートに供給され、ソースが前記定電流源トランジスタと共通に接続された電流源トランジスタを含み、前記第1基準電圧が前記定電流源トランジスタのドレインから供給されることが好ましい。
さらに、前記第1ノードに挿入された、第2および第3抵抗素子を備え、前記第2ノードに挿入された、第7および第8抵抗素子を備えることが好ましい。
本発明によれば、定電圧型の出力バッファ回路であるため、定電流型の出力バッファ回路と比べて同一消費電力条件下で高速動作することができる。また、レプリカ回路の第2電流源に流れる電流を適宜調整することにより、差動出力バッファから出力される差動信号の振幅の大きさを調整し、かつ、振幅の調整とは独立してコモンモード電圧を調整することができる。
本発明の出力バッファ回路の構成を表す第1実施形態の回路図である。 図1に示す出力バッファ回路の各部位における電圧、電流、抵抗値を示す概念図である。 本発明の出力バッファ回路の構成を表す第2実施形態の回路図である。 本発明の出力バッファ回路の構成を表す第3実施形態の回路図である。 本発明の出力バッファ回路の構成を表す第4実施形態の回路図である。 本発明の出力バッファ回路の構成を表す第5実施形態の回路図である。 本発明の出力バッファ回路の構成を表す第6実施形態の回路図である。 本発明の出力バッファ回路の構成を表す第7実施形態の回路図である。 出力の差動信号の高電位の電圧VTP、低電位の電圧VTM、振幅の電圧VOD、コモンモード電圧VOCの関係を表す概念図である。 従来の定電流型の出力バッファ回路の構成を表す一例の回路図である。 従来の定電圧型の出力バッファ回路の構成を表す一例の回路図である。 従来の定電圧型の出力バッファ回路の構成を表す一例の回路図である。 従来の定電圧型の出力バッファ回路の構成を表す一例の回路図である。
以下に、添付の図面に示す好適実施形態に基づいて、本発明の出力バッファ回路を詳細に説明する。
図1は、本発明の出力バッファ回路の構成を表す第1実施形態の回路図である。同図に示す出力バッファ回路10は、定電圧型のものであり、差動出力バッファ12と、レプリカ回路14と、オペアンプ16,18と、定電流発生回路19とを備えている。
差動出力バッファ12は、この差動出力バッファ12に所定の電圧を供給する電圧源のNMOS(N型MOSトランジスタ)20(第1電圧源)と、所定の電流をグランドに流す電流源のNMOS22(電流源)と、差動スイッチのPMOS(P型MOSトランジスタ)24,26(第1、第2スイッチ)およびNMOS28,30(第3、第4スイッチ)と、同じ抵抗値を持つ2つの抵抗素子32,34(第4、第5抵抗素子)とを備えている。
ソースフォロア回路であるNMOS20は、電源(第1電源)に接続され、NMOS22はグランド(第2電源)に接続されている。PMOS24およびNMOS28(第1、第3スイッチ)と、PMOS26およびNMOS30(第2、第4スイッチ)とは、それぞれ、NMOS20とNMOS22との間に直列に接続されている。抵抗素子32,34は、PMOS24とNMOS28との間のノード(第1ノード)と、PMOS26とNMOS30との間のノード(第2ノード)との間に直列に接続されている。
図示省略しているが、PMOS24およびNMOS30の組と、PMOS26およびNMOS28の組とは、前段回路から入力される差動信号に応じて、一方の組がオン、他方の組がオフするように制御される。また、第1および第2ノードから、外部出力端子38A、38Bを介して差動出力バッファ12の差動信号が出力バッファ回路10の外部へ出力され、この差動信号の間(外部出力端子38A、38Bの間)に外付けの終端抵抗36が接続される。
続いて、オペアンプ16(電流制御回路)の+端子には、抵抗素子32,34の間のノード(第3ノード)の電圧(コモンモード電圧相当)が入力(コモンモードフィードバック)され、−端子には、出力バッファ回路10の外部から供給される基準電圧VOCREF(第1基準電圧)が入力されている。オペアンプ16は、基準電圧VOCREFと第3ノードの電圧とが等しくなるように、NMOS22に流れる電流を制御する電流制御信号を出力する。オペアンプ16から出力される制御信号はNMOS22のゲートに入力される。
続いて、レプリカ回路14は、差動出力バッファ12を模擬して構成された回路であり、差動出力バッファ12のNMOS20に相当する、ソースフォロア回路のNMOS40(第2電圧源)と、NMOS22に相当するNMOS42(定電流源)と、オン状態のPMOS24またはPMOS26に相当するPMOS44(第5スイッチ)と、外付けの終端抵抗36の1/2の抵抗値をもつ抵抗素子46A(第1抵抗素子)とを備えている。
レプリカ回路14のNMOS40、PMOS44、抵抗素子46AおよびNMOS42は、この順序で電源(第1電源)とグランド(第3電源)との間に直列に接続されている。また、PMOS44のゲートはグランド(第3電源)に接続されている。
レプリカ回路14を構成するPMOS44、NMOS40,42のサイズは、差動出力バッファ12を構成するPMOS24,26、NMOS20,22,28,30の1/m倍(mは正の数)のサイズであり、抵抗素子46Aは、終端抵抗36の抵抗値のm/2倍の抵抗値を持つ。本実施形態は、m=1の場合の例である。また、1つのレプリカ回路14を、複数の差動出力バッファ12で共用することができる。
続いて、オペアンプ18(電圧制御回路)の+端子には基準電圧VOCREF(第2基準電圧)が入力され、−端子には、抵抗素子46AとNMOS42との間のノード(第4ノード)の電圧(コモンモード電圧相当)が入力されている。オペアンプ18は、基準電圧VOCREFと第4ノードの電圧とが等しくなるように、NMOS40からレプリカ回路14に供給される電圧を制御する電圧制御信号を出力する。オペアンプ18から出力される制御信号は、NMOS40およびNMOS20のゲートに入力される。
最後に、定電流発生回路19は、NMOS42、すなわち、レプリカ回路14、ひいては出力信号が遷移しないときに差動出力バッファ12に流れる電流を発生するものであり、定電流IVODを流す定電流源50と、NMOS52とを備えている。
定電流源50およびNMOS52は、差動出力信号の振幅の仕様に応じて、定電流源であるNMOS42が流す一定の電流を調整する振幅調整回路を構成するものであり、電源(第1電源)とグランド(第3電源)との間に直列に接続されている。NMOS52のゲートと、レプリカ回路14のNMOS42のゲートとは、定電流源50とNMOS52との間のノードに接続されている。つまり、NMOS42のゲートには、レプリカ回路14の電流経路に流す電流を決定する電流設定電圧が入力され、NMOS42,52は、カレントミラー回路を構成する。
つまり、定電流源であるNMOS42は、一定の電流を第2電圧源であるNMOS40および第5スイッチであるPMOS44を含む電流経路に流す。
定電流発生回路19のNMOS52のサイズは、レプリカ回路14のNMOS42の1/s倍(sは正の整数)のサイズである。本実施形態は、s=1(ミラー比=1:1)の場合の例である。また、1つの定電流発生回路19を、複数のレプリカ回路14で共用することができる。
次に、出力バッファ回路10の動作を説明する。
定電流発生回路19の定電流源50から供給される定電流IVODは、NMOS52を介してグランドに流れる。NMOS52に流れる定電流IVODは、カレントミラー回路によりNMOS52からレプリカ回路14のNMOS42にミラーされ、NMOS42には定電流IVODが流れる。つまり、レプリカ回路14では、電源から、NMOS40、PMOS44、抵抗素子46A、NMOS42を介してグランドに定電流IVODが流れる。
また、オペアンプ18からは、基準電圧VOCREFと、レプリカ回路14の抵抗素子46AとNMOS42との間の第4ノードの電圧とが等しくなるように、NMOS40からレプリカ回路14に供給される電圧を制御する制御信号が出力され、NMOS40およびNMOS20のゲートに入力される。
差動出力バッファ12では、レプリカ回路14が差動出力バッファ12を模擬して構成された回路であり、オペアンプ18からの制御信号がNMOS40,20のゲートに共通に入力され、NMOS20から差動出力バッファ12に電圧が供給される。オペアンプ16からは基準電圧VOCREFと差動出力バッファ12の抵抗素子32,34の間の第3ノードの電圧とが等しくなるような電流がNMOS22から流れるよう、NMOS22のゲートを制御する制御信号が出力される。
差動出力バッファ12から出力される差動信号の振幅の電圧VODは、終端抵抗36の抵抗値RTERMと、終端抵抗36に流れる電流ISSとの積(VOD=RTERM×ISS)によって決定される。従って、レプリカ回路14のNMOS42に流れる定電流IVOD、すなわち、定電流発生回路19の定電流源50から供給される定電流IVODを適宜調整することにより、差動出力バッファ12に流れる定電流ISSを調整し、差動出力バッファ12から出力される差動信号の振幅の大きさを調整することができる。
差動出力バッファ12では、オペアンプ16から入力される制御信号に応じて、第3ノードの電圧、すなわち、差動出力バッファ12から出力される差動信号のコモンモード電圧が基準電圧VOCREFと等しくなるような電流がNMOS22に流れる。従って、基準電圧VOCREFを適宜調整することにより、コモンモード電圧を調整することができる。
上記のように、出力バッファ回路10は、定電流型の出力バッファ回路と比べて同一消費電力条件下で高速動作を維持しつつ、かつ、定電圧型の出力バッファ回路と比較して、コモンモード電圧の振幅依存性を解消し、差動信号の振幅およびコモンモード電圧をそれぞれ独立して調整することができる。
以下、図2に示す概念図を参照して、差動出力バッファ12から出力される差動信号が遷移しないときのコモンモード電圧VOCおよび振幅の電圧VODについて説明する。
オペアンプ16により、差動出力バッファ12でコモンモードフィードバック制御が行われるため、コモンモード電圧VOCと基準電圧VOCREFとは常に以下の式(1)の関係にある。
OC=VOCREF … (1)
差動出力バッファ12では、コモンモードフィードバック制御を行うために、RTF/2の抵抗値を持つ抵抗素子32,34によって、VOC=(VTP+VTM)/2が生成される。抵抗素子32,34の抵抗値RTFは外付けの終端抵抗36の抵抗値RTERMに対して十分に大きな値を持つため、抵抗素子32,34に流れ込む電流は無視することが出来る。
続いて、レプリカ回路14のPMOS44のオン抵抗をRPI、終端抵抗36を模擬した抵抗素子46Aの抵抗値をRTI/2とし、差動出力バッファ12のPMOS24,26のオン抵抗をRPFとし、レプリカ回路14と差動出力バッファ12のサイズ比の関係をmとすると、出力バッファ回路10は、以下の式(2)および(3)の関係が成り立つように設計される。
PI=m*RPF … (2)
TI=m*RTERM … (3)
定電流発生回路19の定電流源50から供給される電流をIVODとし、IVOD*RTI/2=VOD/2となるように制御されたレプリカ回路14の電流源のNMOS42を用い、電圧源のNMOS40のソース端電位をV_Iとし、定電流発生回路19のNMOS52およびレプリカ回路14の電流源のNMOS42により構成されるカレントミラー回路のミラー比を1:1とすると、上記式(2)および(3)から式(4)の関係がある。
_I=VOCREF+(RPI+RTI/2)*IVOD … (4)
式(4)では、オペアンプ18により、レプリカ回路14でコモンモードフィードバック制御が行われることから、第4ノードの電圧がVOCREFとなるように制御されることを利用している。
続いて、レプリカ回路14の電圧源のNMOS40のゲート電圧をV、ゲート−ソース間電圧をVGS_Iとし、差動出力バッファ12の電圧源のNMOS20のソース端電位をV_F、ゲート−ソース間電圧をVGS_Fとすると、式(5)のように表すことができる。
_F=V−VGS_F
=V_I+VGS_I−VGS_F
=VOCREF+(RPI+RTI/2)*IVOD+VGS_I−VGS_F … (5)
また、差動信号の振幅の電圧VODは以下の式(6)の関係にある。
OD=(V_F−VOC)/(RPF+RTERM/2)*RTERM
=(VOCREF+(RPI+RTI/2)*IVOD+VGS_I−VGS_F−VOC)/(RPF+RTERM/2)*RTERM … (6)
ここで、外付けの終端抵抗36に流れる電流をISSとし、オペアンプ16を用いているため、VOC=VOCREF、レプリカ回路14を用いているため、VGS_I≒VGS_Fと置くと、式(7)の関係となる。レプリカ回路14の利用によって、VOCのRPFの依存性を消すことができる。
OD=(RPI+RTI/2)*IVOD/(RPF+RTERM/2)*RTERM
=(RPI+RI/2)/{m*(RPF+RTERM/2)}*ISS*RTERM … (7)
また、図2から、(RPI+RTI/2)=m*(RPF+RTERM/2)といえるので、式(7)から式(8)が導き出される。
OD=m*IVOD*RTERM … (8)
つまり、VGS_I≒VGS_Fの関係が成り立つ範囲で、式(8)の「VOD=m*IVOD*RTERM」からVOCを一定に決めることができている。
従って、外付けの終端抵抗36に流れる電流ISSと、差動信号の振幅の電圧VODと、定電流発生回路19の定電流源50から供給される電流IVODの関係は、式(9)および(10)で表される。
OD=ISS*RTERM … (9)
VOD=ISS/m … (10)
続いて、差動出力バッファ12の差動出力信号が遷移するときの動作を説明する。
前段回路から入力される差動信号に応じて、PMOS24およびNMOS30の組がオン、PMOS26およびNMOS28の組がオフになると、電源から、NMOS20、PMOS24、終端抵抗36、NMOS30、NMOS22を介してグランドに定電流IVODに等しい定電流ISSが流れる。一方、PMOS24およびNMOS30の組がオフ、PMOS26およびNMOS28の組がオンになると、電源から、NMOS20、PMOS26、終端抵抗36、NMOS28、NMOS22を介してグランドに定電流ISSが流れる。
ここで、差動出力信号の一方のノードがHからL(つまり、他方のノードがLからH)に変化すると、出力が変わった当初は、NMOS20のVGSが急激に増加するため、NMOS20を流れる電流量が一気に増加し、差動出力バッファ12の低電位ノード(Lを出力していたノード)に電荷が供給される。
この時、ISSは、出力が変化する前と同じ電流量となっており、そうすると上記低電位ノードへの電荷の供給によってコモン電位(抵抗素子32,34の間のノードの電位)も電位が上昇を始める。
コモン電位が上昇するため、オペアンプ16が反応してコモン電位を下げようと、NMOS22のゲート電圧を上げる。これに応じて、ISSが増加し、差動出力バッファ12のスルーレートが増加する。
定電流型の出力バッファ回路の場合、既に述べたように、電流源による高いインピーダンスのために差動信号のスルーレートが制限され、定電圧型の出力バッファ回路に比べて同一消費電力条件下では動作速度が劣る。これに対し、本実施形態の出力バッファ回路10では、出力信号が遷移する期間には、遷移が無い期間に比較して、流れる電流が増大する。これによって出力信号を高速に遷移させることができる。すなわち、本実施形態の出力バッファ回路10は、定電流型ではなく、定電圧型出力バッファ回路として動作する。
図1に示した本実施形態の出力バッファ回路10では、オペアンプ18の−端子に、出力信号のコモンモード電圧に対応する、抵抗素子46Aの、PMOS44に接続された側とは反対側のノード(第4ノード)の電圧を入力した。しかし、出力信号の高電圧に対応する、抵抗素子46Aの、PMOS44に接続された側のノードの電圧を、オペアンプ18の端子に入力することも可能である。また、レプリカ回路14は、図3に示すように、さらに、外付けの終端抵抗36の1/2の抵抗値を持つもう1つの抵抗素子46Bと、差動出力バッファ12のオン状態のNMOS28またはNMOS30に相当する、ゲートが電源(第1電源)に接続されたNMOS48とを、抵抗素子46AとNMOS42との間に直列に接続した構成のものであってもよい。抵抗素子46BおよびNMOS48は、レプリカ回路14の動作には何ら影響を与えない。そして、出力信号の定電圧に対応する、抵抗素子46Bの、NMOS48に接続された側のノードの電圧を、オペアンプ18の端子に入力することも可能である。この場合には、NMOS48を省略することも可能である。いずれの場合にも、オペアンプ18の+端子には、対応する基準電圧を供給する。
なお、上記のように、レプリカ回路14の参照ノードを第1実施形態とは別のノードから取った場合には、レプリカ回路14のオペアンプ18と差動出力バッファ12のオペアンプ16の+端子に入力する制御信号は同一には出来ない。
また、図4に示すように、差動出力バッファ12の差動スイッチのPMOSおよびNMOSを除く、その他のPMOSとNMOSとを入れ換えて出力バッファ回路を構成しても同様の機能を果たす回路を得ることができる。
この場合、差動出力バッファ12の電源側のPMOS54が電流源、グランド側のPMOS56は、ソースフォロア回路の電圧源となる。これに応じて、オペアンプ16からの制御信号は電流源のPMOS54のゲートに入力され、オペアンプ18からの制御信号は差動出力バッファ12のグランド側のPMOS56およびこれに相当するレプリカ回路14のPMOS60のゲートに入力される。また、定電流発生回路19の定電流源50は、電源からグランドに定電流IVODを流し、定電流発生回路19のPMOS62とレプリカ回路14の電流源のPMOS58とによってカレントミラー回路が構成される。
また、差動出力バッファ12の差動スイッチは、PMOSとNMOSとの組合せに限らず、PMOSのみ、または、NMOSのみで構成することも可能である。
図5は、差動スイッチをNMOS64,66,68,70のみで構成したものである。差動スイッチの構成に応じて、差動スイッチに対応するレプリカ回路14の構成もNMOS72,74に変更されている。この場合も、NMOS64,70の組と、NMOS66,68の組とは、前段回路から入力される差動信号に応じて、一方の組がオン、他方の組がオフするように制御される。また、図6は差動スイッチと、差動スイッチに相当するレプリカ回路をPMOSのみで構成したものである。図5と同様に前段回路から入力される差動信号に応じて、一方の組がオン、他方の組がオフするように制御される。
また、図7に示すように、差動出力バッファ12のPMOS24とNMOS28との間の第1ノードに抵抗素子88Aおよび88B(第2および第3抵抗素子)を挿入し、また、PMOS26とNMOS30との間の第2ノードに抵抗素子90Aおよび90B(第7および第8抵抗素子)を挿入し、抵抗素子88Aおよび90Aの抵抗値を等しくし、抵抗素子88Bおよび90Bの抵抗値を等しくする。このとき、抵抗素子88Aおよび90Aの組と、抵抗素子88Bおよび90Bの組とでは、抵抗値を異なったものとしてもよい。
図7に示す例の場合、抵抗素子88Aが、PMOS24と外部出力端子38Aとの間の第1ノードに接続され、抵抗素子88Bが、外部出力端子38AとNMOS28との間の第1ノードに接続されている。また、抵抗素子90Aが、PMOS26と外部出力端子38Bとの間の第2ノードに接続され、抵抗素子90Bが、外部出力端子38BとNMOS30との間の第2ノードに接続されている。抵抗素子88A,88Bおよび90A,90Bは、終端抵抗の1/2にしてもよい。
差動スイッチをMOSで構成した場合、MOSのオン抵抗には製造上のバラツキ等が生じる場合がある。これに対し、MOSのオン抵抗よりもバラツキの小さい抵抗素子を挿入することにより、両者の合成抵抗の抵抗値のバラツキを小さく抑えることができ、MOSのオン抵抗のバラツキによる影響を低減させることができる。
なお、抵抗素子88A,88Bを、PMOS24とNMOS28との間ではなく、PMOS24とNMOS28との間のノードと、外部出力端子38Aとの間のノードに接続してもよい。抵抗素子90A,90Bも同様である。
差動出力バッファ12の第1電圧源、第1電流源、差動スイッチ、および、これに対応するレプリカ回路14の第2電圧源、第2電流源、第5スイッチ等は、MOSで構成されたものに限らず、同様の機能を果たす別の回路で構成してもよい。
第3電源は、第2電源と同じ電圧、例えば、上記実施形態のようにグランドを供給するものであってもよいし、第2電源とは異なる電圧、例えば、所定の低電圧を供給するものであってもよい。また、第1電源についてもレプリカ14とバッファ12で電源電圧が異なっていてもよい。
電圧制御回路は、基準電圧と、NMOS40からNMOS42までの間の所定のノード(本実施形態では第4ノード)の電圧とが等しくなるように、NMOS40からレプリカ回路14に供給される電圧を制御する制御信号を生成し、電圧制御回路から出力される制御信号により、NMOS40およびNMOS20からそれぞれの回路に供給される電圧を制御するものであれば、どのような構成の回路であってもよい。
また、第3ノードと第4ノードは対応するノードではなく、上記実施形態の場合とは異なるノードを選択することも可能である。例えば、第3ノードは、第3および第4スイッチと電流源との間のノードを選択することができる。また、第4ノードとして、レプリカ回路の電流経路の、第2電圧源の出力端子を除くいずれかのノードを選択することができる。すなわち、電流制御回路と電圧制御回路とで同じ基準電圧VOCREFを使用する必要はなく、別々の基準電圧を使用することができる。
例えば、図8のように、電流制御回路に使用する基準電圧はVOCREFではなく、レプリカ回路14のなかで、差動出力バッファ12のNMOS28,30とNMOS22との間のノードに対応するNMOS48とNMOS42の間のノード(VLREF)を使用している。
また、この図8の場合、リファレンス電圧は、第3ノード用のVOCREFを外部から制御せず、レプリカ回路14からとって制御する方法をとっている。
この実施形態の場合、第3ノードに対応するノードが差動スイッチのNMOS28,30と電流源のNMOS22との間のノードであるとすると、電流制御回路によって第3ノードの電圧を所望の電圧に調整することにより、これに応じて、結果的に差動信号のコモンモード電圧を所望の電圧に調整することができる。
なお、VLREFを生成する回路を別に用意する場合には、レプリカ回路14からRTI/2の一方と、NMOS48を省略可能である。
本発明は、基本的に以上のようなものである。
以上、本発明について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
10 出力バッファ回路
12 差動出力バッファ
14 レプリカ回路
16,18 オペアンプ
19 定電流発生回路
20,22,28,30,40,42,48,52,64,66,68,70,72,74 NMOS
24,26,44,54,56,58,60,62,76,78,80,82,84,86 PMOS
32,34,36,46A,46B,88A,88B,90A,90B,92A,92B 抵抗素子
38A,38B 外部出力端子
50 定電流源

Claims (5)

  1. 差動出力バッファと、レプリカ回路と、電流制御回路と、電圧制御回路とを備え、
    前記差動出力バッファは、第1電圧源と、電流源と、前記第1電圧源の出力端子と前記電流源との間にそれぞれ直列に接続された第1、第3スイッチおよび第2、第4スイッチとを備え、前記第1、第3スイッチの間の第1ノードと前記第2、第4スイッチの間の第2ノードとの間に終端抵抗が接続され、該終端抵抗に差動出力信号が出力され、
    前記第1、第4スイッチの組および前記第2、第3スイッチの組は、前段回路からそれぞれ入力される差動入力信号に応じて、一方の組がオン、他方の組がオフするように制御されるものであり、
    前記電流制御回路は、前記第1ノードと第2ノードの間に直列に接続された同じ抵抗値の2つの抵抗素子の間のノード、もしくは前記第3および第4スイッチと前記電流源との間のノードである、第3ノードの電圧が第1基準電圧と等しくなるように、前記電流源に流れる電流を制御するものであり、
    前記レプリカ回路は、少なくとも、前記第1電圧源と共通の制御信号によって制御され、該第1電圧源が生成する電圧と同一の電圧を出力端子に出力する第2電圧源と、該第2電圧源の出力端子に接続された第5スイッチと、一定の電流を前記第2電圧源および前記第5スイッチを含む電流経路に流す定電流源とを備え、
    前記電圧制御回路は、前記レプリカ回路の前記一定の電流が流れる電流経路の、前記第2電圧源の出力端子を除くいずれかのノードである第4ノードの電圧が第2基準電圧と等しくなるように、前記制御信号を生成するものであって、
    前記定電流源との間でカレントミラー回路を構成し、前記差動出力信号の振幅に応じて、前記定電流源が流す一定の電流を調整する振幅調整回路を備えることを特徴とする出力バッファ回路。
  2. 前記レプリカ回路の電流経路が、さらに、前記終端抵抗の抵抗値の1/2に相当する抵抗値を有し、前記第5スイッチを介して前記第2電圧源の出力端子に接続された第1抵抗素子を含み、前記第4ノードが、該第1抵抗素子の前記第5スイッチと反対側のノードであることを特徴とする請求項1記載の出力バッファ回路。
  3. 前記第3ノードが前記2つの抵抗素子の間のノードであり、前記第1基準電圧と前記第2基準電圧とが共通の基準電圧であることを特徴とする請求項2記載の出力バッファ回路。
  4. 前記レプリカ回路の電流経路が、さらに、前記オン状態の前記第3または第4スイッチに相当する第6スイッチと、前記第5スイッチと前記第6スイッチとの間に接続された前記終端抵抗の抵抗値に相当する抵抗値を有する第6抵抗素子とを備え、
    前記第3ノードが前記第3および第4スイッチと前記電流源との間のノードであり、前記定電流源が、ゲートに電流設定電圧が供給され、ドレインが前記電流経路に接続された定電流源トランジスタを含み、
    前記電流源が、前記第3および第4スイッチにドレインが接続され、前記電流制御回路が前記第3ノードの電圧と前記第1基準電圧とを比較して生成した電流制御信号がゲートに供給され、ソースが前記定電流源トランジスタと共通に接続された電流源トランジスタを含み、前記第1基準電圧が前記定電流源トランジスタのドレインから供給されることを特徴とする請求項1記載の出力バッファ回路。
  5. 前記第1ノードに挿入された、第2および第3抵抗素子を備え、
    前記第2ノードに挿入された、第7および第8抵抗素子を備えることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の出力バッファ回路。
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