JP6134483B2 - ガス分析装置 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 319
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 120
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 57
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 35
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 claims description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 526
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 59
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N Nitric oxide Chemical compound O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 33
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 28
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 21
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 20
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N sulfur monoxide Chemical compound S=O XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- TXKMVPPZCYKFAC-UHFFFAOYSA-N disulfur monoxide Inorganic materials O=S=S TXKMVPPZCYKFAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000047 product Substances 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 3
- PAWQVTBBRAZDMG-UHFFFAOYSA-N 2-(3-bromo-2-fluorophenyl)acetic acid Chemical compound OC(=O)CC1=CC=CC(Br)=C1F PAWQVTBBRAZDMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 2
- BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N ammonium sulfate Chemical compound N.N.OS(O)(=O)=O BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052921 ammonium sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000274 adsorptive effect Effects 0.000 description 1
- 235000011130 ammonium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- 229910000963 austenitic stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 1
- 238000005524 ceramic coating Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003546 flue gas Substances 0.000 description 1
- 239000010436 fluorite Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012265 solid product Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910052815 sulfur oxide Inorganic materials 0.000 description 1
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
この装置では、試料ガスは、吸引部により、煙道内から試料ガス導入部を通って、さらにプローブ管の試料ガスサンプリング空間中に導入される。その状態で、照射部が試料ガスサンプリング空間中へ測定光を照射して、受光部が試料ガスサンプリング空間を通過した測定光を受光する。以上に述べた測定時において、試料ガスが試料ガス導入部を通過する間に、試料ガス導入部の圧損により、試料ガスは減圧されて試料ガスサンプリング空間内に導入される。この結果、減圧になると吸光スペクトルの線幅が細くなることから、極性ガスの吸光スペクトルが干渉成分ガスの影響を受けにくくなる。よって、極性ガスが低濃度であった場合でも極性ガス濃度を正確に測定できる。
さらに、プローブ管の少なくとも一部が煙道内に配置されているので、試料ガスを短い距離で試料ガスサンプリング空間中に取り込むことができる。これにより、極性ガスのサンプリングロスを最小限にでき、その結果、極性ガスが低濃度であった場合でも極性ガス濃度を正確に測定できる。さらに、試料ガスサンプリング開始から試料ガスが試料ガスサンプリング空間内へ到達するまでの時間が短くなるので、極性ガスの濃度をリアルタイムに測定できる。
この装置では、温度調節部によって、試料ガスサンプリング空間内を一定の温度に保持することができる。したがって、試料ガス中に共存する他の成分(例えば、硫黄酸化物(SOx)、窒素酸化物(NOx)など)と極性ガスの反応物の生成を抑制することができる。また、測定時の試料ガス温度を、煙道内を流れるガスの温度よりも下げつつ、試料ガス中の極性ガスと上記の共存ガスとの反応物が生成されない温度に確実に制御することができる。これにより、極性ガスの強度に対する干渉ガスのスペクトルの強度を相対的に低下させ、結果的に煙道内でそのまま計測するより高感度で、干渉影響を受けにくい計測が可能となる。よって、極性ガスの濃度を正確に測定することができる。
この装置では、ガス流量制限部によって、試料ガス導入部の圧損をさらに大きくできる。これにより、試料ガスサンプリング空間の圧力が煙道内の圧力変化の影響を受けにくくなり、試料ガスサンプリング空間の圧力を一定に保つことができ、かつ、試料ガスサンプリング空間の圧力をさらに減圧できる。つまり、圧力による測定値の影響が少なくなり、その結果、低濃度の極性ガスの濃度を正確に測定できる。
粉塵捕獲フィルタは、煙道内を流れるガス中に含まれる粉塵成分を捕獲する。したがって、粉塵成分が試料ガスサンプリング空間内へ導入されにくくなる。これにより、光学系の汚染を抑制でき、また、測定光が粉塵により乱反射を起こすことを防ぐことができる。以上の結果、極性ガスの濃度を正確に測定できる。
この装置では、校正用ガス導入口から試料ガス導入室に校正用ガスが導入されると、校正用ガスは試料ガスサンプリング空間内に流れる。この状態で、実ガス(極性ガス、試料ガスの主成分ガスなど)によるガス分析装置の校正(ゼロ点補正、スパン校正など)が行われる。なお、以上の校正は、ガス分析装置を煙道から取り外すことなく、行われる。
図1は、本発明の第1実施形態に係るガス分析装置100の構成を示す断面図であり、図2は、ガス分析装置100の要部拡大図である。
ガス分析装置100は、煙道50内を流れるガスS内の極性ガスの濃度分析を行う装置である。なお、極性ガスの一例としては、NH3がある。また、煙道50は、例えば、発電プラントの燃焼ボイラーから煙突までのガス通路である。
このようにプローブ管2が煙道側壁51の部分に配置されているので、ガス分析装置100の占有空間が小さくなる。
プローブ管2の構造は後に詳細に説明する。
照射部62は、プローブ管2の試料ガスサンプリング空間22にある試料ガスに向けて測定光となる光を照射する光源であり、所定波長域の光を照射するレーザ発信装置などで構成できる。受光部64は、試料ガスサンプリング空間22に導入された試料ガスを通過した測定光を受光するための受光素子である。
また、レーザ光源は波長可変の単色光であるので、分光器等を必要としないので、装置の設置が大掛かりにならずに済むので、プローブ管2を煙道側壁51の部分に設置して、ガス分析装置100の占有空間を小さくすることができる。
次に、第1実施形態に係るガス分析装置100により煙道50内を流れるガスSの極性ガス成分の濃度を分析する方法について説明する。
ここで、ガス分析装置100を用いて極性ガス成分の濃度分析を行う前に、後述する、ガス分析装置100のゼロ点補正及びスパン校正はすでに行われているものとする。
例えば、測定対象の極性ガスがアンモニアの場合、共存ガスに硫黄酸化物(SOx)が含まれるときは、320℃以上、400℃以下に設定する。この場合、320℃以下になると、アンモニアと硫黄酸化物(SOx)とが反応し、硫酸アンモニウム(硫安、(NH4)2SO4)が生成する。例えば、また、共存ガスに窒素酸化物(NOx)が含まれるときは、180℃以上、400℃以下に設定する。この場合、180℃以下になると、アンモニアと窒素酸化物(NOx)とが反応し、硝酸アンモニウム(硝安、NH4NO3)が生成する。
ガス分析装置100により極性ガスの濃度を精度よく測定することを目的として、ガス分析装置100のゼロ点補正及びスパン校正を行う。ゼロ点補正とは、極性ガスが試料ガス中に存在していないガス(ゼロガス)のガス分析装置100で得られる測定値を、ガス分析装置100のベースラインとするガス分析装置100の校正のことをいう。スパン校正とは、極性ガスの濃度が分かっているスパンガスをガス分析装置100を用いて測定した結果と、ゼロ点補正結果とに基づいて、ガス分析装置100の極性ガス濃度に対する指示値の校正を行うことをいう。
ガス分析装置100(ガス分析装置の一例)は、煙道内を流れるガスS中の極性ガス成分濃度を分析する装置であって、プローブ管2と、試料ガス導入部4と、照射部62と、受光部64と、吸引管10、吸引装置16と、を有している。プローブ管2(プローブ管の一例)は、少なくとも一部が煙道50内に配置され、試料ガスサンプリング空間22(試料ガスサンプリング空間の一例)を有する。試料ガス導入部4(試料ガス導入部の一例)は、プローブ管2の先端部に配置され、煙道50内を流れるガスを試料ガスサンプリング空間22に減圧し導入する。照射部62(照射部の一例)は、試料ガスサンプリング空間22中へ測定光を照射する。受光部64(受光部の一例)は、試料ガスサンプリング空間22を通過した測定光を受光する。吸引管10(吸引部の吸引管の一例)は、吸引装置16(吸引部の吸引装置の一例)に接続され、プローブ管2の試料ガスサンプリング空間22に対応する部分に設けられ、試料ガスサンプリング空間22を吸引するために用いられる。
煙道50内を流れるガスは、試料ガスサンプリング空間22を吸引部により吸引することで、試料ガス導入部4によって取り込まれ、さらにプローブ管2の試料ガスサンプリング空間22中に導入される。その状態で、照射部62が試料ガスサンプリング空間中へ測定光を照射して、受光部64が試料ガスサンプリング空間22を通過した測定光を受光する。以上に述べた測定時において、煙道50内を流れるガスから取り込まれた試料ガスが試料ガス導入部を通過する間に、試料ガス導入部の圧損により、試料ガスは減圧されて試料ガスサンプリング空間内に導入される。この結果、減圧になると吸光スペクトルの線幅が細くなることから、極性ガスの吸光スペクトルが水分などの共存ガスの干渉影響を受けにくくなる。よって、極性ガスが低濃度であった場合でも正確に極性ガス濃度を測定することができる。また、プローブ管2の少なくとも一部が煙道50内に配置されているので、試料ガスを短い距離で試料ガスサンプリング空間22中に取り込むことができる。これにより、極性ガスのサンプリングロスを最小限にでき、その結果、極性ガスが低濃度であった場合でも極性ガスの濃度を正確に測定できる。さらに、試料ガスサンプリング開始から試料ガスが試料ガスサンプリング空間22内へ到達するまでの時間が短くなるので、極性ガスの濃度をリアルタイムに測定できる。
温度調節部24によって、試料ガスサンプリング空間22内を一定の温度に保持することができる。これにより、煙道50内の温度が高い場合、試料ガスサンプリング空間22内の温度を、試料ガス中に共存する他の成分(例えば、SOx、NOxなど)と極性ガスの反応物の生成を抑制できる温度まで下げて極性ガスの濃度を測定できる。この結果、測定感度の低下を抑制できる。これにより、極性ガスの濃度を正確に測定することができる。
試料ガス導入部4のガス流量制限部48は、試料ガス導入部4の圧損をさらに大きくできる。これにより、試料ガスサンプリング空間22の圧力が煙道50内の圧力変化の影響を受けにくくなり、かつ、試料ガスサンプリング空間22をさらに減圧できる。試料ガスサンプリング空間22を圧力を一定に保ちつつ減圧にすることができる。つまり、圧力による測定値の影響がなくなり、その結果、低濃度の極性ガスの濃度を正確に測定できる。
したがって、粉塵成分が試料ガスサンプリング空間22内へ導入されにくくなる。これにより、光学系の汚染を抑制でき、また、測定光が粉塵により乱反射を起こすことを防ぐことができる。以上の結果、極性ガスの濃度を正確に測定できる。
ガス分析装置100では、校正用ガス導入管44から試料ガス導入室41に校正用ガスが導入されると、校正用ガスは試料ガスサンプリング空間22内に流れる。この状態で、実ガス(試料ガスの主成分ガス、極性ガスなど)によるガス分析装置100の校正(ゼロ点補正、スパン校正など)が行われる。なお、以上の校正は、ガス分析装置100を煙道50から取り外すことなく、行われる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。特に、本明細書に書かれた複数の実施形態及び変形例は必要に応じて任意に組み合せ可能である。
前記実施形態では、プローブ管2概ね全体が煙道50内に配置されているが、本発明はそのような実施形態に限定されない。プローブ管は基端側の部分が煙道から外に突出していてもよい。
前記実施形態では、試料ガス導入部4のみがガスSの流路に配置されているが、本発明はそのような実施形態に限定されない。試料ガス導入部が側壁51の孔部51a内に収納されていてもよいし、逆に、プローブ管の先端部分も試料ガス導入部と共にガスSの流路に配置されていてもよい。
2 プローブ管
20 フランジ
22 試料ガスサンプリング空間
24 温度調節部
241 温度コントローラ
26 壁
4 試料ガス導入部
41 試料ガス導入室
42 試料ガス採取部材
44 校正用ガス導入管
46 粉塵捕獲フィルタ
48 ガス流量制限部
6 光学ユニット
62 照射部
64 受光部
8 分析部
10 吸引管
12 ブローバックライン
16 吸引装置
18 ガス供給部
50 煙道
51 煙道側壁
51a 孔部
52 筒状部材
S 煙道を流れるガス
Claims (5)
- 煙道内を流れるガス中の極性ガス成分濃度を分析するガス分析装置であって、
少なくとも一部が前記煙道内に配置され、先端部と、試料ガスサンプリング空間とを有するプローブ管と、
前記試料ガスサンプリング空間に接続され、前記煙道内を流れるガスを前記試料ガスサンプリング空間内に吸引して導入するための吸引部と、
前記プローブ管の前記先端部に配置され、前記煙道内を流れるガスを前記試料ガスサンプリング空間に減圧して導入するための試料ガス導入部と、
前記試料ガスサンプリング空間中へ測定光を照射する照射部と、
前記試料ガスサンプリング空間を通過した前記測定光を受光する受光部と、
を備え、
前記試料ガスサンプリング空間の少なくとも一部は前記煙道内にあり、
前記極性ガスは、少なくとも一部が前記煙道内にある前記試料ガスサンプリング空間に導入される、
ガス分析装置。 - 前記プローブ管の外壁の、前記試料ガスサンプリング空間に対応した領域に設けられた温度調節部をさらに備えている、請求項1に記載のガス分析装置。
- 前記試料ガス導入部は、取り込んだ前記煙道内を流れる前記ガスが通過する際に流量を制限するガス流量制限部を有している、請求項1又は2に記載のガス分析装置。
- 前記試料ガス導入部は、粉塵捕獲フィルタを有している、請求項1から3のいずれかに記載のガス分析装置。
- 前記試料ガス導入部は、前記プローブ管の前記先端部に設けられた試料ガス導入室と、前記試料ガス導入室から前記煙道内に延びる試料ガス採取部材とを有しており、
前記試料ガス導入室は、前記煙道の圧力以上の圧力で校正用ガスを導入するために用いられる校正用ガス導入口を有している、請求項1から4のいずれかに記載のガス分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012138125A JP6134483B2 (ja) | 2012-06-19 | 2012-06-19 | ガス分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012138125A JP6134483B2 (ja) | 2012-06-19 | 2012-06-19 | ガス分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014002072A JP2014002072A (ja) | 2014-01-09 |
JP6134483B2 true JP6134483B2 (ja) | 2017-05-24 |
Family
ID=50035370
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012138125A Active JP6134483B2 (ja) | 2012-06-19 | 2012-06-19 | ガス分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6134483B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3112845B1 (de) * | 2016-03-09 | 2018-01-24 | Sick Ag | Vorrichtung zur optischen in-situ analyse eines messgases |
JP6743790B2 (ja) * | 2017-09-19 | 2020-08-19 | 横河電機株式会社 | 検査方法及び検査システム |
KR102434663B1 (ko) * | 2020-12-07 | 2022-08-19 | 재단법인 포항산업과학연구원 | 가스측정장치 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57501796A (ja) * | 1980-11-24 | 1982-10-07 | ||
JPS60231137A (ja) * | 1984-04-30 | 1985-11-16 | Fuji Electric Co Ltd | 光学的ガス濃度計 |
JPS60257347A (ja) * | 1984-06-05 | 1985-12-19 | Ngk Insulators Ltd | 直入形非分散赤外線ガス分析計 |
GB8609619D0 (en) * | 1986-04-19 | 1986-05-21 | Procal Analytics | Gas analysis |
JP3882612B2 (ja) * | 2001-12-26 | 2007-02-21 | 日産自動車株式会社 | 赤外線ガス分析装置 |
JP2010236877A (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-21 | Chubu Electric Power Co Inc | 排ガス中のアンモニア濃度の測定装置、および測定方法 |
EP2416146B1 (en) * | 2010-08-04 | 2018-12-26 | HORIBA, Ltd. | Probe for gas analysis |
-
2012
- 2012-06-19 JP JP2012138125A patent/JP6134483B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014002072A (ja) | 2014-01-09 |
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Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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