JP6132500B2 - 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システム。 - Google Patents

撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システム。 Download PDF

Info

Publication number
JP6132500B2
JP6132500B2 JP2012209492A JP2012209492A JP6132500B2 JP 6132500 B2 JP6132500 B2 JP 6132500B2 JP 2012209492 A JP2012209492 A JP 2012209492A JP 2012209492 A JP2012209492 A JP 2012209492A JP 6132500 B2 JP6132500 B2 JP 6132500B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
reset transistor
pixel
selected state
node
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012209492A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014064240A (ja
JP2014064240A5 (ja
Inventor
乾 文洋
文洋 乾
旬史 岩田
旬史 岩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2012209492A priority Critical patent/JP6132500B2/ja
Priority to US14/032,517 priority patent/US9241119B2/en
Priority to CN201310437395.7A priority patent/CN103681716B/zh
Publication of JP2014064240A publication Critical patent/JP2014064240A/ja
Publication of JP2014064240A5 publication Critical patent/JP2014064240A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6132500B2 publication Critical patent/JP6132500B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/766Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors comprising control or output lines used for a plurality of functions, e.g. for pixel output, driving, reset or power
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/767Horizontal readout lines, multiplexers or registers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システムに関する。
撮像装置において、画素に含まれる増幅トランジスタの入力ノードの電圧を制御することによって、画素の選択状態および非選択状態を切り替える構成が知られている。
特許文献1には、それぞれが増幅トランジスタとリセットトランジスタとを含む複数の画素を備えた撮像装置が開示されている。各画素において、増幅トランジスタのゲート(入力ノード)とリセットトランジスタのソースとが互いに接続され、増幅トランジスタのドレインとリセットトランジスタのドレインとが互いに接続されている。そして、列方向に配された複数の画素のリセットトランジスタのドレインが互いに接続されている。
特許文献1には、共通に接続されたリセットトランジスタのドレインと増幅トランジスタのドレインとの電圧を制御することによって、画素を選択することが開示されている。
特開2005−005911号公報
増幅トランジスタの入力ノードの電圧を制御することによって画素を選択するように構成された撮像装置では、非選択状態の画素の増幅トランジスタの入力ノードの電圧が変化するとダイナミックレンジが低下する可能性がある。入力ノードに接続されたリセットトランジスタをオフにしていても、リセットトランジスタのドレイン・ソース間のリーク電流あるいはサブスレッショルド電流によって、入力ノードの電圧が変化しうる。
特に、特許文献1に記載された撮像装置では、非選択状態とされる画素のリセットトランジスタのソースの電圧は、選択状態とされる画素のリセットトランジスタのソースの電圧より低い。非選択状態の画素では、増幅トランジスタのゲートに選択状態の画素よりも低い電圧が供給されているからである。そのため、リセットトランジスタのドレインの電圧が高くなると、非選択状態の画素ではリセットトランジスタのドレイン・ソース間に印加される電圧が大きくなりやすい。具体的には、特許文献1では、増幅トランジスタから信号を出力するために、リセットトランジスタのドレインの電圧を高くすることが記載されている。リセットトランジスタのドレイン・ソース間の電圧が大きいと、リセットトランジスタをオフしていてもドレイン・ソース間のリーク電流あるいはサブスレッショルド電流が大きくなる。したがって、増幅トランジスタの入力ノードの電圧が変化し得る。
また、非選択状態の画素においてリセットトランジスタのドレインの電圧を高い電圧に制御しない構成であっても、電源サージなどのノイズにより、リセットトランジスタのドレインの電圧が変化し得る。
上記の課題に鑑み、本発明は、ダイナミックレンジの低下を低減することができる撮像装置または撮像装置の駆動方法を提供する。
本発明の1つの側面に係る撮像装置は、それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、N型のリセットトランジスタと、を含み、前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに供給される電圧によって選択状態または非選択状態に設定される、複数の画素と、選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ第1の電圧を供給し、非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ前記第1の電圧より低い第2の電圧を供給する制御部と、を有し、前記第1の電圧は、前記選択状態の画素において、前記光電変換からの電荷の転送による前記増幅トランジスタの入力ノードの電位降下によって前記リセットトラジスタがオンとなるような電圧である。
本発明の別の側面に係る撮像装置は、それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、P型のリセットトランジスタと、を含み、前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに供給される電圧によって選択状態または非選択状態に設定される、複数の画素と、選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ第1の電圧を供給し、非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ前記第1の電圧より高い第2の電圧を供給し、前記選択状態の画素において、前記光電変換からの電荷の転送による前記増幅トランジスタの入力ノードの電位上昇によって前記リセットトラジスタがオンとなるような第3の電圧を前記リセットトランジスタの制御ノードへ供給する制御部と、を有する。
本発明のさらに別の側面に係る撮像装置の駆動方法は、それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、N型のリセットトランジスタと、をそれぞれが含む複数の画素を有する撮像装置の駆動方法であって、前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに電圧を供給することによって、前記複数の画素のうち、一部を選択状態とし、他の部分を非選択状態とするステップと、選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに第1の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに前記第1の電圧より低い第2の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、前記選択状態の画素に含まれる前記光電変換部からの電荷の転送開始後に前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタがオンするような第3の電圧を、前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに供給するステップと、を有する。
本発明のさらに別の側面に係る撮像装置の駆動方法は、それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、P型のリセットトランジスタと、をそれぞれが含む複数の画素を有する撮像装置の駆動方法であって、前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに電圧を供給することによって、前記複数の画素のうち、一部を選択状態とし、他の部分を非選択状態とするステップと、選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに第1の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに前記第1の電圧より高い第2の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、前記選択状態の画素に含まれる前記光電変換部からの電荷の転送開始後に前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタがオンするような第3の電圧を、前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに供給するステップと、を有する。
本発明によれば、ダイナミックレンジの低下を低減することができる。
実施例の撮像装置の構成を示す概略図。 実施例の撮像装置の等価回路を示す図。 実施例の撮像装置の等価回路を示す図。 実施例の駆動信号を示す図。 実施例の駆動信号を示す図。 実施例の撮像装置の等価回路を示す図。 実施例の駆動信号を示す図。 撮像システムの実施例のブロック図。
以下では、本発明の実施例について図面を用いて説明する。本発明は以下に説明される実施例のみに限定されない。本発明の趣旨を超えない範囲で以下に説明される実施例の一部の構成が変更された変形例も、本発明の実施例である。また、以下のいずれかの実施例の一部の構成を、他の実施例に追加した例、あるいは他の実施例の一部の構成と置換した例も本発明の実施例である。
本発明に係る実施例を説明する。本実施例では、選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタをオフに制御するためにゲートに供給される第1の電圧より、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタをオフに制御するためにゲートに供給される第2の電圧のほうが低い。これにより、非選択状態の画素のリセットトランジスタをより強くオフにしている。以下、本実施例では、信号電荷が電子であり、画素に含まれるトランジスタがN型のMOSトランジスタの例を説明する。
図1は、本実施例の撮像装置のブロック図である。撮像装置1は半導体基板を用いて1つのチップで構成することができる。撮像装置1は、撮像領域2に配された複数の画素を有している。複数の画素は画素アレイを構成しうる。
更に、撮像装置1は、垂直走査部3、電源電圧制御部4、信号処理部5、水平走査部6、および出力部7を有する。垂直走査部3は撮像領域2に配された複数の画素に駆動信号を供給する。垂直走査部3は画素行ごともしくは複数の画素行ごとに駆動信号を供給する。垂直走査部3はシフトレジスタもしくはアドレスデコーダにより構成することができる。電源電圧制御部4は、撮像領域2に配された複数の画素に電源電圧を供給する。信号処理部5は、複数の画素からの信号を並列に処理する。信号処理部5は、信号保持部、列増幅回路、ノイズ除去部、AD変換部などを含んで構成される。水平走査部6は、信号処理部5からの信号を出力部7へ出力するための駆動信号を供給する。水平走査部6はシフトレジスタもしくはアドレスデコーダにより構成することができる。出力部7は信号処理部5からの信号を撮像装置1の外に出力する。出力部7は、バッファもしくは増幅回路を含んで構成されている。
図2に本実施例の撮像装置の画素の等価回路を示す。図2では2つの画素のみを示すが、実際にはさらに多数の画素が2次元状に配される。本実施例では、画素が行列状に配される。図2では、n行m列の画素およびn+1行m列の画素が示されている。1つの行は、垂直走査部によって並行に制御されうる画素群で構成される。1つの列は、行とは異なる方向に配された画素群であって、1本もしくは複数本の出力線を共有している画素群で構成される。なお、複数の画素は必ずしも行列状に配される必要はなく、撮像領域2に1次元状、あるいは2次元状に複数の画素が配置されればよい。
画素101は、光電変換部102、転送トランジスタ103、フローティングディフュージョン(以下、FD)ノード104、増幅トランジスタ105、およびリセットトランジスタ106を含む。
光電変換部102では、光電変換により信号電荷が生じる。例えばフォトダイオードが用いられる。光電変換部102が信号電荷を蓄積してもよい。転送トランジスタ103は、光電変換部102の信号電荷をFDノード104へ転送する。FDノード104へ転送された電荷は、FDノード104の容量に応じて電圧に変換される。FDノード104は、増幅トランジスタ105のゲートに電気的に接続される。増幅トランジスタ105は、ゲートの電圧に基づく信号を出力線110へ出力する。増幅トランジスタ105は、出力線110に電気的に接続された電流源111とともに、ソースフォロアを構成する。FDノード104および増幅トランジスタ105のゲートが、増幅トランジスタ105の入力ノードを構成する。リセットトランジスタ106は、電源配線112に供給された電圧を、増幅トランジスタ105の入力ノードに供給する。つまり、リセットトランジスタ106は、増幅トランジスタ105の入力ノードの電圧をリセットする。また、転送トランジスタ103とリセットトランジスタ106とが並行してオンすることにより、光電変換部102の電圧をリセットしてもよい。
なお、転送トランジスタ103は必要に応じて設けられるものであって、省略されてもよい。転送トランジスタ103が省略された場合は、光電変換部102がFDノード104および増幅トランジスタ105のゲートに直結されうる。
またリセットトランジスタ106がデプレッション型であってもよい。この場合、リセットトランジスタ106の閾値のばらつきに関係なく、増幅トランジスタ105の入力ノードの電圧を所定の電圧にリセットすることができる。
制御線107は、転送トランジスタ103のゲートに電気的に接続される。制御線107に供給される駆動信号によって、転送トランジスタ103がオンまたはオフに制御される。制御線108は、リセットトランジスタ106のゲートに電気的に接続される。制御線108に供給される駆動信号によって、リセットトランジスタ106がオンまたはオフに制御される。これら制御線107、108には垂直走査部3から駆動信号が供給される。つまり、垂直走査部3は、リセットトランジスタのゲートに供給する電圧によって、リセットトランジスタをオンまたはオフに制御する制御部と成り得る。
なお、制御線107(n)、108(n)は、n行に含まれる他の画素(不図示)の転送トランジスタのゲートおよびリセットトランジスタのゲートにそれぞれ電気的に接続されている。そして、制御線107(n+1)、108(n+1)は、n+1行に含まれる他の画素(不図示)の転送トランジスタのゲートおよびリセットトランジスタのゲートにそれぞれ電気的に接続されている。
本実施例では、1つの列に含まれる複数の画素が、1つの出力線110を共有する。つまり、1つの列に含まれる複数の画素の信号が、共通の出力線110に出力される。なお、図示されていないが、本実施例の撮像装置は複数の出力線を有していてもよい。そして、1つの行に含まれる複数の画素の信号が、複数の出力線に並列に出力されうる。
1つの列に含まれる複数の画素において、増幅トランジスタ105のドレインとリセットトランジスタ106のドレインとが共通の電源配線112に電気的に接続される。電源配線112は、電源電圧制御部4に電気的に接続される。電源電圧制御部4は、電源配線112に複数の電源電圧を供給する。複数の電源電圧には、たとえば、後述する画素の選択状態に対応する電圧V3および非選択状態に対応する電圧V4が含まれる。
ここで、本実施例において、複数の画素の中から信号を出力する画素を選択する方法について説明する。本実施例では、電源電圧制御部4から電源配線112に供給された電圧を、リセットトランジスタ106が増幅トランジスタ105の入力ノードに供給する。電源配線112に選択状態に対応する電圧V3が供給されているときに、リセットトランジスタ106がオンすることによって、当該リセットトランジスタ106を含む画素101が選択状態に設定される。一方、電源配線112に非選択状態に対応する電圧V4が供給されているときに、リセットトランジスタ106がオンすることによって、当該リセットトランジスタ106を含む画素101が非選択状態に設定される。言い換えると、選択状態とは、画素101の増幅トランジスタ105の入力ノードに、選択状態に対応する電圧V3が供給された時から、その後、最初に非選択状態に対応する電圧V4が供給される時までの状態である。また、非選択状態とは、画素101の増幅トランジスタ105の入力ノードに、非選択状態に対応する電圧V4が供給された時から、その後、最初に選択状態に対応する電圧V3が供給される時までの状態である。
本実施例のように、N型の増幅トランジスタ105がソースフォロアを構成している場合では、選択状態に対応する電圧V3は、非選択状態に対応する電圧V4より高ければよい。また、選択状態に対応する電圧V3が、非選択状態に対応する電圧V4に対して、光電変換部102の飽和電荷量の電荷が転送された時のFDノード104の電圧の変化分よりも高いことで、ダイナミックレンジを向上させることができる。例えば、選択状態に対応する電圧V3と非選択状態に対応する電圧V4との差が、光電変換部102の飽和電子数Nと、FDノード104の容量C、素電荷qに対して、qN/Cで表される電圧より大きいとよい。
本実施例では、電源配線112に供給された電圧が、リセットトランジスタ106を介して、増幅トランジスタ105の入力ノードに供給される。本実施例は、リセットトランジスタ106がオンしたとき、電源配線112の電圧と増幅トランジスタ105の入力ノードの電圧とが等しくなるように構成されてもよい。あるいは、本実施例では、リセットトランジスタ106での電圧降下が生じることによって、電源配線112の電圧と増幅トランジスタ105の入力ノードの電圧とが異なっていてもよい。
また、本実施例では、電源電圧制御部4が電源配線112に選択状態および非選択状態に対応する電圧V3、V4を供給している。つまり、電源電圧制御部4は、リセットトランジスタのドレインに選択状態および非選択状態に対応する電圧V3、V4を供給する制御部の一部を構成し得る。なお、別の手段によって、リセットトランジスタのドレインに選択状態および非選択状態に対応する電圧V3、V4が供給されてもよい。
ここで、画素から出力される信号をクリップすることについて説明する。選択状態の画素のリセットトランジスタ106のゲートの電圧で、画素から出力される信号をクリップすることができる。リセットトランジスタ106のゲートの電圧が、光電変換部102から所定の量の電荷が転送されたときにリセットトランジスタ106がオンするような値であればよい。具体的には、リセットトランジスタ106のゲートとFDノード104との間の電圧が、リセットトランジスタ106の閾値電圧以上になると、リセットトランジスタ106がオンする。
また別の手段としては、非選択状態の画素の増幅トランジスタ105の入力ノードの電圧で、画素から出力される信号をクリップすることができる。あるいは、出力線110に、クリップ回路が設けられてもよい。以上に述べた構成によって、画素から出力される信号をクリップすることができる。
次に、垂直走査部3、電源電圧制御部4の構成について説明する。図3(a)は、垂直走査部3の一部の等価回路を示している。図3(a)に示された回路では、ノード114と制御線108との間の電気経路に、2段のCMOS(Complementary MOS)インバータ回路が配されている。それぞれのCMOSインバータは、第1導電型のトランジスタと第2導電型のトランジスタとを含んで構成される。本実施例では第1導電型はP型であり、第2導電型はN型である。制御線108に電気的に接続されるCMOSインバータのN型のMOSトランジスタのソースは、第1の電圧V1を供給するノードと第2の電圧V2を供給するノードとに選択的に接続可能なように構成されている。ノード115に供給される信号によって、いずれのノードを選択するかが制御される。P型のMOSトランジスタのドレインと、N型のMOSトランジスタのドレインとは互いに電気的に接続され、さらに、制御線108に電気的に接続される。また、制御線108に電気的に接続されるCMOSインバータのP型のMOSトランジスタのソースは、電源電圧VDDを供給するノードに電気的に接続される。
図3(a)に示した構成により、垂直走査部3は、リセットトランジスタ106のゲートに、少なくとも3値を含む駆動信号を供給しうる。ここで、電源電圧VDDは、リセットトランジスタ106をオンに制御するための電圧に対応する。また、第1の電圧V1と第2の電圧V2とは、それぞれリセットトランジスタ106をオフに制御するための電圧に対応する。そして、第2の電圧V2は、第1の電圧V1より低い電圧である。
図3(a)に示された回路は、行ごとに、あるいは複数の行を単位とした周期で、繰り返し配される。これにより、垂直走査部3は、選択状態の画素のリセットトランジスタ106には第1の電圧V1を供給し、非選択状態の画素のリセットトランジスタ106には第2の電圧V2を供給する。
第1の電圧V1は、選択状態の画素のリセットトランジスタ106をオフにするための電圧である。選択状態の画素では、光電変換部102で生じた電荷に基づく信号を出力するため、光電変換部102の電荷がFDノード104に転送される。電荷が電子の場合、電荷が転送されるとFDノード104の電圧が下がる。そのため、第1の電圧V1は、FDノード104に飽和量の電荷が転送された場合でもリセットトランジスタ106がオフに制御されるような電圧であってもよい。飽和量とは、光電変換部102が蓄積することができる最大の量の電荷である。また、前述のように、選択状態の画素において信号をクリップする場合には、第1の電圧V1が、 光電変換部102から所定の量の電荷が転送されたときにリセットトランジスタ106がオンするような値であってもよい。あるいは、信号をクリップするために、リセットトランジスタ106のゲートに第1の電圧V1より高い電圧が選択的に供給されてもよい。
図3(b)は、電源電圧制御部4の一部の等価回路を示している。図3(b)に示された回路では、選択状態に対応する電圧V3を供給するノードと電源配線112との間の電気経路に、P型のMOSトランジスタが配される。また、非選択状態に対応する電圧V4を供給するノードと電源配線112との間の電気経路に、N型のMOSトランジスタが配される。P型のMOSトランジスタおよびN型のMOSトランジスタは、それぞれノード120およびノード121に供給される信号によって制御される。選択状態に対応する電圧V3は例えば電源電圧である。非選択状態に対応する電圧V4は例えばグラウンド電圧である。
ここで、図3(b)に示された回路は、P型のMOSトランジスタとN型のMOSトランジスタとが、互いに独立に制御されうるように構成される。そのため、それぞれのトランジスタがオンである期間、あるいは、オンとオフとを遷移する期間が、互いに重ならないように、2つのMOSトランジスタを制御することができる。したがって、CMOSインバータに比べて、貫通電流による消費電力を低減することができる。
本実施例では、図3(b)に示された回路は全画素に対して共通に配される。しかし、列ごとに、あるいは複数の列を単位とする周期で、図3(b)に示された回路が繰り返し配されてもよい。
続いて、図4のタイミングチャートを用いて本実施例の撮像装置の駆動方法について説明する。図4には、電源電圧制御部4が電源配線112に供給する電圧、ならびに、垂直走査部3が制御線107および制御線108に供給する駆動信号が示される。図4に示された駆動信号により、まず、n行目の画素101が選択状態とされ、信号を出力する。その後、n+1行目の画素101が選択状態とされ、信号を出力する。
まず時刻T1において、電源電圧制御部4が電源配線112に供給する電圧が、選択状態に対応する電圧V3から非選択状態に対応する電圧V4に遷移する。その後、時刻T2において、全ての行の制御線108の駆動信号が、電源電圧VDDに遷移する。これにより、全ての行の画素のリセットトランジスタ106がオンする。電源配線112には、非選択状態に対応する電圧V4が供給されているため、全ての画素が非選択状態とされる。
なお、全ての画素のリセットトランジスタをオンする必要はない。例えば、次に選択状態とされる画素、図4ではn行目の画素は、非選択状態とされなくてもよい。また、すでに非選択状態となっている画素は、改めて非選択状態にする必要はない。
時刻T2から所定の時間が経過した後に、非選択状態の画素、図4ではn+1行目の画素の制御線108に、第2の電圧V2が供給される。これにより、非選択状態の画素のリセットトランジスタ106がオフする。なお、次に選択状態とされる画素のリセットトランジスタは、この時に同時にオフに制御されてもよいし、オンのままに制御されてもよい。
時刻T3において、電源電圧制御部4が電源配線112に供給する電圧が、非選択状態に対応する電圧V4から選択状態に対応する電圧V3に遷移する。その後、時刻T4において、n行目の画素の制御線108に供給される駆動信号が、電源電圧VDDに遷移する。これにより、n行目の画素のリセットトランジスタ106がオンする。電源配線112には、選択状態に対応する電圧V3が供給されているため、n行目の画素が選択状態とされる。
時刻T3では、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106のゲートには、第2の電圧V2が供給されている。また、本実施例では、図2が示すように、1つの列に配された複数の画素において、リセットトランジスタのドレインが互いに電気的に接続される。つまり、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106のゲートに第2の電圧V2が供給されている期間に、当該リセットトランジスタ106のドレインの電圧が、非選択状態に対応する電圧V4から選択状態に対応する電圧V3へ変化している。そして、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106のゲートに第2の電圧V2が供給されている期間の少なくとも一部の期間、具体的には、時刻T3以降の期間に、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106のドレインに、選択状態に対応する電圧V3が供給されている。このように、本実施例では、時刻T3において非選択状態の画素のリセットトランジスタ106のドレインの電圧が高くなるため、リーク電流あるいはサブスレッショルド電流が大きくなりやすい。そのため、非選択状態の画素のリセットトランジスタ106をより強くオフすることによる、ダイナミックレンジの低下を低減する効果がより顕著である。
なお、非選択状態の画素のリセットトランジスタ106がオフしている期間に、当該リセットトランジスタ106のドレインの電圧が選択状態に対応する電圧V3以外の電圧に変化する場合も、リーク電流あるいはサブスレッショルド電流が大きくなりやすい。つまり、この場合でも、非選択状態の画素のリセットトランジスタ106をより強くオフすることによる、ダイナミックレンジの低下を低減する効果が顕著である。
時刻T4から所定の時間が経過した後に、選択状態の画素、図4ではn行目の画素の制御線108に、第1の電圧V1が供給される。これにより、非選択状態の画素のリセットトランジスタ106がオフする。
このとき、選択状態の画素(n行目)に含まれるリセットトランジスタ106をオフに制御するために、当該リセットトランジスタ106のゲートに供給される第1の電圧V1より、非選択状態の画素(n+1行目)に含まれるリセットトランジスタをオフに制御するために、当該リセットトランジスタ106のゲートに供給される第2の電圧V2のほうが低い。そのため、非選択状態の画素のリセットトランジスタ106は、より強くオフすることができる。なお、選択状態の画素では、増幅トランジスタの入力ノードの電圧が比較的高いため、第1の電圧V1が高くてもリセットトランジスタ106をオフにすることができる。
また、リセットトランジスタ106をオンに制御するための電圧として、選択状態の画素および非選択状態の画素ともに、等しい電圧、具体的には電源電圧VDDが供給される。したがって、選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106をオンに制御するためにゲートに供給される第3の電圧(電源電圧VDD)と第1の電圧V1との差は、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106をオンに制御するためにゲートに供給される第4の電圧(電源電圧VDD)と第2の電圧V2との差よりも小さい。これにより、選択状態の画素におけるリセットトランジスタ106のゲートの電圧の変化の量を小さくすることができる。そのため、FDノード104とリセットトランジスタ106のゲートとのカップリング容量によって、FDノード104の電圧が変化する量を小さくすることができる。その結果、ダイナミックレンジをより大きくすることができる。
なお、リセットトランジスタ106をオンにするためにゲートに供給される電圧が、選択状態の画素と非選択状態の画素とで異なっていてもよい。しかし、両者が等しい電圧であれば、電源電圧制御部4の構成を簡略にすることができるため、撮像装置を小型化することができる。
続いて、選択状態の画素(n行目)に含まれるリセットトランジスタ106がオフした後に、リセット時の信号の出力、光電変換部102に蓄積された電荷の転送、光電変換された電荷に基づく信号の出力が行われる。公知の技術に基づいて、これらの動作を行うことができる。
信号の読み出しが終了した後は、再び全ての画素を非選択状態とし、続いて、n+1行目の画素を選択状態とする。これらの動作を行うための駆動信号が、時刻T5以降に示されている。時刻T5から時刻T8の動作は、それぞれ時刻T1から時刻T4の動作と同様であるため、詳細な説明は省略する。
図4では、n行目の画素およびn+1行目の画素から信号を読み出すための駆動方法を例として説明した。実際には、撮像領域2に配された全ての画素に対して、順次読み出しが行われる。図5は、2フレーム分の読み出し動作を示した概略図である。まず時刻Taにおいて、1行目の画素の光電変換部102のリセットが行われる。この時点から、1行目の画素での電荷の蓄積が開始される。その後、時刻Tbにおいて、1行目の画素の信号の読み出し動作が行われる。
なお、時刻T1は、n行目の読み出し動作の開始に対応する。このとき、k行目の画素では、光電変換部102のリセットが並行して行われてもよい。この場合、図4の時刻T1の前に、転送トランジスタ103およびリセットトランジスタ106をオンにすることにより、光電変換部102のリセットが行われる。光電変換部102のリセットを行うときには、電源配線112に選択状態に対応する電圧V3が供給されている。
以上に述べた通り、本実施例では、選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタをオフに制御するために、当該リセットトランジスタのゲートに供給される第1の電圧より、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタをオフに制御するために、当該リセットトランジスタのゲートに供給される第2の電圧のほうが低い。このような構成によれば、非選択状態の画素のリセットトランジスタをより強くオフすることができる。そのため、非選択状態の画素の増幅トランジスタの入力ノードの電圧の変化を低減できる。結果として、ダイナミックレンジの低下を低減することができる。
なお、本実施例では、トランジスタがMOSトランジスタである例を説明した。MOSトランジスタは、制御ノードであるゲート、2つの主ノードであるドレインとソースとを含んで構成される。本実施例の変形例では、MOSトランジスタ以外のトランジスタを用いてもよい。例えばバイポーラトランジスタを用いる場合には、ゲート、ドレイン、ソースは適宜、ベース、エミッタ、コレクタに読み替えられる。
本発明の別の実施例を説明する。本実施例では、画素から信号を出力するときに、増幅トランジスタのドレインの電圧を高くしている点が実施例1と異なる。そのため、非選択状態の画素では、リセットトランジスタのドレイン・ソース間の電圧が大きくなりやすい。つまり、リセットトランジスタを強くオフすることにより、さらに顕著な効果を得ることができる。そこで、本実施例では、主に実施例1と異なる点を説明し、実施例1と同じ部分については説明を省略する。
本実施例の撮像装置の全体の構成は、実施例1と同様である。つまり、図1が、本実施例の撮像装置のブロック図である。また、本実施例の撮像装置の画素の等価回路は、実施例1と同様である。つまり、図2が本実施例の撮像装置の画素の等価回路を示す。また、本実施例の垂直走査部3は、実施例1と同様である。つまり、図3(a)が、本実施例の垂直走査部3の一部の等価回路を示している。これらの構成についての詳細な説明は省略する。
本実施例の電源電圧制御部4の構成について説明する。図6は、電源電圧制御部4の一部の等価回路を示している。図3(b)と同様の機能を有する部分については、同じ符号を付し、詳細な説明は省略する。
図6に示された回路では、P型のMOSトランジスタのソースが、選択状態に対応する電圧V3を供給するノードと、信号出力時の電源電圧V5を供給するノードとに、選択的に接続可能なように構成されている。ノード122に供給される信号によって、いずれのノードを選択するかが制御される。電源電圧V5は選択状態に対応する電圧V3よりも高い電圧である。
なお、電源配線112に電源電圧V5が供給されている時に、リセットトランジスタ106がオンすることで、当該リセットトランジスタ106を含む画素は選択状態に設定される。つまり、電源電圧V5が選択状態に対応する電圧の1つであってもよい。
図6に示した構成により、本実施例の電源電圧制御部4は、少なくとも3値を含む電源電圧を供給しうる。本実施例では、図6に示された回路は全画素に対して共通に配される。しかし、列ごとに、あるいは複数の列を単位とする周期で、図6に示された回路が繰り返し配されてもよい。
続いて、図7のタイミングチャートを用いて本実施例の撮像装置の駆動方法について説明する。実施例1の図4と同じ部分には同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。
本実施例では、リセット時の信号の出力、光電変換部102に蓄積された電荷の転送、光電変換された電荷に基づく信号の出力が行われるときに、電源配線112に電源電圧V5が供給される。これによって、増幅トランジスタのドレイン電圧がより高くなるため、よりダイナミックレンジを大きくすることができる。
以上に述べた通り、本実施例では画素から信号を出力するときに、増幅トランジスタのドレインの電圧を高くしている。そのため、非選択状態の画素では、リセットトランジスタのドレイン・ソース間の電圧が大きくなりやすい。つまり、リセットトランジスタを強くオフすることによりダイナミックレンジの低下を低減することができるという効果がより顕著である。
本発明の別の実施例を説明する。上述の実施例1および実施例2では、信号電荷が電子であり、画素に含まれるトランジスタがN型のMOSトランジスタの例を説明した。本実施例では、信号電荷がホールであり、画素に含まれるトランジスタがP型のMOSトランジスタの例を説明する。
本実施例と、実施例1または実施例2とで異なる点は、全てのトランジスタの導電型が反対になっている点である。また、それに伴って、電圧の高低関係も反対になっている。つまり、リセットトランジスタ106がP型のMOSトランジスタである。また、選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106をオフに制御するための第1の電圧V1より、非選択状態の画素に含まれるリセットトランジスタ106をオフに制御するための第2の電圧V2のほうが高い。本実施例の他の部分については、実施例1または実施例2と同様である。したがって、ここでは詳細な説明は省略する。
本実施例においても、実施例1または実施例2と同様の効果を得ることができる。
本発明に係る撮像システムの実施例について説明する。撮像システムとして、デジタルスチルカメラ、デジタルカムコーダ、複写機、ファックス、携帯電話、車載カメラ、観測衛星などがあげられる。図8に、撮像システムの例としてデジタルスチルカメラのブロック図を示す。
図8において、1001はレンズの保護のためのバリア、1002は被写体の光学像を撮像装置1004に結像させるレンズ、1003はレンズ1002を通った光量を可変するための絞りである。1004は上述の各実施例で説明した撮像装置であって、レンズ1002により結像された光学像を画像データとして変換する。ここで、撮像装置1004の半導体基板にはAD変換部が形成されているものとする。1007は撮像装置1004より出力された撮像データに各種の補正やデータを圧縮する信号処理部である。そして、図8において、1008は撮像装置1004および信号処理部1007に、各種タイミング信号を出力するタイミング発生部、1009はデジタルスチルカメラ全体を制御する全体制御部である。1010は画像データを一時的に記憶する為のフレームメモリ部、1011は記録媒体に記録または読み出しを行うためのインターフェース部、1012は撮像データの記録または読み出しを行う為の半導体メモリ等の着脱可能な記録媒体である。そして、1013は外部コンピュータ等と通信する為のインターフェース部である。ここで、タイミング信号などは撮像システムの外部から入力されてもよく、撮像システムは少なくとも撮像装置1004と、撮像装置1004から出力された撮像信号を処理する信号処理部1007とを有すればよい。
本実施例では、撮像装置1004とAD変換部とが同一の半導体基板に形成されている構成を説明した。しかし、撮像装置1004とAD変換部とが別の半導体基板に設けられていてもよい。また、撮像装置1004と信号処理部1007とが同一の基板上に形成されていてもよい。
本実施例において、撮像装置1004には、実施例1乃至実施例3のいずれかの撮像装置が用いられる。このように、撮像システムにおいて本発明に係る実施例を適用することにより、ダイナミックレンジの低下を低減することができる。
3 垂直走査部
4 電源電圧制御部
101 画素
102 光電変換部
105 増幅トランジスタ
106 リセットトランジスタ
V1 第1の電圧
V2 第2の電圧
V3 選択状態に対応する電圧
V4 非選択状態に対応する電圧

Claims (22)

  1. それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、N型のリセットトランジスタと、を含み、前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに供給される電圧によって選択状態または非選択状態に設定される、複数の画素と、
    選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ第1の電圧を供給し、非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ前記第1の電圧より低い第2の電圧を供給する制御部と、を有し、
    前記第1の電圧は、前記選択状態の画素において、前記光電変換からの電荷の転送による前記増幅トランジスタの入力ノードの電位降下によって前記リセットトラジスタがオンとなるような電圧であることを特徴とする撮像装置。
  2. 前記第1の電圧は、前記選択状態の画素の前記光電変換から飽和量以下の電荷が転送されたとき、前記選択状態の画素の前記リセットトランジスタがオンするような電位であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、P型のリセットトランジスタと、を含み、前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに供給される電圧によって選択状態または非選択状態に設定される、複数の画素と、
    選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ第1の電圧を供給し、非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオフに制御するために前記リセットトランジスタの制御ノードへ前記第1の電圧より高い第2の電圧を供給する制御部と、を有し、
    前記第1の電圧は、前記選択状態の画素において、前記光電変換からの電荷の転送による前記増幅トランジスタの入力ノードの電位上昇によって前記リセットトラジスタがオンとなるような電圧であることを特徴とする撮像装置。
  4. 前記リセットトランジスタの第1の主ノードが前記制御部に電気的に接続され、前記リセットトランジスタの第2の主ノードが前記増幅トランジスタの前記入力ノードに電気的に接続され、
    前記制御部が、前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記制御ノードに前記第2の電圧を供給している期間の少なくとも一部の期間に、前記制御部が前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記第1の主ノードに選択状態に対応する電圧を供給することを特徴とする請求項1または請求項3に記載の撮像装置。
  5. 前記制御部が、前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記制御ノードへ前記第2の電圧を供給している前記期間に、前記制御部が、前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記第1の主ノードへ供給する電圧を、非選択状態に対応する電圧から前記選択状態に対応する電圧へと変化させることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
  6. 前記制御部が、前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記制御ノードに前記第2の電圧を供給し、前記第1の主ノードに前記選択状態に対応する電圧を供給している期間に、前記制御部が別の画素の前記リセットトランジスタをオンに制御することによって、前記別の画素を選択状態にすることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の撮像装置。
  7. 前記複数の画素には、前記リセットトランジスタの前記制御ノードが共通の配線に電気的に接続された第1の画素群と、前記リセットトランジスタの前記第1の主ノードが共通の配線に電気的に接続された第2の画素群と、が含まれ、
    前記第1の画素群に含まれる複数の画素の少なくとも一部は、前記第2の画素群には含まれないことを特徴とする請求項4乃至請求項6のいずれか一項に記載の撮像装置。
  8. 複数の出力線をさらに有し、
    前記第1の画素群からの信号は、前記複数の出力線に並列に出力され、
    前記第2の画素群からの信号は、前記複数の出力線のうちの1つの出力線に順に出力されることを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。
  9. 前記リセットトランジスタの前記第1の主ノードと、前記増幅トランジスタの主ノードとが、互いに接続された共通のノードであることを特徴とする請求項4乃至請求項8のいずれか一項に記載の撮像装置。
  10. 前記増幅トランジスタが、前記リセットトランジスタと同じ導電型であり、
    前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオンに制御するために前記制御部が前記制御ノードへ供給する第3の電圧と前記第1の電圧との差が、前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオンに制御するために前記制御部が前記制御ノードへ供給する第4の電圧と前記第2の電圧との差よりも小さいことを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載の撮像装置。
  11. 前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオンに制御するために前記制御部が前記制御ノードへ供給する電圧と、前記非選択状態の前記画素に含まれる前記リセットトランジスタをオンに制御するために前記制御部が前記制御ノードへ供給する電圧とが等しいことを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載の撮像装置。
  12. 前記制御部は、第1導電型のMOSトランジスタと第2導電型のMOSトランジスタとを含んで構成され、
    前記第1導電型のMOSトランジスタのソースは、前記リセットトランジスタをオンに制御するための電圧が供給されたノードに電気的に接続され、
    前記第1導電型のMOSトランジスタのドレインと、前記第2導電型のMOSトランジスタのドレインとが、前記リセットトランジスタの前記制御ノードに電気的に接続され、前記第2導電型のMOSトランジスタのソースは、前記第1の電圧が供給されたノードおよび前記第2の電圧が供給されたノードに選択的に接続されるように構成されたことを特徴とする請求項1乃至請求項11のいずれか一項に記載の撮像装置。
  13. 請求項1乃至請求項12のいずれか一項に記載の撮像装置と、
    前記撮像装置から出力される信号を処理する信号処理装置と、を備えた撮像システム。
  14. それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、N型のリセットトランジスタと、をそれぞれが含む複数の画素を有する撮像装置の駆動方法であって、
    前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに電圧を供給することによって、前記複数の画素のうち、一部を選択状態とし、他の部分を非選択状態とするステップと、
    選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに第1の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、
    非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに前記第1の電圧より低い第2の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、を有し、
    前記第1の電圧は、前記選択状態の画素に含まれる前記光電変換部からの電荷の転送開始後に前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタがオンするような電圧であることを特徴とする撮像装置の駆動方法。
  15. 前記第1の電圧は、前記選択状態の画素の前記光電変換から飽和量以下の電荷が転送されたとき、前記選択状態の画素の前記リセットトランジスタがオンするような電位であることを特徴とする請求項14に記載の撮像装置の駆動方法。
  16. それぞれが、光電変換部と、前記光電変換部で生じた電荷に基づく信号を出力する増幅トランジスタと、P型のリセットトランジスタと、をそれぞれが含む複数の画素を有する撮像装置の駆動方法であって、
    前記リセットトランジスタを介して前記増幅トランジスタの入力ノードに電圧を供給することによって、前記複数の画素のうち、一部を選択状態とし、他の部分を非選択状態とするステップと、
    選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに第1の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、
    非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの制御ノードに前記第1の電圧より高い第2の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオフに制御するステップと、を有し、
    前記第1電圧は、前記選択状態の画素に含まれる前記光電変換部からの電荷の転送開始後に前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタがオンするような電圧であることを特徴とする撮像装置の駆動方法。
  17. 前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記制御ノードに前記第2の電圧を供給している期間の少なくとも一部の期間に、前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの主ノードに選択状態に対応する電圧を供給するステップを有することを特徴とする請求項14または請求項16に記載の撮像装置の駆動方法。
  18. 前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記制御ノードへ前記第2の電圧を供給している前記期間に、前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記主ノードへ供給する電圧を、非選択状態に対応する電圧から前記選択状態に対応する電圧へと変化させるステップを有することを特徴とする請求項17に記載の撮像装置の駆動方法。
  19. 前記非選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタの前記制御ノードに前記第2の電圧を供給し、前記主ノードに前記選択状態に対応する電圧を供給している期間に、別の画素の前記リセットトランジスタをオンに制御することによって、前記別の画素を選択状態にするステップを有することを特徴とする請求項17または請求項18に記載の撮像装置の駆動方法。
  20. 前記撮像装置は、複数の出力線をさらに有し、
    前記複数の画素には、前記リセットトランジスタの前記制御ノードが共通の配線に電気的に接続された第1の画素群と、前記リセットトランジスタの前記主ノードが共通の配線に電気的に接続された第2の画素群と、が含まれ、
    前記駆動方法が、
    前記第1の画素群からの信号を、前記複数の出力線に並列に出力するステップと、
    前記第2の画素群からの信号を、前記複数の出力線のうちの1つの出力線に順に出力するステップと、を有することを特徴とする請求項17乃至請求項19のいずれか一項に記載の撮像装置の駆動方法。
  21. 前記リセットトランジスタの制御ノードに第3の電圧を供給することによって、前記リセットトランジスタをオンにするステップを有し、
    前記第3の電圧と前記第1の電圧との差が、前記第3の電圧と前記第2の電圧との差よりも小さいことを特徴とする請求項14乃至請求項20のいずれか一項に記載の撮像装置の駆動方法。
  22. 前記選択状態の画素に含まれる前記リセットトランジスタをオンに制御するために前記制御ノードへ供給する電圧と、前記非選択状態の前記画素に含まれる前記リセットトランジスタをオンに制御するために前記制御ノードへ供給する電圧とが等しいことを特徴とする請求項14乃至請求項20のいずれか一項に記載の撮像装置の駆動方法。
JP2012209492A 2012-09-24 2012-09-24 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システム。 Expired - Fee Related JP6132500B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012209492A JP6132500B2 (ja) 2012-09-24 2012-09-24 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システム。
US14/032,517 US9241119B2 (en) 2012-09-24 2013-09-20 Image pickup apparatus, method of driving image pickup apparatus, and image pickup system
CN201310437395.7A CN103681716B (zh) 2012-09-24 2013-09-24 图像拾取装置、图像拾取装置的驱动方法和图像拾取系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012209492A JP6132500B2 (ja) 2012-09-24 2012-09-24 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システム。

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014064240A JP2014064240A (ja) 2014-04-10
JP2014064240A5 JP2014064240A5 (ja) 2015-08-13
JP6132500B2 true JP6132500B2 (ja) 2017-05-24

Family

ID=50318721

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012209492A Expired - Fee Related JP6132500B2 (ja) 2012-09-24 2012-09-24 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システム。

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9241119B2 (ja)
JP (1) JP6132500B2 (ja)
CN (1) CN103681716B (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102083776B1 (ko) * 2013-09-03 2020-04-16 삼성전자 주식회사 조도 변화에 따라 다른 전압을 픽셀들로 공급할 수 있는 이미지 센서, 이의 동작 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 장치
JP6548391B2 (ja) 2014-03-31 2019-07-24 キヤノン株式会社 光電変換装置および撮像システム
CN106341627B (zh) * 2015-07-07 2020-08-11 松下知识产权经营株式会社 摄像装置
JP2019087939A (ja) * 2017-11-09 2019-06-06 キヤノン株式会社 光電変換装置、電子機器、輸送機器および光電変換装置の駆動方法
CN113225499B (zh) * 2021-05-10 2022-08-30 北京京东方传感技术有限公司 有源像素传感器电路及驱动方法、显示装置和平板探测器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63299268A (ja) * 1987-05-29 1988-12-06 Toshiba Corp 固体撮像装置
JP3794637B2 (ja) * 2003-03-07 2006-07-05 松下電器産業株式会社 固体撮像装置
CN1574370A (zh) 2003-05-30 2005-02-02 松下电器产业株式会社 固体摄像器件
JP4297416B2 (ja) 2003-06-10 2009-07-15 シャープ株式会社 固体撮像素子、その駆動方法およびカメラ
JP3951994B2 (ja) * 2003-09-16 2007-08-01 ソニー株式会社 固体撮像装置およびカメラシステム
US7829832B2 (en) 2005-08-30 2010-11-09 Aptina Imaging Corporation Method for operating a pixel cell using multiple pulses to a transistor transfer gate
JP4380716B2 (ja) * 2007-03-12 2009-12-09 ソニー株式会社 固体撮像装置およびカメラシステム
US7807955B2 (en) * 2008-05-30 2010-10-05 Eastman Kodak Company Image sensor having reduced well bounce
JP5359315B2 (ja) 2009-01-28 2013-12-04 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および撮像装置
JP5511541B2 (ja) 2010-06-24 2014-06-04 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20140085521A1 (en) 2014-03-27
JP2014064240A (ja) 2014-04-10
US9241119B2 (en) 2016-01-19
CN103681716A (zh) 2014-03-26
CN103681716B (zh) 2017-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10404933B2 (en) Solid-state imaging apparatus and imaging system
JP6541523B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、および、撮像装置の制御方法
JP5478905B2 (ja) 固体撮像装置
JP4161855B2 (ja) 固体撮像装置、駆動制御方法及び駆動制御装置
JP2008042239A (ja) 光電変換装置及びそれを用いた撮像システム
JP2016174270A (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2016136659A (ja) 撮像装置、撮像システム、および撮像装置の駆動方法
JP6132500B2 (ja) 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および撮像システム。
CN109155831B (zh) 固体摄像装置和摄像设备
US20130235240A1 (en) Imaging device, imaging system, and driving method of imaging device
US9118858B2 (en) Image pickup apparatus, image pickup system and driving method of image pickup apparatus
JP2015159463A (ja) 固体撮像装置及び撮像システム
JP6580069B2 (ja) 撮像装置の駆動方法、撮像装置、撮像システム
US9426391B2 (en) Solid-state imaging apparatus, method of controlling the same, and imaging system
JP6012196B2 (ja) 光電変換装置の駆動方法
JP4661212B2 (ja) 物理情報取得方法および物理情報取得装置並びに半導体装置
JP2010028434A (ja) 固体撮像装置
JP6532224B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、及び撮像装置の駆動方法
JP2008124229A (ja) 固体撮像素子
JP5645553B2 (ja) 固体撮像装置及び撮像システム
JP5177198B2 (ja) 物理情報取得方法および物理情報取得装置
JP2011139350A (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2016184905A (ja) 光電変換装置、撮像システム、光電変換装置の駆動方法
JP6900427B2 (ja) 光電変換装置、撮像システム、光電変換装置の駆動方法
JP2016100847A (ja) 撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150630

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150630

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160427

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160510

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160706

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161115

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170113

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170321

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170418

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6132500

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees