JP6095394B2 - 基板処理システム及び基板処理方法 - Google Patents

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Description

本発明は、基板に塗布液を塗布した後、その塗布液を乾燥させる基板処理システム、及び、この基板処理システムによって実行される基板処理方法に関する。
液晶ディスプレイ等のフラットパネルディスプレイや太陽電池パネルには、薄いガラス基板上に塗布液が塗布されて製造されたものが用いられている。このようにガラス基板に塗布液を塗布する装置として、例えば、特許文献1に記載の塗布装置が用いられる。図6(A)に示すように、塗布装置90は、ガラス基板(以下、基板Wという)を浮上搬送するために、エアによって基板Wを浮上させる浮上板93と、浮上する基板Wを吸着保持し基板搬送方向へ移動する吸着手段94とを有している。塗布液Lを基板Wの上面に塗布することから、吸着手段94は、基板Wの下面(裏面)の幅方向両側を吸着する。このため、浮上板93は基板Wよりも幅方向寸法が小さい。そして、塗布装置90は口金92を有しており、浮上搬送される基板Wの上面に対して口金92から塗布液Lが吐出され、基板Wへの塗布が行われる。
特開2005−244155号公報
また、図6(B)に示すように、塗布装置90の基板搬送方向の下流側には、基板W上に塗布された塗布液Lを乾燥させる乾燥装置95が設けられている。乾燥装置95は、基板Wを浮上させる浮上板96を有し、この浮上板96は、図外のヒータにより加熱されており、浮上板96上の基板Wの塗布液Lを乾燥させる。つまり、浮上板96をホットプレートとして用いている。また、基板W上の塗布液L全体を均一に乾燥させるためには、基板Wの下面全体を浮上板96に対面させる必要があり、このため、浮上板96は基板Wよりも広く構成されている。
前記のとおり、塗布装置90は塗布液Lを基板Wの上面に塗布することから、吸着手段94はその基板Wの下面の幅方向両側を吸着保持して基板Wを搬送する。これに対して、乾燥装置95では、基板Wの下面全体を浮上板96に対面させることから、基板Wを下面から保持することができず、浮上板96上では、吸着手段94による基板Wの吸着を解除し、別の機構によって基板Wを下面以外から保持する必要がある。このため、塗布装置90において塗布液Lを塗布した基板Wを、乾燥装置95へ受け渡す必要がある。
この基板Wの受け渡しについて具体的に説明する。塗布前の基板Wが塗布装置90に供給されると、この基板Wを浮上板93によって浮上させ、この基板Wの下面の幅方向両側を吸着手段94が吸着する。そして、図6(A)に示すように、吸着手段94を下流側へ移動させ基板Wを浮上搬送し、この基板Wに対して口金92から塗布液Lが吐出され、塗布が行われる。塗布が終了すると(図6(B)参照)、基板Wをローラコンベア98に渡す。つまり、基板Wの前端部tがローラコンベア98の上流端のローラ98aに乗ると、吸着手段94の移動を停止させ、基板Wを一旦停止させる。さらに、吸着手段94による吸着を解除し、ローラコンベア98を駆動させ、基板Wを乾燥装置95側へと搬送する。
図7(A)に示すように、乾燥装置95の浮上板96上に搬送される基板Wは、その後端部eが下流端のローラ98bに乗った状態となり、この後端部eを除く前部分Fが浮上板96から浮上した状態となる。この状態で、ローラコンベア98は停止し、基板Wを一旦停止させる。その後、この基板Wは、乾燥装置95が備えている送り装置97によって、保持されかつ浮上板96上へ完全に搬送され(図7(B)参照)、基板Wの下面全体が浮上板96と対面する。以上により、塗布装置90から乾燥装置95への基板Wの受け渡しが完了する。
図8は、図7(A)の状態を示す平面図である。この状態は、基板Wの後端部eがローラ98bにり、この後端部eを除く前部分Fが浮上板96に対面した状態である。ローラコンベア98から浮上板96上へ基板Wを位置管理して渡すためには、前記のとおり、基板Wの後端部eがローラ98bに乗った状態で、このローラ98bの駆動を停止して基板Wを一旦停止させ、その後、送り装置97がこの基板Wを保持し、基板Wの全体を浮上板96上へ搬送する必要がある。これは、仮に、ローラコンベア98により搬送されている基板Wの後端部eをローラ98b上で一旦停止させずに、基板Wを連続して浮上板96上へ移動させた場合、その基板Wは浮上板96上で浮上することから、後端部eがローラ98bから離れると、基板Wは、その慣性(惰性)によって浮上板96上でどこに位置するか定まらず、正確に基板Wを乾燥装置95へ渡すことができなくなるためである。
しかし、このように、浮上板96上へ基板Wを位置管理して渡すために、基板Wの後端部eがローラ98bに乗った状態で基板Wを一旦停止させると(図8参照)、その基板Wのうち、後端部eを除く前部分Fは、加熱した浮上板96に対面して乾燥が促進されるが、後端部eは、浮上板96に対面せず乾燥が遅れる。すると、その後、基板Wの全面を浮上板96に対面させるが(図7(B)参照)、乾燥が遅れた後端部eと、それ以外の前部分Fとの間(境界)に、乾燥開始の時間差に起因して乾燥痕が発生し、基板Wの品質を低下させてしまうおそれがある。特に温度に敏感な塗布液では乾燥痕が発生しやすい。
そこで、本発明は、基板を位置管理して搬送可能であると共に、塗布液の乾燥痕が基板に発生するのを抑制することが可能となる基板処理システム及び基板処理方法を提供することを目的とする。
本発明の基板処理システムは、基板の上面に塗布液を塗布する塗布装置と、前記基板よりも広くかつ塗布液が塗布された前記基板を浮上させる浮上板を有し、浮上させた前記基板の前記塗布液を、昇温させた当該浮上板によって乾燥させる乾燥装置と、塗布液が塗布された前記基板を乗せた状態とすることで位置管理して搬送可能であり、当該基板の前側を先頭として、かつ、当該基板のうちの後側の一部を除く前部分を、前記浮上板上へ搬送可能とする第一搬送機構と、前記第一搬送機構により前記前部分を前記浮上板上に搬送し終える前又は搬送開始する前に当該基板を保持する保持部を有し、かつ、前記基板を保持した前記保持部を、前記基板を乗せた状態での前記第一搬送機構による搬送と併せて、移動させることにより、当該基板の前端部が前記浮上板上に差し掛かってから当該基板の全体が前記浮上板上に位置するまで途中停止することなく当該基板を当該浮上板上に搬送する第二搬送機構とを備えていることを特徴とする。
本発明によれば、第一搬送機構によって位置管理され搬送される、塗布液が塗布された基板のうち、浮上板上に搬送可能となる部分は、後側の一部を除く前部分であるが、第二搬送機構によれば、第一搬送機構によってこの前部分を浮上板上に搬送し終える前(又は搬送開始する前)に基板を保持部が保持し、この保持部を移動させることにより、基板の前端部が浮上板上に差し掛かってから基板の全体が浮上板上に位置するまで途中停止することなくこの基板を浮上板上に搬送する。このため、塗布液が塗布された基板は位置管理されたまま浮上板上へ搬送され、しかも、基板の後側の一部が浮上板上に位置せず加熱されない状態で、かつ、この後側の一部を除く前部分が浮上板上に位置して加熱される状態で、基板が一旦停止してしまうのを防ぐことができ、後側の一部と前部分との間に塗布液の乾燥痕が発生するのを抑制することが可能となる。なお、第一搬送機構による位置管理とは、厳密に基板の位置を制御する以外に、基板が不測的に位置ずれするのを防ぐ場合を含む。
また、前記乾燥装置は、前記浮上板上の前記基板を保持して次の工程へ搬送可能な送り装置を有しており、この送り装置による前記基板の搬送範囲が、前記第一搬送機構による前記基板の搬送範囲と重なるように前記塗布装置側へ延長して設定されていることにより、当該送り装置が前記第二搬送機構として機能するのが好ましい。
この場合、送り装置(第二搬送機構)が有する前記保持部は、第一搬送機構による基板の搬送範囲と重なる位置まで移動可能となる。そして、基板を保持したこの保持部を移動させることにより、基板の前端部が浮上板上に差し掛かってから基板の全体が浮上板上に位置するまで途中停止することなく基板を浮上板上に搬送することが可能となる。
本発明の基板処理システムは、基板の上面に塗布液を塗布する塗布装置と、前記基板よりも広くかつ塗布液が塗布された前記基板を浮上させる浮上板を有し、浮上させた前記基板の前記塗布液を、昇温させた当該浮上板によって乾燥させる乾燥装置と、塗布液が塗布された前記基板を位置管理して搬送可能であり、当該基板の前側を先頭として、かつ、当該基板のうちの後側の一部を除く前部分を、前記浮上板上へ搬送可能とする第一搬送機構と、前記第一搬送機構により前記前部分を前記浮上板上に搬送し終える前又は搬送開始する前に当該基板を保持する保持部を有し、かつ、前記基板を保持した前記保持部を移動させることにより、当該基板の前端部が前記浮上板上に差し掛かってから当該基板の全体が前記浮上板上に位置するまで途中停止することなく当該基板を当該浮上板上に搬送する第二搬送機構と、を備え、前記第一搬送機構は、前記基板をせて搬送するコンベア装置からなり、前記第二搬送機構は、前記コンベア装置の幅方向両側に設けられ当該コンベア装置による前記基板の搬送方向と同方向に前記保持部を移動させる駆動部を更に有し、前記コンベア装置によって前記基板を搬送している途中で当該基板を前記保持部が保持する。
この場合、第二搬送機構は、前記保持部と、この保持部を移動させる駆動部とを有した構成となる。そして、コンベア装置(第一搬送機構)によって基板を搬送している途中でその基板を保持部が保持し、この保持部を駆動部によって移動させることで、基板を保持するために基板を停止させずに済み、そして、基板の前端部が浮上板上に差し掛かってから基板の全体が浮上板上に位置するまで途中停止することなく基板を浮上板上に搬送することが可能となる。
また、本発明の基板処理方法は、基板の上面に塗布液を塗布する塗布ステップと、塗布液が塗布された前記基板を当該基板よりも広い浮上板上に浮上させ、昇温させた当該浮上板によって前記基板の前記塗布液を乾燥させる乾燥ステップと、塗布液が塗布された前記基板を乗せた状態とすることで位置管理して搬送可能な第一搬送機構により、当該基板の前側を先頭として、かつ、当該基板のうちの後側の一部を除く前部分を、前記浮上板上へ搬送する搬送ステップとを備え、前記搬送ステップでは、前記第一搬送機構により前記前部分を前記浮上板上に搬送し終える前又は搬送開始する前に当該基板を保持し、かつ、保持した前記基板を、前記基板を乗せた状態での前記第一搬送機構による搬送と併せて、移動させ、当該基板の前端部が前記浮上板上に差し掛かってから当該基板の全体が前記浮上板上に位置するまで途中停止することなく当該基板を当該浮上板上に搬送する補助ステップが、第二搬送機構により並行して行われることを特徴とする。
本発明によれば、搬送ステップでは、第一搬送機構によって位置管理され搬送される、塗布液が塗布された基板のうち、浮上板上に搬送可能となる部分は、後側の一部を除く前部分であるが、補助ステップが第二搬送機構により並行して行われることで、前部分を浮上板上に搬送し終える前(又は搬送開始する前)に基板を保持し、基板の前端部が浮上板上に差し掛かってから基板の全体が浮上板上に位置するまで途中停止することなくこの基板を浮上板上に搬送する。このため、塗布液が塗布された基板は位置管理されたまま浮上板上へ搬送され、しかも、基板の後側の一部が浮上板上に位置せず加熱されない状態で、かつ、この後側の一部を除く前部分が浮上板上に位置して加熱される状態で、基板が一旦停止してしまうのを防ぐことができ、後側の一部と前部分との間に塗布液の乾燥痕が発生するのを抑制することが可能となる。
本発明によれば、塗布液が塗布された基板は位置管理されたまま浮上板上へ搬送され、しかも、基板の前端部が浮上板上に差し掛かってから基板の全体が乾燥装置の浮上板上に位置するまで途中停止することなく、その基板を浮上板上に搬送することができ、基板上において塗布液の乾燥痕が発生するのを抑制することが可能となる。この結果、品質の良い基板を得ることができる。
基板処理システムの概略構成を示す斜視図である。 基板処理システムを側方から見た概略図であり、(A)は、基板の前端部がローラコンベアに乗り始めた状態を示し、(B)は、基板の全体がローラコンベアに乗った状態を示している。 基板処理システムを側方から見た概略図であり、(A)は、基板の後端部がローラコンベアの最も前方に設置されているローラに乗った状態を示し、(B)は、基板の全体が乾燥用の浮上板に乗った状態を示している。 基板処理システムの一部の平面図であり、(A)は、図2(B)と同じ状態を示し、(B)は、図3(A)と同じ状態を示している。 第二搬送機構の他の形態を説明する平面図である。 従来の基板処理システムを側方から見た概略構成図である。 従来の基板処理システムを側方から見た概略構成図である。 従来の基板処理システムを上から見た概略構成図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1は、基板処理システムの概略構成を示す斜視図である。この基板処理システムは、浮上搬送する薄板状のガラス基板(以下、基板Wという)に対して薬液やレジスト液等の液状物である塗布液Lを塗布する塗布装置10と、基板Wに塗布された塗布液Lを乾燥させる乾燥装置20とを備えている。また、この基板処理システムは、塗布装置10(後述の浮上板12)と乾燥装置20(後述の浮上板21)との間に、塗布液Lが塗布された基板Wを位置管理して搬送する連結コンベア(第一搬送機構)を有している。本実施形態の連結コンベアは、複数のローラ31を有するローラコンベア30であり、本実施形態における前記位置管理は、基板Wの少なくとも一部がローラ31にった状態となることにより行われ、これにより、基板Wが不測的に位置ずれするのを防ぐことができる。なお、これら塗布装置10、ローラコンベア30及び乾燥装置20の各部の動作は、基板処理システムが備えている制御装置(コンピュータ)9によって制御される。
基板Wは、図1の矢印X方向に搬送され処理が行われる。この基板搬送方向(矢印X方向)を前方向、その反対が後方、基板搬送方向と水平面上で直交する方向を幅方向、基板搬送方向および幅方向の双方に直交する方向を上下方向と呼ぶ。この基板処理システムでは、基板Wは、その上面(表面)が上方を向いた姿勢で直線的に搬送(平流し)される。
塗布装置10は、基板Wを浮上搬送する搬送装置11を有しており、この搬送装置11は、基板Wを浮上させる塗布用の浮上板12と、この浮上板12によって浮上させた基板Wの下面を吸着保持する吸着手段14と、この吸着手段14を前方に移動させ浮上する基板Wを同方向に搬送するリニアモータ等からなる搬送駆動手段15とを備えている。本実施形態の浮上板12は、その上面13から気体を噴射して基板Wを浮上させる。吸着手段14は、浮上する基板Wの下面の幅方向両側部8を吸着する構成であり、このために、浮上板12は基板Wよりも幅方向寸法が小さく構成されている。
更に、塗布装置10は、浮上搬送する基板Wの上面に対して塗布液Lを吐出する口金16を備えている。図外のタンクから塗布液が口金16へと供給され、口金16から塗布液が吐出され基板Wに塗布液Lを塗布することができる。口金16は、幅方向に長く水平であるスリットが形成されており、このスリットから塗布液Lが吐出され、基板Wの幅方向のほぼ全長に対して塗布液Lを塗布する。また、塗布液Lは、基板Wの前側の一部(前端部t)から後側の一部(後端部e)まで、基板搬送方向のほぼ全長に対して塗布される。
図2及び図3は、図1の基板処理システムを側方から見た概略図である。図4は、その一部の平面図である。乾燥装置20は、基板Wを浮上させる乾燥用の浮上板21と、この浮上板21上の基板Wを保持して次の工程へ搬送可能な送り装置22とを有している。なお、乾燥装置20は、塗布液Lを乾燥させる乾燥ステップの後に行われる、ベークステップ、冷却ステップのための機能も有している。
本実施形態の浮上板21は、基板Wの搬送路の下方位置に設けられた振動板からなり、図示しないが、浮上板(振動板)21を振動させる振動子、この振動子を駆動する発振器等が設けられている。浮上板21を振動させることで、この振動に起因する放射圧(超音波の放射波)により、基板Wを浮上板21から浮上させる。
また、浮上板21は、その下方に設置された図外のヒータにより加熱され昇温する。浮上板21の温度は全体が均一となるよう管理される。この昇温させた浮上板21により、浮上板21から浮上させた基板Wに熱を与え、基板W上の塗布液Lを乾燥させる。つまり、浮上板21をホットプレートとして用いている。また、基板W上の塗布液L全体を均等に乾燥させるために、基板Wの下面全体を浮上板21に対面させる必要があり、このために、浮上板21は、基板Wよりも基板搬送方向及び幅方向に広く構成されている。
送り装置22は、基板搬送方向に延びるガイド23,24と、一方のガイド23に沿って移動可能でかつ基板Wの一部を支持可能な第一保持部25と、他方のガイド24に沿って移動可能でかつ基板Wの他部を支持可能な第二保持部26とを有している。第一保持部25は、基板Wの幅方向一方側の後部を幅方向及び後方から支持可能な鉛直ピンを有し、第二保持部26は、基板Wの幅方向他方側の前部を幅方向及び前方から支持可能なピンを有している。これら保持部25,26が基板Wの各部を支持した状態でガイド23,24に沿って移動することにより、基板Wを保持して浮上搬送することが可能となる。
この送り装置22によれば、基板Wは、その下面全体が浮上板21に対面する第一位置P1(図4(A)で一点鎖線により示す基板W)から、次の工程のための所定位置となる第二位置P2(図4(A)で二点鎖線により示す基板W)まで移動可能となる。つまり、送り装置22による基板Wの搬送範囲には、第一位置P1から第二位置P2までの範囲が含まれる。なお、後に説明するが、この送り装置22による基板Wの搬送範囲には、更に、第一位置P1から塗布装置10側の延長位置P0までの間も含まれる。
ローラコンベア30について説明する。ローラコンベア30は複数のローラ31を備えており、図2(A)に示すように、基板Wの前端部tが、最も後方に設置されているローラ31a上に乗ることで、塗布装置10から位置管理して基板Wを受け取ることができ、また、ローラコンベア30が駆動することにより、基板Wを乾燥用の浮上板21上へ位置管理して搬送することができる。そして、基板Wの前端部tがローラ31a上に乗った状態から、この基板Wの後端部eが、最も前方に設置されているローラ31b上に乗った状態(図3(A)参照)となるまでの範囲が、ローラコンベア30が基板Wを位置管理して搬送可能となる搬送範囲となる。このローラコンベア30によれば、塗布液Lが塗布された基板Wを、位置管理して、塗布装置10から受け取ると共に、受け取った基板Wを、その前側を先頭として浮上板21上へ搬送可能である。
そして、図3(A)及び図4(B)に示しているように、このローラコンベア30は、基板Wのうちの後端部eを除く前端部Fを浮上板21上へ位置管理して搬送可能である。図3(A)及び図4(B)に示す状態は、最も前方のローラ31b上に基板Wの後端部eが乗った状態であり、この状態が、ローラコンベア30が基板Wを位置管理して搬送することが可能となる搬送限界である。この搬送限界を超えて基板Wを搬送すると、基板Wの後端部eとローラ31bとの縁が切れ、この基板Wは浮上板21上で浮上することから、基板Wの慣性によって浮上板21上でどこに位置するか定まらず、正確に基板Wを乾燥装置20へ渡すことができなくなる。
そこで、基板処理システムは、塗布液Lが塗布された基板Wを、ローラコンベア30上から浮上板21上へと移し替える際に機能する第二搬送機構40を備えている。
本実施形態では、乾燥装置20が備えている前記送り装置22が第二搬送機構40として機能する。すなわち、送り装置22が備えているガイド23,24が、ローラコンベア30の幅方向両側の所定位置(上流端位置、下流端位置)まで延長されており、保持部25,26はこの所定位置まで移動可能である。つまり、ローラコンベア30による基板Wの搬送範囲と重なる位置まで、保持部25,26は移動可能となる。そして、ローラコンベア30によって搬送される基板Wを、保持部25,26が保持し、この基板Wを浮上板21上へ補助的に搬送する。このように、送り装置22による基板Wの搬送範囲が、ローラコンベア30による基板Wの搬送範囲と重なるように塗布装置10側へ延長して設定されることにより、この送り装置22が第二搬送機構40として機能する。なお、この送り装置22が第二搬送機構40として機能する具体例については、後に説明する。
以上の構成を備えた基板処理システムにより実行される基板処理方法について説明する。塗布装置10に基板Wが供給されると、この基板Wを浮上板12によって浮上させ、この基板Wの下面の幅方向両側を吸着手段14が吸着保持する。吸着手段14を下流側へ移動させることで基板Wを浮上搬送し、この基板Wに対して口金16から塗布液Lを吐出し、塗布を行う(塗布ステップ)。
塗布ステップが終了すると、基板Wをローラコンベア30に渡す。図2(A)に示すように、基板Wの前端部tがローラコンベア30の上流端のローラ31aに乗ると、吸着手段14の移動を停止させ、基板Wを一旦停止させる。さらに、吸着手段14による吸着を解除し、ローラコンベア30を駆動させて基板Wを乾燥装置20側へと搬送する。なお、吸着手段14による前記吸着の解除とローラコンベア30による搬送開始とを同時に行い、基板Wを一旦停止させずに連続搬送してもよい。
ローラコンベア30の駆動により、基板Wの前端部tが浮上板21へ到達する手前の位置まで基板Wを搬送し、この位置で基板Wを一旦停止させる(図2(B)参照)。この基板Wの位置が、前記延長位置P0となる。
なお、図2(B)に示すように、基板Wが延長位置P0に位置する際(停止する際)、浮上板21の基板搬送方向上流端から、その基板Wは、基板搬送方向上流側へ離間しており、浮上板21と全く重なっていない。すなわち、基板Wが延長位置P0に位置した状態では、その基板Wの搬送方向上流端と、浮上板21の搬送方向上流端とが、基板Wの搬送方向の長さ寸法以上、離間している。このため、基板Wが延長位置P0に位置する際、その基板Wの一部が、浮上板21により加熱されることを防ぐことができる。
送り装置22の保持部25(26)が、延長位置P0にある基板Wの幅方向一方側の後部(幅方向他方側の前部)を保持可能な位置に移動し、この基板Wを保持する。ローラコンベア30は駆動を再開し、さらに、このローラコンベア30による基板Wの搬送に併せて、送り装置22による補助搬送も開始される。すなわち、ローラコンベア30が駆動を再開すると、これに同期して保持部25(26)を乾燥装置20側へ移動させる。
この補助搬送では、ローラコンベア30による基板Wの搬送開始の際の加速度と同じ加速度で保持部25(26)は同じ方向に移動を開始し、さらに、ローラコンベア30による基板Wの搬送速度が等速となれば、保持部25,26の移動速度も、その搬送速度と同じ一定速度で移動する。
そして、ローラコンベア30と送り装置22との協働により、基板Wの前端部tを先頭としてその基板Wを浮上板21へと搬送し、しかも、この基板Wの下面全体が浮上板21に対面する位置まで、送り装置22による搬送が継続される。基板Wが前記第一位置P1に到達すると(図3(B)参照)、保持部25(26)の移動が停止し、基板Wの搬送が中断される。
このように搬送することで、ローラ31と基板Wとの摩擦を最小限にすることができ、摩擦によるパーティクルの発生や基板Wの割れ(損傷)を防ぐことができる。
以上のように、基板Wを位置管理して搬送可能なローラコンベア30によって、その基板Wの前側を先頭として、かつ、その基板Wのうちの後端部eを除く前部分Fを浮上板21上へ搬送する搬送ステップが実行される。そして、この搬送ステップでは、送り装置22による補助ステップが並行して行われる。この補助ステップは、図2(B)に示すように、ローラコンベア30により基板W(前部分F)を浮上板21上に搬送開始する以前のタイミング(基板Wが延長位置P0で停止しているタイミング)で、送り装置22の保持部25,26が基板Wを保持し、かつ、保持した基板Wを連続的に移動させることにより、基板Wの前端部tが浮上板21上に差し掛かってから基板Wの下面全体が浮上板21上に位置するまでの間に途中停止することなく基板Wを浮上板21上に搬送する(図3(B)参照)。これにより、基板Wの下面全体が浮上板21に対面した状態となる。
そして、浮上板21上に浮上させた基板Wの塗布液Lを、昇温させたこの浮上板21によって乾燥させる(乾燥ステップ)。この乾燥ステップでは、浮上させた基板Wは、保持部25,26により位置決めされた状態にあり、停止している。この乾燥ステップは所定時間(例えば数十秒)行われ、その後、保持部25,26が移動して基板Wを次のステップへ搬送する。
前記実施形態では、送り装置22が第二搬送機構40として機能する場合について説明したが、第二搬送機構40を他の構成としてもよい。例えば、送り装置22と独立した第二搬送機構40を設けてもよい。すなわち、図5に示すように、この第二搬送機構40は、ローラコンベア30の幅方向両側に、(送り装置22とは別に)設けられている直線ガイド47,48を有している駆動部45,46と、このガイド47,48に沿ってローラコンベア30による基板Wの搬送方向と同方向に移動可能な保持部27,28とを備えている。駆動部45,46が保持部27,28を移動させ、保持部27,28が基板Wを保持することができる。駆動部45,46は、保持部27,28を幅方向に移動させることもでき、この移動動作によって、保持部27,28は基板Wを幅方向両側から挟んで保持する動作が可能となる。さらに、これら保持部27,28は、基板搬送方向に移動しながら前記保持する動作が可能であり、ローラコンベア30によって基板Wを搬送している途中で、その基板を幅方向両側から保持する。なお、図4(図2)に示す実施形態と比較すると、この図5に示す実施形態では、送り装置22のガイド23及びガイド24がローラコンベア30の幅方向両側まで延長しておらず、その代わりとして第二搬送機構40が設置されている。その他は同じであり、ここでは同じ構成についての説明を省略する。
図5に示す第二搬送機構40を備えている基板処理システムの動作、特に、塗布を終えた基板Wをローラコンベア30から乾燥用の浮上板21へ受け渡す動作について説明する。なお、基板Wに塗布液を塗布する塗布ステップ、及び、塗布を終えた基板Wを塗布装置10からローラコンベア30へ渡す動作は、図2の実施形態(図2(A)の場合)と同じである。つまり、塗布液Lが塗布された基板Wは、その下面の幅方向両側が吸着手段14により吸着され、浮上搬送された状態で口金16の下を通過する。そして、塗布を終えた基板Wの前端部tがローラ31aに乗る。そして、ローラコンベア30が駆動し、基板Wを乾燥用の浮上板21上へ向かって搬送する(搬送ステップ)。
そして、図5に示す実施形態では、この搬送ステップに並行して、補助ステップとして、第二搬送機構40が備えている保持部27,28が基板Wを保持し、基板Wの全体を浮上板21上に位置させる。すなわち、ローラコンベア30によって基板Wが浮上板21側へ搬送されると(図4(A)参照)、この基板Wの搬送速度と同じ速度で、基板保持前の保持部27,28が基板搬送方向に移動し、さらに、保持部27,28を幅方向に相互接近移動させ両者の幅方向間隔を狭くし、基板Wを側方から挟んで保持する(図5(B)参照)。保持部27,28は、ローラコンベア30によって搬送される基板Wに併走しながら、この基板Wを幅方向から保持する。さらに、この実施形態では、ローラコンベア30が駆動して基板Wを搬送している途中であって、図5(B)に示すように、基板Wのうちの後端部eを除く前部分Fを浮上板21上に搬送し終える前に、保持部27,28は、この基板Wを保持する。基板Wを保持した保持部27,28を、基板搬送方向に連続的に移動させることにより、基板Wの前端部tが浮上板21上に差し掛かってからこの基板Wの下面全体が浮上板21上に位置するまでの間に途中停止することなく、基板Wを浮上板21上に搬送する。基板Wの下面全体が浮上板21に対面した状態になると、保持部27,28は停止し、基板Wを停止させる。この状態の基板Wの位置は、図4(A)の第一位置P1と同じ位置である。これにより、基板Wの下面全体が浮上板21に対面した状態となる。
そして、浮上板21上に浮上させた基板Wの塗布液Lを、昇温させたこの浮上板21によって乾燥させる(乾燥ステップ)。この乾燥ステップでは、浮上させた基板Wは、乾燥装置20が備えている別の保持部により位置決めされた状態にあり、停止している。この別の保持部は、図4に示す実施形態の保持部25,26と同様の構成であってもよい。
この図5に示す実施形態では、ローラコンベア30によって基板Wを搬送している途中で、同じ速度で移動する保持部27,28がその基板Wの幅方向両側を保持することから、基板Wを保持するために基板Wを一時停止させずに済む。このため、タクトタイムの短縮化が可能となる。
なお、保持部27,28は、基板Wの後端をその後方から押す部分を更に備える構成としてもよいが、この場合、ローラコンベア30によって搬送される基板Wを追いかけるようにして保持部27,28を前方へ移動させ、保持部27,28が基板Wに追いつくために加速し、追いつくと基板Wと等速になる制御が必要となり、その制御がやや煩雑となる。これに比べて、図5の場合、保持部27,28の移動速度が基板Wの搬送速度と等しくなるまでの、保持部27,28の加速形態に大きな制約はなく、保持部27,28は、基板Wと等速となってから、この基板Wを幅方向両側のみから挟んで保持するため、その制御は容易である。
以上、図5(及び図2)それぞれに示す各実施形態の基板処理システムは、ローラコンベア30により、基板Wのうちの後端部eを除く前部分Fを乾燥用の浮上板21上に搬送し終える前(又は基板Wを搬送開始する前)に、この基板Wを保持部27,28(25,26)によって保持させ、そして、この保持したタイミング以降、基板Wを保持した保持部27,28(25,26)を連続的に移動させることにより、基板Wの前端部tが浮上板21上に差し掛かってから基板Wの全体が浮上板21上に位置するまでの間に途中停止することなく、基板Wを浮上板21上に搬送する搬送動作を行うことができる。
この搬送動作によれば、図8に示す従来のような「塗布液Lが塗布された基板Wの後端部eが浮上板96上に位置せず加熱されない状態で、かつ、この後端部eを除く前部分Fが浮上板96上に位置して加熱される状態で、基板Wが一旦停止してしまう」つまり「基板Wが、ローラコンベア98と浮上板96との間を跨いで停止してしまう」ことを防ぐことができ、後端部eと前部分Fとの間に、塗布液Lの乾燥開始の時間差に起因して、乾燥痕が発生するのを抑制することが可能となる。この結果、品質の良い基板Wを得ることができる。
また、前記各実施形態の基板処理システムによれば、システムのラインが長くなるのを抑えることができる。つまり、仮に、乾燥装置20の浮上板21において、乾燥させる機能を省略し、浮上機能のみとし、この浮上板21の下流側に更に第二の浮上板を設け、この第二の浮上板をホットプレートとして機能させる場合、前記のような乾燥痕の発生を抑制することが可能になるが、この場合、浮上板の追加が必要となり、基板処理システムのラインが長く成り、また、コストが高くなる。これに対し、前記各実施形態の基板処理システムによれば、これらの事態を防ぐことができる。
また、本発明の基板処理システムは、図示する形態に限らず本発明の範囲内において他の形態のものであってもよい。例えば、図2に示す実施形態では、ローラコンベア30上で基板Wを一旦停止させた状態で、保持部25(26)がその基板Wを保持し、搬送を再開する場合について説明したが、この実施形態においても、図5に示す実施形態と同様に、ローラコンベア30によって基板Wを搬送している途中で、同じ速度で保持部25(26)を移動させ、この保持部25(26)によって基板Wを保持する構成としてもよく、この場合、基板Wを一時停止させずに済む。さらに、保持部25(26)は、基板Wをその幅方向両側から挟んで保持する構成であってもよい。
また、各実施形態においてローラコンベア30を省略し、塗布装置10の搬送装置11を第一搬送機構として機能させてもよい。
10:塗布装置 16:口金 20:乾燥装置
21:浮上板 22:送り装置 25:保持部
26:保持部 27:保持部 28:保持部
30:ローラコンベア(第一搬送機構) 40:第二搬送機構
45:駆動部 46:駆動部 W:基板
L:塗布液 e:基板の後端部(基板の後側の一部)
t:基板の前端部(基板の前側の一部) F:前部分

Claims (4)

  1. 基板の上面に塗布液を塗布する塗布装置と、
    前記基板よりも広くかつ塗布液が塗布された前記基板を浮上させる浮上板を有し、浮上させた前記基板の前記塗布液を、昇温させた当該浮上板によって乾燥させる乾燥装置と、
    塗布液が塗布された前記基板を乗せた状態とすることで位置管理して搬送可能であり、当該基板の前側を先頭として、かつ、当該基板のうちの後側の一部を除く前部分を、前記浮上板上へ搬送可能とする第一搬送機構と、
    前記第一搬送機構により前記前部分を前記浮上板上に搬送し終える前又は搬送開始する前に当該基板を保持する保持部を有し、かつ、前記基板を保持した前記保持部を、前記基板を乗せた状態での前記第一搬送機構による搬送と併せて、移動させることにより、当該基板の前端部が前記浮上板上に差し掛かってから当該基板の全体が前記浮上板上に位置するまで途中停止することなく当該基板を当該浮上板上に搬送する第二搬送機構と、
    を備えていることを特徴とする基板処理システム。
  2. 前記乾燥装置は、前記浮上板上の前記基板を保持して次の工程へ搬送可能な送り装置を有しており、
    この送り装置による前記基板の搬送範囲が、前記第一搬送機構による前記基板の搬送範囲と重なるように前記塗布装置側へ延長して設定されていることにより、当該送り装置が前記第二搬送機構として機能する請求項1に記載の基板処理システム。
  3. 基板の上面に塗布液を塗布する塗布装置と、
    前記基板よりも広くかつ塗布液が塗布された前記基板を浮上させる浮上板を有し、浮上させた前記基板の前記塗布液を、昇温させた当該浮上板によって乾燥させる乾燥装置と、
    塗布液が塗布された前記基板を位置管理して搬送可能であり、当該基板の前側を先頭として、かつ、当該基板のうちの後側の一部を除く前部分を、前記浮上板上へ搬送可能とする第一搬送機構と、
    前記第一搬送機構により前記前部分を前記浮上板上に搬送し終える前又は搬送開始する前に当該基板を保持する保持部を有し、かつ、前記基板を保持した前記保持部を移動させることにより、当該基板の前端部が前記浮上板上に差し掛かってから当該基板の全体が前記浮上板上に位置するまで途中停止することなく当該基板を当該浮上板上に搬送する第二搬送機構と、
    を備え、
    前記第一搬送機構は、前記基板をせて搬送するコンベア装置からなり、
    前記第二搬送機構は、前記コンベア装置の幅方向両側に設けられ当該コンベア装置による前記基板の搬送方向と同方向に前記保持部を移動させる駆動部を、更に有し、
    前記コンベア装置によって前記基板を搬送している途中で当該基板を前記保持部が保持することを特徴とする基板処理システム。
  4. 基板の上面に塗布液を塗布する塗布ステップと、
    塗布液が塗布された前記基板を当該基板よりも広い浮上板上に浮上させ、昇温させた当該浮上板によって前記基板の前記塗布液を乾燥させる乾燥ステップと、
    塗布液が塗布された前記基板を乗せた状態とすることで位置管理して搬送可能な第一搬送機構により、当該基板の前側を先頭として、かつ、当該基板のうちの後側の一部を除く前部分を、前記浮上板上へ搬送する搬送ステップと、
    を備え、
    前記搬送ステップでは、前記第一搬送機構により前記前部分を前記浮上板上に搬送し終える前又は搬送開始する前に当該基板を保持し、かつ、保持した前記基板を、前記基板を乗せた状態での前記第一搬送機構による搬送と併せて、移動させ、当該基板の前端部が前記浮上板上に差し掛かってから当該基板の全体が前記浮上板上に位置するまで途中停止することなく当該基板を当該浮上板上に搬送する補助ステップが、第二搬送機構により並行して行われることを特徴とする基板処理方法。
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