JP6049688B2 - 細粒と粗粒遅延エレメントを伴なうデジタル的にコントロールされた遅延ライン、および、細粒増加を調整する方法とシステム - Google Patents
細粒と粗粒遅延エレメントを伴なうデジタル的にコントロールされた遅延ライン、および、細粒増加を調整する方法とシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6049688B2 JP6049688B2 JP2014502655A JP2014502655A JP6049688B2 JP 6049688 B2 JP6049688 B2 JP 6049688B2 JP 2014502655 A JP2014502655 A JP 2014502655A JP 2014502655 A JP2014502655 A JP 2014502655A JP 6049688 B2 JP6049688 B2 JP 6049688B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay
- reference clock
- clock
- amount
- delay elements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 28
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 19
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 15
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 22
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0818—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter comprising coarse and fine delay or phase-shifting means
Landscapes
- Pulse Circuits (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
Claims (13)
- デジタル的にコントロール可能な遅延ラインであり、複数の第1遅延エレメントを含み、それぞれが第1遅延量を提供し、かつ、複数の第2遅延エレメントを含み、それぞれが第1遅延量より大きい第2遅延量を提供するラインと;
前記遅延ラインの遅延をコントロールするために、選択された数量の前記第1および第2遅延エレメントを使用するデジタルコントローラーと、
を含み、
前記デジタルコントローラーは、
第1遅延エレメントの数量Pを較正し、前記第1遅延量のP倍としてまとめられた遅延が前記第2遅延エレメントの一つの遅延と実質的に等しくなるように実施され、かつ、
第1遅延エレメントの数量nおよび第2遅延エレメントの数量mを較正し、前記第1遅延量のn倍と前記第2遅延量のm倍の和としてまとめられた遅延が参照クロックの一つの期間に対応するように実施され、
前記デジタルコントローラーは、さらに、
nおよびmの較正の最中にnを一定数量増加および減少する第1カウンターと、
カウント閾値に達した場合に出力される前記第1カウンターからのキャリーアウト指標に応じてmを一定数量増加および減少する第2カウンターと、
Pの較正の最中にPを一定数量増加および減少する第3カウンターと、
nおよびmの較正の最中に、前記遅延ラインに適用された前記参照クロックと前記遅延ラインにより遅延された前記参照クロックとの位相差を検出し、かつ、前記位相差に基づいて前記第1カウンターに対して増加および減少のコントロールを出力する位相検出器と、を含み、
前記Pを較正することは、
Pを負でない整数に初期化し、
第2参照クロックを生成するために第2遅延エレメントの一つにより第1参照クロックを遅延させ、
フィードバッククロックを生成するためにP個の第1遅延エレメントにより第1参照クロックを遅延させ、
前記第2参照クロックと前記フィードバッククロックの位相を比較し、
前記フィードバッククロックが前記第2参照クロックを先導する場合に、Pを一定数量増加し、かつ、
前記フィードバッククロックが前記第2参照クロックに遅れている場合に、Pを一定数量減少すること、を含み、
前記nおよびmを較正することは、
nをゼロに初期化し、mを負でない整数に初期化し、
フィードバッククロックを生成するためにn個の第1遅延エレメントおよびm個の第2遅延エレメントにより参照クロックを遅延させ、
前記参照クロックと前記フィードバッククロックの位相を比較し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックを先導し、かつ、nがP−1よりも小さい場合に、nを一定数量増加し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックを先導し、かつ、nがP−1に等しい場合に、mを一定数量増加し、かつ、nをゼロに設定し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックに遅れ、かつ、nがゼロよりも大きい場合に、nを一定数量減少し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックに遅れ、かつ、nがゼロに等しい場合に、mを一定数量減少し、かつ、nをP−1に設定する、
ことを特徴とするシステム。 - 前記第1遅延量は、約20ピコ秒よりも小さい、
請求項1に記載のシステム。 - 前記第1遅延エレメントは、それぞれ、キャパシターと該キャパシターを前記遅延ラインに接続するためのスイッチとを含み、
前記遅延ラインは、抵抗を含み、
前記第1遅延量は、スイッチ結合された第1遅延エレメントの抵抗と容量の負荷によって与えられる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記第2遅延エレメントは、それぞれ、バッファーとマルチプレクサーとを含み、
前記バッファーは、お互いに直列接続され、
少なくともマルチプレクサーのサブセットは、
前記第2遅延エレメントに対応するバッファーの出力、および、
隣接する第2遅延エレメントのマルチプレクサーの出力、
のうち一つを出力するようにコントロール可能である、
請求項1に記載のシステム。 - 前記遅延ラインに適用される参照クロックの遅延に貢献する実質的に全てのロジック回路は、前記第1および第2遅延エレメントに含まれ、
P、nおよびmの前記較正は、前記第1および第2遅延エレメントに影響するプロセス、電圧、および、温度の変動を実質的に補償する、
請求項1に記載のシステム。 - マスター遅延固定ループであって、
デジタル的にコントロール可能な遅延ラインであり、複数の第1遅延エレメントを含み、それぞれが第1遅延量を提供し、かつ、複数の第2遅延エレメントを含み、それぞれが第1遅延量より大きい第2遅延量を提供するラインと;
前記遅延ラインの遅延をコントロールするために、選択された数量の前記第1および第2遅延エレメントを使用するデジタルコントローラーと、
を含むマスター遅延固定ループと、
前記マスター遅延固定ループのデジタル較正パラメーターに少なくとも部分的に基づいてスレーブクロックを生成するスレーブ遅延固定ループと、
前記スレーブクロックに部分的に基づいてデータを通信する通信回路と、を含み、
前記デジタルコントローラーは、
第1遅延エレメントの数量Pを較正し、前記第1遅延量のP倍としてまとめられた遅延が前記第2遅延エレメントの一つの遅延と実質的に等しくなるように実施され、かつ、
第1遅延エレメントの数量nおよび第2遅延エレメントの数量mを較正し、前記第1遅延量のn倍と前記第2遅延量のm倍の和としてまとめられた遅延が参照クロックの一つの期間に対応する、ように実施され、
前記デジタルコントローラーは、さらに、
nおよびmの較正の最中にnを一定数量増加および減少する第1カウンターと、
カウント閾値に達した場合に出力される前記第1カウンターからのキャリーアウト指標に応じてmを一定数量増加および減少する第2カウンターと、
Pの較正の最中にPを一定数量増加および減少する第3カウンターと、
前記遅延ラインに適用されたクロックと前記遅延ラインにより遅延されたクロックとの位相差を検出し、かつ、前記位相差に基づいて前記第1カウンターに対して増加および減少のコントロールを出力する位相検出器と、を含み、
前記Pを較正することは、
Pを負でない整数に初期化し、
第2参照クロックを生成するために第2遅延エレメントの一つにより第1参照クロックを遅延させ、
フィードバッククロックを生成するためにP個の第1遅延エレメントにより第1参照クロックを遅延させ、
前記第2参照クロックと前記フィードバッククロックの位相を比較し、
前記フィードバッククロックが前記第2参照クロックを先導する場合に、Pを一定数量増加し、かつ、
前記フィードバッククロックが前記第2参照クロックに遅れている場合に、Pを一定数量減少すること、を含み、
前記nおよびmを較正することは、
nをゼロに初期化し、mを負でない整数に初期化し、
フィードバッククロックを生成するためにn個の第1遅延エレメントおよびm個の第2遅延エレメントにより参照クロックを遅延させ、
前記参照クロックと前記フィードバッククロックの位相を比較し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックを先導し、かつ、nがP−1よりも小さい場合に、nを一定数量増加し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックを先導し、かつ、nがP−1に等しい場合に、mを一定数量増加し、かつ、nをゼロに設定し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックに遅れ、かつ、nがゼロよりも大きい場合に、nを一定数量減少し、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックに遅れ、かつ、nがゼロに等しい場合に、mを一定数量減少し、かつ、nをP−1に設定する、
ことを特徴とするシステム。 - 前記システムは、さらに、
前記マスター遅延固定ループ、前記スレーブ遅延固定ループ、前記通信回路、および、前記通信回路を通じて通信するためのデータハンドリングシステム、を含む集積回路デバイス、を有する、
請求項6に記載のシステム。 - 前記データハンドリングシステムは、プロセッサを含む、
請求項7に記載のシステム。 - 前記システムは、さらに、
前記マスター遅延固定ループ、前記スレーブ遅延固定ループ、前記通信回路、メモリー、および、前記通信回路を通じて前記メモリーと通信するためのプロセッサ、を含む回路基板、を有する、
請求項6に記載のシステム。 - 前記第1遅延量は、約20ピコ秒よりも小さい、
請求項6に記載のシステム。 - 前記第1遅延エレメントは、それぞれ、キャパシターと該キャパシターを前記遅延ラインに接続するためのスイッチとを含み、
前記遅延ラインは、抵抗を含み、
前記第1遅延量は、スイッチ結合された第1遅延エレメントの抵抗と容量の負荷によって与えられる、
請求項6に記載のシステム。 - 第1遅延エレメントの数量および第2遅延エレメントの数量をデジタル的にコントロールするステップを含み、
前記第1遅延エレメントはそれぞれが第1遅延量を提供し、かつ、前記第2遅延エレメントはそれぞれが第1遅延量より大きい第2遅延量を提供し、
前記デジタル的にコントロールするステップは、遅延ラインの遅延をコントロールするように、選択された数量の前記第1および第2遅延エレメントを使用するステップを含み、
前記デジタル的にコントロールするステップは、さらに、
第1遅延量のP倍としてまとめられた遅延が前記第2遅延エレメントの一つの遅延と実質的に等しくなるように、前記第1遅延エレメントの数量Pを較正するステップと、
第1遅延量のn倍と第2遅延量のm倍の和としてまとめられた遅延が参照クロックの一つの期間に対応するように、前記第1遅延エレメントの数量nおよび前記第2遅延エレメントの数量mを較正するステップと、を含み、
前記Pを較正するステップは、
Pを負でない整数に初期化するステップと、
第2参照クロックを生成するために第2遅延エレメントの一つにより第1参照クロックを遅延させるステップと、
フィードバッククロックを生成するためにP個の第1遅延エレメントにより第1参照クロックを遅延させるステップと、
前記第2参照クロックと前記フィードバッククロックの位相を比較するステップと、
前記フィードバッククロックが前記第2参照クロックを先導する場合に、Pを一定数量増加するステップと、
前記フィードバッククロックが前記第2参照クロックに遅れている場合に、Pを一定数量減少するステップと、を含み、
前記nおよびmを較正するステップは、
nをゼロに初期化し、mを負でない整数に初期化するステップと、
フィードバッククロックを生成するためにn個の第1遅延エレメントおよびm個の第2遅延エレメントにより参照クロックを遅延させるステップと、
前記参照クロックと前記フィードバッククロックの位相を比較するステップと、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックを先導し、かつ、nがP−1よりも小さい場合に、nを一定数量増加するステップと、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックを先導し、かつ、nがP−1に等しい場合に、mを一定数量増加し、かつ、nをゼロに設定するステップと、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックに遅れ、かつ、nがゼロよりも大きい場合に、nを一定数量減少するステップと、
前記フィードバッククロックが前記参照クロックに遅れ、かつ、nがゼロに等しい場合に、mを一定数量減少し、かつ、nをP−1に設定するステップと、
を含む、
ことを特徴とする方法。 - 前記第1遅延量は、約20ピコ秒よりも小さい、
請求項12に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/078,609 | 2011-04-01 | ||
US13/078,609 US8564345B2 (en) | 2011-04-01 | 2011-04-01 | Digitally controlled delay lines with fine grain and coarse grain delay elements, and methods and systems to adjust in fine grain increments |
PCT/US2012/030532 WO2012135102A2 (en) | 2011-04-01 | 2012-03-26 | Digitally controlled delay lines with fine grain and coarse grain delay elements, and methods and systems to adjust in fine grain increments |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014514829A JP2014514829A (ja) | 2014-06-19 |
JP6049688B2 true JP6049688B2 (ja) | 2016-12-21 |
Family
ID=46926392
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014502655A Expired - Fee Related JP6049688B2 (ja) | 2011-04-01 | 2012-03-26 | 細粒と粗粒遅延エレメントを伴なうデジタル的にコントロールされた遅延ライン、および、細粒増加を調整する方法とシステム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8564345B2 (ja) |
JP (1) | JP6049688B2 (ja) |
CN (1) | CN203340049U (ja) |
DE (1) | DE112012001545B4 (ja) |
TW (1) | TWI514773B (ja) |
WO (1) | WO2012135102A2 (ja) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8564345B2 (en) | 2011-04-01 | 2013-10-22 | Intel Corporation | Digitally controlled delay lines with fine grain and coarse grain delay elements, and methods and systems to adjust in fine grain increments |
JP5793460B2 (ja) * | 2012-03-30 | 2015-10-14 | 富士通株式会社 | 可変遅延回路 |
US8994426B2 (en) * | 2012-08-31 | 2015-03-31 | Analog Devices, Inc. | Method and systems for high-precision pulse-width modulation |
US9024657B2 (en) | 2012-10-11 | 2015-05-05 | Easic Corporation | Architectural floorplan for a structured ASIC manufactured on a 28 NM CMOS process lithographic node or smaller |
US20140103985A1 (en) * | 2012-10-11 | 2014-04-17 | Easic Corporation | Digitally Controlled Delay Line for a Structured ASIC Having a Via Configurable Fabric for High-Speed Interface |
US9571998B2 (en) | 2013-01-15 | 2017-02-14 | Marvell World Trade Ltd. | System and method for asynchronous event reporting |
US8957714B2 (en) | 2013-03-14 | 2015-02-17 | Qualcomm Incorporated | Measure-based delay circuit |
US9996105B1 (en) * | 2013-03-14 | 2018-06-12 | Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd | High precision event timing in network devices |
US9024670B2 (en) * | 2013-10-08 | 2015-05-05 | Texas Instruments Incorporated | System and method for controlling circuit input-output timing |
US9419598B2 (en) | 2013-11-26 | 2016-08-16 | Rambus Inc. | In-situ delay element calibration |
US9148157B2 (en) * | 2014-01-30 | 2015-09-29 | Sandisk Technologies Inc. | Auto-phase synchronization in delay locked loops |
KR20160059126A (ko) * | 2014-11-18 | 2016-05-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연 회로 |
KR20160074339A (ko) | 2014-12-18 | 2016-06-28 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연 회로 |
US9477259B2 (en) | 2015-01-15 | 2016-10-25 | Apple Inc. | Calibration of clock signal for data transmission |
US9614533B2 (en) | 2015-06-19 | 2017-04-04 | Intel Corporation | Digital phase control with programmable tracking slope |
US9584105B1 (en) | 2016-03-10 | 2017-02-28 | Analog Devices, Inc. | Timing generator for generating high resolution pulses having arbitrary widths |
US9954538B2 (en) | 2016-06-24 | 2018-04-24 | Invecas, Inc. | Clock alignment scheme for data macros of DDR PHY |
US10175716B2 (en) * | 2016-09-29 | 2019-01-08 | Intel Corporation | Technologies for low-power and high-accuracy timestamps |
KR102306185B1 (ko) | 2017-06-09 | 2021-09-27 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 단위 지연 회로 및 이를 포함하는 디지털 제어 지연 라인 |
US11183995B1 (en) | 2017-06-16 | 2021-11-23 | Rambus Inc. | High-resolution digitally controlled delay line |
US11226649B2 (en) | 2018-01-11 | 2022-01-18 | Nxp B.V. | Clock delay circuit |
CN109655774B (zh) * | 2018-11-23 | 2020-11-13 | 江苏智臻能源科技有限公司 | 一种两级调整的波形回放角差实时补偿方法 |
EP4195510A4 (en) | 2020-08-11 | 2024-02-14 | Changxin Memory Tech Inc | LATCHED LOOP CIRCUIT WITH DELAY |
CN114079457A (zh) * | 2020-08-11 | 2022-02-22 | 长鑫存储技术有限公司 | 延迟锁定环电路 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6327318B1 (en) * | 1998-06-30 | 2001-12-04 | Mosaid Technologies Incorporated | Process, voltage, temperature independent switched delay compensation scheme |
JP3430046B2 (ja) * | 1998-12-17 | 2003-07-28 | エヌイーシーマイクロシステム株式会社 | リング発振器 |
US6774693B2 (en) * | 2000-01-18 | 2004-08-10 | Pmc-Sierra, Inc. | Digital delay line with synchronous control |
US6628154B2 (en) | 2001-07-31 | 2003-09-30 | Cypress Semiconductor Corp. | Digitally controlled analog delay locked loop (DLL) |
US7009433B2 (en) | 2003-05-28 | 2006-03-07 | Lattice Semiconductor Corporation | Digitally controlled delay cells |
US7795934B2 (en) * | 2003-12-11 | 2010-09-14 | Micron Technology, Inc. | Switched capacitor for a tunable delay circuit |
JP4527418B2 (ja) * | 2004-02-27 | 2010-08-18 | 凸版印刷株式会社 | Dll回路 |
JP4786262B2 (ja) * | 2005-09-06 | 2011-10-05 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | インターフェイス回路 |
KR100744069B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2007-07-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 디지털과 아날로그 제어를 이용한 전압제어지연라인의딜레이 셀 |
KR100855980B1 (ko) * | 2007-02-16 | 2008-09-02 | 삼성전자주식회사 | 쉬프터와 가산기를 이용하여 지연 시간을 조절하는 지연고정 루프 및 클럭 지연 방법 |
JP5579373B2 (ja) | 2008-05-22 | 2014-08-27 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル | Dll回路 |
JP5384910B2 (ja) * | 2008-11-11 | 2014-01-08 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路及びクロック同期化制御方法 |
JP5375330B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2013-12-25 | 富士通セミコンダクター株式会社 | タイミング調整回路、タイミング調整方法及び補正値算出方法 |
KR101685630B1 (ko) * | 2010-03-02 | 2016-12-13 | 삼성전자주식회사 | 2상 딜레이 라인과 듀티 교정회로를 갖는 지연 동기 루프 및 그의 듀티 교정방법 |
US8645743B2 (en) * | 2010-11-22 | 2014-02-04 | Apple Inc. | Mechanism for an efficient DLL training protocol during a frequency change |
US8564345B2 (en) | 2011-04-01 | 2013-10-22 | Intel Corporation | Digitally controlled delay lines with fine grain and coarse grain delay elements, and methods and systems to adjust in fine grain increments |
-
2011
- 2011-04-01 US US13/078,609 patent/US8564345B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-03-26 WO PCT/US2012/030532 patent/WO2012135102A2/en active Application Filing
- 2012-03-26 JP JP2014502655A patent/JP6049688B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-03-26 DE DE112012001545.2T patent/DE112012001545B4/de active Active
- 2012-03-28 TW TW101110862A patent/TWI514773B/zh not_active IP Right Cessation
- 2012-04-01 CN CN2012202017681U patent/CN203340049U/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201308904A (zh) | 2013-02-16 |
DE112012001545B4 (de) | 2019-05-23 |
CN203340049U (zh) | 2013-12-11 |
US20120249200A1 (en) | 2012-10-04 |
WO2012135102A2 (en) | 2012-10-04 |
US8564345B2 (en) | 2013-10-22 |
WO2012135102A3 (en) | 2012-12-27 |
TWI514773B (zh) | 2015-12-21 |
JP2014514829A (ja) | 2014-06-19 |
DE112012001545T5 (de) | 2014-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6049688B2 (ja) | 細粒と粗粒遅延エレメントを伴なうデジタル的にコントロールされた遅延ライン、および、細粒増加を調整する方法とシステム | |
US8237479B2 (en) | Delay line calibration mechanism and related multi-clock signal generator | |
EP2239849B1 (en) | Apparatus and method for compensating for process, voltage, and temperature variation of the time delay of a digital delay line | |
US6914492B2 (en) | Digital programmable delay scheme with automatic calibration | |
US7253668B2 (en) | Delay-locked loop with feedback compensation | |
US7161854B2 (en) | Jitter and skew suppressing delay control apparatus | |
US20080231324A1 (en) | Phase frequency detector and phase-locked loop | |
US20030001650A1 (en) | Delay compensation circuit including a feedback loop | |
US8779816B2 (en) | Low area all digital delay-locked loop insensitive to reference clock duty cycle and jitter | |
US8766688B2 (en) | DLL circuit and delay-locked method using the same | |
US7876138B2 (en) | DLL circuit and semiconductor device having the same | |
US20120146702A1 (en) | Phase mixer with adjustable load-to-drive ratio | |
US10128853B2 (en) | Delay locked loop circuit and integrated circuit including the same | |
WO2014009819A1 (en) | Self-adjusting duty cycle tuner | |
US20110204942A1 (en) | Clock control circuit and semiconductor device including the same | |
KR20060013205A (ko) | 다중 위상 클럭 응용을 위한 디지털 듀티 사이클 보정회로 | |
KR100843002B1 (ko) | 듀티 사이클 보정 회로 및 이를 갖는 지연 고정 루프 | |
US20230010756A1 (en) | Dynamic voltage scaling in hierarchical multi-tier regulator supply | |
US7102402B2 (en) | Circuit to manage and lower clock inaccuracies of integrated circuits | |
US7816956B2 (en) | Power-on reset circuit | |
US7944258B2 (en) | Semiconductor integrated circuit including delay line of delay locked loop and method of controlling delay time using the same | |
KR100937941B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 지연고정루프 | |
US10483955B2 (en) | Feedback system and method of operating the same | |
JP2010103839A5 (ja) | ||
CA2596269A1 (en) | Process, voltage, temperature independent switched delay compensation scheme |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140924 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141021 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150120 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150928 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160329 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160627 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161025 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161122 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6049688 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |