JP6030490B2 - 核酸分析装置及びその温度制御方法 - Google Patents
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Description
<システム>
図1は、本実施例に係る核酸分析システムの概略構成を示すブロック図である。以下では、図1に示すシステムによりPCRの温度制御を実現する場合について説明する。
図2に、本実施例で使用する温調部の構成を示す。温調部100は、例えばアルミニウムや銀などの熱伝導性の良い金属から構成される、単一素材を成形した部材である。温調部100の1つの面には、PCRを行う反応槽101として使用される1つ又は複数の凹みが配置される。本実施例の場合、1つの温調部100に対して8個の反応槽101が配置される。
上記構造の場合にも、3個の加熱冷却素子4のそれぞれに対し、最も近くに配置されている温度測定素子1で測定した温度を単純にフィードバックして加熱冷却素子4の出力量を決定したのでは、8個の反応槽101間に温度差が生じるのを避け得ない。このように温度差があると、8個の反応槽101の間で、PCR効率に差が生じることが考えられる。この課題を解決するためには、加熱冷却素子4の温度差を低減する必要がある。そこで、本実施例では、以下に示す前処理を実行する。
図5に、8個の反応槽101間の温度差を低減する温度制御を実施するための前処理の例をフローチャートで示す。本処理は、核酸分析装置の起動直後からPCR温度制御の実行前までの間に制御部6が実行する。
301では、制御部6は、その内部の不揮発性メモリ上に初期調整情報が存在するか否かを確認する。制御部6は、初期調整情報が存在する場合にはS302を実行し、初期調整情報が存在しない場合にはS309を実行する。
S302では、制御部6は、初期調整情報を制御部6の揮発性メモリに読み込み、S303へ進む。
S303では、制御部6は、初期調整情報内の「前回使用時の性能不良素子系の有無」を取り出し、前回使用時に性能不良素子系がなかった場合にはS304へ進み、性能不良素子系があった場合にはS309へ進む。
S304では、制御部6は、初期調整情報内の「前回使用日時」を取り出し、現在日時と比較して、前回使用時からの経過時間を算出する。算出した経過時間が初期調整情報内の「規定の経過時間(前回使用時からの経過期間)」を越えていない場合はS305へ進み、「規定経過時間」以上の場合はS309へ進む
・S305
S305では、制御部6は、初期調整情報内の「累積測定回数」を取り出し、累積測定回数が規定数以下の場合はS306へ進み、規定数を越えている場合にはS309へ進む。
S306では、制御部6は、初期調整情報内の「前回の使用条件」を取り出し、前回使用した反応槽の数と位置が今回と同じ場合にはS307へ進み、使用条件が異なる場合にはS309へ進む。この処理は、例えば8個の反応槽101のうち全てではなく一部のみを使用する際に、使用する加熱冷却素子4を選択することにより、加熱冷却素子4の使用頻度を最低限に抑えることができる。これにより、加熱冷却素子4の寿命を延ばす効果に加え、装置内における余分な発熱を低減する効果も得られる。
S307では、制御部6は、初期調整処理の実施が必要か否かをユーザーに問い合わせる。初期調整処理が不要の場合にはS308へ進み、初期調整処理が必要な場合にはS309へ進む。
S308では、制御部6は、初期調整処理を実行しないので、初期調整情報内の「累積測定回数」を1増加し、S310へ進む。
S309では、制御部6は、初期調整情報内の「累積測定回数」を0にリセットし、S311へ進む。
S310では、制御部6は、現在の累積測定回数を初期調整情報に書き込み、S312へ進む。
S311では、制御部6は、初期調整処理を行い、S312へ進む。初期調整処理の詳細は図6に記載する。
S312では、制御部6は、今回のPCR実行時に使用する基準加熱冷却素子を3個の加熱冷却素子4の中から1個選択する。
S401では、制御部6は、加熱冷却素子4から1つの素子を選択して最大出力での加熱と冷却を各1回ずつ実行し、各温度範囲内での温度変化速度を測定し、記録する。この処理を順番に3個の加熱冷却素子4でそれぞれ実行し、S402へ進む。測定した温度変化速度は、温度変化速度表として、初期調整情報内に保存する。本実施例では、温度変化速度表(単一)とは、ある一定温度範囲内における加熱冷却素子4の温度変化速度を記録した表と定義する。
S402では、制御部6は、S401で作成した温度変化速度表の結果を参照し、不良素子系の有無を確認する。制御部6は、不良素子系「無し」と判断した場合はS403へ、不良素子系「有り」と判断した場合S404へ進む。制御部6は、例えば3個の加熱冷却素子4の全てにおいて、いずれの温度範囲でも温度変化速度が制御部6内の不揮発性メモリ上に保持されている「温度変化速度最低値」以上の場合はS403へ進み、加熱冷却素子4のうち1個でも「温度変化速度最低値」未満のものがある場合はS404へ進む。
S403では、制御部6は、3個の加熱冷却素子4の全てを同時に最大出力の50%で加熱する制御と冷却する制御を各1回ずつ行い、各温度範囲内での温度変化速度を測定し、上記温度変化速度表に追記してS405へ進む。測定した温度変化速度は、温度変化速度表として、初期調整情報に保存する。
S404では、制御部6は、温度変化速度が初期調整情報内の「温度変化速度最低値」未満の値となった素子系を性能不良と判定し、ユーザーに対して該当素子系の交換を推奨する通知を行う。また、その後の処理に移行しないように、初期調整情報に該当素子系の情報を「前回使用時の性能不良素子系情報」として記載した上で、処理を終了する。
S405では、制御部6は、S401とS403で作成した温度変化速度表に基づいて、最も温度変化速度が遅い加熱冷却素子4を選択し、基準加熱冷却素子に設定する。
S406では、制御部6は、初期調整情報に次の項目を出力する。記載項目は、「前回使用日時」、「累積測定回数」、「前回の使用条件」、「温度変化速度表」、「出力値補正係数」、「前回使用時の性能不良素子系情報」である。
図7に、図5の処理で決定した基準加熱冷却素子を用いて、3個の加熱冷却素子4の挙動を揃える制御処理の一例を示す。本処理も、制御部6が実行する。
S501では、制御部6は、3個の温度測定素子1を用い、それぞれと対をなす3個の加熱冷却素子4の温度をそれぞれモニタリングし、S502へ進む。温度モニタリング、加熱冷却素子4の出力量算出及び加熱冷却素子4への出力(S501〜S513)の処理は一定時間周期で実行する。
S502では、制御部6は、S501で測定した3箇所の温度と変数設定部11で設定された設定温度から、出力量計算部12がPID演算により出力量Iを3つ算出し、S503へ進む。ここで求めた出力量Iは、温度測定素子1の各配置箇所における、現在の温度と設定温度のみを考慮した値である。ただし、このままの出力を加熱冷却素子4に出力すると、各加熱冷却素子4周囲の伝熱条件の違いから、反応槽101には温度差が生じることが考えられる。そこで、以下に述べる補正処理が必要となる。
S503では、制御部6は、温度変化速度表と3つの出力量Iに基づいて、非基準加熱冷却素子の補正値を算出し、S504へ進む。非基準加熱冷却素子の補正値算出処理の具体例は、図8を用いて後述する非基準加熱冷却素子の補正値算出処理に示す。
S504では、制御部6は、S502で算出した非基準加熱冷却素子の出力量IとS503で算出した非基準加熱冷却素子の補正値に基づいて、非基準加熱冷却素子の出力量を算出し、S505へ進む。
S505では、制御部6は、S504で算出した2個の非基準加熱冷却素子の出力量が、両方とも最大出力(100%)以下であればS512へ進み、どちらか一方でも最大出力(100%)を超えていればS506へ進む。本制御方式では、温度変化速度の最も小さい加熱冷却素子4を基準加熱冷却素子としている。しかし、温度変化速度が酷似した2個の加熱冷却素子4を使用した場合には、非基準加熱冷却素子の出力量が最大出力(100%)以上必要となる可能性もある。それに対応するために、基準加熱冷却素子の補正手法の例を以下に述べる。
S506では、制御部6は、2個の非基準加熱冷却素子の出力量のうち、値が大きい方の出力量を選択し、その情報を保持してS507へ進む。
S507では、制御部6は、2個の非基準加熱冷却素子の出力量のうち、値が大きい方の非基準加熱冷却素子の出力量を最大出力(100%)に設定し、S508へ進む。
S508では、制御部6は、S507で出力量を最大出力(100%)に設定した加熱冷却素子4に合わせて、基準加熱冷却素子の出力量の補正値を算出し、S509へ進む。
S509では、制御部6は、S502で算出した基準加熱冷却素子の出力量IとS508で算出した基準加熱冷却素子の補正値から基準加熱冷却素子の出力量を算出し、S510へ進む。
S510では、制御部6は、S509で算出した基準加熱冷却素子の出力量及び基準加熱冷却素子の測定温度に基づいて、出力量が未定の非基準加熱冷却素子の出力量の補正値を算出し、S511へ進む。
S511では、制御部6は、S510で算出した出力量が未定の非基準加熱冷却素子の補正値とS502で算出した出力量から非基準加熱冷却素子の出力量を算出し、S512へ進む。
S512では、制御部6は、これまでに算出した3個の加熱冷却素子4の出力量を加熱冷却素子4へ出力し、S513へ進む。
S513では、制御部6は、PCRが終了していればS514へ進み、まだ終了していない場合には、S501から再度処理を繰り返す。
S514では、制御部6は、初期調整情報に「基準加熱冷却素子の出力量の補正回数」を出力する。
S601では、制御部6は、温度測定素子1により測定した温度に基づいて温度変化速度表を参照し、全ての加熱冷却素子4について、出力量50%時の加熱冷却素子4の温度変化速度を読み出し、S602へ進む。
S602では、制御部6は、S601で読み出した温度変化速度に基づいて、基準加熱冷却素子と非基準加熱冷却素子の現在の温度差を無くすために要する補正値(補正値I)を算出し、S603へ進む。
S603では、制御部6は、基準加熱冷却素子の温度変化速度に基づいて次回スキャン時に基準加熱冷却素子が到達する温度の予測値を算出し、S604へ進む。
S604では、制御部6は、S502で算出した非基準加熱冷却素子の出力量I、S602で算出した出力量の補正値I及び温度変化速度表に基づいて次回スキャン時に非基準加熱冷却素子が到達する温度の予測値を算出し、S605へ進む。
S605では、制御部6は、S603で算出した基準加熱冷却素子の次回スキャン時の温度予測値とS604で算出した非基準加熱冷却素子の次回スキャン時の温度予測値の差分を算出し、当該差分に基づいて次回スキャン時の非基準加熱冷却素子と基準加熱冷却素子の到達温度の差を無くすために要する出力量の補正値(補正値II)を算出し、S606へ進む。
S606では、制御部6は、S602で算出した補正値IとS605で算出した補正値IIから次回スキャン時に8個の反応槽101の温度を均一にするために要する非基準加熱冷却素子の補正値を算出する。
以上説明したように、本実施例の温度制御を適用することにより、コンパクトな領域内に複数の熱源を配置した構造下においても、温度測定素子1と加熱冷却素子4を組み合わせた系として最も温度変化速度が遅い加熱冷却素子4を基準とし、その他の加熱冷却素子4が出力量を調整することで、各加熱冷却素子4ひいては各反応槽の温度変化挙動を揃えることが可能となる。これにより、高速かつ高精度な制御が要求されるPCRに適した温度制御を実行できる。
実施例1では、加熱冷却素子4の出力が常に加熱冷却素子4のほぼ上限値(最大出力)となる場合に、温度を均一に制御する方法について説明をしたが、本実施例では、以下の場合を想定した制御方法を説明する。例えば温度遷移が3段階のPCRにおけるアニーリング処理から伸長処理への温度遷移、PCR実行時に始めに行う酵素活性化および初期変性処理から熱変性処理への温度遷移、さらに、伸長反応処理から最終伸長反応処理などのように、温度変化幅が狭い場合で、加熱冷却素子4に要求される出力が素子の上限値に対して十分に余裕がある場合を考える。
各加熱冷却素子4の出力に十分な余裕がある場合、温度変化速度が最も速い加熱冷却素子4を基準加熱冷却素子として、他の加熱冷却素子4の出力量を補正することで、より高速なPCRが可能となる。
S701は、S502とS503の間に実行される。S701では、制御部6は、現在の目標温度と1つ前の目標温度との差が15℃以上であればS702へ進み、15℃未満であればS703へ進む。
S702では、制御部6は、温度変化速度表に基づいて、温度変化速度が最も遅い加熱冷却素子4を基準加熱冷却素子に設定し、S503へ進む。ここでは、温度変化幅が大きく、加熱冷却素子4に要求される出力量が上限値に近い場合の処理を示しており、実施例1と同様に、温度変化速度が最も遅い加熱冷却素子4を基準として設定している。
S703では、制御部6は、温度変化速度表に基づいて、温度変化速度が最も速い加熱冷却素子4を基準加熱冷却素子に設定し、S503へ進む。こちらは、温度変化幅が小さく、加熱冷却素子4に要求される出力量が上限値までまだ余裕がある場合の処理を示している。
S801も、S502とS503の間に実行される。S801では、制御部6は、加熱冷却素子4の内、出力量が最大出力の80%以上となっている素子が1つでもあればS802へ進み、全ての加熱冷却素子4の出力量が80%未満であればS803へ進む。
S802では、制御部6は、温度変化速度表に基づいて、温度変化速度が最も遅い加熱冷却素子4を基準加熱冷却素子に設定し、S503へ進む。ここでは、温度測定素子1で測定した現在の温度と目標温度との差分が大きく、加熱冷却素子4に要求される出力量が上限値に近い場合の処理を示しており、実施例1と同様に、温度変化速度が最も遅い加熱冷却素子4を基準として設定している。
S803では、制御部6は、温度変化速度表に基づいて、温度変化速度が最も速い加熱冷却素子4を基準加熱冷却素子に設定し、S503へ進む。こちらは、温度測定素子1で測定した現在の温度と目標温度との差分が小さく、加熱冷却素子4に要求される出力量が上限値までまだ余裕がある場合の処理を示している。
以上説明したように、本実施例の温度制御を適用することで、加熱冷却素子4の数や配置などのハードウェア構成や、各加熱冷却素子4の性能の範囲内で高速性を優先するなど、必要に応じて複数の加熱冷却素子4の中から、加熱冷却素子4を基準加熱冷却素子として適宜選択、変更することが可能となる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものでなく、様々な変形例を含んでいる。
2:計測部
3:出力制御部
4:加熱冷却素子
5:放熱ファン
6:制御部
10:シーケンス制御部
11:変数設定部
12:出力量計算部
100:温調部
101:反応槽
201:断熱部
202:放熱部
Claims (14)
- 複数の加熱冷却素子と、
前記複数の加熱冷却素子のそれぞれと対をなす複数の温度測定素子と、
前記複数の加熱冷却素子の出力量を制御する制御部と
を有し、
前記制御部が、前記複数の温度測定素子により検知された各温度値の変化速度に基づいて、前記複数の加熱冷却素子の1つを基準素子に決定する処理と、前記複数の加熱冷却素子のそれぞれと対をなす温度測定素子が検知する温度値を入力として、目標温度値との差分に応じて前記複数の加熱冷却素子の出力量を制御する処理と、前記基準素子と対をなす温度測定素子が検知する温度値の時間変化量に応じて前記基準素子以外の一つ又は複数の加熱冷却素子の出力量を加減する処理と
を実行する核酸分析装置。 - 請求項1に記載の核酸分析装置において、
前記制御部は、
前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較し、最も低い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする核酸分析装置。 - 請求項2に記載の核酸分析装置において、
前記制御部は、
前記最も低い温度変化率がある一定数値を下回った場合には、前記基準素子として選択しない
ことを特徴とする核酸分析装置。 - 請求項1に記載の核酸分析装置において、
前記制御部は、
前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較し、最も高い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする核酸分析装置。 - 請求項1に記載の核酸分析装置において、
前記制御部は、
現在の目標温度と1つ前の目標温度との差が一定数値より大きい場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も低い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択し、
現在の目標温度と1つ前の目標温度との差が前記一定数値より大きくない場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も高い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする核酸分析装置。 - 請求項1に記載の核酸分析装置において、
前記制御部は、
前記複数の加熱冷却素子の出力量の1つでも一定数値より大きい場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も低い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択し、
前記複数の加熱冷却素子の出力量の全てが前記一定数値より小さい場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も高い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする核酸分析装置。 - 請求項1に記載の核酸分析装置において、
前記制御部は、
前記基準素子以外の一つ又は複数の加熱冷却素子の出力量を決定した際に、出力可能量を超えた場合には、前記基準素子の出力量を加減する
ことを特徴とする核酸分析装置。 - 複数の加熱冷却素子と、前記複数の加熱冷却素子のそれぞれと対をなす複数の温度測定素子と、前記複数の加熱冷却素子の出力量を制御する制御部とを有する核酸分析装置の温度を制御する方法において、
前記制御部が、前記複数の温度測定素子により検知された各温度値の変化速度に基づいて、前記複数の加熱冷却素子の1つを基準素子に決定する処理と、
前記制御部が、前記複数の加熱冷却素子のそれぞれと対をなす温度測定素子が検知する温度値を入力として、目標温度値との差分に応じて前記複数の加熱冷却素子の出力量を制御する処理と、
前記制御部が、前記基準素子と対をなす温度測定素子が検知する温度値の時間変化量に応じて前記基準素子以外の一つ又は複数の加熱冷却素子の出力量を加減する処理と
を有することを特徴とする核酸分析装置の温度制御方法。 - 請求項8に記載の温度制御方法において、
前記制御部は、
前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較し、最も低い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする温度制御方法。 - 請求項9に記載の温度制御方法において、
前記制御部は、
前記最も低い温度変化率がある一定数値を下回った場合には、前記基準素子として選択しない
ことを特徴とする温度制御方法。 - 請求項8に記載の温度制御方法において、
前記制御部は、
前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較し、最も高い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする温度制御方法。 - 請求項8に記載の温度制御方法において、
前記制御部は、
現在の目標温度と1つ前の目標温度との差が一定数値より大きい場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も低い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択し、
現在の目標温度と1つ前の目標温度との差が前記一定数値より大きくない場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も高い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする温度制御方法。 - 請求項8に記載の温度制御方法において、
前記制御部は、
前記複数の加熱冷却素子の出力量の1つでも一定数値より大きい場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も低い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択し、
前記複数の加熱冷却素子の出力量の全てが前記一定数値より小さい場合には、前記複数の加熱冷却素子を同時に同一出力で制御して前記加熱冷却素子とそれぞれ対をなす複数の温度測定素子の検知した温度値を比較したときに、最も高い温度変化率を示した加熱冷却素子を前記基準素子として選択する
ことを特徴とする温度制御方法。 - 請求項8に記載の温度制御方法において、
前記制御部は、
前記基準素子以外の一つ又は複数の加熱冷却素子の出力量を決定した際に、出力可能量を超えた場合には、前記基準素子の出力量を加減する
ことを特徴とする温度制御方法。
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