JP5992147B2 - テラヘルツ波を用いた検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
2 ビームスプリッター
3a,3b,3c,3d ミラー
4a,4b レンズ
5 テラヘルツ波発振アンテナ
6 放物面ミラー
7 時間遅延機構
8 テラヘルツ波受信アンテナ
9 ナイフエッジ
10 レンズ
11 レーザ光源
12 受光部
13 テラヘルツ波用レンズ
20 電極
22 低温成長ガリウムヒ素基板
23 レーザ光
25 シリコンレンズ
50 信号発生器
51 ロックインアンプ
52 データ保持部
53 表示装置
54 データ処理部
55 制御装置
100 測定対象物
101 整合層
Claims (4)
- レーザ光を第1レーザ光と第2レーザ光とに分割する光分割部と、
前記光分割部により発せられた第1レーザ光が照射されることによりテラヘルツ波を発振するテラヘルツ波発振部と、
前記光分割部により発せられた第2レーザ光に時間遅延を与える時間遅延部と、
前記時間遅延部により時間遅延を与えられた第2レーザ光に基づいた検出タイミングで前記テラヘルツ波発振部により発振されたテラヘルツ波を検出し、検出したテラヘルツ波の強度に応じた検出信号を生成するテラヘルツ波検出部と、
前記テラヘルツ波発振部と前記テラヘルツ波検出部との間のテラヘルツ波路中に前記テラヘルツ波を反射するように設置された測定対象物の位置と傾きとがレファレンス測定用の対象の位置と傾きと同一の状態にあるか否かを検出する状態検出部と、
前記状態検出部により検出された前記測定対象物の位置と傾きとが前記レファレンス測定用の対象の位置と傾きと同一の状態にあり、前記時間遅延部により与えられる時間遅延を変化させた場合の前記テラヘルツ波検出部により生成された検出信号に基づく時系列信号強度データのピーク値に基づいて前記測定対象物の欠陥の有無を検査する検査部と、
を備えることを特徴とするテラヘルツ波を用いた検査装置。 - 前記状態検出部は、
前記測定対象物に対して第3レーザ光を照射するレーザ光源と、
前記レーザ光源により照射され前記測定対象物により反射された第3レーザ光の強度を検出する受光部と、
前記測定対象物と前記受光部との間に設けられ、前記レーザ光源により照射され前記測定対象物により反射された第3レーザ光を集光するレンズと、
前記レンズと前記受光部との間に設けられ、位置を調節することで前記レンズにより集光された第3レーザ光を遮光できるナイフエッジと、
を有することを特徴とする請求項1記載のテラヘルツ波を用いた検査装置。 - 前記状態検出部は、前記測定対象物が設置されたステージを制御して前記測定対象物の位置と傾きとを変化させるとともに、前記時間遅延部を制御して時間遅延を変化させ、前記テラヘルツ波検出部により生成された検出信号に基づく時系列信号強度データに基づいて前記測定対象物の位置と傾きとが所定の状態にあるか否かを検出することを特徴とする請求項1記載のテラヘルツ波を用いた検査装置。
- レーザ光を第1レーザ光と第2レーザ光とに分割する光分割ステップと、
前記光分割ステップにより発せられた第1レーザ光が照射されることによりテラヘルツ波を発振するテラヘルツ波発振ステップと、
前記光分割ステップにより発せられた第2レーザ光に時間遅延を与える時間遅延ステップと、
前記時間遅延ステップにより時間遅延を与えられた第2レーザ光に基づいた検出タイミングで前記テラヘルツ波発振ステップにより発振されたテラヘルツ波を検出し、検出したテラヘルツ波の強度に応じた検出信号を生成するテラヘルツ波検出ステップと、
テラヘルツ波路中に前記テラヘルツ波を反射するように設置された測定対象物の位置と傾きとがレファレンス測定用の対象の位置と傾きと同一の状態にあるか否かを検出する状態検出ステップと、
前記状態検出ステップにより検出された前記測定対象物の位置と傾きとが前記レファレンス測定用の対象の位置と傾きと同一の状態にあり、前記時間遅延ステップにより与えられる時間遅延を変化させた場合の前記テラヘルツ波検出ステップにより生成された検出信号に基づく時系列信号強度データのピーク値に基づいて前記測定対象物の欠陥の有無を検査する検査ステップと、
を備えることを特徴とするテラヘルツ波を用いた検査方法。
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