JP5973398B2 - 劣化評価装置および劣化評価方法 - Google Patents
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Description
現状、大量の設備を対象とする点検は、ある点検周期に基づいたタイムベースメンテナンスが多い。急速劣化に効果的に対処しようとすると、点検間隔を短くせざるを得ない。しかし、このような対処を全体的に実施することは、稼働・コスト面で困難であることから、早期劣化設備の劣化曲線を作成し、その特性を把握する必要がある。こうした点からも、急速劣化に対応した劣化曲線作成方法が求められる。
劣化曲線は通常1本の軌跡で連続的に表現される。しかし、急速劣化の場合、その劣化程度は原因事象等の発生を境に非連続になる。現状、非連続を仮定した劣化曲線の作成方法や、さらには劣化事象の特徴等を反映する関数は具体的に示されていない。
製品の性能評価や設備保全等を目的として劣化曲線を活用する技術は数多く存在するが(例えば特許文献1)、上述したような急速劣化に対応した劣化曲線の作成方法は提案されていない。
また、本発明の劣化評価装置の1構成例は、さらに、前記パラメータ推定手段がパラメータを推定する前に、全ての設備の点検データ、あるいは劣化促進事象が発生していないと考えられる設備の点検データを基に前記平均劣化曲線関数式を導出する第2の劣化曲線作成手段を備えることを特徴とするものである。
また、本発明の劣化評価装置の1構成例において、劣化促進事象による設備へのダメージの量とこのダメージにより設備の劣化抑制期間が短縮される時間短縮量との関係を表す関数は、事前に実施される試験に基づいて予め定義されるか、あるいは前記ダメージの量と前記劣化抑制期間の時間短縮量との関係を近似するワイブル分布を用いて予め定義される。
本実施の形態の劣化評価装置1は、外部データベース(以下、外部DB)13との通信のための通信部2と、内部データベース(以下、内部DB)3にデータを蓄積するデータ蓄積部4と、分析対象データ設定部5と、統計量算出部6と、指標値設定部7と、モデル式選択設定部8と、パラメータ算出部9(パラメータ推定手段)と、劣化曲線作成部10(第1の劣化曲線作成手段)と、平均劣化曲線作成部11(第2の劣化曲線作成手段)と、算出値比較部12と、出力部13とを備えている。
DC=f(T) ・・・(1)
ここで、f(T)は使用年数Tによって規定される関数である。
横軸を設備の使用年数、縦軸を設備の劣化度とした場合の平均劣化曲線の例を図3に示す。
ΔT=tI・Pr(G) (0<Pr(G)≦1) ・・・(2)
ここで、Pr(G)は劣化促進事象Aが対象設備に与えるダメージ量Gによって規定される確率(関数)である。
ΔT=tI・Pr(G) (0<Pr(G)≦1,ΔTmax=tI−ta) ・・(3)
ここで、ΔTmaxは劣化抑制期間の時間短縮量ΔTが取り得る最大値である。
T<taのとき、DC=f(T)
ta≦Tのとき、DC=f(T+ΔT)=f(T+tI・Pr(G)) ・・・(4)
ただし、0<Pr(G)≦1、ΔTmax=tI−ta
上記のとおり、劣化評価装置を用いるユーザは、急速劣化設備と類推される設備を選択する。分析対象データ設定部5は、このユーザの選択に応じて急速劣化設備の点検データを選択する。パラメータ算出部9は、選択された急速劣化設備の点検データを基に、この急速劣化設備の使用年数T毎の劣化度DCを求め、式(5)を代入した式(4)に、これらの劣化度DCを代入することで、劣化促進事象Aの発生時期taや劣化抑制期間の時間短縮量ΔT等のパラメータを最小二乗法や最尤法等により推定する(つまり、発生時期taとワイブルパラメータ(α,β,γ)とを推定する)。
劣化曲線作成部10は、パラメータ算出部9が推定したパラメータ(ta,ΔT)を式(4)に代入することで、急速劣化設備の劣化曲線関数を確定する(図5ステップS3)。
Claims (8)
- 劣化促進事象による設備へのダメージの量とこのダメージにより設備の劣化抑制期間が短縮される時間短縮量との関係を表す関数と、劣化促進事象により急速に劣化が進んだと類推される急速劣化設備の点検データとから、前記急速劣化設備の劣化曲線関数式のパラメータを推定するパラメータ推定手段と、
このパラメータ推定手段が推定したパラメータを前記急速劣化設備の劣化曲線関数式に代入することで前記急速劣化設備の劣化曲線関数式を確定する第1の劣化曲線作成手段とを備え、
前記急速劣化設備の劣化曲線関数式は、設備の使用年数を入力変数とし、前記劣化促進事象の発生時期と前記劣化抑制期間の時間短縮量とを含む前記パラメータと、設備の平均劣化曲線関数式とを用いて定義されるものであり、前記平均劣化曲線関数式が表す平均劣化曲線を、前記劣化促進事象の発生時期において前記劣化抑制期間の時間短縮量に応じた劣化度の分だけ遷移させた劣化曲線を表すことを特徴とする劣化評価装置。 - 請求項1記載の劣化評価装置において、
さらに、前記平均劣化曲線関数式と前記急速劣化設備の劣化曲線関数式とから、前記急速劣化設備の取り換え使用年数までの残余年数の時間短縮量を算出する比較手段を備えることを特徴とする劣化評価装置。 - 請求項1または2記載の劣化評価装置において、
さらに、前記パラメータ推定手段がパラメータを推定する前に、全ての設備の点検データ、あるいは劣化促進事象が発生していないと考えられる設備の点検データを基に前記平均劣化曲線関数式を導出する第2の劣化曲線作成手段を備えることを特徴とする劣化評価装置。 - 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の劣化評価装置において、
劣化促進事象による設備へのダメージの量とこのダメージにより設備の劣化抑制期間が短縮される時間短縮量との関係を表す関数は、事前に実施される試験に基づいて予め定義されるか、あるいは前記ダメージの量と前記劣化抑制期間の時間短縮量との関係を近似するワイブル分布を用いて予め定義されることを特徴とする劣化評価装置。 - 劣化促進事象による設備へのダメージの量とこのダメージにより設備の劣化抑制期間が短縮される時間短縮量との関係を表す関数と、劣化促進事象により急速に劣化が進んだと類推される急速劣化設備の点検データとから、前記急速劣化設備の劣化曲線関数式のパラメータを推定するパラメータ推定ステップと、
このパラメータ推定ステップで推定したパラメータを前記急速劣化設備の劣化曲線関数式に代入することで前記急速劣化設備の劣化曲線関数式を確定する第1の劣化曲線作成ステップとを含み、
前記急速劣化設備の劣化曲線関数式は、設備の使用年数を入力変数とし、前記劣化促進事象の発生時期と前記劣化抑制期間の時間短縮量とを含む前記パラメータと、設備の平均劣化曲線関数式とを用いて定義されるものであり、前記平均劣化曲線関数式が表す平均劣化曲線を、前記劣化促進事象の発生時期において前記劣化抑制期間の時間短縮量に応じた劣化度の分だけ遷移させた劣化曲線を表すことを特徴とする劣化評価方法。 - 請求項5記載の劣化評価方法において、
さらに、前記平均劣化曲線関数式と前記急速劣化設備の劣化曲線関数式とから、前記急速劣化設備の取り換え使用年数までの残余年数の時間短縮量を算出する比較ステップを含むことを特徴とする劣化評価方法。 - 請求項5または6記載の劣化評価方法において、
さらに、前記パラメータ推定ステップでパラメータを推定する前に、全ての設備の点検データ、あるいは劣化促進事象が発生していないと考えられる設備の点検データを基に前記平均劣化曲線関数式を導出する第2の劣化曲線作成ステップを含むことを特徴とする劣化評価方法。 - 請求項5乃至7のいずれか1項に記載の劣化評価方法において、
劣化促進事象による設備へのダメージの量とこのダメージにより設備の劣化抑制期間が短縮される時間短縮量との関係を表す関数は、事前に実施される試験に基づいて予め定義されるか、あるいは前記ダメージの量と前記劣化抑制期間の時間短縮量との関係を近似するワイブル分布を用いて予め定義されることを特徴とする劣化評価方法。
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