JP5960469B2 - 送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法 - Google Patents

送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法 Download PDF

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本発明は、送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法に関する。特に、送信機における周波数特性のキャリブレーションに関する。
無線通信では、送信信号としてのベースバンド信号から高周波信号にアップコンバートする場合、及び、受信信号としての高周波信号からベースバンド信号にダウンコンバートする場合に、信号の周波数に応じて歪みが生じる。信号の歪みを補正する装置として、例えば特許文献1の周波数特性補正装置が知られている。
特許文献1の周波数特性補正装置は、送信系回路による信号送信において、送信信号の一部を結合回路により取り出し、各帯域分割フィルタにおいて低域側、高域側に分割し、各フィルタの出力(電力レベル)を各電力検波器において検波する。更に、周波数特性補正装置は、比較回路において各電力検波器の出力を相互比較することにより得られた電圧を基に、可変イコライザ回路を制御する。
特開2001−16145号公報
使用周波数に対する信号の歪みは、例えば、ベースバンド信号及び高周波信号を周波数変換する周波数変換部、パワーアンプ部、LNA部を含むアナログ回路において、現れやすい。特に、ミリ波通信の広帯域な周波数(例えば60GHz帯)を取り扱う通信では、信号帯域が大きいので、大きく通信特性が劣化する可能性がある。
特許文献1の周波数特性補正装置をミリ波の通信に適用した場合、数ポイントの周波数成分に対する信号検出の結果を基に、信号の歪みの周波数特性を直線的に補正する。しかし、直線的な補正では、ベースバンド信号及び高周波信号の各周波数変換、又は、広帯域な高周波信号の信号増幅の過程において発生する、大きな信号歪みには不十分であるため、大きく通信特性が劣化することがある。従って、信号の歪みは、より高精度に補正される必要がある。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、信号の歪みを高精度に補正できる送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法を提供することを目的とする。
本発明の送信機は、テスト信号を生成するテスト信号生成部と、前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、前記周波数特性補正部により補正された補正信号を変調する変調部と、前記変調部により変調された変調信号の包絡線を検波する包絡線検波部と、前記包絡線検波部により検波された包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、を備え、前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成し、前記テスト信号生成部は、所定の周波数範囲において前記テスト信号の周波数をスイープし、前記周波数特性演算部は、前記テスト信号の各角周波数成分に基づく各包絡線信号から各複素数データを抽出し、前記係数演算部は、前記周波数特性演算部により抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算する。
この構成により、テスト信号をIQ平面において原点からオフセットさせることで、テスト信号の振幅特性及び位相特性を取得できる。従って、振幅特性及び位相特性に基づいて補正係数を求めることができるので、信号の歪みを高精度に補正できる。
また、本発明の信号生成装置は、テスト信号を生成するテスト信号生成部と、前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、前記周波数特性補正部により補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、を備え、前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成し、前記テスト信号生成部は、所定の周波数範囲において前記テスト信号の周波数をスイープし、前記周波数特性演算部は、前記テスト信号の各角周波数成分に基づく各包絡線信号から各複素数データを抽出し、前記係数演算部は、前記周波数特性演算部により抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算する。
この構成により、テスト信号をIQ平面において原点からオフセットさせることで、テスト信号の振幅特性及び位相特性を取得できる。従って、振幅特性及び位相特性に基づいて補正係数を求めることができるので、信号の歪みを高精度に補正できる。
また、本発明のキャリブレーション方法は、テスト信号を生成するテスト信号生成ステップと、前記生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正ステップと、前記補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算ステップと、前記演算された周波数特性に基づいて、前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算ステップと、を有し、前記テスト信号生成ステップでは、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成し、前記テスト信号生成ステップでは、所定の周波数範囲において前記テスト信号の周波数をスイープし、前記周波数特性演算ステップでは、前記テスト信号の各角周波数成分に基づく各包絡線信号から各複素数データを抽出し、前記係数演算ステップでは、前記抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算する。
この方法により、テスト信号をIQ平面において原点からオフセットさせることで、テスト信号の振幅特性及び位相特性を取得できる。従って、振幅特性及び位相特性に基づいて補正係数を求めることができるので、信号の歪みを高精度に補正できる。
本発明によれば、信号の歪みを高精度に補正できる。
本発明の実施形態における送信機の構成例を示すブロック図 (A),(B),(D)は、本発明の実施形態におけるテスト信号生成部により生成されるテスト信号の一例を示す図、(C)は、テスト信号の位相特性を示す図 本発明の実施形態におけるテスト信号の各角周波数の成分と振幅との関係の一例を示す図 本発明の実施形態における周波数特性補正部の詳細構成例を示すブロック図 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第1動作例を示すフローチャート 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第2動作例を示すフローチャート 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第3動作例を示すフローチャート 本発明の実施形態におけるテスト信号の振幅特性のシミュレーション結果を示す図 本発明の実施形態におけるテスト信号の位相特性のシミュレーション結果を示す図 本発明の実施形態における送信機が補正係数を求める第4動作例を示すフローチャート 本発明の実施形態におけるテスト信号の位相特性を線形位相特性に補正するイメージを示す図 本発明の実施形態における周波数特性補正部の変形構成例を示すブロック図 本発明の実施形態における無線機器の第1構成例を示すブロック図 本発明の実施形態における無線機器の第2構成例を示すブロック図
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の実施形態における送信機100の構成例を示すブロック図である。送信機100は、テスト信号生成部101、データ生成部102、MUX(Multiplexer)103、周波数特性補正部104、変調器105、包絡線検波部106、周波数特性演算部107、係数演算部108、及びメモリ109を備える。
テスト信号生成部101は、送信機100により生成される歪を測定するためのテスト信号を生成し、MUX103に出力する。テスト信号の生成方法の詳細については後述する。
データ生成部102は、送信されるデータを含むベースバンド信号を生成し、MUX103に出力する。送信されるデータには、例えば、音楽のデータ又は映像のデータが含まれる。
MUX103は、テスト信号生成部101又はデータ生成部102の出力を選択し、周波数特性補正部104に出力する。具体的には、キャリブレーションモードでは、テスト信号生成部101の出力であるテスト信号を選択し、データ送信モードでは、データ生成部102の出力であるベースバンド信号を選択する。MUX103は、送信機100の動作を指定するモードも選択する。
周波数特性補正部104は、メモリ109が保持するLUT(Look Up Table)に格納されたパラメータ(補正係数)に基づき、MUX103の出力信号の周波数特性を補正し、補正信号を変調器105に出力する。周波数特性には、振幅特性及び位相特性が含まれる。
変調器105は、周波数特性補正部104から出力された補正信号を変調し、変調信号(高周波信号)を出力する。変調器105の出力V(t)は、例えば以下の(式1)により表せる。
Figure 0005960469
出力V(t)の周波数は、(式1)におけるωに依存し、f=ω/(2π)によって決定され、例えば60GHzである。
包絡線検波部106は、包絡線検波器106Aと、包絡線検波器106Aの後段に直列に接続されたADコンバータ106Bと、を備える。
包絡線検波器106Aは、検波ダイオードを用いて構成され、変調器105から出力された高周波信号の包絡線を検波する。また、包絡線検波器106Aは、高周波信号の出力エネルギーの一部を入力し、高周波信号の包絡線の大きさを検出する。
包絡線検波器106Aにより検波される信号は、以下の(式2)により表せる。
Figure 0005960469
なお、cは定数である。
ADコンバータ106Bは、包絡線の検波結果としてのアナログ信号をデジタル信号に変換し、デジタル信号(包絡線信号)を周波数特性演算部107へ出力する。
周波数特性演算部107は、包絡線検波部106により検波された信号(包絡線信号)を入力し、包絡線信号の周波数特性を演算する。
係数演算部108は、周波数特性演算部107により演算された周波数特性に基づいて、テスト信号の周波数特性、つまり振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する。係数演算部108は、求めた補正係数をメモリ109が保持するLUT109に格納する。
なお、周波数特性演算部107及び係数演算部108は、メモリ109に格納されたプログラムを実行することによって各機能を実現する。周波数特性演算部107及び係数演算部108の動作の詳細については後述する。
また、送信機100は、第1の集積回路及び第2の集積回路を用いて構成されてもよい。第1の集積回路は、テスト信号生成部101、データ生成部102、MUX103、周波数特性補正部104、周波数特性演算部107、係数演算部108、及びメモリ108を含む。第2の集積回路は、変調器105及び包絡線検波部106を含む。また、送信機100における全ての構成部が、1つの集積回路によって構成されてもよい。
また、送信機100がキャリブレーションモードでは、包絡線検波部106、周波数特性演算部107、及び係数演算部108を含む検出系が動作する。
次に、テスト信号生成部101について説明する。
テスト信号生成部101は、例えば、以下の(式3)により表せるテスト信号Sを生成する。
Figure 0005960469
(式3)において、ωm,nは角周波数、dはオフセット量を示す定数、Kは振幅を表す定数である。
また、テスト信号生成部101により生成されるテスト信号Sの周波数は、(式3)における「ωm,nt」項に依存し、f=ωm,nt/(2π)によって決定され、例えば、100MHz、又は、500MHzである。つまり、(式3)における角周波数ωm、nは、(式1)における角周波数ωと比較すると十分に小さい値である。
図2(A)は、(式3)のテスト信号SをIQ平面上に示した図である。テスト信号Sは、IQ平面における原点Oが中心でありテスト信号Sと同振幅である円Cと比較すると、距離dをオフセットした円により示される。また、テスト信号Sは、円上を定速度によって回転してもよいし、しなくてもよい。
また、テスト信号生成部101は、テスト信号として、(式3)により表されたIQ信号以外であっても、図2(B)に示すI軸に対して対称である、IQ信号を生成すればよい。また、Q軸に対して対称である、IQ信号を生成してもよい。
さらに、テスト信号生成部101は、I軸又はQ軸に対して対称な状態から、IQ平面における原点Oを中心に回転されたIQ信号を生成してもよい。これらの場合であっても、テスト信号Sは、中心が原点Oから所定量オフセットされる。また、テスト信号Sは線上を定速度によって回転してもよいし、しなくてもよい。I軸及びQ軸は、基準軸の一例である。
テスト信号生成部101により生成されたテスト信号は、図2(A)、図2(B)のいずれの場合であって、図2(C)に示すように、対称な線(原点Oを通る基準軸)の位相をΦとした場合、位相がΦからΦ+180°に至るまで、振幅が単調に変化する特性となる。図2(D)は、図2(B)において、対称な線の位相がΦである場合を示す。
つまり、IQ平面上の第1象限から第4象限において、少なくとも2つの象限のテスト信号の軌跡を比較した場合に、非対称であればよい。
例えば、図2(A)では、第1象限と第2象限が非対称、第1象限と第3象限が非対称、第2象限と第4象限が非対称であり、第1象限と第4象限が対称、第2象限と第3象限が対称である。
図2(B)では、第1象限と第2象限が非対称、第1象限と第3象限が非対称、第2象限と第4象限が非対称であり、第1象限と第4象限が対称、第2象限と第3象限が対称である。
図2(D)では、全ての象限が非対称である。
仮に、IQ平面において原点Oを中心とする円を描く図2(A)のテスト信号Cを用いると、包絡線検波器106により検波される包絡線の大きさが一定となる。従って、テスト信号Cは、AC信号を持たないので位相特性を取得するのは困難である。
テスト信号生成部101は、原点Oから所定量オフセットされたテスト信号Sを生成することで、包絡線の大きさを変化できる。従って、テスト信号Sを用いることで、振幅特性、及び、位相特性を取得できる。
また、テスト信号生成部101は、図3では、テスト信号Sの角周波数ωm、nを、n=1からn=Nまで順次スイープ(掃引)する。図3は、テスト信号Sの各角周波数ωm、nの成分と振幅との関係の一例を示す図である。図3において、テスト信号Sの周波数(=ω/2π)のスイープ範囲は、例えば−1GHz〜1GHzであり、隣接するテスト信号の間隔は、例えば100MHzである。
例えば、第1のテスト信号Sとして、角周波数ωm、1を有するテスト信号を用い、第nのテスト信号Sとして、角周波数ωm、nを有するテスト信号を用いる。最後に、第Nのテスト信号Sとして、角周波数ωm、Nを有するテスト信号を用いる。なお、テスト信号Sは、テスト信号Sにおける角周波数ωm、nの成分を示す。
なお、値Nは、テスト信号Sの周波数特性を求めるサンプル数である。テスト信号生成部101は、どの程度の周波数間隔により周波数特性を解析したいか、どの程度の分解能により周波数特性を補正したいか、を考慮して、値Nを設定することが好ましい。また、値Nが予め設定されていてもよい。
次に、周波数特性補正部104について説明する。
図4は、周波数特性補正部104の詳細構成例を示すブロック図である。
周波数特性補正部104は、フーリエ変換部204、乗算器205、及び逆フーリエ変換部206を備える。
フーリエ変換部204は、MUX103の出力信号である時間領域の信号を周波数領域の信号へ変換する。フーリエ変換部204は、MUX103の出力信号がIQ信号であるので、複素数データとしてフーリエ変換する。フーリエ変換部204による演算では、例えば高速フーリエ変換(FFT:Fast Fourier Transformation)が用いられる。
乗算器205は、フーリエ変換部204から出力される周波数領域の信号と、メモリ109が保持するLUTに格納された補正係数と、を乗算する。
逆フーリエ変換部206は、乗算器205から出力される信号である周波数領域の信号を時間領域の信号に変換する。逆フーリエ変換部206による演算では、例えば高速逆フーリエ変換(IFFT:Inverse Fast Fourier Transformation)が用いられる。
次に、送信機100がテスト信号から周波数特性を補正するための補正係数を求める動作例について説明する。
図5は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第1動作例を示すフローチャートである。図5の例では、一回の周波数スイープにより、各角周波数ωm、nにおける係数zを求めることを想定する。図5では、係数zが補正係数である。
まず、テスト信号生成部101は、変数nを初期値1に設定する(ステップS401)。
続いて、テスト信号生成部101は、テスト信号Sを生成し、テスト信号Sの角周波数をωm、nに設定する(ステップS402)。
なお、テスト信号生成部101が周波数スイープを行う期間には、周波数特性補正部104は、周波数特性の補正を実施しない、又は、LUTに格納された係数zを1として周波数特性の補正を実施する。
続いて、周波数特性演算部107は、角周波数ωm、nのテスト信号Sに対応する包絡線信号を入力し、フーリエ変換する(ステップS403)。つまり周波数特性演算部107は、フーリエ変換部を有する。周波数特性演算部107は、計算を効率化するために、例えば高速フーリエ変換(FFT:Fast Fourier Transformation)を利用する。
続いて、周波数特性演算部107は、IQ平面における角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」を抽出する(ステップS404)。
また、周波数特性演算部107は、抽出した「a+jb」から、(式4)により振幅mを算出し、(式5)により位相θを算出してもよい。
Figure 0005960469
Figure 0005960469
つまり、ステップS404の処理により、角周波数ωm、nの成分における振幅特性及び位相特性を含む周波数特性を取得できる。周波数特性は、送信機100自体が有する周波数特性であり、具体的には、送信機100が備える例えばアナログ回路に起因する歪の周波数特性である。
続いて、係数演算部108は、送信機100の周波数特性を補正するための複素数データである係数zを計算し、係数zの情報を係数演算部108内に一時的に保持する(ステップS405)。係数zは、以下の(式6)により表せる。
Figure 0005960469
また、係数zは、振幅m,位相θを用いて、以下の(式7)によっても表せる。
Figure 0005960469
つまり、係数演算部108は、テスト信号Sの角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」の逆数である係数zを演算する。係数zは、送信機100の周波数特性の逆特性である。
続いて、テスト信号生成部101は、最後の角周波数の成分のテスト信号Sまでスイープしたか否かを判別する(ステップS406)。つまり、テスト信号生成部101は、n≧Nであるか否かを判別する。
最後のテスト信号Sまでスイープしていない場合、テスト信号生成部101は、次のテスト信号を周波数解析するため、テスト信号Sの角周波数ωm、nをスイープする(ステップS407)。つまり、変数nに1加算する。そして、ステップS402に進む。
一方、最後のテスト信号Sまでスイープされた場合、係数演算部108は、内部に一時的に保持した各角周波数ωm、1〜ωm、Nにおける各係数zの情報を、メモリ109が保持するLUTに格納する(ステップS408)。
図5の処理によれば、各角周波数ωm、nにおけるテスト信号Sの周波数を解析し、係数zを算出することで、テスト信号Sの振幅特性及び位相特性を加味した周波数特性の補正ができる。また、補正されたベースバンド信号から変調信号が生成されることで、振幅特性及び位相特性がフラットな信号を送信できる。また、逆特性として、送信機100の周波数特性の逆数を用いるので、容易に演算できる。
なお、図5では、LUTへの係数書き込みのタイミングとして、全ての角周波数ωm、1〜ωm、nにおける係数zを算出してから、各係数zをメモリ109に格納することを示した。つまり、テスト信号Sの角周波数ωm、nをN回スイープした後、係数演算部108は、求めた各係数zをLUTに格納することを示した。これ以外であっても、角周波数ωm、nにおける係数zを算出する都度メモリ109に格納してもよい。
図6は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第2動作例を示すフローチャートである。図6の例では、各角周波数ωm、nにおける係数zを繰り返し求め、係数zに基づく係数yをLUTに格納する。係数yは、順次更新される。
図6では、係数zは、補正の残留誤差を表す係数であり、係数yを求めるための係数である。係数yは、補正係数である。また、係数wは、残留誤差zを加算する重み付けを表す係数であり、例えば0から1の間において選択される。例えば、係数wを0.5とする。
まず、テスト信号生成部101は、変数nを初期値1に設定し、変数yを初期値0に設定する(ステップS501)。
続いて、送信機100は、図5のステップS402〜S406の処理を行う。一通り、最後のテスト信号Sまで周波数特性を解析し、係数zを求めると、ステップS502に進む。
係数演算部108は、算出した各zを係数wにより重みづけし、各係数yに加算する(ステップS502)。具体的には、係数演算部108は、y=y+w×zを計算する。
続いて、係数演算部108は、算出した各係数yの情報を、メモリ109が保持するLUTに格納する(ステップS503)。また、既に係数yの情報が格納されている場合には、係数yの情報を更新する。
続いて、係数演算部108は、係数yの演算を前回演算した係数yとの差分を演算し、予め定めた閾値より小さければ図6の処理を終了し、大きければ、ステップS402に戻る(ステップS504)。
図6の処理では、係数演算部108は、補正係数としての係数yの演算を反復し、LUTに記憶された係数yを更新していく。例えば、係数yに係数zを重みづけして加算した結果により、各係数yを更新する。
図6の処理によれば、各角周波数ωm、nにおける係数zを繰り返し算出するので、補正係数としての係数yの補正精度が向上する。また、係数zの算出を繰り返し、係数wを用いて係数yを演算することで、残留誤差は漸近的に0に近づいていくので、更に補正精度が向上する。
また、補正されたベースバンド信号から変調信号が生成されることで、振幅特性及び位相特性がフラットな信号を送信できる。
なお、図7は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第3動作例を示すフローチャートである。ここで、図6との差分について、説明する。図7では、各角周波数ωm、nにおける係数zをR回繰り返し求める。
まず、ステップS505において、テスト信号生成部101は、変数nを初期値1に設定し、変数yを初期値0に設定し、変数rを初期値1に設定する。
また、ステップS506において、係数演算部108は、係数yの演算を所定回数(R回)実施したかを判別する。具体的には、係数演算部108は、r≧Rであるか否かを判別する。
ステップS507において、係数yの演算をR回実施していない場合、係数演算部108は、変数rに1加算し、変数nを初期化して1に設定する。一方、係数yの演算をR回実施した場合、送信機100は図7の処理を終了する。
次に、周波数特性の補正のシミュレーションについて説明する。
図8は、テスト信号の振幅特性のシミュレーション結果を示す図である。図9は、テスト信号の位相特性のシミュレーション結果を示す図である。図8及び図9は、図5、図6又は図7の動作によりシミュレーションを実施した結果である。
シミュレーションでは、テスト信号生成部101は、テスト信号を生成する場合に、サンプリング周波数3.52GHzとし、(式3)に用いる係数を、K=1,d=0.1とする。また、テスト信号生成部101は、f(=2πω)を、−1.1GHz〜+1.1GHzにおいて、100MHz間隔によって掃引する。
また、送信機100の周波数特性を模したフィルタとして、カットオフ周波数300MHzであり、通過周波数を352MHz負方向にシフトされた2次のバターワースフィルタを仮定する。
図8及び図9において、実線L1がフィルタの特性を示し、白抜きの点D1が、周波数特性演算部107により測定されたテスト信号の周波数特性(検出特性)を示す。図8及び図9を参照すると、フィルタ特性及び検出特性が一致していることが理解できる。従って、送信機100の検出系によって、振幅特性及び位相特性について精度良く検出できることが確認できる。
また、図8及び図9において、点線L2が、補正係数が求められた後に、周波数特性補正部104によって補正された信号の周波数特性(補正特性)を示す。点線L2は、位相特性として「0」を示すライン上にある。つまり、周波数特性補正部104が逆特性としての補正係数を用いて信号を補正し、補正信号を変調した結果、送信される信号の位相特性及び周波数特性は、平坦な特性となる。
また、フィルタの特性が、測定される周波数範囲の中心からオフセットされており、非対称な特性であっても、好適に周波数特性を解析できる。
次に、送信機100の周波数特性を線形位相特性となるように補正する場合について説明する。
図10は、送信機100がテスト信号Sから周波数特性を補正するための補正係数を求める第4動作例を示すフローチャートである。図10では、係数xが補正係数である。図10の例では、送信機100が出力する信号の位相特性が平坦(図9における点線L2と同程度)になるまで補正(図9参照)するのではなく、位相特性が線形な特性となるように補正する。
まず、図5のステップS401〜S403の処理を行う。角周波数ωm、nにおけるテスト信号のフーリエ変換が終了すると、ステップS601に進む。
周波数特性演算部107は、IQ平面における角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」を抽出する。また、周波数特性演算部107は、抽出した「a+jb」から、(式4)により振幅mを算出し、(式5)により位相θを算出する(ステップS601)。
続いて、係数演算部108は、位相θと線形位相特性θi、nとの差分△θを算出する(ステップS602)。つまり、係数演算部108は、△θ=θ−θi、nを計算する。なお、線形位相特性θi、nは、図11では、周波数が高いほど位相が線形に小さくなる特性である。メモリ109は、あらかじめ線形位相特性θi、nの情報を保持している。
続いて、係数演算部108は、送信機100の周波数特性を補正するための複素数データである係数xを計算し、係数xの情報を係数演算部108内に一時的に保持する(ステップS405)。係数xは、振幅m,位相の差分△θを用いて、以下の(式8)により表せる。
Figure 0005960469
つまり、係数演算部108は、テスト信号Sの角周波数ωm、nの成分の複素数データである「a+jb」の位相θと線形位相特性θi、nとの差分△θと振幅mとに基づいて、補正係数としての係数xを演算する。
送信機100は、送信系が通常は正の遅延時間を有するので、周波数が高くなる程、テスト信号の位相は遅延する(図9参照)。なお、送信系は、テスト信号生成部101、データ生成部102、MUX103、周波数特性補正部104、および変調器105を含む。
図10の処理によれば、係数xを送信機100の周波数特性に対して完全な逆位相とせずに、多少の位相遅延を考慮した線形位相特性に近付けることができる。従って、送信機100は、負の遅延時間を持つフィルタを用意せずに、良好な振幅特性及び位相特性を得られる。
また、送信機100が出力する信号の位相特性を線形位相特性に補正すれば足りるので、逆特性の補正量よりも少ない演算量となり、時間資源又はビット幅の資源を有効活用できる。従って、量子化雑音のように特定の周波数に急峻な変化を有する周波数特性を含む場合であっても、パラメータ(△θ)を1つ設けて線形位相特性へ補正することで、補正精度が向上する。
図11はテスト信号の位相特性を線形位相特性に補正するイメージを示す図である。
図11において、実線L1は、送信機100の周波数特性を模したフィルタのフィルタ特性を示す。白抜きの点D1は、検出特性を示す。点線L2は、線形位相特性を示し、所定の周波数において、図10の処理により求められた係数xにより補正された補正特性を示す。
次に、周波数特性補正部104の変形例について説明する。
図12は、周波数特性補正部104の変形構成例を示すブロック図である。
図12では、周波数特性補正部104は、デジタルフィルタ901を備える。デジタルフィルタ901を用いる場合、LUTに格納される係数は、デジタルフィルタ901の係数である。デジタルフィルタ901の係数は、例えば、係数演算部108が、補正係数としての係数zを逆フーリエ変換して求めればよい。
デジタルフィルタ901を備えることで、周波数特性補正部104がフーリエ変換部及び逆フーリエ変換部を備える必要がなく、構成を簡素化できる。
次に、キャリブレーション終了後の送信機100の動作について説明する。
送信機100は、キャリブレーションが終了すると、キャリブレーションモードが終了する。キャリブレーションモードが終了すると、送信機100は、データ送信モードに切り替える。具体的には、図1のMUX103が、データ生成部102の出力を選択する。
続いて、周波数特性補正部104が、係数演算部108により演算された補正係数が格納されたLUTを参照して、データ生成部102から出力されたIQ信号を補正する。続いて、変調器105は、補正信号を変調し、変調信号を送信する。
送信機100によれば、信号の振幅特性及び位相特性を高精度に補正可能となり、送信信号の歪みを低減できる。なお、送信機100の周波数特性の補正は、例えば、送信機100の電源投入時、スリープモードからの起動時、データ送信開始前に実施する。
すなわち、送信機100によれば、例えば、広帯域な周波数を取り扱う無線通信において、ベースバンド信号及び高周波信号の間における周波数変換によって生じる周波数特性を、高精度に補正できる。また、広帯域な周波数を取り扱う無線通信において、振幅特性、位相特性、及び、周波数特性が平坦となるよう補償された送信機を実現できる。
次に、送信機100を含む無線機器1200について説明する。
図13は無線機器1200の構成例を示すブロック図である。無線機器1200は、送信機100、受信機1202、共用器1203、およびアンテナ1204を備える。
送信機100は、周波数特性を補正して所望のデータを変調し、変調信号を送信する。受信機1202は、他の通信装置からのデータを受信する。共用器1203は、送信信号と、受信信号を分離し、アンテナ1204を送信時、受信時において共用する。
無線機器1200により、歪みの少ないデータ送信が可能である。
また、図14に示すように、無線機器1300は、送信用のアンテナ1303と受信用のアンテナ1304を別に具備してもよい。
本発明は、上記実施形態の構成に限られるものではなく、特許請求の範囲において示した機能、または本実施形態の構成が持つ機能が達成できる構成であればどのようなものであっても適用可能である。
上記実施形態では、本発明はハードウェアを用いて構成する場合を例にとって説明したが、本発明はハードウェアとの連携においてソフトウェアでも実現することも可能である。
また、上記実施形態の説明に用いた各機能ブロックは、典型的には集積回路であるLSIとして実現される。これらは個別に1チップ化されてもよいし、一部または全てを含むように1チップ化されてもよい。ここでは、LSIとしてもよいし、集積度の違いにより、IC、システムLSI、スーパーLSI、ウルトラLSIと呼称してもよい。
また、集積回路化の手法はLSIに限るものではなく、専用回路または汎用プロセッサを用いて実現してもよい。例えば、LSI製造後にプログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)、LSI内部の回路セルの接続、又は、設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサを利用してもよい。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりLSIに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適用等が可能性としてありえる。
本発明は、信号の歪みを高精度に補正できる送信機、信号生成装置、及びキャリブレーション方法に有用である。
100 送信機
101 テスト信号生成部
102 データ生成部
103 MUX
104 周波数特性補正部
105 変調器
106 包絡線検波部
106A 包絡線検波器
106B ADコンバータ
107 周波数特性演算部
108 係数演算部
109 メモリ
204 フーリエ変換部
205 乗算器
206 逆フーリエ変換部
901 デジタルフィルタ
1200 無線機器
1202 受信機
1203 共用器
1204 アンテナ
1300 無線機器
1302 受信機
1303,1304 アンテナ

Claims (14)

  1. テスト信号を生成するテスト信号生成部と、
    前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、
    前記周波数特性補正部により補正された補正信号を変調する変調部と、
    前記変調部により変調された変調信号の包絡線を検波する包絡線検波部と、
    前記包絡線検波部により検波された包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、
    前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、
    を備え、
    前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成し、
    前記テスト信号生成部は、所定の周波数範囲において前記テスト信号の周波数をスイープし、
    前記周波数特性演算部は、前記テスト信号の各角周波数成分に基づく各包絡線信号から各複素数データを抽出し、
    前記係数演算部は、前記周波数特性演算部により抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算する送信機。
  2. 請求項1に記載の送信機であって、
    前記テスト信号生成部は、IQ平面において所定量オフセットされ、基準軸に対して対称であり、前記信号の軌跡を示す線上を回転するテスト信号を生成する送信機。
  3. 請求項1に記載の送信機であって、
    前記テスト信号は、前記信号の軌跡を示す線上を定速度によって回転する信号である送信機。
  4. 請求項2に記載の送信機であって、
    前記テスト信号生成部は、IQ平面において所定量オフセットされた円上を回転するテスト信号を生成する送信機。
  5. 請求項4に記載の送信機であって、
    前記テスト信号は、前記IQ平面において所定量オフセットされた円上を定速度によって回転する信号である送信機。
  6. 請求項に記載の送信機であって、
    前記係数演算部は、前記補正係数として、前記複素数データの逆数を演算する送信機。
  7. 請求項に記載の送信機であって、
    前記係数演算部は、前記複素数データの位相特性と線形位相特性との差分と、前記複素数データの振幅特性と、に基づいて、前記補正係数を演算する送信機。
  8. 請求項に記載の送信機であって、更に、
    前記補正係数を記憶する記憶部を備え、
    前記係数演算部は、各補正係数の演算を反復し、前記記憶部に記憶された各補正係数を
    更新する送信機。
  9. 請求項に記載の送信機であって、
    前記係数演算部は、
    前記周波数特性演算部により抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算するための係数を演算し、
    前記係数演算部は、前記記憶部に記憶された各補正係数に前記係数演算部により演算された係数を重みづけして加算した結果により、前記記憶部に記憶された各補正係数を更新する送信機。
  10. 請求項1ないしのいずれか1項に記載の送信機であって、
    前記周波数特性補正部は、
    前記テスト信号を時間領域の信号から周波数領域の信号に変換する変換部と、
    前記周波数領域の信号と前記係数演算部により演算された係数とを乗算する乗算部と、
    前記乗算部から出力された信号を周波数領域の信号から時間領域の信号へ変換する逆変換部と、
    を備える送信機。
  11. 請求項1ないしのいずれか1項に記載の送信機であって、
    前記周波数特性演算部は、前記包絡線信号を時間領域の信号から周波数領域の信号に変換する変換部を備える送信機。
  12. 請求項1ないしのいずれか1項に記載の送信機であって、更に、
    ベースバンド信号を生成するベースバンド信号生成部と、
    前記変調信号を送信する送信部と、
    を備え、
    前記周波数特性補正部は、前記係数演算部により演算された補正係数に基づいて前記ベースバンド信号を補正し、前記補正信号を生成する送信機
  13. テスト信号を生成するテスト信号生成部と、
    前記テスト信号生成部により生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正部と、
    前記周波数特性補正部により補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算部と、
    前記周波数特性演算部により演算された周波数特性に基づいて、前記周波数特性補正部により前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算部と、
    を備え、
    前記テスト信号生成部は、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成し、
    前記テスト信号生成部は、所定の周波数範囲において前記テスト信号の周波数をスイープし、
    前記周波数特性演算部は、前記テスト信号の各角周波数成分に基づく各包絡線信号から各複素数データを抽出し、
    前記係数演算部は、前記周波数特性演算部により抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算する信号生成装置
  14. テスト信号を生成するテスト信号生成ステップと、
    前記生成されたテスト信号の振幅特性及び位相特性を補正する周波数特性補正ステップと、
    前記補正された補正信号が変調された変調信号の包絡線信号の周波数特性を演算する周波数特性演算ステップと、
    前記演算された周波数特性に基づいて、前記テスト信号の振幅特性及び位相特性を補正するための補正係数を演算する係数演算ステップと、
    を有し、
    前記テスト信号生成ステップでは、IQ平面上の第1象限から第4象限のうち少なくとも2つの象限において、信号の軌跡を比較した場合に、非対称であるテスト信号を生成し、
    前記テスト信号生成ステップでは、所定の周波数範囲において前記テスト信号の周波数をスイープし、
    前記周波数特性演算ステップでは、前記テスト信号の各角周波数成分に基づく各包絡線信号から各複素数データを抽出し、
    前記係数演算ステップでは、前記抽出された各複素数データに基づいて、各補正係数を演算するキャリブレーション方法
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