JP5947296B2 - 低温試料ホルダー - Google Patents
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Description
Claims (39)
- イメージングと解析用装置の少なくとも一つにおいて試料を収容し、冷却し、位置を定める低温試料ホルダーであって、
前記イメージングと解析用装置の少なくとも一つに対して回転可能に取り付けられ、垂直の位置から±90°まで回転する、細長筐体と、
前記細長筐体の一端に取り付けられ、前記試料を収容し保持する容器と、
前記細長筐体の他端に取り付けられる貯蔵容器であって、液体冷却媒体の保存を可能とし、前記細長筐体の回転中、前記液体冷却媒体が位置するコレクションセクションを備えた前記貯蔵容器と、
前記貯蔵容器に接着され、前記コレクションセクションに近接する熱伝導体と、を有し、
前記貯蔵容器は、その断面が円形であり、且つ円筒形であり、
前記円筒形の貯蔵容器は、中心に位置する中心軸があり、細長筐体には縦軸があり、前記貯蔵容器の前記中心軸は前記細長筐体の前記縦軸から20度移動したところにあることを特徴とする低温試料ホルダー。 - イメージングと解析用装置の少なくとも一つにおいて試料を収容し、冷却し、位置を定める低温試料ホルダーであって、
前記イメージングと解析用装置の少なくとも一つに対して回転可能に取り付けられ、垂直の位置から±90°まで回転する、細長筐体と、
前記細長筐体の一端に取り付けられ、前記試料を収容し保持する容器と、
前記細長筐体の他端に取り付けられる貯蔵容器であって、液体冷却媒体の保存を可能とし、前記細長筐体の回転中、前記液体冷却媒体が位置するコレクションセクションを備えた前記貯蔵容器と、
前記貯蔵容器に接着され、前記コレクションセクションに近接する熱伝導体と、を有し、
前記容器は、スライド式で前記細長筐体内に固定され、それと熱的に分離されていることを特徴とする低温試料ホルダー。 - 前記貯蔵容器は、断面が円形である、請求項2記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、円筒形である、請求項3記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、更に弓状断面を有し、前記コレクションセクションがそこに位置している、請求項1又は4に記載の低温試料ホルダー。
- 前記円筒形の貯蔵容器は、中心に位置する中心軸があり、細長筐体には縦軸があり、前記貯蔵容器の前記中心軸は前記細長筐体の前記縦軸から20度移動したところにある、請求項4記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器の少なくとも一つの弓状セクションは、円筒状の前記貯蔵容器の壁によって形成されている、請求項5記載の低温試料ホルダー。
- 前記試料ホルダーは、前記イメージングと解析装置の前記少なくとも一つに関して、傾斜する方法で前記試料を移動させられる前記細長筐体の縦軸の周りを回転するように作られている、請求項1又は2に記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、前記縦軸に沿って前記ホルダーの前記回転中、前記液体冷却媒体を収容し貯蔵する少なくとも一つの傾斜のある壁を更に含む、請求項8記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、円筒状で、更に前記冷却媒体の注入用の開口部を含み、前記少なくとも一つの傾斜した壁は前記円筒状の貯蔵容器の壁と前記開口部から伸長している、請求項9記載の低温試料ホルダー。
- 前記容器と前記液体の冷却媒体は、前記細長筐体内で伸びている伝導体によって熱接触している、請求項1又は2に記載の低温試料ホルダー。
- 前記熱伝導体には少なくとも一つの曲げやすい部材を更に有する、請求項11記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、真空排気されたスペースによって前記細長筐体と分かれている、請求項1又は2に記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、前記貯蔵容器と前記細長筐体との間に熱伝導を最小化する細長コネクターのみによって前記細長筐体内に固定されている、請求項1又は2に記載の低温試料ホルダー。
- 前記細長コネクターは、曲がりくねった渦巻き状の通路を更に含む、請求項14記載の低温試料ホルダー。
- 前記容器は、前記細長筐体と熱的に分離されている、請求項1又は2に記載の低温試料ホルダー。
- 前記容器は、スライド式で前記細長筐体内に固定され、それと熱的に分離されている、請求項1記載の低温試料ホルダー。
- 前記スライド式で固定された容器は、操作モードで前記細長筐体から伸長し、非操作モードでは前記細長筐体内に後退している、請求項2又は17に記載の低温試料ホルダー。
- 前記試料ホルダーは、前記イメージングと解析装置の少なくとも一つに関して、傾斜する方法で前記試料を移動させられる前記細長筐体の縦軸の周りを回転するように作られている、請求項18記載の低温試料ホルダー。
- 前記細長筐体と前記容器の間に挿入された弾力のある部材を更に含む、請求項18記載の低温試料ホルダー。
- 前記弾力のある部材は、バネからなる、請求項20記載の低温試料ホルダー。
- 前記容器は、部品部材からなり、前記弾力のある部材は前記容器の前記部品間の接触力を増加させ、それらの間の熱の移動を促進する、請求項20記載の低温試料ホルダー。
- 前記容器は、固定された筐体内に固定されたスライド式カートリッジを更に有する、請求項18記載の低温試料ホルダー。
- 前記スライド式カートリッジと前記固定された筐体の間に挿入された弾力のある部材を更に有する、請求項23記載の低温試料ホルダー。
- 前記弾力のある部材は、バネからなる、請求項24記載の低温試料ホルダー。
- 前記弾力のある部材は、前記スライド式カートリッジと前記固定された筐体の間の接触力を増加させ、それらの間の熱移動を促進する、請求項24記載の低温試料ホルダー。
- 前記固定された筐体は、前記細長筐体から前記固定された筐体を熱と振動の面で隔離する複数の分離部材間に挿入されている、請求項23記載の低温試料ホルダー。
- 前記細長筐体内に固定されていて、前記細長筐体内に前記スライド式カートリッジの遠隔作動のために前記スライド式カートリッジと物理的に接している、アクチュエーターアームを更に含む、請求項23記載の低温試料ホルダー。
- 前記アクチュエーターアームは、前記カートリッジを操作モードで前記細長筐体から伸長し、非操作モードでは前記細長筐体内に後退させる、請求項28記載の低温試料ホルダー。
- 前記アクチュエーターは、前記スライド式カートリッジにある受信スロット内にスライドして位置している、請求項28記載の低温試料ホルダー。
- 前記アクチュエーターアームは、前記容器と熱及び振動の面で隔離されている、請求項28記載の低温試料ホルダー。
- 前記アクチュエーターアームは、更に、密封された回転コントロールを含み、この回転コントロールにより前記ホルダー内の真空環境と周囲の大気との間にバリアーを形成する、請求項31記載の低温試料ホルダー。
- 前記アクチュエーターアームは、前記アクチュエーターアーム移動用のコントロールアセンブリを更に含む、請求項28記載の低温試料ホルダー。
- 前記容器と前記貯蔵容器は、前記細長筐体内で伸びている伝導体によって熱接触している、請求項18記載の低温試料ホルダー。
- 前記熱伝導体は、更に、少なくとも一つの曲げやすい部材を含む、請求項34記載の低温試料ホルダー。
- 更に、前記容器と熱的につながっている温度センサーを有する、請求項18記載の低温試料ホルダー。
- 前記容器は、前記細長筐体と熱的に分離されている、請求項18記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、その中の特定のポイントで前記液体冷却媒体を保持する吸着剤及び吸収材の一つを更に備えている、請求項18記載の低温試料ホルダー。
- 前記貯蔵容器は、その中の特定のポイントで前記液体冷却媒体を保持する吸着剤及び吸収材の一つを更に備えている、請求項1又は2に記載の低温試料ホルダー。
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JP5732006B2 (ja) * | 2012-06-28 | 2015-06-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料冷却ホルダー及び冷却源容器 |
EP2813835B1 (en) * | 2013-06-14 | 2016-09-07 | Fei Company | Method of welding a frozen aqueous sample to a microprobe |
WO2015030271A1 (ko) * | 2013-08-28 | 2015-03-05 | 한국기초과학지원연구원 | 투과전자현미경에서의 다목적 3차원 이미징을 위한 시료스테이지 및 시료 홀더의 정밀제어장치 |
US9449785B2 (en) | 2013-11-11 | 2016-09-20 | Howard Hughes Medical Institute | Workpiece transport and positioning apparatus |
WO2016021745A1 (ko) * | 2014-08-05 | 2016-02-11 | 한국기초과학지원연구원 | 광학현미경과 전자현미경의 연계형 이미징 검출을 위해 초저온 전자현미경 시편장착 홀더를 포함하는 워크 스테이션과 이를 포함한 연계형 이미징 검출장치 및 이를 이용한 이미징 검출 방법과 이미징 시스템 |
WO2016037198A1 (de) * | 2014-09-12 | 2016-03-17 | Technische Universität Wien | Vorrichtung und system zur weiterleitung und messung von kathodolumineszenz-licht in einem transmissionselektronenmikroskop |
DE102015100727A1 (de) | 2015-01-20 | 2016-07-21 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Probentransfereinrichtung |
EP3477680B1 (en) * | 2017-10-30 | 2022-12-28 | Gatan, Inc. | Cryotransfer holder and workstation |
JP6471254B1 (ja) * | 2018-04-10 | 2019-02-13 | 株式会社メルビル | 試料ホルダー |
JP6764902B2 (ja) * | 2018-06-25 | 2020-10-07 | 株式会社メルビル | 試料ホルダー |
CN110108690B (zh) * | 2019-06-10 | 2023-11-24 | 中国科学院生物物理研究所 | 一种超低温可换样显微成像系统及其工作方法 |
CN113345784B (zh) * | 2020-02-18 | 2023-06-02 | 中国科学院物理研究所 | 一种低温原位样品杆 |
CN111965000A (zh) * | 2020-09-10 | 2020-11-20 | 舟山市质量技术监督检测研究院 | 一种带固定装置全自动低温仪 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4027494A (en) | 1975-09-12 | 1977-06-07 | Nasa | Low gravity phase separator |
JPS619760U (ja) * | 1984-06-25 | 1986-01-21 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡等における試料冷却装置 |
GB8718531D0 (en) * | 1987-08-05 | 1987-09-09 | Link Analytical Ltd | X-ray detectors |
US4833330A (en) * | 1987-11-03 | 1989-05-23 | Gatan Inc. | Anticontaminator for transmission electron microscopes |
JP2582114B2 (ja) | 1988-04-01 | 1997-02-19 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡におけるx線分析装置 |
JP2584827B2 (ja) * | 1988-06-03 | 1997-02-26 | 日本電子株式会社 | 半導体x線検出器 |
US4950901A (en) | 1989-11-06 | 1990-08-21 | Gatan, Incorporated | Specimen cooling holder for side entry transmission electron microscopes |
US5235817A (en) | 1992-04-02 | 1993-08-17 | North American Philips Corp. | Cryogenic cooling apparatus for radiation detector |
US5274237A (en) | 1992-04-02 | 1993-12-28 | North American Philips Corporation | Deicing device for cryogenically cooled radiation detector |
US5302831A (en) | 1992-04-30 | 1994-04-12 | North American Philips Corporation | Dewar construction for cooling radiation detector cold finger |
US5552608A (en) | 1995-06-26 | 1996-09-03 | Philips Electronics North America Corporation | Closed cycle gas cryogenically cooled radiation detector |
US5821176A (en) | 1995-08-31 | 1998-10-13 | Philips Electronics North America Corporation | Cold finger design in an energy dispersive x-ray analyzer |
JPH09120789A (ja) | 1995-10-25 | 1997-05-06 | Jeol Ltd | 試料冷却システム |
EP0901686A2 (en) * | 1996-12-23 | 1999-03-17 | Fei Company | Particle-optical apparatus including a low-temperature specimen holder |
JPH10253762A (ja) | 1997-03-07 | 1998-09-25 | Horiba Ltd | エネルギー分散型半導体x線検出器 |
US5753924A (en) * | 1997-03-12 | 1998-05-19 | Gatan, Inc. | Ultra-high tilt specimen cryotransfer holder for electron microscope |
US6388262B1 (en) | 1998-08-12 | 2002-05-14 | Gatan, Inc. | Double tilt and rotate specimen holder for a transmission electron microscope |
JP2001319610A (ja) * | 2000-05-10 | 2001-11-16 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビーム装置 |
US6410925B1 (en) * | 2000-07-31 | 2002-06-25 | Gatan, Inc. | Single tilt rotation cryotransfer holder for electron microscopes |
EP1852888A1 (en) | 2006-05-01 | 2007-11-07 | FEI Company | Particle-optical apparatus with temperature switch |
US20080156996A1 (en) | 2006-12-29 | 2008-07-03 | Ametek, Inc. | Indirect Method and Apparatus for Cooling a Silicon Drift Detector |
US7659510B2 (en) | 2008-03-28 | 2010-02-09 | Chih-Yu Chao | Cryo-charging specimen holder for electron microscope |
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