JP5939442B2 - 検査装置及び検査方法 - Google Patents

検査装置及び検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5939442B2
JP5939442B2 JP2012231349A JP2012231349A JP5939442B2 JP 5939442 B2 JP5939442 B2 JP 5939442B2 JP 2012231349 A JP2012231349 A JP 2012231349A JP 2012231349 A JP2012231349 A JP 2012231349A JP 5939442 B2 JP5939442 B2 JP 5939442B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
imaging devices
inspection
blend
photographed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012231349A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014085113A (ja
Inventor
澄人 坂口
澄人 坂口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2012231349A priority Critical patent/JP5939442B2/ja
Publication of JP2014085113A publication Critical patent/JP2014085113A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5939442B2 publication Critical patent/JP5939442B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、検査対象物を撮影する撮像装置を用いた検査装置及び検査方法に関する。
太陽電池セルなどの半導体装置の製造においては、半導体装置の表面上や内部の傷や異物の付着、クラック、汚れ、むらなどの欠陥の有無や状態が調べられる。例えば、カメラなどの撮像装置を用いて得られた画像を用いて外観検査を行う検査装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2011−13094号公報
太陽電池セルなどの検査に関し、二眼(複眼)の撮像装置によって撮影された2つの画像を重ね合わせて合成する方法がある。例えば、2つの画像に共通に現れる太陽電池セルの粒界を画像からキャンセルすることにより、粒界が表示されていないために見やすい画像を用いた検査を行うことができる。
しかしながら、撮像装置の位置や光軸の調整が適正でないと、撮影された2つの画像上における検査対象物の位置が一致せず、2つの画像を重ね合わせて合成した画像(ブレンド画像)の質が劣化する。特に撮像装置の分解能相当の精密検査では、検査不可能な状態となる。このため、複数の撮像装置によって撮影された検査対象物の位置を正確に重ね合わせるために、以下のような手段が考えられる。
即ち、(1)位置ずれの発生しない超高精度の機械交差で検査装置を構成する、(2)手動又は能動的に光学系調整を行う機構を設ける、(3)画像処理による位置補正を行う、などが考えられる。
しかし、(1)の手段では、検査装置が高価になる。また、実現不可能な装置設置条件である場合がある。(2)の手段では、2つの画像が一致するまで光学系調整を行うために作業者の高度な技能と長い調整時間が必要である。(3)の手段では、位置補正を行うための補正データを予め収集することが必要であり、且つ、画像毎に補正処理を行う必要があり、検査時間が増大し、補正処理による画像劣化が発生する。
上記問題点に鑑み、本発明は、検査時間及び検査コストの増大が抑制され、撮像装置を用いた検査を高精度に行える検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。
本発明の一態様によれば、(イ)同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影する複数の撮像装置と、(ロ)複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成する画像処理装置と、(ハ)ブレンド画像を表示する画像表示装置と、(ニ)複数の撮像装置の配置を調整する調整機構とを備え、ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない若しくはその位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、調整機構によって複数の撮像装置の配置が調整され、複数の撮像装置によって撮影された検査対象の太陽電池セルの複数の画像を用いて太陽電池セルの粒界がキャンセルされた画像が生成され、粒界がキャンセルされた画像を用いて太陽電池セルが検査される検査装置が提供される。
本発明の他の態様によれば、(イ)複数の撮像装置を用いて、同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影するステップと、(ロ)複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成するステップと、(ハ)ブレンド画像を画像表示装置に表示するステップと、(ニ)画像表示装置に表示されたブレンド画像を確認しながら、ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない、若しくはその位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、複数の撮像装置の配置を調整するステップと、(ホ)適正ブレンド画像が得られた配置の複数の撮像装置により撮影された検査対象物の画像を用いて、検査対象物の検査を行うステップとを含み、複数の撮像装置によって撮影された検査対象の太陽電池セルの複数の画像を用いて太陽電池セルの粒界がキャンセルされた画像が生成され、粒界がキャンセルされた画像を用いて太陽電池セルが検査される検査方法が提供される。
本発明によれば、検査時間及び検査コストの増大が抑制され、撮像装置を用いた検査を高精度に行える検査装置及び検査方法を提供できる。
本発明の実施形態に係る検査装置の構成を示す模式図である。 本発明の実施形態に係る検査装置による撮像装置の配置の調整を行う前のブレンド画像の例を示す模式図である。 本発明の実施形態に係る検査装置による撮像装置の配置の調整を行った後のブレンド画像の例を示す模式図である。 撮像装置の配置が適正でない例を説明するための模式図であり、図4(a)は第1の画像を示し、図4(b)は第2の画像を示し、図4(c)はブレンド画像を示す。 本発明の実施形態に係る検査方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態に係る検査装置のキャリパーの例を示す模式図である。
次に、図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであることに留意すべきである。又、以下に示す実施形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の実施形態は、構成部品の構造、配置などを下記のものに特定するものでない。この発明の実施形態は、請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。
図1に示す本発明の実施形態に係る検査装置1は、検査対象物(以下において「ワーク」という。)100の外観や内部の検査に使用される。検査装置1は、第1の撮像装置11及び第2の撮像装置12と、第1の撮像装置11及び第2の撮像装置12によってそれぞれ撮影された画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成する画像処理装置20と、ブレンド画像を表示する画像表示装置30と、第1の撮像装置11及び第2の撮像装置12の配置を調整する調整機構40とを備える。
第1の撮像装置11及び第2の撮像装置12は、同一方向から見たワーク100の撮影対象面101について同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影する。第1の撮像装置11の光軸方向は第1の方向に延伸し、第2の撮像装置12の光軸方向は第1の方向と異なる第2の方向に延伸する。図1に示した例では、第1の方向は撮影対象面101の面法線方向であり、第2の方向は面法線方向に略垂直な方向である。
以下において、第1の撮像装置11及び第2の撮像装置12を総称して「撮像装置10」という。撮像装置10には、例えばCCD(電荷結合素子)カメラやCMOS(相補型金属酸化膜半導体)カメラなどを採用可能である。
検査において、図示を省略する照明装置によってワーク100に光が照射される。どのような検査を行うかによって、ワーク100に照射する光や撮像装置10の配置が決定される。例えば、ワーク100の撮影対象面101で反射される反射光を用いて、撮影対象面101の傷や異物などが検出される。或いは、ワーク100を透過する透過光を用いて、ワーク100内部の傷や欠陥などが検出される。以下において、反射光や透過光などのワーク100からの光を総称して「検査光」という。
複数の撮像装置10を用いてワーク100を撮影することにより、検査に使用される多くの情報を同時に取得可能である。例えば、複数の波長でワーク100の画像を撮影することにより波長毎に特有の情報を得ることができるが、ワーク100について複数の波長での画像を同時に取得することにより、検査時間を短縮できる。このため、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12には、例えば受光可能な波長が異なるなど、仕様の異なる撮像装置を採用可能である。このように、複数の撮像装置10を用いることにより、種々の特徴ある検査を実行可能である。
複数の撮像装置10に共通に写っている物体について傷や異物であると判定したり、1つの撮像装置10にのみ写っている物体について不要なものか必要なものかを判定したりする。また、複数の撮像装置10に共通に写っている大きな傷や異物などを消去(キャンセル)した画像を作成することにより、これらの大きな傷や異物の無い画像を用いて詳細な検査をすることも可能である。複数の撮像装置10に撮影された画像データを引き算する画像処理などにより、共通に撮影されたものをキャンセルした画像を得ることができる。
或いは、検査の判定に不要な画像情報をキャンセルすることもできる。例えば、太陽電池セルの検査を行う場合、多結晶ウェハを用いて製造される太陽電池セルの画像には多くの粒界が写っている。このため、傷や異物などと粒界との区別がつきにくく、検査に支障が生じる場合がある。ブレンド画像で確認された粒界のパターンをキャンセルすることにより、粒界のない画像を用いて検査を行うことができる。このため、検査装置1は、太陽電池セルの検査に好適に適用可能である。
なお、撮像装置10の解像度も検査目的に応じて適宜選択される。例えば、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12とで、必要とされる解像度が異なる場合がある。このとき、高い解像度を必要としない撮像装置10の解像度を下げることにより、画像データのサイズが小さくなり、画像処理に要する時間を短縮することができる。
2方向から同時にワーク100の撮影対象面101を撮影できるように、ステージ60に搭載されたワーク100と撮像装置10との間に、光学装置50が配置されている。光学装置50には、ワーク100の撮影対象面101からの検査光を第1の方向と第2の方向、例えば撮影対象面101の面法線方向と面法線方向に垂直な方向に分岐する光学素子を使用する。光学装置50を配置することによって、2方向から同時に撮影対象面101を光学的に観察できる。
図1に示した光学装置50は、ワーク100からの検査光の一部を上方に透過させ、他の一部を横方向に反射させる。これにより、光学装置50の上方に配置された第1の撮像装置11と、光学装置50の横方向に配置された第2の撮像装置12によって、ワーク100の撮影対象面101について同一領域の画像が同時に撮影される。なお、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12の位置が図1に示した位置に限定されないのはもちろんである。
既に述べたように、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12には、検査内容に応じて仕様の異なる撮像装置を採用可能である。例えば、異なる波長光の画像を撮影する複数の撮像装置10を用意した場合に、複数のカラーフィルタを有する光学装置50によって波長の異なる複数の光に検査光を分岐することができる。検査光を分岐するために、例えばハーフミラーやダイクロイックミラーなどを光学装置50に採用可能である。
画像処理装置20により、第1の撮像装置11及び第2の撮像装置12によってそれぞれ撮影された撮影対象物の画像を重ね合わせたブレンド画像がリアルタイムで作成される。即ち、画像処理装置20は画像処理によって、第1の撮像装置11により撮影された画像(以下において、「第1の画像」という。)と、第2の撮像装置12により撮影された画像(以下において、「第2の画像」という。)を重ね合わせたブレンド画像を作成する。このため、第1の撮像装置11から送信される第1の画像のデータD1と第2の撮像装置12から送信される第2の画像のデータD2から、画像処理装置20はブレンド画像のデータD3を作成する。ブレンド画像のデータD3は、画像処理装置20から画像表示装置30に送信される。ブレンド画像は、第1の画像と第2の画像の区別がつくように、画像表示装置30に表示される。
検査作業者は、画像表示装置30に表示されるブレンド画像を目視することによって、第1の画像と第2の画像との間で撮影対象物の位置にずれが生じているか否かを判定することができる。ブレンド画像に撮影対象物の位置ずれが発生している場合、検査作業者は、画像表示装置30にリアルタイムで表示されたブレンド画像を目視しながら、重ね合わせの位置ずれがない、若しくは位置ずれが許容範囲内であるブレンド画像(以下において「適正ブレンド画像」という。)が得られるまで、調整機構40を操作して撮像装置10の配置や光軸の方向を調整する。
位置ずれの許容範囲は、検査目的により異なる。例えば高精度の検査が必要な場合には、許容範囲は撮像装置10の1画素程度に設定される。精度の高さがそれほど要求されない検査の場合には、数画素程度、例えば3画素程度の位置ずれが許容される。
図2に、画像処理装置20によって作成されたブレンド画像において、第1の画像と第2の画像間で撮影対象物の位置にずれが生じている例を示した。図2において、黒丸印が第1の撮像装置11により撮影された第1の画像における撮影対象物の画像であり、ハッチングをかけた丸印が第2の撮像装置12により撮影された第2の画像における撮影対象物の画像である。調整機構40により、適正ブレンド画像が得られるまで、撮像装置10の配置の調整が行われる。
調整機構40は、図1に示すように、第1の撮像装置11の配置や光軸の方向を調整する第1の調整装置41と、第2の撮像装置12の配置や光軸の方向を調整する第2の調整装置42を有する。
検査作業者は、調整機構40を操作することにより、撮影対象面101の面法線方向や面法線方向と垂直な仮想平面内の任意の方向に関して撮像装置10の位置や角度を調整できる。更に、上記仮想平面に対して斜め方向に撮像装置10を移動させることを可能にしてもよい。また、調整機構40によって、撮像装置10の光軸の方向を調整できる。調整機構40により、撮像装置10の配置や光軸の方向について、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12をそれぞれ独立に調整できる。このため、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12により撮影された画像を重ね合わせた時に撮影対象物の位置ずれがないように、若しくは位置ずれがあったとしても許容範囲内であるように、第1の撮像装置11及び第2の撮像装置12を移動させることは容易である。
図3に、撮像装置10を移動させて、図2に示した第1の画像と第2の画像間に生じた位置ずれを解消した例を示す。図3のようにブレンド画像が得られた状態の撮像装置10の配置により、ワーク100の検査が行われる。なお、ワーク100を用いて撮像装置10の配置の調整を行った場合に、即ち撮影対象物がワーク100である場合には、位置合わせが完了した状態の適正ブレンド画像を用いてワーク100の検査を行うこともできる。
ここで、第1の撮像装置11によって撮影された図4(a)に示す第1の画像と、第2の撮像装置12によって撮影された図4(b)に示す第2の画像をブレンド処理したブレンド画像を図4(c)に示す。図4(b)に示すように、第2の撮像装置12の配置が適切でない場合には、図4(c)に示したブレンド画像において、ワーク100の画像の位置が一致していない。このため、例えばワーク100上の異物200などを正確にキャンセルした画像を得ることができない。
しかし、図1に示した検査装置1によれば、ワーク100の画像の位置ずれがない若しくは許容範囲内であることが確認された状態に撮像装置10が配置されているため、撮像装置10の位置ずれ起因による画像の劣化などが排除された、高精度の検査を実施できる。
以下に、図5を参照して、図1に示した検査装置1を用いた検査方法の例を説明する。
まず、ステップS1において、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12を用いて、ステージ60に搭載された撮影対象物の同一方向から見た同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影する。ステップS2において、撮影された第1の画像及び第2の画像が画像処理装置20によってリアルタイムでブレンド処理され、ブレンド画像が作成される。作成されたブレンド画像は、画像表示装置30にリアルタイムで表示される(ステップS3)。
ステップS4〜ステップS6において、検査作業者が画像表示装置30に表示されたブレンド画像を確認しながら、重ね合わせの位置ずれがない、若しくはその位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、撮像装置10の配置を調整する。
具体的には、ステップS4において、検査作業者が画像表示装置30に表示されたブレンド画像を目視により確認する。ステップS5において、ブレンド画像として適正ブレンド画像が得られているか否かを検査作業者が判定する。適正ブレンド画像が得られていない場合には、ステップS6に進み、検査作業者が調整機構40を操作して、撮像装置10の配置を調整する。そして処理はステップS1〜ステップS3に戻り、新たなブレンド画像が画像表示装置30に表示される。
一方、ステップS5において適正ブレンド画像が得られた場合には、処理はステップS7に進む。即ち、検査作業者は、適正ブレンド画像が得られた撮像装置10の配置で、ワーク100の検査を行う。
なお、図6に示すような表面にアライメントマーク151が配置されたキャリパー150を用いて、撮像装置10の配置を調整してもよい。即ち、キャリパー150を撮影対象物としてブレンド画像を作成する。そして、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12によりそれぞれ撮影された画像のアライメントマーク151がブレンド画像において重なるように、撮像装置10の配置を調整する。このため、キャリパー150は、検査対象のワーク100と同等の外形を有する。
検査作業者は、画像表示装置30に表示されたアライメントマーク151の位置が第1の画像と第2の画像で一致するように第1の撮像装置11や第2の撮像装置12を移動させる。その後、第1の撮像装置11と第2の撮像装置12の位置や光軸の方向を調整することなく、検査装置1によりワーク100の検査を行うことができる。ワーク100の画像には、第1の画像と第2の画像を位置合わせするための目印となるようなパターンが撮影されているとは限らない。アライメントマーク151を利用することにより、撮像装置10の配置の調整が容易である。
以上に説明したように、本発明の実施形態に係る検査装置1によれば、検査作業者が、ブレンド処理された画像を目視で確認しながら撮像装置10の配置を調整できる。このため、撮像装置10の確実な配置調整が可能であり、且つ、光学系の調整作業時間を短縮できる。その結果、位置ずれのない若しくは許容範囲内であることが確認された撮像装置10の配置状態において、ワーク100の検査を高精度に行うことができると共に、検査時間及び検査コストの増大が抑制される。
上記のように、本発明は実施形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
例えば、上記では撮像装置10が2台である例を示したが、撮像装置10の台数が3台以上であってもよい。撮像装置10の台数を増やすことにより、例えば撮影する波長別の画像の種類を増やせるなど、同時に取得可能な画像情報をより多くすることができる。
また、太陽電池セル以外の、例えば集積回路用半導体基板や液晶基板の検査などにも本発明は適用可能である。
上記のように、本発明はここでは記載していない様々な実施形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
1…検査装置
10…撮像装置
11…第1の撮像装置
12…第2の撮像装置
20…画像処理装置
30…画像表示装置
40…調整機構
41…第1の調整装置
42…第2の調整装置
50…光学装置
60…ステージ
100…ワーク
101…撮影対象面
150…キャリパー
151…アライメントマーク

Claims (6)

  1. 同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影する複数の撮像装置と、
    前記複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された前記画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成する画像処理装置と、
    前記ブレンド画像を表示する画像表示装置と、
    前記複数の撮像装置の配置を調整する調整機構と
    を備え、前記ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない若しくは該位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、前記調整機構によって前記複数の撮像装置の配置が調整され
    前記複数の撮像装置によって撮影された検査対象の太陽電池セルの複数の画像を用いて前記太陽電池セルの粒界がキャンセルされた画像が生成され、前記粒界がキャンセルされた画像を用いて前記太陽電池セルが検査される
    ことを特徴とする検査装置。
  2. 同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影する複数の撮像装置と、
    前記複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された前記画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成する画像処理装置と、
    前記ブレンド画像を表示する画像表示装置と、
    前記複数の撮像装置の配置を調整する調整機構と
    を備え、前記ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない若しくは該位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、前記調整機構によって前記複数の撮像装置の配置が調整され、
    表面にアライメントマークが配置され、検査対象の太陽電池セルと同等の外形を有するキャリパーが前記撮影対象物として使用され、前記複数の撮像装置によりそれぞれ撮影された画像の前記アライメントマークが前記ブレンド画像において重なるように前記複数の撮像装置の配置が調整されることを特徴とする検査装置。
  3. 同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影する複数の撮像装置と、
    前記複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された前記画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成する画像処理装置と、
    前記ブレンド画像を表示する画像表示装置と、
    前記複数の撮像装置の配置を調整する調整機構と
    を備え、前記ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない若しくは該位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、前記調整機構によって前記複数の撮像装置の配置が調整され、
    前記撮影対象物として表面にアライメントマークが配置されたキャリパーが使用され、前記複数の撮像装置により前記キャリパーの反射光を用いてそれぞれ撮影された画像の前記アライメントマークが前記ブレンド画像において重なるように前記複数の撮像装置の配置が調整されることを特徴とする検査装置。
  4. 複数の撮像装置を用いて、同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影するステップと、
    前記複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された前記画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成するステップと、
    前記ブレンド画像を画像表示装置に表示するステップと、
    前記画像表示装置に表示された前記ブレンド画像を確認しながら、前記ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない、若しくは該位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、前記複数の撮像装置の配置を調整するステップと、
    前記適正ブレンド画像が得られた配置の前記複数の撮像装置により撮影された検査対象物の画像を用いて、前記検査対象物の検査を行うステップと
    を含み、
    前記複数の撮像装置によって撮影された検査対象の太陽電池セルの複数の画像を用いて前記太陽電池セルの粒界がキャンセルされた画像が生成され、前記粒界がキャンセルされた画像を用いて前記太陽電池セルが検査されることを特徴とする検査方法。
  5. 複数の撮像装置を用いて、同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影するステップと、
    前記複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された前記画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成するステップと、
    前記ブレンド画像を画像表示装置に表示するステップと、
    前記画像表示装置に表示された前記ブレンド画像を確認しながら、前記ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない、若しくは該位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、前記複数の撮像装置の配置を調整するステップと、
    前記適正ブレンド画像が得られた配置の前記複数の撮像装置により撮影された検査対象物の画像を用いて、前記検査対象物の検査を行うステップと
    を含み、
    表面にアライメントマークが配置され、検査対象の太陽電池セルと同等の外形を有するキャリパーが前記撮影対象物として使用され、前記複数の撮像装置によりそれぞれ撮影された画像の前記アライメントマークが前記ブレンド画像において重なるように前記複数の撮像装置の配置が調整されることを特徴とする検査方法。
  6. 複数の撮像装置を用いて、同一方向から見た撮影対象物の同一領域の画像を同時にそれぞれ撮影するステップと、
    前記複数の撮像装置によってそれぞれ撮影された前記画像を重ね合わせるブレンド処理をリアルタイムで実行してブレンド画像を作成するステップと、
    前記ブレンド画像を画像表示装置に表示するステップと、
    前記画像表示装置に表示された前記ブレンド画像を確認しながら、前記ブレンド画像に重ね合わせの位置ずれがない、若しくは該位置ずれが許容範囲内である適正ブレンド画像が得られるまで、前記複数の撮像装置の配置を調整するステップと、
    記適正ブレンド画像が得られた配置の前記複数の撮像装置により撮影された検査対象物の画像を用いて、前記検査対象物の検査を行うステップと
    を含み、
    前記撮影対象物として表面にアライメントマークが配置されたキャリパーが使用され、前記複数の撮像装置により前記キャリパーの反射光を用いてそれぞれ撮影された画像の前記アライメントマークが前記ブレンド画像において重なるように前記複数の撮像装置の配置が調整されることを特徴とする検査方法。
JP2012231349A 2012-10-19 2012-10-19 検査装置及び検査方法 Expired - Fee Related JP5939442B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012231349A JP5939442B2 (ja) 2012-10-19 2012-10-19 検査装置及び検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012231349A JP5939442B2 (ja) 2012-10-19 2012-10-19 検査装置及び検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014085113A JP2014085113A (ja) 2014-05-12
JP5939442B2 true JP5939442B2 (ja) 2016-06-22

Family

ID=50788323

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012231349A Expired - Fee Related JP5939442B2 (ja) 2012-10-19 2012-10-19 検査装置及び検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5939442B2 (ja)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4332656B2 (ja) * 1998-01-26 2009-09-16 ラトックシステムエンジニアリング株式会社 欠陥検査方法および欠陥検査装置
JP4575886B2 (ja) * 2006-02-14 2010-11-04 シャープ株式会社 多結晶半導体ウエハの割れ検査装置および割れ検査方法
JP2008256414A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Nissan Motor Co Ltd 複数のカメラの位置調整装置及び位置調整方法
JP2010135446A (ja) * 2008-12-03 2010-06-17 Nisshinbo Holdings Inc 太陽電池セルの検査装置、検査方法及びそのプログラムを記録した記録媒体
JP2012185091A (ja) * 2011-03-07 2012-09-27 Mitsubishi Electric Corp シリコン基板の検査装置および検査方法
KR20120113019A (ko) * 2011-04-04 2012-10-12 삼성전기주식회사 태양전지 셀 검사 방법 및 장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014085113A (ja) 2014-05-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8483444B2 (en) Apparatus for inspecting and measuring object to be measured
EP3171588B1 (en) Image processing method and image processing apparatus executing that image processing method
KR101207198B1 (ko) 기판 검사장치
US20150161776A1 (en) Digital Optical Comparator
TWI477764B (zh) 影像製作方法、基板檢查方法、記錄有用以執行該影像製作方法及該基板檢查方法之程式的記錄媒體與基板檢查裝置
US20070188859A1 (en) Visual inspection apparatus
JP2013011856A (ja) 撮像システムおよびその制御方法
JP2009156857A (ja) ディスプレイパネルの検査方法および検査装置
CN107783270B (zh) 大视场及小f数线面结合的遥感相机光学配准方法及系统
JP2007327836A (ja) 外観検査装置及び方法
JP5308934B2 (ja) 基板検査方法および基板検査装置
WO2019105315A1 (zh) 视场角测试方法和系统
JP2014035261A (ja) 情報処理方法、情報処理装置、プログラム、撮像装置、検査方法、検査装置、及び基板の製造方法
JP4704793B2 (ja) 外観検査装置
JP5555049B2 (ja) タイヤ検査装置
KR101403860B1 (ko) 웨이퍼표면 검사장치 및 이를 이용한 웨이퍼 표면 검사방법
JP2006072147A5 (ja)
JP6142655B2 (ja) 外観検査装置及び外観検査方法
JP5939442B2 (ja) 検査装置及び検査方法
JP2008261667A (ja) 基板検査装置及び基板検査方法
JP2007271300A (ja) 表面形状測定方法および測定装置
JP5281815B2 (ja) 光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置
JP2011250366A (ja) 撮像素子の位置調整装置
JP2003075361A (ja) 非破壊検査方法
TW201929116A (zh) 工件處理裝置、工件輸送系統

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150831

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150929

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151130

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160421

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160504

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5939442

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees