JP5924166B2 - 波長可変単色光光源 - Google Patents

波長可変単色光光源 Download PDF

Info

Publication number
JP5924166B2
JP5924166B2 JP2012153869A JP2012153869A JP5924166B2 JP 5924166 B2 JP5924166 B2 JP 5924166B2 JP 2012153869 A JP2012153869 A JP 2012153869A JP 2012153869 A JP2012153869 A JP 2012153869A JP 5924166 B2 JP5924166 B2 JP 5924166B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
output
wavelength
detector
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012153869A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014016247A (ja
Inventor
敦子 田村
敦子 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2012153869A priority Critical patent/JP5924166B2/ja
Publication of JP2014016247A publication Critical patent/JP2014016247A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5924166B2 publication Critical patent/JP5924166B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

本発明は、波長可変単色光光源、特にその出力強度計測に関する。
波長をある範囲内で任意に選択できる波長可変単色光光源において、単色光光源の照射面における出力強度をモニタするために光路上の光の一部をビームスプリッタで分岐し、その分岐した光を検出器で検出する方法が利用されている。
図5に一般に用いられている波長可変単色光光源の基本構成を示す。光源部1の光源としてはキセノンランプやハロゲンランプ等が使用され、光源部1から発した光はレンズ系(図示せず)を通過し、入射スリット(図示せず)に入射し、分光部2に送られる。分光部2内の回折格子3で波長分散された分散光のうち所定波長の単色光が分光部の出射スリット(図示せず)から取り出される。(例えば特許文献1参照)。
分光部2から取り出された所定波長の単色光は、光路中に設置された出射レンズ系4を通り光路分割手段であるビームスプリッタ5に入射される。ビームスプリッタ5は大部分の単色光は出力レンズ系6に入射し、集光され出力マスク7に入射される。出力マスク7を通過した単色光は、出力フィルタ8で不要な高次光や迷光を除去後、照射面Aに出射される。また、照射対象に導くために光ファイバ9が用いられる場合が多い。
前記分光部2から取り出された単色光は回折格子3で単色化するといっても厳密な意味で単色光になるのではなく、その単色光の整数分の1の波長の光(高次光)を含んだ単色光であり、邪魔な存在である不要な高次光や迷光成分は前記出力フィルタ8で取り除かれる。
一方、ビームスプリッタで分岐された単色光の一部は検出器レンズ系11で集光され、検出器スリット12を通り、さらに検出器フィルタ104にて不要な高次光や迷光を除去後に検出器13に入射する。検出器スリット12は省略される場合もある。
前記検出器13の出力はビームスプリッタ5に入射する単色光強度に比例し、同時に照射面Aに出射する単色光強度値に比例する。検出器13の出力は制御部15に導かれ、あらかじめ校正された測定器で計測されて導き出された前記照射面Aの出力と前記検出器13の出力との関係を用いて制御部15にて処理され、照射面Aの出力値に換算され制御部15に表示される。
照射面Aに出力される単色光出力光は分析、計測等の目的で照射面Aに置かれる被検査対象物(図示せず)に照射される。また、照射対象に導くために多くの場合、光ファイバ9が用いられ、この場合には、出力マスク7の開口は光ファイバ9の入射端面に対応した大きさに設定され、効率良くファイバに入射するように調節される。出力マスク7は省略される場合もある。
光ファイバを使用した場合でも前記検出器13の出力と光ファイバ9を通過したファイバ出力光10との間にも一定の関係が成立するので、検出器13の出力を制御部15で処理することでファイバ出力光10の単色光出力強度値を前記制御部15に表示できる。
特開2006−047270号公報
波長可変単色光光源の出力計測において、ビームスプリッタで2方向に分離し、その一方向の光を検出器13でモニタすることで、照射面Aの光強度やファイバ出力光10の光強度の計測が行われるが、波長可変単色光光源の可変範囲が紫外域から赤外域までと広範囲である場合に、検出波長感度が紫外域から赤外域まで感度を有する検出器が存在しない。
このため、検出器を波長可変単色光光源の出力波長域に合わせて、交換する必要が生じる。しかしながら、検出器の交換を行うと検出器の光学的配置や感度の違いによる測定精度や整合性が問題となる。更に、赤外の検出器は紫外域の検出器に比べサイズが大きくスペース的にも課題がある。
上記課題を解決するため、本発明は、光源の発する光を回折格子を用いて赤外域の所定波長の光に単色化する分光部と、前記分光部から出力される赤外域の所定波長の光を2方向に分離し、その一方向の光を出力光とするビームスプリッタと、他方光の光をレンズ系を通して検出することで前記出力光の光強度をモニタするための検出器を有する波長可変単色光光源において、前記分光部は、赤外域の所定波長の光およびその高次波長の光を出力するものであるとともに、前記検出器は前記高次波長の光に感度を持つものであり、前記高次波長の光を検出することで、検出器の測定対象波長外の赤外域の光強度をモニタするよう構成する。
また前記検出器の前面に前記赤外域である所定波長の2次高次光を透過し、それより波長の長い光を遮断するフィルタを備えてもよい。
赤外域の波長の照射面での出力光または光ファイバ出力光の光強度出力が紫外および可視域検出器を用いてモニタできる。更に、この方法を用いれば紫外域から赤外域までの広範囲の単色光を単一の検出器を用いて計測することができる。
本発明の実施例を示す図である。 本発明の変形実施例を示す図である。 制御部に格納するデータの例を示す図である。 制御部に格納するデータの別の例を示す図である 波長可変単色光光源の基本構成を示す図である。
本考案を実施する形態について図面を参照しながら説明する。
図1に本発明の一実施形態を示す。本発明は波長可変単色光光源の出力計測(モニタ)の簡易化に関するものである。光源部1の光源としてはキセノンランプやハロゲンランプ等が使用され、光源部1から発した光はレンズ系(図示せず)を通過し分光部2に送られる。分光部2の中の回折格子3で波長分散された光のうち所定波長の単色光が分光部2から取り出される。分光部2から取り出された所定波長の単色光は、光路中に設置された出射レンズ系4を通り光路分割手段であるビームスプリッタ5に入射される。
ビームスプリッタ5で分岐された一つの光路上には出力レンズ系6と出力マスク7および出力波長に対応した迷光および高次光を除去する出力フィルタ8が設置され、それらの部品を通過した光束が照射面Aに導かれる。ビームスプリッタ5で分岐されたもう一方の光路上には検出器レンズ系11と検出器スリット12が設置され、それらの部品を通過した光束がフォトダイオードなどの検出器13に入射する。
検出器13の測定対象波長が200nmから1200nmの場合、1200nmを超える赤外光、例えば所定波長が1400nmであった場合、測定対象波長外である1400nmに対しては感度をほとんど持たない。しかしながら、回折格子で分光された上記1400nmの単色光の高次光である700nmと350nmの波長の光に対しては十分な感度を有している。
本発明は上記に示すように、所定波長1400nmの出力測定に高次光である700nm、350nmを用いるようにする。
検出器13に入力する光は所定波長の光およびその高次波長の光である。これらの合成光に対しての検出器13の出力と照射面Aまたはファイバ出力光10の出力強度値との比率は出力光強度を変化させても一定であり、前記検出器13の出力を測定すれば、その測定値から照射面Aまたはファイバ出力光10の出力を測定端末において演算して表示できる。
前記検出器13で1400nmの高次光である単色光を検出し、その出力を制御部15に取り込むと同時に1400nmの照射面Aまたはファイバ出力光10の出力強度を校正された測定器であらかじめ計測しておき、前記検出器13の出力と校正された検出器で計測した出力強度値の比率を前記制御部15に記憶しておく。図3に前記制御部15に記憶されている検出器13の出力と校正された検出器で測定されたファイバ出力光10の計測出力強度値の例を示す。
所定波長が1400nmの場合を例に説明すれば、検出器13では700nm、350nmの高次光が主として検出される。この波長における前記検出器13の出力値が1.4Vであったとすれば、図3の表からファイバ出力光10の出力強度値は125μW×1.4/0.65すなわち269μWであると前記制御部15にて演算され、制御部15上に表示される。
上記のように赤外域の波長である出力光を紫外および可視域に感度をもつ検出器でモニタすることが可能である。
図2に本発明の別の実施形態例を示す。この実施形態例では実施例1の装置において、検出器13の前面に高次光透過フィルタ14を配置する。
前記高次光透過フィルタ14は所定波長(出力)光である赤外域の2次高次光帯域の光を透過しそれより波長の長い帯域の光を遮蔽する特性を持つ。例えば前記検出器13の測定可能範囲が350nmから1100nmまでである場合には1100nmより長い波長の光をフィルタで除去し、不要な光が検出器に入射しないようにする。
所定波長の単色光出力強度とその高次光である波長の比率は出力光強度を変化させても一定であり、前記検出器13の出力を測定すれば、その測定値を用い測定端末にて演算し、照射面Aまたはファイバ出力光10の出力強度値を表示できる。
高次光透過フィルタ14を透過した光に対しての検出器13の出力と照射面Aまたはファイバ出力光10の出力強度値との比率は出力光強度を変化させても一定であり、前記検出器13の出力を測定すれば、その測定値から照射面Aまたはファイバ出力光10の出力を測定端末において演算して表示できる。
前記検出器13で1400nmの高次光である単色光を検出し、その出力を制御部15に取り込むと同時に1400nmの照射面Aまたはファイバ出力光10の出力強度を校正された測定器であらかじめ計測しておき、前記検出器13の出力と校正された検出器で計測した出力強度値の比率を前記制御部15に記憶しておく。図4に前記制御部15に記憶されている検出器13の出力と校正された検出器で測定されたファイバ出力光10の計測出力強度値の例を示す。
所定波長が1400nmの場合を例に説明すれば、検出器13には1400nmの高次光が検出される。この波長における前記検出器13の出力値が1.2Vであったとすれば、図4の表からファイバ出力光10の出力強度値は125μW×1.2/0.5すなわち300μWであると前記制御部15にて演算され、制御部15上に表示される。
なお、図1、2、5において、同一符号で表示されているものは、同一物を表し、同じ機能を有するものである。
1 光源部
2 分光部
3 回折格子
4 出射レンズ系
5 ビームスプリッタ
6 出力レンズ系
7 出力マスク
8 出力フィルタ
9 光ファイバ
10 ファイバ出力光
11 検出器レンズ系
12 検出器スリット
13 検出器
14 高次光透過フィルタ
15 制御部
104 検出器フィルタ
A 照射面

Claims (2)

  1. 光源の発する光を回折格子を用いて赤外域の所定波長の光に単色化する分光部と、前記分光部から出力される赤外域の所定波長の光を2方向に分離し、その一方向の光を出力光とするビームスプリッタと、他方光の光をレンズ系を通して検出することで前記出力光の光強度をモニタするための検出器を有する波長可変単色光光源において、前記分光部は、赤外域の所定波長の光およびその高次波長の光を出力するものであるとともに、前記検出器は前記高次波長の光に感度を持つものであり、前記高次波長の光を検出することで、検出器の測定対象波長外の赤外域の光強度をモニタするよう構成したことを特徴とする波長可変単色光光源。
  2. 前記検出器の前面に、前記所定波長の2次高次光を透過し、それより波長の長い光を遮断するフィルタを備えることを特徴とする請求項1に記載された波長可変単色光光源。
JP2012153869A 2012-07-09 2012-07-09 波長可変単色光光源 Active JP5924166B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012153869A JP5924166B2 (ja) 2012-07-09 2012-07-09 波長可変単色光光源

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012153869A JP5924166B2 (ja) 2012-07-09 2012-07-09 波長可変単色光光源

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014016247A JP2014016247A (ja) 2014-01-30
JP5924166B2 true JP5924166B2 (ja) 2016-05-25

Family

ID=50111057

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012153869A Active JP5924166B2 (ja) 2012-07-09 2012-07-09 波長可変単色光光源

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5924166B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107655839B (zh) * 2017-08-23 2020-05-05 浙江农林大学 上升型驰豫光谱检测装置的检测方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58153388A (ja) * 1982-03-09 1983-09-12 Toshiba Corp 半導体レ−ザ出力光モニタ−方法
JPS6148733A (ja) * 1984-08-17 1986-03-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 分光光度計
JPS6422086A (en) * 1987-07-17 1989-01-25 Komatsu Mfg Co Ltd Control equipment for laser wavelength
JPH01158788A (ja) * 1987-12-15 1989-06-21 Hitachi Zosen Corp レーザービーム制御装置
JPH0742084Y2 (ja) * 1990-09-25 1995-09-27 横河電機株式会社 表面形状測定器
JPH05157628A (ja) * 1991-12-09 1993-06-25 Advantest Corp 広帯域分光測定装置
JP2000009533A (ja) * 1998-06-22 2000-01-14 Shimadzu Corp 分光器
JP4887759B2 (ja) * 2005-11-30 2012-02-29 セイコーエプソン株式会社 照明装置、照明装置の制御方法及びプロジェクタ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014016247A (ja) 2014-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5419301B2 (ja) 試料分析装置
EP2693198A2 (en) Gas analyser
WO2012067068A1 (ja) 分光光度計
JP2020159973A5 (ja)
KR101743276B1 (ko) 광파장 및 광파워 측정용 장치
JP5924166B2 (ja) 波長可変単色光光源
JP2007240294A (ja) 光ファイバ歪測定装置
JP5296723B2 (ja) 分光光度計、及びその性能測定方法
JP5842652B2 (ja) 波長可変単色光光源
ATE546725T1 (de) Gasmesssystem
JP2007218860A (ja) 歪み測定装置及び歪み測定方法
JP7486178B2 (ja) 分光分析装置
CA2983792A1 (en) Microscope device
JP2015227858A5 (ja)
JP2013088263A (ja) 分光装置校正方法
JP6530669B2 (ja) ガス濃度測定装置
JP5929504B2 (ja) 分光測定器
JP5819637B2 (ja) 紫外線防御効果の評価装置
JP2005156343A (ja) 分光装置及び分光装置用光学フィルタ
US20130208280A1 (en) Non-Dispersive Gas Analyzer
WO2021251069A1 (ja) 分光観察システム、観察方法
JP4143513B2 (ja) 分光分析光度計及び分光分析方法
JP2014048068A (ja) 分光光度計
KR101756364B1 (ko) 광섬유 브래그 격자를 이용한 분광기
JP6686797B2 (ja) 分光光度計における検出信号値の補正方法及び検出信号値の補正機能を備えた分光光度計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141006

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150901

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151028

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160322

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160404

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5924166

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151